DE2723516A1 - Coin testing machine using AC field - has oscillator voltage corrected, between passages of tested coins using differential circuit - Google Patents

Coin testing machine using AC field - has oscillator voltage corrected, between passages of tested coins using differential circuit

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DE2723516A1 DE19772723516 DE2723516A DE2723516A1 DE 2723516 A1 DE2723516 A1 DE 2723516A1 DE 19772723516 DE19772723516 DE 19772723516 DE 2723516 A DE2723516 A DE 2723516A DE 2723516 A1 DE2723516 A1 DE 2723516A1
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Abstract

The field is generated by a test coil. A measurement and control voltage is produced by a differential circuit from the difference between a reference voltage and an oscillator voltage. It controls the oscillator voltage through a control device until a specified relation between reference and oscillator voltages is reached. The measurement and control voltage is used as a criterion during coil testing, by finding whether it lies between specified limits, as in 2546685. An additional fine adjustment of the oscillator is carried out ot eliminate temperature and long term effect influences. Short influences of the passign coil on the AC field are left uncorrected. This is achieved by holding the corrections at the levels they had before the coin entry.

Description

Verfahren zur Prüfung von Münzen.Procedure for testing coins.

Münzprüfer zur Durchführung des Verfahrens.Coin validator for carrying out the process.

Die Erfindung betrifft mehrere Ausführungsarten eines Verfahrens zur Prüfung von Münzen odgl. sowie Münzprüfer zur Durchführung des Verfahrens.The invention relates to several embodiments of a method for Testing of coins or the like. as well as a coin validator to carry out the procedure.

Sie stellen ;Ieiterentwiklungn und Verbesserunfen eines Verfahrens dar, wie ich es in meiner Patentanmeldung P 25 46 685.7 beschrieben habe.You provide; further developments and improvements of a process as I have described in my patent application P 25 46 685.7.

Das erfindungsgemässe Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass man die zu prüfende Münze durch das geregelte Wechselstromfeld einer Meßspule bewegt und aus der Differenz zwischen einer Referenzspannung und der infolge des Einflusses er Münze auf dad Wechselstromfeld veranderten Oszillator-Heßspannung mittels einer Differentialsch@ltung eine Meß-und Regelgrösse bildet, welche man als Kriterium zur Prüfung der Münze heranzieht. Zur Ausschaltung von Temperatur-und Langzeiteinflüssen wird die durch solche Einflüsse im Leerlauffalle entstehende Meß-und Regelgrösse über ein die Ausgangsspannung einer Oszillatorschaltung beeinflussendes Deeinflussungsglied rückgekoppelt und dadurch im Leerlauffalle die Oszillator-Meßspannung bis zu einem bestimmten Spannungsverhältnis zwischen dieser und der Referenzspannung nachgeregelt. Die Leerlauf-Oszillator-Meßspannung hat also einen konstanten Wert, bei unterschiedlich hohem Niveau der Rückregelung. tennzeichnend für das neu vorgeschiBgene Verfahren ist, dass man während einer Münze messung keine oder nur eine begrenzte Veränderung in der Nach~ regelung eintreten lässt und diese somit während der Münzmessung im wesentlichen auf dem Niveau hält,das sie vor Beginn der Münzmessung hatte. Die Nachregelung eliminiertoalso vor und während einer Münzmessung lediglich die festgestellten lemperatur-und Langzeitainflüsse. Die infolge des Einflusses einer zu messenden Münze auf das Wechselstromfeld von der Differentialschaltung kurzfristig gebildete hohe Meß-und Regelgrösse gelangt nicht zur Nachregelung der Oszillatorschaltung, sodass die HF-Spannung an der Meßspule entsprechend dem Einfluss der minze einbrechen kann.Nachfolgend werden verschiedene Ausführungsmöglichkeiten und Beispiele für die Erfindung beschrieben.The inventive method is characterized in that one moves the coin to be tested through the regulated alternating current field of a measuring coil and from the difference between a reference voltage and that due to the influence he coin on the alternating current field changed oscillator high voltage by means of a Differential switching forms a measured and controlled variable, which is used as a criterion to check the coin. To eliminate temperature and long-term influences becomes the measured and controlled variable resulting from such influences in the idle case Via a de-influencing element that influences the output voltage of an oscillator circuit fed back and thereby in the no-load case the oscillator measuring voltage up to one readjusted certain voltage ratio between this and the reference voltage. The no-load oscillator measuring voltage thus has a constant value, with different high level of back regulation. characteristic of the newly proposed procedure is that there is little or no change during a coin measurement in the readjustment can occur and this during the coin measurement in the essentially at the level it had before starting the coin measurement. The adjustment so eliminated before and during a coin measurement only the determined temperature and long-term influences. The result of the influence of a coin to be measured on the alternating current field from the differential circuit briefly The high measured and controlled variable formed does not reach the readjustment of the oscillator circuit, so that the HF voltage on the measuring coil collapses according to the influence of the mint Various possible designs and examples for described the invention.

Eine erste Ausführungsart des erfindungsgemässen verfahrens ist dadurch reRennzeichnet, dss man die Ausgangsspannung der Oszillaltorschaltung über ein als selbststeuernde Servo-egelschaltung ausgebildetes 3eeinflussungsglied beeinflusst,welches positive oder negative Abweichungen der Oszillator-Meßspannun von einer Referenzspannung feststellt und mittels einer ihr zugeordneten Taktschaltung sowie eines Stellgliedes, zum beispiel eines Vorwärts-/Rückwärts-Zählers, ein im Beeinflussungsglied enthaltenes Widerstandsnetzwerk so schaltet, dass die Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung schrittweise einer festgestellten Abweichung entgegenwirkend beeinflusst wird.A first embodiment of the method according to the invention is thereby reR indicates that the output voltage of the oscillator circuit is via an as self-controlling servo-control circuit designed 3einfluenzelement influences which positive or negative deviations of the oscillator measurement voltage from a reference voltage and by means of a clock circuit assigned to it and an actuator, for example an up / down counter, one contained in the influencing element Resistance network switches so that the output voltage of the oscillator circuit is gradually influenced to counteract a detected deviation.

Dabei kann man beispielsweise die Regelschaltung ununterbrochen arbeiten lassen und dabei den Takt der Taktschaltung so langsam und die Abstufung des wfiderstandsnetzwerkes so klein wählen, dass einerseits ein zeitliches Zusammentreffen von Verstelltakt und Münzmessung so selten wie möglich erfolgt und andererseits im Falle eines solchen Zusammentreffens die durch die Veränderung des Widerstandsnetzwerkes bedingte Veränderung der eß-und egclgrösse so gering wie möglich ist. Ein Schaltungsbeispiel hierzu wird nachfolgend in Abb.1 beschrieben.For example, the control circuit can work continuously let and thereby the clock of the clock circuit so slowly and the gradation of the resistor network choose so small that, on the one hand, the timing of the adjustment cycle coincides and coin measurement takes place as infrequently as possible and, on the other hand, in the case of such Coincidence of the change caused by the change in the resistance network the food and egg size is as small as possible. A circuit example for this is described below in Fig.

Mit besonderem Vorteil kann man aber auch zur Erzielung schneller Einschwingzeiten die itegelschaltung mit beliebig schnellem Takt und beliebiger - feinerer oder gröberer, gleichmässiger oder ungleichmässiger - Abstufung des Widerstandsnetzwerkes betreiben, wenn man nach einem weiteren Vorschlag der Erfindung mittels einer das Llerannahen eier Iünze an die meßsonde melden Schaltvorrichtung die Servo-Verstellung der itegelschaltung zeitweise unterbindet. Ein Schaltungsbeispiel heirzu wird nachfolgend in Abb.2 beschrieben.With particular advantage, however, you can also achieve faster Settling times the it control circuit with any fast cycle and any - finer or coarser, more even or uneven - gradation of the resistance network operate when one by means of a further proposal of the invention one when an egg is approaching the measuring probe, the switching device reports the servo adjustment the control circuit is temporarily prevented. A circuit example for this is given below described in fig.

Eine zweite Ausführungsart des erfindungsgemässen Verfahrens ist dadarch gekennzeichnet, dass man ein 3eeinflussungsglied verwendet, welches mit einer analogen Speicherschaltung für die zugeleitete Meß-und eelgrösse versehen ist.A second embodiment of the method according to the invention is dadarch characterized in that an influencing element is used, which is connected to an analog Memory circuit is provided for the supplied measurement and value.

Nach einem Vorschlag der Erfindung kann man der Speicherschaltung die von der Differentialsehaltung gebildete IXIeß-und Regelgrösse über einen Schalter in bestimmten Zeitabständen jeweils nur für so kurze eit zuleiten, dass diese sich entsprechend der für sie gewählten Ladezeitkonstante jeweils nur um einen bestimmten Spannungsbetrag aufladen kann, wobei dieser Spannungsbetrag pro Ladestoss grösser sein muss als die durch die Kapazität und die Entladezeitkonstante der Speicherschaltung vorgegebene Entladung zur Beeinflussung der Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung in der Zeitdauer zwischen zwei Ladestössen. Ein Schaltungsbeispiel hierzu wird nachfolgend in Abb.3 beschrieben.According to a proposal of the invention, the memory circuit the measured and controlled variable formed by the differential circuit via a switch at certain time intervals only for such a short time that these according to the charging time constant selected for them, only by a certain one Amount of voltage can charge, whereby this amount of voltage per charge surge is greater must be than that determined by the capacity and the discharge time constant of the memory circuit predetermined discharge to influence the output voltage of the oscillator circuit in the time between two charging surges. A circuit example for this is given below described in Figure 3.

