DE2457613A1

DE2457613A1 - Testing dimensional accuracy of components - involves using projector in whose light cone opaque components are placed

Info

Publication number: DE2457613A1
Application number: DE19742457613
Authority: DE
Inventors: Jost Heimueller
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1974-12-05
Filing date: 1974-12-05
Publication date: 1976-06-10

Abstract

Component shadows are compared with a standard drawing. Light sensitive diodes are provided at points on the shadow edge (A) to be measured; when dimension are correct, diodes are partly illuminated; signals are stored as nominal values in a first store; output signals obtained during component testing are compared with the stored values, and also signals from opposite points are compared with each other, and if necessary adjusted to each other; if measured signals differ beyond a certain tolerance, a fault signal is delivered and/or the component is rejected. The projector produces a cone of light so that the shadow of the component may be bigger than the component itself.

Description

Verfahren zum Prüfen der Maßghaltigkeit von Bauteilen mit Hilfe eines Projektors.Method for checking the dimensional accuracy of components with the aid of a Projector.

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen der I4aßhaltigkeit von Bauteilen mit Hilfe eines Projektors, in dessen Lichtkegel die lichtundurchlässigen Bauteile angeordnet sind, so daß sich das Schattenbild dieser Psuteile mit einer Musterzeichnung vergleichen läßt.The invention relates to a method for checking accuracy of components with the help of a projector, in whose light cone the opaque Components are arranged so that the silhouette of these Psuteile with a Compare sample drawing.

Zum Prüfen von flachen Bauteilen, wie z.Bj von gestanzten und geformten Blech-Kleinteilen, werden u.a. Projektoren verwendet.For testing flat components such as punched and formed Small sheet metal parts are used, among other things, projectors.

Bei diesen Geräten wird das Schattenbild des Prüfobjektes um den Faktor 10 bis 50 vergrößert auf einer Mattscheibe abgebildet.With these devices, the shadow image of the test object is increased by the factor Enlarged 10 to 50 shown on a focusing screen.

Die Konturen de.s Schattenbildes werden dann mit einer Projektionszeichnung, dem Sollbild, verglichen. Dabei muß meistens das Teil oder die Zeichnung durch Drehen einer Mikrometerspindel verschoben werden, bis eine oder mehrere Kanten mit den Bezugslin-ten der Zeichnung deckungsgleich sind. Meistens wird dabei zunächst die Bezugskante des Teiles mit dem Fadenkreuz der Mattscheibe zur Deckung gebracht. Von da aus werden dann die jeweiligen zu messen den Wanten durch weiteres Drehen der Mikrometerspindel angefahrene Die Meßwerte ergeben sich durch Subtraktion von jeweils zwei an den Mikrometsrspindeln abzulesenden Werten. Für einen Meßwert müssen deshalb zwei Ablesewerte und der errechnete Wert notiert werden. Solche Messungen an Projektionsbilidern sind zeitraubend, da die einzelnen Meßpunkte nacheinander angefahren werden müssen.The contours of the silhouette are then made with a projection drawing, compared to the target image. In most cases, the part or the drawing has to be rotated a micrometer spindle until one or more edges coincide with the The reference lines in the drawing are congruent. Usually the The reference edge of the part is brought into line with the crosshairs of the focusing screen. From there the respective shrouds are to be measured by further turning The measured values are obtained by subtracting two values to be read off the micrometer spindles. For a measured value you have to therefore two readings and the calculated value are noted. Such measurements on projection images are time-consuming, since the individual measuring points are consecutive must be approached.

Außerdem ergeben sich durch unterschiedliche Einstellmethoden der Bedienungsperson, wfe z.B. auf den Strich des Fadenkreuzes links oder rechts von der Teilekante, Abweichungen im Meßergebnis. Auch beim Übertragen der Meßwerte in die Protokolle oder Strichlisten sind Fehler möglich.In addition, the different setting methods result in the Operator, throw e.g. on the line of the crosshair to the left or right of the part edge, deviations in the measurement result. Even when transferring the measured values in the logs or tally sheets are errors possible.

