DE2336831B2 - Verfahren und einrichtung zur leistungssteuerung der lichtstrahlung eines mit gleichstrom angeregten gaslasers mittels ueberlagerter hochfrequenz - Google Patents
Verfahren und einrichtung zur leistungssteuerung der lichtstrahlung eines mit gleichstrom angeregten gaslasers mittels ueberlagerter hochfrequenzInfo
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- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S3/00—Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
- H01S3/09—Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und Einrichtungen zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung
eines mit Gleichstrom angeregten Gaslasers mittels überlagerter Hochfrequenz. Vorzugsweise besteht
das stimulierbare Gasmedium aus Edelgas mit Zusätzen von Dämpfen chemischer Elemente.
Es sind Laser allgemein bekannt, die einen optischen
Resonator und ein darin untergebrachtes Gasentladungsrohr mit einem stimulierbaren Medium enthalten,
das imstande ist, eine kohärente Strahlung zu liefern,
sobald in dem Rohr eine Gleichstromentladung erregt wird. In jüngster Zeit verwendet man als das zu einer
ίο kohärenten Strahlung fähige stimulierbare Medium ein
Gemisch aus einem Edelgas und Metall- bzw. Nichtmetall{Metalloid)-Dämpfea
Es ist eine Mehrzahl solcher Gemische bekannt, wie z.B. He-Se, He-Zn, He-Mg,
He-Hg und Ne-Cd. Die Laser mit Anwendung solcher
Gemische sind im technischen Schrifttum als »Laser mit Metall- bzw. Nichtmetalldämpfen« wie auch »Laser mit
Dämpfen chemischer Elemente« bekannt
Es sind verschiedene Verfahren zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung solcher Gaslaser bekannt, z. B.
durch eine Änderung der Entladegleichstromstärke, von
welcncr die Leistung der Lichtstrahlung abhängt oder durch eine Änderung des Edelgasdrucks. Die Leistung
der Lichtstrahlung kann auch gesteuert werden, indem im Resonator zusätzliche Verluste hervorgerufen
werden bzw. auf dem Wege der Lichtstrahlung ein Abschwächer angebracht wird.
Alle oben angegebenen Verfahren sind mit einem gemeinsamen Nachteil behaftet daß sie keine Leistungssteigerung
über den Leistungswert ermöglichen, der erreicht wird, wenn alle angeführten Parameter
optimal bemessen worden sind.
Außerdem weist jedes der oben angegebenen Verfahren seine eigenen Nachteile auf. Der Nachteil des
Verfahrens zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung
des beschriebenen Gaslasers durch eine Änderung des Entladestroms besteht in dessen Tiügheit Bei einer
Änderung des Entladestroms ändert sich gleichzeitig durch eine Änderung des Wärmeaustausche des
Entladungsrohres mit dem umgebenden Medium der Metall- bzw. Nichtmetalldampfdruck, wobei infolgedessen
im Anfangszeitpunkt einer schnellen Änderung des Entladestroms die Leistung nicht eindeutig geändert
wird, d. h, sie kann in Abhängigkeit von den Entladebedingungen sowohl gesteigert als auch herabgesetzt
werden. Es ist folglich nur eine langsame, träge Leistungssteuerung möglich.
Trägheitsbehaftet ist auch das Verfahren zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung des bekannten
Gaslasers durch eine Änderung des Metall- bzw. Nichtmetalldampfdrucks, weil die Einstelldauer der
Temperatur des Entladungsrohres und folglich des Dampfdrucks groß ist.
Träge und unbequem für die Praxis ist das Verfahren zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung des betrach-
teten Lasers mit Hilfe einer Änderung des Edelgasdrucks.
Weniger träge sind Verfahren zur Leistungssteuerung, welche auf dem Zustandebringen zusätzlicher
Verluste im Resonator bzw. der Anwendung von Abschwächern beruhen, die im Wege der Lichtstrahlung
angeordnet werden. Diese Verfahren führen aber entweder große nutzlose Leistungsverluste der Lichtstrahlung
herbei, oder sie machen die Anwendung mechanischer beweglicher Teile erforderlich, die unhandlich
und unzuverlässig im Betrieb sind. Diese verschlechtern dabei die Güte der Lichtstrahlung eines
Gaslasers, indem sie zusätzliche Änderungen in der Richtcharakteristik und der Homogenität der Licht-
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euie SteuertpannungMiuenc zusammen mit einer
Spannung«queik in einem Kapillarrohr eine
Gleichfttromladung erzeugt deren EmIaf Mtrom auf einem für die lichtemnston optimalen
Wert gehalten wird.