Nach einem weiteren Vorschlag der Erfindung kann aber auch im Leerlaufzustand die Speicherschaltung mit dem Ausgang der Differentialschaltung verbunden lassen, sodass der Ladezustand der Speicherschaltung von der ihr zugeführten Meß-und Regelgrösse bestimmt ist. Es wird vorgeschlagen, Kapazität und Entladungszeitkonstante der Speicherschaltung so zu bemessen, dass diese auch bei Trennung von dem Ausgang der Differentialschaltung für die Dauer von mindestens einer halben Münz-Durchlaufzeit durch die Meßwicklung die Rückregelung der Oszillatorschaltung auf dem gleichen Niveau halten kann.According to a further proposal of the invention can however, even in the idle state, leave the storage circuit connected to the output of the differential circuit, so that the charge state of the storage circuit is determined by the measured and controlled variable supplied to it. It is proposed to dimension the capacity and discharge time constant of the storage circuit so that it can keep the back regulation of the oscillator circuit at the same level even when disconnected from the output of the differential circuit for a period of at least half a coin transit time through the measuring winding.

Somit kann man durch eine das derannahen einer Münze meldende und diese Meldung eine bestimmte Zeit aufrechterhaltende Schalt.Thus one can report the approach of a coin by a and switching that maintains this message for a certain period of time.

vorrichtung die Verbindung zwischen Differentialschaltung und Speicherschaltung unterbrechen und auf diese Weise erreichen, dass einerseits - infolge der Entladung der Speicherschaltung- Temperatur-und Langzeiteinflüsse ausgeregelt bleiben und andererseits die während der Münzmessung entstandene hohe Meß-und Regelgrösse zwar zu der Uberwachungsschaltung, aber nicht in die Rückregelung gelangt.device the connection between differential circuit and Memory circuit interrupt and in this way achieve that on the one hand - as a result of the discharge the memory circuit, temperature and long-term influences remain regulated and on the other hand, the high measured and controlled variable produced during the coin measurement to the monitoring circuit, but not in the back regulation.

Ein Schaltungsbeispiel hierzu wird nachfolgend in Abb.4 bebeschrieben.A circuit example for this is described below in Fig.

Eine dritte Ausführungsart des erfindungsgemässen Verfahrens ist dadurch gekennzeichnet, dass man die Differentialschaltung für die Bildung zweier Differenzgrössen aus der Di ferenz zwischen Oszillator-Meßspannung und Referenzspannung ausbildet und die eine Differenzgrösse als Meßgrösse einer Uberwachungsschaltung für die Münzmessung zuführt und die andere Differenzgrösse als Regelgrösse mit Zeitverzögerung für die jeeinflussung der Ausgangsspannung einer Oszillatorschaltung heranzieht.A third embodiment of the method according to the invention is thereby characterized in that one uses the differential circuit for the formation of two differential quantities from the difference between the oscillator measurement voltage and the reference voltage and the one difference variable as a measured variable of a monitoring circuit for the coin measurement and the other difference variable as a controlled variable with a time delay for the depending on the output voltage of an oscillator circuit.

Nach einem Vorschlag der Erfindung kann man die Zeitverzögerung durcti die Verwendung zweier unterschiedloch schneller Differentialschaltungs-Hälften erreichen. Ein Schaltungsbeispiel hierzu wird nac fol Lnd in Abb. beschrieben.According to a proposal of the invention, the time delay can be durcti achieve the use of two different hole faster differential circuit halves. A circuit example for this is described in Fig. According to the following.

ein weiterer Vorschlag ist es, der Differentialschaltungs-Hälfte für die Bildung der Regelgrösse eingangsseitig eine Verzögerungsschaltung vorzuschalten, welche Veränderungen der Oszillator-Meßspannung mit Zeitverzug an den Eingang dieser Differentialschaltungs-Hälfte gelangen lässt. Ein Schaltungsbeispiel hierzuewird nachfolgend in Abb.6 beschrieben.Another suggestion is to use the differential circuit for half the formation of the controlled variable on the input side upstream of a delay circuit, what changes in the oscillator measuring voltage with a time delay at the input of this Differential circuit half can get. A circuit example for this is given described below in Figure 6.

Die Zeitverzögerung kann man auch erreichen, indem man nach einem weiteren Vorschalg der Erfindung der Differentialschaltungshälfte für die Bildung der Regelgrösse ausgangsseitig eine Verzö'gerungs-und Speicherschaltung für die Regelgrösse nachschaltet. Ein ochaltungsbeispill hierzu wird nachfolgend in Abb.7 beschrieben.The time delay can also be achieved by looking for a Another proposal of the invention of the differential circuit half for the formation the controlled variable on the output side a delay and storage circuit for the Downstream controlled variable. A circuit example for this is shown below in Fig.7 described.

Die nachfolgenden Beispiele orheben Keinen @@spruch auf Vollzähligkeit; die G@danken der Erfindung lassen sich mit bekannten Ilitteln der Technik auf vielfache andere Weise verwirklichen. Sei der Beschreibung der Ausführungsbeispiele werden weitere Gedanken der Erfindung offenbart.The following examples do not emphasize completeness; The reasons for the invention can be multiplied with known means of technology realize other way. Be the description of the exemplary embodiments further ideas of the invention disclosed.

Abb.1 beschreibt eine Münzprüfschaltung eines Münzprüfers nach der Erfindung, gek@nnzeichnet, durch ein als selbststeuernde Servo-Regelschaltung ausgebildetes Beeinflussungsglied (5), welches die von der Differentialschaltung (4) gebildete tieß-und Regelgrösse mit einer von einer eferenzspannungsquelle (31) gelieferten deferenzspannung in einer Komparatorschaltung (56/57) vergleicht, wobei festgestellte positive Spannungsabweichungen mit Hilfe eines Taktgenerators (55) ein Stell-und Schaltglied (58) bei jedem Tekt über einen Eingang (561)in die eine Verstellrichtung, festgestellte negative Spannungsabweichungen es ither einen anderen Eingang (571) in die entgegengesetzte Verstellrichtung takten und wobei das Stell-und Schaltglied (58) jeweils nur einen der Widerstände (530-539) eines Widerstandsnetzwerkes schaltet, sodass der betreffende Widerstand die Ausgangsspannung einer Oszillatorschaltung (2) der festgestellten Abweichung entgegenwirkend beeinflusst.Fig.1 describes a coin validator circuit of a coin validator according to the Invention marked by a self-controlling servo control circuit Influence element (5), which is formed by the differential circuit (4) Flow and controlled variable with one supplied by a reference voltage source (31) compares deferential voltage in a comparator circuit (56/57), with established positive voltage deviations with the aid of a clock generator (55) a setting and Switching element (58) at each Tekt via an input (561) in one adjustment direction, detected negative voltage deviations ither another input (571) clock in the opposite direction of adjustment and the actuating and switching element (58) only switches one of the resistors (530-539) of a resistor network, so that the resistor in question is the output voltage of an oscillator circuit (2) counteracts the observed deviation.

Die Teilung des Widerstandsnetzwerkes kann gleichmässig oder ungleichmässig sein und von feinerer oder gröberer Staffelung.The division of the resistor network can be uniform or uneven and of finer or coarser graduation.

Ein Verstell-und Schaltglied lässt sich aus handelsüblichen Bauteilen leicht zusammensetzen, z.B. aus den Typen CD 4017 und MM74C906 der Firma National Semiconductors oder anderer Hersteller.An adjusting and switching element can be made from commercially available components easy to assemble, e.g. from types CD 4017 and MM74C906 from National Semiconductors or other manufacturers.

In Abb. 1 und den übrigen Abbildungen ist die Überwachungsschaltung mit 6 bezeichnet.Solche als Fansterdiskriminatoren bekannte Schaltungen wurden bereits beschrieben und sind auch als handelsübliche Bauteile erhältlich. Aus den Widerstandspaaren 621/622 und 611/612 sind Spannungsteiler gebildet, welche eine obere und eine untere Spannungsgrenze für die Komparatoren 61 und 62 vorgeben. Die Meß-und Regelgrösse wird über @eitung 60 zugeführt und mit den beiden vorgegebenen Spannungsgrenzen verglichen. Ein Exclusiv-ODER-Gatter (65) bildet, ob nur eine Grenze erreicht oder überschritten ist. Seine Signale werden von einer Zähl-und Auswerteschaltun (64) bewertet und diese erze@gt ein Ausgangssignal nur, wenn Gatter 63 nur ein Signal geliefert hatte. IIat Gatter 63 ein Signal oder zwei Signale geliefert, erzeugt die Zähl-und Auswerteschaltung (64) kein Ausgangssignal.In Fig. 1 and the other figures is the monitoring circuit denoted by 6. Such circuits known as fanster discriminators have already been used and are also available as commercially available components. From the resistor pairs 621/622 and 611/612 are voltage dividers formed, which have an upper and a lower Specify the voltage limit for the comparators 61 and 62. The measured and controlled variable will Supplied via line 60 and compared with the two specified voltage limits. An exclusive OR gate (65) determines whether only one limit has been reached or exceeded is. Its signals are evaluated and evaluated by a counting and evaluation circuit (64) this only generates an output signal if gate 63 had only supplied one signal. If gate 63 delivers one signal or two signals, the counting and evaluation circuit generates (64) no output signal.

