DE2527933B1

DE2527933B1 - Detection system for disturbing voltages in telephone systems - detects spray DC voltages on which AC disturbing voltages are superposed

Info

Publication number: DE2527933B1
Application number: DE19752527933
Authority: DE
Inventors: Gerhard Dipl-Ing Hopper; Klaus Ruhwandl
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1975-06-23
Filing date: 1975-06-23
Publication date: 1976-09-09
Also published as: DE2527933A1

Abstract

The system gives a good or bad judgement based on a given limit value. A stabilizing time is allowed before each of two measuring phases, the duration of which is based on the shortest time (60 msec) in which full periods of all anticipated disturbing a.c. voltages occur. In the first phase the system being monitored is connected at no-load to a measuring circuit and in the second phase a load is applied to the measuring circuit input. In each phase the signal derived from the stray voltage is integrated and the result obtained in the second phase is subtracted from that obtained in the first. The difference between the two results represents the good or bad indication. Several amplifiers (V3, V4) are used.

Description

Gegenüber den Schaltungsanordnungen mit Transformatoren hat die Schaltungsanordnung gemäß der Erfindung zusätzlich noch den Vorteil, daß sie kleiner und leichter aufgebaut sein kann. Compared to the circuit arrangements with transformers, the circuit arrangement according to the invention also has the advantage that it is smaller and lighter can be.

Weitere Vorteile gehen aus dem Beispiel der Erfindung hervor, das anhand der Fig.1 bis 3 beschrieben ist. Während in Fig.1 die Baugruppen gezeigt sind, die zur Durchführung der erfindungsgemäßen Messen erforderlich sind, sind in F i g. 2 Kurvenzüge dargestellt, die an den einzelnen Punkten der Schaltungsanordnung gemäß F i g. I entstehen. In F i g. 3 ist eine Schaltungsanordnung gezeigt, in der beispielsweise die Schaltungsanordnung gemäß Fig.1 angewendet wird. Further advantages emerge from the example of the invention that is described with reference to FIGS. While in Fig.1 the assemblies are shown which are necessary for carrying out the measurements according to the invention are in Fig. 2 curves shown at the individual points of the circuit arrangement according to FIG. I arise. In Fig. 3 shows a circuit arrangement in which for example, the circuit arrangement according to Figure 1 is used.

Gemäß F i g. 1 setzen sich die störenden Fremdspannungen aus einem Gleichspannungsanteil UFG und einem Wechselspannungsanteil UFW zusammen, die über einen Fremdwiderstand RF, der sich beispielsweise an der Berührungsstelle bildet, in das Fernmeldenetz gelangen. Mit dieser Schaltungsanordnung werden beispielsweise die Sprechadern in einem Koppelnetz einschließlich evtl. vorhandener externer Leitungen des Koppelnetzes, die beispielsweise zu einem anderen Koppelnetz führen, auf Vorhandensein von Fremdschlüssen untersucht. According to FIG. 1, the interfering external voltages consist of a DC voltage component UFG and an AC voltage component UFW together, which over an external resistance RF that is formed, for example, at the point of contact, get into the telecommunications network. With this circuit arrangement, for example the speech wires in a coupling network including any external lines that may be present of the switching network, which for example lead to another switching network, for existence examined by foreign conclusions.

Die Störspannung UFW soll für dieses Beispiel vom Bahnstrom (162/3 Hz) und vom technischen Wechselstrom (50Hz) herrühren. Da in einer Periode des Bahnstromes drei ganzzahlige Perioden des technischen Wechselstromes enthalten sind, wird die Schwingungsdauer einer Periode des Bahnstromes, also 60 ms, für jede Meßphase festgelegt. For this example, the interference voltage UFW should come from the traction current (162/3 Hz) and from technical alternating current (50Hz). As in a period of the traction current three whole-number periods of the technical alternating current are included, the Oscillation duration of a period of the traction current, i.e. 60 ms, is fixed for each measurement phase.

