DE2848743B2

DE2848743B2 - Method and device for determining a line of weakness in an ampoule

Info

Publication number: DE2848743B2
Application number: DE2848743A
Authority: DE
Inventors: Robert John Toledo Ohio Bieringer (V.St.A.)
Original assignee: Owens Illinois Inc
Current assignee: OI Glass Inc
Priority date: 1977-12-22
Filing date: 1978-11-10
Publication date: 1980-02-28
Also published as: IT1106819B; US4136779A; GB2011067A; DE2848743A1; IT7852203A0; DE2848743C3; JPS5712462B2; MX148125A; GB2011067B; JPS5488181A

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Inspektion einer mit einer Einschnürung versehenen Ampulle zur Feststellung des Vorhandenseins oder Nichtvorhandenseins einer diffus reflektierenden Schwächungslinie an der Einschnürung sowie eine Vorrichtung zur Durchführung eines derartigen Verfahrens.The invention relates to a method for inspecting an ampoule provided with a constriction for Determination of the presence or absence of a diffuse reflective line of weakness on the constriction and a device for carrying out such a method.

Glasampullen, die als Behälter für Pharmazeutika verwendet werden, sind im allgemeinen mit einer Schwächungslinie versehen, die sich in einem eingeschnürten Bereich der Ampulle befindet. Die Ampulle wird an dieser Einschnürung zur Entnahme ihres Inhalts verbrochen. Das Vorhandensein der Schwächungslinie erleichtert einen glatten Bruch. Ist eine derartige Schwächungslinie jedoch nicht vorhanden (oder es existiert eine solche, die sich nicht völlig um den Umfang der Einschnürung herum erstreckt), so kann ein Aufbrechen der Ampulle zu ausgezackten Kanten oder Splittern führen. Um das Vorhandensein einer vollständigen Schwächungslinie sicherzustellen, isteine Inspektion der Ampulle erforderlich. Diese Inspektion wurde bisher mittels Augenschein durchgeführt. Eine derartige Inspektion kann jedoch nur relativ langsam ablaufen und weist nur einen begrenzten Genauigkeitsgrad auf.Glass ampoules used as containers for pharmaceuticals are generally provided with a Provided the weakening line, which is located in a constricted area of the ampoule. The ampoule is broken at this constriction to remove its contents. The presence of the line of weakness facilitates a smooth break. However, if there is no such line of weakness (or there is one that does not fully extend around the circumference of the constriction), so Breaking the ampoule can lead to jagged edges or splinters. To the presence To ensure a complete line of weakness, an inspection of the ampoule is required. This inspection was previously carried out by visual inspection. However, such an inspection can only be relative is slow and has a limited level of accuracy.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Feststellung einer Schwächungslinie in einer Ampulle zu schaffen, das schneller und genauer abläuft als das bekannte Inspektionsverfahren mittels Augenschein.The invention is based on the object of providing a method for determining a line of weakness in to create an ampoule that runs faster and more accurately than the known inspection method by means of Illusion.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein eingangs genanntes Verfahren gelöst, das durch die folgenden Schritte gekennzeichnet ist:According to the invention, this object is achieved by a method mentioned at the beginning, which is carried out by the the following steps:

a) Projizieren eines Laserstrahls in Richtung auf die Einschnürung der Ampulle, und zwar parallel zu und leicht unteilialb einer an die Einschnürung gelegten Tangente; unda) Projecting a laser beam in the direction of the constriction of the ampoule, namely parallel to and slightly indivisible one to the constriction laid tangent; and

b) Bestimmen der spiegelnden oder diffusen Reflexion des Laserstrahls nach dem Auftreffen auf die Einschnürung, wobei die spiegelnde Refle-b) Determining the specular or diffuse reflection of the laser beam after hitting the constriction, whereby the specular reflective

xion das NichtVorhandensein einer Schwächungslinie anzeigt.xion indicates the absence of a line of weakness.

