DE2512551A1 - Connection hunting system for telephone exchange - avoids double connections through simultaneous testing of selectors during clearing - Google Patents

Connection hunting system for telephone exchange - avoids double connections through simultaneous testing of selectors during clearing

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DE2512551A1
DE2512551A1 DE19752512551 DE2512551A DE2512551A1 DE 2512551 A1 DE2512551 A1 DE 2512551A1 DE 19752512551 DE19752512551 DE 19752512551 DE 2512551 A DE2512551 A DE 2512551A DE 2512551 A1 DE2512551 A1 DE 2512551A1
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    • H04QSELECTING
    • H04Q3/00Selecting arrangements

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Abstract

The connection hunting system is for telephone exchanges and avoids double connections by preventing the simultaneous testing of pairs of selectors and other test procedures producing similar unwanted effects, for example during a clearing operation. A current measuring device is provided on the busy circuit to detect a drop in current flowing during the busy state when clearing, and disconnects the busy circuit from the switching elements concerned until the clearing device has been completed. The current measuring device consists of a resistor shunted by a voltage detector containing a differentiator. Current drops are thereby detected without interrupting the busy circuit.

Description

Schaltungsanordnung für Fermeldevermittlungsanlagen, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen mit Prüf- und Belegungsstromkreisen Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung für Fernmeldeanlagen, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen, in denen von den Belegungszuständen belegbarer Schaltglieder der Freizustand durch ein über Widerstände eines Belegungsstromkreises des 3eweils betreffenden Schlatgliedes an einen Prüfpunkt angelegtes Freipotential und der Sperrzustand durch dessen Fehlen, z. B.Circuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular Telephone switching systems with test and seizure circuits The invention relates to a circuit arrangement for telecommunications systems, in particular telephone switching systems, in those of the occupancy states assignable switching elements the free state through one via resistances of an occupancy circuit of the respective contact element Free potential applied to a test point and the blocking state due to its absence, z. B.

Unterdrückung, an dem Prüfpunkt markiert ist, und in denen der belegungszustand (frei oder gespert) eines Schaltgliedes mittels relativ groß sein Innenwiderstand aufweis enden Prüfs chaltmitteln eines zwecks Belegung prüfenden, vorgeordneten Schaltgliedes, z. B.Suppression at which checkpoint is marked and in which the occupancy status (free or blocked) of a switching element means its internal resistance is relatively large having end of test switching means of a for the purpose of testing, upstream Switching element, z. B.

Wählers, über ei.nen durch Anschaltung der Prüfschaltmittel an den Prüfpunkt zustandekommenden Prüf- und Belegungsstromkreis feststellbar ist, und in denen die Sperrung eines belegten Schaltgliedes aufgrund einer Belegung seitelis des vorgeordneten Schaltgliedes durch schalten eines sich om Freipotential unterscheidenen Sperrpotentials über im vorgeordneten Schaltglied vorgesehene und relativ kleinen Innenwiderstand aufweisende Prüfschaltmittel im Früf- und Belegungsstromkreis bewirkt ist, und in denen Vorkehrungen getroffen sind, durch die nach Auftrennung eines gesperrten Prüf- und Belegungsstromkreises im Zuge der Verbindungsauslösung ein Aufprüfen auf einen auszulösenden Belegungsstromkreis verhindert werden soll.Selector, via one by connecting the test switch to the Test point coming about test and occupancy circuit can be determined, and in which the blocking of an occupied switching element due to an occupancy Seitelis of the upstream switching element by switching a differ from the free potential Blocking potential over provided in the upstream switching element and relatively small Internal resistance having test switching means in the early and occupancy circuit causes is, and in which precautions are taken by the after separation of a locked test and occupancy circuit in the course of the connection release Checking on an occupancy circuit to be triggered is to be prevented.

Eine Schaltungsanordnung dieser Art ist bereits durch die DT-AS 1 940 847 bekannt, - Für Fernsprechwählanlagen ist es weithin bekannt, von Belegungsadern von Wählern, Übertragungen und dergleichen Schalteinrichtungen den Belegungszustand, d.h. frei oder gesperrt (z.B. besetzt), durch Pftlfrelais festzustellen, welche zunächst relativ hochohmig prüfen und £ur den Fall des Freizustandes der jeweils geprüften Schalteinrichtung diese belegen und niederohmig sperren. Die betreffende zu prüfende Schalteinrichtung bietet hierzu im Freizustand ein diesen kennzeichnendes Potential, z.B. Minuspotential, über ihren Belegungsstromkreis an einem ihr zugeordneten Prüfpunkt an. Ein prüfender Wähler arbeitet von seinem Prüfstromkreis her mit einem Gegenpotential, z.B. Plusspannung (Erdpotential). Findet ein Wähler einen freien Ausgang - d.h. wird ein Prüfstromkreis eines prüfenden Wählers mit einem Belegungsstromkreis einer nachgeordneten freien Einrichtung verbunden, deren Prüfpunkt das den Freizustand kennzeichnende Potential rührt - , so spricht das Prüfrelais des Wählers an, setzt ihn still und schaltet das Gegenpotential relativ niederohmig an den Prüfpunkt des Belegungsstromkreises der auf diese Weise belegten Einrichtung an, unterdrückt also das den Freizustand kennzeichnende Potential. Über den so geschlossenen Stromkreis wird das Prüfrelais des Wählers gehalten. Andere danach prüfende Wähler finden nahezu das Gegenpotential - genaugenommen ein Teilpotential - an dem Belegungsstromkreis vor und erkennen die betreffende Einrichtung dadurch als besetzt.A circuit arrangement of this type is already provided by the DT-AS 1 940 847 known - For telephone systems it is widely known of occupancy cores the occupancy status of voters, transmissions and similar switching devices, i.e. free or blocked (e.g. occupied), to determine which first check relatively high resistance and £ ur the case of the free state of each Checked switching device occupy this and block it with low resistance. The person in question switchgear to be tested offers this in the free state identifying potential, e.g. negative potential, via their occupancy circuit to a test point assigned to it. A testing voter works from its test circuit with a counter potential, e.g. positive voltage (earth potential). Find a voter a free output - i.e. a test circuit of a testing selector with an occupancy circuit of a downstream free facility connected, whose The test point touches the potential characterizing the free state - that's what it says The selector's test relay switches on, stops it and switches the counter potential relative to it low resistance to the test point of the occupancy circuit of the occupied in this way Facility on, so suppresses the potential that characterizes the free state. Above the circuit is closed in this way by the selector's test relay. Other Voters who then test find almost the counter-potential - more precisely, a partial potential - in front of the occupancy circuit and thereby recognize the facility in question as occupied.

Im Falle der Prüfung einer besetzten Einrichtung besteht also ein verzweigter Stromkreis. Der gemeinsame Teil dieses verzweigten Stromkreises besteht aus dem Belegungsstromkreis der besetzten Einrichtung. Der eine der beiden Zweige des verzeigten Stromkreises besteht aus dem Sperrstromkreis desJenigen Wählers, der zuvor die nachgeordnete Einrichtung belegt hat.In the case of an occupied facility exam, there is therefore a branched circuit. The common part of this branched circuit is made up from the occupancy circuit of the occupied facility. The one of the two branches of the indicated circuit consists of the blocking circuit of that selector, who previously occupied the subordinate facility.

In diesem Zweig liegt die niederohmige Wicklung des Prüfreiais dieses Wählers. Der andere der beiden Zweige ist der Prüfstromkreis des anderen Wählers, der die -nachgeordnete Einrichtung als gesperrt (besetzt) vorfindet. In diesem Zweig liegen die niederohmige und die hochohmige Wicklung des Prüfrelais des zweiten Wählers in Reihe. Der Verzweigungspunkt ist der Prüfpunkt des Belegungsstromkreises der nachgeordneten Einrichtung.The low-resistance winding of the test relay is located in this branch Voter. The other of the two branches is the test circuit of the other selector, who finds the downstream facility blocked (occupied). In this branch are the low-resistance and the high-resistance winding of the test relay of the second selector in row. The branch point is the test point of the occupancy circuit of the subordinate facility.

- Dadurch, dass der Sperrstromkreis des ersten Wählers wesentlich niederohmiger ist als der Prüfstromkreis des zweiten Wählers, ergibt sich am gemeinsamen Prüfpunkt eine Stromverzweigung, wobei die Aufteilung des Gesamtstromes im Belegungsstromkreis der nachgeordneten Einrichtung in zwei Teilströme so gestaltet ist, dass der weitaus überwiegende Teil des Gesamtstromes durch den Sperrstromkreis und das Prüfreiais des ersten Wählers - der also auf die nachgeordnete Einrichtung zuerst aufgeprüft hatte - fliesst, wohingegen der Teilstrom im Prüfstromkreis des zweiten Wählers und seinen beiden Prifrelaiswicklungen so gering ist, dass das Prüfrelais nicht ansprechen kann.- By making the blocking circuit of the first selector essential is lower than the test circuit of the second selector, results from the common Checkpoint a current branch, whereby the distribution of the total current in the occupancy circuit the downstream device is designed in two partial flows so that the far predominant part of the total current through the blocking circuit and the test relay of the first voter - that is, who checked on the subordinate facility first would have - flows, whereas the partial current in the test circuit of the second selector and its both test relay windings is so low that the test relay does not respond can.

