DE2701896C3 - Fehlersuchgerät für elektrische Kreise - Google Patents
Fehlersuchgerät für elektrische KreiseInfo
- Publication number
- DE2701896C3 DE2701896C3 DE2701896A DE2701896A DE2701896C3 DE 2701896 C3 DE2701896 C3 DE 2701896C3 DE 2701896 A DE2701896 A DE 2701896A DE 2701896 A DE2701896 A DE 2701896A DE 2701896 C3 DE2701896 C3 DE 2701896C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- potential
- test
- connection
- circuit
- display
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
- G01R31/67—Testing the correctness of wire connections in electric apparatus or circuits
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/54—Testing for continuity
Description
Fig. 8 bis 10 unterschiedliche Prüfkreiskombinationen, wobei Fig. 8 ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel
zeigt.
Unter Bezugnahme auf Fig. I ist in dieser in einem elektrischen Schaltbild ein typisches elektrisches Systern
!0 mit zwei Energiequellen, nämlich den Spannungsquellen 12 und 14, gezeigt. Die Quellen 12
und 14 stellen übliche Gleichstromquellen, wie Batterien, oder Wechselstromquellen, wie Wechselstromgeneratoren,
dar. Die erste Quelle 12 ist über eine innere Impedanz 16 mit einem Anschluß 18 verbunden, wobei
die Impedanz die solchen Spannungsquellen innewohnende innere Impedanz wiedergibt.
An den Anschluß 18 ist eine Leitungsimpedanz 20 angeschlossen, welche die Impedanz verschiedener
Leitungen und Anschlüsse wiedergibt, die mit dem Anschluß 18 verbunden sind. Die Leitungsimpedanz 20
ist ihrerseits mit einem Prüfpunkt 22 verbunden, der repräsentativ für Verbindungspunkte und Verbindungsblöcke des Systems 10 ist. Der Prüfpunkt 22 kann über
einen Schalter 24 wahlweise mit einem Prüfpunkt 26 verbunden werden. Der Prüfpunkt 26 ist an eine
Lastimpedanz 28 angeschlossen, die repräsentativ für die Systemlasten, wie Lichtquellen, Motoren, Meßgeräte,
Solenoide, Relais und dgl. Zubehör ist. Die Lastimpedanz 28 ist wiederum mit einem Prüfpunkt 30
verbunden, der an eine Leitungsimpedanz 32 angeschlossen ist.
Die erste Spannungsquelle 12 ist mit der zweiten Spannungsquelle 14 über einen Verbindungspunkt 33
verbunden, der seinerseits über die innere Impedanz 34 der Spannungsquelle mit einem Anschluß 36 in
Verbindung steht. Dieser ist mit einer Leitungsimpedanz 32 jenseits des Prüfpunktes 30 und mit einer
weiteren Leitungsimpedanz 38 verbunden. Die Leitungsimpedanz 38 ist an den Prüfpunkt 40 angeschlossen.
Dieser wiederum kann wahlweise durch einen Schalter 42 mit einem weiteren Prüfpunkt 44 verbunden
sein. Dieser steht mit einer Lastimpedanz 46 und weiterhin mit einem Prüfpunkt 48 in Verbindung. Dieser
Prüfpunkt ist weiterhin an eine Leitungsimpedanz 50 angeschlossen, die an den Anschluß 54 geführt ist. Die
zweite Spannungsquelle 14 ist- durch eine innere Impedanz 52 mit dem Anschluß 54 verbunden.
An den Anschluß 54 ist weiterhin eine Leitungsimpedanz 56 angeschlossen, die an den Prüfpunkt 58 geführt
ist. Dieser ist mit einer Lastimpedanz 60 und darüber hinaus mit einem Prüfpunkt 62 verbunden. Ein Schalter
64 gestattet es, wahlweise den Prüfpunkt 62 mit dem Prüfpunkt 66 zu verbinden. Der Prüfpunkt 66 ist
seinerseits über eine Leitungsimpedanz 68 an den Anschluß 18 geführt.
In Fig.2 ist eine vereinfachte elektrische Schaltung
eines elektrischen Systems 70 mit nur einer Spannungsquelle 72 gezeigt Die Spannungsquelle ist durch eine
innere Impedanz 74 mit dem Anschluß 76 verbunden, der seinerseits über eine Leitungsimpedanz 78 zu dem
Prüfpunkt 80 führt. Ein Schalter 82 gestattet eine wahlweise Verbindung des Prüfpunktes mit dem
Prüf punkt 84. Der letztere ist über eine Lastimpedanz 86 mit einem weiteren Prüfpunkt 88 verbunden. Dieser ist
durch eine Leitungsimpedanz 90 mit einem Anschluß 92 in Verbindung, der über eine innere Impedanz 94 mit der
Spannungsquelle 72 verbunden ist
In F i g. 3 ist ein Anzeigekreis 100 gezeigt, der zur
Überprüfung oder Diagnostizierung des Systemzustandes der mit einer oder mit zwei Quellen ausgerüsteten
Systeme 70 bzw. 10 bestimmt ist Der Anzeigekreis 100 weist Anschlußverbindungen 110, 112 und 114 für cir
hohes, ein mittleres und ein niedriges Potential auf welche jeweils an Hauptleitungen 116, 118 und 12(
angeschlossen sind.
Die Hauptleitung 116 ist mit einer üblicher lichtemittierenden Diode 122 verbunden, die durcl
einen Widerstand 124 an eine übliche lichtemittierende Diode 126 angeschlossen ist. Die letztere ist mit dei
Hauptleitung 120 in Verbindung. Die Hauptleitung IK ist weiterhin durch einen Widerstand 128 mit einei
üblichen lichtemittierenden Diode 130 verbunden, die über Widerstand 132 mit der Hauptleitung 12(
verbunden ist.
Die Hauptleitung 116 ist schließlich über eine Diode
135 mit dem Emitter eines PNP-Transistors 13Ί
verbunden. Der Kollektor des Transistors i34 ist übet eine Leitung 136 und eine Diode 138 an die
Hauptleitung 116 angeschlossen. Die Leitung 136 isi außerdem an einen Anzeigedehnungskreis 140 angeschlossen,
dessen Leitung 144 mit dem Eingang 142 verbunden ist. Die Leitung 144 ist an den Eingang eines
üblichen monostabilen Multivibrators 146 angeschlossen. Der Ausgang des Multivibrators ist mit einem der
Eingänge eines üblichen UND-Gatters 148 verbunden Eine Leitung 150 verbindet die Leitung 144 mit einem
zweiten Eingang des UND-Gatters 148. Der Ausgang dieses Gatters ist über Leitung 152 an eine Ausgangsverbindung
156 angeschlossen.
Die Ausgangsverbindung 156 ist über eine Leitung
158 zwischen die lichtemittierende Diode 122 und den Widerstand 124 geführt. Die Basis des Transistors 134
liegt über Diode 160 an der Hauptleitung 116 und durch
einen Widerstand 162 an einer Prüfleitung 164 und darüber hinaus an den Prüfanschluß an.
Die Hauptleitung 118 ist über Dioden 170 und 172 mit
den Emittern einerseits eines NPN-Transistors 174 und andererseits eines PNP-Transistors 176 verbunden. Der
Kollektor des Transistors 174 ist über eine Leitung 178 an den Dehnungskreis 140 und von diesem durch eine
Leitung 180 in den Bereich zwischen dem Widerstand 128 und die lichtemittierende Diode 130 geführt. Die
Leitung 180 ist weiterhin über eine Zenerdiode 182 mit der Hauptleitung 118 verbunden. Der Kollektor des
Transistors 176 ist durch Leitung 184 an den Dehnungskreis 140 und von dort über eine Leitung 186
an einer Stelle angeschlossen, die zwischen der lichtemittierenden Diode 130 und dem Widerstand 132
liegt. Die Leitung 186 liegt weiterhin über eine Zener-Diode 188 an der Hauptleitung 118 an. Die Basis
der Transistoren 174 und 176 ist über einen Widerstand 190 an die Prüfleitung 164 angeschlossen.
Die Hauptleitung 120 ist über eine Diode 194 mit dem
Emitter eines NPN-Transistors 192 verbunden. Der Kollektor dieses Transistors ist über eine Leitung 1% an
den Dehnungskreis 140 und von dort über eine Leitung 198 an eine Stelle zwischen dem Widerstand 124 und der
lichtemittierenden Diode 126 geführt. Eine Diode 200 verbindet die Hauptleitung 120 mit der Leitung 196. Die
Basis des Transistors 192 steht über eine Diode 202 mit der Hauptleitung 120 und über einen Widerstand 204
mit der Prüfleitung 164 in Verbindung.
Der Arbeitszyklus bei der Verwendung des Kreises 100 beginnt damit daß die Bedienungsperson die
Anschlüsse 110, 112 und 114 für hohes, mittleres und niederes Potential jeweils an die Anschlüsse oder
Prüfkontakte 18,36 und 54 des elektrischen Systems 10 mit zwei Spannungsquellen anschließt
mit den Spannungsquellen 12 und 14 hergestellt und das
Prüfglied 168 von dem zu prüfenden Kreis 10 noch isoliert ist, sind die Hauptleitungen 116, 118 und 120 den
Anschlußpotentialen unterworfen, und es beginnt darin ein Strom zu fließen. Wenn das höchste Potential an
dem Anschluß HO anliegt, fließt der Strom durch die Hauptleitung 116 über den Transistor 134, so daß dieser
vorgespannt ist und einen Stromfluß durch den Widerstand 162 in die Prüfleitung 164 zuläßt. Der Strom
in der Prüfleitung 164 fließt durch den Widerstand 204, wodurch der Transistor 192 vorgespannt wird, und er
setzt sich fort bis zu dem niedrigsten Potential, das an der Basis oder Hauptleitung 120 anliegt.