Eine gewisse Erleichterung der Einstellarbeit ergibt sich bei Verwendung von Positionierungshilfen für den Prüfling, wie Anschlägen oder Rasten. Eine hinreichend genaue Positionierung laßt sich damit aber nicht erreichen, insbesondere bei einem hohen Vergrößeruiigsfaktor des Prüfobjekts, so daß ein Nachstellen der Mikrometerspindel weiterhin erforderlich ist.Adjustment work is made easier when used of positioning aids for the test item, such as stops or notches. One sufficient exact positioning can not be achieved with it, especially with one high magnification factor of the test object, so that readjustment of the micrometer spindle is still required.

Um eine Differenzbildung der Meßwerte zu vermeiden, ist es auch.In order to avoid the formation of a difference between the measured values, it is also.

bekannt, eine Digitalmeßspindel zu verwenden, die beim Erreichen der Bezugskante auf Null gestellt werden kann. Damit läßt sich jedoch nur ein Teil der Ablesefehler beseitigen.known to use a digital measuring spindle that when reaching the Reference edge can be set to zero. However, only part of the Eliminate reading errors.

Es ist auch schon bekannt, beispielsweise aus der DT-OS 1 524 535, mittels lichtempfindlicher Dioden die Lage einer Meßkurve bezüglich einer ersten Begrenzungslinie eines Toleranzfeldes festzustellen und diese-Surve mit einem motorischen Antrieb bis zur BertUirung mit dieser Begrenzungslinie zu verschieben. Mit weiteren Dioden der gleichen Art wird dann festgestellt, ob die Kurve innerhalb des Toleranzfeldes liegt oder die andere Begrensuagslinie schneidet.It is also already known, for example from DT-OS 1 524 535, the position of a measurement curve with respect to a first by means of light-sensitive diodes Determine the boundary line of a tolerance field and this curve with a motor To move the drive up to the operation with this boundary line. With more Diodes of the same type are then determined whether the curve is within the tolerance range or intersects the other boundary line.

dadurch ist das Verschieben nur automatisiert worden, dieser Vorgang muß aber trotzdem noch durchgefUhrt werden.this only automates the move, this process but still has to be carried out.

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren für eine Messung der eingangs genannten Art anzugeben, bei dem ein Verschieben des Prüfobjekts mit Hilfe von Meßspindeln vollständig vermieden wird und der Meßvorgang selbständig abläuft. Auch soll das handschriftliche Ausfertigen eines Meßprotokolls entfallen.The object of the invention is to provide a method for measuring the initially specified type, in which a displacement of the test object with the help of measuring spindles is completely avoided and the measuring process runs automatically. That should too handwritten copies of a measurement protocol are not required.

Erreicht wird das gemäß der Erfindung dadurch, daß an den zu messenden Punkten am Schattenbildrand lichtempfindliche Dioden angeordnet sind, die beim Messen von maßgerschten Bauteilen nur teilweise vom Licht getroffen werden, daß die dabei zu erwartenden Ausgangssignale als Sollwerte in einem Speicher vermerkt sind, daß die beim Messen von Prüflingen entstehenden Ausgangssignale mit den gespeicherten Sollwerten verglichen werden, wobei zusätzlich die Ausgangssignale gegenüberliegender Meßpunkte miteinander verglichen und bei Bedarf aneinander angepaßt werden, und daß bei Abweichungen über einen bestimmten Wert hinaus eine Fehlermeldung erfolgt und/oder ein Aussortieren dieses Bauteils veranlaßt wird.This is achieved according to the invention in that on the to be measured Light-sensitive diodes are arranged at the edge of the silhouette, which are used when measuring of bespoke components are only partially affected by the light that the thereby expected output signals are noted as nominal values in a memory that the output signals generated when measuring test objects with the stored ones Setpoints are compared, with additional the output signals opposite measuring points compared with each other and adapted to each other if necessary and that if there are deviations beyond a certain value, an error message is issued takes place and / or a sorting out of this component is initiated.