Dadurch wird gewährleistet, dass das Prüfrelais des ersten Wählers angesprochen bleibt und das Prüfrelais des zweiten Wählers nicht ansprechen kann.This ensures that the test relay of the first selector remains addressed and the test relay of the second selector cannot respond.

Schwieriger verhält es sich jedoch im Sonderfall des Parallel crüfens zweier Wähler. In diesem Falle werden zufällig gleich zeitig die beiden Prüfstrdmkreise zweier unabhängig voneinander prüfender Wähler mit dem Prüfpunkt einer nachgeordneten Einrichtun; verbunden. Unter der Voraussetzung, dass die Prüfrelais beider Wähler gleiche Widerstandswerte aufweisen - was in der Regel zu erwarten ist -, tritt eine Stromaufteilung im Verhältnis Eins zu Eins ein. Das heisst, dass in den Wicklungen der Prüfrelais beider Wähler jeweils die Hälfte des Stromes im Belegungsstromkreis der nachgeordneten Einrichtung fliesst. In diesem Falle dürfen beide Prüfrelais nicht ansprechen. Diese Bedingung ist schwer einzuhalten. Deshalb soll die niedcrohmige Sperrung durch dasjenige Prüfrelais, das zuerst seine Kontakte betätigt, das andere Prüfrelais daran hindern, auch noch anzusprechen.However, it is more difficult in the special case of parallel checking two voters. In this case, the two test circuits happen to be at the same time two independently checking voters with the checking point of a subordinate Furnishing; tied together. Provided that the test relays of both voters have the same resistance values - which is usually to be expected - occurs a Current sharing in a one-to-one ratio. That means that in the windings the test relays of both selectors each half of the current in the occupancy circuit the subordinate facility flows. In this case, both test relays may do not address. This condition is difficult to meet. That is why the lowly one should Blocked by the test relay that actuates its contacts first, the other Prevent test relays from also responding.

Um diese Bedingungen beim Parallelprüien zweier Wähler zur Verhinderung des Doppelprüfens zu verbessern, wurden in bekannten Schaltungsanordnungen (z.B. DBP 1 013 701 und 1 165 678) pro Wähler zwei Prüfrelais vorgesehen, von denen ein erstes schnell ansprechendes und der Wählerstillsetzung dienendes Prüfrelais ein zweites Prülrelais (Prüfhilfsrelais) einschaltet. Das zweite Prüfrelais dient dazu, beim Parallelprüfen mit Sicherheit das Doppelprüfen zweier Wähler zu verhindern.In order to prevent these conditions in the case of parallel judging of two voters to improve double checking have been used in known circuit arrangements (e.g. DBP 1 013 701 and 1 165 678) two test relays are provided per selector, one of which The first test relay that responds quickly and is used to disable the voter second check relay (auxiliary test relay) switches on. The second test relay is used to to prevent two voters from being double-checked when checking in parallel.

Durch die DAS 1 940 847 ist es ferner bekannt, Belegungsstromkreise nach ihrer Belegung hochohmig zu schalten. Durch die gleiche Druckschrift ist es ferner bekannt, Sperrpotential nicht nur von einem prüfenden und sperrenden Wähler her, sondern auch innerhalb einer von einem vorgeordneten Wähler belegten Einrichtung über einen eigenen Widerstand an ihren eigenen Belegungsstromkreis anzuschalten. Dieses Prinzip wird unter anderem unter Verwendung einer Gegenwicklung des Belegungsrelais verwirklicht, die an der Stelle des zuvor genannten Widerstandes vorgesehen wird. Diese Gegenwicklung ist so bemessen, dass das Belegungsrelais auch nach ihrer Einschaltung ausreichende Halte erregung erhält. Bei Auslösung des vorgeordneten Wählers steigt der Strom in der Gegenwicklung an, so dass das Belegungsrelais durch Gegenerregung abgeworfen wird. Durch Einschaltung des Widerstandes oder der Gegenwicklung wird der Strom im Prüfstromkreis des sperrenden hlers, jedoch nicht im Belegungsstromkreis herabgesetzt. Die Spannung am Prüfpunkt der betreffenden Einrichtung wird in Richtung Sperrpotential verschoben.From DAS 1 940 847 it is also known, occupancy circuits to switch to high resistance according to their occupancy. By the same pamphlet it is also known, blocking potential not only from a checking and blocking voter here, but also within an institution occupied by an upstream voter to be connected to their own occupancy circuit via their own resistor. This principle is, among other things, using a reverse winding of the occupancy relay realized that at the Place of the aforementioned resistance is provided. This reverse winding is dimensioned so that the occupancy relay also after it is switched on, it receives sufficient holding excitation. When the upstream Selector increases the current in the opposite winding, so that the occupancy relay through Counter excitation is thrown off. By switching on the resistor or the reverse winding the current in the test circuit of the blocking hler, but not in the occupancy circuit degraded. The voltage at the test point of the device in question is in the direction of Blocking potential shifted.

Das am Anfang des vorigen Absatzes erwähnte "Hochohmigschalten", das durch Einschleifen eines zusätzlichen Widerstandes in den Belegungsstromkreis bewerkstelligt wird, sowie das weiterhin beschriebene Anschalten von Sperrpotential innerhalb einer von einem vorgeordneten Wähler belegten Einrichtung über einen zusätzlichen widerstand oder eine Gegenwicklung des Belegungsrelais dient sowohl dazu, die Sperrsicherheit gesperrter Belegungsstromkreise zu erhöhen, als auch dazu, bei der Verbindungsauslösung ein Aufprüfen auf auslösende Verbindungen zu verhindern. Aufprüfen auf auslösende Verbindungen heisst, dass bei der Auslösung eines vorgeordneten Wählers vor Abfallen des Belegungsrelais der bis dahin von ihm belegten und gesperrten und durch die Auslösung frei werdenden Schalteinrichtung ein anderer ähler vor Abfallen des Belegungsrelais auf diese Schalteinrichtung aufprüft oder aufsohleudert. (Aufschleudern heisst bekanntlich: Das Prüfrelais eines Wählers ist durch Teilerregung auf einem vorhergehenden Wählerschritt infolge eines Parallelvorganges oder dergleichen in der Lage, auf dem nächsten Wählerschritt auch auf ein normalerweise zum Aufprüfen unzureichendes Gegenpotential vollends anzusprechen.) Mittels des Hochohmigschaltens'' lässt sich jedoch ein Aufprüfen oder Aufschleudern auf auslösende Verbindungen nur unter Verwendung von durch die DBP 1 013 701 und 1 165 678 bekannten Prufschaltungen mit Sicherheit verhindern, die pro Wähler ein Prüfrelais und ein Prüfhilfsrelais benötigen.The "high impedance switching" mentioned at the beginning of the previous paragraph, the accomplished by looping an additional resistor into the occupancy circuit as well as the further described switching on of blocking potential within a Establishment occupied by an upstream voter via an additional resistor or a reverse winding of the occupancy relay serves both to ensure locking security to increase blocked occupancy circuits, as well as to trigger the connection to prevent checking for triggering connections. Checking for triggering Connections means that when an upstream voter is triggered before falling off of the occupancy relay of the previously occupied and blocked by him and through the The switching device that becomes free triggers another counter before the occupancy relay drops out checks or unloads on this switching device. (As is well known, spinning means: The test relay of a selector is by partial excitation on a previous selector step as a result of a parallel process or the like, will be able to proceed to the next voting step even to a counter-potential that is normally insufficient for testing To address.) By means of the high-resistance switching '' can be checked or spinning onto releasing compounds using only by the DBP 1 013 701 and 1 165 678 prevent known test circuits with certainty, which require one test relay and one auxiliary test relay for each selector.

Andererseits lässt sich mittels der beschriebenen Anschaltung des Gegenpotentials innerhalb einer von einem vorgeordneten Wähler belegten Einrichtung über einen eigenen Widerstand oder über eine Gegenwicklung des Belegungsrelais an den eigenen Belegungsstromkreis der belegten Einrichtung nicht ein Aufprüfen auf auslösende Verbindungen mit Sicherheit bei solchen Wählern verhindern, die nur ein einziges Prüfrelais haben, also mit einer Prüfschaltung nicht ausgestattet sind, wie sie durch die DBP 1 013 701 und 1-165 678bekannt sind.On the other hand, the described connection of the Counterpotential within a facility occupied by a subordinate voter via its own resistor or via a reverse winding of the occupancy relay its own occupancy circuit the occupied facility is not prevent a check for triggering connections with certainty with such voters, which only have a single test relay, i.e. not equipped with a test circuit as known from DBP 1,013,701 and 1-165,678.