Weiterhin fließt Strom von der Hauptleitung 116 durch den Widerstand 134 zu der Leitung 136 und den
Dehnungskreis i4ö bis zum Widerstand i24. Der Strom umgeht die lichtemittierende Diode 122, so daß diese
gelöscht bleibt. Der Strom durch den Widerstand 124 fließt außerdem durch die Leitung 198, den Dehnungskreis 140 und den Transistor 192 zu der Hauptleitung
120. Dieser Strom geht an der lichtemittierenden Diode 126 vorbei, so daß auch diese gelöscht bleibt.
Der Strom fließt weiterhin von der Hauptleitung 116
durch den Widerstand 128, die Zener-Diode 182, die Hauptleitung 118 und die Diode 172 zu dem Transistor
176. Der durch den Transistor 176 fließende Strom erzeugt eine Vorspannung und gestattet einen Stromfluß
von der Basis des Transistors 176 durch den Widerstand 190 zu der Prüfleitung 164 ebenso wie durch
den Dehnungskreis 140 und den Widerstand 132 zu der Hauptleitung 120. Die Zener-Dioden 182 und 188 sind so
ausgewählt, daß der Potentialabfall über jede Diode nicht ausreicht, um die lichtemittierende Diode 163 zu
zünden, solange der kombinierte Potentialabfall hinreichend groß ist. Das bedeutet, daß wenn einer der
Transistoren 174 oder 176 in den Stromführungszustand
vorgespannt ist, die lichtemittierende Diode 130 abgeschaltet bleibt. Somit wird der Strom dann, wenn
das Prüfelement 168 isoliert ist, die lichtemittierende Diode 130 umgehen, um diese am Zünden zu hindern.
Es wird bemerkt, daß die Stromflüsse in den Komponenten zwischen den Widerständen 128,132 und
190 durch Auswahl der Werte der Widerstände 162,190 und 204 bestimmt werden. In einem bevorzugten
Ausführungsbeispiel sind diese Widerstände in ihren Werten so gewählt, daß die Ströme durch die
Widerstände ein Ruhepotential bei isoliertem Prüfelement 168 in der Prüfleitung 164 erzeugen, so daß das
Prüfelement 168 zwischen den Potentialen an den Hauptleitungen 118 und 120 schwimmt. Dadurch wird so
das Zünden jeder der lichtemittierenden Dioden verhindert, solange das Prüfelement 168 isoliert ist. Eine
alternative Auswahl der Widerstandswerte würde es gestatten, das Ruhepotential zwischen den Potentialen
der Grundleitungen 116 und 118 schweben zu lassen.
Es seilte weiterhin bemerkt werden, daß ein vernachlässigbarer Strom von dem Anschluß 36 in die
Hauptleitung 118 fließt Die Strommenge hängt ab von dem Ungleichgewicht der Potentialwerte zwischen den
beiden Spannungsquellen 12 und 14. Die Widerstände &o
124, 128 und 132 sind so gewählt, daß diese Ungleichgewichtswirkung möglichst klein bleibt, wie
dies für den Fachmann ohne weiteres ersichtlich ist.
Wenn das Prüfelement 168 isoliert ist, fließt der Strom
stets in der oben beschriebenen Weise, und zwar auch bei Wechselstrom, da die Dioden 138, 160, 200 und 202
in Verbindung mit den Zener-Dioden 182 und 188 eine für den Fachmann ohne weiteres verständliche Wirkung
zeigen, bei der zum Schutz dienende Umgehungswege um die zerstörbaren Komponenten aufrechterhalten
werden, wenn ein Polaritätswechsel auftritt oder wenn die verschiedenen Verbindungselemente nicht korrekt
mit den verschiedenen Anschlüssen verbunden sind. Der gesamte Strom wird in der Umgehungsphase durch die
verschiedenen Dioden und zugehörigen Widerstände geführt, wenn die Potentiale an den Anschlüssen 18, 36
und 54 nicht die jeweils höchsten, die mittleren bzw. die niedrigsten Potentiale sind. In der Situation, in der die
Funktion, die durch die Lastimpedanz 28 wiedergegeben ist, nicht eintritt, wenn der Schalter 24 gewollt
geschlossen wird, beginnt die Systemdiagnose, wobei die Bedienungsperson das Prüfelement 168 mit einem
ausgewählten Punkt oder einem elektrischen Verbindungsteii auf der einen Seite der Lastimpedanz 28, z. B.
mit dem Prüfpunkt in Verbindung bringt.
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 18 zum Prüfpunkt 26 vorliegt, wie dies durch einen
Stromfluß durch die Leitungsimpedanz 20 und den Schalter 24 angezeigt wird, nähert sich das Potential am
Prüfpunkt 26 dem Potential am Schluß 18 an, und ein sehr kleiner Strom von annähernd 2 mA fließt in das
Prüfelement 168 vom Anschluß 18, wodurch das Potential im Prüfelement gegenüber dem Ruhepotential
ansteigt. Wenn das Potential im Prüfelement in einen vorgegebenen Potentialbereich im Vergleich zu dem
Potential des Anschlusses 18 gelangt, wird ein weiterer Stromfluß vom Emitter zur Basis des Transistors 134
verhindert, so daß der Transistor 134 abschaltet und nunmehr der Stromfluß von der Hauptleitung 116 durch
die lichtemittierende Diode 122 abgelenkt wird, wobei diese zündet. Wie dies für den Fachmann ersichtlich ist,
sind die »festen oder vorbestimmten« Potentiale, von denen der Anzeigekreis 100 seinen Namen erhalten hat,
gleich mit den kombinierten »festgelegten« Potentialabfällen des Potentialabfalles über die Basis-Emitterverbindung
der Transistoren, der Diode und des Widerstandes. Das bedeutet, daß die lichtemittierende Diode 122
immer dann zündet, wenn .das Prüfpotential innerhalb des Potentials der Hauptleitung 116 vermindert um den
kombinierten Potentialabfall über den Transistor 134, die Diode 135 und den Widerstand 162 liegt. In der
bevorzugten Ausführungsform liegen die kombinierten Potentialabfälle oder die festgesetzten Potentialbereiche
zwischen 1V2 und 2 Volt. Es ist außerdem ersichtlich,
daß der Potentialabfall in jedem Transistor allein in einigen Anwendungsfällen ausreichen würde, um das
gesamte festgesetzte Potential zu liefern, und daß die Diode, die jedem Transistor zugeordnet ist, in diesen
besonderen Anwendungsfällen daher auch entbehrlich
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 18 zum Prüfpunkt 26 vorliegt, wird der Zustand eines
Leitungsweges vom Prüfpunkt 26 zum Anschluß 36 durch öffnen des Schalters 24 geschaffen.
Wenn kein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 18 zum Prüfpunkt 26 vorliegt, und zwar als ob der
Leitungsweg offen wäre, wie dies durch den tatsächlich geöffneten Schalter 24 wiedergegeben ist, oder wenn
die Leitungsimpedanz 20 zu groß ist und einen übermäßigen Widerstand liefert, jedoch ein akzeptabler
Leitungsweg zwischen dem Anschluß 36 und dem Prüfpunkt 26 durch die Leitungsimpedanz 32 und die
Lastimpedanz 28 vorliegt, nimmt das Potential am Prüfpunkt 26 annähernd einen Wert an, der dem
Potential am Anschluß 36 entspricht, so daß ein geringer Strom in das Prüfelemem 168 vom Anschluß 36 her
fließt, so daß das Prüfpotential sich gegenüber dem Ruhepotential anhebt. Wenn das Prüfpotential ein
festgesetztes Potential gegenüber dem Anschluß 36 erreicht, schaltet der Transistor 176 ab, wobei auch der
Transistor 174 im Abschaltzustand bleibt, so daß der Strom nunmehr durch die Hauptleitung 116 und die
lichtemittierende Diode 130 fließen muß und diese zündet. Die Diode 130 wird also jedesmal zünden, wenn
das Potential im Prüfelement gleich dem Potential in der Hauptleitung 118 vermindert um den kombinierten
Potentialabfall im Transistor 176 und über die Diode 172 wird. Die lichtemittierende Diode 130 erlischt, wenn das
Prüfpotential größer wird als das Potential in der Hauptleitung 118 vermehrt um die kombinierten
festgesetzten Potentialabfälle am Transistor 174 und der Diode !70, da dann der Transistor 174 eingeschaltet
wird.
Wenn keiner der genannten Leitungswege akzeptabel ist, zündet auch keine der lichtemittierenden Dioden.
Wenn die lichtemittierende Diode 126 zündet, wird ein Kurzschluß frei oder eine unkorrekte Verbindung
angezeigt, da ein zu hohes Potential vorliegt. Die Funktion des Kreises zum Zünden der lichtemittieren-*
den Diode 126 wird weiter unten beschrieben. Aus dem Bisherigen wird deutlich, daß mit einem Prüfvorgang
sowohl der ein hohes Potential als auch der ein mittleres Potential führende Leitungsweg bezüglich akzeptabler
Kontinuität überprüft werden kann.
Wenn keine der lichteniittierenden Dioden zündet, bewegt die Bedienungsperson das Prüfelement 168 zu
einem anderen Prüfpunkt, der weiter von der Lastimpedanz 28 weg l'egt, und arbeitet sich so dem
nichtakzeptablen Leitungsweg entlang. Wenn der Leitungsweg zwischen dem Prüfpunkt 26 und dem
Anschluß 18 nicht akzeptabel ist, bringt die Bedienungsperson das Prüfelement 168 mit dem Prüfpunkt 22 in
Kontakt. Wenn die lichtemittierende Diode 122 zündet, ist der Schalter 24 offen und fehlerhaft. Wenn die
lichtemittierende Diode 122 nicht zündet, muß die Unterbrechung zwischen dem Prüfpunkt 22 und dem
Anschluß 18 liegen. Wenn der Leitungsweg zwischen dem Prüfpunkt 26 und dem Anschluß 36 nicht
akzeptabel ist, bringt die Bedienungsperson das Prüfelement 168 mit dem Prüfpunkt 30 in Kontakt.
Wenn die lichtemittierende Diode 130 zündet, ist die Lastimpedanz 28 defekt. Wenn die lichtemittierende
Diode 130 jedoch gelöscht bleibt, muß die Unterbrechung zwischen dem Prüfpunkt 30 und dem Anschluß 36
liegen.
Bei der Situation, bei der die Funktion, die durch die Lastimpedanz 46 repräsentiert wird, nicht eintritt, wenn
der Schalter 42 ostentativ geschlossen wird, beginnt die Systemdiagnose damit, daß die Bedienungsperson das
Prüfelement 168 in Berührung mit einer elektrischen Verbindung auf einer Seite der Lastimpedanz 46,
beispielsweise mit dem Prüfpunkt 44, bringt.
