DE3236872C2

DE3236872C2 - Device for the optical determination of the position of an object

Info

Publication number: DE3236872C2
Application number: DE19823236872
Authority: DE
Inventors: Karl Ludwig 8000 München Hörmann
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1982-10-05
Filing date: 1982-10-05
Publication date: 1986-04-30
Also published as: DE3236872A1

Abstract

Einrichtung mit einer zwischen einem Okular und einem Objektiv angeordneten, in x- und y-Richtung verschiebbaren Strichplatte als Meßebene zum Bestimmen der Lage eines Objektes, zum Beispiel eines Bildfensters einer Kamera, in bezug auf ein Bezugssystem, wobei das Bezugssystem (x-, y-Achsen) zusätzlich um eine weitere zu der Strichplatte (45) senkrechten Achse (z) drehbar ist und beim Drehen des verschobenen Bezugssystems (x, y) der Durchstoßpunkt (P1) der weiteren Achse (z) durch die Ebene zwangsweise mit Hilfe eines Doppelschleifengetriebes (35) in der von der Ursprungslage (p) abweichenden Einstellage (P1) gehalten ist; vgl. Figur 4.Device with a reticle arranged between an eyepiece and an objective and displaceable in the x and y directions as a measuring plane for determining the position of an object, for example a picture window of a camera, in relation to a reference system, the reference system (x-, y Axes) can also be rotated about a further axis (z) perpendicular to the reticle (45) and, when the shifted reference system (x, y) is rotated, the point of penetration (P1) of the further axis (z) through the plane is forced with the help of a double loop gear (35) is held in the setting position (P1) which differs from the original position (p); see Figure 4.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung zum Bestimmen der Lage eines Objektes in mindestens einer Ebene in bezug auf ein Bezugssystem gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruches 1, wie sie beispielsweise in der DE-OS 32 05 496 beschrieben istThe invention relates to a device for determining the position of an object in at least one Level with respect to a reference system according to the preamble of claim 1, as for example in DE-OS 32 05 496 is described

Mit Hilfe der dort dargestellten Einrichtung läßt sich die Position eines Punktes eines Objektes in bezug auf ein festes Bezugssystem dadurch ermitteln, daß das Bild einer verstellbaren Meßmarke über das auf einem in x- und y-Richtung bewegbaren Meßtisch angeordnete Objekt geführt wird, das mit Hilfe einer stereoskopischen Betrachtungsvorrichtung betrachtet wird.With the aid of the device shown there, the position of a point of an object in relation to a fixed reference system can be determined in that the image of an adjustable measuring mark is guided over the object arranged on a measuring table movable in x and y directions, which is carried out with the help of a stereoscopic viewer is viewed.

Mit Hilfe einer solchen Einrichtung lassen sich also lediglich Punkte eines dreidimensionalen Gegenstandes in eine Meßebene projizieren und in bezug auf eine in diese Ebene gespiegelte Meßmarke, nicht aber Lagerfehler, zum Beispiel einer Strichplatte in bezug auf eine optische Achse eines optischen Systems vermessen.
Solche Aufgabenstellungen sind insbesondere beim Vermessen von Spiegelreflex- und Laufbildkameras hinsichtlich der Sucherbegrenzungen in bezug auf Bildfenster, ganz allgemein aber bei Messungen in optischen Strahlengängen, die durch Spiegel oder Strahlenteiler in mehrere Strahlengänge aufgeteilt sind, gegeben.With the help of such a device, only points of a three-dimensional object can be projected into a measuring plane and measured in relation to a measuring mark reflected in this plane, but not bearing errors, for example a reticle in relation to an optical axis of an optical system.
Such tasks are given in particular when measuring SLR and motion picture cameras with regard to the viewfinder limits in relation to picture windows, but in general when measuring in optical beam paths that are divided into several beam paths by mirrors or beam splitters.

Dort besteht die Forderung, Strichplatten innerhalb der aufgeteilten Strahlengänge in Deckung zu bringen, da bei fehlender Deckungsgleichiiek Betrachtungs-, Abbildungs-, Projektions-, Meß- und kbniiche Fehler entstehen. There is a requirement to have graticules inside to bring the split beam paths into congruence, since if there is no congruence, viewing, imaging, Projection, measurement and common errors arise.