Das Ausgangssignal der Zähl-und Auswerteschaltung (64) startet ein Zeitglied (65), dessen Ausgangssignal kann abbegriffen und für die Steuerung eines Automaten harangezogen werden.The output signal of the counting and evaluation circuit (64) starts Timing element (65), the output signal of which can be disconnected and used for controlling a Machines can be used.

eine Münze 1 bewegt sich entlang einer nicht dargestellten Führung auf der Linie 10 an aber Meßwicklung 21 einer Oszillatorschaltung (@) vorbei. Die HF-Amplitude der Oszillatorschaltung (2) wird dabei verändert, soadass der Ausgang des Gleichrichters (22) dem Eingang der Differentialschaltung(4) eine veranderte Spannung anbietet. Im Leerlauffalle sei diese Spannung gleich der von der Referenzspannungsquelle (3) gelieferten Referenzspannung. Aus der durch die Münze bewirkten Differenz beider Spannungen bildet die Differentialschaltung (4) eine Meß-und Regelgrösse, deren Betrag gemessen wird und als Kriterium für die Prüfung der Münze dient.a coin 1 moves along a guide, not shown on line 10 but past measuring winding 21 of an oscillator circuit (@). the The RF amplitude of the oscillator circuit (2) is changed so that the output of the rectifier (22) to the input of the differential circuit (4) a changed Offering excitement. In the no-load case, this voltage is the same as that of the reference voltage source (3) supplied reference voltage. From the difference between the two caused by the coin The differential circuit (4) forms a measured and controlled variable whose voltages Amount is measured and serves as a criterion for checking the coin.

Imine Differenz zwischen gleichgerichteter Oszillator-Meßspannung und Referenzspannung (oder eine Abweichung von einem vorgegebenen Spannungsverhältnis zwischen diesen beiden Spannungen) kann sich aber auch im Leerlauf durch Alterungs-und Temperatureinflüsse einstellen. Um diese Differenz zu beseitigen und ideale Verhältnisse für die Münzmessung zu erreichen, wird das Beeinflussungsglied (5) als selbststeuernde Servo-Regelschaltung ausgebildet. Angeno men, die Leerlauf-Differenz zwischen Referenzspannung und Oszillator-Meßspannung sei und solle sein von einer Grösse, die - unter Berücksichtigung des Verstärkungsfaktors der Differentialschaltung (4) - eine Leerlauf-Meß-und-Regelgrösse von 4 Volt ergebe. Die Referenzspann;n squelle für den Komparator (31) ist dann ebenfalls für 4 Voltbausgelegt uUd bei einer ließ-und Regelgrösse von 4 Volt eben die beiden Komparatoren (56/57) kein Ausgangssignal. Der von der iaktschaltung (55) den beiden Gattern (560 und 570) zugeleitete Takt bleibt somit wirkungslos und führt zu keiner Verstellung des Stell-und Schaltgliedes (58). Dieses verbleibt somit - angenommen -in seiner Uittelstellung und schaltet den Widerstand 535, welcher zusammen mit den Widerständen 51 und 52 ein T-Glied zur definierten BeeinIlussung der Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung (2) bildet.Imine difference between rectified oscillator measuring voltage and reference voltage (or a deviation from a predetermined voltage ratio between these two voltages) but can also vary due to aging and idling Adjust temperature influences. To eliminate this difference and ideal conditions To achieve for the coin measurement, the influencing element (5) is called self-regulating Servo control circuit formed. Assume the no-load difference between reference voltage and oscillator measuring voltage is and should be of a size that - taking into account of the gain factor of the differential circuit (4) - an idle measured and controlled variable of 4 volts surrender. The reference voltage source for the comparator (31) is then also designed for 4 volts, possibly with a let and controlled variable of 4 volts, the two comparators (56/57) have no output signal. The one from the The clock circuit (55) fed to the two gates (560 and 570) thus remains ineffective and does not lead to any adjustment of the actuating and switching element (58). This thus remains - assumed - in its middle position and switches the resistor 535, which, together with resistors 51 and 52, defines a T-link Influencing the output voltage of the oscillator circuit (2) forms.

Ergibt sich nun aus Driften von auteilen eine Abweichung beliebiger Art, dann wird die Differentialschaltung (4) eine Meß-und Aegelgrösse bilden, welche grösser oder kleiner als 4 Volt ist. Diese Abweichung führt zum Schalten entweder des Komparators 56 oder des Komparators 57. Angenommen, die Abweichung sei positiv, dann wird das Ausgangssignal von Komparator 5f Gatter 560 vorbereiten und der nächste @akt der Taktschaltung (55) ein Signal auf den Eingang 561 des Stell-und Schaltgliedes (58) bewirken, was zur Abschaltung von Widerstand 535 und zur Schaltung von Widerstand 534 führt. Das nun veränderte T-Glied 51/52/534 bewirkt eine geänderte Beeinflussung der Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung (2), welche der festgestellten Spannungsabweichung entgegenwirkt und diese aufhebt oder vermindert. Ist die Abweichung mit einer einmaligen Verstellung noch nicht aufgehoben, erfolgen weitere Verstellungen so lange, bis Referenzspannung und Oszillator-Meßspannung am Eingang der Differentialschaltung (4) wieder das festgesetzte Spannungsverhältnis zueinander haben, bis also die Ausgangspannung der Differentialschaltung die angenommenen 4 Volt hat und somit auth Komparator 56 keine weiteren Verstellungen mehr vorbereiten kann.If there is now an arbitrary deviation from the drifting of components Type, then the differential circuit (4) will form a measurement and aegel size which is greater or less than 4 volts. This deviation leads to either switching of the comparator 56 or the comparator 57. Assuming that the deviation is positive, then the output of comparator 5f will prepare gate 560 and the next @akt the clock circuit (55) sends a signal to the input 561 of the control and switching element (58) cause resistor 535 to be switched off and resistor to be switched on 534 leads. The now changed T-link 51/52/534 causes a changed influence the output voltage of the oscillator circuit (2), which is the detected voltage deviation counteracts and this cancels or diminishes. Is the deviation with a one-time Adjustment has not yet been canceled, further adjustments are made until Reference voltage and oscillator measuring voltage at the input of the differential circuit (4) have the specified voltage ratio to each other again, until the output voltage the differential circuit has the assumed 4 volts and thus auth comparator 56 cannot prepare any further adjustments.

Bei Abweichungen in der entgegengesetzten Richtung läuft der gleiche Vorgang über Komparator 57, Gatter 570, Eingang 571 und Widerstände 51/52/536 ... 539 ab.If there are deviations in the opposite direction, the same runs Process via comparator 57, gate 570, input 571 and resistors 51/52/536 ... 539.

Da die Servo-Regelsenaltung fortlaufend arbeitet, ist nach Furzer Einschwingzeit ein Zustand erreicht, in dem die Ausgangsspannun der Differentialschaltung (4) stets - wie beispielsweise angenommen - 4 Volt ist.Since the servo control circuit works continuously, according to Furzer Settling time reaches a state in which the output voltage of the differential circuit (4) is always - as assumed, for example - 4 volts.

Da Temperatur-und Langzeiteinflüsse sich nur langsam einstellen und relativ gering sind, wird man navh einem Vorschalt der erfindung den Verstelltakt langsam wählen, sodass dieser möglichst selten mit einer Münzmessung zusammenfallen kann. Höchstens sollte ein erstellakt während einer Münze meßdauer erfolgen, da mit schnellerer Taktfolge die Genauigkeit der Münzmessung zunehmend verfälscht würde. Diese eine mögliche Verstellung des Widerstandsnetzwerkes während einer Münzmessung definiert die Ungenauigkeit, mit der das Verfahren - bedingt lurch die @bstufung des Widerstandsnatzwerkes -behaftet ist. Diese Abstafung sollte deshalb auch möglichst klein sein.Because temperature and long-term influences are slow to adjust and are relatively low, the adjustment cycle will be set with an upstream of the invention choose slowly so that it seldom coincides with a coin measurement can. At most, one creation act should take place during a coin measurement period, since the accuracy of the coin measurement would be increasingly falsified with a faster cycle sequence. This is a possible adjustment of the resistance network during a coin measurement defines the inaccuracy with which the process - due to the @grading of the resistance network is affected. This gradation should therefore also be possible be small.

