DE2909710A1

DE2909710A1 - Optical system for measuring angles, distances, or speeds - uses intersecting image formed from lines of photodiodes successively scanned for evaluation

Info

Publication number: DE2909710A1
Application number: DE19792909710
Authority: DE
Inventors: Ruediger Ing Grad Haas; Gerhard Dipl Ing Loeffler
Original assignee: OEM MESSTECHNIK GmbH
Current assignee: Omt Optoelektronische Messtechnik 8000 Muenc GmbH
Priority date: 1979-03-13
Filing date: 1979-03-13
Publication date: 1980-09-18
Also published as: DE2909710C3; DE2909710B2

Abstract

An optical system for measurement of angles, distances or speeds working on the collimation or autocollimation principle involves formation of a test image contg. two intersecting lines on a photodiode array contg. two intersecting lines of diodes. The diodes of each line are successively scanned and the results of both lines evaluated to determine the relative positions of the image and diode line intersections. The system enables a result to be evaluated irrespective of the relative thicknesses of the image and diode lines. The test image has a regular geometric figure centred at the assumed crossing point of the two image lines, which are terminated at the edges of the figure. For evaluation of diode output pulse series the crossing point is identified as the centre of one pulse train or the centre of the gap between two pulse trains.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein optisches System zum Messen von Winkeln, Strecken oder Geschwindigkeiten, das insbesondere nach dem Prinzip der Kollimation oder der Autokollimation arbeitet, bei dem ein aus zwei sich kreuzenden Linien bestehendes estbild auf eine Fotodiodenanordnung abgebildet wird, welche zwei sich kreuzende Diodenzeilen aufweist, und bei dem ferner die Dioden jeder einzelnen Diodenzeile nacheinander elektrischThe invention relates to an optical system for measuring Angles, distances or speeds, in particular according to the principle of Collimation or autocollimation works in which one of two intersecting Lines existing estbild is imaged on a photodiode array, which has two intersecting rows of diodes, and in which also the diodes of each individual Row of diodes one after the other electrically

abgefragt werden und das Abfrageergebnis beider Diodenzeilen zur Ermittlung der Ablage des Kreuzungspunktes der Testbildprojektion in bezug auf den Kreuzungspunkt der Diodenzeilen ausgewertet wird. Ein derartiges optisches System ist bekannt (Sirmendruckschrift "ProduktUbersicht Kameras und Meßsysteme" der Firma OEM-Meßtechnik sowie "C-Series Solid-State Line Scanners" der Firma Reticon Corp.«Sunnyvale, Californien,U.S.A.).are queried and the query result of both diode rows for determination the storage of the intersection point of the test image projection with respect to the intersection point of the diode rows is evaluated. Such an optical system is known (Sirmdruckschrift "Product overview cameras and measuring systems" from OEM-Messtechnik as well as "C-Series" Solid-State Line Scanners "from Reticon Corp." Sunnyvale, California, U.S.A.).

Bei optischen Meßsystemen dieser Art, die nach dem Prinzip der Kollimation oder der Autokollimation arbeiten, wlrd bekanntlich ein Testbild aus zwei sich kreuzenden Linien auf eine flächige Diodenanordnung abgebildet 1 wobei in dem Strahlengang der Testbildprojektion das Meßobjekt liegt bzw. eintritt. Die von dem Meßobjekt hervorgerufene Ablage der Testbildprojektion in bezug auf die Referenzlage der Diodenanordnung kann durch elektronisches Abfragen der Diodenanordnung ermittelt werden. Verwendet man als Diodenanordnung zwei sich kreuzende, insbesondererechtwinklig kreuzende Diodenzeilen, so tritt das Problem auf, daß die Testbildprojektion i.a. eine größere Breite besitzt als jede der Diodenzeilen. Dies führt in Fällen, in denen beispielsweise der X -Anteil einer rechtwinkligen Testbildprojektion auf der X-Zeile der Diodenanordnung ganz oder teilweise zu liegen kommt, dazu, daß eine Auswertung der X-Zeile nicht mehr möglich ist. Dieser Nachteil ist umso größer, je größer die Breite der Testbildprojektion im Vergleich zur Diodenzeilenbreite ist.In optical measuring systems of this type, which operate on the principle of collimation or autocollimation work, a test image would be known from two intersecting Lines shown on a flat diode array 1 wherein in the beam path the test image projection the test object lies or enters. The one from the test object Caused storage of the test image projection in relation to the reference position of the diode arrangement can be determined by electronically querying the diode arrangement. Used one as a diode arrangement two crossing, especially at right angles Rows of diodes, the problem arises that the test image projection i.a. a bigger one Width than each of the diode rows. This results in cases where, for example the X -part of a right-angled test image projection on the X-row of the diode array Whole or part of it comes to the fact that an evaluation of the X line is not more is possible. This disadvantage is greater, the greater the width of the test image projection compared to the diode line width.

Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein optisches Meßsystem der eingangs erwähnten Art dahingehend zu verbessern, daß in allen Anwendungsfällen unabhängig von dem Breitenverhältnis zwischen Testbildprojektion und Diodenzeilen eine Auswertung möglich ist.The object of the invention is to provide an optical measuring system of to improve the type mentioned at the beginning, that in all applications regardless of the width ratio between test image projection and diode rows an evaluation is possible.

Die erfindungsgemäße Lösung dieser Aufgabe besteht darin, daß das Testbild im Bereich des gedachten Kreuzungspunktes seiner beiden Linien eine geometrisch regelmäßige, mit ihrem Mittelpunkt im gedachten Kreuzungspunkt liegende Pigur aufweist, wobei innerhalb der geometrischen Figur die beiden Linien des Testbildes fehlen.The inventive solution to this problem is that the Test image in the area of the imaginary intersection of its two lines is a geometric has regular Pigur with its center at the imaginary crossing point, the two lines of the test image are missing within the geometric figure.

In bevorzugter Weise ist als geometrische Figur ein Quadrat vorgesehen, dessen Ecken auf den beiden, sich rechtwinklig kreuzenden Linien des Testbildes liegen. Bei der Auswertung des aus einem einzigen oder aus zwei getrennten elektrischen Impuls zügen bestehenden Abfrageergebnisses wird in besonders günstiger Weise die Mitte des einen Impulszuges bzw. die Mitte der Lücke zwischen den beiden Impulszügen elektronisch ermittelt. Diese Mitte wird als gedachter Kreuzungspunkt der beiden Linien der Testbildprojektion für die weitere, in bekannter Weise erfolgende Feststellung der Ablage der Testbildprojektion bezüglich des Referenz-Kreuzungspunktes der Diodenzeilen herangezogen.A square is preferably provided as the geometric figure, its corners on the two lines of the test image that cross at right angles lie. When evaluating the one or two separate electrical Impulse trains the existing query result is particularly beneficial Center of one pulse train or the center of the gap between the two pulse trains electronically determined. This middle becomes the imaginary intersection of the two Lines of the test image projection for further determination taking place in a known manner the storage of the test image projection with respect to the reference crossing point of the diode rows used.

Durch die erfindungsgemäße Verwendung einer geometrisch regelmäßigen Figur symmetrisch zu dem gedachten - weil weggelassenen -Kreuzungspunkt der beiden Linien des Testbildes wird unabhängig von dem Breitenverhkltnis zwischen Testbildprojektion und Diodenzeilen eine Auswertung der Ablage der Testbildprojektion in allen vorkommenden Anwendungsfällen ermöglicht. Auf diese Weise kann auf die gezonderte, teure Anfertigung besonders breiter Diodenzeilen für spezielle Anwendungsfälle verzichtet werden.By using a geometrically regular one according to the invention Figure symmetrical to the imaginary - because it has been omitted - intersection point of the two Lines of the test image become independent of the width ratio between test image projection and diode lines an evaluation of the storage of the test image projection in all occurring Use cases. This can lead to separate, expensive production particularly wide rows of diodes can be dispensed with for special applications.

