DE2855914A1

DE2855914A1 - Simultaneous sorting and measuring installation - is fitted with measuring head capable of holding and measuring large number of elements and with intermediate store and distributor unit

Info

Publication number: DE2855914A1
Application number: DE19782855914
Authority: DE
Inventors: Alfons Ing Grad Schmitt; Rudolf Ing Grad Wienand
Original assignee: Licentia Patent Verwaltungs GmbH
Current assignee: Conti Temic Microelectronic GmbH
Priority date: 1978-12-23
Filing date: 1978-12-23
Publication date: 1980-06-26
Also published as: DE2855914C2

Abstract

The installation is for the simultaneous measuring and sorting of a number of similar construction elements fitted with a measuring head suitable for the simultaneous reception and measuring of a large number of construction elements (12). The installation includes a mechanical intermediate store (9) which receives the measured construction elements sorted from the measuring head and there is a distributor (10) located below the intermediate store and adjustable relative to it. The distributor is subdivided into compartments (T1-T10) arranged in such a way that only one compartment is located below the intermediate store at any one time.

Description

Vorrichtung zum gleichzeitigen Messen Device for simultaneous measurement

und Sortieren einer Vielzahl gleichartiger Bauelemente Es sind bereits die verschiedenartigsten Me3- und Sortierautomaten für Einzelbauelemente, beispielsweise Dioden, Transistoren oder integrierte Schaltkreise, bekannt. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum gleichzeitigen Messen und Sortieren einer Vielzahl gleichartiger Bauelemente anzugeben. and sorting a large number of similar components There are already the most diverse measuring and sorting machines for individual components, for example Diodes, transistors or integrated circuits are known. The invention lies the object of a device for the simultaneous measurement and sorting of a Specify a large number of similar components.

Dadurch soll eine sehr kleine Meß- und Sortierzeit erzielt werden. Die Vorrichtung soll sich insbesondere zum Messen und Sortieren von Halbleiterbauelementen eignen, die mit Hilfe eines Nontaktierungsstrei~ens gefertigt werden und erst nach dem Eingießen in ein ;s?ststofgehäuse vom Kontaktierungsstreifen getrennt werden.This is intended to achieve a very short measuring and sorting time. The device is intended in particular for measuring and sorting semiconductor components suitable, which are manufactured with the help of a contacting strip and only after be separated from the contacting strip after being poured into a solid housing.

Die gestellte Aufgabe wird erfindungsgemMB dadurch gelöst, daß ein Meßkopf vorgesehen ist; der zur gleichzeitigen Aufnae und Messung einer Vielzahl von Bauelementen geeignet ist, daß ein mechanischer Zwischenspeicher vorgesehen ist, der nach der Messung die gemessenen Bauelemente geordnet aus dem Meßkopf aufnimmt und daß ein relativ gegenüber dem Zwischenspeicher verschiebbarer, unter dem Zwischenspeicher angeordneter Verteiler vorgesehen ist, der in Fächer eingeteilt ist, die so angeordnet sind, daß jeweils nur ein Fach unter dem Zwischenspeicher liegt.The object set is achieved according to the invention in that a Measuring head is provided; for simultaneous recording and measurement of a large number of of components is suitable that a mechanical buffer is provided is that, after the measurement, picks up the measured components in an orderly manner from the measuring head and that a relative to the intermediate storage displaceable, under the intermediate storage arranged manifold is provided, which is divided into compartments, which are so arranged are that there is only one subject under the buffer.

Diese Vorrichtung ist besonders zur Messung und Sortierung von gleichartigen Halbleiterbauelementen geeignet, die in einer Vielzahl über den allen Bauelementen gemeinsamen Kontaktierungsstreifen miteinander mechanisch verbunden sind und die im Meßkopf entweder vor oder nach der Messung voneinander getrennt werden, so da3 sie vereinzelt 5r geordnet in den Zwischenspeicher gelangen können. Bei einer bevorzugten Ausfünrungsform wird diese Meßvorrichtung zur Messung und Sortierung von Lumineszenzhalbleiterbauelemenen verwendet. Dabei besteht die Möglichkeit, vo- der Messung nur eine Zuleitung jedes Bauelementes vom Kontaktierungsstreifen zu treren, dann die Messung du--hzuführen und erst danach die zweite Zulefr-g jedes einzelnen Bauelementes vom Kontaktieangsstreiren zu lösen.This device is particularly suitable for measuring and sorting similar Semiconductor components suitable in a variety of over all components common contact strips are mechanically connected to one another and the are separated from each other in the measuring head either before or after the measurement, so that 3 they can get into the buffer store in an orderly fashion. With a preferred This measuring device is an embodiment for measuring and sorting luminescence semiconductor components used. There is the possibility of only one feed line each before the measurement Separate the component from the contact strip, then carry out the measurement and only then the second supply of each individual component from the contact to solve.