Abb.2 beschreibt deshalb eine Abwandlung von Abb.1, bei der dieser @@chteil behoben ist0 Eine Schaltungsanordnung, (bestchend aus einer an der Münzlaufbahn angeordneten Meßwieklung 71 eines Oszillators 7 und einer mit diesem verbundener Zeitstufe 72 sowie Verknü fungsgattern 66 und 67) meldet das Herannahen einer ünze an die Meßwicklung und hält diese E!eldun; för die Bauer der Münzmessung aufrecht, wobei sie die Weiterleitung der Verstelltakte der Taktschaltung 55 verhindert.Fig.2 therefore describes a modification of Fig.1 in which this @@ chteil is resolved0 A circuit arrangement (bribing from one on the coin track arranged Meßwieklung 71 of an oscillator 7 and one connected to this Time stage 72 and link gates 66 and 67) reports the approach of a coin to the measuring winding and holds this E! eldun; for the pawns of coin measurement upright, wherein it prevents the forwarding of the adjustment clocks of the clock circuit 55.

Dadurch ist erreicht, dass zunächst eine durch die Referenzspannung definierte stabile Ausgangslage im Leerlauf erzwungen wird und dass andererseits die Münzmessung unbeeinflusst von Fehlern bleibt, die durch eine Verstellung des Widerstandsnetzwerkes während einer Münzmessung eintreten könnten.It is thereby achieved that initially one through the reference voltage defined stable starting position in idle is enforced and that on the other hand the coin measurement remains unaffected by errors caused by an adjustment of the Resistance network could occur during a coin measurement.

Diese Schaltung hat noch den weiteren Vorteil,dass der Verstelltakt sehr schnell sein kann und mit äusserst kurze Einschwingzeiten nach einem ersten Einschalten erreicht werden.This circuit has the further advantage that the adjustment cycle can be very fast and with extremely short settling times after a first Switching on can be achieved.

Die theoretische Ungenauigkeitenmit der diese Fortentwicklung belastet ist, ist lediglich die Temperaturdrift vom Abstellen der Servo-Verstellung bis zur Munzme sung. Bei den sehr gurzen Zeiten von wenigen Millisekunden Kann diese Grösse vernachlässigt werden.The theoretical inaccuracies with which this further development is burdened is only the temperature drift from shutdown the servo adjustment until the coin measurement. With the very short times of a few milliseconds, this can Size can be neglected.

Die Abb.3 und 4 beschreiben Beisciele, bei denen das @ceinflussungsglied (5) eine analoge Speicherschsltung für die Meß-und Regelgrösse enthält.Figures 3 and 4 describe examples in which the influencing element (5) contains an analog storage circuit for the measured and controlled variable.

Abb.3 beschreibt ein Schaltungsbeispiel, bei dem der aus dem Widerstand 541 und dem Komlensator 54 gebildeten Speicherschaltung die von der Differentialschaltung (4) gebildete Meß-und Regelgrösse über einen von dem Taktgencrator (55) rhytmisch betätigten Schalter 552 in solchen Ladestössen zugleitet wird, dass die Speicherschaltung sich entsprechend der für sie gewählten Ladezeitkonstante pro Ladestoss nur um einen bestimmten Spannungsbetrag aufladen kann und das dieser Spannungsbetrag pro Ladestoss grösser ist als die Entladung, die zur Beeinflussung der Ausgangsspannung dr Oszillatorschaltung (2) über das T-Glied 51/52/53 zwischen zwei Ladestössen erfolgt.Fig.3 describes a circuit example in which the resistor 541 and the compensator 54 formed by the differential circuit (4) measured and controlled variable formed by the clock generator (55) rhythmically actuated switch 552 is supplied in such charging surges that the memory circuit according to the charging time constant selected for you per charging burst by only one can charge a certain amount of voltage and this amount of voltage per charge is greater than the discharge that influences the output voltage of the oscillator circuit (2) takes place via the T-link 51/52/53 between two charging bursts.

Die Bezeichnungen entsprec11en im übrigen denen in Abb.1.The designations otherwise correspond to those in Fig. 1.

Angeno men, die Leerlauf-Oszillator-Meßspannung ohne Nachregeltung betrage 10 Volt. Dann wird man für die Referenzspannungsquelle (3) eine geringfügig höhere Referenzspannung wahlen und so erreichen, dass bei einem bestimmten Verstärkungsfaktor der Differentialschaltung (4) diese eine Leerlauf-Meß-und Regel grösse von - angenommen - 4 Volt bildet. Kondensator 54 lädt sich schubweise ebenfalls auf 4 Volt auf und das T-Glied 51/52/53 ist X so bemessen, dass sich bei diesem Zustand eine solch definierte Beeinflussung der Oszillatorschaltung 2 ergibt, das deren Ausgangsspannung gleich 10 Volt sei. Der ideale Leerlaufzustand ist also gekennzeichnet durch ein festgesetztes Spannungsver -hältnis iwischen Referenzspannung und Oszillator-Meßspannung. #von 10 Volt sowie eine Leerlauf-Meß-und Regelgrösse von 4 Volt.Assume that the no-load oscillator measuring voltage without readjustment is 10 volts. A slightly higher reference voltage will then be selected for the reference voltage source (3) and achieved in such a way that, given a certain gain factor of the differential circuit (4), this forms an open-circuit measurement and control variable of - assuming - 4 volts. Capacitor 54 is also charged in bursts to 4 volts and the T element 51/52/53 is dimensioned such that in this state there is such a defined influence on the oscillator circuit 2 that its output voltage is equal to 10 volts. The ideal no-load condition is thus characterized by a fixed voltage ratio between the reference voltage and the oscillator measuring voltage. # of 10 volts and an idle measurement and control variable of 4 volts.

Wenn nun Driften eine Verringerung dieser Amplitude von 4 Volt bewirken,dann verringert sich auch die Ladung des Kondensators und damit die @eeinflussung der Oszilla@orschaltung: deren @F-Amplitud@ wird sich vermindern, die Oszillator-Meßspannung wird wieder eine grössere negative Abweichung von der Referenzspannung bekommen und demzufolge wird die Meß-und Regelgrösse wieder zu dem vorgesehesen ldealwert von 4 Volt zurückkehren. If now drifting a decrease in this amplitude of 4 volts effect then the charge of the capacitor and thus the influence of the Oscillator circuit: whose @ F-Amplitud @ will decrease, the oscillator measuring voltage will again get a larger negative deviation from the reference voltage and consequently the measured and controlled variable becomes the intended ideal value again return from 4 volts.

Wachst infolge von Driften die Amplitule der ließ-und tegelgrösse über 4 Volt, an lddt sieh der Kondensator schubweise n.lt auf und vers-tarPt damit die Beeinflussung der Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung, sodass deren Amplitude wachs und sich die Differenz zwischen Referenzspannung und Oszillator-Meßspannung vermindert, also die Amplitude der @eß-und Regelgrösse wieder auf den Sollwert von 4 Volt h Ln abfällt.As a result of drifting, the amplitude of the size of the limbs and tegel increases Above 4 volts, the capacitor loads up in batches and cams with it influencing the output voltage of the oscillator circuit, so that its amplitude grow and the difference between the reference voltage and the oscillator measurement voltage decreased, so the amplitude of the ß and controlled variable back to the setpoint of 4 volts h Ln drops.

Alle denkbare@ Temperatur-und @angzeiteinflüsse werden auf diese Weise ausgeregelt, wobei die Leerlauf-Meß-und Regelgrösse um den Wert von - angeno men - 4 Volt herum pendelt, und zwar umso genauer, je kürzer die Taktfolge und die Schliesszeiten des Kontaktes 552 sind. Da die erwähnten Einflüsse jedoch langsam verlaufen, kann man unter Benutzung einet entsprechend kurzen Ladezeitkonstante und einer langen Entladezeitkonstante den at so langsam wsihden, dass möglichst selten eine Schliesszeit des Kontaktes 552 in eine Müzmessung fällt. Der Spannungsbetrag, um den sich der Kondensator 54 pro Ladestoss maximal aufladen kann ist also die Unsicherheit, mit der die Genauigkeit der Münzmessung behaftet ist. Es ist erforderlich, dass dieser Spannungsbetrag pro Ladestoss grösser ist als die Entladung, wie sie zwischen zwei Ladestössen zur beeinflussung der Oszillatorschaltung (2) über das T-Glied 51/52/53 abfliesst. Widerstand 541 muss also sehr klein sein gegenüber Widerstand 53; man erreicht dadurch eine definierte Steilheit der Ladekurve des Kondensators 54 (d.h. eine schnelle Ladung mit in Abhängigkeit von der Schliesszeit des Kontaktes 552 definierten Aufladestössen) und gleichzeitig eine flach verlaufende Entladekurve Werln nun eine @ünze die Oszillatorschaltung (2) relativ schnell uiid starli beeinflusst, die Differentialschaltung (4) also eine hohe Meß-und Regelamplitude bewirkt, dann kann nur ein sehr kleiner Teil dieses Spaiinungsbetrages im ungünstigsten alle zur Nachregelung der Oszillatorschaltung (2) gelangen, weil einerseits die Schliesszeit des Kontaktes 552 und die Ladezeitkonstante des Kondensators 54 die Aufladung und andererseits die Entladezeitkonstante des Kondensators 54 die Nachregelung definiert begrenzen.All conceivable @ temperature and @ time influences are in this way regulated, with the idle measured and controlled variable by the value of - assumed - 4 volts oscillates around, and the more precisely, the shorter the cycle sequence and the closing times of contact 552 are. However, since the influences mentioned run slowly, using a correspondingly short charging time constant and a long one Discharge time constant the at wsihden so slowly that a closing time as seldom as possible of contact 552 falls into a Müz measurement. The amount of tension that the Capacitor 54 can charge maximum per charge impulse is therefore the uncertainty with which affects the accuracy of the coin measurement. It is required that this Amount of voltage per charge surge is greater than the discharge as it is between two Charging surges to influence the oscillator circuit (2) via the T-element 51/52/53 drains. Resistor 541 must therefore be very small compared to resistor 53; man thereby achieves a defined steepness of the charging curve of the capacitor 54 (i.e. a quick charge depending on the closing time of the contact 552 defined charging bumps) and at the same time a flat one Discharge curve If the oscillator circuit (2) is now influenced relatively quickly and severely, the differential circuit (4) thus causes a high measurement and control amplitude, then can only use a very small part of this savings amount in the worst case Readjustment of the oscillator circuit (2), because on the one hand the closing time of the contact 552 and the charging time constant of the capacitor 54 the charging and on the other hand, the discharge time constant of the capacitor 54 defines the readjustment limit.

