DE2542904A1 - Verfahren zum pruefen eines gegenstandes - Google Patents
Verfahren zum pruefen eines gegenstandesInfo
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Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752542904 DE2542904A1 (de) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | Verfahren zum pruefen eines gegenstandes |
CH975976A CH601770A5 (US20090163788A1-20090625-C00002.png) | 1975-09-26 | 1976-07-31 | |
FR7625877A FR2325907A1 (fr) | 1975-09-26 | 1976-08-26 | Procede pour le controle du trace de pourtour et de l'etat de surface d'un objet plat |
JP11089276A JPS5245954A (en) | 1975-09-26 | 1976-09-17 | Method of inspecting object |
DK424576A DK424576A (da) | 1975-09-26 | 1976-09-21 | Fremgangsmade til afprovning af en todimensional genstands begrensningslinier ved hjelp af et fjernsynskamera, der optager i polere koordinater |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752542904 DE2542904A1 (de) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | Verfahren zum pruefen eines gegenstandes |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2542904A1 true DE2542904A1 (de) | 1977-03-31 |
Family
ID=5957472
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752542904 Pending DE2542904A1 (de) | 1975-09-26 | 1975-09-26 | Verfahren zum pruefen eines gegenstandes |
Country Status (5)
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0238247A1 (en) * | 1986-03-10 | 1987-09-23 | Fujitsu Limited | Method for measuring dimensions of fine pattern |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5845505A (ja) * | 1981-09-12 | 1983-03-16 | Anritsu Corp | 形状判別装置 |
DE3439617A1 (de) * | 1984-10-30 | 1986-04-30 | Forschungsinstitut für Kraftfahrwesen und Fahrzeugmotoren Stuttgart - FKFS -, 7000 Stuttgart | Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von koerpern |
JP2596744B2 (ja) * | 1987-04-16 | 1997-04-02 | 富士写真フイルム株式会社 | 放射線照射野認識方法 |
JP3435326B2 (ja) * | 1997-10-29 | 2003-08-11 | ペンタックス株式会社 | 光学部材検査装置 |
-
1975
- 1975-09-26 DE DE19752542904 patent/DE2542904A1/de active Pending
-
1976
- 1976-07-31 CH CH975976A patent/CH601770A5/xx not_active IP Right Cessation
- 1976-08-26 FR FR7625877A patent/FR2325907A1/fr not_active Withdrawn
- 1976-09-17 JP JP11089276A patent/JPS5245954A/ja active Pending
- 1976-09-21 DK DK424576A patent/DK424576A/da unknown
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0238247A1 (en) * | 1986-03-10 | 1987-09-23 | Fujitsu Limited | Method for measuring dimensions of fine pattern |
US4790023A (en) * | 1986-03-10 | 1988-12-06 | Fujitsu Limited | Method for measuring dimensions of fine pattern |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CH601770A5 (US20090163788A1-20090625-C00002.png) | 1978-07-14 |
FR2325907A1 (fr) | 1977-04-22 |
JPS5245954A (en) | 1977-04-12 |
DK424576A (da) | 1977-03-27 |
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