DE2904984B2 - Measuring arrangement for determining the spectral sensitivity of photodetectors - Google Patents

Measuring arrangement for determining the spectral sensitivity of photodetectors

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Description

Die relative spektrale Empfindlichkeit S(X)rci ist definiert als das Verhältnis der absoluten spektralen Empfindlichkeit S(A) bei der Wellenlänge A zu der absoluten spektralen Empfindlichkeit S(A(1) bei einer Bezugswellenlänge Ao:The relative spectral sensitivity S (X) rc i is defined as the ratio of the absolute spectral sensitivity S (A) at wavelength A to the absolute spectral sensitivity S (A (1 ) at a reference wavelength Ao:

S(A)n, =S (A) n , =

SU)SU)

Es wird meistens S(A0) = S(X)n^x gewählt, d. h. Ao ist dann die Wellenlänge, bei der die absolute spektrale Empfindlichkeit maximal ist. S(X)n-I wird als dimensionslose Zahl oder in Prozenten angegeben. Usually S (A 0 ) = S (X) n ^ x is chosen, ie Ao is then the wavelength at which the absolute spectral sensitivity is maximum. S (X) n -I is given as a dimensionless number or as a percentage.

Bei der praktischen Anwendung von Photodetektoren in der lichtmeßtechnischen Praxis wird meistens eine maximale spektrale Empfindlichkeit im interessierenden Strahlungsbereich gefordert. Zum eindeutigen Vergleich der spektralen Empfindlichkeiten verschiedener Photodetektoren müssen deshalb unbedingt die absoluten spektralen Empfindlichkeitskurven bekannt sein.In the practical application of photodetectors in light measurement practice, mostly a maximum spectral sensitivity in the radiation range of interest is required. To be clear Comparison of the spectral sensitivities of different photodetectors must therefore necessarily be the absolute spectral sensitivity curves must be known.

Die Erfindung betrifft eine Meßanordnung zum Bestimmen der spektralen Empfindlichkeit von Photodetektoren nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1. Bei einer bekannten Meßanordnung für diesen Zweck wird gemäß der Fig. la ein monochromatischer Lichtstrahl am Ausgang eines Monochromators 1 zuerst auf die aktive Fläche eines Photodetektors 3 mit bekannten spektralen Empfindlichkeitseigenschaften abgebildet, danach auf die Fläche des zu messenden Photodetektors 4. Da dabei die Lichtausbeute der Lichtquelle des Monochromators und auch andere Faktoren zeitabhängig sind, zeigt dieses Nacheinanderverfahren unter Umständen große Meßfehler. Auch aus der Tatsache, daß der monochromatische Lichtstrahl ständig mit seiner gesamten fläche auf die aktive Fläche des Photodetektors fallen muß, können MeßfehlerThe invention relates to a measuring arrangement for determining the spectral sensitivity of photodetectors according to the preamble of claim 1. In a known measuring arrangement for this purpose a monochromatic light beam at the output of a monochromator 1 is first according to FIG onto the active surface of a photodetector 3 with known spectral sensitivity properties mapped, then on the surface of the photodetector to be measured 4. Since the light output of the This sequential process shows that the light source of the monochromator and also other factors are time-dependent possibly large measurement errors. Also from the fact that the monochromatic light beam constantly with its entire surface on the active surface of the photodetector must fall, measurement errors can

entstehen, insbesondere dann, wenn diese Flächen sich erheblich in ihrer Größe unterscheiden. Da die Intensitätsverteilung im Strahl 2 nicht homogen ist, ist folglich die Photodetektorfläche auch nicht gleichmäßig beleuchtet Außerdem ist dieses Verfahren zeitaufwendig, da die Photodetektoren nacheinander untersucht werden müssen.arise, especially when these surfaces are differ considerably in size. Since the intensity distribution in beam 2 is not homogeneous, is consequently the photodetector surface is not evenly illuminated. In addition, this process is time-consuming, since the photodetectors have to be examined one after the other.

Eine andere bekannte Meßanordnung (Zweistrahlmeßmethode) zeigt Fig. Ib. Hier wird der quasimonochromatische Strahl 2 durch einen Strahlungsteiter 5 halbiert Die zwei Teilstrahlen 2a und 2b beleuchten jeweils den Standarddetektor 3 und den zu messenden Photodetektor 4. Da aber auch hier die Strahlfokussierung auf die aktiven Photodetektorflächen, insbesondere bei Detektorwechsel schwierig ist, bzw. nur ein Photodetektor mit dem Standarddetektor gleichzeitig gemessen werden kann, gelten die vorher genannten Nachteile auch hier.Another known measuring arrangement (two-beam measuring method) is shown in Fig. Ib. Here the quasi-monochromatic beam 2 is halved by a radiation beam 5. The two partial beams 2a and 2b each illuminate the standard detector 3 and the photodetector 4 to be measured Photodetector can be measured simultaneously with the standard detector, the disadvantages mentioned above also apply here.

