DE3033457A1 - Infrared radiation detector mfr. - involves diffusing mercury into mercury cadmium telluride body to form N-type layer at operating temp. - Google Patents

Infrared radiation detector mfr. - involves diffusing mercury into mercury cadmium telluride body to form N-type layer at operating temp.

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DE3033457A1 DE19803033457 DE3033457A DE3033457A1 DE 3033457 A1 DE3033457 A1 DE 3033457A1 DE 19803033457 DE19803033457 DE 19803033457 DE 3033457 A DE3033457 A DE 3033457A DE 3033457 A1 DE3033457 A1 DE 3033457A1
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Abstract

The method comprises the steps of diffusing mercury into at least one surface of a body of mercury cadmium telluride At the operating temp. the body has the characteristics of p-type material. The surface then has an adjoining layer with an excess of mercury. A mask is then laid over the surface and the unmasked portion is subjected to a conversion treatment to produce a localised surface layer which comprises mercury derived from the surface adjoining layer. The mask is then removed and the body heated to out-diffuse mercury from the previously mashed portions of the surface. simultaneously, a quantity of mercury is introduced into the surface adjoining portion below the localised surface layer to maintain an excess of mercury. This layer then has the characteristics of n-type materials and several p-n junctions are obtained.

Description

"Verfahren zur Iters teilung einer Iii£raro £ ürahluligsue tek-"Procedure for iters division of an Iii £ raro £ ürahluligsue tek-

t oranordnung Die Erfindung bezieht sich auf Verfahren zur Herstellung von Infrarotstrahlungsdetektoranordmingen, insbesondere, aber nicht ausschliesslich photovoltaischen Detektoren mit photoempfindlichen pn-Ubergängen.Gate assembly The invention relates to methods of manufacture of infrared radiation detector assemblies, in particular, but not exclusively photovoltaic detectors with photosensitive pn junctions.

In der britischen Patentschrift (GB-PS) 1 568 958 ist ein Verfahren zur Herstellung einer Infrarotstrahlungsdetektoranordnung beschrieben, bei dem wenigstens ein Teil einer Oberfläche eines Körpers aus Quecksilbercadmiumtellurid einer Umwandlungsbehandlung unterworfen wird, um eine Oberflächenschicht auf dem Körper zu erzeugen, wonach ein Erhitzungsschritt durchgeführt wird. In den in der genannten GB-PS 1 568 958 beschriebenen Detektoranordnungen -wird die Oberflächenschicht durch elektrolytische Anodisierung des Quecksilbercadmiumtellurids erzeugt und wird dazu verwendet, auf der Oberfläche des Körpers der Anordnung eine schützende und passivierende Schicht anzubringen, die die Detektionsfähigkeit der Anordnung vergrössert. Der Erhitzungsschritt ist eine beliebige Ausheizbehandlung für die Detektoranordnung bei einer Temperatur im Bereich von 6000 - 700C, die dazu dienen kann, die Eigenschaften der Anordnung zu verbessern, z.B. dadurch, dass das Quecksilbercadmiumtelluridmaterial der Detektoranordnung aus ge glüht wird. Diese anodische passiverende Oberflächenschicht wird insbesondere, aber nicht ausschliesslich auf photoleitenden Detektoren erzeugt, und zwar auf Detektoren, bei denen die Wirkung auf der Eigenphotoleitfähigkeit des Quecksilbercadmiumtellurids basiert. In der GB-PS 1 568 958 ist aber auch erwähnt, dass eine solche anodische passiverende Schicht auf der Oberfläche eines Körpers einer photovoltaischen Detektor anordnung erzeugt werden kann. In diesem Falle wird ein pn-Ubergang zunächst auf eine bereits bekannte Weise in dem Quecksilbercadmiumtelluridkörper gebildet, wonach die passivierende Oberflächenschicht durch elektrolytische Anodisierung wenigstens eines Teiles der Hauptfläche des Detektorelements gebildet wird, über die die zu detektierende einfallende Strahlung zum pn-Ubergang fliesst. Die Wirkung eines photovoltaischen Detektors basiert auf der Erzeugung einer Photospannung durch den photoempfindlichen pn-Ubergang und somit ist die Qualität für diesen Ubergang von wesentlicher Bedeutung für die Erhaltung günstiger Detektoreigenschaften. Die in -der GB-PS 1 568 958 beschriebene Erfindung einer Anodisierungsbehandlung bezieht sich nicht auf die Bildung eines photoempfindlichen pn-Ubergangs und tatsächlich auch nicht auf irgend einen pn-Ubergangstyp. In British Patent (GB-PS) 1 568 958 there is a method for the production of an infrared radiation detector arrangement described in which at least part of a surface of a body of mercury cadmium telluride undergoing a conversion treatment is subjected to create a surface layer on the body, after which a heating step is performed. In the mentioned GB-PS 1 568 958 Detector arrangements described -is surface layer by electrolytic Anodization of the mercury cadmium telluride is produced and used to a protective and passivating layer on the surface of the body of the assembly to attach, which increases the detection capability of the arrangement. The heating step is any heat treatment for the detector array at one temperature in the range of 6000 - 700C, which can be used to change the properties of the arrangement to improve, e.g. by adding the mercury cadmium telluride material of the detector assembly is glowing from. This anodic, passive surface layer is in particular but not exclusively generated on photoconductive detectors, namely on detectors, in which the effect on the intrinsic photoconductivity of mercury cadmium telluride based. In GB-PS 1 568 958 it is also mentioned that such an anodic passive layer on the surface of a body of a photovoltaic detector arrangement can be generated. In this case, a pn junction is initially on an already known way in the mercury cadmium telluride body formed, after which the passivating surface layer by electrolytic anodization at least part of the main surface of the detector element is formed over the incident radiation to be detected flows to the pn junction. The effect a photovoltaic detector is based on the generation of a photo voltage through the photosensitive pn junction and thus the quality for this junction essential for maintaining favorable detector properties. the The invention of an anodizing treatment described in GB-PS 1 568 958 relates does not affect the formation of a photosensitive pn junction and indeed not even on any type of pn junction.

Da in gewissen Hinsichten photovoltaische Detektoren potentiell als den photoleitenden Detektoren überlegen betrachtet werden, was z.B. ihrer grösseren Ansprechgeschwindigkeit, ihrer niedrigeren Verlustleistung und der Möglichkeit ihrer Wirkung ohne eine äussere Vorspannungsquelle zuzuschreiben ist, hat sidiwährend längerer Zeit der Bedarf ergeben, photovoltaische Detektoren herzustellen, wobei das oder jedes Element des Detektors aus Quecksilbercadmiumtellurid besteht. Dies erfordert die Erzeugung von pn-Ubergängen hoher Güte im Material und die Bildung von Kontakten mit den Gebieten auf gegenüberliegenden Seiten der pn-Ubergänge. pn-Ubergänge hoher Güte eignen sich auch besonders gut für Isolierungszwecke in photoleitenden Detektoren. Since, in certain respects, photovoltaic detectors are potentially considered to be The photoconductive detectors are considered to be superior to, for example, their larger ones Response speed, their lower power dissipation and the possibility of their Effect without an external source of bias is ascribed, has sidelong a longer period of time there has been a need to manufacture photovoltaic detectors, wherein the or each element of the detector is comprised of cadmium mercury telluride. this requires the creation of high quality pn junctions in the material and the formation of contacts with the areas on opposite sides of the pn junctions. pn junctions high Q are also particularly well suited for isolation purposes in photoconductive Detectors.

Es wurden mehrere verschiedenartige Verfahren zur Bildung von pn-Ubergängen in Quecksilbercadmiumtellurid vorgeschlagen. Es wurde gewunden, dass die elektrischen Eigenschaften des Materials dadurch beeinflusst werden können, dass ein stöchiometrisches Ungleichgewicht der Bestandteile des Materials herbeigeführt wird oder eine Dotierung mit einem Fremdelement stattfindet. Im ersteren Falle können n-leitende Eigenschaften durch Zwischengittercadmium- oder Quecksilberatome und können p-leitende Eigenschaften durch Quecksilber- undbder Cadmiumleerstellen oder Zwischengittertelluratome herbeigeführt werden. There have been several different methods of forming pn junctions proposed in mercury cadmium telluride. It was wound that electric Properties of the material can be influenced by having a stoichiometric Imbalance of the constituents of the material is brought about or a doping takes place with a foreign element. In the former case, n-type properties by interstitial cadmium or mercury atoms and can be p-conductive properties caused by mercury and cadmium vacancies or interstitial tellurium atoms will.

Bei der Bestimmung der Leitungseigenschaften von Quecksilbercadmiumtellurid muss Rücksicht auf die Temperatur genommen werden, bei der die genannten Eigenschaften wahrgenommen oder benutzt werden, weil derartige Eigenschaften temperaturabhängig#sind, in dem Sinne, dass für Material einer besonderen Zusammensetzung eine Temperatur besteht, bei der eine Umkehr der Leitungseigenschaften stattfinden kann. So weisen z.B. gewisse Materialzusammensetzungen, die zur Bildung der Elemente von Detektoren für Betrieb bei 77° benutzt werden, n-leitende Eigenschaften bei'der Umgebungstemperatur auf, während sie dagegen bei der Betriebstemperatur p-leitende Eigenschaften aufweisen. Ausserdem ist es für gewisse Materialzusam-= mensetzungen, bei denen die Leitungseigenschaften eines besonderen Gebietes in dem Körper durch einen Uberschuss oder ein Defizit an einem der Bestandteile herbeigeführt werden, möglich, dass das Vorhandensein von pn-Ubergangseigenschaften bei einer gewissen Temperatur, z.B. bei der Umgebungstemperatur, nicht wahrnehmbar ist, aber dass solche pn-Ubergangseigenschaften natürlich bei einer anderen Temperatur, und zwar der beabsichtigten Betriebstemperatur, die z.B. 770K sein kann, wahrgenommen und benutzt werden können. Ausserdem ist der Ausdruck "Eigenschaften eines gewissen Leitungstyps bei einer gewissen Temperatur" in weitem Sinne aufzufassen, derart, dass diese Eigenschaften in einem Temperaturbereich vorher aschen können, innerhalb dessen die genannte gebisse Temperatur liegt. When determining the conductivity properties of mercury cadmium telluride the temperature at which the properties mentioned must be taken into account perceived or used because such properties are temperature-dependent #, in the sense that for material of a particular composition a temperature exists, in which a reversal of the line properties can take place. So wise e.g. certain material compositions that form the elements of detectors can be used for operation at 77 °, n-conductive properties at ambient temperature on, while they, on the other hand, have p-type properties at the operating temperature. In addition, it is for certain material compositions, in which the conduction properties a particular area in the body due to an excess or a deficit be brought about on one of the constituents, possible that the presence of pn junction properties at a certain temperature, e.g. at the ambient temperature, is imperceptible, but that such pn junction properties occur naturally another temperature, namely the intended operating temperature, e.g. 770K can be, can be perceived and used. Also is the expression "Properties of a certain type of conduction at a certain temperature" by far Meaning to be understood in such a way that these properties in a temperature range beforehand can ash, within which the said bit temperature lies.