Folglich wird die HF-Amplitude an der Meßwicklung einsinken, in Abhängigkeit von dem Sinfluss, den die Münze auf das Wechselstromfeld ausübt. Die Abweichung der Mef3-und Regelgrösse von einem Sollwert - von angenommen 4 Volt - drückt also direkt proportional den Einfluss der Münze aus, der in der Überwachungsschaltung gemessen wird.As a result, the RF amplitude at the measuring winding will decrease, depending on of the sin flux exerted by the coin on the alternating current field. The deviation the Mef3 and controlled variable from a setpoint value - assumed 4 volts - thus presses directly proportional to the influence of the coin that is in the monitoring circuit is measured.

Abb.4 verwendet die gleichen Bezeichnungen wie Abb.3 und stellt eine geringfügige Abwandlung dieser Schaltung dar.Fig.4 uses the same designations as Fig.3 and represents a is a slight modification of this circuit.

Ein Meldeschalter (7,71) meldet das herannahen einer Münze, hält mit Hilfe eines von ihm angesteuerten eitgliedes (72) diese Meldung eine bestimmte Zeitaufrecht und öffnet mittels des Schalters 731 für mindestens eine halbe Durchlaufzeit der Münze durch die Meßsonde die Verbindung zwischen Differentialschaltung (4) und Speicherschaltung (54/541). Kapaität und Entladezeitkonstante der Speicherschaltung sind so bemessen, dass die Beeinflussung der Oszillatorschaltung (2) über das T-Glied 51/52/53 auf dern gleichen Niveau gehalten wird, wie es vor Auftrennung der Verbindung anstand. Durch die unveränderte Nachregelung bleiben die Langzeiteinflüsse auch während der Münzmessung ausgeregelt und die HF-Amplitude wird sich infolge des Einflusses der Münze entsprechnd verändern; die kurzfristige Abweichung der Meß-und Regelgrösse während der Münzmessung von dem Sollwert von - angenommen - 4 Volt drückt unverfälscht den Münzeinfluss aus und kann in der Überwachungsschaltung zur Münzprüfung gemessen werden0 @an @nn die Verbindung zwischen Di@@erentialschaltung (4) und überwachungsschaltung (6) dauernd bestehen lassen oder nach einem weiteren Vorschlag der Erfindung mittels eines wei@eren Schalters 732 während der zeit herstellen, während welcher Schalter 731 die Verbindung zwischen Differentialschaltung (4) und Speicherschaltunf (54/541) auftrennt.A signaling switch (7,71) reports the approach of a coin and keeps up with it With the help of a member (72) controlled by him, this message is maintained for a certain period of time and opens the by means of switch 731 for at least half a cycle time Coin through the measuring probe the connection between the differential circuit (4) and the memory circuit (54/541). The capacity and discharge time constant of the memory circuit are dimensioned in such a way that that the influence of the oscillator circuit (2) via the T-element 51/52/53 which is maintained at the same level as it was before the connection was broken. Due to the unchanged readjustment, the long-term influences also remain during the Coin measurement is regulated and the RF amplitude will vary as a result of the influence of the Change coin accordingly; the short-term deviation of the measured and controlled variable during the coin measurement from the nominal value of - assuming - 4 volts presses unadulterated the influence of coins and can be measured in the monitoring circuit for coin checking will be0 @an @nn the connection between di @@ erential circuit (4) and let the monitoring circuit (6) persist or after a further suggestion the invention by means of a further switch 732 during the time during which switch 731 the connection between differential circuit (4) and Storage switch (54/541) disconnects.

@@ @@ese Weise vermeidet man zufällige Messunge hoher Amplituden der Meß-und @egelgrösse, wie sie sich bei einem ersten Einschalten während der Einschwingperiode einstellen @önnen.@@ @@ in this way one avoids accidental measurements of high amplitudes of the Measurement and control variable, as they are when switched on for the first time during the settling period set @ can.

Abb. 5 bis 7 beschreiben Schaltungsbeispiele, bei denen die Differentialschaltung (4) aus zwei Diiferentialschaltungs-Hälften 41 und 42 besteht, wobei die eine Hälfte aus der Di@@erenz zwischen Keferenzspannung und Oszillator-Meßspannu@@e@@ Differenzgrösse b@ldet, welche als Meßgrösse der @berw@chun@sse@altung (6) zugeführt wird, während die andere H@lfte@e @nfalls aus der Differenz zwischen @eferenzspannung un@@ szillator-Meßspannung eine Differenzgrösse bildet, welene zeitverzögert als Regelgrösse über ein Beeinflussungsglied @@r beeinflussung der Ausgangsspannung einer Oszillatorsesaltung (2) herzngezogen wird. Die Referenzspannung kann für beide Differentialsch@itungs-Hälften gleich sein oder unterschiedlich. Auch können die Verstärkungsfaktoren für @@@der @@ @erentialschaltungs-Hä@ften gleich oder unterschiedlien sein. Wesentlich ist die Zeitverzögerung, die auf unterschiedliche Weise erreicht werden kann. Hierzu werden drei @eispiele beschrieben: Abb. 5 zeigt ein erstes Beispiel und verwendet die gleichen Bezeichnungen wie die überigen Abbildungen.Fig. 5 to 7 describe circuit examples in which the differential circuit (4) consists of two differential circuit halves 41 and 42, one half of which from the difference between the reference voltage and the oscillator measurement voltage b @ ldet, which is supplied as a measured variable to @ berw @ chun @ sse @ aging (6) while the other half, if any, from the difference between the reference voltage and the scillator measurement voltage forms a difference variable, which is delayed as a controlled variable via an influencing element @@ r influencing the output voltage of an oscillator circuit (2) drawn will. The reference voltage can be the same for both halves of the differential be or different. The gain factors for @@@ can also increase the @@ @ erential circuit halves be the same or different. What is essential is the time delay, which is different Way can be achieved. Three examples are described for this purpose: Fig. 5 shows a first example and uses the same terms as the figures above.

Die für die Bildung der Regelgrösse benutzte hälfte 41 der Differentialschaltung 4 arbeitet 'angsamer als die andere Hälfte42, welche die @eßgrösse liefert. Unterschiedlich schnelle Differentialschaltungen sind handelsüblich erhältlich, bspw.könnte man für die Bildung der Meßgrösse den sch@ellen) Operationsverstärker LM 260 der Firma National Semiconductors Verwenden und für die Sildung der @egeig@@sse den (langsameren) Typ LM 741 der gleichen Firma. Anch lassen sich durch bekannte Schaltungsmassnahmen beliebige Differentialschaltungen verlangsamen.The half 41 of the differential circuit used to generate the controlled variable 4 works more slowly than the other half42, which supplies the size. Different fast differential circuits are commercially available, e.g. one could for the formation of the measured variable the quick) operational amplifier LM 260 from the company National Semiconductors use and for the formation of @ egeig @@ sse the (slower) type LM 741 from the same company. Also let yourself be known by known Circuit measures slow down any differential circuits.