Gemäß der Erfindung wird ein Laserstrahl annähernd tangential zur Einschnürung in Richtung auf den eingeschnürten Teil einer Ampulle gelenkt. Beim Auftreffen auf die Einschnürung wird der Laserstrahl hauptsächlich in Vorwärtsrichtung spiegelnd reflektiert, wenn an der Einschnürung keine Schwächungslinie vorhanden ist, oder wird diffus zerstreut, wenn eine Schwächungslinie vorhanden ist. Durch Erfassen einer Komponente jeglichen diffus zertreuten Lichtes und Vergleichen derselben mit einem Bezugswert kann eine Feststellung getroffen werden, ob eine Schwächungslinie vorhanden ist oder nicht. Auf diese Weise können Ampullen wesentlich schneller und genauer inspiziert werden, als das bei der bekannten Inspektion mittels Augenschein der Fall ist.According to the invention, a laser beam is approximately tangential to the constriction in the direction of directed the constricted part of an ampoule. When it hits the constriction, the laser beam mainly reflected specularly in the forward direction, if there is no weakening line at the constriction is present or diffusely diffused if there is a line of weakness. By capturing a component of any diffusely scattered light and comparing it to a reference value a determination can be made as to whether or not there is a line of weakness. To this Ampoules can be inspected much faster and more precisely than with the known inspection is the case by visual inspection.

Ergänzend zum Stand der Technik sei erwähnt, daß bereits in verschiedenen Anlagen Laserstrahlen zur Inspektion von Glasbehältern eingesetzt werden. Gemaß der US-PS 3 302 786 wird ein Laserstrahl zur Inspektion des Randes eines Glasbehälters benutzt. Hierbei werden fehlerhafte Stellen im Glasbehälter durch Wahrnehmung einer Umlenkung des Laserstrahles bei Auftreffen auf eine fehlerhafte Stelle bestimmt. Es findet somit kein Vergleich zwischen einer diffusen und einer spiegelnden Reflexion wie beim erfindungsgemäßen Verfahren statt. Gemäß der US-PS 3684385 wird die Verminderung in der Intensität des Laserstrahles bei dessen Durchgang durch ein durchscheinendes Material zur Feststellung von Fehlern im Material benutzt. Dieses bekannte Verfahren bezieht sich ebenfalls nicht auf die Bestimmung der Art der Reflexion, die beim Auftreffen des Laserstrahls auf die Behälteroberfläche auftritt.In addition to the prior art, it should be mentioned that laser beams are already used in various systems Inspection of glass containers can be used. According to U.S. Patent No. 3,302,786, a laser beam is used for inspection of the edge of a glass container. This causes defective spots in the glass container determined by the perception of a deflection of the laser beam when it hits a faulty point. There is thus no comparison between a diffuse and a specular reflection as in the case of the invention Proceedings take place. According to US-PS 3684385, the reduction in the intensity of the Laser beam as it passes through a translucent material to detect defects in the Material used. This known method also does not relate to the determination of the type of Reflection that occurs when the laser beam hits the container surface.

Andere bekannte optische Inspektionseinrichtungen machen im allgemeinen von einer Umlenkung eines Lichtstrahls zur Feststellung von Fehlern in Glasbehältern Gebrauch. Beispiele hierfür sind die zur Inspektion der Dichtungsfläche eines Behälters verwendete Inspektionseinrichtuiig nach der US-PS 3 880650, die Reflexionen an Fehlerstellen feststellende Einrichtung nach der US-PS 3887285 sowie die eine Faseroptik zur Feststellung von Fehlern verwendete Einrichtung der US-PS 3639067. Bei diesen bekannten Einrichtungen wird weder ein Laserstrahl eingesetzt noch von dem Unterschied zwischen diffus reflektiertem und spiegelnd reflektiertem Licht Gebrauch gemacht.Other known optical inspection devices generally make a deflection one Use of light beam to detect defects in glass containers. Examples are the for Inspection of the sealing surface of a container used inspection equipment according to the US-PS 3,880,650, the reflections at defects detecting device according to US-PS 3887285 and the device of US Pat. No. 3,639,067 used fiber optics to detect defects. In these known devices is used neither a laser beam nor from the difference between diffuse made use of reflected and specularly reflected light.