Um alle Bauelemente eines Kontaktierungsstreifens im Meßkopf gleichzeitig messen zu können, muß dieser MeB-kopf ein langgestrecktes Aufnahmemagazin aufweisen, das so ausgebildet ist, daß die Meßkontakte beispielsweise durch Aussparungen in Seitenwänden des Aufnahmemagazins mit den Zuleitungen der Bauelemente in Verbindung gebracht werden können. Zum Freischneiden der Einzelbauelemente werden vorzugsweise in den Meßkopf Schneidevorrichtungen eingefügt, die zum Abtrennen der Zuleitun gen vom Kontaktierungsstreifen und zum Beseitigen der überschüssigen Teile des Kontaktierungsstrelfens geeignet sind.To all components of a contact strip in the measuring head at the same time this measuring head must be able to measure an elongated receiving magazine have, which is designed so that the measuring contacts, for example, through recesses in side walls of the receiving magazine with the supply lines of the components in connection can be brought. For cutting free the individual components are preferably Inserted into the measuring head cutting devices, the conditions for separating the supply lines from the contact strip and to remove the excess parts of the contact strip are suitable.

Der mechanische Zwischenspeicher weist vorzugsweise die Form und die Abmessungen des Aufnahmemagazins im Meßkopf auf und ist unmittelbar unter dem Aufnahmemagazin angeor-,et. In diesem Zwischenspeicher sind soviele nebeneinander liegende Kammern vorgesehen, wie Bauelemente gleichzeitig gemessen werden. Jede für die Aufnahme eines Bauelementes geeignete Kammer weist an der Unterseite eine gesondert steuerbare Verschlußklappe auf.The mechanical intermediate storage preferably has the shape and the Dimensions of the receiving magazine in the measuring head and is directly below the receiving magazine angeor-, et. There are so many chambers lying next to one another in this intermediate storage unit provided how components are measured simultaneously. Each for inclusion A chamber suitable for a component has a separately controllable chamber on the underside Closing flap open.

Der Verteiler ist vorzugsweise als beweglicher Sortierschlitten ausgebildet, der so gesteuert werden kann, daß nacheinander jedes Fach dieses Sortierschlittens unter den Zwischenspeicher gefahren wird. Die Fächer des Sortierschlittens sind ihrerseits mit einem Aufnahmebehälter für die in dieses Fach abgelegten Bauelenenze verbunden, so daß jeweils eine Bauelementegruppe, die durch einen Bereich der gemessenen Kennwerte der Bauelemente definiert ist, schließlich in einen der vorhandenen Aufnahmebehälter gelangt.The distributor is preferably designed as a movable sorting carriage, which can be controlled so that one after the other each compartment of this sorting carriage is driven under the buffer. The compartments of the sorting carriage are in turn with a receptacle for those placed in this subject Bauelenenze connected, so that in each case a component group that goes through an area the measured characteristic values of the components is finally defined in one of the existing receiving container arrives.

Die Erfindung und ihre weitere vorteilhafte Ausgestaltung wird im folgenden noch anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert.The invention and its further advantageous embodiment is shown in the following is explained in more detail using an exemplary embodiment.

Die Figur 1 zeigt die erfindungsgemäße Meß- und Sortiervorrichtung mit Ausnahme der Aufnahmebehälter in einer Schnittdarstellung.FIG. 1 shows the measuring and sorting device according to the invention with the exception of the receptacle in a sectional view.

In der Figur 2 ist schematisch die Anordnung des Aufnahmemagazins im Meßkopf, dem mechanischem Zwischenspeicher z dem Sortierschlitten dargestellt.The arrangement of the receiving magazine is shown schematically in FIG shown in the measuring head, the mechanical buffer z the sorting carriage.

Die Figur 3 zeigt in einer perspektivischen Ansicht den mechanischen Zwischenspeicher, den beweglichen Sortierschlitten und de Aufnahmebehälter für die Bauelemente.FIG. 3 shows the mechanical in a perspective view Intermediate storage, the movable sorting carriage and de receptacles for the Components.