Solche Messungen wurden bisher mit Hilfe von optischen Meßbänken durchgeführt, indem in supportähnlichen Aufbauten angeordnete Meßscheiben, Strichplatten, Absichten und ähnliche Meßhilfen derart angeordnet sind, daß sie in der x- und y-Achse bewegt werden können. Solche Meßverfahren sind jedoch umständlich und erfordern einen hohen Aufwand an optischen Geräten sowie hochqualifiziertes Personal. Insbesondere können aber mit Hilfe von optischen Bänken die Winkellagen von Bildfenstern und Sucherbegrenzungen in bezug auf vorgegebene Winkellagen insbesondere bei umgelenkten Strahlengängen, die über Strahlenteiler in Primär- und Sekundärstrahlengänge aufgeteilt sind, ohne besondere Maßnahmen nicht durchgeführt werden, da normalerweise die Lageänderung von im Bereich der Meßebene liegender Einstellhilfen in bezug auf die optische Achse unberücksichtigt bleiben. Bei der Drehung der supportähnlichen Aufbauten um die optische Achse — in aller Regel als z-Achse bezeichnet — erfährt nämlich ein Punkt, der außerhalb der z-Achse liegt, bei einer Drehung solcher Aufbauten eine Lageveränderung in bezug auf diese Achse. Die Lage der optischen Achsen des zu justierenden Systems vor und nach der Einstellung ist also nicht mehr kongruent, so daß eine Korrektur unter Berücksichtigung des Betrages des Drehwinkels dieses Punktes erforderlich ist. Dies ist mit erheblichem Aufwand verbunden, da einmal der Drehwinkel durch geeignete Maßnahmen angezeigt werden muß und andererseits die zu berücksichtigenden Korrektur-Such measurements have previously been carried out with the aid of optical measuring benches, in that measuring disks, reticle plates, intentions and similar measuring aids arranged in support-like structures are arranged in such a way that they can be moved in the x and y axes. Such measuring methods are, however, cumbersome and require a great deal of optical equipment and highly qualified personnel. In particular, however, with the help of optical banks, the angular positions of picture windows and viewfinder limits in relation to predetermined angular positions, especially in the case of deflected beam paths that are divided into primary and secondary beam paths by beam splitters, cannot be carried out without special measures, since normally the change in position from in the area of the Adjustment aids lying on the measuring plane with respect to the optical axis are not taken into account. When the support-like structures are rotated around the optical axis - usually referred to as the z-axis - a point that lies outside the z-axis experiences a change in position with respect to this axis when such structures are rotated. The position of the optical axes of the system to be adjusted before and after the setting is therefore no longer congruent, so that a correction is necessary taking into account the amount of the angle of rotation of this point. This is associated with considerable effort, since on the one hand the angle of rotation must be indicated by suitable measures and on the other hand the correction factors to be taken into account

betrage der χ- und y-Koordinaten trigonometrisch bestimmt werden müssen, was nicht nur sehr aufwendig ist, sondern zu ständigen Fehlern Anlaß gibt, wenn hierfür nicht Rechenprogramme vorgegeben sind.The amount of the χ and y coordinates must be determined trigonometrically, which is not only very complex, but also gives rise to constant errors if computer programs are not specified for this purpose.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine neue, leicht handliche Einrichtung zur Bestimmung der Lage eines Objektes in einer Ebene in bezug auf ein Bezugssystem zu schaffen, mit deren Hilfe auch die Winkelabweichungen des Objektes von einer vorgegebenen Lage — zum Beispiel die Lage eines Bildfensterausschnittes eines photographischen Aufnahmegerätes in bezug auf eine vorgegebene Lage, nämlich der Lage des Bildfensters des Aufnahmegerätes — bestimmbar sind, und zwar trotz Verschiebens des Bezugssystems in x- und/ odery-Richtung.The invention is based on the object of creating a new, easy-to-use device for determining the position of an object in a plane in relation to a reference system, with the aid of which the angular deviations of the object from a given position - for example the position of a picture window section of a photographic recording device in relation to a predetermined position, namely the position of the picture window of the recording device - are determinable, despite the displacement of the reference system in the x and / or y direction.