Um einen an die Oberfläche grenzenden Teil eines Körpers aus einem Material das bei der Betriebstemperatur des Detektors p-leitenden Eigenschaften aufweist in Material mit n-leitenden Eigenschaften bei dieser Temperatur umzuwandeln, kann bekanntlich Quecksilber in einen derartigen p-leitenden Körper dadurch eindiffundiert werden, dass der Körper und eine Menge Quecksilber in einer abgedichteten Kapsel erhitzt werden. Unter Verwendung dieses Vorgangs ist es möglich, ziemlich flache pn-Ubergänge zu erzeugen und ein Detektorelement aus einem derartigen Körper dadurch herzustellen, dass eine Mesastruktur gebildet wird, aber dabei bleibt der pn-Ubergang an den Seitenflächen des Elements ungeschützt. Dies ist unerwünscht, es sei denn, dass besondere Massnahmen getroffen werden, um die Seitenflächen zu schützen. Ausserdem erfordert, wenn ein aus einer Anzahl von Detektorelementen bestehender Detektor gebildet werden soll, die Erzeugung der Elemente in einem gemeinsamen Körper geregelte Atztechniken, während die Anbringung von Kontakten mit den einzelnen Mesa-Elementen Probleme ergibt, wenigstens sofern es nicht gut möglich ist, ein gedrucktes Kontaktmuster mit den Gebieten an den oberen Flächen der einzelnen Detektorelemente zu verwenden. To a part of a body bordering on the surface Material that has p-conductive properties at the operating temperature of the detector has to transform into material with n-conductive properties at this temperature, As is known, mercury can thereby diffuse into such a p-conductive body be that the body and a lot of mercury in one sealed Capsule to be heated. Using this process it is pretty much possible to produce flat pn junctions and a detector element from such a body by creating a mesa structure, but that remains the pn junction unprotected on the side surfaces of the element. This is undesirable unless special measures are taken to protect the side surfaces protection. In addition, if one consists of a number of detector elements Detector should be formed, generating the elements in a common body Regulated etching techniques while making contacts with the individual mesa elements Problems arise, at least if it is not very possible, with a printed contact pattern to use with the areas on the upper surfaces of the individual detector elements.

Zur Herstellung sogenannter "planarer" Detektorelemente wurde vorgeschlagen, in einem anfänglich homogenen Körper von einem bestimmten Leitungstyp lokalisierte Gebiete vom entgegengesetzten Leitungstyp dadurch zu erzeugen, dass ein Fremdelement, z.B. Aluminium, selektiv in das Kristallgitter durch Diffusion oder Ionenimplantation eingeführt wird, wobei eine Schicht auf-der Oberfläche selektiv gegen eine solche Eijl1'#1rung einer Verunreinigung maskiert. Die Erzeugung geeigneter Maskierungsschichten und die Durchführung von Verunreinigungseinführungstechniken haben sich jedoch als zeitraubend und, sofern es die letzteren Techniken anbelangt, als aufwendig erwiesen. For the production of so-called "planar" detector elements, it has been proposed that localized in an initially homogeneous body of a certain conductivity type To generate areas of the opposite conductivity type by the fact that a foreign element, e.g. aluminum, selectively in the crystal lattice by diffusion or ion implantation is introduced, with a layer on-the surface selectively against such Eijl1 '# 1rung of an impurity masked. The creation of suitable masking layers and the practice of impurity introduction techniques have proven to be useful time-consuming and, as far as the latter techniques are concerned, proven to be complex.

Es wurden andere Verfahren vorgeschagen, um pn-Ubergänge in Quecksilbercadmiurntellurid zu bilden. Other methods have been proposed to cut pn junctions in mercury cadmium telluride to build.

Diese umfassen die Anbringung von Schichten verschiedener Leitungstypen durch Epitaxie aus der Dampfphase, die Implantation von Quecksilber unter Verwendung einer Photoresistmaskierung, die Zerstä@bung von Gold oder Aluminium in durch Zerstä@bung abgelagertes Quecksilbercadmiumtellurid, sowe die Diffusion voii Gold aus einer abgelager- ten goldhaltigen Schicht.These include the application of layers of different conduction types by vapor phase epitaxy, using the implantation of mercury a photoresist mask, the sputtering of gold or aluminum in by sputtering Deposited mercury cadmium telluride, as well as the diffusion of gold from a deposited th gold-bearing layer.

Nach der Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung einer Infrarotstrahlungsdetektoranordnung, bei dem wenigstens ein Teil einer Oberfläche eines Körpers aus Quecks ilbercadmiumtellurid einer Umwandlungsbehandlung unterworfen wird, um eine Oberflächenschicht auf dem Körper zu erzeugen, wonach ein Erhitzungsschritt durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die durch die genannte Umwandlungsbehandlung erzeugte Oberflächens eh ich t eine genügende Menge eines diesem Körper entzogenen Elements enthält, um danach als eine Quelle zur Wiedereinführung des genannten Elements in den genannten Körper zu dienen, wobei dieses Element ein Bestandteil des genannten Körpers und derartig ist, dass, wenn es in einer überschüssigen Konzentration im Material des genannten Körpers vorhanden ist, die Eigenschaften n-leitenden Materials bei der Betriebstemperatur der Detektoranordnung erhalten werden, und dass die genannte Oberflächenschicht während des genannten Erhitzungsschrittes auf eine Temperatur über 10000 erhitzt wird, um eine Menge des genannten Elements von der Oberflächenschicht in ein darunterliegendes Gebiet des Körpers einzuführen, damit ein pn-Ubergang in dem Körper gebildet wird. According to the invention a method for producing an infrared radiation detector arrangement is at least part of a surface of a body of mercury cadmium telluride is subjected to a conversion treatment to form a surface layer on the To produce bodies, after which a heating step is carried out, characterized in that that the surface produced by said conversion treatment is anyway contains a sufficient amount of an element withdrawn from this body to allow afterwards as a source for reintroducing said element into said body to serve, this element being part of said body and such is that when there is an excess concentration in the material of the said Body is present, the properties of n-type material at the operating temperature of the detector arrangement, and that said surface layer heated to a temperature above 10,000 during said heating step is to move an amount of said element from the surface layer to an underlying one Area of the body so that a pn junction is formed in the body.

Dieses Verfahren basiert auf der überraschenden Entdeckung, dass es möglich-ist, auf reproduzierbare Weise einen pn-Ubergang genügend hoher Güte für einen Detektor (z.B. zur Anwendung als der photoempfindliche tybergang einer photovoltaischen Detektoranordnung) zu bilden, und zwar durch das einfache Verfahren zur Entnahme von dem Körpermaterial selbst (z.B. durch eine elektrolytische Anodisierungsbehandlung) einer Quelle eines Elementbestandteiles des genannten Körpers zum Erhalten n-leitender Eigenschaften und durch anschliessende Erhitzung auf eine Temperatur über 10000, um den genannten Elementbestandteil wieder in das unterliegende Gebiet einzuführen und den genannten pn-Ubergang zu bilden. Ausserdem kann diese Quelle leicht auf einer Körperoberfläche lokalisiert wer- den, so dass sogar planare Detektorelemente auf diese einfache Weise gebildet werden können. This method is based on the surprising discovery that it is possible to produce a pn junction of sufficiently high quality in a reproducible manner for a detector (e.g. for use as the photosensitive transition of a photovoltaic detector array) by the simple method for removal of the body material itself (e.g. through an electrolytic anodizing treatment) a source of a constituent element of said body for obtaining n-type Properties and by subsequent heating to a temperature above 10,000, to reintroduce the said constituent element into the underlying area and to form said pn junction. Also, this source can easily be accessed localized on a body surface den so that even planar Detector elements can be formed in this simple way.

So liegt bei einer wichtigen Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung während des Erhitzungsschrittes die genannte Oberflächenschicht örtlich auf einem Teil einer Hauptfläche des Körpers, während das unterliegende Gebiet mit n-leitenden Eigenschaften, das durch die genannte Einführung des Elements erzeugt wird, nur örtlich an die genannte Hauptfläche grenzt, so dass sich der gebildete pn-Ubergang bis zu der Hauptfläche erstreckt, derart, dass er wenigstens teilweise an der genannten Hauptfläche endet. Vorteile einer derartigen planaren Struktur, z.B. in bezug auf die Anbringung von Kontakten, wurden bereits früher beschrieben, aber wie nachstehend beschrieben werden wird, kann diese Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung für die Herstellung vieler verschiedener Detektoranordnungen, einschliesslich monolitischer Konfigurationen, verwendet werden. Thus, in an important embodiment of the method, there is of the invention locally said surface layer during the heating step on part of a major surface of the body while using the underlying area n-type properties produced by said introduction of the element is only locally adjacent to the aforementioned main surface, so that the formed pn junction extends up to the main surface, such that it is at least partially ends at said main surface. Advantages of such a planar structure, e.g. in relation to the attachment of contacts, have already been described earlier, but as will be described below, this embodiment of the method according to the invention for the production of many different detector arrangements, including monolithic configurations.

Vorzugsweise wird die die Elementquelle enthaltende Oberflächenschicht auf Quecksilbercadmiumtellurid erzeugt, das bei der genannten Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften p-leitenden Materials aufweist, so dass der genannte Erhitzungsschritt bewirkt, dass das genannte unterliegende Gebiet die Eigenschaften n-leitenden Materials bei der genannten Betriebstemperatur der Anordnung erhält, während der nächstliegende Teil des genannten Körpers die genannten 1>-leitenden Eigenschaften beibehält, um den genannten pn-Ubergang in dem Körper zu bilden. Dieser Vorgang geht besonders einfach vor sich. Preferably, the surface layer containing the element source is used on mercury cadmium telluride generated at the specified operating temperature the arrangement has the properties of p-conductive material, so that said The heating step causes the said underlying area to have the properties n-conductive material at the specified operating temperature of the arrangement, while the closest part of said body is said 1> -conductive Maintains properties to form said pn junction in the body. This The process is particularly simple.

Ein komplexerer Vorgang kann jedoch verwendet werden, bei dem die genannte Oberflächenschicht auf Quecksilbercadmiumtellurid erzeugt wird, das bei der genannten Betriebs temperatur der Anordnung die Eigenschaften n-leitenden Materials aufweist, und bei dem der gennunte Erhitzungsschritt bewirkt, dass das unterliegende Gebiet die genannten n-t-eit#nden 1Digensciiaf# (-II infolfre der genannten Einführung des Elements von der genannten Oberflächenschicht beibehält, während der nächstliegende Teil des genannten Körpers durch den genannten Erhitzungsschritt in Material umgewandelt wird, das bei der genannten Betriebstemperatur der Anordnung p-leitende Eigenschaften aufweist, wodurch der genannte pn-Ubergang in dem Körper gebildet wird.However, a more complex operation can be used where the called surface layer is generated on mercury cadmium telluride, which at the said operating temperature of the arrangement, the properties of n-conductive material has, and in which the aforementioned heating step causes the underlying Territory the mentioned n-t-eit # nden 1Digensciiaf # (-II as a result of the mentioned introduction of the element of said surface layer retains while the closest Part of said body converted into material by said heating step becomes, the p-type properties at the mentioned operating temperature of the arrangement has, whereby said pn junction is formed in the body.