Wenn an dieser Stelle eine akzeptable Leitungsverbindung zwischen dem Anschluß 36 und dem Prüfpunkt
44 besteht, wie dies deutlich wird durch einen Stromfluß durch die Leitungsimpedanz 38 und den Schalter 42,
nimmt das Potential am Prüfpunkt 44 annähernd den Wert des Potentials am Anschluß 36 an, so daß ein
kleiner Strom in das Prüfelement 168 vom Anschluß 36 einfließt Wenn das Prüfpotential das festgesetzte
Potential gegenüber dem Anschlußpotential erreicht, wird ein Stromfluß an den Basen der Transistoren 174
und 176 unterbrochen, so daß beide in den Abschaltzustand gelangen und der Stromfluß von der Basisleitung 160 durch die lichtemittierende Diode 130 gezwungen wird, wodurch die Diode 130 zündet.
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 36 zum Testpunkt 44 vorliegt, wird der Zustand des
Leitungsweges vom Prüfpunkt 'M zum Anschluß 54 bestimmt, indem man der Schalter 42 öffnet.
Wenn kein akzeptabler Leitungsweg zwischen dem Anschluß 36 und dem Prüfpunkt 44 besteht, jedoch ein
akzeptabler Leitungsweg zwischen dem Anschluß 54 und dem Prüfpunkt 44 festgestellt wird, nimmt das
Potential am Prüfpunkt 44 annähernd das Potential am Anschluß 54 an, so daß ein kleiner St-om von dem
Prüfelement 168 in den Anschluß 54 fließt. Dadurch nimmt das Prüfpotential gegenüber dem Ruhepotential
ab. Wenn das Prüfpotential einen festgesetzten Potcntialwert gegenüber dem Potential des Anschlusses
54 erreicht, wird der Transistor 192 abgeschaltet, so daß nunmehr der Strom von der Hauptleitung 116 durch
durch den Transistor 134 und den Widerstand 124 und damit durch die lichtemittierende Diode 126 fließt,
welche gezündet wird.
Wenn keiner der Leitungswege akzeptabel ist, zünde! auch keine der lichtemittierenden Dioden 130 bzw. 126.
Wenn die lichtemittierende Diode 122 zündet, liegt ein Kurzschluß, eine inkorrekte Leitungsverbindung oder
ein Mangel an Verbindung zum Anschluß 36 vor, da ein unerwünschtes Potential vorliegt. Man kann deshalb mit
nur einem Prüfvorgang sowohl die Leitungswege für das Zwischenpoiential als auch für das niedrige
Potential diagnostizieren.
Wenn keine der lichtemittierenden Dioden zündet, bewegt die Bedienungsperson als nächstes das Prüfelement
168 zu einem anderen Prüfpunkt, der weiter von der Lastimpedanz 46 weg liegt, wobei er sich entlang
dem nichtakzeptablen Leitungsweg in der oben beschriebenen Weise brwegt. Der Prüfpunkt 40 sollte
dabei ein Potential haben, das annähernd innerhalb des festgesetzten Potentials des Potentials am Anschluß 36
liegt, während der Prüfpunkt 48 ein Potential haben sollte, das annähernd innerhalb des festgesetzten
Potentials liegt, welches dem Anschluß 54 entspricht. Es ist für den Fachmann ersichtlich, daß beim Prüfen der
Prüfpunkte 62 und 66 ähnlich vorgegangen wird, wie bei der Prüfung an den Prüfpunkten 26 und 22, während
eine Prüfung am Prüfpunkt 58 ähnlich wie eine solche am Prüfpunkt 48 verläuft.
In einer Situation, in der die Potentialqueüen 12 und
14 Impulsausgangssignale liefern, die von zu kurzer Dauer sind, um festgestellt zu werden oder um die
lichtemittierenden Dioden zu aktivieren, oder es liegt eine intermittierende Verbindung aufgrund eines
Wackelkontaktes vor kann jede der üchtemittierenden Dioden im Zündzustand gehalten werden, und zwar
aufgrund des jeweils zugeordneten Anzeigedehnungs- kreises 140, wie dies nachfolgend näher erläutert wird.
Während sich das Prüfpotential auf einem Wert befindet, der nicht übereinstimmt mit irgendeinem der
festgesetzten Potentiale, bei denen eine Anzeige entsteht, ist der monostabile Multivibrator 146 im
Leitzustand und speist zwei Eingänge des UND-Gatters 148. Ein momentanes Ausbrechen in den Bereich eines
der festgesetzten Potentiale veranlaßt einen augenblicklichen Abfall des Stromes, der zu dem monostabilen
Multivibrator 146 führt, so daß dieser für eine vorbestimmte ausgedehnte Dauer in den nichtleitfähigen Zustand gelangt, und zwar unabhängig von der
nachfolgenden sofortigen Zunahme des Stromes. Wenn einer der Eingänge blockiert ist. wird das UND-Gatter
27 Ol
148 nichtleitend und verhindert einen Stromfluß durch die Leitung 150, bis der monostabile Multivibrator 146
wieder in den ursprünglichen leitfähigen Zustand gelangt. Das bedeutet, daß ein impulsartiger Ausgang
oder eine momentane Leitfähigkeit die diesbezüglichen lichtemittierenden Dioden gezündet hält, und zwar
wenigstens für eine minimale vorgegebene Dauer.
In F i g. 5 ist ein Anzeigekreis 300 vorgesehen, der die
Leitfähigkeit in Prozenten des vorgesehenen Potentials angibt. Der Anzeigekreis 300 umfaßt Anschlußverbinder
310, 312, 314 für hohes, mittleres und niedriges Potential, welche jeweils mit entsprechenden Hauptleitungen
316, 318 und 320 verbunden sind. Die Hauptleitung 316 ist über Widerstände 322, 324 und 326
mit der Hauptleitung 318 und diese wiederum durch Widerstände 328,330 und 332 mit der Hauptleitung 320
verbunden. Ein normalerweise geschlossener Schalter 321 liegt in der Hauptleitung 318 um selektiv
normalerweise einen Stromfluß zu und von dem Anschluß 312 zu gestatten oder zu blockieren.
Die Hauptleitung 316 ist mit dem Kollektor eines NPN-Transistors 334 verbunden. Die Basis dieses
Transistors ist zwischen Widerstand 322 und 324 angeschlossen, während der Emitter durch eine Diode
335 an die Basis und durch eine Diode 336 an die Hauptleitung 316 und an einen Widerstand 337
angeschlossen ist. Der Widerstand ist seinerseits mit dem Emitter eines PNP-Transistors 338 verbunden,
über eine Diode 339 mit der Basis eines Transistors 338 und über eine Diode 340 mit der Hauptleitung 318.
Die Basis des Transistors 338 liegt zwischen den Widerständen 324 und 326, während der Kollektor mit
der Hauptleitung 318 verbunden ist. Die Hauptleitung 318 ist weiterhin mit dem Kollektor eines NPN-Transistors
342 verbunden. Die Basis dieses Transistors liegt zwischen den Widerständen 328 und 330, während der
Emitter mit der Basis über eine Diode 343, mit der Hauptleitung 318 über eine Diode 344 und mit einem
Widerstand 345 verbunden ist. Letzterer ist mit dem Emitter eines PN P-Transistors 346 verbunden, über eine
Diode 347 mit der Basis und über eine Diode 348 mit der Hauptleitung 320. Die Basis des Transistors 346 liegt
zwischen den Widerständen 330 und 332, während der Kollektor mit der Hauptleitung 320 verbunden ist.
Die Hauptleitung 316 ist wiederum mit einer üblichen lichtemittierenden Diode 350 verbunden. Diese ist über
einen Dehnungskreis 140 mit dem Kollektor eines NPN-Transistors 352 verbunden. Der Emitter dieses
Transistors ist über Diode 354 mit der Basis verbunden und liegt zwischen Emitter des Transistors 334 und
Widerstand 337. Die Basis ist mit einem Widerstand 356 verbunden. Dieser Widerstand sieht iiui einem Widerstand
358 und mit einer Prüfleitung 360 in Verbindung, die ihrerseits an ein Prüfelement 362 angeschlossen ist.
Der Widerstand 358 ist an die Basis eines PNP-Transistors 364 angeschlossen. Der Emitter dieses Transistors
ist über Diode 365 mit der Basis verbunden und liegt zwischen dem Widerstand 337 und dem Emitter des
Transistors 338. Der Kollektor ist über den Dehnungskreis 140 mit einer lichtemittierenden Diode 366
verbunden. Diese ist über den Dehnungskreis 140 mit dem Kollektor eines NPN-Transistors 368 verbunden.
Der Emitter dieses Transistors ist an die Basis über Diode 370 angeschlossen und liegt zwischen dem
Widerstand 345 una dem Emitter des Transistors 342, während die Basis mit einem Widerstand 372 verbunden
ist Dieser ist wiederum an einen Widerstand 374 sowie an die Prüfleitung 360 angeschlossen. Der Widerstand
374 ist mit der Basis eines PNP-Transistors 376 verbunden. Der Emitter des Transistors 376 ist mit
seiner Basis über eine Diode 377 verbunden und liegt zwischen dem Widerstand 345 und dem Emitter des
Transistors 346. Der Kollektor ist über einen Dehnungskreis 140 mit einer lichtemittierenden Diode 380 und
über diese mit der Hauptleitung 320 verbunden.
Ein Arbeitszyklus zur Verwendung des Anzeigekreises 300 besteht darin, daß man zunächst die Verbinder
310, 312 und 314 mit den entsprechenden Anschlüssen 18,36 und 54 eines Systems 10 mit zwei Spannungsquellen
verbindet.
Wenn die Verbindung mit den Anschlüssen 18,36 und 54 vollendet ist und sich das Prüfelement 362 isoliert
befindet, werden die Hauptleitungen 316, 318 und 320 den Anschlußpotentialen unterworfen, so daß ein
Stromfluß beginnt. Wenn das höchste Potential sich an der Hauptleitung 316 befindet, fließt der Strom von dort
durch die Widerstände 322,324,326,328,330 und 332 zu
der Hauptleitung 320. Das Potential zwischen den Widerständen 322 und 324, das aufgrund des Stromflusses
entsteht, spannt den Transistor 334 in den Leitungszustand, so daß ein Strom von der Hauptleitung
316 durch den Widerstand 337 und durch die Diode 354 und Widerstand 356 zur Prüfleitung 360 fließt. Da die
Potentiale am Emitter und an der Basis des Transistors 352 umgekehrt vorgespannt sind, und zwar aufgrund des
Leitfähigkeitszustandes der Diode 354, ist der Transistor 352 abgeschaltet und verhindert einen Stromfluß
durch die lichtemittierende Diode 350 und hindert diese am Zünden. Das Potential zwischen den Widerständen
324 und 326 aufgrund des Stromflusses sorgt für eine Vorspannung des Transistors 338, so daß dieser im
Leitfähigkeitszustand ist und einen Stromfluß vom Widerstand 337 zum Transistor 342 zuläßt. Das
Potential zwischen den Widerständen 328 und 330 aufgrund des Stromflusses liefert eine Vorspannung an
den Transistor 342 und hält diesen im Leitfähigkeitszustand, so daß ein Stromfluß vom Transistor 338 in den
Widerstand 345 und außerdem durch die Diode 370 und den Widerstand 372 zur Prüfleitung 360 stattfindet.