Die zu messenden Fremdspannungen werden am Punkt M von einer Prüf-Eingangsschaltung Pabgegriffen. Da die Spannung, gegen die der zu ermittelnde Fremdschlußwiderstand bezogen ist, im Einzelfall nicht bekannt ist, statt dessen nur ein möglicher Bereich zugrunde gelegt werden kann, läuft das Prinzip der Messung darauf hinaus, den Innenwiderstand einer unbekannten Spannungsquelle qualitativ zu bestimmen. The external voltages to be measured are provided at point M by a test input circuit Ptapped. Since the voltage against which the external fault resistance to be determined is related, is not known in the individual case, instead only one possible area can be taken as a basis, the principle of measurement boils down to the internal resistance an unknown voltage source to determine qualitatively.

Qualitativ heißt in diesem Fall, daß von dem Meßgerät eine Gut/Schlechtaussage hinsichtlich eines vorgegebenen Grenzwertes gebildet wird. Dies kann nur in zwei Meßphasen, im Leerlauf- und Belastungsfall, durchgeführt werden.In this case, qualitative means that the measuring device has made a good / bad statement is formed with respect to a predetermined limit value. This can only be done in two Measurement phases, in idle and load cases, can be carried out.

Der Belastungsfall wird dadurch gebildet, daß der Meßeingang mit einem Belastungswiderstand RL gegen eine Bezugsspannung Ubeaufschlagt wird. The load case is formed by the measuring input with a load resistor RL is applied against a reference voltage.

Der Prüf-Eingangsschaltung P folgt ein Impedanz-und Spannungswandler, der einen gegengekoppelten Operationsverstärker V1 enthält. Sein nicht invertierender Eingang ist, genauso wie die gleichen Eingänge der nachfolgenden Operationsverstärker, über einen Widerstand RK auf Bezugspotential U gelegt. Aufgabe des Impedanzwandlers W ist es, hohe, über den zu ermittelnden Fremdschlußwiderstand RF anliegende externe Spannungen zur Vermeidung von Sättigungseffekten zu reduzieren und den nachfolgenden Integrator T niederohmig und unbeeinflußbar vom äußeren Netzwerk anzusteuern. The test input circuit P is followed by an impedance and voltage converter, which contains a negative feedback operational amplifier V1. Its not inverting Input is just like the same inputs of the subsequent operational amplifiers, Placed on reference potential U via a resistor RK. Task of the impedance converter W is the high external voltage applied via the external fault resistance RF to be determined To reduce tension to avoid saturation effects and the subsequent To control integrator T with low impedance and without any influence from the external network.

Der sich an den Impedanzwandler W anschließende Inverter N tritt, aktiviert über Kontakt K 2, nur während der zweiten Meßphase, der Belastungsphase, in Aktion. Er dreht als gegengekoppelter Operationsverstärker V2 die vom Impedanzwandler angebotene Meßspannung in der Phase um 180° und verstärkt sie zugleich um den Faktor, um den die Eingangs-Amplitude am Punkt M für den Grenzfall des Fremdschlußwiderstandes abgesunken ist, wenn der Widerstandswert RF gleich dem Belastungswiderstand RL ist. Bei einer Verminderung der Eingangs-Amplitude auf 50% beträgt der Verstärkungsfaktor des Inverters N also 2. The inverter N connected to the impedance converter W occurs, activated via contact K 2, only during the second measurement phase, the load phase, in action. As a counter-coupled operational amplifier V2, it rotates the impedance converter offered measuring voltage in the phase by 180 ° and at the same time amplifies it by the factor, around the input amplitude at point M for the borderline case of the cross-circuit resistance has decreased when the resistance value RF is equal to the load resistance RL. If the input amplitude is reduced to 50%, the gain factor is of the inverter N therefore 2.

Dadurch ist eine völlige Kompensation der am Meßpunkt M im Belastungsfall abgesunkenen Amplitude erreicht. Der Inverter N ermöglicht damit eine definierte Auswertung eines Fremdschlußwiderstandes hinsichtlich eines vorgegebenen Grenzwertes unabhängig von der unbekannten Höhe der an ihm anliegenden Fremdspannung.This completely compensates for that at measuring point M in the event of a load decreased amplitude reached. The inverter N thus enables a defined Evaluation of an external terminal resistance with regard to a specified limit value regardless of the unknown level of the external voltage applied to it.