Die Erfindung wird anhand von Ausführungsbeispielen in den Zeichnungen naher erläutert. Es zeigt: Fig. 1a eine bruchstückhafte Draufsicht auf die X-Zeile einer aus rechtwinklig gekreuzten Diodenzeilen bestehenden Fotodiodenanordnung mit einer darauf projizierten Abbildung einer ersten Ausführungsform eines erfindungsgemäß ausgebildeten Testbildes; Fig. ib ein zeitliches Impulsdiagramm, das beim elektrischein Abfragen der gemäß Figo la beleuchteten X-Zeile der Fotodiodenanordnung gewonnen wird; Fign. 2a bis 6a Draufsichten ähnlich wie gemäß Fig. 1a für drei weitere, grundsätzliche Ablagen der Testbildprojektion bezüglich der Fotodiodenanordn.ung; Fign. 2b bis 4b zeitliche Impulsdiagramme ähnlich wie gemäß Fig. ib für die Fälle gemäß Fig. 2a bis 4a; Fig. 5 eine Ansicht einer weiteren, bevorzugten Ausführungsform eines erfindungsgemäß ausgebildeten Testbildes, und Fig. 6 ein Blockschaltbild einer Anordnung zur Ermittlung des gedachten Kreuzungspunktes der Testbildausführung gemäß Fign. ia bis 4a anhand der Impulsdiagramme gemäß Fig. ib bis 4b.The invention is illustrated by means of exemplary embodiments in the drawings explained in more detail. It shows: FIG. 1a a fragmentary plan view of the X line a photodiode arrangement consisting of diodes crossed at right angles an image projected thereon of a first embodiment of one according to the invention trained test pattern; Fig. Ib is a timing diagram which is used in the electrical on Queries of the X-line of the photodiode array illuminated according to Figo la obtained will; Figs. 2a to 6a are plan views similar to those shown in FIG. 1a for three further, fundamental ones Storage of the test image projection with respect to the Fotodiodeanordn.ung; Figs. 2b to 4b timing pulse diagrams similar to FIG. 1b for the cases according to FIG. 2a to 4a; Fig. 5 is a view of a further preferred embodiment of a test pattern designed according to the invention, and FIG. 6 shows a block diagram of an arrangement to determine the imaginary point of intersection of the test image design according to FIGS. ia to 4a on the basis of the pulse diagrams according to FIG. 1b to 4b.

Die in Fig. la als Bruchstüclc veranschaulichte X-Zeile 1 einer aus zwei rechtwinklig gekreuzten Zeilen bestehenden XY-Fotodiodenanordnung wird in dem schraffiert eingezeichneten Bereich 2 von der Projektion 3 eines Testbildes 4 beleuchtet. Das in einer Meßebene 7 vorhandene Testbild weist zwei lichtdurchgängige Linien 5, 6 auf, welche rechtwinklig zueinander orientiert sind. Im Bereich des gedachten Kreuzungspunkt es der Linien 5, 6 befindet sich im Palle von Po;:. la eine als Quadrat ausgebildete geometrisch regelmäßige Figur 70, Jeren Mittelpunkt mit dem gedachten Kreuzungspunkt der Linien 5, 6 zusammenfällt. Innerhalb der Figur 70 fehlen die Linien 5, 6. Der übrige, in der Zeichnung weiß dargestellte Bereich der Ijcj3ebene 7 ist lichtundurchlässig.The X line 1 illustrated as a fragment in FIG. 1 a two lines crossed at right angles XY photodiode array is in the The hatched area 2 is illuminated by the projection 3 of a test image 4. The test image present in a measuring plane 7 has two light-continuous lines 5, 6, which are oriented at right angles to one another. In the realm of the imagined The intersection of lines 5, 6 is in the Palle of Po;:. la one as a square trained geometrically regular figure 70, Jeren center with the imaginary The intersection of lines 5, 6 coincides. These are missing within FIG Lines 5, 6. The remaining area of the plane shown in white in the drawing 7 is opaque.