Demgegenüber itt es Aufgabe der Erfindung, mit dem
Verfahren und den Einrichtungen der eingangs genannten Art eine Metige Lcmungwteucrung innerhalb eines
großen ^eittungvbercichs ta erzielen und dabei auch
da* Rautchen in der Laser-Lichtstrahlung, das normalerweise durch nichtmtionare Schwingungen im
stimulierbaren Medium bei dessen Anregung mit Gleichstrom entsteht, stark herabzusetzen, insbesondere um /wci (iröUenordnungcn beim Ausstrahlungsmaximum, wobei gleichzeitig die Leistungssteuerung ohne
merkliche Tragheil und ohne Einfluß auf die Güte der Lichtstrahlung sein soll.
Die lösung dieser Aufgabe bei einem Verfahren nach
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 erfolgt erfindungtgemätt nach dem kennzeichnenden Teil des
Patentanspruchs 1.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung eines Gasiasers weist eine
bedeutend kleinere Trägheit als viele bekannten Verfahren auf und ermöglicht eine mindestens zweifache Leistungssteigerung der Lichtstrahlung im Vergleich mit dem Fall ohne Steuerung. Außerdem wird
durch das elektrische Hochfrequenzsignal Jas Rauschen in der La$erlicht8trahlung bedeutend herabgesetzt, das
infolge nichtstntionarer Schwingungen im stimulierbaren Medium bei dessen Anregung mit Gleichstrom darin
entsteht. Diese Herabsetzung des Rauschens ist so groß, daß beim Erreichen der maximalen Leistung der
Üchstrahlung ihr Wert um zwei Größenordnungen
vermindert wird. Die Verwendung des crfindungsgemä-
55
cssrat 1% der Soon- far».
cbeuagtao.
der Aufgabe bei Bandeaeeea der
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VorteSiahe Ara^estatoiageB der Erfinduiig sind
dann durch die Ansprache 6 bzw.8 gegeijen.
Dse LrfHMSung wtru anhand dexr Becibung von
Ausfuhnirtg&etspteieii der eründraigseemäSen Emnchtung näher erläuten. Es zeigt
Fig. J einen Gaslaser imt Dämpfen chemischer
Elemente mit einer Einrichtung zur Leistungssteuerung semer Lichtstrahlung,
F1 g. 2 ein Diagramm der Lebtungsäaderung der
Lichtstrahlung des Gasiasers mh emem Gemisch von Helium und Cadmiumdämpfen bei einer Frequenzänderung des elektrischen Wechselstroms,
F1 g. 3 em Schema des Gasiasers mit Dämpfen chemischer Elemente mit einer Einrichtung zur
Leistungssteuerung dessen Lichtstrahhiag. welche eine
Sinusstromquelle enthält, und
Fig.4 ein Schema des Gaslasers mit Dämpfen
chemischer Elemente mit einer Einrichtung zur Leistungssteuerung dessen Lichtstrahlung, welche eine
Sinusspannungsquelle enthält
Fig. 1 zeigt einen Laser 1, zu dessen Strahlunpleistungssteuerung eine Einrichtung 2 verwendet wird,
welche eine Gleichstromquelle 3 und eine Wechselstromquelle 4 enthält
Der Gaslaser 1 weist eine Gasentladungsrohr 5 mit optischen Fenstern 6 auf, welche unter dem Brewsterschen Winkel zur optischen Achse des Lasers 1
eingestellt sind, sowie Spiegel 7, welche einen optischen Resonator bilden.
Im Inneren des Gasentladungsrohres 5 sind Elektroden 8 angeordnet, welche in den elektrischen Ausgangsstromkreis der Gleich- und der Wechselstromqueue 3
bzw. 4 geschaltet sind. Zwischen diesen Elektroden entsteht die Entladungsstrecke des Gasentladungsrohres 5. In das Innere des Gasentladungsrohres sind
Helium und Cadmium eingeführt, welches bei der Erregung einer Gleichstromentladung verdampft, wodurch in dem Gasentladungsrohr 5 ein Gemisch aus
Helium und Cadmiumdämpfen entsteht Dieses Gemisch stellt ein stimulierbares Medium dar, welches
durch die erwähnte Gleichstromentladung zu einer kohärenten Strahlung angeregt wird. Anstelle von
Helium kann ein anderes Edelgas und anstelle von Cadmiumdämpfen können Dämpfe eines anderen
Metalls bzw. Nichtmetalls verwendet werden, deren Gemisch mit Edelgas das stimulierbare Medium der
erwähnten Laser mit Dämpfen chemischer Elemente bildet.
Als die Gleichstromquelle 3 kann eine beliebige zur Zeit bekannte stabilisierte Stromquelle verwendet
werden. Es genügt, wenn diese einen Strom von 50 bis 250 mA und eine Spannung von 1000 bis 5000 V abgibt.