Der nachfolgende Integrator Tbesteht im wesentlichen aus einem Operationsverstärker V3, einem als Kondensator ausgeführten Integrationsspeicher C und einem aus den Widerständen R 5 und R 6 zusammengesetzten Integrationswiderstand. Der Operationsverstärker V3 liegt eingangsseitig über einen Kontakt K 4 auf Bezugspotential U und wird nur für die Dauer der beiden Meßphasen zur Ansteuerung durch die vorgeordneten Stufen freigegeben. The following integrator T essentially consists of an operational amplifier V3, an integration memory C designed as a capacitor and one from the Resistors R 5 and R 6 composite integration resistance. The operational amplifier V3 is on the input side via a contact K 4 to reference potential U and is only for the duration of the two measuring phases for control by the upstream stages Approved.

Dem Integrator Tist ein Vergleicher G nachgeschaltet, der mit einem freilaufenden Operationsverstärker V4 bestückt ist. The integrator T is followed by a comparator G, which is connected to a free-running operational amplifier V4 is equipped.

Dem Vergleicher Gfolgt am Ausgang der Meßanordnung ein Ergebnisspeicher E mit einer Torschaltung L und mit einem 1-Bit-Speicher SP für das Meßergebnis. A results memory follows the comparator G at the output of the measuring arrangement E with a gate circuit L and with a 1-bit memory SP for the measurement result.

Das zeitgerechte Betätigen der einzelnen Kontakte sowie die Ausgabe des Speicherübergabeimpulses i besorgt die Zeitsteuerung Z. The timely activation of the individual contacts as well as the output of the memory transfer pulse i is taken care of by the time control Z.

Im einzelnen spielen sich folgende Vorgänge ab. The following processes take place in detail.

Zu Beginn der Prüfung wird über den Eingang s an die Zeitsteuerung Z das Startzeichen gegeben. Gemäß F i g. 2 ist das die Zeit tO. Es werden dabei gleichzeitig die schnellschaltenden Relais K1 und K 3 erregt. Die Verwendung ausschließlich solcher Relais Ist zweckmäßig, um die Integrationszeit exakt einzuhalten. At the beginning of the test, the input s is sent to the time control Z given the start signal. According to FIG. 2 this is the time tO. It will be there the fast-switching relays K1 and K 3 are energized at the same time. Use exclusively Such a relay is useful in order to keep the integration time exactly.

Mit dem Kontakt K 1 wird daraufhin die Meßanordnung an den Punkt M angeschaltet. Bei Vorhandensein einer Stör-Gleichspannung UFG und einer Stör-Wechselspannung UFW entsteht dort ein Spannungsverlauf, wie in Kurve 1 in F i g. 2 dargestellt. With the contact K 1 thereupon the measuring arrangement is at the point M turned on. In the presence of an interfering direct voltage UFG and an interfering alternating voltage UFW there is a voltage curve, as in curve 1 in FIG. 2 shown.

Gleichzeitig öffnet der Kontakt K 3, über den sowie über den Widerstand R 7 sich zuvor der Kondensator C im Integrator Tentladen hat. Damit ist die Ausgangsbedingung der ersten Meßphase derreicht. At the same time, contact K 3 opens, via and via the resistor R 7 the capacitor C in the integrator T has previously discharged. This is the starting condition the first measurement phase is sufficient.

Nach einer bis zum Zeitpunkt t 1 andauernden kurzen Beruhigungszeit, während der die Meßanordnung Zeit zum Einschwingen hat, wird bis zum Zeitpunkt t2 die Eingangsspannung am Meßpunkt M im Leerlauf, d. h. After a short settling time lasting up to time t 1, during which the measuring arrangement has time to settle, until time t2 the input voltage at measuring point M when idling, d. H.

mit vernachlässigbarer Belastung des hochohmigen Eingangswiderstandes R1 des Impedanzwandlers W ausgewertet. Hierzu gelangt durch Öffnen des Kontaktes K4 für die Dauer einer 162/3-Hz-Periode (60 ms) das vom Impedanzwandler W abgeschwächte Meßsignal unter Umgehung des nachfolgenden Inverters N (Ruheseite des Kontaktes K2) zum Integrator T.Die Spannungskurve 2 am Eingang und 3 am Ausgang des Inverters N sind dabei identisch, wie aus F i g. 2 hervorgeht.with negligible load on the high-value input resistance R1 of the impedance converter W evaluated. This is done by opening the contact K4 that weakened by the impedance converter W for the duration of a 162/3 Hz period (60 ms) Measurement signal bypassing the following inverter N (rest side of the contact K2) to integrator T. Voltage curve 2 at the input and 3 at the output of the inverter N are identical here, as from FIG. 2 shows.

