DE2407570A1 - SAMPLE HOLDER FOR THE PRODUCTION OF SECTIONAL AND THIN SECTIONS - Google Patents

SAMPLE HOLDER FOR THE PRODUCTION OF SECTIONAL AND THIN SECTIONS

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DE2407570A1
DE2407570A1 DE19742407570 DE2407570A DE2407570A1 DE 2407570 A1 DE2407570 A1 DE 2407570A1 DE 19742407570 DE19742407570 DE 19742407570 DE 2407570 A DE2407570 A DE 2407570A DE 2407570 A1 DE2407570 A1 DE 2407570A1
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thin sections
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DE19742407570
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Wolfgang Dipl Ing Lorenz
Heinz Dipl Ing Struebig
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Rathenower Optische Werke VEB
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Rathenower Optische Werke VEB
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N1/00Sampling; Preparing specimens for investigation
    • G01N1/28Preparing specimens for investigation including physical details of (bio-)chemical methods covered elsewhere, e.g. G01N33/50, C12Q
    • G01N1/32Polishing; Etching

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)

Description

2A075702A07570

Probenhalter zur Herstellung von An- und DünnschliffenSample holder for the production of partial and thin sections

Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Herstellung ebener und/oder planparalleler Schliffe, insbesondere für die Mineralogie.The invention relates to a device for producing flat and / or plane-parallel cuts, in particular for the mineralogy.

Bei der qualitativen und quantitativen Analyse zusammengesetzter Stoffe bedient man sich vorwiegend der mikroskopischen Untersuchungsmethode. Hierzu werden Dünn- bzw. Anschliff präparate benötigt, die im Durch- oder Auflicht untersucht werden können.In the qualitative and quantitative analysis more composite Substances are mainly used using the microscopic examination method. For this purpose, thin or ground bevels are used preparations are required that are examined in transmitted or reflected light can be.

An solche Präparate und ihren Herstellungsprozeß werden bestimmte Anforderungen gestellt. So müssen z.B. die Flächen eben und bei Dünnschliffen planparallel sein, wobei bei Dünnschliffen deren Dicke einstellbar und reproduzierbar sein muß ο Auch sind außer Schleifen und Polieren andere Abtragungsverfahren weniger geeignet, weil es darauf ankommt, Gefügeverschiebungen und Gefügeverschmierungen zu vermeiden.Specifics are made of such preparations and their manufacturing process Requirements. For example, the surfaces must be flat and plane-parallel in the case of thin sections, with Thin sections whose thickness must be adjustable and reproducible ο There are also other removal methods besides grinding and polishing less suitable because it is important to avoid structural shifts and structural smearings.

Um eine relief- und kratzerfreie, nur geringe Rauhtiefen aufweisende Oberfläche zu erzielen, sind spezielle Schleifoder Polierpasten oder entsprechende Scheibenwerkstoffe erforderlich. Auch die kinematischen Bedingungen zum Erhalt ebener Flächen bei wirtschaftlicher Bearbeitung, wie konstante Drehzahl-, abgestimmte Durchmesser- und abgestimmte Massenverhältnisse, müssen optimal sein.In order to achieve a relief-free and scratch-free surface that has only small roughness depths, special grinding or Polishing pastes or corresponding disc materials required. Also the kinematic conditions for maintaining it flat surfaces with economical machining, such as constant speed, coordinated diameter and coordinated Mass ratios must be optimal.

Diese Forderungen sind mit dem derzeit bekannten Stand der Technik nur teilweise oder gar nicht realisierbar. Es ist allgemein bekannt, daß zum.Erzielen von ebenen Flächen mit geringer Rauhtiefe die, in entsprechenden Käfigen gehaltenen Proben auf rotierenden Schleifscheiben mit losem Schleifmittel bearbeitet werden.These requirements are with the currently known state of Technology can only be partially implemented or not at all. It is well known that to achieve flat surfaces with a small surface roughness, the samples held in appropriate cages on rotating grinding wheels with loose Abrasives are processed.

Dieses Arbeitsprinzip läßt sich nicht ohne weiteres auf das Gebiet der-Dünn- und Anschliffpräparation in der Mineralogie übertragen, da hier andere Kräfteverhältnisse auftreten, als zum Beispiel bei der Herstellung von Metallschliffen für die Metallographie.This working principle cannot easily be applied to the field of thin and polished preparation in mineralogy transferred, since different power relationships occur here than, for example, in the production of metal cuts for the Metallography.