Dieser komplexere Vorgang kann schwieriger auf reproduzierbare Weise durchgeführt und gesteuert werden, insbesondere wenn von einem n-leitenden Körper ausgegangen wird und eine hohe Temperatur im Erhitzungsschritt für die Umwandlung des Leitungstyps erforderlich ist. Bei einer abgewandelten Ausführungsform dieses komplexeren Vorgangs, die jedoch mehr Verfahrensschritte erfordert, wird von einem Körper aus Quecksilbercadmiumtellurid ausgegangen, der bei der genannten Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften p-leitenden Materials aufweist, wobei vor der Erzeugung der genannten Oberflächenschicht Quecksilber in mindestens eine Oberfläche des genannten Körpers eindiffundiert wird, um einen an die Oberfläche grenzenden Teil des genannten Körpers zu bilden, der bei der genannten Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften n-leitenden Materials aufweist; danach wird die genannte Oberflächenschicht auf dem genannten an die Oberfläche grenzenden Teil erzeugt, während der genannte Erhitzungsschritt bewirkt, dass n-leitende Epnschaften im-genannten unterliegenden Gebiet beibehalten werden und Ausdiffusion von Quecksilber aus einem freigelegten Teil des genannten an die Oberfläche grenzenden Teiles stattfindet, um den genannten Teil in Material umzuwandeln, das bei der genannten Betriebstemperatur der Anordnung die genannten p-leitenden Eigenschaften aufweist.This more complex process can be more difficult in a reproducible manner carried out and controlled, especially if by an n-type body is assumed and a high temperature in the heating step for conversion the line type is required. In a modified embodiment, this more complex process, which, however, requires more procedural steps, is handled by a Body made of mercury cadmium telluride assumed that at the specified operating temperature the arrangement has the properties of p-conductive material, with prior to production of said surface layer mercury in at least one surface of said Body is diffused to a part of the said surface bordering on the surface To form body, the properties at the specified operating temperature of the arrangement comprises n-type material; thereafter the said surface layer is applied said surface adjacent portion is generated during said heating step has the effect that n-conducting Epnschaften retained in the-mentioned underlying area and outdiffusion of mercury from an exposed part of said the part bordering the surface takes place in order to convert said part into material to convert the said at the said operating temperature of the arrangement Has p-type properties.

Bei einer besonderen bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung umfasst die genannte Behandlung zum Erzeugen der Oberflächenschicht die elektrolytische Anodisierung des Quecksilbercadminmtellurids. In a particularly preferred embodiment of the method according to of the invention comprises said treatment for creating the surface layer the electrolytic anodization of mercury cadminm telluride.

s WllrdO gEfllNdell, dazu es durch elektrolytische Anodiisierung und anschliessende Erhitzung auf eine Temperatur über 100 0C scheibenförmiger Körper aus Quecksilbercadmiumtellurid (H#(1#x) Cd Te) u.a. möglich ist, (a) pn-Ubergänge x gewünschter Güte und mit photoempfindlichen Eigenschaften bei der Umgebungstemperatur in Material zu bilden, das einen Wert von x im Bereich von 0,30 - 0,35 aufweist, wobei das genannte Material und die so gebildeten Ubergänge z.B. für die Anwendung in photovoltaischen Detektoren geeignet sind, die für den Betrieb im Wellenlängenbereich von 3 - 5 /um bei der Umgebungstemperatur bestimmt sind, und (b) pn-Ubergänge gewünschter Güte und mit photoempfindlichen Eigenschaften bei 770K in Material zu bilden; das einen Wert von x im ganzen Bereich von 0,15 - 0,35 aufweist, wobei das genannte Ma-terial und die so gebildeten Ubergänge, abhängig von dem Wert von x, z.B. für die Anwendung in photovoltaischen Detektoren, die für den Betrieb im Wellenlängenbereich von 8 - 14 um bei 77° K bestimmt sind, und für Anwendung in photovoltaischen Detektoren geeignet sind, die für den Betrieb im Wellenlängenbereich von 3 - 5 /um bei 770K bestimmt sind. Die exakte physikalische Mechanismus, durch den die Umwandlung des Leitungstyps erhalten wird, lässt sich nicht völlig erklären, aber angenommen wird, dass im besonderen Falle einer elektrolytischen Anodisierung von Quecksilbercadmiumtellurid eine Oberflächenschicht erzeugt wird, die reich an Quecksilber ist, wobei dieses Quecksilber möglicherweise in Form von Mercurioxid eingebaut wird. Der anschliessend durchgeführte Erhitzurlgsschritt auf eine Tempe ratur über 100 0C ergibt möglicherweise freies Quecksilber, das in das unterliegende Körpermaterial eindiffundiert.s WllrdO gEfllNdell, plus it through electrolytic anodization and subsequent heating to a temperature above 100 0C more disc-shaped Body made of mercury cadmium telluride (H # (1 # x) Cd Te) among other things is possible, (a) pn transitions x desired quality and with photosensitive properties at the ambient temperature to form in material that has a value of x in the range 0.30 - 0.35, said material and the transitions thus formed e.g. for the application in photovoltaic detectors that are suitable for operation in the wavelength range of 3 - 5 μm are determined at ambient temperature, and (b) pn junctions are more desirable Goodness and form with photosensitive properties at 770K in material; the has a value of x in the full range 0.15-0.35, said Material and the transitions formed in this way, depending on the value of x, e.g. for the application in photovoltaic detectors designed to operate in the wavelength range from 8-14 µm at 77 ° K, and for use in photovoltaic detectors that are suitable for operation in the wavelength range of 3 - 5 / µm at 770K are determined. The exact physical mechanism by which the conversion of the Line type is obtained cannot be fully explained, but it is assumed that in the special case of electrolytic anodization of mercury cadmium telluride a surface layer is created which is rich in mercury, this being Mercury may be incorporated in the form of mercury dioxide. The subsequently The heating step carried out to a temperature above 100 ° C. may result free mercury that diffuses into the underlying body material.

Zu gleicher Zeit dient die anodisch erzeugte Oberflächenschicht als eine Ausdiffusionsmaske freien Qiecksilbers von dem unterliegenden Material. Auf diese Weise wird Quecksilber wahrscheinlich in das Kristallgitter eingelagert, wodurch n-leitende Eigenscllãften in dem unterliegenden Gebiet erhalten werden.At the same time, the anodically generated surface layer serves as an outdiffusion mask of free quartz silver from the underlying material. on this way, mercury is likely to be incorporated into the crystal lattice, thereby causing n-type properties can be obtained in the underlying area.

Es sei bemerkt, dass dieser Effekt nicht durch Durchführung der Verfahreussotirit Le eriial eii wird, die in der genannten vorveröffentlichten GB-PS 1 568 958 im Namen der Anmelderin beschrieben sind. In den photoleitenden Detektoren nach der GB-PS 1 568 958 hätte eine solche Einführung von Quecksilber in das n-leitende Detektorgebiet die Oberflächendotierungskonzentration auf n+ vergrössert, wodurch die Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit vergrössert und die passivierende Wirkung der anodischen Oberflächenschicht herab-gesetzt werden würde. It should be noted that this effect cannot be achieved by performing the method of operation Le eriial eii becomes that in of the aforementioned pre-published GB-PS 1,568,958 in the name of the applicant. In the photoconductive detectors according to GB-PS 1 568 958, such an introduction of mercury into the n-type would have Detector area increases the surface doping concentration to n +, whereby the surface recombination speed increases and the passivating effect the anodic surface layer would be degraded.

Dies steht im Widerspruch zu den gestellten Anforderungen.This contradicts the requirements.

Auch hätte eine solche Einführung von Quecksilber in die photovoltaischen Detektoren nach der GB-PS 1 568 958 die erhaltenen Eigenschaften des photoempfindlichell vorher im Detektorkörper gebildeten pn-Ubergang beeinträchtigt und könnte sogar z.B. zur Zerstörung oder zum Kurzschluss des genannten pn-Ubergangs führen. Da die anodisch erzeugte Oberflächenschicht nicht eine unendliche Quecksilberquelle bildet, werden die erhaltenen Eigenschaften des unterliegenden Materials, insbesondere die Eigenschaften und die Tiefe des gebildeten pn-Ubergangs, in grossem Masse von den Erhitzungsbedingungen, und zwar der Zeit und der Temperatur, und von der anfänglichen Dicke der anodisch erzeugten Oberflächenschicht abhängig sein.Such an introduction of mercury into the photovoltaic would also have Detectors according to GB-PS 1 568 958 the obtained properties of the photosensitive pn junction previously formed in the detector body impaired and could even e.g. lead to the destruction or short circuit of the named pn junction. Since the anodically generated surface layer does not form an infinite source of mercury, the properties of the underlying material obtained, especially the Properties and the depth of the pn junction formed, to a large extent from the Heating conditions, namely time and temperature, and from the initial one Be dependent on the thickness of the anodically generated surface layer.

Die aus der elektrolytischen Anodisierung des Quecksilbercadmiumtellurids bestehende Behandlung kann derart durchgeführt werden, dass eine Oberflächenschicht mit einer Dicke von 100 - 3000 i, z.B. einer Dicke von nahezu 2000 a, erzeugt wird. Mit einer Schicht mit einer Dicke im genannten Bereich ist es möglich, pn-Ubergänge in Material in einem grossen Zusammensetzungsbereich zu erzeugen. Those from the electrolytic anodization of mercury cadmium telluride existing treatment can be carried out such that a surface layer with a thickness of 100 - 3000 i, e.g. a thickness of almost 2000 a, is produced. With a layer with a thickness in the range mentioned, it is possible to have pn junctions in material in a wide range of compositions.

Die Erhitzung kann bei einer Temperatur im Bereich von 1250C - 270au und während einer Periode im Bereich von 100 Sekunden bis zu 40 Stunden stattfinden. Heating can be done at a temperature in the range of 1250C - 270au and take place during a period ranging from 100 seconds to 40 hours.

Je höher die Temperatur ist, je kürzer-ist im allgemeinen die Periode, die erforderlich ist, um eine geeignete Umwandlung des Leitungstyps zu bewirken. Ausserdem hängt die Erhitzungsdauer in grossem Masse von der Dicke der anodisch erzeugten Oberflächenschicht ab, während der Umfang der Quelle der Leitungstypumkehr nicht unendlich ist und von der Dicke der Schicht abhängt. Auch kann es für gewisse Anwendungen, z.B. für photovoltaische Infrarotdetektoranordnungen, erwünscht sein, den pn-Ubergang in unmittelbarer Nähe der Oberfläche zu bilden; daher können unnötig lange Erhitzungszeiten eine unerwünschte Diffusion des genannten Materials in den Körper herbeiführen, was zu einem tiefen pn-Ubergang führen kann, der schlechte Eigenschaften aufweist. Unter gewissen Bedingungen kann es notwendig sein, Material von der Oberfläche nach dem Erhitzungsschritt zu entfernen, um einen untiefen Ubergang zu erhalten.In general, the higher the temperature, the shorter the period, which is necessary to effect a suitable conversion of the conductivity type. In addition, the heating time depends to a large extent on the thickness of the anodic generated surface layer, while the perimeter of the source of the conductivity type reversal is not infinite and depends on the thickness of the layer. It can also be for certain Applications, e.g. for photovoltaic infrared detector arrangements, are desirable, to form the pn junction in close proximity to the surface; therefore can be unnecessary long heating times an undesirable diffusion of said material in the Bring about body, which can lead to a deep pn junction, the bad one Has properties. Under certain conditions it may be necessary to use material remove from the surface after the heating step to create a shallow transition to obtain.

Sofern es die Lokalisierung der Oberflächenschicht anbelangt, kann eine derartige anodisch erzeugte Oberflächenschicht, die sich örtlich auf einem Teil einer grossen Fläche erstreckt, dadurch gebildet werden, dass entweder der genannte Teil der Oberfläche örtlich anodisiert oder die ganze Oberfläche anodisiert und dann ein Teil der so gebildeten Oberflächenschicht entfernt wird. As far as the localization of the surface layer is concerned, can such an anodically generated surface layer, which is locally on a Part of a large area extends, are formed in that either the The said part of the surface is locally anodized or the entire surface is anodized and then part of the surface layer thus formed is removed.

Durch die Möglichkeit, planare pn-Ubergänge nach der Erfindung auf einfache Weise zu bilden, können mehrere verschiedenartige Detektoranordnungen gebildet werden, die einen oder mehr an einer Hauptfläche des Körpers der Anordnung endenden pn-Ubergänge aufweisen. Due to the possibility of planar pn junctions according to the invention easy to form, several different types of detector arrays can be formed which end one or more of a major surface of the body of the assembly have pn junctions.