Am Ende dieser ersten Meßphase d, wenn zum Zeitpunkt t 2 der Kontakt K 4 wieder schließt, hält der Integrationskondensator C das Ergebnis als Ladespannungswert am Ausgang des Operationsverstärkers V3 über die folgende Umschaltephase bis zu Beginn der zweiten Meßphase fest. At the end of this first measurement phase d, when the contact occurs at time t 2 K 4 closes again, the integration capacitor C holds the result as a charging voltage value at the output of the operational amplifier V3 via the following switching phase up to Start of the second measurement phase.

Zu Beginn der Umschaltephase im Zeitpunkt t 2, wird durch Betätigen des Kontaktes K 5 der Lastwiderstand RL an den Meßpunkt M angelegt und der Prüf-Eingangsschaltung P Gelegenheit gegeben, sich auf die veränderten Verhältnisse einzustellen. Während dieser Einschwingzeit schaltet auch der Kontakt K 2 den Inverter Nin den Leitungszug. At the beginning of the switchover phase at time t 2, is activated by pressing of the contact K 5, the load resistor RL is applied to the measuring point M and the test input circuit P given the opportunity to adjust to the changed circumstances. While This settling time also switches the contact K 2 the inverter Nin the line.

Zum Zeitpunkt t 3 beginnt die zweite Meßphase e als Belastungsphase abzulaufen, wobei wiederum für die Dauer von 60 ms der Integrator T über Kontakt K 4 aktiviert wird. Beide Meßphasen sind also gleich lang und bewirken aufgrund ihrer zeitlichen Bemessung, daß beide Stör-Wechselspannungen völlig eliminiert werden und damit das Meßergebnis nicht verfälschen können. At time t 3, the second measurement phase e begins as a loading phase to expire, again for the duration of 60 ms the integrator T via contact K 4 is activated. Both measuring phases are therefore of the same length and cause their temporal dimensioning that both interfering alternating voltages are completely eliminated and thus cannot falsify the measurement result.

Dies ist deutlich in F i g. 2 zu erkennen. Die schraffierten Flächen pund q sind eingeschlossen von den Kurven 3,4 und der Bezugsspannung U Diese Flächen stellen das Integrationsergebnis der beiden Meßphasen dar. Ist die Fläche q kleiner als die Fläche p,so endet die Kurve 5 im Bereich m, also oberhalb der Bezugslinie U,im anderen Falle unterhalb dieser Bezugslinie.This is clear in FIG. 2 to recognize. The hatched areas p and q are enclosed by curves 3, 4 and the reference voltage U These areas represent the integration result of the two measurement phases. If the area q is smaller than the area p, the curve 5 ends in the area m, that is, above the reference line U, otherwise below this reference line.

Der Verlauf der Kurve 3 zeigt eindeutig, daß die Fremdwechselspannung, die die Flächen p und q begrenzt, die Größe dieser Flächen nicht beeinflußt. The course of curve 3 clearly shows that the external alternating voltage, which limits the areas p and q, does not affect the size of these areas.

Dabei spielt es keine Rolle, ob die Stör-Wechselspannung UFW induktiv oder kapazitiv in die zum Punkt M führende Leitung eingekoppelt worden ist.It does not matter whether the interference AC voltage UFW is inductive or has been capacitively coupled into the line leading to point M.

Ausgangsbedingung der Belastungsphase e für den Integrator Tist diejenige Ladung, welche als Ergebnis der Leerlaufphase d gewonnen wurde und im Kondensator Cgespeichert ist. Dieser Speicher C wird nunmehr umgeladen bis auf eine zu bewertende Spannung f, die bei zulässigen Fremdschlußwiderständen kleiner, bei unzulässigen größer und im Grenzfall gleich der Bezugsspannung U ist. Im ersteren Fall liegt die Größe fim Bereich m, im zweiten im Bereich n und im dritten ist sie gleich Null. Dementsprechend schaltet der Operationsverstärker V4 im Vergleicher G im ersteren Fall seinen Ausgang in die andere Betriebslage. The initial condition of the load phase e for the integrator Tis the one Charge gained as a result of the idle phase d and in the capacitor C is stored. This memory C is now reloaded except for one to be assessed Voltage f, which is smaller with permissible external fault resistances, with impermissible is greater and in the limit case equal to the reference voltage U. In the former case lies the quantity f in area m, in the second in area n and in the third it is equal to zero. Accordingly, the operational amplifier V4 switches in the comparator G in the former Fall its exit in the other operating position.