Die vom zu messenden Bauteil teilweise abgeschatteten lichtempfindlichen Dioden werden nur zum Teil vom Licht getroffen und liefern deshalb nur Ausgangssignale von einer Spannung, die zwischen den Werten bei voll beleuchteten und völlig abgeschatteten Dioden liegt (Grauwert). Bei völliger Übereinstimmung der Maße des Prüflings mit dem Musterbauteil ist die Entfernung der Dioden, die einen Grauwert anzeigen, gleich groß, auch wenn nicht die gleichen Dioden diesen Wert melden. Das hat den Vorteil, daß das Bauteil für die Messung nicht verschoben zu werden braucht, weil nur die Entfernung zwischen den Dioden das Ergebnis anzeigt.-Sobald noch genauere Meßwerte interessieren, wird nach der Entfernungsfeststellung auch noch der Meßwert dieser beiden Dioden verglichen.The light-sensitive ones partially shaded by the component to be measured Diodes are only partially hit by light and therefore only provide output signals of a tension that is between values when fully lit and totally shaded Diodes is (gray value). If the dimensions of the test object match completely with the distance of the diodes that display a gray value is the same as the sample component great, even if the same diodes do not report this value. That has the advantage, that the component does not need to be moved for the measurement, because only the Distance between the diodes shows the result.-As soon as even more precise measured values interest, the measured value of this will also be used after the distance has been determined compared both diodes.

Da bei einer geringen Verschiebung des Prüflinge gegenüber dem Musterbauteil die eine Diode eine etwas höhere Spannung liefert und die am gegenüberliegenden Rand liegende eine etwas geringere, so kann bei einer annähernd linearen Kennlinie eine Spannungskompensation vorgenommen werden, beispielsweise eine Addition der beiden Ausgangssignale. Ein Vergleich mit den Soll Werten ergibt dann exakt, ob und um wieviel das Maß des Prüflings vom Muster abweicht.As there is a slight displacement of the test object in relation to the sample component one diode supplies a slightly higher voltage and the one on the opposite A somewhat lower margin lying at the edge, so can with an approximately linear characteristic a voltage compensation can be made, for example an addition of the both output signals. A comparison with the target values then shows exactly whether and how much the size of the test piece deviates from the sample.

Da sich die Helligkeitsschwarnkungen des Projektors auf die Genauigkeit der Messung stark auswirkt, ist gemäß einer Weiterbildung der Erfindung eine vom Lichtkegel immer vollständig beleuchtete Diode als Ref-erenzdiode vorgesehen. Wenn diese einen anderen Lichtwert mißt als der gespeicherte Sollwert angibt, kann, falls eine sehr genaue Längenmessung erforderlich ist, der Sollwert bzw.Since the brightness fluctuations of the projector affect the accuracy the measurement has a strong effect is, according to a development of the invention, from Light cone always fully illuminated diode provided as a reference diode. if this measures a different light value than the stored target value indicates, if so a very precise length measurement is required, the target value or

das Ausganssignal entsprechend korrigiert werden.the output signal can be corrected accordingly.

Beim Auswechseln der Projektorlampe oder bei sonstigen Arbeiten am Projektor kann dieser verstellt werden, so daß eine gewisse Randunschärfe entsteht. Weil dabei mindestens auf einer Seite des Schattenbildes ein breiter Übergang zwischen Hell und Dunkel entsteht, schlägt die Erfindung in einer weiteren Ausbildung der Erfindung vor, mindestens eine der lichtempfindlichen Dioden aus einer Anzahl kleinflächiger Rasterdioden aufzubauen, die streifenförmig etwa senkrecht zur Schattenbildkante angeordnet sind. Bei einer entsprechenden Randunschärfe liefern dann mehrere dieser Dioden ein Signal fiir einen Grauwert. Da eine derartige Messung nur unbrauchbare Ergebnisse liefern würde, wird der Meßvorgang so lange unterbrochen und diese Tatsache signalisiert, bis die Dioden die vorgeschriebene Randschärfe wieder melden.When changing the projector lamp or doing other work on the This projector can be adjusted so that a certain edge blur arises. Because there is a wide transition between at least on one side of the silhouette Light and dark emerges, the invention suggests in a further development of the Invention, at least one of the light-sensitive diodes from a number of small-area Build up grid diodes, the strip-shaped approximately perpendicular to the edge of the silhouette are arranged. In the case of a corresponding edge blurring, several of these then provide Diodes a signal for a gray value. Since such a measurement is only useless Would provide results, the measuring process is interrupted for so long and this fact signals until the diodes report the prescribed definition again.