Abb.6 zeigt die gleiche nordnun; it zwei etwa gleich schnellen Differentialschaltungs-Hälften innerhalb der Differentialschaltung 4. Jedoch ist der für die Bildung der Regelgrösse benutzten Hälfte 41 eine Verzögerungsschaltung 410 vorgeschaltet, (weReWbes~teheßd aus dem Widerstand 412 und dem Kondensator 411), welche Veränderungen der Oszillator-Meßspannung mit Verzögerung an den Eingang der Differentialschaltungs-Hälfte 41 gelangen lässt und damit bewirkt, dass nur die langandauernden Veränderungen durch @angzieteinflüsse ausgeregelt werden, nicht jedoch die kurzzeitigen Veränderungen infolge eines Münzendurchlaufs.Fig.6 shows the same north now; it two roughly equally fast differential circuit halves within the differential circuit 4. However, the half 41 used to generate the controlled variable is preceded by a delay circuit 410, (weReWbes ~ teheßd from the resistor 412 and the capacitor 411), which allows changes in the oscillator measurement voltage to reach the input of the differential circuit half 41 with a delay and thus ensures that only the long-term changes due to angular influences are corrected, but not the short-term changes as a result of a Coin pass.

Abb.7 zeigt eine weitere Variante mit etwa gleich schnellen Differtialschaltungs-Hälften innerhalb der Differentialschaltung 4. Jedoch ist der für die Bildung der Regelgrösse benutzten Hälfte 41 eine Verzögerungs-und Spoicherschaltung ausgangsseitig nachgeschaltet (bestehend aus dem Widerstand 541 und dem Kondensator 54),weiche Veränderungen der meß-und Regelgrösse mit Verzögerung über das T-Glied 51/52/53 an die Oszillatorschaltung 2 gelangen lässt und damit ebenfalls bewirkt, dass nur längerdauernde Einflässe ausgere elt werden.Fig. 7 shows another variant with roughly equally fast differential circuit halves within the differential circuit 4. However, that is for the formation of the controlled variable half 41 used a delay and memory circuit connected downstream on the output side (consisting of the resistor 541 and the capacitor 54), soft changes in the Measured and controlled variable with delay via the T element 51/52/53 to the oscillator circuit 2 and thus also causes only longer-lasting inflows be elected.

L e e r s e i t eL e r s e i t e

Claims (24)