So kann während des Erhitzungsschrittes der Umfang der auf der Hauptfläche erzeugten Oberflächenschicht derart sein, dass der grösste Teil des gebildeten pn-TYbergangs sich nahezu parallel zu der genannten Hauptfläche erstreckt und den pho1-oempfindlicllen pn-Tber#ang eines photovol taschen Tnfraro tdetektorelement 5 der Detektoranordnullg bildet. In diesem Falle kann die genannte Oberflächenschicht die Form einer Konfiguration getrennter Teile auf der genannten Hauptfläche aufwei#en, so dass eine Konfiguration inselförmiger Gebiete, die bei der Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften n-leitenden Materials aufweisen, in einem gemeinsamen Körperteil ge- bildet wird, der die Eigenschaften p-leitenden Materials aufweist, wonach nach dem Erhitzungsschritt jedes n-leitende Gebiet mit einem leitenden Anschluss und der p-leitende Körperteil mit mindestens einem gemeinsamen leitenden Anschluss versehen wird. Auf diese Weise kann leicht eine monolithische Konfiguration, z.B. eine lineare Konfiguration oder eine Matrix photovoltaischer Detektorelemente in einem gemeinsamen Körper gebildet werden.Thus, during the heating step, the perimeter of the main surface generated surface layer be such that most of the formed pn-TY junction extends almost parallel to the aforementioned main surface and the pho1-osenslicllen pn-Tber # ang of a photovoltaic pocket Tnfraro tdetektorelement 5 of the detector arrangement forms. In this case, the aforesaid surface layer may take the form of a configuration separate parts on the named main surface, so that a configuration island-shaped areas, which at the operating temperature of the arrangement the properties have n-conductive material, in a common body part forms having the properties of p-type material, followed by the heating step each n-type area with a conductive connection and the p-type body part is provided with at least one common conductive connection. In this way can easily be a monolithic configuration, e.g. a linear configuration or a matrix of photovoltaic detector elements is formed in a common body will.

Ein Verfahren nach der Erfindung kann auch zur Bildung einer Konfiguration an die Oberfläche grenzender inselförmiger Gebiete mit den Eigenschaften n-leitenden Materials in einem gemeinsamen Körper mit den Eigenschaften p-leitenden Materials verwendet werden, wobei jedes n-leitende Gebiet nach dem Erhitzutigsschritt mit in einiger Entfernung voneinander liegenden ersten und zweiten leitenden Anschlüssen versehen wird, um ein photoleitende Infrarotdetektionselement der Anordnung zu bilden. Auf diese Weise ist es möglich, eine monolithische Konfiguration (z.B. eine lineare Konfiguration oder eine Matrix photoleitender Detektorelemente, in einem gemeinsamen Körper zu bilden, wobei selbstverständlich angenommen wird, dass eine geeignete Isolierung zwischen den Elementen angebracht werden kann und ein photoempfindlicher Effekt in bezug auf den photovoltaischen Effekt vorherrschend sein kann, wobei freie Ladungsträger voneinander durch Felder getrennt werden, die zu den pn-Ubergängen gehören. Dies kann im Vergleich zu bekannten Konfigurationen mit einer Anzahl von Quecksilbercadmiumtelluridkörpern, die -einzeln auf einem Trägersubstrat angebracht sein können, vorteilhaft sein. Die Bildung der Elemente in einem gemeinsamen Körper erleichtert erheblich die Anbringung von Kontakten mit den Elementen und ermöglicht ausserdem eine genaue Regelung des Abstandes zwischen benachbarten Elementen. A method according to the invention can also be used to form a configuration Island-shaped areas bordering the surface with the properties of n-conducting Materials in a common body with the properties of p-conducting material can be used, each n-type region having after the heating step at some distance from each other first and second conductive terminals is provided to form a photoconductive infrared detection element of the assembly. In this way it is possible to have a monolithic configuration (e.g. a linear Configuration or a matrix of photoconductive detector elements, in one common Body, assuming of course that a suitable one Insulation can be placed between the elements and a photosensitive Effect in relation to the photovoltaic effect can be predominant, being free Charge carriers are separated from each other by fields that lead to the pn junctions belong. This can be compared to known configurations with a number of Mercury cadmium telluride bodies, which are individually attached to a carrier substrate can be beneficial. The formation of the elements in a common body considerably facilitates the attachment of contacts with the elements and enables in addition, precise regulation of the distance between adjacent elements.

Bei einem Verfahren, bei dem die Oberflächenschicht mit der Elementquelle an einer Hauptfläche des Körpers lokalisiert wird, kann nach dem Erhitzungsschritt mindestens ein Randteil der Oberflächenschicht, der sich in der Nähe der Stelle erstreckt, an der der genannte pn-Ubergang an der Oberfläche endet, entfernt werden. In a method in which the surface layer with the element source localized on a major surface of the body may after the heating step at least an edge portion of the surface layer extending in the vicinity of the location at which the said pn junction ends at the surface, can be removed.

Dies kann besonders günstig sein, wenn die Oberflächenschicht durch elektrolytische Anodisierung erhalten wird, weil das Vorhandensein einer anodischen Oberflächenschicht auf dem Endteil des pn-Ubergangs die Kennlinien des Ubergangs gegebenenfalls infolge einer Anhäufung unter der anodisierten Schicht beeinträchtigen kann.This can be particularly beneficial if the surface layer is through electrolytic anodization is obtained because of the presence of an anodic Surface layer on the end part of the pn junction shows the characteristics of the junction possibly due to a build-up under the anodized layer can.

Nach dem Erhitzungsschritt kann die Oberflächenschicht entfernt und eine Atzbehandlung durchgeführt werden, um Material von der einen Oberfläche zu entfernen, während eine weitere elektrolytische Anodisierung wenigstens eines Teiles der Hauptfläche, der von dem Endteil des pn-Ubergangs in der genannten Oberfläche begrenzt wird, durchgeführt werden kann, um die genannte Oberfläche zu passivieren. After the heating step, the surface layer can be removed and an etching treatment may be performed to remove material from one surface remove while further electrolytic anodizing of at least a part the main surface, that of the end part of the pn junction in said surface is limited, can be carried out in order to passivate said surface.

Einige Ausfülirungsformen der Erfindung werden nun beispielsweise beschrieben. Zunächst werden einige Beispiele der Bildung von pn-Ubergängen in Körpern aus Quecksilbertellurid mehrerer verschiedenartiger Zusammensetzungen zusammen mit Einzelheiten in bezug auf die Kennlinien der erhaltenen Ubergänge beschrieben, wonach einige Ausführungsformen, in denen Infrarotdetektorelemente hergestellt werden, an Hand der beiliegenden Zeichnungen beschrieben werden. Es zeigen: Figuren 1 und 2 die gemessenen Spannungs-Strom-Kennlinien zweier verschiedener pn-Ubergänge, die in einem Quecksilbercadmiumtelluridkörper durch ein Verfallren nach der LI'rfilidulIg gebildet werden; Figuren 3 bis 8 mehrere 5 tiifen in der lIerstellung einer aus einer Konfiguration von zehn Elementen bestehenden photovoltaischen Infrarotdetektoranordnung durch ein Verfahren nach der Erfindu#ig, wobei die Figuren 3, 4, 6 und 7 seijematische Draufsichten ind und je den aus Que cks ilbercadmiumte llurid bestehenden Elementkörper (1,r Anordnung ulltl einen Teil eilles Trägersubstrats dar- stellen, auf dem der genannte Körper angebracht ist, während Figuren 5 und 8 schematische Querschnitte durch einen Teil des genannten Körpers in zwei verscJliedene Herstellungsstufen sind, und Fig. 9 eine schematische Draufsicht auf eine Teil einer aus einer ltonfiguration von zehn Elementen bestehenden photoleitenden Infrarotdetektoranordnung, die durch ein Verfahren nach der Erfindung hergestellt ist. Some embodiments of the invention will now be exemplified described. First some examples of the formation of pn junctions in bodies from mercury telluride of several different compositions together with Details relating to the characteristics of the transitions obtained are described, according to which some embodiments in which infrared detector elements are manufactured, can be described on the basis of the accompanying drawings. They show: Figures 1 and 2 the measured voltage-current characteristics of two different pn junctions, the in a mercury cadmium telluride body by decay after the LI'rfilidulIg be formed; Figures 3 to 8 several 5 holes in the production of a a configuration of ten elements photovoltaic infrared detector array by a method according to the invention, FIGS. 3, 4, 6 and 7 being semantic Top views ind and each of the element body consisting of mercury-cadmium metal (1, r arrangement represents part of a carrier substrate place, on which said body is attached, while Figures 5 and 8 are schematic Cross-sections through part of said body in two different stages of manufacture and FIG. 9 is a schematic plan view of part of an oil configuration of ten elements consisting of photoconductive infrared detector array, which by a method according to the invention is made.

Es sei bemerkt, dass Figuren 3 bis 9 nicht massstäblich gezeichnet sind. Die relativen Abmessungen und Verhältnisse einiger Teile dieser Figuren (insbesondere im Querschnitt) sind der Deutlichkeit und Einfachheit halber vergrössert oder verkleinert dargestellt. It should be noted that FIGS. 3 to 9 are not drawn to scale are. The relative dimensions and proportions of some parts of these figures (especially in cross-section) are enlarged or reduced for the sake of clarity and simplicity shown.

Nun werden im grossen ganzen einige experimentelle Details der Herstellung von pn-Ubergängen in Quecksilbercadmiumtellurid durch ein Verfahren nach der Erfindung gegeben. Proben polierter Scheiben mit einer Dicke von nahezu 200 /um, die aus mehreren Quecksilbercadmiumtelluridblöcken im Zusammensetzungsbereich von x zwischen 0,15 und 0,35 gebildet wurden, wurden dadurch hergestellt, dass zunächst definierte Oberflächengebiete in einer Lösung von Natriumbicarbonat unter Verwendung einer Ma-skierung aus einem Photoresist anodisiert wurden. Die anodisierten Scheiben wurden dann auf 18000 während einer Stunde entweder im Vakuum oder in einer Stickstoffatmosphäre erhitzt. Nach Erhitzung wurden die Scheiben während 10 Minuten in einer 5 Olo Lösung von Brom in Athylenglycol geätzt und wurden Goldkontakte durch Zerstäubung auf den anodisierten sowie den nicht-anodisierten Gebieten über eine geeignete Photoresistmaske angebracht. Die I-V-Kennlinien wurden dann gemessen. Now, on the whole, some experimental details of the manufacture are presented of pn junctions in mercury cadmium telluride by a method according to the invention given. Samples of polished wafers with a thickness of almost 200 μm, consisting of several Mercury cadmium telluride blocks in the composition range of x between 0.15 and 0.35 were formed by first defining surface areas in a solution of sodium bicarbonate using a drawing of a Photoresist have been anodized. The anodized disks were then down to 18,000 during heated for one hour either in vacuo or in a nitrogen atmosphere. To The disks were heated for 10 minutes in a 5 ole solution of bromine Etched in ethylene glycol and were anodized by sputtering onto the gold contacts as well as the non-anodized areas via a suitable photoresist mask. The I-V characteristics were then measured.

Fig. 1 zeigt die gemessenen Strom-Spannungs-Kennlinien eines derartigen durch das genannte Experiment gebildeten pn-Ubergänge. Dieser Ubergang wurde unter einem anodisierten Oberflächengebiet mit einer Kreisform mit einem Durchmesser von 280 um gebildet. Die Kennlinien wurden mit einer vollständigen Umgebungsbeleuchtung unter einem Raumwinkel von 2ilj# erhalten. Fig. 1 shows the measured current-voltage characteristics of such a pn junctions formed by the experiment mentioned. This transition was under an anodized surface area with a circular shape with a diameter of 280 µm. The characteristic curves were with a complete ambient lighting under a solid angle of 2ilj #.