Diese Aufgabe ist erfindungsgemäß durch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruches 1 gelöstAccording to the invention, this object is achieved by the characterizing features of claim 1

Weitere Merkmale der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.Further features of the invention emerge from the subclaims.

Mit Hilfe der erfindungsgemäßen Einrichtung wird also trotz Verschiebens der Meßebene in der x-y-Ebene die optische Achse, d. h. also die z-Achse, selbsttätig in ihrer Lage gehalten.With the aid of the device according to the invention, despite the displacement of the measuring plane in the x-y plane the optical axis, d. H. so the z-axis, automatically held in its position.

Zwar ist es aus der DE-OS 29 48 646 bekannt, die Fotomaske einer Projektions-Kopiervorrichtung in bezug auf einen Index unter Verwendung einer Richtmarke wir.kelgerecht mit Hilfe einer mechanischen Vorrichtung zur Deckung zu bringen, also die Fotomaske um die z-Achse zu drehen. Da bei dieser Drehung die Lage der z-Achse jedoch unverändert bleibt, treten dort die eingangs geschilderten Probleme bei der Ermittlung der Lage von optischen Achsen innerhalb optischer Systeme mit geteiltem Strahlengang nicht auf, ganz abgesehen davon, daß dort Messungen nicht durchführbar sind.Although it is known from DE-OS 29 48 646, the photo mask of a projection copier in relation on an index using a guide mark wir.kelgerechte with the help of a mechanical device to bring them to congruence, i.e. to rotate the photomask around the z-axis. Because with this rotation the situation However, if the z-axis remains unchanged, the problems described at the beginning occur when determining the Position of optical axes within optical systems with a split beam path does not appear, quite apart from that of the fact that measurements cannot be carried out there.

Die Erfindung ist nachfolgend anhand eines in der Zeichnung mehr oder minder schematisch dargestellten Ausführungsbeispieles beschrieben. In einzelnen zeigtThe invention is shown more or less schematically in the following with reference to one in the drawing Embodiment described. In individual shows

F i g. 1 einen Schnitt durch die Einrichtung gemäß der Erfindung,F i g. 1 shows a section through the device according to the invention,

Fi g. 2 einen Schnitt durch die Linie H-II in Fig. 1,Fi g. 2 shows a section through the line H-II in FIG. 1,

F i g. 3 eine Explosivdarstellung der eine in der Meßebene angeordnete Strichplatte bewegenden Getriebeteile undF i g. 3 an exploded view of the one in the measuring plane arranged reticle moving gear parts and

F i g. 4 eine schematische Darstellung einer von der Ursprungslage abweichenden Einstellage der in der Meßebene angeordneten Strichplatte.F i g. FIG. 4 shows a schematic representation of an adjustment position of the position shown in FIG Graticule arranged in the measuring plane.