Für die Erfindung besteht deshalb die Aufgabe, Belegungsstromkreise von von vorgeordneten Wählern oder dergleichen belegbaren Schalteinrichtungen sicherer nicht nur hinsichtlich der Gefahr eines DoDpelprufens bei Parallelprüfen zweier Wähler sondern auch hinsichtlich der Gefahr eines Aufprüfens oder Aufschleuderns auf auslösende Verbindungen zu machen.For the invention there is therefore the task of occupancy circuits by switching devices that can be assigned by upstream voters or the like not only with regard to the risk of a double check if two checks are carried out in parallel Voters but also with regard to the risk of being hit or thrown to make releasing connections.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass eine im Belegungsstromkreis vorgesehene Strommesseinrichtung eine Absenkung des im Sperrzustand fliessenden Stromes als Auslösung erkennt und den Belegungsstromkreis bis zur vollständigen Auslösung des betreffenden Schaltgliedes auftrennt. Erfindungsgemäss werden also jegliche Fehlstrombedingungen (Fehlstrom bedeutet für ein Relais, dass über seine Wicklung bzw. Wicklungen ein mit Sicherheit für sein Ansprechen nicht ausreichender Strom fliesst) gänzlich vermieden. Ein Aufprüfen auf auslösende Verbindungen wird auch für den Fall ausgeschlossen, dass in dem Moment, in welchem ein einen Belegungsstromkreis bis dahin sperrender erster Wähler den Prüf- und Belegungsstromkreis auftrennt, ein zweiter Wähler an demselben Belegungsstromkreis bereits seinen Prüfvorgang begonnen hat; in diesem Sonderfall tritt nämlich in dem betreffenden Belegungsstromkreis keine Stromunterbrechung ein, sondern lediglich eine Stromabsenkung auf einen Stromwert, der dem Stromwert bei einem Prifvorgang während der Ansprechzeit des Prüfrelais gleich sein kann. Obwohl also in einem solchen Falle der betreffende Wähler das Aufprüfen auf eine auslösende Verbindung nicht zu erkennen vermag, stellt der erfindungsgemäss ausgebildete Belegungsstromkreis sicher, dass ein Aufprüfen auf eine auslösende Verbindung nicht vorkommen kann. Die erfindungsgemässe Schaltungsanordnung bedarf zum Erkennen dieses besonderen Betriebsfalles auch keiner kurzzeitigen Stromunterbrechung im Belegungsstromkreis, sondern wertet die Stromabsenklmg von einem dem Sperrzustand entsprechenden Stromwert auf einen dem Prüfzustand entsprechenden Stromwert im Belegungsstromkreis aus.According to the invention, this object is achieved in that one in the occupancy circuit provided current measuring device a lowering of the flowing in the blocking state Current recognizes as a trip and the occupancy circuit up to the complete Tripping of the relevant switching element separates. According to the invention, therefore any fault current conditions (fault current for a relay means that over its Winding or windings certainly not sufficient for its response Electricity flows) completely avoided. A check for triggering connections is made also excluded in the event that at the moment in which an occupancy circuit until then, the first selector that is blocking disconnects the test and occupancy circuit, a second voter on the same occupancy circuit has already started its testing process Has; in this special case occurs namely in the relevant occupancy circuit no current interruption, but only a current reduction to a current value, the current value during a test process during the response time of the test relay can be the same. So although in such a case the voter concerned Checking for a triggering connection is not able to recognize, the according to the invention Trained occupancy circuit ensures that there is a check on a triggering one Connection cannot occur. The circuit arrangement according to the invention requires no brief power interruption to detect this particular operating situation in the occupancy circuit, but evaluates the Stromabenklmg from one of the blocking state corresponding current value to a current value corresponding to the test state in the occupancy circuit the end.

In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung nur in wesentlich zu ihrem Verständnis beitragenden Bestandteilen dargestellt, worauf sie jedoch keinesfalls beschränkt ist.In the drawing, an embodiment of the invention is only in The components that are essential to their understanding are shown where they are but is by no means limited.

Von einem Wähler W ist der Prüfstromkreis mit den beiden Wicklungen I und II eines Prüfrelais P dargestellt. Die Wicklung II des Prüfrelais ist über einen relais eigenen Kontakt lp kurzschliessbar. Der Prüfstromkreis des Wählers W ist in bekannter Weise über einen Prüfschaltarm c mit den Prüfpunkten PP von belegbaren nachgeordneten Schalteinrichtungen U verbindbar. Bei diesen belegbaren Schalteinrichtungen U kann es sich z.B. um Verbindungssätze handeln. Verbindungssätze sind z.B.The test circuit with the two windings is from a selector W I and II of a test relay P shown. The winding II of the test relay is over a relay's own lp contact can be short-circuited. The selector's test circuit W is verifiable in a known manner via a test switch arm c with the test points PP downstream switching devices U can be connected. With these assignable switching devices U can, for example, be connection sets. Connection sets are e.g.

Internverbindungssätze, sogenannte Amtsübertragungen, Leitungsabschlusschaltungen von Fernverbindungsleitungen und dergleichen.Internal connection sets, so-called trunk transfers, line termination circuits of trunk lines and the like.

Die belegbaren Schalteinrichtungen U zählen zu den "pro Verbindung erforderlichen Schalteinrichtungen", also Einrichtungen, die für die Dauer des Bestehens einer Verbindung dieser individuell zugeordnet sind, wie z.B. auch Wähler, Verbindungsleitungen, Zwischenleitungen in Koppelfeldern und dergleichen.The assignable switching devices U are among the "per connection" required switching devices ", i.e. devices the for the duration of the existence of a connection these are individually assigned, such as e.g. also dialers, connecting lines, intermediate lines in switching matrices and the like.

Die belegbaren Schalteinrichtungen U sind zu mehreren jeweils zu einer Gruppe zusammengefaßt, der eine gemeinsame Verbindungs satz-Steuerung G gemäß dem deutschen Patent 2 055 745 ("gruppenindividueller Pufferspeicher) zugeordnet ist. Jede der Schalteinrichtungen U steht mit. der gemeinsamen Steuerung G über die beiden Stromkreise z1 und z2 in Kriterienaustausch. Über den Stromkreis z1 signalisiert jede der Schalteinrichtungen U zur gemeinsamen Steuerung G den Schaltzustand der Belegung. Über den Stromkreis z2 signalisiert die gemeinsame Steuerung G an jede der Schalteinrichtungen U den Schaltbefehl 1,Hochohmigschalten" mindestens 40 Millisekunden nach erfolgter Belegung bzw. "Sperren" gegen Neubelegung, sofern die betreffende Schalteinrichtung U sich im Ruhezustand befindet und vorläufig nicht belegbar sein soll.The assignable switching devices U are several in each case to one Group summarized, the one common connection set control G according to the German Patent 2,055,745 ("group-specific buffer memory"). Each of the switching devices U is with. the common control G over the two Circuits z1 and z2 in criteria exchange. Signaled via the circuit z1 each of the switching devices U for common control G the switching state of Occupancy. The common control G signals to each via the circuit z2 of the switching devices U the switching command 1, "high-resistance switching" for at least 40 milliseconds after occupancy or "blocking" against new occupancy, provided that the relevant Switching device U is in the idle state and cannot be assigned for the time being target.

Im Ruhezustand der Schalteinrichtung U liegt von der gemeinsamen Steuerung G her über nicht gezeigte Vonfiderstände und über den Stromkreis z2 Minuspotential an der Basis des Transistors T3, sofern die Schalteinrichtung U belegbar sein soll.In the idle state of the switching device U is from the common control G here via Vonfideristors (not shown) and via the circuit z2 minus potential at the base of the transistor T3, provided that the switching device U is to be assignable.

Das Pluspotential von 5 Volt am Widerstand R1 wird durch das von der gemeinsamen Steuerung Q zugeführte Minuspotential unwirksam gemacht Wenn die Schalteinrichtung U im Ruhezustand belegbar ist, ist der Transistor T3 stromdurchlässig. Über die Widerstände R2 und R3 liegt Erdpotential an der Basis des Transistors T1 und der Basis des Transistors T2. Über die Emitter-Basis-Strecke jedes dieser beiden Transistoren fließt ein relativ geringer Ruhestrom. Diese beiden Transistoren sind dadurch für eine Durchschaltung eines Prüf- und Belegungsstromkreises vorbereitet.The plus potential of 5 volts at resistor R1 is determined by the negative potential supplied to common control Q rendered ineffective When the switching device U can be assigned in the idle state, the transistor T3 is current-permeable. About the Resistors R2 and R3 is ground potential at the base of transistor T1 and the Base of transistor T2. Via the emitter-base path of each of these two transistors a relatively low quiescent current flows. This means that these two transistors are used for a through-connection of a test and occupancy circuit prepared.

Der Transistor T4 ist im Ruhezustand der Schalt einrichtung U durch das von der gemeinsamen Steuerung G zugeführte Minuspo-Potential gesperrt, sofern die Schalteinrichtung U belegbar ist.The transistor T4 is in the idle state of the switching device U through the negative potential supplied by the common controller G is blocked, provided that the switching device U can be assigned.

