DE2520340A1

DE2520340A1 - Pluggable testing device for digital integrated circuits - has LED controlled by transistor for each pin terminal

Info

Publication number: DE2520340A1
Application number: DE19752520340
Authority: DE
Inventors: Martin Ing Grad Lieske
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1975-05-07
Filing date: 1975-05-07
Publication date: 1976-11-18

Abstract

Each contact for the pin terminal is connected through a first diode to a common l.e.d. V cc line carrying a more positive potential as a test signal, and through a second diode of opposite polarity to a common GND line carrying a more negative potential as the test signal. All second diodes (18) connected with contacts (4-6) for pin terminals are connected to a further line (15) carrying a potential more negative that the test signal. A Zener diode (16) connects the latter (15) with the GND line (8), and can be, if necessary, short-circuited by a switch (17).

Description

Schaltungsanordnung für ein IC-Testgerät Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung für ein aufsteckbares Testgerät für Digital IC's, welche für jeden zu prüfenden Pin-Anschluß eine von äe einem Transistor gesteuerte Leuchtdiode (LED) besitzt, und bei der Jeder Kontakt für die Pin-Anschlüsse über eine erste Diode mit einer für alle Leuchtdioden gemeinsamen, ein positiveres Potential als ein Testsignal führende Leitung (Vcc LINE), und über eine umgekehrt gerichtete, zweite Diode mit einer weiteren, allen gemeinsamen, ein negativeres Potential als das Testsignal führenden Leitung (GND LINE) verbunden ist.Circuit arrangement for an IC test device The invention relates to a Circuit arrangement for a plug-on test device for digital ICs, which for each pin connection to be tested has a light-emitting diode controlled by a transistor (LED), and each has a contact for the pin connections via a first Diode with a common for all light emitting diodes, a more positive potential than a test signal carrying line (Vcc LINE), and via a reversed, second diode with a further, common to all, a more negative potential than the test signal carrying line (GND LINE) is connected.

Es sind aufsteckbare Testgeräte unter dem Namen IC-Logic-Checker bekannt, mit denen einzelne der Logic-Familien geprüft werden können, d.h., je ein Testgerät ist erforderlich zum Prüfen von z.B. TTL- und DTL-Schaltkreisen mit einer Betriebsspannung Vcc von + 5 V und einer Pegelspannung von ca. + 1,6 V, und eines zum Prüfen von HLL- bzw. HTL-Schaltkreisen mit Vcc von + 12 bis + 15 V und einer Pegelspannung von größer als ca. + 6 V, sowie zum Prüfen von C-lOS-Schaltkreisen.Plug-in test devices are known under the name IC-Logic-Checker, with which individual logic families can be tested, i.e. one test device each is required for testing e.g. TTL and DTL circuits with an operating voltage Vcc of + 5 V and a level voltage of about + 1.6 V, and one for testing HLL or HTL circuits with Vcc from + 12 to + 15 V and a level voltage of greater than approx. + 6 V, as well as for testing C-IOS circuits.

Nicht nur, daß die Einzelgeräte sehr teuer sind, so müssen auch immer zwei, bzw. drei Testgeräte zum Kundendienst mitgeführt werden. Außerdem besteht die Gefahr, daß das für die niedrigere Spannung bestimmte Testgerät auf einen IC aufgesetzt wird, der eine höhere Spannung Vcc führt, wobei eine Uberlastung im Testgerät auftritt und dabei zumindest die Leuchtdioden LED defekt werden. Die Leuchtdioden sind für eine Betriebsspannung von 5 V ausgelegt, die Schaltschwelle im vorliegenden Fall beträgt aber bereits + 6 V, 80 daß dabei 1 V Uberspannung vorhanden ist.Not only that the individual devices are very expensive, they always have to two or three test devices can be carried to customer service. In addition, there is the danger that the test device intended for the lower voltage will target an IC is put on, which carries a higher voltage Vcc, whereby an overload in the test device occurs and at least the light-emitting diodes LED are defective. The light emitting diodes are designed for an operating voltage of 5 V, the switching threshold here Case is already + 6 V, 80 that there is 1 V overvoltage.

Bei der umgekehrten Verwechslung wurden bereits IC's als defekt angesehen und ausgewechselt, obwohl nur die Leuchtdioden LED wegen zu geringer Spannung versagten oder zu schwach leuchteten.In the case of the reverse confusion, ICs were already considered to be defective and replaced, although only the light-emitting diodes LED failed due to insufficient voltage or glowed too weakly.