Cäß den Figuren 1 und 2 enthält der Meßkopf ein Aufnahmemagazin 1 für den in der Figur 2 dargestellten Kontaktierungsstreifen 15. An dem Kontaktierungsstreifen 15 ist eine Vielzahl von Halbleiterbauelementen befestigt, wobei es sich beispielsweise um 32 Lumineszenzdioden 12 handelt. Jede Lumineszenzdiode weist 2 Zuleitungsstege 13, 14 auf, die bei der serienmäßigem Kontaktierung der Bauelemente mit dem Kontaktierungssteg 15 in Verbindung stehen. Vor dem Einsetzen des Kontaktierungsstreifens 15 in das Aufnahmemagazin 1 kann eine Zuleitung, beispielsweise die Zuleitung 13, vom gemeinsamen Kontaktierungsstreifen getrennt werden. Es besteht auch die Möglichkeit, diesen Frei schnitt mit Hilfe der im Meßkopf angeordneten Schneidemesser 5 und 8 vorzunehnen. Das Schneidemesser 5 ist beispielsweise feststehend, während das Schneidemesser 8 beweglich ist und mit Hilfe eines Kniehebelmechanismuses 23 verschoben werden kann. Der Kniehebelmechanismus wird beispielsweise über einen Kolben 24 in Bewegung gesetzt.According to FIGS. 1 and 2, the measuring head contains a receiving magazine 1 for the contacting strip 15 shown in FIG. 2 on the contacting strip 15 a plurality of semiconductor components is attached, for example 32 luminescent diodes 12 are involved. Each luminescent diode has 2 feeder bars 13, 14, which in the standard Contacting the components are connected to the contacting web 15. Before inserting the contact strip 15 in the receiving magazine 1 can be a supply line, for example the supply line 13, be separated from the common contact strip. There is also the possibility this free cut was made with the aid of the cutting knives 5 and 8 arranged in the measuring head to be stretched. The cutting knife 5 is fixed, for example, while the cutting knife 8 is movable and can be moved with the aid of a toggle lever mechanism 23 can. The toggle lever mechanism is set in motion via a piston 24, for example set.

Nach dem Einse-z=n des Kontaktierungsstreifens 15 in das Aufnahmemagazin 1 wird, sofern es sich um Halbleiterlumineszenzbauelemente handelt, die Zuführung zun Aufnahmemagazin mit Hilfe einer Klappe 6 geschlossen, um fremdlicht von der Meßvorrichtung fernzuhalten. Das Aufnahzemagazin 1 weist, wie aus der Figur 2 ersichtlich, eine sc;zasie langgestreckte Form auf, die den Kontaktierurgsstrei=en 15 angepaßt ist. Bereits dieses Aufnahmemagazin kann in Kammern aufgeteilt werden, wobei die Kammerzahl der Zahl der am Kontaktierungsstreifen 15 angeordneten Bauelemente entspricht, so daß in jede Kammer ein Halbleiterbauelement eingesetzt wird. Sofern jedoch die Halbleiterbauelemente bei der Messung noch mit dem Kontaktierungsstreifen 15 über die Zuleitungen mechanisch fest verbunden sind, bedarf es dieser Aufteilung des Aufnahmemagazins in Kammern nicht. Eine Seitenwand des Aufnabemagazins 1 weist Aussparungen 11 auf, durch die zur Durchführung der erforderlichen Messungen die Zuleitungen der Halbleiterbauelemente mit Anschlußelektroden 16 verbunden werden können.After the one-z = n of the contact strip 15 in the receiving magazine 1, if it is a question of semiconductor luminescent components, the feed zu receiving magazine with the help of a flap 6 closed to extraneous light from the Keep measuring device away. As can be seen from FIG. 2, the receiving magazine 1 has a straight, elongated shape that adapts to the contact strips 15 is. This receiving magazine can already be divided into chambers, with the The number of chambers corresponds to the number of components arranged on the contacting strip 15, so that a semiconductor component is used in each chamber. If, however, the semiconductor components are still with the contact strip during the measurement 15 are mechanically firmly connected via the supply lines, this division is required of the receiving magazine in chambers not. A side wall of the receiving magazine 1 has Recesses 11 through which to carry out the necessary measurements Leads of the semiconductor components are connected to connection electrodes 16 can.