Ein insgesamt mit der Bezugsziffer 10 bezeichnetes Gerät zum Bestimmen der Lage eines Objektes in bezug auf ein Bezugssystem berteht, wie Fig. 1 zeigt, aus einem rotationssymmetrischen Kulissenträger 11 und einem damit verschraubten rotationssymmetrischen Objektivträger 12, die einen von einer zur Achse ζ zentrischen Bohrung 13 durchsetzten Tubus bilden. Hierzu weist das Gerät 10 ein an der einen Stirnseite des Kulissenträgers 11 einstellbar angeordnetes Okular 14 und der Objektivträger 12 ein in einer abgewandten koaxialen Bohrung 16 einstellbar angeordnetes Objektiv 17 sowie der Kulissenträger 11 drei um 90° gegeneinander versetzte, der Einstellung der x-,y- und z-Achse dienende Mikrometer 20, 21 und 22 auf; vgl. auch F i g. 2. Die genannten Mikrometer sind in den Kulissenträger 11 radial durchsetzenden Bohrungen 24, 25 und 26 so gehalten, daß die Meßspindeln 28 und 29 der Mikrometer 20 und 21 in eine kcaxiale Bohrung 31 des Kulissenträgers 11 ragen, in der auch das Okular 14 zentrisch gehalten ist, während die Melispindel 30 des Mikrometers 22 in eine Aussparung 27 ragt, die sich quer zur Bohrung 13 erstreckt.A device, denoted as a whole by the reference number 10, for determining the position of an object in relation to a reference system consists, as shown in FIG form interspersed tube. For this purpose, the device 10 has an adjustable eyepiece 14 on one end face of the link carrier 11 and the lens carrier 12 has an lens 17 adjustable in a facing away coaxial bore 16 and the link carrier 11 has three offset by 90 ° to each other, the setting of the x, y - and z-axis serving micrometers 20, 21 and 22; see also Fig. 2. The mentioned micrometers are held in the link carrier 11 radially penetrating bores 24, 25 and 26 so that the measuring spindles 28 and 29 of the micrometers 20 and 21 protrude into a kcaxial bore 31 of the link carrier 11, in which the eyepiece 14 is held centrally while the Melispindel 30 of the micrometer 22 protrudes into a recess 27 which extends transversely to the bore 13.

In der Bohrung 31 sind eine erste ringscheibenförmige Kulisse 32, eine zweite ringscheibenförmige KulisseIn the bore 31 are a first annular disk-shaped link 32 and a second annular disk-shaped link

33 und eine dritte ringscheibenförmige Kulisse 34 koaxial liegend angeordnet, von denen die Kulissen 32 und 33 im ,^ußendurchmesser kleiner als die Bohrung 31, die Kulisse 34 dagegen im Durchmesser übereinstimmend mit dem Durchmesser der Bohrung 31 gehalten sind; vgl. auch F i g. 3.33 and a third annular disk-shaped link 34 arranged lying coaxially, of which the links 32 and 33 in, ^ outer diameter smaller than the bore 31, the Link 34, however, are held in the same diameter as the diameter of the bore 31; see also Fig. 3.

Die genannten Kulissen bilden die Teile eines Doppelschleifen-Kurbelgetriebes, das insgesamt mit der Ziffer 35 bezeichnet ist Hierzu weist die Kulisse 32 an der einen Stirnseite zwei Nasen 36 auf, die in entsprechende Ausnehmungen 37 an der zugewandten Stirnseite der zweiten Kulisse 33 eingreifen, die ihrerseits an ihrer abgewandten Stirnseite jeweils eine Nase 38 aufweist, die in entsprechende Nuten 39 an der zugewandten Stirnseite der Kulisse 34 eingreifen. Über einen geschlitzten Federring 40, der in einer entsprechenden Ausnehmung 42 der Bohrung 31 dei iCulissenträgers 11 sitzt, werden die Kulissen 32 bis 34 miteinander in Eingriff gehalten. Die im Durchmesser größere Kulisse 34 weist ferner nahe ihrem Außenumfang einen aus ihrer Stirnseite austretenden Stift 43 auf, der in der Ausnehmung ?7 mit der Meßspindel 30 des Mikrometers 22 derart in Wirkverbindung steht, daß durch Bewegen der Meßspindel 30 die in der Bohrung 31 geführte KulisseThe scenes mentioned form the parts of a double-loop crank mechanism, which is designated as a whole by the number 35. For this purpose, the link 32 on the one end face two lugs 36, which are inserted into corresponding recesses 37 on the facing end face of the engage the second gate 33, which in turn has a nose 38 on its opposite end face, which engage in corresponding grooves 39 on the facing face of the link 34. About a slotted Spring ring 40, which is inserted in a corresponding recess 42 of the bore 31 of the link carrier 11 sits, the scenes 32 to 34 are held in engagement with one another. The backdrop 34, which is larger in diameter furthermore has near its outer circumference a pin 43 which emerges from its end face and which is located in the recess 7 is in operative connection with the measuring spindle 30 of the micrometer 22 in such a way that by moving the Measuring spindle 30 the guide guided in the bore 31

34 um die mit ζ bezeichnete optische Achse verdrehbar ist. In der Kulisse 32 ist schließlich eine die Meßebene ME verkörpernde Strichplatte 45 gehalten.34 is rotatable about the optical axis denoted by ζ. Finally, a reticle 45 embodying the measuring plane ME is held in the backdrop 32.