Fig. 2 zeigt die Kennlinien einer anderen Probe, wobei in diesem Falle der unter denselben Bedingungen gebildete pn-Ubergang eine rechteckige Oberfläche von 125 /um x 185 /um aufweist. Die Kennlinien wurden mit einem Gesichtsfeld von 60 % erhalten und zeigen eine geringere Offsetspannung als die Probe, deren Kennlinien in Fig. 1 dargestellt sind. Fig. 2 shows the characteristics of another sample, in this In the case of the pn junction formed under the same conditions, a rectangular surface of 125 µm x 185 µm. The characteristics were created with a field of view of 60% obtained and show a lower offset voltage than the sample, its characteristics are shown in FIG.

Eine Ausführungsform des Verfahrens nach der Erfindung wird nun beschrieben, bei der eine lineare Konfiguration photovoltaischer Infrarotdetektorelemente in einem gemeinsamen Körper gebildet wird, wobei die Konfiguration in einer photovoltaischen Infrarotdetektoranordnung verwendet wird, die für Betrieb im Bereich von 8 - 14 um bei 77° Kgeeignet ist. An embodiment of the method according to the invention will now be described, in which a linear configuration of photovoltaic infrared detector elements in a common body is formed, the configuration in a photovoltaic Infrared detector array is used, designed for operation in the range of 8-14 around at 77 ° K is suitable.

Es wird von einer Scheibe aus Quecksilbercadmiumtellurid mit einem Durchmesser von 11 mm und einer Dicke von 450 /um mit der Zusammensetzung Hg0,8Cd0,2Te ausgegangen. Sie hat die Eigenschaften n-leitenden Materials bei Umgebungstemperatur und die Eigenschaften p-leitenden Materials bei 77 E. Die Akzeptorträgerkonzentration bei 770K ist typisch 2.1017 cm ; die Beweglichkeit ist 102 2 -1 -1 1,5 . 102 cm2 V- 1 sec- 1 und der spezifische Widerstand ist 0,2 Ohm.cm. Zur Vereinfachung der Erläuterung wird dieses Material nachstehend als p-leitendes Material bezeichnet. Die Scheibe wird auf einem keramischen Polierblock mit einer Wachsschicht angeordnet. Die Polierung der Oberfiäciie der Scheibe wird mit Hilfe einer Drehmaschine unter Verwendung eines I3asisläppmi-ttels und eines Schmirgelbreis durchgeführt. Die Polierung ist e in aus mehreren Schritten bes te1#ender Vorgang, wobei allmählich weniger Beschädigungen in der Kristallstruktur auftreten, wenn die Dicke auf 400 um herabgesetzt wird, was durch die Anwendung allmählich feinerer Schirgelteil chen und Basisläppmittel erhalten wird. Wenn die Dicke auf 400µ herabgesetzt worden ist, was durch Umfangsansätze auf dem Polierblock festgestellt wird, wird eine Atzbehandlung auf der freigelegten Oberfläcllen der noch auf dem Polierblock angeordneten Scheibe durchgeführt. It is made from a disc of mercury cadmium telluride with a Diameter of 11 mm and a thickness of 450 / µm with the composition Hg0.8Cd0.2Te went out. It has the properties of n-conductive material at ambient temperature and the properties of p-type material at 77 E. The acceptor carrier concentration at 770K is typically 21017 cm; the agility is 102 2 -1 -1 1.5. 102 cm2 V- 1 sec- 1 and the specific resistance is 0.2 Ohm.cm. To simplify the Explanation, this material is hereinafter referred to as p-type material. The disc is placed on a ceramic polishing block with a layer of wax. The polishing of the surface of the disc is done with the help of a lathe Use of a basic lapping agent and emery paste. The polishing is a process consisting of several steps, with gradually less Damage in the crystal structure occurs when the thickness is reduced to 400 µm what is achieved through the application of gradually finer abrasive particles and base lapping agents is obtained. When the thickness has been reduced to 400μ, which is due to circumferential lugs is detected on the polishing block, a Etching treatment on the exposed surface of the disc that is still on the polishing block carried out.

Dadurch wird noch 50 /um von der Oberfläche abgetragen.This removes another 50 μm from the surface.

Die Scheibe wird nun von dem Polierblock entfernt und wird über die behandelte Hauptfläche auf einem weiteren Polierblock befestigt. :Die Polierung wird unter densell,ell Bedingungen in bezug auf die Anwendung allmählich feinerer Schmirgelteilchen und Basisläppmittel durchgeführt, bis die Dicke auf 250 /um herabgesetzt ist. Dann wird eine Atzbehandlung durchgeführt, um noch 50 /um von der freigelegten Oberfläche abzutragen.The disc is now removed from the polishing block and is over the treated main surface attached to another polishing block. : The polishing gradually becomes finer in application under the same conditions Emery particles and base lapping agent carried out until the thickness reduced to 250 µm is. Then an etching treatment is carried out to another 50 / µm from the exposed one Surface to be removed.

Während die Scheibe mit einer Dicke von nahezu 200 /um noch immer über eine Wachsschicht auf dem Polierblock befestigt ist, wird eine Photoresistschicht auf der oberen Fläche angebracht. Ein Photomaskierungs und Entwicklungsvorgang wird dann durchgeführt, um eine Anzahl nahezu paralleler streifenförmiger Offnungen in der Photoresistschicht zu definieren, Eine Atzbehandlung wird dann durchgeführt, um in der Scheibe eine erste Anzahl nahezu parallel verlaufender Kanäle zu bilden, die auf dem Polierblock eine Anzahl nahezu parallel verlaufender streifenförmiger Teile aus Quecksilbercadmiumtellurid definieren. Beim Verfahren zur Bildung entweder aus einem einzigen Element bestehender Detektoren oder aus einer linearen Konfiguration bestehender Detektoren beträgt die Breite der streifenförmigen Teile typisch 1 /um. Die verbleibende Photoresistschicht wird e#ntfernt und eine weitere Atzbehandlung wird derart durchgeführt, dass die oberen Ränder der streifenförmigen Teile abgerundet werden. While the disk with a thickness of almost 200 µm is still Attached to the polishing block via a layer of wax is a layer of photoresist attached to the upper surface. A photo masking and developing process is used then performed to make a number of nearly parallel strip-shaped openings in to define the photoresist layer, an etching treatment is then carried out in order to form a first number of almost parallel channels in the disc, on the polishing block a number of almost parallel stripes Define parts of mercury cadmium telluride. In the process of education either single element detectors or linear configuration of existing detectors, the width of the strip-shaped parts is typically 1 / µm. The remaining photoresist layer is removed and a further etching treatment is carried out in such a way that the upper edges of the strip-shaped parts are rounded will.

Die folgende Stufe in der Herstellung ist die Anbringung einer Photoresistschicht auf den oberen Flächen der streifenförmigen Teile. Unter Verwendung eines üblichen Photomaskierungs- und Entwicklungsvorgangs werden eine Anzahl nahezu parallel verlaufender Streifen, die sich nahezu senkrecht zu der Längsrichtung der streifenförmigen Teile erstrecken, von der Photoresistschicht entfernt. Der gegenseitige Abstand dieser Streifen wird durch die erfor- derliche Form des Detektorelements bestimmt. Für aus einem einzigen Element bestehende Detektoren kann der Abstand typisch nahezu 1 mm betragen, damit Elemente von 1 mm x 1 mm erhalten werden. Für lineare Konfigurationen entspricht der Abstand der Länge der Elemente und im vorliegenden Beispiel ist der Abstand 3 mm. Unter Verwendung der definierten Photoresistschicht als Atzmaske wird eine Atzbehandlung durchgeführt, dadurch, dass völlig durch die Scheibe hindurch geätzt wird, um eine Anzahl parallel verlaufender Kanäle zu erhalten und dadurch auf dem Polierblock eine Konfiguration nahezu rechteckiger Element: körperteile, im vorliegenden Beispiel von je 3 mm x 1 mm, zu definieren, bei denen die Längsränder auf zwei gegenüberliegenden Seiten etwas abgerundet sind. The next stage in manufacture is the application of a photoresist layer on the upper surfaces of the strip-shaped parts. Using a common The photomasking and developing processes become a number of more or less parallel processes Strips that are almost perpendicular to the longitudinal direction of the strip-shaped parts extend away from the photoresist layer. The mutual distance of these Strip is required by the Similar shape of the detector element certainly. For detectors consisting of a single element, the distance can typically be close to 1 mm, so that elements of 1 mm x 1 mm are obtained. For linear configurations corresponds to the spacing of the length of the elements and in the present Example is the distance 3 mm. Using the defined photoresist layer As an etching mask, an etching treatment is carried out, in that completely through the Disc is etched through to obtain a number of parallel channels and thus a configuration of almost rectangular elements on the polishing block: to define body parts, in the present example of 3 mm x 1 mm each, in which the longitudinal edges are slightly rounded on two opposite sides.

Abhängig von der besonderen gewünschten Form des Detektors, insbesondere in bezug auf das gewünschte Verfahren zum Montieren des Elementkörperteiles und zum Anbringen elektrischer Kontakte mit den einzelnen Detektorelementen, kann von dieser Stufe her auf verschiedene Weise verfahren werden. Bei einigen Ausführungsformen, insbesondere zur Bildung aus einem einzigen Element bestehender Detektoren, wird wenigstens ein Teil der Behandlung, die erforderlich ist, um die pn-Ubergänge in einer Anzahl von Elementkörperteilen zu bilden, durchgeführt, während die genannten Körperteile noch auf dem Polierblock vorhanden sind. Z.B. kann eine Photoresistschicht angebracht und können die empfindlichen Gebiete in den Elementkörper teilen definiert werden, bevor eine elektrolytische Anodisierungsbehandlung auf den freigelegten Gebieten durchgeführt wird, die in bezug auf ihre Grösse den gewünschten empfindlichen Gebieten entsprechen Sollen. In einer derartigen Ausführungsform werden die Elementkörperteile erst von dem Polierblock entfernt, nachdem die elektrolytische Anodisierungsbeliandlung stattgefunden hat. Eine anschliessende Wärmebehandlung zur Bildung der pn-Ubergänge unter der anodiscll erzeugten Oberflächenschicht t; kann dann auf den Körpern durchgeführt werden, die entweder frei liegen oder bereits auf einem geeigneten Substrat montiert sind. Depending on the particular shape of the detector desired, in particular with respect to the desired method of assembling the element body part and for making electrical contacts with the individual detector elements, from at this stage can be proceeded in different ways. In some embodiments, in particular to form detectors consisting of a single element at least some of the treatment that is required to get the pn junctions in to form a number of element body parts, performed while said Body parts are still present on the polishing block. For example, a layer of photoresist attached and can divide the sensitive areas defined in the element body before electrolytic anodizing treatment on the exposed Areas is carried out, which in relation to their size, the desired sensitive Areas correspond to ought. In such an embodiment, the element body parts removed from the polishing block after the electrolytic anodizing treatment has taken place. A subsequent heat treatment to form the pn junctions under the anodically generated surface layer t; can then be performed on the bodies that are either exposed or already on a suitable one Substrate are mounted.

Im vorliegenden Beispiel werden aber die Elementkörperteile von 3 mm x 1 mm auf dem Polierblock , nachdem sie definiert worden sind, gesondert entfernt und gesondert auf einem keramischen Substrat angebracht, das auf einer ilauptiläche ein gedruckter Durchführungskontaktmuster aufweist.In the present example, however, the element body parts of 3 mm x 1 mm on the polishing block after they have been defined, removed separately and attached separately to a ceramic substrate, which is on a surface has a printed feedthrough contact pattern.