Da die Potentiale am Emitter und an der Basis des Transistors 368 umgekehrt vorgespannt sind, und zwar
aufgrund der Leitfähigkeitsbedingung der Diode 370, wird der Transistor 368 im Ausschaltzustand gehalten,
so daß durch die lichtemittierende Diode 366 kein Strom fließt und diese daher nicht zündet, obwohl der
Transistor 364 angeschaltet ist. Das Potential zwischen den Widerständen 330 und 332 aufgrund des Stromflusses
spannt den Transistor 346 in den Leitfähigkeitszustand vor, so daß ein Stromfluß zur Hauptleitung 320
vom Widerstand 345 sowie von der Prüfieitung 360 durch den Widerstand 374 und die Diode 377 möglich
ist. Da die Potentiale am Emitter und an der Basis des Transistors 376 gleich sind, und zwar aufgrund des
Leitfähigkeitszustandes der Diode 377, ist der Transistor 376 abgeschaltet und verhindert einen Stromfluß
durch die lichtemittierende Diode 380 und hindert diese am Zünden.
Es ist zu bemerken, daß der Stromfluß in den Komponenten nahe der Hauptleitung 318 bestimmt
wird durch die Auswahl der Widerstände 356, 358, 372 und 374. In der bevorzugten Ausführungsform werden
diese Widerstände so ausgewählt, daß die Ströme an der Prüfleitung 360 bei isoliertem Prüfelement 362 ein
Ruhepotential erzeugen, das zwischen den Potentialen der Hauptleitung 318 und der Hauptleitung 320 schwebt,
so daß keine der lichtemittierenden Dioden zünden
27 Ol
kann, wenn das Prüfelement 362 isoliert ist. Eine
alternative Auswahl der Widerstände und Diodenwerte würde ein Ruhepotential ermöglichen, das zwischen den
Potentialen der Hauptleitungen 316 und 318 schwebt.
Ein vernachlässigbarer Strom fließt von dem Anschluß 36 in die Hauptleitung 318, und zwar in
Abhängigkeit von der mangelnden Balance zwischen den Potentialwerten der Spannungsquellen 12 und 14.
Die Widerstände 322, 324, 326, 328, 330, 332, 337 und ?.45 sind so ausgewählt, daß dieser Effekt vernachlässigbar
klein bleibt.
Wenn das Prüfelement 362 isoliert ist, fließt der Strom stets wie beschrieben selbst bei Wechselstrom, da die
Dioden 335, 336, 339, 340, 343, 344, 347 und 348 schutzwirkende Umgehungswege um die leicht zerstörbaren
oder verletzbaren Komponenten liefern, wenn eine Polaritätsumkehr auftritt oder wenn verschiedene
Verbindungsstecker unkorrekt mit den verschiedenen Anschlüssen verbunden sind. Der gesamte Stromfluß
bildet eine Umgehungsströmung durch die verschiedenen Dioden und zugehörigen Widerstände, immer wenn
die Potentiale an den Anschlüssen 18,36 und 54 nicht die zugehörigen hohen, mittleren und niedrigen Potentiale
sind.
Wenn die Funktion, die durch die Lastimpedanz 28 repräsentiert wird, nicht ordnungsgemäß erbracht wird,
wenn der Schalter 24 gewollt geschlossen wird, beginnt die Systemdiagnose damit, daß die Bedienungsperson
den Widerstand 356 in Kontakt mit einem ausgewählten Punkt oder einer ausgewählten elektrischen Verbindung 3d
auf einer Seite der Lastimpedanz 28 bringt, /.. B. mit dem Prüfpunkt 26.
Ist ein akzeptabler Leitungsweg zwischen dem Anschluß 18 und dem Prüfpunkt 26 vorhanden, wie dies
durch einen Strom durch die Leitungsimpedanz 20 und « den Schalter 24 angezeigt wird, nimmt das Potential am
Prüfpunkt 26 den Wert des Potentials am Anschluß 18 an, so daß ein kleiner Strom von annähernd 2 mA in das
Probeelement 362 vom Anschluß 18 aus fließt und das Prüfpotential gegenüber dem Ruhepotential anhebt.
Wenn das Prüfpotential in einen vorbestimmten »Prozent«-Bereich des Potentials der Hauptleitung 316
gelangt, nimmt das Potential an der Basis des Transistors 352 zu, bis die Diode 354 die Leitfähigkeit
unterbricht, so daß der Strom in den Transistor 352 fließt und diesen in den Leitfähigkeitszustand bringt.
Wenn das Potential an der Basis des Transistors 352 das Potential an der Basis des Transistors 354 übersteigt,
fließt der gesamte Strom durch den Transistor 352 zum Widerstand 337 und veranlaßt einen Anstieg des 5c
Potentials am Emitter des Transistors 3214, so daß dieser abschaltet. Danach fließt der Strom von der Hauptleitung
326 durch die lichtemittierende Diode 350, so daß diese zündet. Wie für den Fachmann ersichtlich ist, wird
der »Prozentsatz«, von dem der vorliegende Prüfkreis 300 seinen Namen erhält, bestimmt durch die Werte der
Widerstände 322, 324, 326, 328 und 332, welche die Potentiale an den Transistoren 334, 338, 342 und 346
bestimmen, bei denen diese in Abhängigkeit von den Potentialen an den Hauptleitungen abschalten. Die ω
Widerstände liefern Potentialabfälle, welche das Potential jeweils zwischen den Hauptleitungen teilen. Das
bedeutet, daß die lichtemittierende Diode 350 immer dann zündet, wenn das Prüfpotential abzüglich des
Potentialabfalls über den Widerstand 356 gleich dem <>5
Potential ist zwischen den Widerständen 332 und 324, welches Potential einen vorbestimmten »Prozentsatz«
des Potentials an der Hauptleitung 316 bildet. Bei dieser Ausführungsform entsprechen die vorbestimmten Prozentsätze,
an denen eine lichtemittierende Diode zündet, einem Prüfpotential, das zwischen 10 bis 20%
des Potentials an der Hauptleitung liegt.
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 18 zum Prüfpunkt 26 vorliegt, wird der Zustand des
Leitungsweges vom Testpunkt 26 zum Anschluß 36 durch öffnen des Schalters 24 bestimmt.
Wenn kein akzeptabler Leitungsweg zwischen Anschluß 18 und Prüfpunkt 26 vorliegt, z. B. wenn der
Leitungsweg unterbrochen ist, wie dies durch den tatsächlich geöffneten Schalter 24 repräsentiert ist, oder
die Leitungsimpedanz 20 zu groß ist und einen übermäßigen Widerstand bildet, aber ein akzeptabler
Leitungsweg zwischen dem Anschluß 36 und dem Prüfpunkt 26 über die Leitungsimpedanz 32 und die
Lastimpedanz 28 vorliegt, nimmt das Potential des Prüfpunktes 26 annähernd das Potential am Anschluß 36
an, so daß ein kleiner Strom in das Prüfelement 362 vom Anschluß 36 aus fließt und eine Zunahme des
Prüfpotentials gegenüber dem Ruhepotential verursacht.
Wenn das Prüfpotential in den Bereich gelangt, der durch das Potential der Grundleitung 318 minus dem
vorbestimmten Prozentsatz begrenzt wird, wird die Diode 370 nichtleitend, so daß der Transistor 368
eingeschaltet wird. Dieser läßt einen Stromfluß zu, so daß auch der Transistor 364 eingeschaltet wird, so daß
ein voller Stromfluß durch diesen Transistor zu der lichtemittierenden Diode 366 einsetzt und die Transistoren
338 und 342 abgeschaltet werden. Die lichtemittierende Diode 366 zündet und bleibt gezündet, auch wenn
das Prüfpotential das Potential in der Hauptleitung 318 zuzüglich des vorbestimmten Prozentsatzes übersteigt.
An diesem Punkt wird das Potential an der Basis des Transistors 364 das Potential an der Basis des
Transistors 338 übersteigen, so daß die Diode 365 in den Leitzustand gelangt. In diesem Zustand wird der
Transistor 364 abgeschaltet, so daß die Transistoren 338 und 342 leitfähig werden, während der Transistor 368
abgeschaltet wird und den Stromdurchfluß durch die lichtemittierende Diode 366 blockiert. Das bedeutet,
daß die lichtemittierende Diode 366 immer dann anschaltet, wenn das Prüfpotential innerhalb eines
vorbestimmten Prozentsalzes des Potentials der Hauptleitung 318 liegt und wieder löscht, wenn das
Prüfpotential größer oder kleiner als der vorbestimmte Prozentsatz des Potentials an der Hauptleitung 318 ist.
Wenn keiner der leitfähigen Wege akzeptabel ist, zündet auch keine der lichtemittierenden Dioden. Wenn
die lichtemittierende Diode 380 zündet, liegt ein Kurzschluß oder eine inkorrekte Verbindung vor, weil
das gegenwärtige Potential nicht mit dem geforderten Potential übereinstimmt. Die Zusammenhänge zum
Zünden der lichtemittierenden Diode 380 werden weiter unten beschrieben. Aus der Darstellung wird deutlich,
daß bei einem Prüfvorgang sowohl die Leitungswege für das höhere wie für das mittlere Potential
diagnostiziert werden können.
Wenn keine der lichtemittierenden Dioden zündet, bewegt die Bedienungsperson als nächstes das Prüfelement
362 zu einem anderen Prüfpunkt, der weiter von der Lastimpedanz 28 weg liegt und arbeitet sich so
entlang dem nichlakzeptablen Leitungsweg. Wenn der Leitungsweg zwischen dem Prüfpunkt 26 und dem
Anschluß 18 nicht akzeptabel war, wird die Bedienungsperson beispielsweise das Prüfelement 362 in Kontakt
mit dem Prüfpunkt 22 bringen. Wenn die lichtemittie-
27 0!
rende Diode 350 zündet, ist der Schalter 24 offen und
fehlerhaft. Wenn die lichtemittierende Diode 350 nicht zündet, muß der Defekt zwischen den Prüfpunkten 22
und dem Anschluß 18 liegen. Wenn der Leitungsweg zwischen dem Prüfpunkt 26 und dem Anschluß 36 nicht
akzeptabel ist, wird die Bedienungsperson das Prüfelement 362 in Berührung mit dem Prüfpunkt 30 legen.