Als Wechselstromquelle 4 kann ein beliebiger Generator von Wechselsinusstrom (von Wechselsinusspannung)
verwendet werden, welcher einen Frequenzbereich hat, der gleich dem Frequenzbereich nichtstationärer
Schwingungen des stimulierbaren Mediums bei der Erregung einer elektrischen Gleichstromentladung
darin ist. In einer Gleichstromentladung sind nichtstationäre Schwingungen des stimulierbaren Mediums vorhanden,
die durch eine Differenz der Drift- und der Diffusionsgeschwindigkeit der Elektronen und Ionen in
dem durch die Gleichstromquelle 3 erzeugten elektrischen Feld sowie durch Elektronen- und lonenströme
an Wandungen des Gasentladungsrohres 5 erzeugt werden. Diese nichtstationären Schwingungen rufen
Inhomogenitäten in der Konzentration und der Temperatur der Elektronen und Ionen des stimulierbaren
Mediums hervor, weswegen die Anregungsbedingungen an verschiedenen Abschnitten des Entladungsrohres
nicht die gleichen sind.
Die Frequenz des Wechselsinusstroms (der Wechselsinusspannung), bei welcher die maximale Leistung der
Lichtstrahlung erzielt wird, hängt vom Edelgasdruck, vom Durchmesser des Gasentladungsrohres 5 sowie
von dessen Länge und vom Druck der Metall- bzw. Nichtmetalldämpfe ab.
In jedem Fall genügt es, wenn der Frequenzsteuerbereich der Wechselstrom- bzw. der Wechselspannungsquelle
4 für 40 bis etwa 300 kHz ausgelegt ist
In Gaslasern, deren stimulierbares Medium aus Helium mit Cadmiumdampfzusätzen besteht, werden
die minimale und die maximale Leistung, wie es aus der Kurve 9 (F i g. 2) ersichtlich ist, bei einer Frequenzänderung
der Wechselstromquelle 4 von 80 bis 110 kHz erzielt. Beim Erreichen der maximalen Leistung, in
diesem Fall 110 kHz, wird in der Lichtstrahlung eine
Rauschverminderung um das 10Of ache beobachtet
Bei der Verwendung einer Wechselstromquelle 4 kann die Einrichtung 2 einen Transformator 10 (F i g. 3)
aufweisen, dessen Sekundärwicklung 11 die Gleich- ^5
stromquelle 3 mit der Elektrode 8 verbindet und induktiv über die Primärwicklung 12 an die Wechselstromquelle
4 angeschlossen ist Die Wechselstromquelle 4 ist derart zu bemessen, daß deren Stromamplitude
etwa 1% der Stromamplitude der Gleichstromquelle 3 beträgt.
Bei der Verwendung einer Wechselspannungsquelle kann eine Schaltung empfohlen werden, wie sie F i g. 4
zeigt. In diesem Ausfühmngsbeispiel ist sowohl die Wechselspannungsquelle 4 über einen Kondensator 13
als auch die Gleichspannungsquelle 3 über einen Widerstand 14 parallel zur Entladestrecke geschaltet.
Die Wechselstromquelle 4 wird derart bemessen, daß ihre Spannungsamplitude etwa 1% der Spannung der
Gleichstromquelle 3 beträgt
Das erfindungsgemäße Verfahren wird wie folgt durchgeführt
Wenn die Gleichstromquelle 3 eingeschaltet wird, entsteht in dem Gasentladungsrohr 5 eine elektrische
Entladung. Diese Entladung regt das stimulierbare Medium an, und im Resonatorinneren entsteht eine
induzierte Lichtstrahlung, die aus dem Resonator über einen der Spiegel 7 entnommen wird. Wie schon
erwähnt worden ist, entstehen dabei nichtstationäre Schwingungen. Beim Anlegen eines elektrischen Wechselstroms
mittels der Wechselstromquelle 4 werden nichtstationäre Schwingungen in reguläre Schwingungen
mit einer Frequenz verwandelt, die der Frequenz des elektrischen Wechselstroms gleich ist Wenn der
elektrische Wechselstrom eine solche Frequenz hat, daß das Verhältnis der Lebensdauer der Edelgasionen zur
Periode regulärer Schwingungen eine ungerade ganze Zahl beträgt, weisen die Konzentrationen und die
Temperatur der Elektronen des stimulierbaren Mediums gesteigerte Werte auf. Dabei erreicht die Leistung
der Lichtstrahlung den maximalen Wert Wenn die Frequenz des elektrischen Wechselstroms eine solche
ist daß das Verhältnis der Lebensdauer der Edelgasionen
zur Periode regulärer Schwingungen eine gerade ganze Zahl beträgt, weisen die Konzentration und die
Temperatur der Elektronen des stimulierbaren Medi ums herabgesetzte Werte auf. Dabei erreicht du
Leistung der Lichtstrahlung den minimalen Wert Di* Einstellung regulärer Schwingungen und der Leistunj
der Lichtstrahlung erfolgen im Laufe einiger Schwin gungsperioden, & h. die Leistungssteuerung der Licht
strahlung erfolgt ohne Trägheit