Die Erfindung geht aus von der zuletzt angegebenen Meßanordnung. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Meßanordnung der im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 genannten Art anzugeben, welche die gleichzeitige Bestimmung der spektralen Empfindlichkeit mehrerer Photodetektoren in Bezug auf einen Standard-Photodetektor erlaubt, wobei all aktiven Photodetektorflächen vollständig und gleichmäßig beleuchtet werden.The invention is based on the last-mentioned measuring arrangement. The invention has the task based on specifying a measuring arrangement of the type mentioned in the preamble of claim 1, which the simultaneous determination of the spectral sensitivity of several photodetectors with respect to one Standard photodetector allowed, with all active photodetector areas completely and evenly be illuminated.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß d.irch die kennzeichnenden Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen --!gegeben.According to the invention, this object is achieved by the characterizing features of claim 1 solved. Advantageous further developments of the invention are given in the subclaims.

Durch die Anwendung einer photometrischen Meßkugel als Lichtverteiler, ais optischen Integrator und als Instrument zur Erzeugung der diffusen Beleuchtung wird das bei den bekannten Meßanordnungen schwierige Problem der exakten Abbildung des Meßstrahles auf die aktiven Flächen aller Photodetektoren mit einfachen Mitteln gelöst.By using a photometric measuring ball as a light distributor, as an optical integrator and as an instrument for generating diffuse lighting the problem of the exact imaging of the measuring beam, which is difficult with the known measuring arrangements, arises the active areas of all photodetectors solved with simple means.

Eine größere Fläche mittels einer photometrischen Meßkugel, die einen quasi ideal diffus reflektierenden weißen innenbelag besitzt, gleichmäßig zu beleuchten, ist bereits aus »Grimsehl's Lehrbuch der Physik«, Band II,Teil 1,8. Auflage (1938), Seite 602 bis 604 bekannt. Die dort beschriebene Meßanordnung benutzt eine Ulbricht'sche Kugel und dient zur Ermittlung der Gesamtlichtausbeute einer Lichtquelle. Im folgenden ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der zeichnungen beschrieben. Es zeigenA larger area by means of a photometric measuring ball, which is a quasi ideal diffusely reflective white interior covering has to illuminate evenly, is already from "Grimsehl's Textbook of Physics", volume II, part 1.8. Edition (1938), pages 602 to 604 known. the The measuring arrangement described there uses an integrating sphere and is used to determine the Total luminous efficacy of a light source. In the following an embodiment of the invention is based on the drawings described. Show it

Fig. la und Ib bekannte, in der BeschreiLjungseinleitung erwähnte Meßanordnungen,Fig. La and Ib known in the introduction to the description mentioned measuring arrangements,

Fig. Ic eine erfindungsgemäße Meßanordnung,Fig. Ic a measuring arrangement according to the invention,

Fig. 2 die photometrische Meßkugel gemäß der Fig. Ic in größerem Maßstab mit den Verstarkern und der Dividiereinrichtung,2 shows the photometric measuring ball according to FIG. 1c on a larger scale with the amplifiers and the dividing device,

Fig.3 ein Diagramm mit Kurven der -,pektralen Empfindlichkeit verschiedener Photodioden.3 shows a diagram with curves of the -, spectral Sensitivity of different photodiodes.

Bei der Meßanordnung gemäß der Fig. Ic wird der aus dem Monochromator 1 austretende Lichtstrahl 2 durch einen Chopper 6 pulsmoduliert. Dadurch wird die Messung unempfindlich gegen Störlicht. Der modulierte Lichtstrahl wird mittels einer Fokussieroptik 7 in einen flexiblen Lichtleiter eingeführt, der mit seinem anderen Ende an einer Photometerkugel 9 befestigt ist. Das Licht fällt durch eine Eintrittsöffnung 12 in die Kugel ein und beleuchtet die Kugelwand im Wandbereich 13. Die Kugel ist an ihrer Innenwand mit einem weißen, aselektiv diffus reflektierenden Belag 10 beschichtet. Bei ideal diffuser Reflexion herrscht dann an beliebige!In the measuring arrangement according to FIG The light beam 2 emerging from the monochromator 1 is pulse-modulated by a chopper 6. This will make the Measurement insensitive to interfering light. The modulated light beam is by means of a focusing lens 7 in a flexible light guide introduced, which is attached at its other end to a photometer ball 9. The light falls through an inlet opening 12 into the ball and illuminates the ball wall in the wall area 13. Die The ball is coated on its inner wall with a white, aselectively diffuse reflective coating 10. at ideally diffuse reflection then prevails at any!