Fig. 3 zeigt eine Draufsicht auf einen Teil eines solche Substrats, auf dem einer der Elementkörperteile aus p-leitendem (bei 77°K) Quecksilbercadmiumtellurid von 3 mm x 1 mm montiert ist und das durch das beschriebene Verfahren erhalten ist, wobei nur ein Teil der genannten Elementkörperteile in der Figur dargestellt ist. Das Substrat 1 besteht aus Aluminiumoxid hoher Diche mit einer Dicke von 0,5 mm. Auf der oberen Fläche liegt ein gedrucktes Durchführungskontaktmuster aus vergoldetem Nichrom mit einer Dicke von 0,5 /um. Das Kontaktmuster enthält einen gemeinsamen Durchführungsleiter 2 mit einer Breite von 1,9 mm und zehn weitere Durchführungsleiter 3 mit je einer Breite von 100 /um und einem Teilungsabstand von 200 /um. Der Elementkörperteil 4 aus p-leitendem Material wird auf dem Substrat 1 mittels einer Epoxydharzschicht befestigt. Der Abstand zwischen den einander zugekehrten Endflächen der Leiter 2 und 3 beträgt 1,4 mm.Fig. 3 shows a plan view of part of such a substrate, on one of the element body parts made of p-conductive (at 77 ° K) mercury cadmium telluride of 3 mm x 1 mm is mounted and is obtained by the method described, only a part of said element body parts is shown in the figure. The substrate 1 consists of high-density aluminum oxide with a thickness of 0.5 mm. On the top surface is a printed gold-plated leadthrough contact pattern Nichrome with a thickness of 0.5 µm. The contact pattern contains a common one Feed-through ladder 2 with a width of 1.9 mm and ten additional feed-through conductors 3 each with a width of 100 / µm and a pitch of 200 / µm. The element body part 4 made of p-conductive material is applied to the substrate 1 by means of an epoxy resin layer attached. The distance between the facing end faces of the conductors 2 and 3 is 1.4 mm.

Eine Photoresistschicht wird nun auf der oberen Fläche des Gebildes aus dem keramischen Substrat 1 und dem darauf montierten p-leitenden Körper 4 angebracht. A layer of photoresist is now on the top surface of the structure from the ceramic substrate 1 and the p-type body 4 mounted thereon.

Ein Photomaskierungs- und Entwicklungsvorgang wird durchgeführt, um in der Photoresistschicht zehn Gebiete von je 150 /um x 100 /um mit einem gegenseitigen Abstand von 100 /um zu definieren. Fig. 4 zeigt eine Draufsicht auf das Element 4, mit darauf der Photoresistschicht 5 mit zehn Offnungen 6 darin.A photo masking and developing process is performed to in the photoresist layer ten areas of 150 / µm x 100 / µm each with a mutual Define a distance of 100 / um. Fig. 4 shows a plan view of the element 4, with the photoresist layer 5 thereon with ten openings 6 therein.

Eine elektrolytische Anodisierungsbehandlung wird nun durchgeführt. Diese erfolgt dadurch, dass das Gebilde aus dem Elementkörper 4 und dem Trägersubstrat in ein Bad mit einer Natriumbicarbonatlösung eingetaucht wird. Die elektrische Verbindung des Körpers 4 mit der positiven Klemme der Speisequelle wird über einen Wolframdraht hergestellt und eine in der Lösung vorhandene Goldelektrode wird mit der negativen Klemme der Speisequelle verbunden. Die Anodisierung erfolgt mit einer konstanten angelegten Spannung von 15 V bei einem anfänglichen Strom von 7,5 mA während einer Gesamtperiode von 1 Minute. Electrolytic anodizing treatment is now carried out. This takes place in that the structure from the element body 4 and the carrier substrate immersed in a bath with a sodium bicarbonate solution. The electrical connection of the body 4 with the positive terminal of the supply source is over a tungsten wire is made and a gold electrode present in the solution connected to the negative terminal of the supply source. The anodization takes place with a constant applied voltage of 15 V with an initial current of 7.5 mA for a total of 1 minute.

Diese Behandlung kann mehrere Male wiederholt werden, wobei in jedem Schritt die anodisch erzeugte Oberflächenschicht entfernt wird. Diese anodische Behandlung oder, wenn eine wiederholte Bellandlung durchgeführt wird, eine solche Endstufe erzeugt auf jedem der Gebiete, die während dieser Behandlung nicht mit Photoresist bedeckt sind, eine Oberflächenschicht mit einer Dicke von nahezu 2000 Obgleich es nicht möglich gewesen ist, die genaue Zusama mensetzung dieser Schicht festzustellen, zeigen mehrere experimentell durchgeführte Versuche und Vorgänge, die auf gleichen Oberflächenschichten durchgeführt werden, die auf anderen Quecksilbercadmiumtelluridkörpern unter Verwendung derselben und anderer Elektrolyten im Anodisierungsbad erzeugt werden, dass ein Bestandteil der Schicht Mercurioxid ist.This treatment can be repeated several times, with each Step the anodically generated surface layer is removed. This anodic Treatment or, if repeated treatment is carried out, such Final stage generated on each of the areas not using during this treatment Photoresist are covered, a surface layer nearly 2000 thick Although it was not possible to determine the exact composition of this layer several experimental tests and processes show that which are carried out on the same surface layers as on other mercury cadmium telluride bodies generated using the same and different electrolytes in the anodizing bath that one component of the layer is mercury dioxide.

Der folgende Verfahrensschritt ist die Entfernung des verbleibenden Teiles der Photoresistschicht 5. Dann wird das Gebilde einer Wärmebehandlung entweder im Vakuum oder in Stickstoff bei atmosphärischem Druck in einem Diffusionsofen bei einer Temperatur von 180 0C während einer Periode von 1 Stunde unferworfen. Die Wärmebehandlung führt zu der Umwandlung eines an die Oberfläche grenzenden Gebietes des Körpers. Die Umwandlung ist derart, dass bei der gewünschten Betriebstemperatur (77°K) das genannte Gebiet die Eigenschaften n-leitenden Materials aufweist, während ein pn-Ubergang zwischen dem genannten Gebiet und dem verbleibenden Teil des Körpers vorhanden ist, der bei der genannten Temperatur p-leitende Eigenschaften aufweist. Der Deutlichkeit der Zeichnung halber ist dieses Gebiet im Schnitt der Fig. 5 längs der der Linie V-V in Eig. 4 entsprechenden Lijiie als ein n-leitendes Gebiet 9 darges(e3lL und bildet einen pn-Ubergang 10 mit dem p-leitenden Körper 4. Der pn-Ubergang wendet nach der Figur an der Oberfläche gerade ausserhalb des Umfangs der anodisch erzeugten Oberflächenschicht 7. Der pn-Ubergang erstreckt sich grösstenteils nahezu parallel zu der oberen Fläche des Körpers und auf einer Tiers desselbeii von nahezu 6 /um. The next step in the process is to remove the remaining one Part of the photoresist layer 5. Then the structure undergoes a heat treatment either in vacuum or in nitrogen at atmospheric pressure in a diffusion furnace a temperature of 180 ° C. for a period of 1 hour. the Heat treatment leads to the transformation of an area bordering the surface of the body. The conversion is such that at the desired operating temperature (77 ° K) said area has the properties of n-type material, while a pn junction between said area and the remaining part of the body is present, which has p-conductive properties at the temperature mentioned. For the sake of clarity of the drawing, this area is longitudinal in the section of FIG that of the line V-V in Eig. 4 corresponding Lijiie as an n-type area 9 Darges (e3lL and forms a pn junction 10 with the p-conducting body 4. The According to the figure, the pn transition turns on the surface just outside the circumference the anodically produced surface layer 7. The pn junction extends for the most part nearly parallel to the upper surface of the body and on an animal of the same of nearly 6 / µm.

Die anodisch erzeugte Oberflächenschicht 7 wird dann durch Atzen entfernt und eine weitere Atzbehandlung wird durchgeführt, um nahezu 0,5 /um von der Oberfläche des Quecksilbercadmiumtelluridkörpers zu entfernen. The anodically generated surface layer 7 is then etched removed and another etching treatment is performed to nearly 0.5 / µm from the surface of the mercury cadmium telluride body.

Eine weitere Photoresistschicht wird nun über die ganze Oberfläche des Quecksilbercadmiumtelluridkörpers angebracht und mit Hilfe einer Maske teilweise freigelegt und dann teilweise entfernt, so dass ein Längsstreifen mit einer Breite von 375 /um unbedeckt bleibt, der sich über eine Seite des Elements erstreckt. Der unbedeckte Teil des Körpers enthält einen kleinen Teil jedes anodisierten Gebietes der Elementteile. Eine dielektrische Schicht, z.B. eine Epoxydharzschicht, wird nun derart angebracht, dass sie den freigelegten Oberflächenteil bedeckt, wobei das Harz dazu angebracht ist, eine Schicht mit einer Dicke von 3 bis 4 um zu erhalten. Another layer of photoresist is now all over the surface of the mercury cadmium telluride body attached and partially with the help of a mask exposed and then partially removed, leaving a longitudinal stripe with a width of 375 µm which extends over one side of the element. Of the uncovered part of the body contains a small portion of each anodized area of the element parts. A dielectric layer such as an epoxy resin layer is used now attached in such a way that it covers the exposed surface part, wherein the resin is adapted to have a layer 3 to 4 µm thick.

Fig. 6 zeigt eine Draufsicht auf den Körper nach dem Anbringen des Epoxydharzstreifens 12 und dem Lösen des Photore-siststreifens. Fig. 6 shows a top view of the body after the attachment of the Epoxy resin strip 12 and detaching the photore-sist strip.

Eine weitere Photoresistschicht wird dann über die ganze Ob-erfläche des Körpers 4 und des Substrats 1, einschliesslich des gedruckten Durchführungskontaktmusters, angebracht. Die Photoresistschicht wird unter Verwendung einer Maske freigelegt und wenn danach der freigelegte Teil gelöst wird, werden dadurch Offnungen in der Photoresistschicht gebildet. Diese Offnungen enthalten Löcher von 40 /um x 25 /um, die sich über die p-leitenden Gebiete 9 erstrecken, und Streifen mit einer Breite von 40 /urn, die sich von diesen Gebieten her über der Epoxydharzschicht und über den Leitern 3 erstrecken. In der Nähe des anderen Längsrandes des Elements 4 ist eine streifenförmige Offnung mit einer Breite von 1 mm in der Photoresistschicht vorhanden und erstreckt sich auch über den benachbarten Rand des gemeinsamen Durchführungsleiters 2 über 0,55 mm. Another layer of photoresist is then put over the whole surface the body 4 and the substrate 1, including the printed feedthrough contact pattern, appropriate. The photoresist layer is exposed using a mask and when the exposed part is then loosened, this creates openings in the Photoresist layer formed. These openings contain holes of 40 / µm x 25 / µm, extending over the p-type regions 9, and strips with a width of 40 / urn extending from these areas over the epoxy resin layer and over the ladders 3 extend. Close to the other Longitudinal edge of the Element 4 is a strip-shaped opening with a width of 1 mm in the photoresist layer present and also extends over the adjacent edge of the common lead-through conductor 2 over 0.55mm.

Eine Goldschicht mit einer Dicke von 0,5 /um wird nun durch Zerstäubung über die ganze Oberfläche abgelagert.A gold layer with a thickness of 0.5 / µm is now produced by sputtering deposited over the whole surface.