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Bekannt ist auch, insbesondere für die reproduzierbare Herstellung von Dünnschliffen, deren Dicke derart voreinzustellen, daß bei Beendigung des Schleif- oder Polierprozesses drei mit dem Absenkungsvorgang der Probe mittelbar verbundene Begrenzungsstifte auf der planparallelen Ringfläche des Probenhalters oder auf der Polierscheibenfläche direkt aufsitzen. Diese Art der Dickeneinstellung gestattet zwar eine -gewisse nachträgliche Korrektur von Unparallelitäten, ist jedoch recht umständlich, zeitraubend und von vornherein fehlerbehaftet, da an drei verschiedenen Orten die gleiche Einstellung des Begrenzungsstiftes vorgenommen werden muß. Die Möglichkeit der Fehleinstellung wird auch dadurch nicht beseitigt, daß die Verstellbewegung der Begrenzungsstifte mit Feinmeßgeräten mittelbar oder unmittelbar verbunden ist.It is also known, in particular for the reproducible production of thin sections, to preset their thickness in such a way that that at the end of the grinding or polishing process three with the lowering process of the sample indirectly connected delimitation pins on the plane-parallel Sit on the ring surface of the specimen holder or directly on the surface of the polishing wheel. This type of thickness adjustment Allows a certain subsequent correction of non-parallelism, but it is quite cumbersome, Time-consuming and prone to errors from the start, since the same setting of the Limiting pin must be made. The possibility of incorrect settings is also not eliminated by this, that the adjustment movement of the limiting pins with Precision measuring devices is directly or indirectly connected.

Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung einer Einrichtung, der die beschriebenen Nachteile nicht anhaften.The object of the invention is to create a device which does not adhere to the disadvantages described.

Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe so gelöst, daß mittels einer Antriebsrolle jeweils zwei Probenhalter durch Reibungskupplung angetrieben werden, um ein Abheben der Antriebsrolle vom Antriebsrad zu verhindern und die Kraftwirkungen durch gegenseitiges Aufheben auf ein Minimum zu reduzieren, wobei sowohl die Antriebs- und Stützrollen, als auch die Probenhalter an ihrem Umfang zur wahlweisen Benutzung je eine Zylinderfläche und eine Kegelfläche besitzen zu dem Zwecke, durch Veränderung der auf die Polierscheibe einwirkenden Kräfte eine größere Abrichtwirkung mehr am Rande oder im Zentrum der Polierscheibe zu erreichen. Außerdem erfolgt die Voreinstellung des Maßes für das Absenken der Probe nur an einem Ort, vorzugsweise im Zentrum des Probenhalters, zur Verringerung der Fehlermögliehkeiten beim Einstellen des Absenkmaßes und zur Rationalisierung dieses Arbeitsganges.According to the invention, the object is achieved in that two sample holders by means of a drive roller Friction clutch are driven to prevent lifting of the drive roller from the drive wheel and the force effects by canceling each other to a minimum, whereby both the drive and support rollers, and the sample holder each have a cylindrical surface and a conical surface on their circumference for optional use for the purpose of a greater dressing effect by changing the forces acting on the polishing wheel to achieve more at the edge or in the center of the polishing wheel. In addition, the pre-setting of the dimension for Lowering the sample only in one place, preferably in the center of the sample holder, to reduce the possibility of errors when setting the lowering dimension and to rationalize this work step.

Zur weitgehenden Verhinderung des Übertragens und Entste-To largely prevent the transfer and the creation of

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hens von auf die Arbeitsfläche einwirkenden Kippmomenten ist die Mitnahme- oder Spannfläche für die Probe derart abgeschrägt, daß sie sich so dicht wie möglich über der Polierscheibenfläche befindet.hens of tilting moments acting on the work surface the driving or clamping surface for the sample is bevelled so that it is as close as possible to the Polishing wheel surface is located.

Zum besseren Verständnis der Erfindung ist sie an einem Ausführungsbeispxel. an Hand, einer Zeichnung näher erläutert. For a better understanding of the invention, it is based on an exemplary embodiment. explained in more detail on the basis of a drawing.

Bs zeigen:
Pig. 1 die schematische Darstellung einer Anordnung der
Bs show:
Pig. 1 shows the schematic representation of an arrangement in FIG

Probenhalter, Antriebs- und Stützrollen; Pig. 2 die Vorderansicht eines Probenhalters für Dünnschliffe mit zentraler Verstelleinrichtung, teilweise im Schnitt;Sample holder, drive and support rollers; Pig. 2 the front view of a specimen holder for thin sections with central adjustment device, partly in section;

Fig. 3 die Vorderansicht eines Probenhalters für Anschliffe mit Probe und Stütz- bzw. Antriebsrolle, teilweise im Schnitt.3 shows the front view of a specimen holder for polished sections with specimen and support or drive roller, in part on average.