Ebenfalls ist in diesem Schaltzustand der Transistor T5 gesperrt, und zwar durch das an seiner Basis über die Widerstände R4 und R5 anliegende Pluspotential von 5 Volt. Da an Basis und Emitter des Transistors T6 im Ruhezustand gleiches Potential (Minuspotential von 60 Volt) anliegt, ist auch dieser Transistor im Ruhezustand stromundurchlässig.The transistor T5 is also blocked in this switching state, namely by the positive potential applied to its base via the resistors R4 and R5 of 5 volts. Since the base and emitter of the transistor T6 have the same potential in the idle state (Minus potential of 60 volts) is present, this transistor is also in the idle state current impermeable.

Wird im Zuge eines Freiwahlvorganges des Wählers W sein Prüfrelais P über den Prüfschaltarm c mit dem Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U verbunden, so kommt ein Prüf- und Belegungsstromkreis zustande, der über die Wicklungen I und II des Prüfrelais P, die Widerstände R6, R7 und R9 und über die Parallelschaltung der beiden Transistoren T1 und T2 verläuft, wobei in Reihe mit dem Transistor T2 noch der weitere Widerstand RS schaltet ist. Der am Widerstand R7 auftretende Spannungsabfall wird von einem Vergleicher V erkannt; der ein bis dahin über seinen Ausgang v abgegebenes Ausgangssignal in Form von plus 1 Volt gegen ein Ausgangssignal von minus 11 Volt vertauscht. Dadurch wird über den Stromkreis el die erfolgte Belegung zur gemeinsamen Steuerung G hin signalisiert. Der Vergleicher V reagiert auf den am Widerstand R7 auftretenden Spannungsabfall mit einer Verzögerung, die groß genug ist, um kurzzeitige Störimpulse zu ignorieren.Will be his test relay in the course of a free selection process of the voter W P connected to test point PP of switching device U via test switch arm c, so a test and occupancy circuit is created, which is via the windings I and II of the test relay P, the resistors R6, R7 and R9 and via the parallel connection of the two transistors T1 and T2, in series with the transistor T2 the further resistor RS is still switched. The voltage drop occurring across resistor R7 is recognized by a comparator V; the one that has been delivered up to then via its output v Output signal in the form of plus 1 volt against an output signal of minus 11 volts reversed. As a result, the assignment made becomes common via the circuit el Control G signals out. The comparator V reacts to the resistor R7 voltage drop occurring with a delay that is large enough to be short-term Ignore glitches.

Durch das vom Vergleicher V über seinen Ausgang v abgegebene Ausgangssignal von minus 11 Volt wird außerdem ein Stromkreis über die Widerstände RiO, R5 und- R4 eingeschaltet. Hierin liegt eine Vorbereitung dafür, den Transistor T5 stromdurchlässig zu schalten' was weiter unten beschrieben wird.By the output signal emitted by the comparator V via its output v of minus 11 volts is also a circuit across the resistors RiO, R5 and- R4 switched on. This is a preparation for making the transistor T5 current-permeable to switch 'which is described below.

In dem über den Prüfpunkt PP verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreis spricht das Prüfrelais P des Wählers W an. Es schließt seinen Kontakt 1p und schließt dadurch seine höherohmige Wicklung II kurz. Es bleibt über seine Wicklung I weiterhin erregt. Über seinen Kontakt lp und seine Wicklung I liegt nunmehr Erdpotential relativ niederormig am Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U. Dadurch werden weitere Wähler gehindert, in Freiwahl auf die belegte und durch das Ansprechen des Prüfrelais P bereits gesperrte Schalteinrichtung U auf zu prüfen. Die durch das Ansprechen des Prüfrelais P ferner bewirkte Stromerhöhung u.a. im Widerstand R7 - hat an diesem eine Erhöhung des Spannungsabfalles zur Folge, die auf den Vergleicher V jedoch keinen Einfluß hat.In the test and occupancy circuit running over the test point PP the test relay P of the selector W responds. It closes its contact 1p and closes as a result, its higher-resistance winding II is short. It remains over its winding I. excited. Ground potential is now relative via its contact lp and its winding I low-standard at the test point PP of the switching device U. As a result, more voters prevented, in free choice on the documented and by speaking of the test relay P to check switching device U that is already blocked. By the response of the test relay P also caused an increase in current, among other things in the resistance R7 - causes an increase in the voltage drop on this, which affects the comparator However, V has no influence.

Etwa 40 Millisekunden nachdem der Vergleicher V über seinen Ausgang v und über den Stromkreis z1 die eingangsseitige Belegung der Schalteinrichtung U an die gemeinsame Steuerung G signalisiert hat, schaltet diese das über den Stromkreis z2 bis dahin angeschaltete Minuspotential ab. Nunmehr vermag sich das Pluspotential von 5 Volt über den Widerstand R1 durchzusetzen. Dadurch wird der Transistor T3 stromundurchlässig. Infolgedessen werden auch die Transistoren T1 und T2 stromundurchlässig. Durch das Pluspotentlal von 5 Volt über den Widerstand R1 wird jedoch der Transistor T4 stromdurchlässig. Er schaltet Erdpotential an den erbindungspunkt zwischen den beiden Widerständen R4 und R5. Infolgedessen stellt sich am Verbindungspunkt der beiden Widerstände R5 und R10 negatives Teilpotential ein, durch welches der Transistor T5 stromdurchlässig geschaltet wird. Dadurch wird der aus den Widerständen RI 1 und RI 2 gebildete Spannungsteiler eingeschaltet, an dessen Spannungsteilermittelpunkt ein negatives Teilpotential entsteht, durch welches der Transistor T6 stromdurchlässig geschaltet wird. Der zunächst über die Transistoren T1 und T2 verlaufende Belegungsstromkreis verläuft nunmehr nicht mehr über diese, sondern über die Widerstände R13 und R14. Durch die Kondensatoren C1 und C2 ist dafür gesorgt, daß bei den zuletzt beschriebenen Vcrgängen die Transistoren T1 und T2 mit einer gewissen Verzögerung nach dem Transistor T3 stromundurchlässig werden, so daß der über den Widerstand R9 verlaufende beschriebene Belegungsstromkreis erst unterbrochen wird, wenn der Belegungs-Haltestromkreis über die Widerstände R13 und R14 mittels des Transistors T6 durchgeschaltet worden ist. T>adurch wird sichergestellt, daß in dem über den Prüfpunkt P verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreis keine Unterbrechung eintritt.About 40 milliseconds after the comparator V has its output v and the input-side assignment of the switching device via the circuit z1 U has signaled to the common control G, this switches this over the circuit z2 up to then switched on negative potential. Now the plus potential can of 5 volts through the resistor R1. This turns the transistor T3 current impermeable. As a result, the transistors T1 and T2 also become current-impermeable. By the plus potential of 5 volts across the resistor R1, however, the transistor T4 current-permeable. It switches the earth potential to the connection point between the two resistors R4 and R5. As a result, the both resistors R5 and R10 negative partial potential, through which the transistor T5 is switched to be conductive. This makes the resistor RI 1 and RI 2 formed voltage divider switched on, at its voltage divider center point a negative partial potential is created, through which the transistor T6 is current-permeable is switched. The occupancy circuit initially running through transistors T1 and T2 now no longer runs through this, but through the resistors R13 and R14. The capacitors C1 and C2 ensure that the last described Transistors T1 and T2 pass with a certain delay after the transistor T3 are impermeable to current, so that the described running across the resistor R9 Occupancy circuit is only interrupted when the occupancy holding circuit is over the resistors R13 and R14 has been switched through by means of the transistor T6. T> adurch ensures that in the one over the checkpoint P running test and occupancy circuit no interruption occurs.

Durch diese Umschaltung des über den Prüfpunkt PP verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreises von seinem über die Transistoren T1 und T2 verlaufenden Abschnitt auf den über den Transistor T6 verlaufenden Abschnitt wird der Gesamtwiderstand zwischen dem Prüfpunkt PP und der Minus spannung erhöht. Durch diesen auch als "Hochohmigschalten'l des Belegungsstromkreises bezeichneten Schaltvorgang wird die Sperrsicherheit der Schalteinrichtung U erhöht, d.h. die Sicherheit dafür, daß kein anderer Wähler mehr auf den belegten und gesperrten Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung U aufprüfen kann.Through this switchover of the test run via the test point PP and occupancy circuit of his running through the transistors T1 and T2 Section on the section running over the transistor T6 becomes the total resistance between the test point PP and the minus voltage increased. This is also called "high-resistance switching" of the occupancy circuit designated switching process is the locking security of Switching device U increases, i.e. the security that no other voter Check for the occupied and blocked occupancy circuit of the switching device U. can.