In der Figur 1 ist das schwenkbare Aufnahmemagazin in seiner Ruhelage dargestellt. Die Arbeitsposition is gestrichelt eingetragen. Beispielsweise mit Hilfe eines Kolbens 18 kann das Aufnahmemagazin so geschwenkt werden, daß die Zuleitungen 13 und 14 der einzelnen Bauelemente gemäß der Schemadarstellung in Figur 2 mit den Meßkontakten 16 durch die Offnungen 11 des Aufnahmemagazins in Verbindung gebracht W den. Die Meßkontakte 16 sind in die feststehende Wand 2 der Meßzelle 4 eingelassen.In FIG. 1, the pivotable receiving magazine is in its rest position shown. The working position is shown in dashed lines. For example with With the help of a piston 18, the receiving magazine can be pivoted so that the supply lines 13 and 14 of the individual components according to the schematic representation in Figure 2 with the Measuring contacts 16 brought into connection through the openings 11 of the receiving magazine W den. The measuring contacts 16 are embedded in the stationary wall 2 of the measuring cell 4.

Unterhalb oder -Eierhalb der Meßkontakte 16 können Gummiklötze 3 angeordnet werden, durch die die Zuleitungen der einzelnen Bauelemente ausgerichtet werden.Rubber blocks 3 can be arranged below or below the measuring contacts 16 through which the leads of the individual components are aligned.

In der Meßzelle sind beispielsweise bei der Messung von Lumineszenzdioden lichtempfindliche Fotozellen 17 (Fig. 1 und Fig. 2) so angeordnet, da3 sie in der Meßposition des Aufnahmemagazins im von den einzelnen Halbleiterbauelementen ausgehenden Lichtstrahl liegen.In the measuring cell, for example, when measuring luminescence diodes light-sensitive photocells 17 (Fig. 1 and Fig. 2) arranged so that they are in the measuring position of the receiving magazine in the of the individual semiconductor components outgoing light beam.

Wenn der in der Figur 2 dargestellte Kontaktierungsstreifen beispielsweise 32 Lumineszenzdioden enthält, muß die Meßzelle mit 32 getrennten Fotozellen ausgerüstet werden, die den Lichtstrom jedes zugeordneten Halbleiterbauelementes messen. Zur Auswertung der Meßergebnisse ist eine Auswertelektronik 19 vorgesehen, durch die ermittelt wird, welcher Gruppe das gemessene Bauelement bei der Sortierung zugeordnet werden muß.If the contact strip shown in Figure 2, for example Contains 32 luminescence diodes, the measuring cell must be equipped with 32 separate photocells that measure the luminous flux of each associated semiconductor component. To the Evaluation of the measurement results is provided by evaluation electronics 19 through which it is determined which group the measured component is assigned to during sorting must become.

Nach der erfolgten Messung kehrt das Aufnahmemagazin 1 wieder in seine R estellung zurück. Mit Hilfe des wreischnenlewerkzeuces 5 rd 8 werden nun die noch mt dem Kontaktierungsstreifen verbundenen Zuleitungen 14 durchgetrennt. Mit dem beweglichen Schneidenesser 8 wird auch ein auf dem Messer angeordneter Kolben 25 bewegt, der einem Auswerfer 7 einen zusätzlichen Vorschub dann gibt, wenn der Schneidevorgang beendet ist.After the measurement has taken place, the receiving magazine 1 returns to its position Order back. With the help of the wreischnenlewerkzeuces 5 rd 8 now the With leads 14 connected to the contacting strip, severed. With the movable cutting knife 8 is also a piston 25 arranged on the knife moved, which then gives an ejector 7 an additional feed when the cutting process is finished.

Der Auswerfer 7 sorgt dafür, daß die überschüssigen Teile des Kontaktierstreifens 15 beiseite geschoben wird.The ejector 7 ensures that the excess parts of the contact strip 15 is pushed aside.

Die nun freigeschnittenen einzelnen Halbleiterbauelemente fallen in den unter dem Aufnahmemagazin 1 angeordneten Zwischenspeicher 9, der gemäß der Figur 3 in soviele Kammern 20 aufgeteilt ist, wie gemessene Bauelemente vorhanden sind. Die Kammern 20 sind mit je einer getrennt steuerbaren Klappe 21 (Figur 1) verschlossen.The now cut-free individual semiconductor components fall into the intermediate store 9, which is arranged under the receiving magazine 1 and which is shown in FIG 3 in as many Chambers 20 is divided, as measured components available. The chambers 20 each have a separately controllable flap 21 (Figure 1) closed.