Im Zeitpunkt t5 legt die Zeitsteuerung Z einen Speicherübergabeimpuls ian die Torschaltung L, daß für eine Gutaussage an den Eingängen der Torschaltung Signalkoinzidens vorliegt. Dadurch wird der Speicher SP gesetzt. Im zweiten Fall schaltet der Vergleicher G nicht durch, der Meßwertspeicher SPwird nicht gesetzt, was als Schlechtaussage gewertet wird. Im Grenzfall ist die Aussage unbestimmt. At time t5, the timing control Z applies a memory transfer pulse ian the gate circuit L that for a positive statement at the inputs of the gate circuit Signal coincidence is present. This sets the memory SP. In the second case the comparator G does not switch through, the measured value memory SP is not set, what is considered a bad statement. In the borderline case, the statement is indefinite.

Durch Ergänzung mit einer weiteren Torschaltung und mit einem Speicher läßt sich diese Schaltung auch so erweitern, daß auch eine Schlechtaussage und/oder der Grenzfall angezeigt wird. By adding another gate circuit and a memory this circuit can also be expanded so that a bad statement and / or the borderline case is displayed.

In F i g. 2 ist die Bezugsspannung U eingetragen, die um einen bestimmten Wert von der Spannung Null (Erdpotential) entfernt ist. Diese Differenz ist notwendig, um Erdschlüsse feststellen zu können. In Fig. 2 the reference voltage U is entered, which is around a certain Value is removed from the voltage zero (earth potential). This difference is necessary to be able to determine earth faults.

Wie in F i g. 1 angedeutet, können für den Belastungswiderstand RL verschiedene Größen als Grenzwerte für den zu messenden Fremdwiderstand RFdurch eine übergeordnete Steuerung vorgegeben werden, wenn die Meßanordnung entsprechend mit einer programmgesteuerten Grenzwertvorgabe entsprechend erweitert wird. Dabei gelangt man über die beschriebene qualitative Fremdschlußbestimmung hinaus mit einer Gut/Schlechtaussage hinsichtlich eines vorgegebenen Grenzwertes je nach Zusatzaufwand zu einer mehr oder weniger feinen quantitativen Auswertung, wenn man eine Bereichsschachtelung vornimmt und sich dem effektiven Wert in mehreren aufeinander folgenden Meßschritten immer mehr annähert. Der bei der letzten Messung erreichte Wert RL. der den ersten Grenzfall f= 0 oder die erste Gutaussage liefert, ist dann bei dem gewählten Beispiel (Verstärkungsfaktor 2 des Operationsverstärkers V2 im Inverter N) auch gleichzeitig der Wert des Widerstandes RF. Eine derartige quantitative Messung ist beispielsweise dann interessant, wenn über die Routineprüfung hinaus statistische Ergebnisse gewonnen werden sollen. As in Fig. 1 indicated, can for the load resistance RL different sizes as limit values for the external resistance RF to be measured a higher-level control can be specified if the measuring arrangement accordingly is expanded accordingly with a program-controlled limit value specification. Included one arrives beyond the described qualitative determination of external conclusions with a Good / bad statement with regard to a specified limit value depending on the additional effort to a more or less fine quantitative evaluation if one uses a range nesting undertakes and becomes the effective value in several consecutive Measuring steps is getting closer and closer. The value RL reached in the last measurement. the first The borderline case f = 0 or delivers the first positive statement is then in the example chosen (Gain factor 2 of the operational amplifier V2 in the inverter N) also at the same time the value of the resistance RF. Such a quantitative measurement is, for example interesting when statistical results are obtained in addition to routine testing should be.

Die beschriebene Meßanordnung kann auch als Indikator zum Erkennen fehlerhaft oder gezielt angelegter Potentiale dienen. Ein Beispiel dafür ist in F i g. 3 dargestellt. The measuring arrangement described can also be used as an indicator for recognition serve incorrectly or purposefully applied potentials. An example of this is in F i g. 3 shown.