Stelle der Kugelwand (mit Ausnahme des bestrahlten Kugelwandbereiches 13), also auch an weiteren Wandöffnungen 11 die gleiche Bestrahlungsstärke, wenn diese Öffnungen gleich groß sind. Die Anzahl der ϊ Wandöffnungen 11 kann der jeweiligen Anwendung angepaßt sein und z. B. zwischen 2 und 100 betragen. An eine der Wandöffnungen 11 wird der Standarddetektor befestigt an den weiteren Wandöffnungen 11 die jeweiligen, zu untersuchenden Photodttektoren (Prüf-Hi linge), die bezüglich ihrer Art (Ge-, Si-Dioden, Photomultiplier usw.) und Größe ihrer aktiven Fläche unterschiedlich sein können. Die Größe der Wandöffnungen 11 kann auch den jeweiligen Flächen des Photodetektors angepaßt sein. Auf Grund der Biegsam- -, keit des Lichtleiters 8 ist die photometrische Meßkugel 9 beweglich, was das Anbringen der Photodetektoren erleichtert.Place of the spherical wall (with the exception of the irradiated spherical wall area 13), i.e. also at other Wall openings 11 have the same irradiance if these openings are of the same size. The number of ϊ Wall openings 11 can be adapted to the respective application and z. B. be between 2 and 100. At One of the wall openings 11 is attached to the standard detector on the other wall openings 11 respective photodetectors to be examined (test Hi linge), which in terms of their type (Ge, Si diodes, photomultiplier, etc.) and size of their active area can be different. The size of the wall openings 11 can also correspond to the respective areas of the Be adapted to the photodetector. Due to the flexibility -, speed of the light guide 8 is the photometric measuring ball 9 movable, which makes it easier to attach the photodetectors.

Die in der F i g. 2 dargestellte photometrische Meßkugel weist 6 Wandöffnungen mit angesetzten >(i Photodetektoren 3 und 4.1 bis 4.5 auf. Der Ausgang des .Standarddetektors 3 ist unmittelbar mit einem Verstärker 19 verbunden.The in the F i g. 2 illustrated photometric measuring ball has 6 wall openings with attached > (i photodetectors 3 and 4.1 to 4.5 on. The output of the Standard detector 3 is directly connected to an amplifier 19.

Die Ausgänge der Prüflinge 4.1 bis 4.5 können überThe outputs of the test items 4.1 to 4.5 can be via

einen Schalter 18 wahlweise bzw. nacheinander mita switch 18 optionally or one after the other with

.·-, einem weiteren Verstärker 20 verbunden werden. iJei den Verstärkern 19 und 20 handelt es sich um selektive Verstärker, die nur die mit Chopper 6 modulierten Photodetektorsignale verstärken. Das dazu benötigte Referenzsignal 22 wird den Verstärkern vom Chopper 6. · -, a further amplifier 20 can be connected. iJei the amplifiers 19 and 20 are selective amplifiers that only modulate those with chopper 6 Amplify photodetector signals. The reference signal 22 required for this is sent to the amplifiers from the chopper 6

in geliefert. Ein etwa durch irgendeine Öffnung in die Meßkugel 9 fallendes Fremdlicht kann infolge dieser Maßnahme die Meßergebnisse nicht verfälschen.delivered in. One through some opening in the External light falling from the measuring ball 9 cannot falsify the measurement results as a result of this measure.