Ein Beispiel der Erfindung ist anhand der Zeichnung beschrieben.An example of the invention is described with reference to the drawing.

Während in Fig.1 die gesamte Meßeinxichtung und in Fig .2 eine Alternative dazu gezeigt sind, werden anhand von Fig.3 Einzelheiten der Erfindung erläutert.While in Fig. 1 the entire measuring device and in Fig. 2 an alternative are shown, details of the invention are explained with reference to FIG.

Ein Projektor P ist gemäß Fig.1 beweglich auf einer .Säule S befestigt. An dieser Säule ist in gleicher Weise eine durchsichtige Haltefläche H für das auszumessende Bauteil B sowie ein Objektiv 0 angebracht. Die Säule S ist in der Meßebene M an einem Gehäuse befestigt, in dem sich der Speicher, der Vergleicher und alle übrigen elektrischen Hilfsgeräte SV befinden.A projector P is movably attached to a column S as shown in FIG. In the same way, a transparent holding surface H is on this column for that which is to be measured Component B and a lens 0 attached. The column S is in the measuring plane M on attached to a housing, in which the memory, the comparator and all the rest electrical auxiliary devices SV are located.

Die Geräte SV können natürlich auch in einem Schrank neben der Meßeinrichtung untergebracht sein.The devices SV can of course also be in a cabinet next to the measuring device be housed.

Der Projektor P erzeugt einen Lichtkegel K, in dem sich das zu messende Bauteil B befindet. Dieses Bauteil erzeugt auf der Meßebene M ein Schattenbild A, das einen Teil der Lichtfläche F auf der Meßebene M einnimmt.The projector P generates a light cone K, in which the to be measured Component B is located. This component creates a shadow image A on the measuring plane M, which occupies part of the light surface F on the measuring plane M.

Die Meßeinrichtung gemäß Fig.2 unterscheidet sich von der nach Fig.1 dadurch, daß der Lichtkegel K mit Hilfe eines Spiegels Sp umgelenkt wird und auf die Rückseite einer als Mattscheibe ausgebildeten Meßebene M auftrifft. Auf der Vorderseite dieser Mattscheibe wird dann das Schattenbild A betrachtet.The measuring device according to FIG. 2 differs from that according to FIG in that the light cone K with the help of a mirror Sp diverted and impinges on the back of a measuring plane M designed as a ground glass. The silhouette A is then viewed on the front of this focusing screen.

Wie in Fig.3 dargestellt, soll die Entfernung der linken Schattenbildkante von der rechten Schattenbildkante gemessen werden. Zu diesem Zweck sind an beiden Kanten lichtempfindliche Dioden Ra und Rb angeordnet. In diesem Beispiel sind diese Dioden in Borm von kleinflächigen Rasterdioden ausgebildet, die als Streifen hintereinander liegen. Jeder dieser Streifen ist etwa senkrecht zur Schattenbildkante angeordnet und zwar derart, daß diese Kante eine der mittleren Dioden überquert.As shown in Fig. 3, the distance to the left edge of the silhouette should be measured from the right edge of the silhouette. To this end, both Edges of photosensitive diodes Ra and Rb arranged. In this example these are Diodes in the form of small-area grid diodes, which are arranged as strips one behind the other lie. Each of these strips is arranged approximately perpendicular to the edge of the silhouette in such a way that this edge crosses one of the central diodes.

Dadurch ist jeweils ein Teil der Dioden vom Schattenbild A überdeckt und das andere Teil wird mit dem vollen Licht des Projektors P angestrahlt. Lediglich je eine Diode in den Streifen Ra und Rb wird teilweise abgeschattet. Dementsprechend liefern diese Dioden Ausgangssignale an die Einrichtung SV, die dort in Form von Spannungen registriert werden.As a result, part of the diodes is covered by the shadow image A in each case and the other part is illuminated with the full light of the projector P. Only One diode each in the strips Ra and Rb is partially shaded. Accordingly supply these diodes output signals to the device SV, which there in the form of Tensions are registered.