Wenn die lichtemittierende Diode 366 zündet, ist die Lastimpedanz 28 defekt Wenn die lichtemittierende
Diode 366 nicht zündet, muß die Unterbrechung zwischen dem Prüfpunkt 30 und dem Anschluß 36
liegen.
In einer Situation, bei der die Funktion, die durch die Lastimpedanz 46 repräsentiert wird, fehlerhaft ist, wenn
der Schalter 42 gewollt geschlossen wird, beginnt die Systemdiagnose damit, daß die Bedienungsperson das
Prüfelement 362 mit einer elektrischen Verbindung auf eine Seite der Lastimpedanz 46 bringt, beispielsweise
mit dem Prüfpunkt 44.
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg zwischen dem Anschluß 36 und dem Prüfpunkt 44 vorliegt, wie dies
durch einen Stromfluß durch die Leitungsimpedanz 38 und den Schalter 42 sichtbar wird, nimmt das Potential
am Prüfpunkt 44 annähernd den Wert des Potentials am Anschluß 36 an, so daß ein kleiner Strom in das
Prüfelement 362 vom Anschluß 36 aus fließt. Wenn das Prüfpotential einen vorbestimmten Prozentsatz des
Potentials am Anschluß 36 erreicht, ahmt der Kreis 300 den Vorgang beim Prüfen des Prüfpunktes 30 nach, so
daß die Transistoren 364, 368 eingeschaltet werden und ein Strom durch die lichtemittierende Diode 366 geleitet
wird, so daß diese zündet. Das bedeutet, daS die lichtemittierende Diode 366 immer dann zündet, wenn
das Prüfpotential abzüglich des Potentialabfalles über den Widerstand 372 dem Potential zwischen den
Widerständen 328 und 330 gleicht, was einem vorbestimmten Prozentsatz kleiner als dem Potential an
der Hauptleitung 318 entspricht.
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 36 zum Prüfpunkt 44 vorliegt, wird der Zustand des
Leitungsweges vom Prüfpunkt 44 zum Anschluß 54 durch öffnen des Schalters 42 bestimmt.
Wenn kein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 36 zum Prüfpunkt 44 vorliegt, jedoch die Leitung
zwischen dem Anschluß 54 und dem Prüfpunkt 44 akzeptabel ist, nimmt das Potential am Prüfpunkt 44
einen Wert gleich dem Potential am Anschluß 54 an, so daß ein kleiner Strom von dem Prüfelement 362 in den
Anschluß 54 fließt, so daß das Prüfpotential sich gegenüber dem Ruhepotential verringert. Wenn das so
Prüfpotential innerhalb eines vorbestimmten Prozentsatzes des Potentials der Hauptleitung 320 gelangt,
nimmt das Potential an der Basis des Transistors 376 zu, bis die Diode 377 unterbrochen wird und der Strom
nunmehr in den Transistor 376 fließt und diesen in den Leitfähigkeitszustand bringt. Wenn das Potential an der
Basis des Transistors 376 das Potential an der Basis des Transistors 346 übersteigt, fließt der Strom durch den
Transistor 376 zur Hauptleitung 320 und außerdem durch den Widerstand 374 zum Prüfelement 362, so daß
das Potential am Emitter des Transistors 346 ansteigt und den Transistor abschaltet. In diesem Augenblick
fließt Strom vom Widerstand 345 durch die lichtemittierende Diode 380 und zündet diese. Das bedeutet, daß die
lichtemittierende Diode 380 immer dann zündet, wenn das Prüfpotential abzüglich des Potentialabfalls über
den Widerstand 374 gleich dem Potential zwischen den Widerständen 330 und 332 wird, was einem vorbestimmten
Prozentsatz des Potentials an der Hauptleitung 320 entspricht
Wenn keiner der leitfähigen Wege akzeptabel ist zündet auch keine der lichtemittierenden Dioden 366
oder 380. Wenn die lichtemittierende Diode 350 zündet liegt ein Kurzschluß, eine unkorrekte Le'tungsverbindung
oder ein Verbindungsfehler zum Anschluß 36 vor, was durch ein nichtkongruentes Potential angezeigt
wird. Das bedeutet daß mit einem einzigen Prüfvorgang sowohl die Leitungswege für das mittlere und das
niedere Potential diagnostiziert werden können.
Wenn keine der lichtemittierenden Dioden zündet, bewegt die Bedienungsperson als nächstes das Prüfelcment
362 zu einem anderen Prüfpunkt weiter weg von der Lastimpedanz 46 und arbeitet sich so entlang dem
nichtakzeptablen Leitungsweg, wie dies zuvor beschrieben wurde. Der Prüfpunkt 40 sollte ein Potential
aufweisen, das annähernd innerhalb eines vorbestimmten Prozentsatzes des Potentials am Anschluß 36 liegt,
während der Prüfpunkt 48 ein Potential haben sollte, das annähernd innerhalb des vorbestimmten Prozentsatzes
des Potentials an Anschluß 54 liegt.
Wie für den Fachmann ohne weiteres ersichtlich, erfolgt das Prüfen an den Prüfpunkten 62 und 66 ähnlich
wie der Prüfvorgang an den Prüfpunkten 26 und 22, während das Prüfen am Prüfpunkt 58 ähnlich wie das
Prüfen am Prüfpunkt 48 ist.
Es wird nunmehr Bezug genommen auf F i g. 6. Diese zeigt in vereinfachter Form einen Prüfkreisv400 für ein
vorgegebenes Potential. Dieser Kreis dient zum diagnostizieren der Leitfähigkeit eines Systems mit nur
einer einzigen Spannungsquelle, also zum Prüfen eines Systems, wie es bei 70 in Fig.2 gezeigt ist. Für den
Fachmann ist ersichtlich, daß der auf ein fixiertes Potential abgestellte Kontinuitätsprüfkreis und der auf
einen bestimmten Prozentsatz des Potentials abgestellte Anzeigekreis 300 auch dz'au benutzt werden können, um
ein System mit nur einer einzigen Spannungsquelle wie das System 70 zu prüfen, indem man den Zwischenpotentialstecker
112 und 312 an einen der anderen Anschlüsse anschließt und den Schalter 321 öffnet, oder
indem man die Komponenten auslaßt, die arbeitsmäßig mit den Hauptleitungen 118 und 318 verbunden sind.
Jedoch ist der vereinfachte Anzeigekreis 400 am besten für die Prüfung eines Kreises mit nur einer Stromquelle
geeignet, z.B. zum Prüfen des 12-Volt-Kreises von
Kraftfahrzeugen. Dieser Kreis 400 kann aber auch dazu verwendet werden, Systeme mit zwei Stromquellen wie
das System 10 zu prüfen, indem man verschiedene Verbindungen und Anschlüsse ändert.
Der vereinfachte Kreis 400 umfaßt Anschlußverbinder 410 und 412 für hohes und niedriges Potential, die
mit Hauptleitungen 414 und 416 verbunden sind. Die Hauptleitung 414 ist mit einer lichtemittierenden Diode
418 verbunden, die ihrerseits an einen Widerstand 420 angeschlossen ist, sowie durch eine Diode 422 an eine
Prüfleitung 424 und von dort an ein Prüfelement 426. Der Widerstand 420 ist über eine Diode 428 an die
Prüfleitung 424 angeschlossen sowie an eine lichtemittierende Diode 430, die mit der Hauptleitung 416
verbunden ist. Der Arbeitszyklus zur Verwendung des Anzeigekreises 400 besteht darin, daß die Anschlußstekker
410 und 412 jeweils mit den Anschlüssen 76 und 92 des zu prüfenden Kreises 70 verbunden werden.
Wenn die Anschlüsse vollzogen sind und das Prüfelement 426 isoliert ist, werden die Hauptleitungen
414 und 416 den Anschlußpotentialen unterworfen, so daß ein Stromfluß beginnt. Wenn das höhere Potential
an der Hauptleitung 414 anliegt, fließt der Strom von
dort durch die lichtemittierende Diode 418, den Widerstand 420 und die lichtemittierende Diode 430 zur
Hauptleitung 416. Mit dem Prüfelement 426 isoliert sind die lichtemittierenden Dioden 418 und 430, also
eingeschaltet Die lichtemittierenden Dioden 418 und 430 sind weiterhin so ausgewhät, daß sie einen Schutz
gegen umgekehrte Polarität liefern, so daß auch eine Anpassung an Wechselstrombetrieb durch Blockieren
des gegenläufigen Stromflusses sowie eine ähnliche Schutzfunktion erreicht werden, wenn die Verbindungselemente
inkorrekt mit den Anschlüssen verbunden sind.
In einer Situation, bei der die Funktion, die durch die
Lastimpedanz 86 repräsentiert wird, nicht erbracht wird, wenn der Schalter 82 gewollt geschlossen ist,
beginnt die Systemdiagnose damit, daß diu Bedienungsperson
das Prüfelement 426 in Kontakt mit einem ausgewählten Punkt oder einem elektrischen Verbindungselement
auf einer Seite der Lastimpedanz 86 bringt, z. B. in Berührung mit dem Prüfpunkt 84.
Wenn ein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 76 zum Prüfpunkt 84 vorliegt, wie dies durch einen
Stromfluß durch die Lastimpedanz 78 und den Schalter 82 angezeigt wird, nähert sich das Potential am
Prüfpunkt 84 dem Potential am Anschluß 76 an, so daß ein kleiner Strom von annähernd 30 mA in das
Prüfelement 426 von dem Anschluß 76 fließt, so daß das Prüfpotential 426 sich dem Potential der Hauptleitung
414 annähen. Wenn das Prüfpotential einen »festgesetzten« Potentialwert in bezug auf das Potential des
Anschlusses 76 erreicht, wird der Strom von der Hauptleitung 414 durch die lichtemittierende Diode 418
unterbrochen, so daß diese abschaltet. Es ist für den Fachmann ersichtlich, daß die »festgesetzten« Potentiale,
von denen der Kreis 400 seinen Namen erhält, gleich den kombinierten »festgesetzten« Potentialabfällen des
Potentialabfalles der lichtemittierenden Diode und der zugehörigen Diode ist. Das bedeutet, die lichtemittierende
Diode 418 erlischt immer dann, wenn das Prüfpotential gleich dem Potential in der Hauptleitung
414 abzüglich dem Potentialabfall wird, der über der lichtemittierenden Diode 418 und der Diode 428 auftritt.