Bei einer speziellen Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird, um die Inspektion des gesamten Umfangs der Einschnürung zu ermöglichen und mit unvollständigen Schwächungsünien versehene Ampullen festzustellen, die Ampulle um ihre Längsachse gedreht, so daß der Laserstrahl jeden Punkt auf dem Umfang der Einschnürung trifft. Bei Feststellung einer spiegelnden Reflexion des Laserstrahls an irgendeinem Punkt auf dem Umfang der Einschnürung wird die Ampulle zurückgewiesen. Das erfindungsgemäße Inspektionsverfahren kann auch benutzt werden, um Ampullen mit falsch dimensionierten Einschnürungen zu erfassen, wie weiter unten erläutert wird.In a special embodiment of the invention Procedure is used to allow inspection of the entire circumference of the neck and to identify ampoules with incomplete weakening lines, the ampoule around hers Rotated longitudinal axis so that the laser beam hits every point on the circumference of the constriction. at Detecting a specular reflection of the laser beam at any point on the perimeter of the Constriction the ampoule is rejected. The inspection method according to the invention can also can be used to detect ampoules with incorrectly dimensioned constrictions, as described below is explained.

Die Erfindung betrifft des weiteren eine Vorrichtung zur Durchführung des vorstehend erläuterten Verfahrens Diese Vorrichtung ist gekennzeichnet durch:
a) eine einen Laserstrahl erzeugende Laserqueile;The invention also relates to a device for carrying out the method explained above. This device is characterized by:
a) a laser source generating a laser beam;

b) Einrichtungen zum Projizieren des Laserstrahls in Richtung auf die Einschnürung der Ampulle, und zwar parallel zu und -eicht unterhalb einer an die Einschnürung gelegten Tangente; undb) devices for projecting the laser beam in the direction of the constriction of the ampoule, namely parallel to and slightly below a tangent laid on the constriction; and

c) Einrichtungen zur Bestimmung einer spiegelnden oder diffusen Reflexion des Laserstrahls nach dem Auftreffen auf die Einschnürung.c) Devices for determining a specular or diffuse reflection of the laser beam after hitting the constriction.

Zweckmäßigerweise ist die Vorrichtung mit Einrichtungen zum Zurückweisen der Ampulle bei spiegelnder Reflexion des Laserstrahles versehen. Die Einrichtungen zum Projizieren des Laserstrahles weisen vorzugsweise einen einstellbaren Spiegel zur Reflexion des Laserstrahles vor dem Auftreffen auf die Ampulle auf. Was den Aufbau der Einrichtungen zur Bestimmung der spiegelnden oder diffusen Reflexion des Laserstrahles anbetrifft, so enthalten diese bei einer speziellen Ausführungsform eine faseroptische Aufnahmevorrichtung, die so angeordnet ist, daß sie nur Licht empfängt, welches nach dem Auftreffen auf eine richtig bemessene Einschnürung diffus reflektiert wird. Auf diese Weise werden Fehlmessungen vermieden. Bei einer derartigen Anordnung der faseroptischen Aufnahmevorrichtung kann das Inspektionsverfahren auch benutzt werden, um Ampulen mit falsch dimensionierten Einschnürungen festzustellen.The device is expediently provided with devices for rejecting the ampoule in the case of specular Reflection of the laser beam provided. The devices for projecting the laser beam have preferably an adjustable mirror for reflecting the laser beam before it hits the Open the ampoule. As for the structure of the facilities for determining specular or diffuse reflection of the laser beam, in a special embodiment they contain a fiber optic Recording device which is arranged so that it only receives light which occurs after it has hit a correctly dimensioned constriction is reflected diffusely. In this way, incorrect measurements are avoided. With such an arrangement of the fiber optic recording device, the inspection method can also be used to identify ampules with incorrectly dimensioned constrictions.