Durch die beschriebene Umschaltung des Belegungsstromkreises von seinem Verlauf über den Widerstand R9 auf den Verlauf über die Widerstände R13 und R14 wird ferner der dem Vergleicher V zugeführte Spannungsabfall noch erhöht. Dadurch wird der Prüf- und Belegungsstromkreis während der Dauer der ihm entsprechenden durchgeschalteten Verbindung gegenüber Störungen durch induzierte oder kapazitiv übertragene Fremdspannungen gesichert. Perner wird die Sperrsicherheit gegen ioppelprüfen erhöht und der Stromverbrauch vermindert.By switching the occupancy circuit described from his Course via resistor R9 to the course via resistors R13 and R14 the voltage drop supplied to the comparator V is further increased. Through this is the test and occupancy circuit for the duration of the corresponding through-connected connection against interference by induced or capacitive transferred external voltages secured. Perner will double-check the blocking security increased and power consumption decreased.

Wird der Prüf- und Belegungsstromkreis vom vorgeordneten Wähler her aufgetrennt, also die ihm entsprechende Verbindung ausgelöst, so werden unter anderem die Widerstände R7 und R13 stromlos. Der an ihnen bis dahin vorhandene- Spannungsabfall entfällt. Der Vergleicher V schaltet das bis dahin über seinen Ausgang v abgegebene Signal von minus 11 Volt wieder ab und legt stattdessen das erwähnte Potential von plus 1 Volt an. Dadurch wird über den Stromkreis z1 zur gemeinsamen Steuerung'G signalisiert, dass die Schalteinrichtung U vom vorgeordneten Wähler her ausgelöst worden ist. Die gemeinsame Steuerung G veranlasst nun auf im einzelnen nicht beschriebene Weise die Auslösung aller übrigen Teile der Schalteinrichtung U. Die gemeinsame Steuerung schaltet orläufig nicht das Minuspotential über den Stromkreis z2 ein.If the test and occupancy circuit is disconnected from the upstream selector, i.e. the connection corresponding to it is triggered, then resistors R7 and R13, among other things, are de-energized. The voltage drop present on them up to that point does not apply. The comparator V switches off the signal of minus 11 volts that has been emitted via its output v up to that point and sets the instead mentioned potential of plus 1 volt. This signals via the circuit z1 to the common control that the switching device U has been triggered by the upstream selector. The common control G now triggers all other parts of the switching device U in a manner not described in detail. The common control does not initially switch on the negative potential via the circuit z2.

Durch den Wechsel des Ausgangssignales seitens des Vergleichers V von minus 11 Volt auf plus 1 Volt wird der Transistor T5 wieder gesperrt und demzufolge auch der Transistor T6. Versucht nun ein Wähler, auf die noch im Schaltzustand der nicht vollständig abgewickelten Auslösung befindliche Schalteinrichtung U ozuprüfen, so findet er das den Freizustand kennzeichnende Potential von minus 60 Volt weder über die Transistoren T1 und T2 noch über den Transistor T6 vor. Die Schalteinrichtung U ist also vorläufig gegen Neubelegung gesperrt.By changing the output signal on the part of the comparator V from minus 11 volts to plus 1 volt, the transistor T5 is blocked again and consequently also the transistor T6. Now tries a voter who is still in the switching state of the Check the switching device U o not completely completed tripping, so he does not find the potential of minus 60 volts, which characterizes the free state via the transistors T1 and T2 or via the transistor T6. The switching device U is therefore temporarily blocked against re-assignment.

Wie beschrieben, schaltet der Vergleicher V bei der Auslösung, also bei Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises an seinen Ausgang v wieder Pluspotential von ca. 1 Volt anstelle des Minuspotentials von 11 Volt an. Der Vergleicher V reagiert jedoch auf das Verschwinden des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 mit einer gewissen Verzögerung. Dadurch wird sichergestellt, daß eine fälschliche Auslösung nicht etwa durch Störimpulse herbeigeführt werden kann, die auf induktivem oder kapazitivem Wege auf den im Sperrzustand befindlichen Prüf-und Belegungsstromkreis einer durchgeschaltetnVerbindung über tragen werden können, Im Hinblick auf das Problem des Aufprüfens auf auslösende Verbindungen kann der Fall eintreten, daß ein prüfender Wähler sein Prüfrelais über seinen Prüfschaltarm mit dem Prüfpunkt einer seitens eines anderen Wählers belegten und gesperrten Schalteinrichtung verbindet, und daß unmittelbar anschließend der bis dahin mit dieser Schalteinrichtung verbundene und diese sperrende Wähler ausgelöst wird und den bis dahin bestehenden und im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belegungsstromkreis auftrennt. In einem solchen Falle besteht in her- -kömmlichen Vermittlungsanlagen die Möglichkeit, daß das Prüf relais des genannten prüfenden Wählers anspricht und daß dadurch eine Falschverbindung zustandekommt. Um diese Möglichkeit zu unterbinden, ist der Vergleicher V eingangsseitig mit Schaltmitteln ausgerüstet, die ein Absinken des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 zu erkennen vermögen. Dies können Spannung nach der Zeit differenzierende Schaltmittel sein. - Beachtlich ist in diesem Zusammenhang, daß der zunächst bestehende und im Sperrzustand befindliche Prüf- und Belegungsstronkreis lediglich die Wicklung I des Prüfrelais des betreffenden sperrenden Wählers W enthält, daß jedoch dieser bei Auftrennung des im Sperrzustand befindlichen Prüf-und Belegungsstromkreises weiter bestehende Prüf- und Belegungsstromkreis des prüfenden Wählers außer der niederohmigenrwicklung I auch die höherohmige Wicklung II des Prüfrelais P enthält.As described, the comparator V switches when triggered, that is when the test and occupancy circuit is disconnected, positive potential again at its output v of approx. 1 volt instead of the negative potential of 11 volts. The comparator V reacts however, on the disappearance of the voltage drop across resistors R7 and R13 with a certain delay. This ensures that an incorrect Triggering cannot be brought about by glitches that are based on inductive or capacitive path to the test and occupancy circuit that is in the blocked state a switched connection can be transmitted, with regard to the Problem of checking for triggering connections can arise that a testing voter connects his test relay to the test point via his test switch arm connects a switching device that is occupied and blocked by another voter, and that immediately afterwards the one previously connected to this switching device and this blocking voter is triggered and the existing up to then and in the blocked state disconnects the test and occupancy circuit. In such a case there is in conventional switching systems the possibility that the test relay des said checking voter responds and that thereby a false connection comes about. In order to prevent this possibility, the comparator V has switching means on the input side equipped, which causes a drop in the voltage drop across resistors R7 and R13 able to recognize. This can be voltage according to the time differentiating switching means be. - It is noteworthy in this context that the initially existing and im Check and occupancy circuit in the blocked state only winding I the test relay of the relevant blocking selector W contains, but that this when the test and occupancy circuit in the blocked state is disconnected further existing test and occupancy circuit of the testing voter apart from the low resistance winding I also the higher-resistance winding II of the test relay P contains.

In diesem besonderen Betriebsfall ist also die Auslösung der ersten Verbindung nicht an einer Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises, also nicht an einem völligen Fortfall des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 zu erkennen, sondern an einer Stromabsenkung, also an einer Absenkung des Spannungsabfalles an den genannten beiden Widerständen. Der in diesem besonderen Betriebsfall nach der Stromabsenkung am Vergleicher eingangsseitig wirksame Spannungsabfall tritt an den Widerständen R7 und R13 auf, is-t also sogar größer als der beim normalen Prüf- und Belegungsvorgang vor Ansprechen des betreffenden Prüfrelais am Vergleicher wirksame Spannungsabfall, weil dieser nur an Widerstand R7 entsteht.In this particular operating case, the triggering is the first Connection not to a separation of the test and occupancy circuit, so not because of a complete cessation of the voltage drop across resistors R7 and R13 can be recognized, but rather from a decrease in current, i.e. a decrease in the voltage drop at the two resistors mentioned. Which in this particular operating case according to the current reduction at the comparator on the input side, effective voltage drop occurs at the resistors R7 and R13, so it is even larger than the normal one Test and assignment process before the relevant test relay on the comparator responds effective voltage drop because it only occurs at resistor R7.

Um nun diesen besonderen Betriebslall (Aufprüfen auf auslösende Verbindung) von einem normalen Prüf- und Belegungsvorgang mit einer im Freizustand befindlichen Schalteinrichtung U unterscheiden zu können, genügt es für den Vergleicher V nicht, eingangsseitig lediglich den Spannungsabfall zu messen; um diese beiden Betriebsfälle eindeutig voneinander unterscheiden zu können, ist der Vergleicher V eingangsseitig mit Schaltmitteln ausgestattet, mit deren Hilfe der zeitliche Verlauf der eingangsseitigen Spannung, also die Absenkung des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 erkannt werden kann. Dadurch läßt sich mit Sicherheit ein Aufprüfen auf auslösende Verbindungen auch für solche Wähler verhindern, in denen keine eigenen Vorkehrungen für die Vermeidung des Aufprüfens auf auslösende Verbindungen getroffen sind.In order now to this special operational situation (checking for triggering connection) from a normal test and allocation process with a one in the free state To be able to distinguish switching device U, it is not sufficient for the comparator V to only measure the voltage drop on the input side; to these two operating cases The comparator V is on the input side to be able to distinguish clearly from one another equipped with switching means, with the help of which the temporal course of the input-side Voltage, i.e. the lowering of the voltage drop across resistors R7 and R13 can be recognized. In this way, a check for triggering can be carried out with certainty Prevent connections even for those voters who do not have their own precautions to avoid checking for releasing connections.