Zur Erzeugung der Projektion 3 wird das Testbild 4 beispielsweise in die Brennpunktsebene eines bekannten Autokollimation-Meßsystems gebracht. jiit diesem Meßsystem können Winkelbewegungen an Meßobjekten vermessen werden. Ein Spiegel am Meßobjekt reflektiert das Testbild auf die Fotodioaenanordnung. Die dadurch hervorgerufene Ablage der Testbildprojektion bezüglich des Diodenzeilenkreuzes (dessen Lage die Referenzlage für die Meßung darstellt) ist proportional der zu messenden Winkelveränderung am Meßobjekt. Andere Meßgrößen sind Länge oder Geschwindigkeit eines Meßobjektes. Anstelle eines Autokollimations-Meßsystems kommen auch andere geeignete, bekannte Meßsysteme für die Anwendung des erfindungsgemäß ausgebildeten Testbildes in Betracht, z.B. ein Kollimations-Meßsystem bzw. Meßsysteme mit endlicher Abbildung. Des weiteren kann als Pig. 70 jede geometrisch regelmäßige Figur, z.B. Kreis, gleichseitiges Dreieck, regelmäßige Vielecke, verwendet werden. Die bevorzugte Ausführungsform der Figo 70 ist jedoch ein Quadrat, dessen Ecken auf den rechtwinklig gekreuzten Linien 5, 6 liegen (Fig. 6). Für die Erläuterung der Wirkungsweise des erfindungsgemäß ausgebildeten Testbildes ist die in Fig. la dargestellte Ausführungsforin des Testbildes 4 günstiger, bei dem jeweils zwei Seiten des Quadrates parallel zu einer zugeordneten Linie 5, 6 orientiert sind.To generate the projection 3, the test image 4 is used, for example brought into the focal plane of a known autocollimation measuring system. jiit This measuring system can measure angular movements on objects to be measured. A mirror the test image reflects on the photodiode array on the test object. The resulting Storage of the test image projection with regard to the diode line cross (the position of which the Represents the reference position for the measurement) is proportional to the change in angle to be measured on the test object. Other measured variables are the length or the speed of an object to be measured. Instead of an autocollimation measuring system, there are also other suitable, known ones Measurement systems for the application of the test pattern designed according to the invention into consideration, e.g. a collimation measuring system or measuring systems with finite mapping. Further can be called Pig. 70 every geometrically regular figure, e.g. circle, equilateral triangle, regular polygons, can be used. The preferred embodiment Figo 70, however, is a square, the corners of which are crossed at right angles Lines 5, 6 lie (Fig. 6). For the explanation of the mode of operation of the invention formed test image is the embodiment of the test image shown in Fig. la 4 cheaper, in which two sides of the square are assigned parallel to one another Line 5, 6 are oriented.

Infolge der Beleuchtung der X-Zeile 1 in dem schraffiert eingezeichneten Bereich gemäß Fig. la wird beim elektronischen Abfragen der X-Zeile 1 ein elektrischer Impulszug I gemäß Fig. ib erzeugt, welcher aus so vielen diskreten Einzelimpulsen besteht, wie einzelne Dioden der X-Zeile 1 beleuchtet sind, d.h., jede beleuchtete Diode der X-Zeile 1 liefert einen Impuls für den Impulszug 1. Das elektronische Abfragen der nicht dargestellten Y -Zeile der Fotodiodenanordnung erfolgt in gleicher Weise. Ein Ausführungsbeispiel einer geeigneten Abfrageelektronik ist in der eingangs erwähnten Firmendruckschrift der Firma Reticon Corp.As a result of the illumination of the X line 1 in the hatched area The area according to FIG. 1 a is an electrical one when the X line 1 is queried electronically Pulse train I according to Fig. Ib generated, which from so many discrete individual pulses consists of how individual diodes of X row 1 are illuminated, i.e., each illuminated Diode of X line 1 provides a pulse for pulse train 1. The electronic one The Y line, not shown, of the photodiode array is queried in the same way Way. An exemplary embodiment of suitable interrogation electronics is given in the introduction mentioned company publication of the company Reticon Corp.

beschrieben und bedarf daher an dieser Stelle keiner weiteren Erläuterung.and therefore does not require any further explanation at this point.

In gleicher Weise wie bei der in Fig. la dargestellten Ablage der Testbildprojektion erhält man bei den Ablagefällen gemäß Fig. 2a bis 4b einen einzigen (Fig. 2b) oder zwei getrennte Impulezüge I bzw. I1, I2 (Fig. Db, 4b) durch das elektronische Abfragen der X-Zeile 1. Wie man hieraus erkennt, ergibt sich bei dem erfindungsgemäß ausgebildeten Testbild auch dann ein definiertes, verwendbares Abfrageergebnis, wenn die Projektion der horizontalen Linie 6 des Testbildes 4 (=X-Anteil) mit der X-Zeile 1 ganz (Fig. 4a) oder teilweise zusammenfällt.In the same way as in the filing of the shown in Fig. La A single test image projection is obtained with the storage cases according to FIGS. 2a to 4b (Fig. 2b) or two separate pulse trains I or I1, I2 (Fig. Db, 4b) through the electronic Querying the X line 1. As can be seen from this, it follows from the invention trained test image then a defined, usable query result, if the projection of the horizontal line 6 of the test image 4 (= X component) with the X line 1 coincides entirely (Fig. 4a) or partially.