Die Kulissen 32 und 33 werden — wie insbesondere die F i g. 1 und 2 zeigen — in ihrer Lage in bezug auf die optische Achse ζ durch die genannten Meßspindeln 28 und 29 der Mikrometer 20 und 21 und von gleichachsig dazu im Kulissenträger 11 angeordneten, unter demThe scenes 32 and 33 are - as in particular the F i g. 1 and 2 show - in their position with respect to the optical axis ζ through the said measuring spindles 28 and 29 of the micrometers 20 and 21 and coaxially to it in the link carrier 11 arranged below the

__ rr:_n..o : :i_ _: r~ ι .40 _*_u~ 1 ai/:j 1 __ rr: _n..o:: i_ _: r ~ ι .40 _ * _ u ~ 1 ai /: j 1

.30 tlllUIUU JCWCIO ClIiCI rcUCI TO alCUCllUCll TTlUCl IUgCl JI 49 und 50 gehalten, wobei die Meßspinde! 28 und das Widerlager 49 auf die Kulisse 33 und die fvießspi.tdel 29 und das Widerlager 50 auf die Kulisse 32 einwirken. Jedem Mikrometer 20, 21 und 22 sind ferner je eine Feststellschraube 54,55 und 56 zugeordnet, die tangential zur Bohrung 31 des Kulissenträgers 11 angeordnet sind und mittels denen die Einstellage des jeweiligen Mikrometers fixiert werden kann.
Schließlich weist das abgewandte Ende des Objektivträgers des Gerätes 10 einen koaxial angeordneten Gewindespannring 58 auf, der gemeinsam mit einem koaxialen Fortsatz 59, gegebenenfalls unter Zwischenfügen entsprechender die Winkellage zur z-Achse bestimmende Nut 57 aufweisende Adaptionsringe 60, als Aufnähme für eine in F i g. 1 nur angedeutete, zu vermessende optische Kamera dient..30 tlllUIUU JCWCIO ClIiCI rcUCI TO alCUCllUCll TTlUCl IUgCl JI 49 and 50, with the measuring spindles! 28 and the abutment 49 act on the link 33 and the fvießspi.tdel 29 and the abutment 50 act on the link 32. Each micrometer 20, 21 and 22 is also assigned a respective locking screw 54, 55 and 56, which are arranged tangentially to the bore 31 of the link carrier 11 and by means of which the setting position of the respective micrometer can be fixed.
Finally, the opposite end of the lens carrier of the device 10 has a coaxially arranged threaded clamping ring 58 which, together with a coaxial extension 59, optionally with the interposition of a corresponding groove 57 determining the angular position to the z-axis, as a receptacle for one in FIG . 1 only indicated optical camera to be measured is used.

Dc d>;r Kulissenträger 11 und der Objektivträger 12 über ein koaxiales Feingewinde 62 miteinander verschraubt sind, können Objektivträger und Kulissenträger zwecks Schärfeneinstellung zueinander eingestellt werden.Dc d>; r link carrier 11 and the lens carrier 12 Are screwed together via a coaxial fine thread 62, lens carrier and link carrier can be adjusted to each other for focus adjustment.

Die Wirkungsweise des beschriebenen Gerätes sei nunmehr anhand der F i g. 1 und 4 in Verbindung mit dem Vermessen einer kinomatographischen Kamera 70 beschrieben.The mode of operation of the device described is now based on FIG. 1 and 4 in conjunction with the measurement of a cinomatographic camera 70 is described.