Es ist Aufgabe der Erfindung, die Anzahl der testgerät durch Schaffung eines universell verwendbaren Testgerätes zu verringern, wobei das neuzuschaffende Gerät volumenmäßig gegenüber den bisherigen Geräten nicht oder nur unwesentlich vergrößert werden darf.It is an object of the invention to reduce the number of test devices by creating of a universally usable test device, with the newly created Device in terms of volume compared to previous devices not or only insignificantly may be enlarged.

Die erfindungsgemäße Lösung; der gestellten Aufgabe besteht nun darin, daß dafür eine neuartige Schaltungsanordnung angegeben wird, mit der bei Einsatz von einfachen Mitteln eine Umschaltung auf die Jeweils erforderliche Spannung möglich ist, also alle IC's der verschiedenen Logic-Familien prüfbar sind, und sie besteht im einzelnen darin, daß, bei der Schaltungsanordnung der eingangs beschriebenen Art, alle mit den Kontakten für die Pin-Anschlüsse verbundenen zweiten Dioden mit einer weiteren, negativeres Potential als das Testsignal führende Leitung verbunden sind, und zur Verbindung der beiden Leitungen (GN19 LINE) eine Zenerdiode eingeschaltet ist, der ein bei Bedarf diese Zenerdiode kurzachließender Schalter parallel geschaltet ist.The solution according to the invention; the task now is to that a novel circuit arrangement is specified for this, with the use A switchover to the voltage required in each case is possible by simple means is, so all ICs of the different logic families can be tested, and it exists in detail in that, in the circuit arrangement described above Kind, with all of the second diodes connected to the contacts for the pin connections connected to a further, more negative potential than the line carrying the test signal and to connect the two lines (GN19 LINE) a zener diode is switched on, the one if necessary this Zener diode short-circuiting switch is connected in parallel.

Durch die Teilung der GND-Leitung in zwei parallele Leitungen und Zwischenschaltung einer Zenerdiode als Verbindung, die außerdem kurzschließbar ist, ist es möglich, beide GND-Leitungen auf gleiches oder unterschiedliches Potential zu schalten, wodurch eine Anpassung an das Jeweilige obere Potential Vcc möglich ist. Die Anschaltung der den Leuchtdioden LED vorgeschalteten Transistoren kann dabei in allen Anwendungsfällen gleich bleiben, weil diese zwischen die das obere Potential Vcc führende Leitung und der ersten GND-Leitung geschaltet sind, und da der Spannungsunterschied zwischen der ersten und zweiten GND-Leitung ausgeglichen wird. Dadurch wird aber auch die Schaltschwelle angehoben, also eine Anpassung erreicht.By dividing the GND line into two parallel lines and Interposition of a Zener diode as a connection, which can also be short-circuited, it is possible to set both GND lines to the same or different potential to switch, whereby an adaptation to the respective upper potential Vcc is possible is. The connection of the transistors connected upstream of the light-emitting diodes LED can remain the same in all applications, because these are between the upper Potential Vcc leading line and the first GND line are connected, and there the voltage difference between the first and second GND line is balanced out will. However, this also increases the switching threshold, i.e. an adjustment is achieved.

Weitere erfindungsgemäße Einzelheiten, insbesondere die der Umschaltung sind in den Unteransprüchen enthalten.Further details according to the invention, in particular that of the switchover are contained in the subclaims.

Die Erfindung wird nun anhand der einige Schaltbeispiele zeigenden Zeichnung näher erläutert. Es zeigt: Fig.1 eine Schaltungsanordnung für ein IC-?estgerät mit zwei GND LINE, zwischengeschalteter Zenerdiode und einem Schalter1 Fig.2 eine Schaltung mit diesen Schalter ersetzenden Relais, und Fig.3 eine Schaltung, bei der genannter Schalter durch elektronische Bauelemente ersetzt ist.The invention will now be described with reference to some circuit examples Drawing explained in more detail. It shows: FIG. 1 a circuit arrangement for an IC test device with two GND LINE, interposed Zener diode and a switch1 Fig.2 one Circuit with this switch replacing relay, and Fig. 3 a circuit at the switch mentioned is replaced by electronic components.