Patentansprüche Verfahren zur Prüfung von Münzen, bei dem man die zu prüfende Münze durch das geregelte Weohselstromield einer Meßspule bewegt und aus der Differenz zwischen einer Referenzepannung und der Oszillator-Meßspannung mittels einer Differentialschaltung eine Meß-und Regelgrösse bildet, die über ein die Ausgangsepannung einer Oszillatorschaltung beeinflussendes Besinflussungsglied die Oszillator-Meßspannung bis zu einem festgesetzten Spannungsverhältnis zwischen Referenzspannung und Oszillator-Meßspannung nachregelt, und bei dem man die Meß-und Regelgrösse als Kriterium bei der Prüfung der Münze in der Weise heranzieht, dass man mittels einer Überwachungsschaltung feststellt, ob diese Regelgrösse einen innerhalb einer oberen und unteren Grenze gelegenen Wert erreicht hat,'nach Patent Nr. (Patentanseldung P 25 46 685.7), d a d u r o h g k e n n 8 e i o h n e t , dass man eine zusätzliche Nachregelung der Oszillatorschaltung zur Ausregelung von Temperatur- und Langzeiteinflüssen durchführt, wobei man ungeachtet der infolge des Einflusses einer Münze auf das Wechselstromfeld kurzfristig entstehenden und der Überwachungsschaltung zugeführten hohen Meß-und Regelgrösse während der Münsmessung keine oder nur eine begrenzte Veränderung in der Nachregelung der Oszillatorschaltung eintreten lässt und diese Nachregelung ozit während der Münsiessung im wesentlichen auf dem Niveau halt, das sie vor Beginn der Münzmessung hatte. A method for testing coins in which the The coin to be tested moves through the regulated Weohselstromield of a measuring coil and from the difference between a reference voltage and the oscillator measurement voltage by means of a differential circuit forms a measured and controlled variable, which via a influencing element influencing the output voltage of an oscillator circuit the oscillator measuring voltage up to a fixed voltage ratio between The reference voltage and the oscillator measuring voltage are readjusted, and in which the measuring and Uses the controlled variable as a criterion when checking the coin in such a way that a monitoring circuit is used to determine whether this controlled variable is within has reached an upper and lower limit, 'according to patent no. (patent application P 25 46 685.7), d a d u r o h g k e n n 8 e i o h n e t that one additional Readjustment of the oscillator circuit to compensate for temperature and long-term influences notwithstanding the effects of a coin on the Alternating current field arising briefly and fed to the monitoring circuit high measured and controlled variable during the coin measurement, none or only a limited one Changes in the readjustment of the oscillator circuit can occur and this Readjustment of ozit during the munching essentially at the level that she had before starting the coin measurement. 2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e @ e n n z e 1 c h -n e t , dass man die Ausgangspannung der Oszillatorschaltung über ein als selbststeurnde Servo-Regelschaltung ausgebildetes Beeinflussungoglied beeinflusst, welches Abweichungen von einem vorgegebenen konstanten Spannungsverhältnis zwischen der Referenzspannung und der Leerlauf-Ossillator-Meßspannung feststellt und mittels einer ihr zugeordneten Taktschaltung sowie eines Stellgliedes, zum Beispiel eines Vorwärts-/Rückwärts-Zählers, ein im Beeinflussungsglied enthaltenes Widerstandsnetzwerk so schaltet, dass die Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung schrittweise einer feetgestellten Abweichung entgegenwirkend beeinflusst wird.2. The method according to claim 1, d a d u r c h g e @ e n n z e 1 c h -n e t that one can use the output voltage of the oscillator circuit as a self-controlling one Servo control circuit designed influencing element influences which deviations of a predetermined constant voltage ratio between the reference voltage and the no-load ossillator measurement voltage and by means of a its associated clock circuit and an actuator, for example an up / down counter, a resistor network contained in the influencing element switches so that the Output voltage of the oscillator circuit in steps of a set deviation is counteracted. 3. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t , dass man die Servo-Regelschaltung fortwährend arbeiten lässt und dabei einen so langsamen Takt und eine so kleine schrittweise Abstufung im Widerstandsnetzwerk verwendet, dass während einer Münzmessung höchstens ein Verstelltakt erfolgt und im Falle eines Zusammentreffens von Münzmessvorgang und Verstelltakt die durch die Schaltung des Widerstandsnetzwerkes bedingte Veränderung der Meß-und Regelgrösse gleich oder kleiner ale ein vorbestimmter tolerierbarer Wert ist.3. The method according to claim 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t that you let the servo control circuit work continuously and thereby such a slow cycle and such a small incremental gradation in the resistor network used that during a coin measurement there is at most one adjustment cycle and in the event of a coincidence of the coin measuring process and the adjustment cycle, the Switching of the resistor network caused a change in the measured and controlled variable is equal to or less than a predetermined tolerable value. 4. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t , dass man mittels einer das Herannahen einer zu prüfenden Münze an das Wechselstromfeld der Meßspule feststellenden Schalteinheit die Servoverstellung der Regelsthaltung während des Münzprüfvorganges unterbindet.4. The method according to claim 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h -n e t that one means of approaching a coin to be tested to the alternating current field the switching unit that detects the measuring coil, the servo adjustment of the control system prevented during the coin checking process. 5. Verfahren nach Anspruch 1 , d a d u r c h g e k e n n z e i c hn e t , dass man ein Beeinflussungsglied verwendet, das mit eSner für die zugeleitete Meß-und Regelgrösse bestimmten analogen Speicherschaltung versehen ist.5. The method of claim 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c hn e t that one uses an influencing element that is sent with eSner for the Measurement and control variable specific analog memory circuit is provided. 6. Verfahren nach Anspruch 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c hn e t , dass man die von der Differentialschaltung gebildete Meß-und Regelgrösse über einen Schalter in bestimmten Zeitabständen jeweils nur während einer so kurzen Zeitdauer der Speicherschbltung des Beeinflussungsgliedes zuführt, dass die Speicherschaltung sich entsprechend der gewählten Ladezeitkonstante nur um einen bestimmten Spannungsbetrag aufladen kann, und zwar derart, dass der Spannungsbetrag pro Ladeetoß grösser ist als die zur Beeinflussung der Ausgangs spannung der Oszillatorschaltung dienende Sntladung in der zwischen zwei Isdestdos n liegenden Zeitiu r.6. The method according to claim 5, d a d u r c h g e k e n n z e i c hn e t that the measured and controlled variable formed by the differential circuit can be used a switch at certain time intervals only during such a short period of time the memory circuit of the influencing element supplies that the memory circuit according to the selected charging time constant only by a certain amount of voltage can charge, in such a way that the amount of voltage per charge is greater than the one used to influence the output voltage of the oscillator circuit Discharge in the time between two Isdestdos n. 70 Verfahren nach Anspruch 5, d d u r c h g e k e n n z e i c hn e t , dass man im Leerlaufzustand die Speicherschaltung mit dem Ausgang der Differentialschaltung verbunden lässt, sodass der Ladezustand der Speicherschaltung von der ihr zugeführten Meß-und Regelgrösse bestimmt ist, dass man mittels einer das Herannahen einer zu prüfenden Münze an das Wechselstromfeld der KeßspuBe feststellenden Schalteinheit während der Münze messung die Verbindung zwischen der Differentialschaltung und der Speicherschaltung zeitweise unterbricht, und eine Speicherschaltung verwendet, deren Kapazität und Entladungazeitkonstante so bemessen sind, dass sich die Beeinflussung der Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung - d.h.die Nachregelungauch bei Unterbrechung der Verbindung zwischen der Differentialschaltung und der Speicherschaltung für die Zeitdauer von mindestens einer halben Münzmeßzelt auf dem vor der Trennung vorhandenen Niveau hält.70 The method according to claim 5, d u r c h e k e n n n e i c hn e t that one in the idle state the memory circuit with the output of the differential circuit can be connected, so that the state of charge of the memory circuit is supplied by it The measured and controlled variable is determined to be approached by means of a checking coin to the AC field of the KeßspuBe detecting switching unit during the coin measurement the connection between the differential circuit and the memory circuit is temporarily interrupted, and a memory circuit is used, whose capacity and discharge time constant are dimensioned in such a way that the influence the output voltage of the oscillator circuit - i.e. readjustment even in the event of an interruption the connection between the differential circuit and the memory circuit for the period of at least half a coin meter on the one existing before the separation Level. 8. Verfahren nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c hn e t , dass man eine Schalteinheit verwendet, welche auch die Verbindung zwischen der Differentialschaltung und der Überwachungsschaltung schaltet, derart, dass man mit ihr abwechselnd jeweils nur eine der beiden Verbindungen herstellt.8. The method according to claim 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c hn e t that a switching unit is used, which is also the connection between the differential circuit and the monitoring circuit switches in such a way that one alternately only establishes one of the two connections with it. 9. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i chn e t , dass man eine Differentialschaltung verwendet,welche für die Bildung zweier Differenzgrössen aus der Differenz zwischen Oszillator-Meßspannung und Referenzepannung ausgebildet ist, und die eine Differenzgrösse als Meßgrösse der Überwachungsschaltung und die andere Differenzgrötse gegenüber der ersten Differenzrösse mit Zeitverzug als Regelgrösse dem Beeinflussungsglied zuführt.9. The method of claim 1, d a d u r c h g e k e n n z e i chn e t that one uses a differential circuit, which for the formation of two Difference values from the difference between the oscillator measurement voltage and the reference voltage is formed, and the one difference variable as a measured variable of the monitoring circuit and the other difference variable compared to the first difference variable with a time delay supplies the influencing element as a controlled variable. lo, Verfahren nach Anspruch 9, d a d u r c h g e k e n n z e i ohn e t , dass man die Zeitverzögerung der zweiten Differenzgrösse gegenüber der ersten Differenzgrösse durch die Verwendung einer zwei unterschiedlich schnell arbeitende Differentialschaltungshälften aufweisenden Differentialschaltung bewirkt.lo, method according to claim 9, d u r c h g e n n z e i without e t that the time delay of the second difference variable compared to the first Difference size through the use of two working at different speeds Differential circuit halves having differential circuit causes. 11. Verfahren nach Anspruch 9, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass man die Zeitverzögerung der zweiten :L3ifferenzgrösse gegenüber der ersten Differenzgrösse bewirkt, indem man dem für die Bildung der Regelgrösse bestiTnmten eil der Differentialschaltung eingangsseitig eine Verzögerungsschaltung vorschaltet.11. The method according to claim 9, d a d u r c h g e k e n n -z e i c N e t that one can determine the time delay of the second: L3difference variable compared to the The first difference is caused by determining that for the formation of the controlled variable A delay circuit is connected upstream of the differential circuit on the input side. 12. erfahren nach Anspruch 9, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass man die Zeitverzögerung der zweiten Differenzgrösse bewirkt, index man dem für die Bildung der RegelgIösse bestimmten Teil der Differentialschaltung ausgangsseitig eine Verzögerungs- und Speicherschaltung nachschaltet.12. experience according to claim 9, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that the time delay of the second difference variable is caused, index that part of the differential circuit determined for the formation of the control variable A delay and memory circuit is connected downstream on the output side. 13. Münzprüfer zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit einer Schaltungsanordnung mit mindestens einem durch eine Regelgrösse über ein Beeinflussungsglied ansteuerbaren und derart beeinflussbaren Oszillator, dass die Oszillatoramplitude entsprechend der Regelamplitude am Eingang des Oszillators ohne Verzerrung regelbar und der Arbeitspunkt der Oszillatorschaltung bzw.des verstärkenden Transistors derselben, mittels einer Referenzspannung stabilisiert ist; einer Differentialschaltung, welche die 0Seß-und Regelgrösse aus der Differenz dieser Oszillator-Meßspannung sowie der Referenzspannung bildet und durch eine Rückkopplung iiber das Beeinflussungsglied den mit einer Meßspule verbundenen Oszillator so beeinflusst, dass im Leerlauf-2alle die Osziilator-Meßspannung bis zu einem festgesetzten Spannungsverhältnis zwischen der Oszillator-Meßspannung dnd der Referenzspannung nschgeregelt wird; sowie einer Auswertschaltung,welche die durch den Einfluss einer Münze auf das Wechselstromfeld der Meßspule bewirkte Meß-und Regelgrösse der Differentialschaltung mit einem vorgegebenen, einen unteren und einen oberen Schwellenwert aufweisenden Potentialfenster vergleicht und die Münze annimmt, wenn die Amplitude der Meß-und degelgrösse innerhalb des Potentialfiensters liegt oder gelegen hat, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Schaltungsahordnung mit Mitteln ( 55,56,58,530-539) zur zusätzlichen Hachregelung der Oszillatorschaltung (2)zur Ausregelung von Demperatur-und Langzeiteinflüssen versehen ist, welche derart ausgebildet sind, dass ungeachtet der infolge des Einflusses einer Münze (1) auf dcLS Wechselstromfeld der Meßspule (21) kurzfristig zugeführten hohen Meß-ung iRegelgrösse während der Münzmessung keine oder nur eine begrenzte Veränderung in der zusätzlichen Nachregelung der Oszillatorschaltung (2) &aiEritt,