Wenn eine ikzeptable Leitungsverbindung vom
Anschluß 76 zum Prüfpunkt 84 vorliegt, wird der Zustand des Leitungsweges vom Prüfpunkt 84 zum
Anschluß 92 durch öffnen des Schalters 82 geprüft.
Wenn kein akzeptabler Leitungsweg vom Anschluß 76 zum Prüfpunkt 84 vorliegt, so als wenn der
Leitungsweg offen ist, wie dies durch das tatsächliche öffnen des Schalters 82 repräsentiert wird, oder wenn
die Leitungsimpedanz 78 zu groß ist und einen übermäßigen Widerstand auch bei akzeptablem Leitungsweg
zwischen dem Anschluß 92 und dem Testpunkt 84 durch die Leitungsimpedanz 90 und die
Lastimpedanz 86 liefert, nimmt das Potential am Prüfpunkt 84 annähernd das Potential am Anschluß 92
an und ein kleiner Strom fließt aus dem Prüfelement 426 zum Anschluß 92, so daß das Prüfpotential gegenüber
dem Potential in der Hauptleitung 416 absinkt. Wenn das Prüfpotential ein festgesetztes Potential in bezug
auf das Potential des Anschlusses 92 erreicht, fließt Strom durch die Diode 428, so daß die lichtemittierende
Diode 430 umgangen wird und diese erlischt. Das bedeutet, daß die lichtemittierende Diode 430 immer
dann abgeschaltet wird, wenn das Prüfpotential gleich dem Potential in der Hauptleitung 416 plus dem
Potentialabfall über der lichtemittierenden Diode 430 und der Diode 422 ist
Wenn keiner der Leitungswege akzeptabel ist, bleiben beide lichtemittierenden Dioden im Brennzustand.
Das bedeutet, daß mit einem Prufvorgang sowohl der Leitungsweg für hohes als auch der für niederes
Potential diagnostiziert werden kann.
Wenn beide der lichtemittierenden Dioden gezündet bleiben, bewegt die Bedienungsperson das Prüfelement
426 zu einem anderen Prüfpunkt, der weiter von der
ίο Lastimpedanz 86 weg liegt, und er arbeit« sich auf diese
Weise entlang dem nichtakzeptablen Leitungsweg. Wenn der Leitungsweg zwischen dem Prüfpunkt 84 und
dem Anschluß 76 nicht akzeptabel ist legt die Bedienungsperson das Prüfelement an den Prüfpunkt 80
is an. Wenn die lichtemittierende Diode 418 ausgeht, ist
der Schalter 82 offen und fehlerhaft. Wenn die lichtemittierende Diode 418 angeschaltet bleibt, muß die
Fehlstelle zwischen dem Prüfpunkt 80 und dem Anschluß 76 liegen. Wenn der Leitungsweg zwischen
dem Prüfpunkt 84 und dem Anschluß 92 nicht akzeptabel ist, legt die Bedienungsperson das Prüfelement
426 in Berührung mit dem Prüfpunkt 88. Wenn die lichtemittierende Diode 430 ausgeht, ist die Lastimpedanz
86 fehlerhaft Wenn die lichtemittierende Diode 430 anbleibt, muß der Fehler zwischen dem Prüfpunkt
88 und dem Anschluß 92 liegen.
Unter Bezugnahme auf F i g. 7 ist in dieser ein Impedanz/neßkreis 500 gezeigt, welcher geeignet ist,
zwischen einem offenen Kreis und einem übermäßigen Widerstand zu unterscheiden. Der Meßkreis 500 umfaßt
Hauptleitungsverbinder 510 und 512 für hohes und niedriges Potential sowie einen Prüfleitungsverbinder
514. Der Verbinder 510 ist mit einer Leitung 515 an einer Hauptverbindung 516 und der Verbinder 512 über eine
Leitung 517 mit einer Hauptverbindung 519 verbunden. Die Verbindung 516 i."·· über Leitung 518 mit einem
üblichen Oszillator 520 zur Erzeugung eines Rechteckwellen-Oszillatorstromsignals
angeschlossen. Der Oszillator 520 ist durch Leitung 521 mit der Verbindung 519 verbunden und über einen Widerstand 522 mit der
Prüfleitung 524. Diese ist wiederum mit einem Prüfleitungsverbinder 514 und einem üblichen Hochpaßfiltei
526 verbunden. Der Hochpaßfilter liegt in Reihe mit einem üblichen Gleichrichter 530. Der
« Gleichrichter 530 wiederum ist über Leitung 532 mit
dem ersten Eingang eines üblichen Komparatorkreises 534 verbunden. Der zweite Eingang des Komparator
ist über Leitung 536 mit einer Verbindungsstelle 538 verbunden. Die Verbindungsstelle oder Knoten 538 ist
über Widerstand 540 mit einem Knoten 516 und über einen Widerstand 541 mit einem Knoten 519 verbunden.
Die Knotenstelle 516 ist weiterhin auch über eine Leitung 542 mit einer üblichen lichtemittierenden Diode
544 verbunden. Diese wiederum ist über Leitung 546 an den Ausgang des Komparator 534 angeschlossen. Der
Komparator ist außerdem über Leitung 547 mit dem Knotenpunkt 519 verbunden. Es ist festzustellen, daß
während die Leitung 546 mit dem Ausgang des Komparators 534 verbunden ist insoweit, als der
logische Kreis in Betracht gezogen ist, der Strom tatsächlich durch die Leitung 546 in den Komparator
534 und von dort über den Verbinder 512 durch die Leitung 547 fließt, wenn die lichtemittierende Diode 544
im Zündzustand ist.
Beim Betrieb werden die Potentiale an den Leitungen 515 und 517 durch den Oszillator 520 aufgenommen und
in ein oszillierendes Quadratwellen-Stromsignal umgewandelt, das der Leitung 524 aufgedrückt wird. Das
Quadratwellen-Signal in der Leitung 524 gelangt in den Hochpaßfilter 526, der die Gleichstromkomponente aus
dem Signal entfernt. Das Quadratwellen-Signal gelangt dann zum Gleichrichter 530, der ein Gleichstrom-Ausgangssignal
liefert, das direkt proportional der Größe des Quadratwellen-OszillatGi-stromes ist Das Gleichstromsignal
wird dann in einem Komparator 534 mit einem Bezugssignal verglichen, das in einem Spannungsteiler
erzeugt wird, der durch die Widerstände 540 und 541 gebildet wird. Die Widerstände 540 und 54i sind
so gewähit, daß sie eine maximale Impedanz für
Leitungskontinuität liefern. Eine Impedanz oberhalb des Maximums wird als ein Anzeichen für einen offenen
Leitungskreis gewertet. Solange das Potential vom Gleichrichter 530 größer als das Potential am
Knotenpunkt 358 ist, verhindert der Komparator 534 einen Stromfluß vom Verbindungspunkt 510 durch die
lichtemittierende Diode 544.
Wenn eine Impedanz arbeitsmäßig mit der Prüfleitung 524 verbunden wird, ist der oszillierende
Quadratwellenstrorn gedämpft und das Potential, das sich durch den Hochpaßfilter 526 und den Gleichrichter
530 ergibt, wird so vermindert, daß es unterhalb des Bezugspotentials an dem Knotenpunkt 538 liegt,
welches durch die Widerstände 540 und 541 bestimmt wird. Der Komparator 534 gestattet dann einen
Stromfluß von der Leitung 515 durch die Leitung 542, die lichtemittierende Diode 544, die Leitung 546, die
Verbindungsstelle 519 und die Leitung 517. Auf diese Weise bleibt die lichtemittierende Diode 544 im
Zündzustand immer dann, wenn eine Impedanz bis zum Maximumwert an die Prüfleitung 524 angelegt wird.
Es wird nunmehr Bezug genommen auf F i g. 8. In dieser ist eine bevorzugte Ausführungsform des
Fehlerdetektors allgemein dargestellt und mit 600 bezeichnet Der Fehlerdetektor 600 umfaßt den auf ein
festgesetztes Potential bezogenen Kontinuitäts-Anzeigekreis 100 und den Impedanzmeßicreis 500. Der
Knotenpunkt 510 ist mit der Grundleitung 116 verbunden, der Verbinder 512 mit der Hauptleitung 120
und der Verbinder 514 mit der Prüfleitung 164.
In Fig.9 ist eine erste alternative Ausführungsform
des Fehlerdetektors gezeigt und mit 700 bezeichnet. Dieser umfaßt einen auf einen Prozentsatz des
Potentials bezogenen Kontinuitäts-Anzeigekreis 300 in Verbindung mit einem Impedanzmeßkreis 500. Der
Verbinder 510 ist an die Hauptleitung 316, der Verbinder 512 an die Hauptleitung 320 und der
Verbinder 514 an die Prüfleitung 360 angeschlossen.
In Fig. 10 ist eine zweite Alternative für einen Fehlerdetektor 800 gezeigt. Dieser umfaßt einen
vereinfacht auf ein festgesetztes Potential bezogenen Kontinuitäts-Anzeigekreis 400 in Verbindung mit einem
Impedanzmeßkreis 500. Der Verbinder 510 ist an die Hauptleitung 414. der Verbinder 512 an die Hauptleitung
416 und der Verbinder 514 an die Prüfleitung 424 angeschlossen.
Hierzu j Blatt Zeichnungen
Claims (12)
1. Fehlersuchgerät für elektrische Kreise, bestehend aus mehreren an die Anschlußkontakte von
Stromquellen elektrischer Kreise anschließbaren Anschlußeiementen, einem mit einem ausgewählten
Punkt des elektrischen Kreises in Berührung verbringbaren Prüfelement und jeweils einem
zwischen dem Prüfelement und einem Anschlußelement angeordneten und durch Ein- bzw. Ausschalten
eine Anzeige liefernden — vorzugsweise lichtaussendenden — Anzeigeelement, sowie aus elektronischen
Schaltelementen, weiche auf den elektrischen Zustand an dem ausgewählten Punkt ansprechen
und die Anzeigeelemente steuern, dadurch '5 gekennzeichnet, daß bei angeschlossenen
drei Anschlußelemeten (110,112,114) bzw. 310,312,
314) und bei isoliertem Prüfelement (168 bzw. 362) im leitenden Zustand befindliche Schaltelemente
(134, 176, 192 bzw. 334, 338, 342 und 346) einen das jeweils zugeordnete Anzeigeelement (122, 130, 126
bzw. 350,366,380) umgehenden Stromweg zwischen den drei Anschlußelementen einerseits und zwischen
diesen und dem Prüfelement andererseits bilden, daß die Anzeigeelemente nur einschalten, wenn der
umgehende Stromweg gesperrt ist, und daß bei Kontakt zwischen Prüfelement und ausgewähltem
Kreispunkt jedes der den das zugeordnete Anzeigeelement jeweils umgehenden Stromweg steuernde
Schaltelement sperrt, wenn das Potential am Prüfelement einen vorbestimmten Potentialwert aus
mehreren unterschiedlichen vorbestimmten Potentialwerten oder Potentialwertbereichen annimmt.
2. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der vorbestimmte Potential- *5
wert oder Potentialwertbereich, bei dem ein Anzeigeelement (122, 126, 130) zündet, jeweils von
dem Potential an dem Anschlußelement (110, 112, 114) durch einen vorbestimmten Potentialabfall über
den Kreiselementen (z. B. 134,135,1G2) des von dem Schaltelement (134, 174, 176, 192) gebildeten
Leitungsweg zwischen Prüfelement (168) und Anschlußelement differiert.
3. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der vorbestimmte Potential- «
wert oder Potentialwertbereich, bei dem ein Anzeigeelement (350, 366, 376) zündet, durch einen
die Ausschaltpotentiale der Schaltelemente (334, 338,342 und 346) bestimmenden Potentialteiler (322,
324, 326, 328, 330, 332) zwischen den Anschlußele- w menten (310,312,314) festgelegt ist.
4. Fehlersuchgerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Anzeigeeinrichtungen
(122,126) unter Zwischenschaltung eines Widerstandes (124) in Reihe an die Anschlußelemente (110,
114) für das höchste und das niedrigste Anschlußpotential angeschlossen sind und die dritte Anzeigeeinrichtung
(130) parallel dazu zwischen Widerständen (128, 132) angeordnet ist und diese beiderseits über
Zenerdioden (182, 188) an das Anschlußelement «> (112) für das mittlere Potential und über zwei an das
mittlere Potential angeschlossene Schaltelemente (174, 176) an das Prüfelement (164, 168) angeschlossen
ist.
5. Fehlersuchgerät nach Anspruch 3, dadurch hC>
gekennzeichnet, daß die Basis jedes als Transistor ausgebildeten Schaltelementes (334, 338, 342, 346)
mit einem Zwischenpotential des Potentialteilers und über eine Diode mit seinem Emitter verbunden
ist und mit jedem Schaltelement 1 mit der Anzeigeeinrichtung (350, 366, 380) in Reihe zwischen
Anschlußelement und Prüfelement liegender weiterer Transistor in Gegenschaltung verbunden
ist
6. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß jeder Anzeigeeinrichtung ein
Haltekreis (140) zugeordnet ist, der bei nur kurzzeitig annähernder Gleichheit der Potentiale
anspricht und die zugehörige Anzeigeeinrichtung für eine vorbestimmte Dauer im Anzeigezustand hält.
7. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung (162,190,204)
vorgesehen ist, die bei isoliertem Prüfelement (168) und mit den Potentialen verbundenen Anschlußeiementen
(110, 112, 114) das Ruhepotential der Anschlußleitung (164) des Prüfelementes auf einen
Wert zwischen zwei ausgewählten Anschlußpotentialen der drei Anschlußpotentiale in der Schwebe
hält.
8. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß ein Schwingungserzeugerkreis
(520) vorgesehen ist, mittels dem dem Prüfelement (168, 362) ein oszillierendes Signal aufdrückbar ist
und der eine auf eine vorbestimmte Dämpfung des Signals ansprechende Anzeigeeinrichtung (544)
aufweist.
9. Fehlersuchgerät nach Anspruch 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß den Anzeigeeinrichtungen
jeweils Schutzelemente (138, 1160, 200, 204 bzw. 182, 188) zugeordnet sind, die auf Umkehr der vorgesehenen
Potentiale bzw. auf sonstige Verbindungsfehler ansprechen.
10. Fehlersuchgerät nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß jedes der beiden Schaltelemente
(170, 174 bzw. 172,176) jeweils zu einer der beiden Zenerdioden (182, 188) derart parallel geschaltet ist,
daß die zugehörige Anzeigeeinrichtung (130) auf einen festen Potentialbereich am Prüfkontaktelement
(168) anspricht, der Potentialwerte beiderseits de? Potentials am mittleren Anschlußkontaktelement
(112) umfaßt.
11. Fehlersuchgerät nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die dem mittleren Anschlußelement
(312) zugeordnete Anzeigeeinrichtung (366) jeweils über als Transistor ausgebildete Schaltelemente
(364, 368) an eine Verbindungsleitung jeweils zwischen dem Prüfelement (3126) und zwei beiderseits
des mittleren Anschlußelementes (312) liegende Potentialabgriffspunkte des Spannungsteilers angeschlossen
sind, wobei die Anzeigeeinrichtung (366) auf einen vorbestimmten Potentialbereich anspricht
der Potentialwerte beiderseits des Potential am mittleren Anschlußelement (312) umfaßt.
12. Fehlersuchgerät nach Anspruch 8 bis 11,
dadurch gekennzeichnet, daß an die Anschlußelemente (110, 114) für das höchste und das niedrigste
Potential und das Prüfelement (168) ein Schwingungserzeugerkreis (520) anschließbar ist, die den
Stromfluß in dem zu prüfenden Kreis in ein oszillierendes Stromsignal umwandelt, und daß an
die Prüfleitung ein Gleichrichterkreis (530) zur Erzeugung eines dem oszillierenden Stromsignal
proportionalen Gleichstromsignals angeschlossen ist, das einem Koparatorkreis (534) zugeleitet wird,
der seinerseits mit den Anschlußelementen des Suchgerätes verbunden ist, und daß eine Anzeigeein-
J I
richtung (544) auf einen vorbestimmten Ausgangswert des Gleichrichtersignals anspricht.
Die Erfindung betrifft ein Fehlersuchgerät für elektrische Kreise, entsprechend dem Oberbegriff des
Anspruchs 1.
Es sind bereits verschiedene Vorrichtungen bekannt und entwickelt worden, um den Durchgang in
elektrischen Schaltungen überprüfen zu können. Hierbei wird beispielsweise der elektrische Durchgang
zwischen den Enden der Leiter der Komponenten des Systems gemessen oder gefühlt. Diese Vorrichtungen
werden allgemein als Ohmmeter bezeichnet (vgl. US-PS 33 28 684). Diesen Vorrichtungen haftet eine Anzahl
von Problemen an. Bei komplexen Schaltungen müssen beide Enden der Leiter aufgefunden we. den. Außerdem
muß im allgemeinen der Leiter von dem Rest der elektrischen Schaltung getrennt werden, um Fehleranzeigen
zu vermeiden. Bei elektrischen Schaltungen großer Abmessungen bedarf es für die Vorrichtung
langer Zuleitungen, um an die Enden des Prüfleiters zu gelangen, die weit auseinanderliegen können. Schließlich
führt die häufige schlechte Zugängigkeit der Leiterenden zu einem erheblichen Zeitaufwand für die
Prüfung.
Bei anderen Vorrichtungen zum Messen des Durchganges in elektrischen Schaltungen wird das Potential
zwischen der zugehörigen Stromquelle und mit dieser in Bezug stehenden Leitern gemessen. Derartige Vorrichtungen
werden allgemein als Voltmeßeinrichtungen bezeichnet (vgl. die US-Patentschriften 31 57 870,
33 11 907, 22 29 927, 36 00 678, 36 19 775 und 30 72 895). Diese Vorrichtungen haben den Nachteil, daß sie nicht
in der Lage sind, mit einer einzigen Ablesung den Unterschied zwischen der nächsten Unterbrechungsstelle oder einem übermäßigen Widerstand in einem,
fehlerhaften Schaltkreis und einer Niederspannungsquelle in einem lehlerfreien Schaltkreis festzustellen. Es
ist eine zweite Potentialablesung über die Spannungsquelle selbst stets notwendig, bevor die erste Ablesung
ausgedeutet werden kann. Während die ersten beiden Ablesungen einen Durchgang in einem ersten Abschnitt
des Systems von der Spannungsquelle zu einem ausgewählten Punkt anzeigen, ist eine dritte Ablesung
notwendig, um für den Rest des Schaltkreises von dem ausgewählten Punkt zurück zur Spannungsquelle eine
Aussage über Durchgang machen zu können.
Es ist weiterhin bekannt, mit einer Vorrichtung lediglich Spanrungshöhen zu unterscheiden und so
indirekt auch eine Bestätigung für einen Durchgang zu erhalten (vgl. US-PS 35 25 939). Diese Vorrichtung
bezieht sich auf Spannungen an einem ausgewählten Punkt gegenüber einem einzigen, und zwar dem
Erdpotential. Sie ist zwar sehr brauchbar, Durchgang in geerdeten Schaltungskreisabschnitten von logischen
Kreisen festzustellen, hat jedoch im übrigen die gleichen Nachteile, wie sie oben im Zusammenhang mit den
Spannungsmeßgeräten beschrieben worden sind.
Es sind auch Prüfgeräte zum Prüfen von Kreisen bekannt, bei denen die Energiequelle zwei in Reihe
liegende Spannungsquellen mit drei unterschiedlichen Potentialen aufweist (vgl. US-PS 39 25 771). Hierbei
handelt es sich aber praktisch ebenfalls um ein Voltmeßgerät zur Überprüfung der Spannungsquellen
selbst.
Weiterhin ist es bekannt, oszillierende Prüfspannungssignale zu erzeugen und in den zu prüfenden Kreis
einzuleiten, um eine hörbare Überprüfung des Durchgangs von Schaltungsabschnitten zu erhalten (vgl.
US-PS39 44 921).