Wie beschrieben, verläuft der Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung U vom Prüfpunkt PP über die Widerstände R6, R7, R8 und R9 und über die Transistoren T1 und T2. Beim Hochohmigschalten wird derjenige Teil des Belegungsstromkreises, der die Widerstände R8 und R9 und die Transistoren TI und T2 umfaßt, ausgeschaltet und statt dessen ein über die Widerstände R13 und R14 und über den "Transistor T6 vcrlaufende Haltestromkreis eingeschaltet. - Besondere Boachtng kommt dem die Widerstande R8 und R9 und die Transistoren T1 und T2 enthaltenden Teil des Belegungsstromkreises zu. Dieser Teil des Belegungsstromkreises wirkt in Verbindung mit dem Anschluss an die Spannungsquelle von minus 60 Volt als Konstantstromquelle. Der Transistor T1 hat hierzu eine stromregelnde Wirkung. Das dem über den Widerstand R9 angeschalteten Batteriepo-tential von minus 60 Volt gegenüber positive Potential, das der Basis des Transistors T1 über den Transistor T3 und den Widerstand R2 zugeführt wird, ist durch die Zenerdiode D1 so.begrenzt, dass der Absolutwert des Basispotentials des Transistors T1 nicht über einen durch die Zenerdiode DI vorgegebenen Wert hinaus ansteigen kann. Der im Belegungsstromkreis fliessende Strom ruft am Widerstand R9 einen Spannungsabfall hervor. Die Zenerspannung der Diode D1 abzüglich dieses Spannungsabfalles wirkt steuernd am Transistor T1 und bestimmt seinen Basisstrom. Da also das Basispotential am voraussetzungsgemäss stromdurchlässigen Transistor T1 positiv gegenüber seinem Emitterpotential sein und bleiben muss, kann der durch den Strom im Belegungsstromkreis erzeugte Spannungsabfall im Widerstand R9 nur so gross werden, dass dieser Spannungsabfall höchstens einen der um die für den Transistor T1 notwendige Steuerspannung verminderten Zenerspannung entsprechenden Spannungs grenzwert erreichen kann. Da also der Spannungsabfall am Widerstand R9 begrenzt ist, ist folglich auch dem Strom im Belegungsstromkreis selbst eine nicht zu überschreitende Grenze gesetzt. Folglich wirkt der Transistor T1 stromregelnd. Er bildet praktisch einen zwischen Null Qhm und unendlich grossem Widerstand regelbaren Widerstand nach.As described, the occupancy circuit of the switching device runs U from test point PP via resistors R6, R7, R8 and R9 and via the transistors T1 and T2. When switching to high resistance, that part of the occupancy circuit is comprising the resistors R8 and R9 and the transistors TI and T2, turned off and instead one about the resistors R13 and R14 and above the holding circuit running through transistor T6 is switched on. - Special warning comes the one containing the resistors R8 and R9 and the transistors T1 and T2 Part of the occupancy circuit too. This part of the occupancy circuit acts in Connection to the connection to the voltage source of minus 60 volts as a constant current source. The transistor T1 has a current-regulating effect for this purpose. The one about the resistance R9 connected battery potential of minus 60 volts compared to positive potential, fed to the base of transistor T1 through transistor T3 and resistor R2 is limited by the Zener diode D1 so that the absolute value of the base potential of the transistor T1 does not go beyond a value predetermined by the Zener diode DI can increase. The current flowing in the occupancy circuit calls the resistor R9 a voltage drop emerges. The Zener voltage of the diode D1 minus this voltage drop has a controlling effect on transistor T1 and determines its base current. So there the base potential on the current-permeable transistor T1 as required, positive compared to his The emitter potential can be and must remain due to the current in the occupancy circuit The voltage drop generated in the resistor R9 will only be so large that this voltage drop at most one reduced by the control voltage required for transistor T1 Zener voltage can reach the corresponding voltage limit. So there the voltage drop is limited at resistor R9, is consequently also the current in the occupancy circuit even set a limit that should not be exceeded. Hence the transistor works T1 current regulating. It forms practically one between zero Qhm and infinitely large Resistance adjustable resistance.

Dem Transistor T1 parallel liegt der Widerstand R8 über den in diesem Betriebszustand niederohmig stromdurchlässigen Transistor T2. Der Regelbereich der durch die Transistoren T1 und T2 und die Widerstände R8 und R9 sowie die Diode Dl gebildeten Konstantstromquelle ist durch den Widerstandswert des Widerstandes R8 bestimmt. Diese Konstantstromquelle vermag also mittels des durch den Transistor T1 jeweils nachgebildeten Widerstandes den Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis in den Grenzen zu regeln, die durch Kurzschliessung des Widerstandes R8 einerseits und durch seine volle Wirksamkeit andererseits bestimmt sind.The resistor R8 is parallel to the transistor T1 via the resistor R8 in it Operating state low-resistance, current-permeable transistor T2. The control range of the through the transistors T1 and T2 and the resistors R8 and R9 and the diode Dl constant current source is formed by the resistance value of resistor R8 certainly. This constant current source is thus able to use the transistor T1 each simulated resistance shows the current in the test and occupancy circuit To regulate within the limits by short-circuiting the resistor R8 on the one hand and on the other hand are determined by its full effectiveness.

Der Widerstand R8 dient im wesentlichen das die durch die Stromregelung bedingte Vernichtung der zwischen den Widerständen R7 und R9 umzusetzenden Verlustleistung vom Transistor T1 so weit wie möglich abzuziehen, also teilweise außerhalb dieses Transistors umzusetzen und ab zuführen. Dadurch kann die im Transistor T1 maximal auftretende Verlustleistung in einem praktischen Anwendungsfall im Verhältnis von ungefähr 2 zu 1 herabgesetzt werden (also im Vergleich dazu, daß der Widerstand R8 und der Transistor T2 nicht vorgesehen wäre*.The resistor R8 essentially serves the purpose of the Current regulation conditional destruction of the power loss to be converted between the resistors R7 and R9 subtract from transistor T1 as much as possible, i.e. partially outside of this Implement transistor and lead off. As a result, the maximum in transistor T1 occurring power loss in a practical application in the ratio of about 2 to 1 (compared to the fact that the resistance R8 and the transistor T2 would not be provided *.

Es ist jedoch auch möglich, den Transistor T2 und den Widerstand R8 wegzulassen. Dadurch vergrößert sich der Regelbereich des Transistors T1. Jedoch erhöht sich dadurch zugleich auch die im Transistor T1 umzusetzende Verlustleistung.However, it is also possible to use the transistor T2 and the resistor R8 omit. This increases the control range of the transistor T1. However this also increases the power dissipation to be converted in transistor T1 at the same time.

Anschließend sei die stromregelnde Wirkung der beschriebenen Konstantstromquelle erläutert. Hierbei sind der Einzelprüffall und der Parallelprüffall miteinander zu vergleichen.Then the current-regulating effect of the constant current source described is assumed explained. Here, the individual test case and the parallel test case are mutually exclusive to compare.

Unter der Voraussetzullg, daß es sich bei zwei parallel prüfenden Wählern um Wähler mit gleichen Prüfstromkreisen handelt, weist die Parallelschaltung der beiden Prüfstromkreise im Parallelprüffall bekanntlich den halben Innenwiderstandswert auf gegenüber dem Innenwiderstand nur eines einzigen dieser beiden Prüfstromkreise. Die Konstantstromquelle findet also jenseits des Prüfpunktes PP der Schalteinrichtung U im Parallelprüffall nur einen halb so großen Widerstand vor, wie im Einzelprüffall. Sie sorgt aber dafür, daß in beiden Fällen nur der gleiche Strom im Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung U fließt. Dadurch wird erreicht, daß in einem Prüfrelais eines Wählers im Parallelprüffall nur halb so viel Strom fließt, wie im Einzelprüffall. Dadurch wird der nrallelprüffall gegenüber dem Einzelprüffall besser unter -scheidbar für die Prüfrelais der betreffenden Wahler. Dadurch läßt sich also die Sicherheit gegen Doppelprüfen im Parallelprüffall erhöhen.Under the prerequisite that there are two parallel examiners If voters are voters with the same test circuits, the parallel connection of the two test circuits in the parallel test case is known to have half the internal resistance value to the internal resistance of only one of these two test circuits. The constant current source is located beyond the test point PP of the switching device U in the parallel test case only has half the resistance as in the individual test case. But it ensures that in both cases only the same current in the occupancy circuit the switching device U flows. This ensures that in a test relay one Selector in the parallel test case only half as much current flows as in the individual test case. This makes it easier to distinguish between the parallel test case and the individual test case for the test relays of the voters concerned. Thus, the security increase against double testing in the case of parallel testing.