Da für die Auswertung des Abfrageergebnisses mittels einer üblichen Auswerteschaltung die Lage der Projektion des Kreuzungspunktes zwischen den Linien 6, 7 erforderlich ist, wird dieser im Falle des erfindungsgemäßen Testbildes 4 nur gedachte Kreuzungspunkt hinsichtlich der Lage seiner Projektion auf der Potodiodenanordnung aus dem einen (Fign. ib, 2b) oder den beiden getrennten (Fig, 3b, 4b) Impulszügen I bzw. I1, I2 elektronisch ermittelt. Hierzu wird im Falle des einen einzigen Impulses I gemäß Pign. 1b, 2b die Mitte des Impulses bestimmt und als fiktive Kreuzungspunktprojektion identifiziert. Dagegen wird im Falle der beiden getrennten Impulse 11, I2 gemäß Fign. 3b, 4b die Mitte der Lücke zwischen den Impulsen I1, I2 bestimmt. Eine elektronische Schaltung für diese Bestimmungsvorgänge ist schematisch in Fig. 6 beispielhaft angedeutet.As for the evaluation of the query result by means of a customary Evaluation circuit the position of the projection of the crossing point between the lines 6, 7 is required, this is only in the case of the test pattern 4 according to the invention imaginary crossing point with regard to the position of its projection on the potentiometer arrangement from one (Fig. 1b, 2b) or the two separate (Fig, 3b, 4b) pulse trains I or I1, I2 determined electronically. This is done in the case of a single pulse I according to Pign. 1b, 2b determines the center of the impulse and as a fictitious intersection point projection identified. In contrast, in the case of the two separate pulses 11, I2 according to Figs. 3b, 4b determines the middle of the gap between the pulses I1, I2. An electronic one The circuit for these determination processes is indicated schematically in FIG. 6 by way of example.

Wie aus Fig. 6 hervorgeht, umfaßt die Schaltung zwei Zähler 10, nachgeschaltet ist. Die Zwischenspeicher 11, 21 20, denen jeweils ein Zwischenspeicher ii bzw. 21/führen zu einem gemeinsamen Ausgabespeicher 30, welcher ebenso wie die Zähler 10, 20 von einer Steuerlogik 40 gesteuert wird. Der Steuerlogik 40 wird über eine Taktleitung ein Taktsignal zugeführt, welches mit dem für das Abfragen der X-Zeile 1 und der nicht dargestellten Y -Zeile verwendeten Takt signal identisch ist. Des weiteren werden der Steuerlogik 40 über eine Datenleitung 60 die beim Abfragen z.B. der X-Zeile 1 erzeugten Impulszüge zugeführt. Da bei Beginn einer Auswertung der Steuerlogik 40 noch nicht bekannt ist, ob das Abfrageergebnis aus einem einzigen Impulszug I (Fign. 1b, 2b) oder aus zwei getrennten Impulszügen I1, 12 (Fign. 3b, 4b) besteht, werden bei Auswertbeginn beide Zähler 1O, 20 gleichzeitig von der Steuerlogik 40 gestartet. Sobald die Steuerlogik 40 einen Dunkel-Hell-2bergang feststellt (entsL,re(llend der ansteigenden Flanke der Impulszüge gemäß Fign. ib bis 4b), halbiert die Steuerlogik 40 die Zählfrequenz des Zählers 10, während der Zähler 20 mit der bisherigen Zählfrequenz weiterzählt. Beim nächstfolgenden Hell-Dunkel-Übergang (entsprechend der (lbfallenden Flanke der Impulszüge gemäß Fign. 1b bis 4b) stoppt die Steuerlogik 40 den Zähler 10 und liest dessen Zählerstand in den Zwischenspeicher 11 aus. Ferner halbiert jetzt die itcuerlogik 40 die Zählfrequenz des Zählers 20. Falls kein weiterer Impulszug innerhalb eines vorbestimmten Intervalls auftritt, "weiß" die Steuerlogik 40, daß es sich um einen Fall gemäß Figl1. ib, 2b gehandelt hat. Sie überträgt dann den Inhalt des Zwischenspeichers 11 in den Ausgabespeicher 30.As can be seen from FIG. 6, the circuit comprises two counters 10 connected downstream is. The buffers 11, 21, 20, each of which has a buffer ii or 21 / lead to a common output memory 30, which like the counters 10, 20 is controlled by a control logic 40. The control logic 40 is via a Clock line is supplied with a clock signal, which is matched with that for interrogating the X line 1 and the clock signal used in the Y line, not shown, is identical. Of furthermore, the control logic 40 via a data line 60 receives the data when interrogating e.g. of the X line 1 generated pulse trains fed. Since at the beginning of a Evaluation of the control logic 40 is not yet known whether the query result from a single pulse train I (Figs. 1b, 2b) or two separate pulse trains I1, 12 (FIGS. 3b, 4b) exists, both counters 10, 20 are simultaneously at the start of the evaluation started by the control logic 40. As soon as the control logic 40 has a dark-light transition determines (entsL, re (llend the rising edge of the pulse trains according to Fig. ib to 4b), the control logic 40 halves the counting frequency of the counter 10, during the Counter 20 continues to count with the previous counting frequency. At the next light-dark transition (corresponding to the (falling edge of the pulse trains according to FIGS. 1b to 4b) stops the control logic 40 the counter 10 and reads its counter reading into the buffer 11 off. Furthermore, itcuer logic 40 now halves the counting frequency of counter 20. If no further pulse train occurs within a predetermined interval, The control logic 40 "knows" that it is a case according to FIG. ib, 2b traded Has. It then transfers the content of the buffer 11 to the output memory 30th