In einer einfacheren und billigeren Anordnung kann auf die Lichtmodulation verzichtet werden. Dann ι-, entfällt der Chopper 6. Die Verstärker 19 und 20 werden als Gleichspannungsverstärker ausgeführt. Es muß jedoch darauf geachtet werden, daß nun kein Fremdbzw. Störlicht in die Meßkugel 9 gelangen kann. Auch auf den biegsamen Lichtleiter kann zur Vereinfachung id verzichtet werden. Der Lichtstrahl 2 wird dann auf fest vorgegebenen Wegen in die Meßkugel 9 geleitet. Dann ist aber dieser starr mit dem Monochromator verbunden, was das Anbringen bzw. ein schnelles Wechsein von Photodetektoren erschweren kann.
π Das Verhältnis V, (A) beider Signale am Ausgang der Verstärker 19 und 20 wird in einer Dividiereinheit 21 gebildet und analog oder digital angezeigt:In a simpler and cheaper arrangement, the light modulation can be dispensed with. Then ι-, the chopper 6 is omitted. The amplifiers 19 and 20 are designed as DC voltage amplifiers. However, care must be taken to ensure that no foreign or Stray light can get into the measuring ball 9. The flexible light guide can also be dispensed with for the sake of simplicity. The light beam 2 is then guided into the measuring ball 9 on predetermined paths. But then this is rigidly connected to the monochromator, which can make it difficult to attach or quickly change photodetectors.
π The ratio V, (A) of the two signals at the output of the amplifiers 19 and 20 is formed in a dividing unit 21 and displayed in analog or digital form:

S(A)x S (A) x

'111 (O.V/iiiii'nii/ S(X)siamla,,l '111 (OV / iiiii'nii / S (X) si am la ,, l

...η; it... Anzahl der gemessenen
I'hotodetektoren. ... η; it ... number of measured
I'hotodetectors.

Da S(k)sundard als bekannt vorausgesetzt ist, ist damit die spektrale Empfindlichkeit der zu messenden Photodetektoren durch folgende Umrechnung bestimmt: Since S (k) sundard is assumed to be known, the spectral sensitivity of the photodetectors to be measured is determined by the following conversion:

S(A), = VM) S (A), = VM)

«.ileichung (4) gilt nur dann, wenn alle Wandöffnungen 11 einen kleineren Durchmesser als die aktiven Flachen der photodetektoren haben, b/w. wenn alle aktiven l'lüchtMi gleich groß siiul (.J1 - .j,).The calibration (4) only applies if all wall openings 11 have a smaller diameter than the active areas of the photodetectors, b / w. if all active l'lüchtMi siiul the same size (.J 1 - .j,).

Wenn diese Randbedingungen nicht erfüllt sind, gilt statt Gl. (4) die Gl. (5):If these boundary conditions are not met, instead of Eq. (4) Eq. (5):

SU), =SU), =

β,β,

(5)(5)

a, ... aktive Fläche des Standarddetektors,
a, ... aktive Flächen der gemessenen Photodetektoren. a, ... active area of the standard detector,
a, ... active areas of the measured photodetectors.

Diese Ergebnisse können entweder direkt abgelesen bzw. gedruckt an einem X- V-Schreiber in Abhängigkeit von λ dargestellt werden oder einer Recheneinheit übergeben werden.These results can either be read off directly or displayed on an X- V recorder as a function of λ , or they can be transferred to an arithmetic unit.

Die Wellenlänge A, an der S(X)x gemessen wird, kann durch den Monochromator so eingestelil werden, daß der gesamte Empfindlichkeitsbereich des Detektors in 4/l-Abständen (z.B. Δλ —10 nm) untersucht werdenThe wavelength A, at which S (X) x is measured, can be set by the monochromator so that the entire sensitivity range of the detector can be examined at 4/1 intervals (eg Δλ - 10 nm)

kann. Bei Si-Photodioden erstreckt sich dieser Bereich von 290 ηm bis ilOOnm, bei Ge-Photodioden von 300 ηm bis 1800nm, bei Se-Photodetektoren zwischen 300 nm und 700 nm. In der F i g. 3 sind Kurven der spektralen Empfindlichkeit für verschiedene Arten von Photodioden beispielsweise dargestellt.can. In the case of Si photodiodes, this area extends from 290 ηm to ilOOnm, with Ge photodiodes from 300 ηm to 1800nm, with Se photodetectors between 300 nm and 700 nm. In FIG. 3 are spectral sensitivity curves for different types of For example, photodiodes are shown.