Von der mit dem Gerät 10 lösbar verbundenen Kamera 70 sind in Fi g. I lediglich die Drehspiegel-Sektorenblende 71, das S^hhilfeprisma 72, das Bildfenster 73 sowie die optische Primärachse 74 und die optische Se-From the camera 70, which is detachably connected to the device 10, are shown in FIG. I only the rotating mirror sector aperture 71, the auxiliary prism 72, the image window 73 as well as the optical primary axis 74 and the optical se-

kundärachse 75 angedeutet. Nach dem öffnen des nicht dargestellten Kameragehäuses fällt Licht auf das Bildfenster 73, so daß ein Betrachter über das Okular 14 bei jeweils geöffneter Blende 71 das auf der Strichplatte 45secondary axis 75 indicated. After opening the not The camera housing shown falls on the image window 73, so that a viewer through the eyepiece 14 at respectively open aperture 71 that on the reticle 45

im Verhältnis 1 :1 abgebildete Bildfenster betrachten kann. Da die Strichplatte vor dem Aufsetzen der Kamera, zum Beispiel über eine Meßlochblende, exakt zur optischen Achse ζ ausgerichtet worden ist, können Abweichungen des abgebildeten Bildfensters sowohl in be- s zug auf die x- und y-Achse des x-y-Koordinatensystems als auch Winkellagefehler in bezug auf die z-Achse festgestellt werden.can view the picture window shown in a ratio of 1: 1. Since the reticle has been aligned exactly to the optical axis ζ before the camera is placed on, for example via a measuring pinhole, deviations in the image window shown can occur both in relation to the x and y axes of the xy coordinate system and angular position errors can be determined with respect to the z-axis.

Durch Betätiger, der Mikrometer 20 und 21 werden die Abweichungen in bezug auf die x- und y-Achse — Verstellen des Punktes Pin die Lage P\ in F i g. 4 — und durch Betätigen des Mikrometers 22 die Abweichungen in bezug auf die z-Achse — Verdrehen des Punktes Min die Winkellage M\ in Fig.4 — korrigiert, indem das Bild des Bildfensters mit den Meßmaßen der Strichplatte in Deckung gebracht wird. Die Einstellungen der Mikrometer geben dann die Fehler der vermessenen Kamera an.By actuators, the micrometers 20 and 21, the deviations in relation to the x and y axes - adjustment of the point Pin, the position P \ in F i g. 4 - and by actuating the micrometer 22, the deviations in relation to the z-axis - turning the point Min, the angular position M \ in FIG. The micrometer settings then indicate the errors of the measured camera.

Die beim Verdrehen der Strichplatte um die z-Achse normalerweise entstehenden Tangensfehler — der Punkt Pi wandert um das gleiche Bogenmaß aus, um das der Punkt M über das Mikrometer 22 in die Lage M\ bewegt wird — werden durch das beschriebene Doppelschleifengetriebe 35 selbsttätig korrigiert, da — in an sich bekannter Weise — durch die jeweils über den Formschluß zwischen den Stirnseiten von Meßspindel und Widerlagern gehaltenen Kulissen 32 und 33 beim Drehen der Kulisse 34 über die getrieblichen Verbindungen 36 bis 39 der Punkt P\ in der in F i g. 4 dargestellten Lage gehalten wird.The tangent errors normally occurring when the reticle is rotated about the z-axis - the point Pi migrates by the same radian as that by which the point M is moved via the micrometer 22 to the position M \ - are automatically corrected by the double-loop gear 35 described, because - in a manner known per se - by the respective via the form fit between the end faces of the measuring spindle and abutments, the connecting links 32 and 33 when the connecting link 34 is rotated via the geared connections 36 to 39, the point P \ in the in FIG. 4 is held position shown.

Aus dem Vorstehenden ergibt sich sofort, daß die notwendigen Messungen und Vorgänge zum Indekkungbringen der optischen Achsen von aufgeteilten Strahlengängen einfach, schnell und sicher ohne Zuhilfenahme optischer Bänke und/oder Recheneinrichtunge.n durchführbar ist.From the foregoing it can be seen immediately that the necessary measurements and processes lead to discovery the optical axes of split beam paths easily, quickly and safely without assistance optical banks and / or computing devices can be carried out.

Die durch eventuell festgestellte Abweichungen notwendig werdenden Justierungen der sekundären Sehhilfe sind, da nicht zur Erfindung gehörend, weder beschrieben noch dargestellt.The adjustments of the secondary visual aid that may become necessary due to any deviations found are, since not belonging to the invention, neither described nor shown.