Die Vorrichtung ist weiterhin mit einem Photodetektor versehen, der zur Umwandlung des von der faseroptischen Aufnahmevorrichtung aufgenommenen Lichtes in eine Spannung an dieselbe angeschlossen ist, sowie mit Einrichtungen zum Vergleich der Spannung mit einem Bezugswert, der größer ist als ein Wert entsprechend der von der faseroptischen Aufnahmevorrichtung nach Reflexion von einer Ampulle ohne Schwächungslinie oder mit unrichtig bemessener Einschnürung empfangenen Lichlmenge. jedoch kleiner als ein Wert entsprechend der von der faseroptischen Aufnahmevorrichtung nach Reflexion von einer Ampulle mit einer Schwächungslinie empfangenen Lichtmenge. Die Vorrichtung besitzt ferner Einrichtungen zum Zurückweisen der Ampullen bei geringerer Ausgangsspannung des Photodetektors als dem Bezugsweit. The device is further equipped with a photodetector provided, the conversion of the recorded by the fiber optic recording device Light is connected to the same voltage in a voltage, as well as with devices for comparing the voltage with a reference value greater than a value corresponding to that of the fiber optic pickup device after reflection from an ampoule without a line of weakness or with an incorrectly dimensioned constriction amount of light received. but smaller than a value corresponding to that of the fiber optic Receiving device after reflection of an ampoule with a line of weakness received amount of light. The device also has means for rejecting the ampoules if the output voltage is lower of the photodetector as the reference distance.

In Weiterführung der Erfindung weist die Vorrichtung Einrichtungen zur Inspektion des gesamten Umfanges der Einschnürung der Ampulle auf. Zweckmäßigerweise ist eine derartige Vorrichtung auch mit Einrichtungen zum Zurückweisen der Ampulle bei spiegelnder Reflexion des Laserstrahls an irgendeinem Punkt auf dem Umfang der Einschnürung ausgestattet. Im einzelnen weisen die Einrichtungen zur Inspektion des gesamten Umfanges der Einschürung der Ampulle Vorrichtungen zum Halten der Ampulle an einem festen Platz und zum Drehen der Ampulle um ihre Längsachse auf.In a further development of the invention, the device has devices for inspecting the entire circumference the constriction of the ampoule. Appropriately, such a device is also included Means for rejecting the ampoule in the event of specular reflection of the laser beam at any one Point fitted on the circumference of the constriction. Specify the facilities for inspection the entire circumference of the constriction of the ampoule on devices for holding the ampoule a fixed place and to rotate the ampoule around its longitudinal axis.

Die erfindungsgemäß ausgebildete Vorrichtung wird nachfolgend anhand eines Ausführungsbeispiels in Verbindung mit den Zeichnungen beschrieben. Es zeigtThe device designed according to the invention is described below using an exemplary embodiment described in connection with the drawings. It shows

Fig. 1 eine schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Feststellung von einer Schwächungslinie in einer Ampulle,1 shows a schematic representation of a device for determining a line of weakness in an ampoule,

Fig. 2 eine Draufsicht auf eine in der Inspektionsvorrichtung befindliche Ampulle, 2 shows a plan view of an ampoule located in the inspection device,

Fig. 3 eine Seitenansicht einer in der Inspektionsvorrichtung befindlichen Ampulle. 3 shows a side view of an ampoule located in the inspection device.

Fig. 4 eine Endansicht einer in der Inspektionsvorrichtung befindlichen Ampulle,Figure 4 is an end view of one in the inspection device located ampoule,

Fig. .*) eine Bndansicht einer Ampulle mit zu kleinFig. *) A band view of an ampoule with too small

bemessener Einschnürung, unddimensioned constriction, and

Fig. 6 eine Endansichl einer Ampulle mit zu groß bemessener Einschnürung.6 shows an end view of an ampoule with an excessively large constriction.