Infolge der erwähnten Halbierung der Zählfrequenz des Zählers 10 entspricht dieser Speicherinhalt der gesuchten Mitte des Impulszuges I gemäß Sinn. ib, 2b. Falls dagegen innerhalb des vorgegebenen Intervalls ein weiterer Impulszug auftritt, "weiß" die Steuerlogik 40, daß ein Fall gemäß Fign. 3b, 4b vorliegt. Bei Erkennen der ansteigenden Flanke dieses zweiten Impulszuges stoppt die Steuerlogik 40 den Zähler 20 und liest dessen Inhalt, welcher der gesuchten mitte der Lücke zwischen den beiden Impulszügen entspricht, in den Zwischenspeicher 21 aus. Am Ende der Zeilenauswertung überträgt die Steuerlogik 40 den Inhalt des Zwischenspeichers 21 in den-Ausgabespeicher 30.As a result of the aforementioned halving of the counting frequency of the counter 10 corresponds this memory content of the sought center of the pulse train I according to sense. ib, 2b. If, on the other hand, another train of pulses occurs within the specified interval, The control logic 40 "knows" that a case according to FIGS. 3b, 4b is present. Upon recognition The control logic 40 stops the rising edge of this second pulse train Counter 20 and reads its content, which of the searched center of the gap between corresponds to the two pulse trains, into the intermediate memory 21. At the end of Line evaluation The control logic 40 transfers the content of the buffer memory 21 to the output memory 30th

Claims

Optical system for measuring angles, distances or speeds An X optical system for measuring angles, distances or speeds, which works in particular according to the principle of collimation or autocollimation, in which a test image consisting of two crossing lines on a photodiode array is shown, which has two intersecting rows of diodes, and furthermore the diodes of each individual diode row can be electrically interrogated one after the other and the query result of both rows of diodes to determine the position of the crossing point the test image projection is evaluated in relation to the intersection of the diode rows will be, d u r c h e. no indication that the test image (4) in the area of the imaginary intersection of its two lines (5; 6) one geometrically regular, with their center at the imaginary intersection point Figure (70), the two lines of the Test image is missing.

2. Optical system according to claims 1, d a d u r c h g e -k e n n z e -i c h n e t that a square is provided as figure (70), the corners of which are on the two lines of the test image that cross at right angles.

3. Optical system according to claim 1 or 2, d a d u r c h g e k e n n z-e 1 c h n -e t that when evaluating the one or two separate, electrical impulse pulls the existing query result in the middle of the a pulse train or the middle of the gap between the two pulse trains as imaginary The intersection point of the lines of the test image projection is identified.