DE29700805U1 - Vorrichtung zur Herstellung und Prüfung von elektronischen Schaltkreisen - Google Patents

Vorrichtung zur Herstellung und Prüfung von elektronischen Schaltkreisen

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    • H05K7/14—Mounting supporting structure in casing or on frame or rack
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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    • G01R31/2818—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] using test structures on, or modifications of, the card under test, made for the purpose of testing, e.g. additional components or connectors
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