Das abgelagerte Gold erstreckt sich in den Offnungen in der Photoresistschicht in Berührung mit den unterschiedlichen freigelegten Gebieten und Schichten. Das auf dem Photoresist abgelagerte Gold wird durch eine Abtragungstechnik ("Lift-off") entfernt, und zwar dadurch, dass der verbleibende Photoresist gelöst wird. Fig. 7 zeigt eine Draufsicht auf das Gebilde nach der Entfernung des Goldüberschusses. Zehn Goldbänder 15 erstrecken sich je an einem Ende in Berührung mit einem n-leitenden Oberflächengebiet 9 und am anderen Ende in Berührung mit einem Durchführungsleiter 3. Ein einziges Goldband 16 erstreckt sich in Berührung mit der oberen Fläche des p-leitenden Körpers 4 und in Berührung mit dem gemeinsamen Durchführungsleiter 2.- Die Bänder 15 sind je gegen einen darunterliegenden Teil des p-leitenden Körperteils durch das Vorhandensein der Epoxydharzschiclit 12 isoliert.The deposited gold extends into the openings in the photoresist layer in contact with the different exposed areas and layers. That Gold deposited on the photoresist is removed by a removal technique ("lift-off") removed by dissolving the remaining photoresist. Fig. Figure 7 shows a top view of the structure after the excess gold has been removed. Ten gold bands 15 each extend at one end in contact with an n-type conductor Surface area 9 and at the other end in contact with a feed-through conductor 3. A single gold band 16 extends into contact with the top surface of the p-conductive body 4 and in contact with the common lead-through conductor 2.- The bands 15 are each against an underlying part of the p-type body part insulated by the presence of the epoxy resin layer 12.

So wird auf einfache Weise ein aus einer linearen Konfiguration VOll zehn Elementen bestehender pjiotovoltaischer Detektor gebildet. Als Endstufe in der Iters te ilunt:; vor der Einkapselung der Konfiguration kann es erwünscht sein, die ganze Struktur leicht zu ätzen, um die Eigenschaften nach Entfernung einer dünnen Schicht von einigen i-Einheiten von der Oberfläche der Anordnung zu verbessern. In this way, a linear configuration becomes VOll in a simple manner ten elements existing pjiotovoltaic detector formed. As a power amplifier in the iters te ilunt :; before encapsulating the configuration, it may be desirable to the whole structure easy to etch to the properties after removal of a thin Layer of some i-units from the surface of the assembly to improve.

Es ist einleuchtend, dass viele Abwandlungen in bezug auf die Bearbeitung, insbesondere in bezug auf das Verfahren ztir Kontaktierung nach der Bildung der pn-Ubergänge, möglich sind, So wird bei einer derartigen Abwandlllng nach tier Bildung des tTbergaiigs und der Entfernung der anodiscilen ()berflächenscllicllt eilte neue anodische Oberflächenschicht örtlich auf jedem empfindlichen Gebiet angebracht, die jedoch innerhalb der Grenze jedes pn-Ubergangs liegt, wo der genannte Ubergang an der Oberfläche endet. Auf diese Weise wird eine Schutzschicht gebildet, die, wie gefunden wurde, die Eigenschaften des Detektors wenigstens verbessert insofern die etwaige Beeinträchtigung der Eigenschaften, wenn die Anordnung Temperaturen bis 70 0C unterworfen wird, nicht wahrgenommen wird. Bei Anwendung dieser Abwandlung erfolgt die weitere Kontaktierung der n-leitenden Gebiete über in der zuletzt angebrachten anodischen Schicht gebildete Offnungen. It is evident that there are many variations in the way of editing, particularly with regard to the method of contacting after the formation of the pn transitions, are possible, so with such a modification according to tier formation of the tTbergaiig and the removal of the anodiscilen () surface clicllt hurried new ones anodic surface layer locally on every sensitive area appropriate, which, however, lies within the limit of each pn junction where the junction mentioned ends on the surface. In this way a protective layer is formed which, it has been found that the properties of the detector are at least improved to that extent the possible deterioration of the properties when the arrangement temperatures is subjected to 70 0C, is not perceived. When using this modification The further contacting of the n-conductive areas takes place via the last one attached anodic layer formed openings.

Eine weitere Abwandlung wird nun an Hand der Figur 9 beschrieben, in der die vorher beschriebene Ausführungsform derart abgewandelt wird, dass eine lineare Konfiguration photoleitender Detektorelemente in einem gemeinsamen Körper gebildet wird. Die Anordnung enthält ein keramisches Substrat 21 mit einem entsprechend angeordneten Muster gedruckter Durchführungskontakte 22, 23. A further modification will now be described with reference to FIG. 9, in which the previously described embodiment is modified such that a linear configuration of photoconductive detector elements in a common body is formed. The arrangement includes a ceramic substrate 21 with a corresponding arranged pattern of printed feedthrough contacts 22, 23.

Das Element weist dieselben äusseren Abmessungen wie die n-leitenden Gebiete 29 von 200 /um x 100 um auf. Jedes n-leitende Gebiet 29 wird auf gegenüberliegenden Seiten durch Streifen 35 und 36 kontaktiert, die sich je über den p-leitenden Körperteil erstrecken und gegen diesen Teil durch eine Epoxydschicht 32 isoliert sind. Die Streifen 35 erstrecken sich in Berührung mit dem Zufuhrleiter 23 und die Streifen 36 kontaktieren den gemeinsamen Durchführungsleiter 22.The element has the same external dimensions as the n-conducting Areas 29 of 200 µm x 100 µm. Each n-type region 29 is on opposite one another Sides contacted by strips 35 and 36, each extending over the p-type body part extend and are isolated from this part by an epoxy layer 32. the Strips 35 extend into contact with feed conductor 23 and the stripes 36 contact the joint implementation manager 22.

Es leuchtet ein, dass viele weitere Abwandlungen im Rahmen der Erfindung möglich sind. Z.B. können, wenn die Oberflächenschicht mit den den Leitungstyp umkehrenden Mitteln durch Anodisierung erzeugt wird, andere Lösungen, z.B. Natriumcarbonat, sowie die Carbonate und Bicarbonate von Lithium und Kalium, verwendet werden. Statt die genannte Schicht durch Anodisierung zu erzeugen, kann eine Art natürliches Oxid mit einem Uberschuss am Dotierungsmaterial durch chemische Umwandlung erzeugt werden, wobei z.B. eine oxidierende Lösung, wie Wasserstoffperoxid, verwendet wird. Es wurde gefunden, dass bei Behandlung von Quecksilbercadmiumtelluridkörpern mit einer derartigen Lösung und anschliessender Erhitzung pn-Ubergänge gebildet werden, die sich unter der erzeugten Oberflächenoxidschicht erstrecken. It is evident that many other modifications can be made within the scope of the invention possible are. For example, if the surface layer with the conduction type reversing Agents produced by anodizing, other solutions, e.g. sodium carbonate, as well as the carbonates and bicarbonates of lithium and potassium can be used. Instead of To produce the said layer by anodizing can be a kind of natural oxide are generated with an excess of the doping material by chemical conversion, for example, an oxidizing solution such as hydrogen peroxide is used. It was found that at treatment of mercury cadmium telluride bodies formed with such a solution and subsequent heating pn junctions extending under the generated surface oxide layer.

In den beschriebenen Ausführungsformen erfolgt die Umwandlung des Leitungstyps in einem an die Oberfläche grenzenden Gebiet. Im Rahmen der Erfindung kann aber das Verfahren dazu benutzt werden, vergrabene Gebiete zu erzeugen, deren Leitungstyp dem des umgebenden Materials entgegengesetzt ist. In the described embodiments, the conversion of the Conduction type in an area bordering the surface. Within the scope of the invention but the method can be used to create buried areas, their Conduction type is opposite to that of the surrounding material.

Eine Weiterbildung des Verfahrens wird nun an Hand einer anderen Ausführungsform beschrieben, die eine Abwandlung des an Hand der Figuren 3 bis 8 beschriebenen Verfahrens ist. In dieser Ausführungsform sind die Ausgangsmaterialzusammensetzung und die Scheibenherstellung genau dieselben bis einschliesslich des Polier- und Atzschrittes, um eine Scheibe mit einer Dicke von 200 um ZU erzeugen. Das Verfahren unterscheidet sich dann insofern diese Scheibe danach in einer abgedichteten Kapsel erhitzt wird, die weiter einen Uberschuss an Quecksilber enthält. Die Erhitzung erfolgt bei 250°C während einer Stunde. Dadurch wird durch Eindiffusion von Quecksilber eine Oberflächenschicht mit cincr Tiefe von 10 #um mit n-leitenden Eigenschaften bei 77°K erzeugt. Die n-leitende Schicht wird völlig von einer Hauptfläche durch Polierung entfernt, während nahezu 2 um durch Atzung von der gegenüberliegenden Oberfläche entfernt wird. Der Körper in Form einer p-leitenden (770K) Scheibe mit einer n-leitenden Oberflächenschicht (77 K) wird dann auf die in der vorhergehenden Ausführungsform beschriebene Weise behandelt, um Elementkörperteile gewünschter Grössen, z.B. 3 mm x 1 mm, wie in der obenbeschriebenen Ausführungs form, zu erzeugen, die aber je eine n-leitende Oberflächenschicht mit einer Dicke von nahezu 8 /um enthalten. Das Verfahren ist weiter völlig gleich, sofern die elektrolytische Anodisierungsbehandlung auf gleiche Weise und auf Gebieten durchgeführt wird, die grösser als die endgültig gewünschten empfindlichen Gebiete sind, um Raum für die Bildung einer später angebrachten Isolierschicht, z.B. A further development of the method is now based on another Embodiment described which is a modification of the on the basis of FIGS is the procedure described. In this embodiment, the starting material is composition and the wafer production exactly the same up to and including the polishing and Etching step to produce a wafer 200 µm thick. The procedure This disc then differs in that it is then in a sealed capsule is heated, which further contains an excess of mercury. The heating takes place at 250 ° C for one hour. This is due to the diffusion of mercury a surface layer with a depth of 10 μm with n-type properties generated at 77 ° K. The n-type layer is completely covered by one main surface Polishing removed while nearly 2 µm by etching from the opposite one Surface is removed. The body in the form of a p-type (770K) disc with an n-type surface layer (77 K) is then added to that in the preceding Embodiment described way treated to make element body parts more desired Sizes, e.g. 3 mm x 1 mm, as in the embodiment described above, to be generated, but each has an n-conductive surface layer with a thickness of almost 8 μm contain. The process is also completely the same as long as the electrolytic anodizing treatment carried out in the same way and in areas greater than the final desired sensitive areas are to leave room for the formation of a later applied insulating layer, e.g.

einer Epoxydharzschic#tt, über eine Seite des zu bildenden Ubergangs und auch eines Kontaktgebietes zu erhalten.an epoxy resin layer over one side of the transition to be formed and also to get a contact area.