In der Schaltungsanordnung nach Fig.1 sind aufbaumäßig und funktionsmäßig identische Schaltkreise 1, 2 und 3 dargestellt, deren Anzahl in einem Testgerät im allgemeinen 16 Stück beträgt, wobei Jeder der Schaltkreise 1, 2 und 3 einen Kontakt 4, 5 oder 6 für einen Pin-Anschluß eines zu prüfenden IC's beigeordnet ist. Alle Schaltkreise 1, 2 und 3 besitzen eine gemeinsame, positiveres Potential als ein Testsignal führende Leitung (Vcc LINE) 7 und ein negativeres Potential als das Testsignal führende, erste Leitung (GND LINE) 8. Da alle Schaltkreise 1, 2 und 3 identisch sind, soll hier nur der Schaltkreis 1 erläutert werden. Er besteht aus einer Leuchtdiode (LED) 9, einem Widerstand 10 und einem Transistor 11, dessen Basisanschluß über einen Widerstand 12 mit dem Kontakt 4 verbunden ist. Der Transistor 11 ist in einer Basis-Emitterschaltung eingeschaltet, die den Vorteil hat, daß bei der erforderlichen niedrigen Schalt schwelle eine Anzeige erfolgt. Vom Kontakt 4 aus führt über eine in Durchlaßrichtung eingeschaltete Diode 13 eine Leitung 14 zur Vcc führenden Leitung 7. Parallel zur ersten Leitung (GND LINE) 8 liegt eine zweite Leitung (GND LINE) 15, die mit der ersten Leitung 8 über eine, in Durchlaßrichtung zu dieser hinzeigenden Zenerdiode 16 verbunden ist, deren Zenerspannung der Differenzspannung zwischen den einzelnen zu prüfenden I01s entspricht, Der Zenerdiode ist ein diese kurzßchließbarer Schalter 17 parallel geschaltet. Die zweite Leitung (GND LINE) 15 ist über eine, der Diode 13 gegengerichtete Diode 18 mit dem Kontakt 4 verbunden.In the circuit arrangement according to Figure 1 are structurally and functionally identical circuits 1, 2 and 3 shown, their number in a test device is generally 16 pieces, each of the circuits 1, 2 and 3 having a contact 4, 5 or 6 is assigned for a pin connection of an IC to be tested. All Circuits 1, 2 and 3 have a common, more positive potential than one Test signal leading line (Vcc LINE) 7 and a more negative potential than the test signal leading, first line (GND LINE) 8. Since all circuits 1, 2 and 3 are identical are, only the circuit 1 will be explained here. It consists of a light emitting diode (LED) 9, a resistor 10 and a transistor 11, the base connection of which is over a resistor 12 is connected to the contact 4. The transistor 11 is in one Basic emitter circuit switched on, which has the advantage that when required low switching threshold is displayed. From contact 4 leads over a In the forward direction switched on diode 13 leads a line 14 to Vcc line 7. Parallel to the first line (GND LINE) 8 there is a second line (GND LINE) 15, which are connected to the first line 8 via one pointing in the forward direction towards this Zener diode 16 is connected, the Zener voltage of the difference voltage between corresponds to the individual I01s to be tested. The Zener diode can be short-circuited Switch 17 connected in parallel. The second line (GND LINE) 15 is via a the diode 13 opposite diode 18 is connected to the contact 4.

Die Fig.2 zeigt nur den Schaltkreis 1 der Fig.1, weshalb die darin verwendeten Teile die gleichen Bezugsziffern besitzen, Jedoch wird hier der die Zenerdiode 16 überbrückende Schalter 17 durch ein Relais betätigt, dessen Erregerspule 19 zwischen die Leitung 7 und Leitung 15 eingeschaltet ist. Das Relais spricht an, d.h., es unterbricht mit seinem Schalter (Kontakt) 17 den Kurzschluß der Zenerdiode 16, wenn zwischen den Leitungen 7 und 15 eine Spannung anliegt, die höher ist als die, die an den IC's mit niederer Spannung anliegt, im vorliegenden Fall also ca. 7 V. Außerdem besitzt die Schaltung nach Fig.2 eine bei der höheren Spannung wirksam werdende Funktionsanzeige, bestehend aus einer Leuchtdiode 20 und Widerstand 21, die mit einem Umschaltanschluß 22 des Schalters 17 verbunden sind.The Fig.2 shows only the circuit 1 of Fig.1, which is why the therein parts used have the same reference numbers, However, will here the switch 17 bridging the zener diode 16 is actuated by a relay, the excitation coil 19 of which is connected between the line 7 and line 15. The relay responds, i.e. it interrupts with its switch (contact) 17 the Short circuit of the Zener diode 16 when there is a voltage between the lines 7 and 15 which is higher than that which is applied to the IC's with lower voltage, im This case is about 7 V. In addition, the circuit according to FIG The function display that becomes effective at the higher voltage, consisting of a light-emitting diode 20 and resistor 21, which are connected to a changeover terminal 22 of switch 17 are.

Wie der Schalter 17 durch elektronische Bauelemente ersetzt werden kann, zeigt die Fig.3. Auch hier ist nur der Schaltkreis 1 mit seinen bereits beschriebenen Bauelementen dargestellt. Als Schalter dienen hier zwei Transistoren 23 und 24 in sonst bekannter Anschaltung, also über einen Widerstand 25 und eine Zenerdiode 26 für deren Umschaltung. Die Funktionsanzeige, bestehend aus Widerstand 21 und Leuchtdiode 20, ist hier in die Basisleitung zum zweiten Transistor 24 eingeschaltet. Die Anschaltung der Transistoren 23 und 24 ist so getroffen, daß bei der niederen Spannung zwischen den Leitungen 7 und 15 der Transistor 23 durchschaltet, die Zenerdiode 16 also kurzschließt, und der Transistor 24 wegen seiner in der Basisleitung befindlichen Zenerdiode 26 sperrt.How the switch 17 can be replaced by electronic components can, shows the Fig.3. Here, too, only the circuit 1 with its already described Components shown. Two transistors 23 and 24 in serve as switches here Otherwise known connection, i.e. via a resistor 25 and a Zener diode 26 for their switching. The function display, consisting of resistor 21 and light emitting diode 20, is switched into the base line to the second transistor 24 here. The connection of transistors 23 and 24 is made so that at the low voltage between The transistor 23 switches on lines 7 and 15, i.e. short-circuits the Zener diode 16, and the transistor 24 because of its Zener diode 26 located in the base line locks.

Die Arbeitsweise der Schaltungsanordnung soll mit der Ausführung nach Fig.3, hilfsweise in Verbindung mit Fig.1, erläutert werden.The mode of operation of the circuit arrangement should be implemented according to FIG. 3, alternatively in conjunction with FIG. 1, will be explained.

Zunächst soll angenommen werden, daß das Testgerät auf ein Digital IC aufgesteckt wird, dessen Betriebsspannung Vcc + 5 V beträgt. Ganz gleich, welcher der Kontakte 4, 5 oder 6 (in Wirklichkeit 16 Stck.) an einem Pin des IG's anliegt der Vcc + 5 V führt, der gibt dann auch die Spannungsquelle für das Testgerät ab. Angenommen der Kontakt 4 gerät an einen Pin mit + 5 V, so wird diese Spannung über die Diode 13 an die Leitung 7 geführt, der Kontakt 5 liegt an einem Pin mit O V, dann ist er über die Diode 18 mit der zweiten Leitung 15 verbunden, und der Kontakt 6 kommt an einen Pin zu liegen, der eine Pegelspannung (Signalspannung) von + 1,6 V führt, dann wird die Leuchtdiode des Schaltkreises 3 (entsprechend LED 9, Schaltkreis 1) aufleuchten und somit den Zustand anzeigen. Da nun zwischen den Leitungen 7 und 15 eine Spannung Vcc von 5 V liegt, die unter der Zenerspannung der Zenerdiode 26 (Fig.3) liegt, bleibt der Transistor 24 des elektronischen Schalters gesperrt, und der Transistor 23 durchgeschaltet, wodurch die Zenerdiode 16 kurzgeschlossen ist, also die beiden Leitungen 8 und 15 gleiches Potential führen.First of all, it should be assumed that the test device is based on a digital IC is plugged in, the operating voltage of which is Vcc + 5 V. It doesn't matter which one of contacts 4, 5 or 6 (actually 16 pieces) is applied to a pin of the IG the Vcc + 5 V leads, which then also provides the voltage source for the test device. Assuming contact 4 gets to a pin with + 5 V, this voltage is over the diode 13 is led to the line 7, the contact 5 is on a pin with O V, then it is connected to the second line 15 via the diode 18, and the contact 6 comes to lie on a pin that has a level voltage (signal voltage) of +1.6 V leads, then the light-emitting diode of circuit 3 (corresponding to LED 9, circuit 1) light up and thus indicate the status. Since now between the lines 7 and 15 a voltage Vcc of 5 V, which is below the Zener voltage of the Zener diode 26 (Fig.3), the transistor 24 of the electronic switch remains blocked, and the transistor 23 is turned on, whereby the Zener diode 16 is short-circuited, so the two lines 8 and 15 have the same potential.

Wird nun das Testgerät auf ein 10 aufgesteckt, bei dem der gontakt 4 an ein Pin mit z.B. + 12 V gerät, so erhöht sich die Spannung Vcc in der Leitung 7 auf + 12 V. Nun ist die Zenerspannung der Zenerdiode 26 überschritten. Der nun fließende Basisstrom für den Transistor 24 öffnet diesen, wodurch der Transistor 23 gesperrt wird und nur noch die Zenerdiode 16 die Verbindung der beiden GND-Leitungen 8 und 15 herstellt. Dabei wird das Potential der Leitung 8 gegenüber das der Leitung 15 angehoben, also an den Strecken Leuchtdioden 9, Widerständen 10 und Transistoren 11 das Potential von ca. 5 V wieder hergestellt. Um nun den Transistor des Schaltkreises 3 (entsprechend 11 des Schaltkreises 1) anzusteuern, wird aber nun eine höhere Steuerspannung benötigt, die diese IC's Jedoch besitzen. Es wird also ersichtlich, daß mit dieser Schaltungsanordnung eine Fehlanzeige nicht erfolgen kann.If the test device is now plugged into a 10, in which the gontakt 4 to a pin with e.g. +12 V, the voltage Vcc in the line increases 7 to + 12 V. Now the Zener voltage of the Zener diode 26 has been exceeded. The now flowing base current for the transistor 24 opens this, whereby the transistor 23 is blocked and only the Zener diode 16 connects the two GND lines 8 and 15 manufactures. The potential of the line 8 is compared to that of the line 15 raised, so on the lines light-emitting diodes 9, resistors 10 and Transistors 11 restored the potential of approximately 5 volts. To now the transistor of circuit 3 (corresponding to 11 of circuit 1), but will Now a higher control voltage is required, which these ICs have, however. It will thus it can be seen that a false indication does not occur with this circuit arrangement can.

Bei der höheren Spannung Vcc leuchtet auch die Leuchtdiode 20 durch den Basisstrom für den Transistor 24 auf und zeigt den umgeschalteten Zustand an.At the higher voltage Vcc, the light-emitting diode 20 also shines through the base current for the transistor 24 and indicates the switched state.

Es ist selbstverständlich, daß die Erfindung nicht auf die Verwendung mit der zweifachen GND-Spannung beschränkt ist.It goes without saying that the invention is not limited to use is limited to twice the GND voltage.

Sollten mehrere Spannungsstufen erforderlich werden, so sind im Rahmen der Erfindung die entsprechende Anzahl von Zenerdioden den Leitungen 8 und 15 einschaltbar, bzw. kurzschließbar zwischenzuschalten.If several voltage levels are required, they are within the scope According to the invention, the corresponding number of Zener diodes can be switched on lines 8 and 15, or to be connected in a short-circuited manner.

Claims

Circuit arrangement for a plug-in test device for digital ICs, each of which is controlled by a transistor for each pin connection to be tested Light Emitting Diode (LED), and at each contact for the pin connections over a first diode with a common for all light emitting diodes, a more positive potential as a test signal carrying line (Vcc LINE), and via a reversed, second diode with a further, common to all, a more negative potential than the line carrying the test signal (GND LINE) is connected, characterized in that that all second diodes connected to the contacts (4,5,6) for the pin connections (18) with a further, more negative potential than the line carrying the test signal (15) are connected, and to connect the two lines (GND LINE) (8 and 15) a Zener diode (18) is switched on, which, if necessary, this Zener diode (18) short-circuiting switch (17 or 23) is connected in parallel.

2. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that as a switch (17) a normally closed contact of a relay is used, the excitation coil (19) between the positive potential leading line (7) and the second more negative potential leading line (15) is switched on.

3. Circuit arrangement according to claim 1, characterized in that the switch (17) is a semiconductor switch (23,24).

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