Jede einzelne Kammer 21 kann mit Hilfe einer Bewegungseinrichtung so verschoben werden, daß die Ausgangsöffnung der zugeordneten Kammer 20 freigegeben oder abgesperrt wird. Gemäß der Figur 1 ird d-: Klappe 21 beispielsweise mit Hilfe eines Kolbens 22 verschoben, der wiederum elektrisch gesteuert werden kann.Each individual chamber 21 can with the help of a movement device are shifted so that the outlet opening of the associated chamber 20 is released or locked. According to FIG. 1, d-: flap 21, for example, with the aid a piston 22 displaced, which in turn can be controlled electrically.

Unter dem mechanischen Zwischenspeicher 9 befindet sich nun der Verteiler 10, der soviele Fächer aufweist, wie Bauelementgruppen aussortiert werden sollen. Gemäß den Figuren 1 und 3 handelt es sich beispielsweise um 10 Sortierfächer T1 bis T10. Der Verteiler ist gemäß dem Ausführungsbeispiel nach Figur 1 als beweglicher Sortierschlitten ausgebildet, der mit Hilfe eines Schrittmotors 26 so verschoben wird, daß nacheinander ein Fach nach dem anderen unter den feststehenden Zwischenspeicher 9 liegt. Wenn - wie dies in der Figur 1 dargestellt ist - beispielsweise das Fach T3 des Sortierschlittens 10 unter den Zwischenspeicher 9 liegt, werden alle die Kammern des Zwischenspeichers 9 freigeben, die Bauelemente enthalten, die der dritten Sortiergruppe aufgrund der gemessenen elektrischen Kennwerte zugeordnet sind. Entsprechend wird bei allen anderen Positionen des Sortierschlittens verfahren.The distributor is now located under the mechanical buffer store 9 10, which has as many compartments as groups of components are to be sorted out. According to FIGS. 1 and 3, there are, for example, 10 sorting compartments T1 up to T10. According to the exemplary embodiment according to FIG. 1, the distributor is more movable Sorting carriage formed, which is moved with the help of a stepping motor 26 is that one after the other one subject after another under the fixed cache 9 lies. If - as shown in Figure 1 - for example the subject T3 of the sorting carriage 10 is under the buffer 9, all of the Free chambers of the intermediate store 9, which contain components that of the third Sorting group are assigned based on the measured electrical characteristics. Corresponding is moved to all other positions of the sorting carriage.

Nachdem sich somit der Sortierschlitten 10 einmal unter dem Zwischenspeicher 9 vorbeibewegt hat, sind alle Kammern des Zwischenspeichers wieder geleert und die einzelnen Bauelemente auf die 10 Fächer T1 bis T10 aufgeteilt.After the sorting carriage 10 is thus once under the intermediate storage 9 has moved past, all chambers of the intermediate storage are emptied again and the individual components divided into the 10 compartments T1 to T10.

Wie man der Figur 3 entnehmen kann, sind die einzelnen Fächer des Sortierschlittens 10 trichter-örrnig ausgebildet, wobei die Trichteröffnung über einen Sortierfach S1 bis S10 eines feststehenden Aufnahmebehälters 31 liegt. Die Fächer S1 bis S10 des Aufnahmebehälters 31 verlaufen senkrecht zu den Fächern T1 bis T10 des beweglichen Sortierschlittens 10. Dadurch ist sichergestellt, daß die Trichteröftnungen der Fächer T1 bis T10 in jedem Bewegungszustand des Sortierschlittens 10 über ihrem zugeordneten Aufnar=efach im Aufnahmebehälter 31 angeordnet sind.As can be seen from Figure 3, the individual subjects of the Sorting slide 10 is funnel-shaped, with the funnel opening over a sorting compartment S1 to S10 of a fixed receptacle 31 is located. the Compartments S1 to S10 of the receptacle 31 run perpendicular to the compartments T1 to T10 of the movable sorting carriage 10. This ensures that the Hopper openings of the compartments T1 to T10 in each movement state of the sorting carriage 10 are arranged in the receptacle 31 above their assigned Aufnar = efach.