Nach der elektrolytischen Anodisierung wird die während der Anodisierung verwendete Photoresistmaskierung entfernt und wird eine Erhitzung bei 18000 während 1 Stunde rcheführt. Diest hat zur Folge, dass der unbedeckte Teil der n-le-itenden Oberfläche in Material mit p-leitenden Eigenschaften rückgewandelt wird. Vorher an diesen Gebieten eindifftindiertes Quecksilber wird in diesem Erhitzungsschritt ausdiffundiert. Wenn jedoch die Teile der n-leitenden Oberflächenschicht unter der anodisch erzeugten Oberflächenschicht 7 n-leitend bleiben und ihre Tiefe nahezu erhalten bleibt, stellt sich heraus, dass die Oberflächenschicht 7 erstens als eine Ausdiffusionsmaske gegen Quecksilberausdiffusion und weiter als eine örtliche Quecksilberquelle für die weitere Eindiffusion von Quecksilber dient. Die letztere Eigenschaft basiert auf der Annahme, dass ohne eine solche zusätzlich angebrachte lokalisierte Quecksilberquelle die vorher eindiffundierte Quecksilberkonzentration in dem Körper bei Erhitzung bei einer solchen Temperatur, und zwar 1800C, während einer Stunde dispergiert werden würde. After the electrolytic anodization, the during the anodization used photoresist mask is removed and is heated at 18000 during 1 hour. This has the consequence that the uncovered part of the n-leading Surface is converted back into material with p-conductive properties. Before Mercury diffused in these areas becomes in this heating step diffused out. However, if the parts of the n-type surface layer under the anodically generated surface layer 7 remain n-conductive and their depth is almost remains, it turns out that the surface layer 7 firstly as a Outdiffusion mask against mercury outdiffusion and further as a local source of mercury serves for the further diffusion of mercury. The latter property is based on the assumption that without such an additional localized source of mercury the previously diffused mercury concentration in the body when heated at such a temperature, namely 1800C, are dispersed for one hour would.

Claims (11)

PATENTANSPRUECHE: Verfahren zur Herstellung einer Infrarotstrahungsdetektoranordnung, bei dem wenigstens ein Teil einer Oberfläche eines Körpers aus Quecksilbercadmiumtellurid einer Umwandlungsbehandlung unterworfen wird, um eine Oberflächenschicht auf dem Körper zu erzeugen, wonach ein Erhitzungsschritt durchgeführt wird, dadurch gekenn--zeichnet, dass die durch die genannte Umwandlungsbehandlung erzeugte Oberflächenschicht eine genügende Menge eines diesem Körper entzogenen Elements enthält, um danach als eine Quelle zur Wiedereinführung des genannten Elements in den genannten Körper zu dienen, wobei dieses Element ein Bestandteil des genannten Körpers und derartig ist, dass, wenn es in einer überschüssigen Konzentration im Material des genannten Körpers vorhanden ist, bei der Betriebstemperatur der Detektoranordnung die Eigenschaften n-leitenden Materials erhalten werden, und dass die genannte Oberflächenschicht während des genannten Erhitzungsschrittes auf eine Temperatur über 100°C erhitzt wird, um eine Menge des genannten Elements von der Oberflächenschicht her in ein darunterliegendes Gebiet des Körpers einzuführen, damit ein pn-Ubergang in dem Körper gebildet wird.PATENT CLAIMS: Method for producing an infrared radiation detector arrangement, at least part of a surface of a body of mercury cadmium telluride is subjected to a conversion treatment to form a surface layer on the To produce bodies, after which a heating step is carried out, characterized in that, that the surface layer produced by said conversion treatment is a Contains sufficient amounts of an element withdrawn from this body to be used as a Source to serve for reintroduction of said element into said body, this element being part of said body and such that, when there is an excess concentration in the material of said body is present, the properties at the operating temperature of the detector arrangement n-type material can be obtained, and that said surface layer heated to a temperature above 100 ° C. during said heating step is to incorporate an amount of said element from the surface layer to introduce the underlying area of the body, thereby creating a pn junction in the body is formed. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberflächenschicht auf Quecksilbercadmiumtellurid erzeugt wird, das bei der Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften p-leitenden Materials aufweist, und dass der Erhitzungsschritt bewirkt, dass das unterliegende Gebiet die Eigenschaften n-leitenden Materials bei der Betriebstemperatur der Anordnung elvhs während der benachbarte Teil des genannten Körpers die p-leitenden Eigenschaften beibehält, um den pn-Ubergang in dem Körper zu bilden.2. The method according to claim 1, characterized in that the surface layer on mercury cadmium telluride, which is produced at the operating temperature of the Arrangement has the properties of p-type material, and that the heating step causes the underlying area to have the properties of n-type material the operating temperature of the arrangement elvhs during the adjacent part of the said Body maintains the p-type properties to the pn junction in the body to build. 3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Oberflächenschicht auf Quecksilbercadmiumtellurid erzeugt wird, das bei der Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften n-leitenden Materials aufweist, und dass der Erhitzungsschritt bewirkt, dass das unterliegende Gebiet die n-leitenden Eigenschaften beibehält, dadurch dass das genannte Element von der genannten Oberflächenschicht eingeführt wird, während der benachbarte Teil des Körpers durch den Erhitzung schritt in Material mit bei der Betriebstemperatur der Anordnung p-leitenden Eigenschaften umgewandelt wird, wodurch der pn-Ubergang in dem Körper gebildet wird.3. The method according to claim 1, characterized in that the surface layer on mercury cadmium telluride, which is produced at the operating temperature of the Arrangement has the properties of n-type material, and that the heating step causes the underlying area to retain the n-type properties, in that said element is introduced from said surface layer becomes, while the adjacent part of the body by the heating step in material with converted p-type properties at the operating temperature of the arrangement whereby the pn junction is formed in the body. 4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass, bevor die Oberflächenschicht erzeugt wird, Quecksilber in mindestens eine Oberfläche des Körpers aus Quecksilbercadmiumtellurid eindiffundiert wird, die bei der Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften p-leitenden Materials aufweist, wodurch ein an die Oberfläche grenzender Teil des Körpers gebildet wird, der bei der Betriebstemperatur der Anordnung die Eigenschaften n-leitenden Materials aufweist; dass die Oberflächenschicht auf dem an die Oberfläche grenzenden Teil erzeugt wird, und dass der Erhitzungsschritt eine Aus diffusion von Quecksilber von einem freigelegten Teil des an die Oberfläche grenzenden Teils bewirkt, um den Teil in Material mit den p-leitenden Eigenschaften bei der Betriebstemperatur der Anordnung umzuwandeln.4. The method according to claim 3, characterized in that, before the surface layer is generated, mercury in at least one surface of the Body made of mercury cadmium telluride is diffused at the operating temperature the arrangement has the properties of p-conductive material, whereby a to the Surface bordering part of the body is formed, which is at the operating temperature the arrangement has the properties of n-conductive material; that the surface layer is generated on the part adjacent to the surface, and that the heating step a diffusion of mercury from an exposed part of the to the surface bordering part causes the part in material with the p-type properties convert at the operating temperature of the arrangement. 5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass während des Erhitzungsschrit tes die Oberflächenschicht örtlich auf einem Teil einer Hauptfläche des körpers vorhanden ist uiid das unterliegende Gebiet mit n-leitenden Eigenschaften, die durch die genannte Einführung des Elements herbeigeführt werden, nur örtlich an die Hauptfläche grenzt, so dass der gebildete pn-Ubergang sich bis zu der HauptfLäche erstreckt, derart, dass er wenigstens teilweise an der ltauptfläche endet.5. The method according to any one of the preceding claims, characterized in, that during the heating step the surface layer locally on a part One main surface of the body is present and the underlying area with n-type conductors Properties brought about by the aforementioned introduction of the element, only locally adjoins the main surface, so that the pn junction formed extends up to extends to the main surface such that it is at least partially on the main surface ends. 6 Verfallren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass während des Erhitzungsschrittes der Umfang der Oberflächenschicht auf einer Hauptfläche des Körpers derart ist, dass wenigstens der grösste Teil des gebildeten pn-Ubergangs sich nahezu parallel zu der Hauptfläche erstreckt und den photoempfindlichen pn-Ubergang eines photovoltaischen Infrarotdetektionselements der Detektoranordnung bildet.6 forfeiture according to one of the preceding claims, through this characterized in that during the heating step the periphery of the surface layer on a major surface of the body is such that at least most of the formed pn junction extends almost parallel to the main surface and the photosensitive pn junction of a photovoltaic infrared detection element the detector arrangement forms. 7. Verfahren nach Ansprüche 5 und 6, dadurch gekennzeichnet, dass während des Erhitzungsschrittes die Oberflächenschicht die Form einer Konfiguration gesonderter Teile auf der genannten Hauptfläche aufweist, so dass eine Konfiguration inselförmiger Gebiete mit den Eigenschaften n-leitenden Materials in einem gemeinsamen Körperteil mit den Eigenschaften p-leitenden Materials gebildet wird, während nach dem Erhitzungsschritt jedes n-leitende Gebiet mit einem leitenden Anschluss versehen und der p-leitende Körperteil mit mindestens einem gemeinsamen leitenden Anschluss versehen wird.7. The method according to claims 5 and 6, characterized in that during the heating step, the surface layer has the shape of a configuration has separate parts on said main surface, so that a configuration island-shaped areas with the properties of n-type material in a common Body part with the properties of p-type material is formed while after after the heating step, each n-type region is provided with a conductive connection and the p-type body part having at least one common conductive terminal is provided. 8. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet , dass während des Erhitzungsschrittes die Oberflächenschicht die Form einer Konfiguration gesonderter Teile auf der Hauptfläche aufweist, so dass eine Konfiguration an die Oberfläche grenzender inselförmiger n-leitenden Gebiete in einem gemeinsamen p-leitenden Körperteil gebildet wird, während nach dem Erhitzungsschritt jedes n-leitende Gebiet mit in einiger Entfernung voneinander liegenden ersten und zweiten leitenden Anschlüssen versehen ist, um ein photoleitendes Infrarotdetektorelement der Detektoranordnung zu bilden.8. The method according to claim 5, characterized in that during of the heating step, the surface layer takes the shape of a configuration more separately Has parts on the main surface, so that a configuration to the surface bordering island-shaped n-type areas in a common p-type body part is formed, while after the heating step, each n-type region with in some distance from each other first and second conductive terminals is provided to a photoconductive infrared detector element of the detector assembly to build. 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 5, 7 und 8, oder nach Anspruch 6, sofern abhängig vom Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass nach dem Erhitzungsschritt wenigstens ein Randteil der Oberflächenschicht, der sich in der Nähe der Stelle erstreckt, an der der pn-Ubergallz an der Hauptfläche endet, entfernt wird.9. The method according to any one of claims 5, 7 and 8, or according to claim 6, if dependent on claim 5, characterized in that after the heating step at least an edge part of the surface layer which is in the vicinity of the site extends, at which the pn-Ubergallz ends at the main surface, is removed. 10. Verfailren nach Anspruch 9, dadurch gelicnllzeicllnet, dass nach dem Erivitzungsscllritt die Oberflächenschicht entfernt wird, eine Atzbehandlung durchgeführt wird, um Material von der Hauptfläche zu entfernen, und wenigstens ein Teil der Hauptfläche, der von dem Endteil des pn-Ubergangs an der Fläche begrenzt wird, elektrolytisch anodisiert wird.10. Verfailren according to claim 9, characterized gelicnllzeicllnet that after the surface layer after the heating step is removed, a Etching treatment is performed to remove material from the major surface, and at least a part of the main surface that extends from the end part of the pn junction to the Area is limited, is electrolytically anodized. 11. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Umwandlungsbehandlung zum Erzeugen der Oberflächenschicht mit dem Element aus der elektrolytischen Anodisierung des Quecksilbercadmiumtellurids besteht, wonach der Körper bei einer Temperatur im Bereich von 125 C - 2700C während einer Periode im Bereich von 100 Sekunden bis zu 40 Stunden erhitzt wird, um den pn-Ubergang zu bilden.11. The method according to any one of the preceding claims, characterized in, that the conversion treatment for creating the surface layer with the element consists of the electrolytic anodization of the mercury cadmium telluride, after which the body at a temperature in the range of 125 C - 2700C for a period is heated in the range from 100 seconds up to 40 hours in order to achieve the pn junction form.
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