Fig. 1 zeigt eine Laserquelle 10, die einen Laserstrahl 12 aussendet, welcher in Richtung auf einen ^r> Spiegel 14 projiziert wird. Der Winkel zwischen dem Spiegel 14 und dem Laserstrahl 12 ist einstellbar (durch Veränderung der relativen Kipplage des Spiegels 14), um eine Steuerung der Richtung des Laserstrahls 12 zu gestatten. Der Laserstrahl 12 wird von i" dem Spiegel 14 in Richtung auf eine Ampulle 16 reflektiert, die eine Achse 19 aufweist. Die Ampulle 16 wird in einer fixierten Lage gehalten und mittels eines Drehgurts 18 um ihre Achse 19 gedreht. Die Ampulle 16 wird durch eine Klemmeinrichtung 25 in H Stellung gehalten, welche eine Querbewegung verhindert, jedoch einen freien Umlauf der Ampulle 16 zuläßt. Nach Beendigung der Inspektion einer Ampulle 16 wird diese von der Klemmeinrichtung 25 freigegeben. Ein Förderer 20, auf welchem die Ampullen 16 herangeführt werden, bewegt dann die nächste Ampulle 16 in die Inspektionsstellung. Der Förderer 20 bewegt sich intermittierend. Während einer Phase wird eine Ampulle 16 von dem Förderer 20 in Stellung gebracht, und über eine vorgegebene Zeitspanne um 2> ihre Achse 19 gedreht. Der Förderer 20 bewegt sich dann wieder, um die nächste Ampulle 16 in Stellung zu bringen, und der Inspektionsvorgang wird wiederholt. Eine Schalteinrichtung 24 gibt entsprechend jedem Schritt des Förderers 20 ein Signal an eine Logik 30 zur Einleitung der Prüfung ab. Eine zusätzliche optische Aufnahmeeinrichtung (nicht gezeigt) stellt das Vorhandensein (oder NichtVorhandensein) einer Ampulle 16 in der Inspektionsstellung fest. Oberhalb und hinter dem Punkt, an dem der Laserstrahl 12 auf die Ampulle 16 auftrifft, ist eine faseroptische Aufnahmevorrichtung 26 angeordnet. Eine photoeiektrische Meßeinrichtung oder ein Photodetektor 28 erzeugt eine Ausgangsspannung entsprechend der von der faseroptischen Aufnahmevorrichtung 26 empfan- -to genen Lichtmenge und speist sie in die Logik 30 ein. Die Logik 30, die einen in der Technik hinreichend bekannten Grundvergleichskreis darstellt, vergleicht das Signal des photoelektrischen Sensors 28 mit einem Bezugssignal, um festzustellen, ob die gerade geprüfte Ampulle fehlerhaft ist oder nicht. Wenn die Ausgangsspannung von dem photoelektrischen Sensor 28 geringer ist als das Bezugssignal (und wenn eine Ampulle 16 vorhanden ist, wie durch den nicht dargestellten optischen Sensor bestimmt), dann ist die Ampulle 16 fehlerhaft, und es werden ein Auswerfer 32, ein Zähler 34 und eine Signallampe 36 insgesamt aktiviert. Das Signal von der Schalteinrichtung 24 bildet eine Zeitsteuerung für die Logik 30, und es wird jeweils eine Ampulle 16 zwischen aufeinanderfolgenden Signalen der Schalteinrichtung 24 inspiziert.Fig. 1 shows a laser source 10 which emits a laser beam 12 which is projected toward an ^r> mirror 14. The angle between the mirror 14 and the laser beam 12 is adjustable (by changing the relative tilt position of the mirror 14) in order to allow the direction of the laser beam 12 to be controlled. The laser beam 12 is reflected by the mirror 14 in the direction of an ampoule 16 which has an axis 19. The ampoule 16 is held in a fixed position and rotated about its axis 19 by means of a rotary belt 18. The ampoule 16 is rotated through a Clamping device 25 held in the H position, which prevents transverse movement but allows free circulation of the ampoule 16. After the inspection of an ampoule 16 has been completed, it is released by the clamping device 25. A conveyor 20, on which the ampoules 16 are brought in, then moves the next ampoule 16 into the inspection position. The conveyor 20 moves intermittently. During one phase, an ampoule 16 is brought into position by the conveyor 20 and rotated over a predetermined period of time about 2> its axis 19. The conveyor 20 then moves again to position the next ampoule 16 and the inspection process is repeated, a switch 24 outputs corresponding to each S Step of the conveyor 20 sends a signal to a logic 30 to initiate the test. An additional optical recording device (not shown) determines the presence (or absence) of an ampoule 16 in the inspection position. A fiber-optic receiving device 26 is arranged above and behind the point at which the laser beam 12 strikes the ampoule 16. A photoelectric measuring device or a photodetector 28 generates an output voltage corresponding to the amount of light received by the fiber optic recording device 26 and feeds it into the logic 30. Logic 30, which is a basic comparison circuit well known in the art, compares the signal from photoelectric sensor 28 with a reference signal to determine whether or not the ampoule being tested is defective. If the output voltage from the photoelectric sensor 28 is less than the reference signal (and if an ampoule 16 is present as determined by the optical sensor, not shown), then the ampoule 16 is defective and an ejector 32, a counter 34 and a signal lamp 36 activated as a whole. The signal from the switching device 24 forms a time control for the logic 30, and an ampoule 16 is inspected in each case between successive signals from the switching device 24.