Die Fächer des Aufnahmebehälters 31 können wiederum trichterförmig ausgebildet und beispielsweise an der Austrittsöffnung des Trichters mit einer verschlieB-baren Klappe 35 versehen sein. Wenn diese Klappe geöffnet wird, werden die in dem Sortierfach enthaltenen Bauelemente beispielsweise in ein Verpackungsmagazin 34 abgefüllt.The compartments of the receptacle 31 can again be funnel-shaped and for example at the outlet opening of the funnel with a lockable Flap 35 be provided. When this door is opened, they will be in the sorting bin The components contained therein are filled into a packaging magazine 34, for example.

Während die im Zwischenspeicher 9 enthaltenen Bauelemente auf die einzelnen Fächer des Verteilers 10 bzw. des Aufnahmebehälters 31 verteilt werden, können im Meßkopf bereits die Bauelemente eines neu eingesetzten Kontaktierungsstreifens 15 gemessen werden Die Sortierzeit wird somit als Meßzeit Lür die nachfolgenden Bauelemente ausgenutzt. Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist es beispielsweise möglich, 32 an einem Kontaktierungsstreifen angeordnete Einzeldioden in einem Arbeitsgang, der nur etwa 2 Sekunden benötigt, zu messen und zu Sortieren. Daraus ergibt sich, daß mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung nahezu 60.000 Bauelemente in einer Arbeitsstunde gemessen und entsprechend ihrer Meßwerte auf Bauelementgruppen verteilt werden können.While the components contained in the buffer 9 on the individual compartments of the distributor 10 or the receptacle 31 are distributed, the components of a newly inserted contact strip can already be installed in the measuring head 15 are measured. The sorting time is thus used as the measuring time L for the following Components exploited. With the device according to the invention it is for example possible, 32 individual diodes arranged on a contact strip in one operation, which only takes about 2 seconds to measure and sort. This results in, that with the device according to the invention nearly 60,000 components in one working hour can be measured and distributed to component groups according to their measured values.

Claims

Claims 0 device for simultaneous eating and sorting a large number of similar components, characterized in that a measuring head is provided for the simultaneous exception and measurement of a large number of components (12) is suitable that a mechanical buffer (3) is provided, the after the measurement, the measured components sorted from the Me3-k °? au-nri = t, and that a relative to the buffer (9) displaceable under the buffer arranged distributor (10) is provided, the compartments (T1-T10) are divided, which are arranged in such a way that only one compartment under the buffer (9) lies.

2) Device according to claim 1, characterized by the use for measuring and sorting semiconductor components of the same type (12) which are shown in a multitude over the contact strips common to all components (15) are mechanically connected to each other and in the measuring head either before or after the measurement are separated from each other and thus isolated but sorted in the Intermediate storage (9) arrive.

3) Device according to claim 1 and 2, characterized by the use for measuring and sorting numerous luminescence semiconductor components that Mechanically connected to one another in one plane via the contact strips and which are cut free in the measuring head before and / or after the measurement.

4) Device according to one of the preceding claims, characterized in that that the measuring head has an elongated receiving magazine (1) which is used for receiving an ontaktierungsstreifens (15) is suitable, which is a large number of side by side, Contains half-letter components arranged in a row, which parallel zue'anaer Have running contact and supply webs (13, 14).

5) Device according to claim 4, characterized in that at least a side wall of the receiving magazine (1) recesses for carrying out electrical Has connecting elements (16).

6) Device according to claim 4 or 5, characterized in that the receiving magazine (1) is designed so that it is pivoted into the measuring position can be brought.

7) Device according to one of the preceding claims, characterized in that that in the measuring head cutting devices (5, 8) are arranged through which the components (12) before or after the measurement partially or completely from the contact strip (15) be separated.

8) Device according to one of the preceding claims, characterized geX ~ It shows that the intermediate store (9) corresponds in shape and dimensions to the receiving magazine (1) corresponds to the measuring head and is immediately below the resting position of the 7-part of the receiving magazine is arranged.

4) Device according to claim 8, characterized in that the intermediate fuse i as many adjacent chambers (20) are divided as there are components at the same time be enjoyed - "8d that every chamber provided for the accommodation of a structural element has a separately controllable closure cap (21) on the underside.

10) Device according to claim 1, characterized in that the distributor (10) is designed as a movable sorting carriage which is controllable so that one after the other each compartment (T1-T10) of the sorting carriage under the buffer (9) is driven.

11) Apparatus according to claim 10, characterized in that each Compartment (T1-T10) of the sorting carriage (9) with a receptacle (S1-S10) for the structural elements stored in the gravel roof are connected to the measured characteristic values are assigned to a specific component group.