und diese zusätzliche Nachregelung somit während der Münzmessung im wesentlichen auf dem Niveau verbleibt, das sie vor Beginn der Münzmessung hatte.13. Coin validator for performing the method according to claim 1, with a circuit arrangement with at least one oscillator controllable by a controlled variable via an influencing element and influenceable in such a way that the oscillator amplitude can be controlled according to the control amplitude at the input of the oscillator without distortion and the operating point of the oscillator circuit or the amplifying transistor thereof, is stabilized by means of a reference voltage; a differential circuit which forms the measured and controlled variable from the difference between this oscillator measurement voltage and the reference voltage and, through feedback via the influencing element, influences the oscillator connected to a measurement coil in such a way that, when idling, all the oscillator measurement voltage up to a fixed voltage ratio nsch is regulated between the oscillator measurement voltage and the reference voltage; and an evaluation circuit which compares the measured and controlled variable of the differential circuit caused by the influence of a coin on the alternating current field of the measuring coil with a predetermined potential window having a lower and an upper threshold value and accepts the coin if the amplitude of the measured and degel variable is within of the potential servicer is or has been located, characterized in that the circuit arrangement is provided with means (55,56,58,530-539) for additional high-level control of the oscillator circuit (2) for regulating temperature and long-term influences, which are designed in such a way that regardless of the Due to the influence of a coin (1) on the DCLS alternating current field of the measuring coil (21), the high measurement value supplied briefly during the coin measurement, no or only a limited change in the additional readjustment of the oscillator circuit (2) & aiEritt,
and this additional readjustment thus remains essentially at the level that it had before the start of the coin measurement during the coin measurement. 14. Münzprüfer nach Anspruch 13, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass er ein als selbststeuernde Servo-Regelschaltung ausgebildetes Beeinflussungsglied mit einer Komparatorschaltung (56/57), welche die Meß-und Regelgrösse mit einer Referenzspannung vergleicht, einem mit der Ausgangsseite der Komparatorschaltung (56/57) verbundenen 3tell-und 3 :1Iiltglied (58), einem von letzterem geschaltetem Widerstandsnetzwerk (530-539), sowie einem zwischen der Komparatorschaltung und dem Stell-und Schaltglied eingeschalteten Taktgenerator (55), aufweist, und die Schaltung derart ist, dass von der Komparatorschaltung festgestellte positive Abweichungen der Meß-und Regelgrösse von der Referenzspannung mit Hilfe des Taktgene rators (55) das Stell-und Schaltglied (58) über einen ersten Eingang (561) in die eine Verstellrichtung, festgestellte negative Abweichungen mit Hilfe des iaktgenerators (55) das Stell-und Schaltglied (58) über einen zweiten Einfang (571) in die entgegengesetzte Verstellrichtung taktes, und das Stell-und Schaltglied (58) jeweils andere Widerstande des Widerstandsnetzwerkes (530-539) durchschaltet, und die durchgeschalteten Widerstände die Ansgangsspannung der Oszillatorschaltung (2) der festgestelten Abweichung entgenwirkend beeinflussen.14. Coin validator according to claim 13, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that it is an influencing element designed as a self-controlling servo control circuit with a comparator circuit (56/57), which the measured and controlled variable with a Reference voltage compares one with the output side of the comparator circuit (56/57) connected 3-part and 3: 1-element (58), one connected by the latter Resistor network (530-539), as well as one between the comparator circuit and the control and switching element switched on clock generator (55), and the The circuit is such that positive deviations detected by the comparator circuit the measured and controlled variable from the reference voltage with the aid of the clock generator (55) the actuating and switching element (58) via a first input (561) in one adjustment direction, detected negative deviations with the help of the iaktgenerators (55) the actuating and Switching element (58) via a second catch (571) in the opposite direction of adjustment clock, and the actuating and switching element (58) each have other resistors of the resistor network (530-539) turns on, and the connected resistors the output voltage the oscillator circuit (2) counteract the determined deviation. 15. Münzprüfer nach Anspruch 13 und 14, d a d u r c h g e k e n nz e i c h n e t , dass die laktgeschwindigkeit des kontinuierlich arbeitenden @aktgenerators (55) langsam und die Widerstandsabstufung im Widerstandsnetzwerk (530-539) so klein gewählt sind, dass während einem einzelnen Münzmeßvorgang hächstens ein Verstelltakt erfolgt und im Falle eines Zusammentreffend von Verstelltakt und Nünzmeßvorgang die durch die Schaltung des Widerstandshetzwerkes (530-539) bedingte Veränderung der Meß-und Regelgrösse innerhalb eines zulässi en Toleranzbereiches bleibt.15. Coin validator according to claim 13 and 14, d a d u r c h g e k e n nz e i c h n e t that the lactating speed of the continuous working @aktgenerators (55) slowly and the resistance gradation in the resistor network (530-539) are chosen so small that during a single coin measuring process the maximum an adjustment cycle takes place and in the event of a coincidence of adjustment cycle and Nünzmeßvorgang caused by the switching of the resistance network (530-539) Change of the measured and controlled variable within a permissible tolerance range remain. 16. @ünzprüfer nach Anspruch 14, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass er mit einer das Ilerarniahen einer zu prüfenden Münze an das wechselstromfeld der Meßspule (21) feststellenden Schalteinheit (7,71) versehen ist, welche die Verstellung des Stell-und Schaltgliedes (58) während der Münzmessung unterbindet.16. @ ünzprüfer according to claim 14, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that he was using a coin to be tested to connect to the alternating current field the measuring coil (21) detecting switching unit (7,71) is provided, which the adjustment of the actuating and switching element (58) during the coin measurement. 17. Münzprüfer nach Anspruch 13, d a d @ r c h g e k e n n -e e i c h n e t , dss das Beeinflussungsglied (5) eine analoge Speicherschaltung für die zugeleitete Meß-und Regelgrösse aufweist.17. Coin validator according to claim 13, d a d @ r c h g e k e n n -e e i c h n e t, dss the influencing element (5) an analog memory circuit for the Has supplied measured and controlled variable. 18. Münzprüfer nach Anspruch 17, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass zwischen der Differentialschaltung (4) und der Speiiherschaltung (54, 541) ein Schalter (552) angeordnet ist, welcher die von der Differentialschaltung (4) geblldete Meß-und Regelgrösse in bestimmten Zeitabständen jeweils nur während einer so kurzen Zeitdauer der Speicherschaltung (54, 541) zuführt, dass die letzere sich entsprechend der gewählten Ladezeitkonstante nur um einen bestimmten Spannungsbetrag aufladen kann, und zwar derart, dass der Spannungsbetrag grösser ist als die zur beeinflussung der Ausgangsspannung der Oszillatorschaltung (2) dienende Entladung in der eit zwischen zwei Ladestössen.18. Coin validator according to claim 17, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that between the differential circuit (4) and the storage circuit (54, 541) a switch (552) is arranged, which the of the differential circuit (4) Displayed measured and controlled variables at specific time intervals only during supplies such a short period of time to the memory circuit (54, 541) that the latter according to the selected charging time constant only by a certain amount of voltage can charge, in such a way that the amount of voltage is greater than that for influencing the output voltage of the oscillator circuit (2) serving discharge in the time between two charging spikes. 19. Münzprüfer nach A spruch 17, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass zwischen der Differentialschaltung (4) unJ der Speicherschaltung (54, 511) ein mit einer das Herannahen einer zu prüfenden @ünze an das wechselstromfeld der Iießspule (21) feststellenden Schalteinheit (7, 71) verbundener Schalter (7,1) an eordnet ist, derart, dass im Leerlaufzustand die Speicherschaltung (54,541) mit dem Ausgang der Differentialschaltung (4) verbunden b ist,
sodass der ladezustand der Speicherschaltung (54,541) von der ihr zugeführten Meß-und Regelgrösse bestimmt ist, dass die Schalteinheit (7, 71) während der Münz@essung die Verbindung zwischen der Differentialschaltung (4) und der Speicherschaltung (54, 541) zeitweise unterbricht, und die Kapazität und die Entladungszeitkonstante der letzteren so bemessen sind, dass die die Nachregelung der Oszillatorschaltung (2) auch bei Unterbrechung der Verbindung zwischen der Differentialschaltung (4) und der Speicherschaltung (54,541) für die zeitdauer von mindestens einer halben Münzmeß@@ zeit auf dem vor der Trennung vorhandenen Niveau hält.19. Coin validator according to A claim 17, characterized in that between the differential circuit (4) and the memory circuit (54, 511) a switching unit (7 , 71) connected switch (7,1) is arranged in such a way that in the idle state the memory circuit (54,541) is connected to the output of the differential circuit (4) are you,
so that the state of charge of the storage circuit (54, 541) is determined by the measured and controlled variable supplied to it, so that the switching unit (7, 71) temporarily interrupts the connection between the differential circuit (4) and the storage circuit (54, 541) during coin measurement , and the capacity and the discharge time constant of the latter are dimensioned so that the readjustment of the oscillator circuit (2) even if the connection between the differential circuit (4) and the memory circuit (54,541) is interrupted for a period of at least half a coin measuring time at the level that existed before the separation. 20. Münzprüfer nach den Ansprichen 17 und 19, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass der mit der Schalteinheit (7,71) verbundene Schalter sls Doppelschalter (73) zusätzlich die Verbindung zwischen der Differentialschaltung (4) und der Überwachungsschaltung (6) schaltet, derart, dass mit diesem Doppelschalter (73) abwechselnd jeweils nur eine der beiden Verbindungen hergestellt wird.20. Coin validator according to claims 17 and 19, d a d u r c h g e k It is noted that the switch connected to the switching unit (7,71) sls double switch (73) additionally the connection between the differential circuit (4) and the monitoring circuit (6) switches in such a way that with this double switch (73) only one of the two connections is made alternately. 21. Münzprüfer nach Anspruch 13, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass die Differentialschaltung (4) zur Bildung zweier Differenzgrössen aus der Differenz zwischen Oszillator-Meßspannung und Referenzspannung ausgebildet, mit zwei Ausgängen versehen und der eine Ausgang mit der Überwachungsschaltung (6) und der andere Ausgang mit dem Beeinflussungsglied (5) verbunden ist, derart, dass die eine Differenzgrösse als Meßgrösse der Überwachungsschaltung (6) und die zweite Differenzgrösse als Regelgrösse gegenüber der ersten Differenzgrösse mit Zeitverzögerung dem BeeinfluscHut
sungsglied (5) zugeführt wird.21. Coin validator according to claim 13, characterized in that the differential circuit (4) is designed to form two differential values from the difference between the oscillator measurement voltage and the reference voltage, is provided with two outputs and one output with the monitoring circuit (6) and the other Output is connected to the influencing element (5) in such a way that the one difference variable as a measured variable of the monitoring circuit (6) and the second difference variable as a control variable compared to the first difference variable with a time delay Influence
solution member (5) is supplied. 22. Münzprüfer nach Anspruch 21, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n @ t , dass die für die Bildung der Regelgrësse eingesetzte Hälfte (41) der Differentialschaltung(4) langsamer abbeitet als die andere elfte (42).22. Coin validator according to claim 21, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n @ t that the half (41) of the Differential circuit (4) works more slowly than the other eleventh (42). . Künzprüfer nach Anspruch 21, d a d u r c h g e k e n n -7 e i c h n e t , dass dem für die Bildung der Regelgrösse bestimmten eil (41) der Differentialschaltung (4) eingangsseitig eine Verzögerungsschaltung (410) vorgeschaltet ist. . Coin tester according to claim 21, d u r c h g e k e n n -7 e i c N e t that the part (41) of the differential circuit which is determined for the formation of the controlled variable (4) a delay circuit (410) is connected upstream on the input side. 24. Münzprüfer nach Anspruch 21, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t , dass dem für die Bildung der Regelgrösse testinnten Teil (41) der Differentialschaltung (4) ausgangsseitig eine Verzögerungs-und Speicherschaltung (411) nachgeschaltet ist.24. Coin validator according to claim 21, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that the part (41) of the differential circuit that is tested for the formation of the controlled variable (4) A delay and memory circuit (411) is connected downstream on the output side is.
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