In diesem Zusammenhang ist ferner zu beachten, dass Prüf- und Belegungsstromkreise jeweils über eiEe der Adern einer Verbindungsleitung verlaufen, die verschieden lang sein kann und demgemäss unterschiedlich grossen zusätzlichen Leitungswiderstand in den jeweiligen Belegungsstromkreis einer Schalteinrichtung U einbringen kann. Der Leitungswiderstand einer Verbindungsleitung ist zwischen dem Widerstand R6 der Schalteinrichtung U und ihrem Prüfpunkt PP eingefügt zu denken. Die Konstantstromquelle wirkt nun ausserdem dahingehend, den von Verbindungsleitung zu Verbindungsleitung variierenden Leitungswiderstand der betreffenden Belegungsstromkreise auszugleichen.In this context, it should also be noted that test and occupancy circuits each of which runs over one of the cores of a connecting line, which are different can be long and accordingly differently large additional line resistance can bring U into the respective occupancy circuit of a switching device. The line resistance of a connecting line is between the resistor R6 Think switching device U and its test point PP inserted. The constant current source now also acts to the effect that from connection line to connection line to compensate for the varying line resistance of the relevant occupancy circuits.

- Darüberhinaus bietet die Kontantstromquelle eine gute Sicherheit gegen Erdschluss am Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U.- In addition, the constant power source offers good security against earth fault at test point PP of switching device U.

In einem derartigen Kurzschlussfall verhindert die Konstantstromquelle also eine Überlastung der den Kurzschlusstrom führenden Widerstände R6 und R7.The constant current source prevents such a short circuit thus an overload of the resistors R6 and R7 carrying the short-circuit current.

Die Kondensatoren Ci und C2 haben ausser der beschriebenen Aufgabe, beim Hochohmigschalten die Abschaltung des über den Widerstand R9 verlaufenden Zweig des Belegungsstromkreises zu verzögern, die weitere Aufgabe, beim Beginn eines Prüf- und Belegungsvorganges für einen verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Belegungsstromkreis zu sorgen. Denn bekanntlich setzen Prüfrelais in von ihnen erreichbaren Belegungsstromkreisen Belegungsrelais voraus, deren Wicklungen einen komplexen Widerstand aufweisen, der beim Beginn eines jeden Prüf- und Belegungsvorganges einen verzögerten Stromanstieg verursacht. Um eine möglichst kurze Ansprechzeit des jeweiligen Prüfrelais zu erreichen, tragen die Belegungsrelais in der Regel eine im Ruhezustand kurzgeschlossene Zweitwicklung, wodurch in einem geschlossenen Prüf- und Belegungsstromkreis der Stromanstieg sich steiler gestaltet, als wenn die kurzgeschlossene Zweitwicklung nicht vorgesehen wäre.The capacitors Ci and C2 have, in addition to the described task, when switching to high resistance, the branch running across resistor R9 is switched off to delay the occupancy circuit, the further task at the beginning of a test and occupancy process for a delayed increase in current in the test and occupancy circuit to care. It is well known that test relays are set in the occupancy circuits that can be reached by them Occupancy relays ahead, the windings of which have a complex resistance that a delayed increase in current at the beginning of each test and assignment process caused. In order to achieve the shortest possible response time of the respective test relay, The occupancy relays usually have a secondary winding that is short-circuited in the idle state, whereby the current increase in a closed test and occupancy circuit designed steeper than if the short-circuited secondary winding was not provided were.

Dadurch wird für die Prüfrelais eine relativ kurze Ansprechzeit erzielt. In Motorwählerschaltungen werden bekanntlich Prüfrelais verwendet, die im Vergleich zu anderen bekannten elektromechanischen Relais überaus schnell ansprechen. Diese Prüfrelais besitzen also eine besonders hohe tmpfindlichkeit.This results in a relatively short response time for the test relays. It is known that test relays are used in motor selector circuits which are compared respond extremely quickly to other known electromechanical relays. These Test relays therefore have a particularly high sensitivity.

Sie sind so aufgebaut, dass sie die Motorstillsetzung zu bewerkstelligen vermögen, obwohl ihr Ansprechstromkreis über eine Wicklung eines elektromagnetischen Belegungsrelais im Belegungsstromkreis einer nachfolgenden belegbaren Schalteinrichtung verläuft, und obwohl dieses Belegungsrelais trotz seiner kurzgeschlossenen Zweitwicklung aufgrund der verbleibenden Induktivität einen in gewissem Masse verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Belegungsstromkreis zur Folge hat. Würden nun solche hochempfindlichen und schnell ansprechenden Prüfrelais von Motorwählern auf Belegungsstromkreise aufprüfen, die lediglich rein ohm'sche Widerstände enthalten, so würde dadurch die Ansprechgeschwindigkeit noch weiter gesteigert werden. Eine Folge davon wären Kontaktprellungen und eine erhöhte Abnutzung der betreffenden Kontakte, insbesondere derjenigen Kontak-te, die unmittelbar zur Motorstillsetzung dienen und deshalb einer besonders hohen Strombelastung unterworfen sind. Dieser unerwinschte Effekt wird durch die vorliegende Schaltungsanordnung dadurch beseitigt, dass beim Beginn jedes Prüf- und Belegungs-Vorganges der Stromanstieg im Transistor T1 mittels des Kondensators C1 verzögert ist. Im Ruhezustand fliesst über den Transistor T3, den Widerstand R2, die Basis-Emitter-Strecke des Transistors T1 und den Widerstand R9 ein Ruhestrom, sofern die Schalteinrichtung U von der gemeinsamen Steuerung G her als.They are designed in such a way that they can bring the engine to a standstill capital, although their response circuit is via a winding of an electromagnetic occupancy relay runs in the occupancy circuit of a downstream switchgear that can be occupied, and although this occupancy relay due to its short-circuited secondary winding the remaining inductance a somewhat delayed current rise in the test and occupancy circuit. Would be such a highly sensitive and quickly responding test relays of motor selectors to check occupancy circuits, which only contain purely ohmic resistances, this would reduce the response speed can be increased even further. One consequence of this would be contact bruises and one increased wear and tear on the relevant contacts, in particular those contacts which serve directly to shut down the motor and therefore a particularly high current load are subject. This undesirable effect is achieved by the present circuit arrangement this eliminates the fact that the current increase at the beginning of every test and assignment process is delayed in transistor T1 by means of capacitor C1. Flows in the idle state via the transistor T3, the resistor R2, the base-emitter path of the transistor T1 and the resistor R9 a quiescent current, provided that the switching device U of the common Control G here as.

belegbar gekennzeichnet ist. Der Widerstand R2 ist relativ hochohmig gegenüber dem Widerstand R9. Deshalb tritt an diesem Widerstand ein relativ geringer Spannungsabfall auf. Ebenfalls ist der an der Basis-Emitter-Strecke des Transistors T1 auftretende Spannungsabfall sehr klein. Der Kondensator Cl ist deshalb im Ruhezustand auf nur etwa 1 V aufgeladen. Wird nun ein Prüf- und Belegungsstromkreis geschlossen, so kommt durch die beschriebene stromregelnde Wirkung des Transistors T1 im Prüf- und Belegungsstromkreis zunächst nur ein relativ geringer Strom zustande. Da nämlich - wie beschrieben -der im Belegungsstromkreis fließende Strom am Widerstand R9 einen dementsprechenden Spannungsabfall hervorruft, und da dieser höchstens einen gegenüber der Kondensatorspannung um die für den Transistor Tl notwendige Steuerspannung geringeren Wert erreichen kann, bestimmt die Spannung am Kondensator Cl den Höchststrom im Belegungsstromkreis. - Der Kondensator C1 wird nun über den Widerstand R2 aufgeladen. Entsprechend diesem Aufladungsvorgang steigt das Steuerpotential am Transistor T1.is marked verifiably. The resistor R2 has a relatively high resistance compared to resistor R9. Therefore, there is a relatively small amount of resistance at this resistance Voltage drop. The one is also at the base-emitter path of the transistor T1 occurring voltage drop very small. The capacitor Cl is therefore in the idle state charged to only about 1V. If a test and occupancy circuit is now closed, the described current-regulating effect of the transistor T1 in the test and occupancy circuit initially only a relatively low current. Namely there - as described - the current flowing in the occupancy circuit at resistor R9 a causes a corresponding voltage drop, and since this at most one opposite the capacitor voltage is lower by the control voltage required for the transistor Tl Can reach value, the voltage across the capacitor Cl determines the maximum current im Occupancy circuit. - The capacitor C1 will now about the resistance R2 charged. In accordance with this charging process, the control potential increases at transistor T1.

Demgemäss steigt auch der Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis mit an. Der Aufladungsvorgang des Kondensators C3 wird bei Erreichen der Zenerspannung der Diode D1 beendet. Der Kondensator behält danach diese Spannung bei.Accordingly, the current in the test and occupancy circuit also increases at. The charging process of the capacitor C3 is when the Zener voltage is reached the diode D1 terminated. The capacitor then maintains this voltage.

Der Strom im Beleeungssbromkreis steigt von diesem Zeitpunkt an nicht mehr weiter an. Beim Hochohmigschalten, wenn also der Transistor T3 und der Widerstand R2 stromlos werden, wird der Kondensator CI über den Widerstand RIS entladen.The current in the bromine circuit does not increase from this point on more on. When switching to high resistance, i.e. when the transistor T3 and the resistor R2 become de-energized, the capacitor CI is discharged through the resistor RIS.

Ebenso wie dem Transistor T1 ein aus dem Widerstand R2 und dem Kondensator CI bestehender R-C-Kreis zum-verzögerten Stromanstieg in der Emitter-Kollektor-Strecke zugeordnet ist, ist auch dem Transistor T2 ein aus dem Widerstand R3 und dem Kondensator C2 bestehender R-C-Kreis zugeordnet. Beide R-C-Kreise sind rmgefähr gleich dimensioniert. Da mit der Emitter-Kollektor-Strecke des Transistors T2 der Widerstand R8 in Reihe geschaltet ist, bestimmt den verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Belegungsstromkreis im wesentlichen der Transistor T1.Just like the transistor T1 one from the resistor R2 and the capacitor CI Existing R-C circuit for the delayed current rise in the emitter-collector path is assigned, the transistor T2 is one of the resistor R3 and the capacitor C2 existing R-C circuit assigned. Both R-C circles have roughly the same dimensions. Since the resistor R8 is in series with the emitter-collector path of the transistor T2 is switched, determines the delayed increase in current in the test and occupancy circuit essentially the transistor T1.

Soll die Schalteinrichtung U im Ruhezustand gegen Neubelegung seitens eines vorgeordneten Wählers gesperrt werden, so entzieht die gemeinsame Steuerung G das bis dahin im Ruhezustand über den Stromkreis z2 angelegte Minuspotential. Dadurch wird der Transistor T3 stromundurchlässig. Ebenfalls werden die Basis-Emitter-Strecken der Transistoren T1 und T2 stromlos.Should the switching device U in the idle state against re-assignment on the part of an upstream voter are blocked, the common control is withdrawn G the negative potential applied up to then in the idle state via the circuit z2. This makes the transistor T3 current-impermeable. The base-emitter lines are also used the transistors T1 and T2 are de-energized.

Infolgedessen ^ lgedessen kann auch kein vorgeordneter Wähler auf die im Ruhezustand gesperrte Schalteinrichtung U aufprüfen. - Die Schalteinrichtung U empfängt also von der gemeinsamen Steuerung G über ein und denselben Stromkreis z2 sowohl das Schaltkennzeichen "Hochohmigschalien" als auch das Schaltkennzeichen "Sperrung im ruhezustand". Diese beiden Schaltkennzeichen, die die gemeinsame Steuerung G in der gleichen Form an die Schalteinrichtung U abgibt, sind in dieser dadurch voneinander unterscheidbar, dass die gemeinsame Steuerung die über den Stromkreis z2 angelegte Minusspannung zum Hochohmigschalten nach erfolgter Belegung, dagegen zum Sperren des Belegungsstromkreises im Ruhezustand anlegt. Beide Schaltkennzeichen werden aber über ein und denselben Stromkreis z2 an die Schalteinrichtung U übertragen.As a result, no upstream voter can either Check the switching device U, which is locked in the idle state. - The switching device U receives from the common control G via one and the same circuit z2 both the switching indicator "Hochohmigschalien" and the switching indicator "Blocking when idle". These two switching indicators that share the control G delivers in the same form to the switching device U, are thereby in this distinguishable from each other in that the common control is via the circuit z2 applied minus voltage for high-resistance switching after occupancy, on the other hand to block the occupancy circuit in the idle state. Both switching indicators but are transmitted to the switching device U via one and the same circuit z2.

Abschliessend sei noch bezüglich der Spannung nach der Zeit differenzierenden eingangsseitigen Schaltmittel des Vergleichers V auf die DT-PS 1 165 677 hingewiesen, in der Spannung nach der Zeit differenzierende Schaltmittel verwendet sind. Diese bekannte Schaltungsanordnung betrifft zwar eine Prüfschaltung; jedoch lassen sich die hierin dargestellten und beschriebenen Schaltmittel zur Differenzierung der Spannung nach der Zeit auch in der vorliegenden Schaltungsanordnung verwenden.Finally, we should differentiate between the tension and the time the input-side switching means of the comparator V referred to DT-PS 1 165 677, Switching means differentiating the voltage according to the time are used. These known circuit arrangement relates to a test circuit; however can the switching means shown and described herein for differentiating the Use voltage according to time also in the present circuit arrangement.

4 Patentansprüche 1 Figur4 claims 1 figure

Claims (1)

Patentansprüche 1. Schaltungsanordnung für Fernmeldeanlagen, insbesondere Fernsprechvermittlunganlagen, in denen von den Belegungszuständen belgbarer Schaltglieder der Freizustand durch ein über Widerstände eines Belegungsstromkreises des jeweils betreffenden Schaltgliedes an einen Prüfpunkt angelegtes Freipotential und der Sperrzustand durch dessen Fehlen, z.B. Unterdrückung, an dem Prüfpunkt markiert ist, und in denen der Belegungszustand (frei oder gesperrt) eines Schaltgliedes mittels relativ grossen Innen widerstand aufweisenden Prüfschaltinitteln eines zwecks Belegung prütfenden, vorgeordneten Schaltgliedes, z. B. Wählers, über einen durch Anschaltung der prüfshaltmittel an den Prüfpunkt zustandekommenden Prüf-und Belegungsstromkreis feststellbar ist, und im denen die Sperrung eines belegten Schaltgliedes aufgrund einer Belegung seitens des vorgeordneten Schaltgliedes durch Anschalten eines sich vom Freipotential unterscheidenden Sperrpotentials über im vorgeordneten Schaltglied vorgesehene und relativ kleinen Innenwiderstand aufweisende Prüfschaltmittel im Prüf- und Belegungsstromkreis bewirkt ist, und in denen Vorkehrungen getroffen sind, durch die nach Auftrennung eines gesperrten Prüf- und Belegungsstromkreises im Zuge de r Ve der Verbindungsauslösung ein Aufprüfen auf einen auszulösenden Belegungsstromkreis verhindert erden soll, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass'eine im Belegungsstromkreis vorgesehene Strommesseinrichtung eine Absenkung des im Sperrzustand fliessenden Stromes als Auslösung erkennt und den Belegungsstromkreis bis zur vollständigen Auslösung des betreffenden Schaltgliedes auftrennt, 2. Schaltungsanoranung nach Anspruch 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t , dass die Strommesseinrichtung aus einem im Belegungsstromkreis liegenden Widerstand und einer einen an ihr auftretenden Spannungsabfall auswertenden Spannungsmesseinrichtung besteht. Claims 1. Circuit arrangement for telecommunications systems, in particular Telephone exchange systems in which switching elements can be switched from the occupancy states the free state by a via resistors of an occupancy circuit of the respective relevant switching element applied to a test point free potential and the blocking state by its lack, e.g. suppression, is marked at the checkpoint and in which the occupancy status (free or blocked) of a switching element by means of relatively large Internal resistance having test switching means of a for the purpose of occupancy testing, upstream switching element, z. B. voter, via one by switching on the Prüffshaltmittel The test and occupancy circuit that comes about at the test point can be determined, and in which the blocking of an occupied switching element due to an occupancy on the part of the upstream switching element by connecting one that differs from the free potential Blocking potential over provided in the upstream switching element and relatively small Test switch means exhibiting internal resistance in the test and occupancy circuit causes is, and in which precautions are taken by the after separation of a locked test and occupancy circuit in the course of the connection release a check on an occupancy circuit to be triggered is to be prevented, D a d u r c h e k e n n n z e i c h n e t that'a provided in the occupancy circuit Current measuring device a reduction in the current flowing in the blocking state as Detection of tripping and the occupancy circuit until the complete tripping of the relevant switching element separates, 2. Schaltungsanoranung according to claim 1, d a d u r c h g e -k e n n z e i c h n e t that the current measuring device consists of a Resistance in the occupancy circuit and one that occurs on it There is a voltage drop evaluating voltage measuring device. 3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Strommesseinrichtung bzw. Spannungsmesseinrichtung mit Strom bzw. Spannung nach der Zeit differenzierenden Schaltmitteln ausgestattet ist.3. Circuit arrangement according to claim 1 or 2, d a d u r c h g e k It is noted that the current measuring device or voltage measuring device equipped with current or voltage according to the time differentiating switching means is. 4. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 oder 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Strommesseinrichtung bzw. Spannungsmesseinrichtung mit einer Störimpulse un.firksam machenden zeitlichen Verzögerung reagiert.4. Circuit arrangement according to claim 1 or 2, d a d u r c h g e k It is noted that the current measuring device or voltage measuring device reacts with a glitch that makes it ineffective. L e e r s e i t eL e r s e i t e
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