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Verfahren zur Leistungssteuerung der Lichtstrahlung
eines mit Gleichstrom angeregten Gaslasers mittels überlagerter Hochfrequenz, dadurch
gekennzeichnet, daß der überlagerte hochfrequente
elektrische Wechselstrom eine solche Frequenz aufweist, die in dem Frequenzbereich der
nichtstationären Schwingungen des stimulierbaren Gasmediums liegt, die bei elektrischer GleichstromjGasentladung
auftreten, so daß mit der Umwandlung dieser nichtstationären Schwingungen in
reguläre Schwingungen unter dem Einfluß des Wechselstroms die Lichtstrahlung in ihrer Leistung
steuerbar wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Frequenz im Bereich von etwa 40 bis etwa 220 kHz geändert wird.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Frequenz nur innerhalb eines Frequenzbereichs von 20 kHz geändert wird, um
von einem Ausstrahlungsminimum auf ein Ausstrahlungsmaximum zu kommen.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Spannungsamplitude des elektrischen Wechselstroms nur etwa 1% der Spannungsamplitude des elektrischen Gleichstroms beträgt
5. Einrichtung zur Leistungssteuerung mittels überlagerter Hochfrequenz eines mit Gleichstrom
angeregten Gaslasers, dadurch gekennzeichnet, daß eine in ihrer Frequenz verstellbare hochfrequente
Wechselstromquelle (4) mit der Gleichstromquelle (3) hintereinander geschaltet an die Elektroden (8)
des Entladungsrohres (5) angeschlossen ist und daß diese Frequenz sinusförmiger Signale der hochfrequenten
Wechselstromquellt (4) im Frequenzbereich der nichtstationären Schwingungen des stimulierbaren
Gasmediums bei Gleichstromentladung liegt (Fi s. 1).
6. Einrichtung nach Anspruch 5, gekennzeichnet durch einen Transformator (10), der mit seiner
Sekundärwicklung (11) in Reihe mit der Gleichstromquelle (3) geschaltet ist (F i g. 3).
7. Einrichtung zur Leistungssteuerung mittels überlagerter Hochfrequenz eines mit Gleichstrom
angeregten Gaslasers, dadurch gekennzeichnet, daß eine in ihrer Frequenz verstellbare hochfrequente
Wechselstromquelle (4) parallel zur Gleichstromquelle (3) an die Elektroden (8) des Gasentladungsrohres (5) angeschlossen ist und daß diese Frequenz
sinusförmiger Signale der Wechselstromquelle (4) im Frequenzbereich der nichtstationären Schwingungen
des stimulierbaren Gasmediums bei Gleichstromentladung liegt (F i g. 4).
8. Einrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet,
daß die Wechselstromquelle (4) an die eine Elektrode unmittelbar und an die andere über einen
Kondensator (13) angeschlossen ist und daß die Gleichstromquelle (3) in ihrem Ausgangsstromkreis
einen Vorwiderstand (14) enthält (F i g. 4).
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19732336831 DE2336831B2 (de) | 1973-07-19 | 1973-07-19 | Verfahren und einrichtung zur leistungssteuerung der lichtstrahlung eines mit gleichstrom angeregten gaslasers mittels ueberlagerter hochfrequenz |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19732336831 DE2336831B2 (de) | 1973-07-19 | 1973-07-19 | Verfahren und einrichtung zur leistungssteuerung der lichtstrahlung eines mit gleichstrom angeregten gaslasers mittels ueberlagerter hochfrequenz |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2336831A1 DE2336831A1 (de) | 1975-02-13 |
DE2336831B2 true DE2336831B2 (de) | 1977-03-10 |
Family
ID=5887463
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19732336831 Withdrawn DE2336831B2 (de) | 1973-07-19 | 1973-07-19 | Verfahren und einrichtung zur leistungssteuerung der lichtstrahlung eines mit gleichstrom angeregten gaslasers mittels ueberlagerter hochfrequenz |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2336831B2 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3242612A1 (de) * | 1981-11-19 | 1983-05-26 | Nippon Infrared Industries Co., Ltd., Tokyo | Laserstrahlvorrichtung |
-
1973
- 1973-07-19 DE DE19732336831 patent/DE2336831B2/de not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3242612A1 (de) * | 1981-11-19 | 1983-05-26 | Nippon Infrared Industries Co., Ltd., Tokyo | Laserstrahlvorrichtung |
DE3242612C2 (de) * | 1981-11-19 | 1993-12-02 | Nippon Infrared Ind | Laserstrahlvorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2336831A1 (de) | 1975-02-13 |
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