An das Koppelnetz KN ist über eine längere Leitung ein Konzentrator KTangeschlossen. Einer von mehreren von ihm bedienten Teilnehmern ist mit Tn 1 bezeichnet, seine zugehörige Teilnehmerschaltung mit TS. A concentrator is connected to the coupling network KN via a longer line KT connected. One of several subscribers served by him is designated with Tn 1, its associated subscriber circuit with TS.

Außerdem ist noch einer von vielen Teilnehmern Tn 2 direkt an das Koppelnetz KN angeschaltet. Beide zum Koppelnetz KN führenden Leitungen können durch Fremdwechselspannungen UFW beeinflußt sein, die wie gezeichnet, zwischen den Adern a und b auftreten. In addition, one of the many participants is Tn 2 directly at the Coupling network KN switched on. Both lines leading to the coupling network KN can through External AC voltages UFW can be influenced, as shown, between the wires a and b occur.

Außerdem ist zwischen der Ader a und Erde ein Widerstand RF1 eingezeichnet, der einen Masseschluß darstellen soll.In addition, a resistor RF1 is drawn between wire a and earth, which should represent a short to ground.

Im Koppelnetz KN ist ein Widerstand RF2 angedeutet, der einen Schluß gegen eine benachbarte, potential führende Ader symbolisiert. In the coupling network KN, a resistor RF2 is indicated, which is a conclusion symbolized against an adjacent, potential leading wire.

An das Koppelnetz KN ist ferner noch eine Anzahl von Sätzen angeschlossen, von denen hier ein Vermittlungssatz VSgezeichnetist. A number of sets are also connected to the coupling network KN, of which a switching record VS is drawn here.

Schließlich ist mit dem Koppelnetz auch noch eine Prüfeinrichtung Prverbunden, die ein Fremdschlußmeßteil FM,wie beispielsweise gemäß F i g. 1 enthält. Dieser Fremdschlußmeßteil FM kann wahlweise an die Ader a oder die Ader b angeschlossen werden. Finally, with the coupling network, there is also a test facility Prverbunden, which a foreign connection measuring part FM, such as according to FIG. 1 contains. This external fault measuring part FM can optionally be connected to wire a or wire b will.

Mit Hilfe dieses Fremdschlußmeßteils FM können nicht nur Fremdspannungen UFG innerhalb des Koppelnetzes KN und den daran angeschlossenen, ggf. With the help of this external fault measuring part FM, not only external voltages UFG within the coupling network KN and the connected, possibly

mit Stör-Wechselspannungen beeinflußten Leitungen gemessen werden, es können auch andere Messungen über jeweils nur eine Ader durchgeführt werden, bei denen übliche Gleichstromschleifen-Meßverfahren zu keinem Ergebnis führen. So kann beispielsweise das Öffnen von Koppelkontakten im Konzentrator KT überwacht werden. Hierzu wird z. B. im Konzentrator KT über die Teilnehmerschaltung TS Potential an die entsprechenden Adern angelegt und der Fremdschlußmeßteil FM veranlaßt, gegen dieses vom Koppelnetz KN aus über die gegebenenfalls stark störspannungsbeeinflußte Konzentrator-Verbindungsleitung zu prüfen.lines influenced by interfering AC voltages are measured, other measurements can also be carried out using only one wire at a time, where conventional DC loop measurement methods lead to no result. So For example, the opening of coupling contacts in the concentrator KT can be monitored will. For this purpose z. B. in the concentrator KT via the subscriber circuit TS potential applied to the corresponding cores and the Fremdschlussmeßteil FM causes against this from the coupling network KN via the possibly heavily influenced by interference voltage Check concentrator connection line.

Im Normalfall befindet sich zwischen Meßteil FM und Gegenpotential der in der Regel geöffnete Koppelkontakt, die Meßanordnung FM spricht dann nicht an (Gutaussage). Bei verhaktem Koppelkontakt liefert die Meßanordnung eine Schlechtaussage, da der Innenwiderstand der Teilnehmerschaltung TS als wesentlich kleiner als der Widerstand RF angenommen werden kann.Normally there is FM between the measuring part and the counter potential the coupling contact, which is usually open, then the measuring arrangement FM does not speak on (statement of approval). If the coupling contact is hooked, the measuring arrangement delivers a bad result, because the internal resistance of the subscriber circuit TS is much smaller than that Resistance RF can be assumed.