Auf einer rotierenden Polierscheibe 1 mit zentralem Antriebsrad 2, das auch lose drehbar oder in zur Polierscheibe entgegengesetzter Richtung angetrieben sein kann, sind vier 'Probenhalter 3 angeordnet. Jede der beiden Antriebsrollen 4 treibt zwei Probenhalter 3 an und wirkt im Zusammenhang mit den Stützrollen 5 auch gleichzeitig als Stützrolle zur Verhinderung des M.tumlaufens der Probenhalter 3. Die Antriebsund Stützrollen 4; 5 besitzen je eine Zylinder- und eine Kegelfläche und sind axial verschiebbar, um an den entsprechenden Gegenflächen des Probenhalters 3 wahlweise anzulie-' gen. Dadurch kann zum Ausgleich von Unebenheiten der Polierscheibe 1 die größere Abtragwirkung verlagert werden.On a rotating polishing wheel 1 with a central drive wheel 2, which can also be loosely rotated or in the opposite direction to the polishing wheel Direction can be driven, four 'sample holders 3 are arranged. Each of the two drive rollers 4 drives two sample holders 3 and, in conjunction with the support rollers 5, also acts as a support roller for prevention of the rotation of the specimen holder 3. The drive and Support rollers 4; 5 each have a cylindrical and a conical surface and are axially displaceable to the corresponding Opposite surfaces of the specimen holder 3 can be optionally As a result, the greater removal effect can be shifted to compensate for unevenness in the polishing wheel 1.

Die Anlageflächen zwischen Probenhalter 3 und Probe 6, auf die eine Belastungsmasse 7 oder eine Federkraft einwirkt, sind so abgeschrägt, daß das Entstehen von Kippmomenten weitestgehend vermieden wird.The contact surfaces between specimen holder 3 and specimen 6, on which a loading mass 7 or a spring force acts, are bevelled in such a way that the occurrence of tilting moments is avoided as far as possible.

Zur Herstellung von Dünnschliffen und deren Reproduzierbarkeit· befindet sich vorzugsweise im Zentrum eines jeden,For the production of thin sections and their reproducibility is preferably in the center of each,

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mehrere Proben 8 aufnehmenden Probenhalters 9 eine Meßeinrichtung, z.B. ein Schraubenmikrometer 10, mit dessen Hilfe die Voreinstellung des Absenkungs- und damit des Abtragungsmaßes für die Probe 8 erfolgt. Das eingestellte Maß ist erreicht, wenn drei am Umfang einer Einstellplatte 11 verteilte Anschlagstifte 12 auf der zur Arbeitsfläche parallelen
Fläche des Probenhalters 9 aufsitzen.
several samples 8 receiving sample holder 9 a measuring device, for example a screw micrometer 10, with the help of which the pre-setting of the lowering and thus the removal rate for the sample 8 takes place. The set level is reached when three stop pins 12 distributed around the circumference of an adjusting plate 11 on the one parallel to the work surface
Sit on the surface of the sample holder 9.

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Claims (2)

Patentansprüche ·£% Claims £ % (1./ Probenhalter zur Herstellung von An- und Dünnschliffen für die mikroskopische Analyse unter Verwendung einer Einrichtung mit horizontal umlaufender Polierscheibe, auf der eine gerade Anzahl von Probenhaltern angeordnet ist, die vom Zentrum der Polierscheibe aus mittels Reibungskupplung angetriebenwerden und gegen Mitumlaufen durch Kegelrollen abgestützt sind und bei der das Maß für die Absenkung der Probe gegen Anschläge voreingestellt wird, dadurch gekennzeichnet, daß mittels einer Antriebsrolle (4) jeweils zwei Probenhalter angetrieben werden, wobei sowohl die Antriebs- (4) und Stützrollen (5) als auch die Probenhalter (3) an ihrem Umfang zur wahlweisen Benutzung je eine Zylinderfläche und eine Kegelfläche besitzen und daß die Voreinstellung für das Absenken der Probe (8) nur an einem Ort, vorzugsweise im Zentrum des Probenhalters (9) erfolgt.(1. / Specimen holder for making partial and thin sections for microscopic analysis using a device with a horizontally rotating polishing wheel, on which an even number of specimen holders are arranged, which are frictionally clutched from the center of the polishing pad are driven and are supported against rotating by tapered rollers and in which the measure is preset for lowering the sample against stops, characterized in that by means of a Drive roller (4) each two sample holders are driven, whereby both the drive (4) and support rollers (5) as well as the sample holder (3) on their circumference for optional use each with a cylindrical surface and a conical surface own and that the presetting for lowering the sample (8) only in one place, preferably in Center of the sample holder (9) takes place. 2. Probenhalter nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Mitnahme- oder Spannfläche für die Probe derart abgeschrägt ist, daß sie sich so dicht wie möglich über der Polierscheibenfläche befindet.2. Sample holder according to claim 1, characterized in that the driving or clamping surface for the sample in such a way is beveled so that it is as close as possible to the pad surface.
DE19742407570 1973-03-02 1974-02-16 SAMPLE HOLDER FOR THE PRODUCTION OF SECTIONAL AND THIN SECTIONS Pending DE2407570A1 (en)

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GB2239618A (en) * 1990-01-09 1991-07-10 Roger Edward Lane A device for mounting a workpiece on a lapping machine
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