Es wird nunmehr unter Bezugnahme auf die Fig. 2 bis 4 der optische Betrieb der Vorrichtung beschrieben. Fig. 2 zeigt eine Draufsicht auf eine Ampulle 16, die gerade inspiziert wird. Die Ampulle 16 enthält einen Hauptkörperabschnitt 40, eine Einschnürung 42, einen Halsbereich 44 sowie einen Trichterabschnitt 46. An der Einschnürung 42 ist eine Schwächungslinie 48 vorgesehen. Die Klemmeinrichtung 25 berührt den Hauptkörperabschnitt 40 der Ampulle 16. Der Laserstrahl 12 wird in Richtung auf die Einschnürung 42 projiziert.The optical operation of the device will now be described with reference to FIGS. 2-4. FIG. 2 shows a plan view of an ampoule 16 which is currently being inspected. The ampoule 16 contains a main body portion 40, a constriction 42, a neck portion 44 and a funnel portion 46. A weakening line 48 is provided on the constriction 42. The clamping device 25 contacts the main body portion 40 of the ampoule 16. The laser beam 12 is directed toward the constriction 42 projected.

Fig. 3 ist eine Seitenansicht der Ampulle 16 während der Inspektion; die Linie 19 bezeichnet die Längsachse der Ampulle 16.Fig. 3 is a side view of the ampoule 16 during inspection; the line 19 denotes the Longitudinal axis of the ampoule 16.

Wie in Fig. 4 gezeigt, erstreckt sich der Laserstrahl 12 parallel zu und unmittelbar unter einer an die Einschnürung 42 gelegten Tangente. Wenn auf der Einschnürung 42 keine Schwächungslinie 48 vorhander ist, wird der Laserstrahl 12 von der glatten Glasoberfläche in Vorwärtsrichtung reflektiert, wie durch den Strahl 50 gezeigt. Eine Schwächungslinie 48 hat eine rauhe Oberfläche, die eine diffuse Zerstreuung des Laserstrahls 12 beim Auftreffen auf die Einschnürung 42 verursacht, wie durch die Strahlen 52 dargestellt. Die faseroptische Aufnahmevorrichtung 26 ist oberhalb der Ampulle 16 und hinter ihr in einem Winkel von fünfundvierzig bis sechzig Grad mit Bezug auf den einfallenden Laserstrahl 12 angeordnet. Der kritische Faktor ist jedoch nicht die Größe des Winkels, sondern die Einstellung der faseroptischen Aufnahmeeinrichtung 26 derart, daß sie eine Komponente jeglichen Lichtes empfängt, das nach Auftreffen auf die Ampulle 16 diffus zerstreut wird. Da der Strahl 50 in Vorwärtsrichtung von der Ampulle 16 fort reflektiert wird, ist die von der faseroptischen Aufnahmeeinrichtung 26 von einer Ampulle 16 ohne Schwächungslinie 48 empfangene Lichtmenge vernachlässigbar gering. Bei Reflexion an einer Ampulle 16 mit einer Schwächungslinie 48 wird jedoch an der faseroptischen Aufnahmeeinrichtung 26 eine relativ große Lichtmenge empfangen. Es wird somit infolge des großen Unterschieds im Reflexionswinkel zwischen diffus und spiegelnd reflektierten Strahlen ein großer Abstand erzielt. Außerdem ist es möglich, durch Festhalten der Ampulle 16 mit der Klemmeinrichtung 25 und Drehen derselben derart, daß jeder Punkt auf dem Umfang der Einschnürung 42 inspiziert wird, eine unvollständige Schwächungslinie festzustellen (d. h. eine Schwächungslinie 48, die obwohl vorhanden, sich nicht vollständig um den Umfang der Einschnürung 42 herumerstreckt).As shown in FIG. 4, the laser beam 12 extends parallel to and immediately below one of the constriction 42 laid tangent. If there is no line of weakness 48 on the constriction 42 is, the laser beam 12 is from the smooth glass surface reflected in the forward direction as shown by beam 50. A line of weakness 48 has one rough surface that diffuses the laser beam 12 when it hits the constriction 42 as shown by rays 52. The fiber optic pickup device 26 is above the ampoule 16 and behind it at an angle of forty-five to sixty degrees with respect to the incident laser beam 12 arranged. However, the critical factor is not the size of the angle, but the adjustment of the fiber optic receiving device 26 such that it is a component receives any light that is diffusely scattered after impinging on the ampoule 16. Because the beam 50 is reflected in the forward direction away from the ampoule 16 is that of the fiber optic receptacle 26, the amount of light received by an ampoule 16 without a line of weakness 48 is negligible small amount. If it is reflected on an ampoule 16 with a line of weakness 48, however, the fiber optic Receiving device 26 receive a relatively large amount of light. It is thus due to the There is a large difference in the angle of reflection between diffuse and specularly reflected rays Distance achieved. It is also possible, by holding the ampoule 16 with the clamping device 25 and rotating the same so that every point on the circumference of the neck 42 is inspected, detect an incomplete line of weakness (i.e. a line of weakness 48 which, although present, does not extend completely around the circumference of the constriction 42).