Es ist weiter eine Vorrichtung der eingangs näher bezeichneten Art bekannt, die für Schaltungen im
Telefonnetz geeignet ist und gleichermaßen für Netze mit 48 Volt bzw. für Netze mit 24 Volt einsetzbar ist. Die
ίο bekannte Vorrichtung weist Anschlußelemente zum
Anschließen an die beiden Potentiale einer Energiequelle auf sowie ein Prüfelement, wobei zwischen einem
Anschlußelement und dem Prüfelement jeweils in Reihe eine Anzeigeeinrichtung und eine Schalteinrichtung
angeordnet sind. Die Anordnung ist so getroffen, daß die eine oder die andere der beiden als Anzeigeeinrichtungen
vorgesehenen lichtemittierenden Dioden anspricht, je nachdem ob der ausgewählte Prüfpunkt eine
positive oder eine negative Spannung zeigt. Außerdem ist eine Schutzeinrichtung vorgesehen, welche die
Anzeigeeinrichtungen schützt, wenn die Anschlußelemente versehentlich bezüglich der Polarität der
Spannungsquelle vertauscht angeschlossen sind (vgl. US-PS38 06 803).
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Vorrichtung der eingangs näher bezeichneten Art so
weiterzubilden, daß die Überprüfung auch komplizierter elektronischer oder elektrischer Kreise mit großer
Zuverlässigkeit und großem Unterscheidungsvermögen zwischen verschiedenen zulässigen und fehlerhaften
Zuständen bei geringem Zeitaufwand ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale des kennzeichnenden Teils des Anspruchs 1
gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen des Gegenstands des Anspruchs 1 ergeben sich aus den Gegenständen der
Unteransprüche.
Mit der neuen Vorrichtung ist es möglich, festzustellen, ob Leitungsverbindungen in einem elektrischen
System in Ordnung sind, ob ein Kurzschluß vorliegt, ob eine Leitungsunterbrechung vorliegt, ob ein übermäßiger
Widerstand vorhanden ist oder ob eine inkorrekte Verdrahtung vorgesehen ist. Dies ist möglich, indem
man nur ein einziges Prüfelement entlang einer Reihe von Punkten entlangführt, beginnend von einer
nichtfunktionierenden Last, von der das Prüfelement in Richtung einer der Potentiale der Spannungsquelle
geführt wird. Es ist nicht notwendig, getrennt vorher die Potentiale der Spannungsquelle zu bestimmen oder die
Anschlußverbindungen des Prüfinstrumentes während der Diagnose zu verändern. Auch kann die Prüfeinrichtung
verwendet werden wahlweise bei Wechselstromkreisen oder bei Gleichstromkreisen scwie bei solchen
Systemen, welche nur intermittierende oder impulsartige Leitfähigkeitsverbindungen aufweisen.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand schematischer Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen
Fig. 1 und 2 typische elektrische Systeme mit zwei bzw. einer Spannungsquelle,
bo F i g. 3 einen Prüfkreis gemäß der Erfindung,
Fig.4 einen Haltekreis in Verbindung mit dem Prüfkreis nach F i g. 3,
F i g. 5 einen Prüfkreis, der das Ergebnis in Prozentwerten der Potentiale angibt,
F i g. 6 einen vereinfachten Anzeigekreis, dessen Anzeige in festgesetzten Potentialwerten erfolgt,
Fig. 7 einen ergänzenden mit Schwingungen arbeitenden
Prüfkreis und
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/651,808 US4031461A (en) | 1976-01-23 | 1976-01-23 | Source related potential indicating continuity tester |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2701896A1 DE2701896A1 (de) | 1977-07-28 |
DE2701896B2 DE2701896B2 (de) | 1979-03-15 |
DE2701896C3 true DE2701896C3 (de) | 1979-11-08 |
Family
ID=24614306
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2701896A Expired DE2701896C3 (de) | 1976-01-23 | 1977-01-19 | Fehlersuchgerät für elektrische Kreise |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4031461A (de) |
JP (1) | JPS6044623B2 (de) |
AU (1) | AU501976B2 (de) |
CA (1) | CA1072637A (de) |
DE (1) | DE2701896C3 (de) |
ES (1) | ES455270A1 (de) |
FR (1) | FR2339175A1 (de) |
IT (1) | IT1086752B (de) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4160206A (en) * | 1977-12-14 | 1979-07-03 | Bengt Berendonk | Audible voltage-impedance tester |
US4583086A (en) * | 1982-04-08 | 1986-04-15 | Remote Sensors, Inc. | Circuit for monitoring the operating condition of an electric load |
US4594542A (en) * | 1984-02-21 | 1986-06-10 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Solid state, high-low resistance monitor |
US4764727A (en) * | 1986-10-14 | 1988-08-16 | Mcconchie Sr Noel P | Circuit continuity and voltage tester |
US4884033A (en) * | 1986-10-14 | 1989-11-28 | Mcconchie Sr Noel P | Diagnostic test apparatus for electrical system of automotive vehicle |
JPH0489019U (de) * | 1990-12-11 | 1992-08-03 | ||
JP3287624B2 (ja) * | 1993-01-11 | 2002-06-04 | 三菱電機株式会社 | 半導体センサ |
US11784482B2 (en) * | 2020-10-20 | 2023-10-10 | Apple Inc. | Electrical connection monitoring using cable shielding |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2229927A (en) * | 1939-09-02 | 1941-01-28 | Joe A Kamper | Electrical tester |
US3600678A (en) * | 1969-09-12 | 1971-08-17 | Jim C Garrett | Solid-state polarity tester for telephone equipment |
US3619775A (en) * | 1969-11-25 | 1971-11-09 | Pulse Monitors Inc | Polarity and voltage level detecting test probe |
US3673588A (en) * | 1970-01-14 | 1972-06-27 | Motorola Inc | Voltage regulator indicating circuit for undervoltage, normal voltage and overvoltage conditions |
US3944921A (en) * | 1970-12-11 | 1976-03-16 | Canon Kabushiki Kaisha | Logic level test probe with grated oscillator |
US3828256A (en) * | 1971-05-13 | 1974-08-06 | C Liu | Self contained test probe employing high input impedance |
US3806803A (en) * | 1973-06-06 | 1974-04-23 | Gen Tel Co Of Cal | Portable voltage sampling probe device |
JPS5330283Y2 (de) * | 1973-07-19 | 1978-07-28 |
-
1976
- 1976-01-23 US US05/651,808 patent/US4031461A/en not_active Expired - Lifetime
- 1976-11-30 CA CA266,892A patent/CA1072637A/en not_active Expired
- 1976-12-15 AU AU20575/76A patent/AU501976B2/en not_active Expired
-
1977
- 1977-01-14 FR FR7701044A patent/FR2339175A1/fr active Granted
- 1977-01-17 JP JP52003879A patent/JPS6044623B2/ja not_active Expired
- 1977-01-19 DE DE2701896A patent/DE2701896C3/de not_active Expired
- 1977-01-19 IT IT47701/77A patent/IT1086752B/it active
- 1977-01-22 ES ES455270A patent/ES455270A1/es not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2701896B2 (de) | 1979-03-15 |
US4031461A (en) | 1977-06-21 |
JPS5291147A (en) | 1977-08-01 |
FR2339175B1 (de) | 1980-04-30 |
IT1086752B (it) | 1985-05-31 |
JPS6044623B2 (ja) | 1985-10-04 |
DE2701896A1 (de) | 1977-07-28 |
ES455270A1 (es) | 1978-01-01 |
CA1072637A (en) | 1980-02-26 |
AU501976B2 (en) | 1979-07-05 |
AU2057576A (en) | 1978-06-22 |
FR2339175A1 (fr) | 1977-08-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69633655T2 (de) | Anordnung zum testen der erdung von wechselspannungssteckdosen und leitungstestschaltung | |
DE102014201044B3 (de) | Isolationsüberwachungsvorrichtung zur simultanen Überwachung von Netzabschnitten eines ungeerdeten Stromversorgungssystems | |
DE2935585C2 (de) | Schaltungsanordnung zur mit Gleichspannung durchführbaren Durchgangsprüfung | |
EP2181029B1 (de) | Überwachungsvorrichtung zur überwachung eines anschlusses einer anschlusskomponente | |
DE2316434A1 (de) | Pruefanordnung zur ueberpruefung der arbeitsweise einer logikschaltung | |
DE2701896C3 (de) | Fehlersuchgerät für elektrische Kreise | |
CH697833B1 (de) | Überwachungseinrichtung. | |
DE2308115A1 (de) | Stoerungsdetektor fuer eine sicherheitsvorrichtung bei fahrzeugen | |
EP3832324A1 (de) | Schaltungsanordnung mit aktiver messspannung zur bestimmung eines isolationswiderstands gegen erdpotential in einem ungeerdeten stromversorgungssystem | |
DE102015219901A1 (de) | Diagnosevorrichtung und Verfahren zum Detektieren eines Defekts von zumindest einer aus mehreren Leuchtdioden | |
DE2309113A1 (de) | Stoerungs-detektor fuer ein betaetigungsglied bei sicherheitsvorrichtungen in motorfahrzeugen | |
DE2213977C3 (de) | Schaltung zur Prüfung mehrerer zwischen zwei Klemmen parallel zueinander geschalteter Schaltelemente | |
EP0590180B1 (de) | Messanordnung zur Prüfung der Masseanschlüsse einer Schaltung, z.B. Steuerschaltung eines Airbagsystemes eines Kfz | |
DE1908255A1 (de) | Fernalarmnetz | |
DE2456073C3 (de) | Schutzanordnung fur Drehstromubertragungssysteme | |
EP0502549B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Zündüberwachung einer Zündanlage | |
DE3330869C2 (de) | Schaltung zum Erkennen von Erdschlüssen in den Speisekreisen von Drehstrom-Weichenantrieben | |
DE19831088C2 (de) | Schaltungsanordnung zur Überprüfung einer Tri-State-Erkennungsschaltung | |
DE1538609B2 (de) | Transistorisierte Schaltungsanordnung zum automatischen Prüfen gedruckter Leitungszüge | |
DE102017005589A1 (de) | Interlocksystem zum Überwachen zumindest einer Hochvolt-Komponente eines Kraftfahrzeugs, Hochvolt-Komponente, Hochvolt-System sowie Verfahren | |
DE2737067A1 (de) | Geraet zur pruefung elektrischer bauteile, insbesondere elektrischer kabel | |
DE102022110812A1 (de) | Sicherheitsschaltvorrichtung insbesondere zum überwachten Einschalten eines elektrischen und/oder elektronischen Verbrauchers | |
EP0615580B1 (de) | Zündanlage mit variabler primärspannungsbegrenzung und fehlerdiagnose | |
DE1454421A1 (de) | Fernueberwachungseinrichtung | |
DE2917964A1 (de) | Vorrrichtung zur ueberwachung der fuktionsfaehigkeit von betriebsfunktionen in kraftfahrzeugen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BI | Miscellaneous see part 2 | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |