DE1931604B2

DE1931604B2 - CIRCUIT ARRANGEMENT FOR AN ELECTONIC INSPECTION CIRCUIT IN REMOTE COMMUNICATION SYSTEMS

Info

Publication number: DE1931604B2
Application number: DE19691931604
Authority: DE
Inventors: Peter 8500 Nürnberg Geiger
Original assignee: TekadeFeiten & Guilleaume Fernmeldeanlagen GmbH, 8500 Nürnberg
Priority date: 1969-06-21
Filing date: 1969-06-21
Publication date: 1971-07-01
Also published as: DE1931604A1

Description

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Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung einen vom Prüfzustand abhängigen im Teil B ange-The invention relates to a circuit arrangement dependent on the test condition in part B

für einen elektronischen Aufprüfkreis zur Erzeugung ordneten Transistor überbrückt und damit unwirk-bridged for an electronic test circuit to generate arranged transistor and thus ineffective

und Auswertung von Spannungssprüngen in Abhän- sam schaltet und im aufgeprüften Zustand über einenand evaluation of voltage jumps as a function of switching and in the checked state via a

gigkeit vom Aufprüfzustand in Fernmeldevermitt- weiteren im Teil B vorgesehenen Transistor der ersteability of the Aufprüfstatus in Fernmeldevermitt- further in part B provided transistor the first

lungsaniagen. 5 Transistor gesperrt wird, wodurch die zweite Zener-systems. 5 transistor is blocked, whereby the second Zener

In der Vermittlungstechnik wird allgemein die diode zur Wirkung kommt.In switching technology, the diode is generally used.

Forderung gestellt, den Belegungszustand der Leitun- Die Wirkungsweise der Erfindung wird im folgengen zu prüfen und Vorkehrungen dafür zu treffen, den an Hand der Zeichnungen näher erläutert, daß Doppelbelegungen vermieden werden. Beim Suchvorgang, der von einer Anforderung Hierfür oder für ähnliche Zwecke sind bereits An- ¹⁰ nach einem freien Kanal über Klemme K 3 ausgeht, Ordnungen bekanntgeworden. So enthält der Auf prüf- wird nach Fig. 1 vom Zuordnerzähler über die kreis einer Schaltungsanordnung (deutsche Auslege- Klemmen Kl xmdK2 Minuspotential an die als schrift 1 146 127) ein Relais C und eine Parallel- UND-Gatter wirkenden Dioden D1 und D 2 gelegt, schaltung aus einer Relaisnachbildung DR und eine das diese beiden Dioden sperrt. Damit wird über den Meßschaltung, welche wiederum Relais enthält, wo- ^χ5 Widerstand R1 Minuspotential wirksam, das über bei die Anordnung zum Aufprüfen über Relaiskon- den Widerstand R 2 den Transistor T1 durchschaltet, takte an die Vielfachschaltung angeschaltet wird. Für Über diesen Transistor T1 wird nunmehr der Prüfden Betrieb werden sieben Spannungsquellen benötigt. ader — c-Ader — positives Potential zugeführt. Liegt Auch in anderen bekannten Anordnungen (deutsche nun am anderen Ende der Prüfader über den Teil B, Auslegeschriften 1 165 677; 1 170 476; 1165677 und ²° die Aufprüfklemme K4 (Fig. 2), Minuspotential an, 1 165 676) werden die Schaltzeiten von elektro- so entsteht an den in der Prüf ader liegenden Widermechanischen Relais überbrückt und für den Betrieb ständen — im Teil A am Arbeitswiderstand R 7 und sind mehrere Spannungsquellen erforderlich. im Teil B am Arbeitswiderstand R16 ein Spanin einer weiteren Anordnung (deutsche Auslege- nungsabfall, der als Basis-Emitter-Spannung den schrift 1005 567) wird ein gleichzeitiges Aufprüfen ²⁵ Transistor Γ 3 bzw. den Transistor Γ 7 durchschaltet, verhindert durch Erzeugung von Fehlstrom. Ange- "Gleichzeitig wirkt die Anforderung mit Pluspotenführt sei auch noch eine Schaltungsanordnung tial über die Klemme K 3 auf die Anordnung ein. (deutsche Auslegeschrift 1095 889), die mit elektro- Der durchgeschaltete Transistor T 3 schaltet über mechanischen Relais, Wählern und Schaltverzöge- die DiodeD12 und den Widerstandes den Tranrern arbeitet. Eine Schaltungsanordnung (deutsche ³° sistor T 2 durch, der mit dem Pluspotential von K 3 Auslegeschrift 1 187 276) arbeitet mit Wählern und über den Widerstand R 6 den Transistor Γ 4 öffnet, Relais, wobei eine Transistorschaltung zur Auswahl der seinerseits über die Diode D11 und den Widerder angebotenen Spannung dient. Für den Betrieb stand R 5 den Transistor T 2 offenhält. Damit ist eine werden vier bis sieben Spannungen benötigt. Selbsthaltung geschaltet, die so lange anhält, wie das Die bekannten Anordnungen beinhalten zum gro- ³⁵ Pluspotential über die Anforderungsklemme K 3 anßen Teil Zusatzschaltungen zum eigentlichen Auf- steht, somit ist der Teil A nach F i g. 1 unabhängig prüfkreis zur Überbrückung von Relaisschaltzeiten vom Zustand der Prüfader. Gleichzeitig wird über und daraus resultierenden schleichenden Spannungs- den Transistor Γ 4 und die Diode D10 der Zähler Übergängen von einem Zustand in den anderen und des Zuordners auf dieser Position angehalten und der damit verbundenen Gefahr einer gleichzeitigen ° über die DiodeD13 und den Widerstanden der Doppelbelegung. Außerdem werden zum großen Teil Transistor Γ 5 durchgeschaltet, der über den WiderRelais verwendet, die den zeitlichen Ablauf erheb- stand R13 (letzterer zur Strombegrenzung) positives lieh verlängern. Potential an die Vielfachschaltung im Punkt P derThe mode of operation of the invention is to be checked in the following and precautions to be taken, which are explained in more detail with reference to the drawings, so that double assignments are avoided. In the search operation, that of a request this purpose or for similar purposes are already arrival ¹⁰ starts for a free channel via terminal K 3 made famous orders. So contains the test is shown in Fig. 1 from the allocator counter over the circuit of a circuit arrangement (German Ausleger- Terminals Kl xmdK2 minus potential to the writing 1 146 127) a relay C and a parallel AND gate acting diodes D 1 and D 2 put, circuit of a relay simulation DR and one that blocks these two diodes. Thus, the above in the arrangement for Aufprüfen via relay contact the resistor R 2 switches the transistor T1, clocks on the measuring circuit, which in turn contains relays, WO ^χ 5 resistor R1 minus potential effect is switched to the multi-circuit. Seven voltage sources are now required for testing the operation via this transistor T 1. core - c-core - positive potential supplied. Is also in other known arrangements (German now at the other end of the test wire over part B, Auslegeschriften 1 165 677; 1 170 476; 1165677 and ² ° the test terminal K 4 (Fig. 2), negative potential on, 1 165 676) the switching times of the electro- so is bridged at the counter-mechanical relay in the test wire and for the operation stands - in part A at the load resistor R 7 and several voltage sources are required. In part B at the load resistor R 16 a chip in a further arrangement (German design drop, which is written as base-emitter voltage 1005 567) a simultaneous checking ²⁵ transistor Γ 3 or transistor Γ 7 is switched through, prevented by generating Fault current. "At the same time, the request with positive potential is also a circuit arrangement tial via the terminal K 3 on the arrangement. the DiodeD12 and the resistance of the Tranrern works. A circuit arrangement (German ³ ° sistor T 2 through, which with the positive potential of K 3 Auslegeschrift 1 187 276) works with selectors and through the resistor R 6 the transistor Γ 4 opens, relay, whereby a transistor circuit is used to select the voltage offered in turn via the diode D 11 and the resistor. For operation, R 5 holds the transistor T 2 open. This means that four to seven voltages are required. Self-holding switched, which lasts as long as that the known arrangements include, for GRO ³⁵ plus potential of the request terminal K 3 ANSSEN part additional circuits to the actual up-ste ht, so the part A of FIG. 1 independent test circuit for bridging relay switching times depending on the state of the test wire. At the same time, the transistor Γ 4 and the diode D 10, the counter transitions from one state to the other and the allocator in this position are stopped via and the resulting creeping voltage and the associated risk of a simultaneous ° via the diode D 13 and the resistors double occupancy. In addition, to a large extent transistor Γ 5 is switched through, which is used via the resistor relay, which lends the temporal sequence raised R 13 (the latter for current limitation) to lend positive. Potential to the multiple circuit at point P of

Die Erfindung stellt sich die Aufgabe, die erfor- Prüfader legt.The invention sets itself the task of the test wire that is required.

derlichen Prüfvorgänge wesentlich zu beschleunigen, Im TeilB (Fig. 2) geschieht gleichzeitig folgendes: d. h. einen elektronischen Aufprüfkreis zu schaffen, Wie bereits erwähnt, fällt am Arbeitswiderstand der grundsätzlich keine Relais oder ähnliche Schalt- R16 für den Transistor T 7 die zum Durchschalten mittel verwendet, der von einem elektronischen Zäh- erforderliche Basis-Emitter-Spannung ab und schaltet ler angesteuert wird, der aber außerdem auch manu- ₅₀ diesen Transistor über den Widerstand R15 durcheil gezielt zu Prüfzwecken beaufschlagt werden kann, lässig. Der Transistor T 7 liefert das Kriterium zur wobei der Aufprüf kreis in zwei Teile (A und B) auf- Auswertung der Belegung. Eine sich anschließende geteilt ist und in einem Teil durch eine Transistor- nicht dargestellte Auswerteschaltung liefert im Zuschaltung eine Selbsthaltung in Abhängigkeit von der stand »belegt« über die Klemme K 5 positives Poten-Anforderung geschaffen ist. ₅₅ tial und öffnet über die Widerstände R19 und R18 Die Aufgabenstellung wird nach der Erfindung da- den Transistor T 8, der seinerseits Minuspotential im durch gelöst, daß der elektronische Aufprüfkreis von Punkt D an die Prüfader legt. Damit sind über die einem elektronischen Zähler angesteuert wird, daß Klemme K 4 und noch folgende Schaltmittel während der Aufprüfkreis aus zwei Teilen besteht, deren des Aufprüfens noch auftretende Schaltvorgänge wir-Durchschaltung ausschließlich durch Halbleiter-Bau- 6o kungslos und die Belegungsdauer ist nur noch von elemente, so durch einen im Teil A angeordneten der Anforderung abhängig.To accelerate such testing processes significantly, In part B (Fig. 2) the following happens at the same time: ie to create an electronic Aufprüfkreis, As already mentioned, there is basically no relay or similar switching R16 for the transistor T 7 which means for switching through the load resistance is used, the required of an electronic Zäh- base-emitter voltage and switches driven ler, but of this transistor can be applied via the resistor R 15 durcheil specifically for testing purposes moreover manu- _50, permeable. The transistor T 7 provides the criterion for the verification circuit in two parts (A and B) to evaluate the occupancy. A subsequent one is divided and in one part by a transistor evaluation circuit, not shown, provides a self-holding when switched on, depending on the status "occupied" via terminal K 5 positive potential request is created. ₅₅ tial and opens via the resistors R 19 and R 18 The task is according to the invention that the transistor T 8, which in turn is achieved negative potential in that the electronic test circuit applies from point D to the test wire. This means that an electronic counter is used to control that terminal K 4 and the following switching means during the checking circuit consists of two parts, the switching processes of which are still occurring during checking are switched through exclusively through semiconductor construction and the occupancy time is only from elements, so by one arranged in Part A , depending on the requirement.

Haltekreis mit drei Transistoren erfolgt und daß in Außerdem sperrt der durchgeschaltete TransistorHolding circuit with three transistors takes place and that in addition, the switched transistor blocks

den beiden Kreisen gleiche Z-Dioden — im ersten Γ 7 über den Widerstand R14 den Überbrückungs-Zener diodes are the same in both circles - in the first Γ 7 via the resistor R 14 the bridging

Kreise eine Z-Diode und im zweiten Kreis eine wei- transistor Γ 6 für die Z-Diode D19, die dadurch tere Z-Diode — angeordnet sind, deren Summen- 65 wirksam wird.Circle a Zener diode and in the second circle a white transistor Γ 6 for the Zener diode D19 tere Zener diode - are arranged, the sum of which is 65 effective.

spannung j> der Betriebsspannung ist, und daß im Infolge des beim Teil A erwähnten durchgeschal-voltage j> the operating voltage, and that as a result of the circuitry mentioned in part A

Ruhezustand — d.h. bei unbelegter Leitung — die teten Transistors T 5 und der am Teil Z? wirksamenIdle state - ie when the line is unoccupied - the transistor T 5 and the transistor on part Z? effective

erste Z-Diode wirksam und die zweite Z-Diode durch Z-Diode D19 entsteht an der Vielfachschaltung (imfirst Zener diode effective and the second Zener diode through Zener diode D 19 is created on the multiple circuit (in

Punkt F) ein Spannungssprung. In dem nunmehr geschalteten Stromkreis bestimmt maßgeblich der Widerstand R13 im Teil A den Strom und damit die Höhe der Spannung am Punkt P. Diese Spannung muß so hoch liegen, daß sie die Referenzspannung der Z-Diode D16' in einem parallel angeordneten Teil ,4' nicht überwindet. Damit ist ein weiteres Aufprüfen unmöglich. Da dies aber auch für den ersten aufgeprüften Teil A zutrifft, ist die Selbsthaltung für die Transistoren T 2 und T 4 erforderlich.Point F) a jump in voltage. In the now switched circuit, the resistor R 13 in part A largely determines the current and thus the level of the voltage at point P. This voltage must be so high that it is the reference voltage of the Zener diode D 16 'in a part arranged in parallel, 4 'does not overcome. This means that further checking is impossible. However, since this also applies to the first checked part A , the self-holding for the transistors T 2 and T 4 is necessary.

Claims

Patent claims:

1. Circuit arrangement for an electronic Aufprüfkreis for generating and evaluating voltage jumps depending on the Aufprüfstatus in telecommunication switching systems, characterized in that the electronic Aufprüfkreis is controlled by an electronic counter that the Aufprüfkreis consists of two parts (A and B) , whose connection only by semiconductor components, such as a holding circuit with three transistors (T 2; T 4 and T 5) arranged in part A and the same Zener diodes in the two circles (A and B) - a Z in the first circle (A) -Diode (D 16) and in the second circle (B) a Zener diode (D 19) - are arranged, the total voltage of which is Ξ> the operating voltage, and that in the idle state - ie when the line is unoccupied - the first Zener diode (D 16) is effective and the second Zener diode (D 19) is bridged by a transistor (Γ6) that is dependent on the test condition and is located in part B and thus switches ineffective and, in the tested condition, over a wide area ren in part B provided transistor (T 7) the transistor (T 6) is blocked, whereby the second Zener diode (D 19) comes into effect.

2. Circuit arrangement for an electronic on test circuit according to claim 1, characterized in that the holding circuit arranged in part A switches depending on the requirement and at the same time with the checking process and which stops the counter after finding a free channel and at the point? Applies potential to the multiple circuit and connects the crosspoints.

3. Circuit arrangement for an electronic Aufprüfkreis according to claim 1 and 2, characterized characterized in that the control of the arrangement instead of via the counter and the Transistor (Tl) can also be carried out manually using a test switch.

1 sheet of drawings