Da alle Einzelzellen einer Rasterdiode gleich groß und gleich beschaffen sind, erzeugt jede Zelle bei gleicher Beleuchtung auch eine gleiche Spannung. Um nun Serstauatellen, ob die Beleuchtung zum Zeitpunkt dieser Messung die gleiche ist, wie zum Zeitpunkt einer vorhergehenden oder einer später erfolgenden, ist.noch eine zusätzliche lichtempfindliche Diode Rd vorgesehen. Diese Diode liefert eine Referenzspannung, die bei Abweichungen in der Helligkeit ein Regelsignal in die Einrichtung SV einspeiæt.Because all the individual cells of a grid diode have the same size and structure each cell generates the same voltage with the same lighting. Around now Serstauatellen whether the lighting at the time of this measurement the same is, as at the time of a previous one or a later one, is still an additional light-sensitive diode Rd is provided. This diode provides one Reference voltage that sends a control signal to the SV Einspeiæt facility.

Die Erfindung kann auch so abgewandelt werden, daß eine außenliegende Zelle der Rasterdiode Ra oder Rb, die in keinem Fall vom Schattenbild A überdeckt wird, verwendet wird.The invention can also be modified so that an external Cell of the grid diode Ra or Rb, which in no case is covered by the shadow image A. is used.

Soll nun ein Bauteil auf seine Maßhaltigkeit hin gepru£t werden, so legt man es auf die lichtdurchlässige- Haltefläche H. Diese Pläche H ist innerhalb des Lichtkegels X mit Positionierungshilfen ausgestattet, so daß jedes Bauteil der gleichen Art etwa die gleiche Lage einnimmt. Als Positionierungshilfen können verwendet werden ein Fadenkreuz, aufgezeichnete Teilekanten, Vertiefungen, Erhöhungen, Rasten oder andere Anschläge.If a component is now to be checked for its dimensional accuracy, so you put it on the translucent holding surface H. This Puddle H is equipped with positioning aids within the light cone X so that each component of the same type occupies roughly the same position. As positioning aids can be used a crosshair, recorded part edges, indentations, Elevations, notches or other stops.

Unter diesen Umständen ist, wie schon beschrieben; nur jeweils eine Zelle, und zwar meistens die gleiche, der Rasterdioden Ra und Rb teilweise abgeschattet, die übrigen Zellen sind entweder voll beleuchtet oder unbeleuchtet.Under these circumstances, as already described; only one at a time Cell, mostly the same, partially shaded by the raster diodes Ra and Rb, the remaining cells are either fully illuminated or not.

In den Einrichtungen SV ist ein Speicher vorhanden, der die Angaben enthält, wie groß der Abstand zweier Zellen der Rasterdioden Ra und Rb sein muß, wenn das Bauteil B maßhaltig ist.In the facilities SV there is a memory that the information contains how large the distance between two cells of the raster diodes Ra and Rb must be, if the component B is dimensionally accurate.

Dieser Sollwert kann vor Beginn der Messung entweder eingegeben werden durch Betätigen entsprechender Tasten, durch Austauschen des Speichers oder durch Messen eines maßgerechten Bauteils als Muster. Mit diesen Sollwerten werden beim Messen eines Prüflings die von den Rasterdioden Ra und Rb gelieferten Ausgangs signale verglichen. Die Einrichtung SV ist dabei so ausgebildet, daß, falls nicht die im Muster festgehaltene Zelle der Rasterdiode Ra, sondern eine benachbarte Zelle vom Schattenbildrand getroffen wird, eine entsprechende Nachbar-Zelle der Rasterdiode Rb das zugehörige Signal liefern muß. Aiißerdem muß für eine Gut-Aussage bei einer zu geringen Spannung der einen Zelle in der Rasterdiode Ra eine entsprechend höhers Spannung in der Rasterdiode RL vornande-n sein. Eine solche Kompensation der gelieferten Spannungen kann beispielsweise dadurch erfolgen, daß beide Spannungen addiert werden und nur der Summenwert mit dem Summenwert des Soll-Signals verglichen wird.This nominal value can either be entered before the start of the measurement by pressing the appropriate buttons, by exchanging the memory or by Measuring a true-to-size component as a sample. With these setpoints the Measurement of a test object the output signals supplied by the raster diodes Ra and Rb compared. The device SV is designed so that, if not the im Pattern captured cell of the grid diode Ra, but an adjacent cell from Silhouette edge is hit, a corresponding neighboring cell of the grid diode Rb must supply the associated signal. In addition, for a positive statement with a Too low a voltage of one cell in the raster diode Ra a correspondingly higher one The voltage in the grid diode RL must be in front. Such compensation of the delivered Stresses can be created, for example, by adding the two voltages and only the sum value is compared with the sum value of the target signal.