Obwohl die Erfindung im Zusammenwirken mit einer kinomatographischen Kamera beschrieben worden ist, können die beschriebenen Messungen auch im Zusammenwirken mit einer Spiegelreflexkamera oder jedem anderen optischen Gerät durchgeführt werden, bei denen die Lage von optischen Achsen und/oder die Winkellagen von Bildfenstern u. ä. durchzuführen sind.Although the invention has been described in conjunction with a cinematographic camera, the measurements described can also be carried out in conjunction with a single-lens reflex camera or with each other other optical device are carried out in which the position of optical axes and / or the angular positions of picture windows etc. are to be carried out.

Schließlich kann zwischen dem die Lageänderungen der Strichplatte um die z-Achse bewirkenden Mikrometer und der zugehörigen Kulisse anstelle eines Stiftes ein nicht dargestelltes Schneckengetriebe angeordnet werden, so daß am Mikrometer der festgestellte Winkelfehler um die z-Achse unmittelbar ablesbar ist, was für die Mikrometer für das Verstellen in der x- und y-Achse ohnehin gilt.Finally, instead of a pin, a worm gear (not shown) can be arranged between the micrometer causing the changes in position of the reticle around the z-axis and the associated setting, so that the angular error detected around the z-axis can be read directly on the micrometer, which is what the micrometer is for the adjustment in the x- and y-axis applies anyway.

Hierzu 3 Blatt ZeichnungenFor this purpose 3 sheets of drawings

Claims

Patent claims:

1. Device for determining the position of an object in at least one plane in relation to an optically represented reference system by moving the reference system along two mutually perpendicular axes, characterized in that a reticle forming the reference system (X-Y axis) with adjusting means ( 20, 21) can be displaced along the X and V axes and, preferably via a double-loop gear and the adjusting means (22), can also be rotated about an axis (Z) perpendicular to the XY plane in such a way that when the displaced reference system (XY ) the penetration point (fl) of the axis (Z) through the plane is forcibly kept in the setting position (P ₁ ) which differs from the original position (P).

2. Apparatus according to claim i, characterized in that the measuring plane is adjustable along the z-axis is

3. Device according to claims 1 and 2, characterized in that the reticle (45) is a da3 optical imaging system / 17) and an optical viewing system (14) are assigned by one having a receptacle (59) for the device in which the position of the object is to be determined Tube (10) are worn.

4. Apparatus according to claim 3, characterized in that that the tube (10) is an objective carrier (12) and a link carrier (11) which are mutually displaceable

5. Device according to claims 1 to 4, characterized in that the reticle (45) in a link (32) is held to which two coaxial slider crank disks (33, 34) are assigned, of which the slider crank disk (34) facing away from the link (32) is held axially in the kiss carrier (11) is.

6. Device according to claims 1 to 5, characterized in that the link carrier (11) has three offset by 90 ° to each other, the setting of the x, y and z-axis serving micrometers (20, 21, 22) of where the micrometer (20) assigned to the x-axis acts directly and the micrometer (21) assigned to the y- axis acts on the slide (32) carrying the reticle via a slider crank disk (33) of the double-loop crank mechanism (35), during which the The micrometer (22) assigned to the z-axis acts directly on the crank disk (34) facing away.

7. Device according to claims 5 and 6, characterized in that the link (32) and the associated double-loop crank mechanism (35) in the axial direction by a pretensioned spring ring (40) are acted upon within the link carrier (11).

8. Device according to claims 1 to 7, characterized in that the receptacle (59) of the Tube (10) a threaded clamping ring (58) that fixes the relative adjustment position of the tube around the z-axis having.

9. Apparatus according to claim 8, characterized in that the receptacle (59) of a coaxial Extension of the lens carrier (12) and the threaded clamping ring (58) arranged on the extension and an adapter ring (60) is formed which has a groove (57) which determines the position relative to the z-axis

10. Device according to claims 1 and 6, characterized in that the associated with the z-axis Actuating means (22) acts on the slider crank disk (34) via a worm gear