Es muß darauf hingewiesen werden, daß die Gesamtfläche aller Meßkugelöffnungen etwa 4% der Meßkugelinnenfläche nicht überschreiten soll, damit die optische Integration gewährleistet bleibt. Bei einer Meßkugel mit einem Innendurchmesser von D=80 mm bedeutet dies, daß maximal 10 öffnungen mit je einem Durchmesser von 10 mm angebracht werden dürfen. Bei einem Kugeldurchmesser von 250 mm können etwa 100 öffnungen der gleichen Größe angebracht werden, d. h. in diesem Falle können z. B. etwa 100 Photodetektoren mit je einer aktiven Fläche von 0,78 cm2 gleichzeitig durchgemessen werden.It must be pointed out that the total area of all measuring ball openings should not exceed about 4% of the inner area of the measuring ball, so that the optical integration is guaranteed. In the case of a measuring ball with an inside diameter of D = 80 mm, this means that a maximum of 10 openings, each with a diameter of 10 mm, may be made. With a ball diameter of 250 mm, about 100 openings of the same size can be made. B. about 100 photodetectors with an active area of 0.78 cm 2 each can be measured simultaneously.

Hierzu 3 Blatt ZcichnunucnFor this purpose 3 sheets of drawing

Claims (6)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Meßanordnung zum Bestimmen der spektralen Empfindlichkeit von Photodetektoren, bestehend aus einer Lichtquelle zur Erzeugung eines quasimonochromatischen Lichtstrahls einstellbarer Wellenlänge und aus einem Lichtverteiler, der das quasimonochromatische Licht gleichmäßig und diffus auf mindestens einen der zu untersuchenden Photodetektoren (Prüflinge) und auf einen Photode- ι ο tektor mit bekannter spektraler Empfindlichkeit (Standarddetektor) zu leiten gestattet, gekennzeichnet durch die Kombination der folgenden Merkmale:1. Measuring arrangement for determining the spectral sensitivity of photodetectors, consisting from a light source to generate a quasi-monochromatic light beam of adjustable wavelength and from a light distributor that distributes the quasi-monochromatic light evenly and diffuse on at least one of the photodetectors to be examined (test items) and on a photodetector ι ο detector with known spectral sensitivity (standard detector), characterized by the combination of the following Characteristics: a) der Lichtverteiler ist eine an sich bekannte '' strahlungsintegrierende, photometrische Meßkuge! (9) mit einem quasiideal diffus reflektierenden weißen Innenbelag,a) the light distributor is known per se '' Radiation-integrating, photometric measuring sphere! (9) with a quasi-ideal diffuse reflective white interior covering, b) die Meßkugel (9) weist eine Eintrittsöffnung (12) auf, durch die der quasimonochromatische "' Lichtstrahl (2) von der außerhalb der Meßkugel angeordneten Lichtquelle (1) auf einen der Eintrittsöffnung (12) gegenüberliegenden Innenwandbereich (13) gerichtet ist,b) the measuring ball (9) has an inlet opening (12) through which the quasi-monochromatic "' Light beam (2) from the light source (1) arranged outside the measuring sphere onto one of the Inlet opening (12) opposite inner wall region (13) is directed, c) symmetrisch zu der Eintrittsöffnung (12), "' vorzugsweise in ihrer Mittelebene, weist die Meßkugel (9) weitere, im allgemeinen unterschiedlich große Wandöffnungen (11) auf, an denen die Prüflinge (4.1 bis 4.5) sowie der Standarddetektor (3) angebracht werden können.c) symmetrically to the inlet opening (12), "'preferably in its central plane, the Measuring ball (9) further wall openings (11), generally of different sizes, on to which the test items (4.1 to 4.5) and the standard detector (3) can be attached. 2. Meßanordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Abdecken von für Prüflinge (4.1 bis 4.5) zweitweise nicht benötigten Wandöffnungen (11) der Meßkugel (9) diffus π reflektierende, weiße Scheiben vorgesehen sind. Ebenfalls sind derartige weiße, annähernd idealdiffus reflektierende Scheibenringe zur Verkleinerung der Wandöffnungen (11) und damit zur Anpassung der Fläche dieser Wandöffnungen auf die aktive Fläche der Photodetektoren (3,4.1 bis 4.5) vorgesehen.2. Measuring arrangement according to claim 1, characterized in that for covering for Test specimens (4.1 to 4.5) wall openings (11) of the measuring ball (9) that are not required for a second time are diffuse π reflective white panes are provided. Such white, approximately ideally diffuse are likewise reflective disc rings to reduce the wall openings (11) and thus to adapt the Area of these wall openings provided on the active area of the photodetectors (3.4.1 to 4.5). 