Bei Verwendung vom großflächigen Einzeldioden anstelle von Rasterdioden sind nur die von ihnen gelieferten Ausgangssignale zu vergleichen und zu bewerten, eine Betrachtung von Nachbardioden oder -Zellen entfällt.When using large-area single diodes instead of grid diodes only the output signals supplied by them are to be compared and evaluated, There is no need to consider neighboring diodes or cells.

Eine größere Randunschärfe, bei der der Schattenbildrand oder der Rand der Lichtfläche F auf der Meßebene M eine Breite besitzt, bei der auf einer Rasterdiode mehrere Zellen einen Grauwert liefern, deutet darauf hin, daß der Projektor P nicht scharf genug eingestellt ist. Da jede der Rasterdioden aber nur einen (bei sehr kleinem Raster können es auch mehrere, z.B. 2 oder 3 sein) Grauwert einer einzigen Zelle an die Einrichtung SV liefern darf, weil sonst kein eindeutiges Meßergebnis vorhanden wäre, wird ein Auswerten der von den Rasterdioden Ra und Rb gelieferten Ausgangssignale unterbunden und ein Alarmsignal eingeschaltet.A larger edge blur where the silhouette edge or the Edge of the light surface F on the measuring plane M has a width in which on one Raster diode several cells deliver a gray value, indicates that the projector P is not focused enough. Since each of the grid diodes only has one (with With a very small grid there can also be several, e.g. 2 or 3) gray values of a single one Cell may deliver to the device SV, because otherwise no clear measurement result would exist, an evaluation of the supplied by the raster diodes Ra and Rb Output signals suppressed and an alarm signal switched on.

Erst nach Richtigstellung der Meßeinrichtung kann der Meßvorgang weiter geführt werden.The measuring process can only continue after the measuring device has been corrected be guided.

Diese Beststellung der Randunschärfe kann entweder von einer der Rasterdioden Ra, Rb oder einer weiteren Rasterdiode vorgenommen werden, die entweder ungefähr senkrecht zum Schattenbildrand oder zum Rand der Bildfläche B steht, wobei der Schattenrand etwa auf die mittlere Zelle der Rasterdiode trifft.This determination of the edge blurring can either be done by one of the grid diodes Ra, Rb or another grid diode can be made either approximately perpendicular to the edge of the silhouette or to the edge of the image area B, the edge of the shadow hits about the middle cell of the grid diode.

Das bisher beschriebene Meßverfahren sieht die exakteste Messung der Maßhaltigkeit von Bauteilen vor. Soll die Anordnung, insbesondere die Bivrichtung SV, einfache aufgebaut werden, so kann jeweils die Diode Rd oder die Rasterdiode zur BeqtstelluWg der Bildschärfe weggelassen werden. Anstelle für diese Messungen eigene Dioden zu verwenden, können die zum Messen der Maßhalti.gkeit verwendeten Rasterdioden Ra und Rb auch für diese Messung mit herangezogen werden, so daß sie doppelt ausgenutzt sind.The measurement method described so far provides the most exact measurement of the Dimensional accuracy of components. Should the arrangement, especially the bivirection SV, can be set up in a simple manner, the diode Rd or the raster diode can be omitted to obtain the sharpness of the image. Instead of these measurements If you want to use your own diodes, you can use the ones used to measure the dimensional stability Raster diodes Ra and Rb are also used for this measurement, so that they are used twice.

Die auf diese Weise gewonnenen Meßergebnisse können analog oder digital angezeigt, gespeichert oder ausgedruckt werden. Sie können aber direkt zur Steuerung einer Sortieranlage verwendet werden, die alle Teile, die nicht innerhalb der Toleranzgrenzen liegen, aussortieren. Weiterhin können die Meßwerte auf Lochstreifen oder Magnetbändern gespeichert und anschließend in einen Rechner zur Auswertung gegeben werden.The measurement results obtained in this way can be analog or digital can be displayed, saved or printed out. But you can go directly to the controller A sorting system can be used that contains all parts that are not within the tolerance limits lying, sorting out. Furthermore, the measured values can be printed on punched tape or magnetic tapes stored and then given to a computer for evaluation.