Es wird nunmehr auf die Fig. 5 und 6 Bezug genommen und in Verbindung mit diesen Figuren die Auswirkung von Einschnürungen 42 mit Unter- odei Übergröße auf das Inspektionsverfahren beschrieben. Eine punktierte Linie 60 zeigt die genaue Größe einei Einschnürung42. Wenn die Einschnürung 42 zu klein ist, wie in Fig. 5 gezeigt, dann trifft der Laserstrahl 12 überhaupt nicht auf die Einschnürung 42 auf. Die faseroptische Aufnahmeeinrichtung 26 empfängt ir diesem Fall überhaupt kein Licht, was dem Fall einei Reflexion an einer Einschnürung 42 ohne eine Schwächungslinie 48 gleichkommt (bei der die empfangene Lichtmenge, obwohl nicht gleich Null, doch vernachlässigbar klein ist). Wenn die Einschnürung 42 zu groE ist, wie in Fig. 6 gezeigt, trifft der Laserstrahl 12 darauf auf. Wenn keine Schwächungslinie 48 vorhander ist, wird der Strahl 12 spiegelnd reflektiert, und die faseroptische Aufnahmeeinrichtung 26 empfängt eine vernachlässigbar kleine Lichtmenge. Wenn eine Schwächungslinie 48 vorhanden ist, dann wird der Laserstrahl 12 diffus reflektiert. Jedoch ist die faseroptische Aufnahmeeinrichtung 26 so angeordnet, daG sie Reflexionen von dem Punkt 68 empfängt, an dem der Laserstrahl eine richtig bemessene Einschnürung 42 treffen würde. Im Falle einer übergroßen Einschnürung 42 trifft der Laserstrahl 12 auf einen anderen Punkt 66 an der Einschnürung 42 suf, der hintei dem Punkt 68 liegt, und jegliche diffuse Reflexior wird derart zerstreut, daß von der faseroptischen Auf-Reference is now made to FIGS. 5 and 6 and, in connection with these figures, FIGS The effect of constrictions 42 with undersize or oversize on the inspection process is described. A dotted line 60 shows the exact size of a neck 42. If the constriction 42 is too small If, as shown in FIG. 5, the laser beam 12 does not strike the constriction 42 at all. the fiber optic recording device 26 receives no light at all in this case, which is the case Reflection at a constriction 42 without a line of weakness 48 is equivalent (in which the received Amount of light, although not zero, is negligibly small). If the constriction 42 is too large is as shown in Fig. 6, the laser beam 12 is incident thereon. If there is no line of weakness 48 is, the beam 12 is specularly reflected and the fiber optic pickup device 26 receives a negligibly small amount of light. If there is a line of weakness 48 then the laser beam will 12 diffusely reflected. However, the fiber optic receiving device 26 is arranged so that it receives reflections from the point 68 where the laser beam has a properly sized constriction 42 would hit. In the case of an oversized constriction 42, the laser beam 12 strikes another Point 66 at the constriction 42 suf, the back part lies at point 68, and any diffuse reflection is scattered in such a way that the fiber optic view