3. Meßanordnung nach Anspruch I und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Standarddetektor (3) unmittelbar mit einem zugehörigen Verstärker (19) verbunden ist, während die Prüflinge (4.1 bis 4.5) .\-, über einen Schrittschalter (18) wahlweise an einen anderen Verstärker (20) anschließbar sind.3. Measuring arrangement according to claim I and 2, characterized in that the standard detector (3) is directly connected to an associated amplifier (19), while the test objects (4.1 to 4.5) . \ -, via a step switch (18) optionally to one other amplifier (20) can be connected. 4. Meßanordnung nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zur Pulsmodulation des quasimonochromatischen Lichtstrahls (2) ein Chopper (6) ™ vorgesehen ist und daß die Verstärker (19, 20) selektive Verstärker sind, die nur die mit der Frequenz des Choppers (6) modulierten Ausgangssignale der Photodetektoren (3 bzw. 4.1 bis 4.5) verstärken. v-, 4. Measuring arrangement according to claim 1 to 3, characterized in that a chopper (6) ™ is provided for pulse modulation of the quasi-monochromatic light beam (2) and that the amplifiers (19, 20) are selective amplifiers which only operate with the frequency of the chopper (6) amplify the modulated output signals of the photodetectors (3 or 4.1 to 4.5). v-, 5. Meßanordnung nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge der Verstärker (19 und 20) zu einer Dividiereinheit (21) geführt sind, in der der Quotient der beiden Ausgangssignale gebildet und analog oder digital angezeigt bzw. ho aufgezeichnet wird.5. Measuring arrangement according to claim 1 to 4, characterized in that the outputs of the amplifier (19 and 20) are led to a dividing unit (21) in which the quotient of the two output signals formed and displayed or recorded in analog or digital form. 6. Meßanordnung nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der quasimonochromatische Lichtstrahl (2) über einen biegsamen Lichtleiter (8) zu der Eingangsöffnung (12) der Meßkugel (9) hi gelangt.6. Measuring arrangement according to claim 1 to 5, characterized in that the quasi-monochromatic Light beam (2) via a flexible light guide (8) to the inlet opening (12) of the measuring ball (9) hi got. Photodetektoren sind photoelektronische Bauelemente. Nach DIN-Norm 44020, Blatt 1, ist ein photoelektronisches Bauelement ein elektronisches Bauelement, bei dem sich elektrische Größen bei der Bestrahlung mit Photonen ändern. Die üblichen Photodetektoren sind in dem genannten Normblutt aufgeführt und kurz erläutert.Photo detectors are photoelectronic components. According to DIN standard 44020, sheet 1, a photoelectronic component an electronic component, in which electrical quantities are at the Change exposure to photons. The usual photodetectors are in the norm blood mentioned listed and briefly explained. Eine der wichtigsten Größen jedes Photodetektors ist die Empfindlichkeit Sie ist definiert als der Quotient aus der Ausgangsgröße (z. B. der Photostrom) und der Eingangsgröße (z. B. die Strahlungsleitung). In diesem Fall wird die Empfindlichkeit in A/W ausgedrückt Die Angabe einer Empfindlichkeit ist jedoch nur dann eindeutig, wenn die Wellenlänge der Strahlung, bei der die Empfindlichkeit gemessen worden ist, mit angegeben wird.One of the most important variables of every photodetector is its sensitivity. It is defined as the quotient of the output variable (e.g. the photocurrent) and the input variable (e.g. the radiation conduction). In this case the sensitivity is expressed in A / W. However, the indication of a sensitivity is only unambiguous if the wavelength of the radiation at which the sensitivity was measured is also given. Die Abhängigkeit der Empfindlichkeit eines Photodetektors von der Wellenlänge wird spektrale Empfindlichkeit genannt. Es wird zwischen absoluter und relativer spektraler Empfindlichkeit unterschieden. Die absolute spektrale Empfindlichkeit S (A) ist nach DIN-Norm 44020, Blatt 1, bei der Wellenlänge A im infinitesimalen Wellenlängen Wellenlängenbereich dA um A definiert als Quotient aus der Ausgangsgröße (Photcstrom Iph (A)) und der strahlungsphysikalischen Eingangsgröße (Strahlungsleistung bzw. Strahlungsfluß Φ (A)): The dependence of the sensitivity of a photodetector on the wavelength is called spectral sensitivity. A distinction is made between absolute and relative spectral sensitivity. The absolute spectral sensitivity S (A) is defined according to DIN standard 44020, sheet 1, at wavelength A in the infinitesimal wavelength range dA around A as the quotient of the output variable (photocurrent Iph (A)) and the physical radiation input variable (radiation power or Radiation flux Φ (A)):
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