Claims

Claims: 1. Method for the interference voltage-independent Determination of external DC voltages in telecommunications, in particular telephone systems, with a good or bad statement, based on a predetermined limit value, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that the measurement is carried out in two measuring phases (i.e. e) takes place, before each of which a settling time is provided that the duration each measurement phase (d, e) measured according to the shortest period (60 ms), in the full periods of all expected interference AC voltages (UFW; 50 Hz, 162/3 Hz) occur that in the first measuring phase (d) the device under test (M) under no-load conditions to the measuring circuit is switched on, but in the second measuring phase (e) the input (M) of the measuring circuit an adjustable load (RL) is applied so that in each measuring phase (d, e) that obtained from the recorded and preprocessed external voltage (UFG, UFW) Signal (4) is integrated, and that the integration result (9) of the second measurement phase (e) is subtracted from the integration result (p) of the first measurement phase (d), the The result of this arithmetic operation (C) forms the good or bad result of the measurement.

2. Circuit arrangement for performing the method according to claim 1, characterized in that to the object to be examined (M) in a test input circuit (P) a load resistor (RL) can also be switched on during the second measurement phase (e) is that the object (M) via an impedance converter (W) and via a during the second measuring phase switchable inverter (N) connected to an integrator (T) is that a memory (C) of the integrator (T) is connected to a comparator (G) is that the comparator output with a gate circuit (L) of a result memory (E) is connected that the gate circuit (L) also with a time control (Z) connected to the sequence @ and the duration of the individual measurement phases (d, e), the calming phases and the gate opening (i).

3. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that the load resistance (RL) can be changed for a quantitative measurement.

4. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that outside the two measuring phases (d. e) the input (R 6) of the integrator (T) over a contact (K4) is connected to a reference potential (U).

5. Circuit arrangement according to one or more of the preceding Claims, characterized in that the load resistance (RL) with the same Reference potential (U) is connected, like the input (R6) of the integrator (7;

6. Circuit arrangement according to claim 2, characterized in that the results memory (E) is a Contains 1-bit memory formed output memory (SP).

The invention relates to a method and a circuit arrangement for the determination of external DC voltages in Telecommunications, in particular telephone systems, with a good or bad statement, based on a predetermined limit value.

Two types of interference are particularly uncomfortable in telecommunications systems noticeable. These are external DC voltages, for example ground potential or another potential, the size of which can be between zero and the exchange voltage, caused by contact with live or earthed parts, and External alternating voltages, for example from railway line current (162/3 Hz) or from technical alternating current (50 Hz), which is on official equipment, especially lines, be coupled inductively or capacitively.

The object of the invention is to reduce external direct voltages caused by interfering alternating voltages can be superimposed, based on an adjustable, predetermined limit value to investigate.

There is already a number of circuit arrangements known for Ensuring the reception of characters induced external alternating voltages, in particular of cables. Some, for example the one in the German patent specification 20 28 897 described, use transformers for this purpose, but because of the low The frequency of traction currents must be very large and heavy. Other circuit arrangements for example according to the German Auslegeschrift 11 90 052 or 1616449, use two amplifiers with which the interfering alternating voltages with opposite polarization be recorded, amplified and added.

The invention solves the known problem in a different way. the Solution according to the invention is characterized in that the measurement is carried out in two measurement phases takes place, before each of which a settling time is provided that the duration each measurement phase measured according to the shortest period of time, in the full periods of all to expected interference AC voltages occur that the DUT in the first measuring phase is switched on to the measuring circuit under idle conditions, in the second measuring phase but the input of the measuring circuit has an adjustable load applied to it, that in each measurement phase that from the recorded and preprocessed external voltage obtained signal is integrated, and that the integration result of the second measurement phase is deducted from the integration result of the first measurement phase, the result being this arithmetic operation forms the good or bad result of the measurement.

By inserting the inverting amplifier for the 2nd measurement phase the circuit arrangement requires only one set of devices, in particular only one impedance converter and an integrator, as well as a single integration memory. That not only has the advantage that the effort can be kept small, but also that none duplicated devices with identical measured values, such as gain factors, characteristics etc., are required.

Each measurement phase only includes integer periods of those to be expected Interference alternating voltages. As a result, integration is only carried out over entire periods, so that the negative components of the disturbing vibrations cancel each other out against the positive ones.