Das bisher beschriebene Verfahren ist besonders geeignet für Teile, deren Meßstellen in einer Ebene liegen. Falls die Bauteile aber räumliche Gebilde sind und deren Meßstellen also in verschiedenen Ebenen liegen, ist das gezeigte Verfahren ebenfalls anwendbar. Dazu sind aber noch zusätzliche Maßnahmen notwendig.The method described so far is particularly suitable for parts whose measuring points lie in one plane. If the components are spatial structures are and their measuring points are in different planes, is the one shown Procedure also applicable. However, additional measures are necessary for this.

Bei kleinen Höhenunterschieden können die Fotodioden, wie beschrieben, in die jeweiligen Bildebenen gelegt werden.In the case of small differences in height, the photodiodes can, as described, be placed in the respective image levels.

Bei größeren Unterschieden muß das Bauteil auf der Ilalteebene H liegend mittels einer Spezialvorrichtung gehoben oder gesenkt werden und dabei beispielsweise durch Kontakte in den verschiedenen Höhen die Dioden, die sich gerade in der Bildebene befinden, abgefragt werden.If there are major differences, the component must be on the level H be raised or lowered by means of a special device and thereby, for example through contacts at different heights the diodes that are currently in the image plane are to be queried.

Schließlich kann auch an jeder Meßstelle eine doppeltgenutzte Rasterdiode angebracht werden. Diese Rasterdiode stellt zunächst fest, ob das Bild bei der Bewegung der Halteebene H gerade scharf ist. Ist das der Fall, so werden die Zellen der Rasterdioden autorntiseh abgefragt. Auf diese Weise werden alle zu messenden Kanten dann abgefragt, wenn sie kurzzeitig scharf abgebildet werden.Finally, a double-used raster diode can also be used at each measuring point be attached. This raster diode first determines whether the image is moving the holding level H is just sharp. If this is the case, then the cells of the grid diodes queried by authorization. In this way, all edges to be measured are then queried, if they are briefly shown in focus.

Anstelle das Bauteil B zu heben und zu senken kann es auch um eine Achse gedreht werden.Instead of lifting and lowering component B, it can also be a Axis can be rotated.

5 Patentansprüche 3 Figuren5 claims 3 figures

Claims

P a t e n t a n s p r ü c h e Procedure for checking the dimensional accuracy of components with the help of a projector, in whose light cone the opaque Components are arranged so that the silhouette of these components with a Sample drawing can be compared, that d u r.c h e k e n n æ e .i c h n e t that light-sensitive diodes (Ra, Rb) at the points to be measured on the edge of the silhouette (A) are arranged, which when measuring true to size components (B) only partially from Light are taken that the expected output signals as setpoints In a memory (SY) it is noted that the test items (B) produced when measuring Output signals are compared with the stored setpoints, with additional the output signals of opposing measuring points with each other and at Need to be adapted to each other, and that in the event of deviations above a certain In addition, an error message occurs and / or these components are sorted out (B) is caused

2. The method according to claim 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that a diode (Rd) always completely illuminated by the light cone (K) serves as a reference diode to determine the light brightness.

3. The method according to claim 1, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that at least one of the photosensitive diodes (Ra) from a number consists of small-area raster diodes, which appear as strips approximately perpendicular to the edge of the silhouette (A, F) are arranged so that with an output signal corresponding to a gray value, of several raster diodes of a strip the comparison with the nominal value for so long is prevented until by changing the apparatus and / or the test object, e.g. by focusing the shadow image up to at most a single one, with a very small one Raster a predetermined number of the raster diodes shows a gray value, a perfect measurement is possible.

4. The method according to claim 1 or 3, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that with spatial components (B) these components so long in the direction to or from the projector (P) are moved until the respective silhouette edges (A) are in focus, and that at this moment, triggered by contacts or through the raster diodes that indicate that the shadow image (A) is in focus, the measurement is made.

5. The method according to claim 4, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t that the spatial components (B) execute a rotary movement.

L e r s e i t e