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nahmeeinrichtung 26 bedeutend weniger Licht aufge- chungslinie versehene Ampulle 16 inspiziert wird. DieAcquisition device 26 is inspected with significantly less light detection line provided ampoule 16. the

nommen wird, wie durch die Strahlen 62 dargestellt. Inspektion kann somit benutzt werden um sowohlas shown by rays 62. Inspection can thus be used to both

Die faseroptische Aufnahmeeinrichtung 26 empfängt Ampullen 16 mit unrichtig bemessenen Einschnurun-The fiber optic receiving device 26 receives ampoules 16 with incorrectly dimensioned constrictions

somit nur dann eine relativ große Lichtmenge, wenn gen 42 als auch solche ohne eine vollständige Schwa-thus only a relatively large amount of light if gene 42 as well as those without a complete wave

eine richtig bemessene und richtig mit einer Schwä- > chungslinie 48 festzuhalten.a correctly sized and correctly with a weakness> line 48.

Hierzu 3 Blatt ZeichnungenFor this purpose 3 sheets of drawings

Claims

Patent claims:

1. Procedure for inspecting a necked ampoule for detection the presence or absence of a diffuse reflective line of weakness at the constriction, characterized by the following steps:

a) Projecting a laser beam in the direction of the constriction of the ampoule, namely parallel to and slightly below a tangent laid on the constriction; and

b) Determining the specular or diffuse reflection of the laser beam after impact on the constriction, the specular reflection being the absence of a Line of weakness.

2. The method according to claim I, characterized in that the ampoule upon detection a specular reflection of the laser beam is rejected.

3. The method according to claim 1, characterized in that the laser beam according to Step a) is deflected in the direction of the ampoule.

4. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the entire The circumference of the constriction of the ampoule is inspected by rotating the ampoule around its long axis is rotated.

5. Device for performing the method according to one of claims 1 to 4, characterized by:

a) a laser source generating a laser beam (12) (10);

b) means for projecting the laser beam (12) towards the constriction (42) of the ampoule (16), parallel to and slightly below one of the constriction (42) laid tangent; and

c) Devices for determining a specular or diffuse reflection of the laser beam (12) after hitting the constriction (42).

6. Apparatus according to claim 5, characterized in that it has means for rejecting the ampoule (16) includes specular reflection of the laser beam.

7. Apparatus according to claim 5, characterized in that the means for projecting of the laser beam (12) an adjustable mirror (14) for reflecting the laser beam have the impact on the ampoule (16).

8. Device according to one of claims 5 to 7, characterized in that the devices a fiber optic to determine the specular or diffuse reflection of the laser beam Including receiving device (26) which is arranged so that it receives only light which is reflected diffusely after hitting a correctly dimensioned constriction (42).

9. Apparatus according to claim H, characterized in that that it has a photodetector (28) which is used to convert the from the fiber optic Recording device (26) recorded light connected to the same voltage in a voltage is, and means (30) for comparing the voltage with a reference value which is greater than a value corresponding to that of of the fiber optic recording device after reflection from an ampoule without a line of weakness or with an incorrectly measured constriction amount of light received, but less than one Value corresponding to that of the fiber optic pickup device after reflection from a Ampoule with a line of weakness received amount of light.

10. Apparatus according to claim 6 and 9, characterized in that it has means for Rejection of the ampoule if the output voltage of the photodetector (28) is lower than that Has reference value.

11. Device according to one of claims 5 to 10, characterized in that they are used to inspect the entire circumference of the constriction (42) of the ampoule (16) devices (25, 18) for holding the ampoule in a fixed place and for rotating the ampoule about its longitudinal axis (19).