DE2334811C2 - Process for the production of CdCr deep 2 Se deep 4 single crystals - Google Patents
Process for the production of CdCr deep 2 Se deep 4 single crystalsInfo
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Description
Oberfläche der Cr2Se3-SChJChL Das Substrat wird nun Schutzschmelze 3 verweilen zu lassen, um die Oberin der gleichen Weise wie oben angegeben unter fläche des Substrates in der Schutzschmelze zu ätzen. Selendampfdruck getempert. Beim Entfernen der Kristalle bzw. der Substrate ausSurface of the Cr 2 Se 3 -SChJChL The substrate is now left to dwell protective melt 3 in order to etch the upper surface in the protective melt in the same way as indicated above under the surface of the substrate. Selenium vapor pressure tempered. When removing the crystals or the substrates from
Vorteilhaft ist, daß die Schichten noch durch ein- der CdSe-CrSe-Schmelze verbleibt eine dünne B2O3-It is advantageous that a thin B 2 O 3 -
und/oder dreiwertige Elemente dotiert werden können. S Schicht auf der Oberfläche. Diese B2O3-Schicht wirdand / or trivalent elements can be doped. S layer on the surface. This B 2 O 3 layer becomes
Dazu werden diese Elemente vorzugsweise in Form vor der Temperung in kochendem destilliertem WasserFor this purpose, these elements are preferably in the form of boiling distilled water before tempering
ihrer Selenide in entsprechender Menge der Mischung abgelöst,
von CdSe-Cr2Se3 zugesetzt. Das Erhitzen der Schmelze und des Substrates er-their selenides detached in the appropriate amount of the mixture,
of CdSe-Cr 2 Se 3 added. The heating of the melt and the substrate
An Hand der Figuren werden Ausführungsbeispiele folgt vorzugsweise in einem hochfrequenzbeheizten
des Verfahrens nach der Erfindung genauer erläutert: 10 Suszeptor. Dieser ist der Übersichtlichkeit halber in
Gemäß F i g. 1 wird eine Mischung 1 aus 30 Gewichts- den beiden Figuren weggelassen,
prozent Cr2Se3 und 70 Gewichtsprozent CdSe in einem In Fig. 3 wird die Substratscheibe 14 zusammen
Tiegel 2, der beispielsweise aus SiO2 oder BN besteht, mit einem Gemenge 11 aus 75 Gewichtsprozent CdSe
unter einer B2O3-Schutzschmelze 3 bei etwa 13000C und 25 Gewichtsprozent Cr2Se3 in ein gasdicht veraufgeschmolzen.
Dies erfolgt in einer Gasatmosphäre; 15 schlossenes Zuchtgefäß 21 eingebracht. Dabei wird
■als Gas kann beispielsweise N2 oder H2Se oder Argon die Substratscheibe an einem Ende des Gefäßes fixiert,
verwandt werden, der Gasdruck betrag,, etwa lOAtmo- Das andere Ende des Gefäßes liegt gemäß der Figur
Sphären. Die Schmelze wird durch Abkühlen auf etwa tiefer und ist so in einer Heizeinrichtung, die in der
12700C übersättigt. Ein Cr2Se3-Keim 4 wird in die Figur nicht dargestellt ist, angeordnet, daß sich an
übersättigte Schmelze 1 eingetaucht, dabei kristalli- ao diesem Ende des Gefäßes die Schmelze sammelt. Nach
siert an dem Keim ein plattenförmiger Cr2Se3-EJn- dem Aufheizen auf etwa 13000C wird das Gefäß 21 gekristall.
Nach kurzer Verweilzeit von etwa 1 bis 10 Mi- maß F i g. 4 gekippt, so daß die Schmelze das Substrat
nuten wird die Einkristallplatte aus der Schmelze ent- bedeckt. In dieser Stellung des Gefäßes wird die
fernt, wobei eine dünne CdSe-Schicht auf der Ober- Schmelze auf etwa 1250°C abgekühlt, und zwar mit
fläche dieser Einkristallplatte verbleibt. »5 einer Geschwindigkeit von 2 bis 5° K/min. Bei dieserWith reference to the figures, exemplary embodiments are explained in more detail, preferably in a high-frequency heated method according to the invention: 10 susceptor. For the sake of clarity, this is shown in FIG. 1 a mixture 1 of 30 weight- the two figures are omitted,
percent Cr 2 Se 3 and 70 weight percent CdSe in an in Fig. 3, the substrate wafer 14 together crucible 2, which consists for example of SiO 2 or BN, with a mixture 11 consisting of 75 percent by weight of CdSe under a B 2 O 3 -Schutzschmelze 3 at about 1300 0 C and 25 percent by weight Cr 2 Se 3 melted into a gas-tight. This takes place in a gas atmosphere; 15 closed cultivation vessel 21 introduced. For example, N 2 or H 2 Se or argon can be used as the gas, the substrate disk fixed at one end of the vessel, the gas pressure is around 10 atmospheres. The other end of the vessel is spherical as shown in the figure. The melt is lower by cooling to about and is in a heating device, the supersaturated 1270 0 C. A Cr 2 Se 3 seed 4, not shown in the figure, is arranged so that it is immersed in the supersaturated melt 1, and the melt collects crystalline at this end of the vessel. After Siert on the seed a plate-shaped Cr 2 Se 3 -EJn- heating to about 1300 0 C is gekristall the vessel 21st After a short dwell time of about 1 to 10 mm F i g. 4 tilted so that the melt grooves the substrate, the single crystal plate is uncovered from the melt. In this position of the vessel the is removed, whereby a thin CdSe layer on the upper melt is cooled to about 1250 ° C, namely with the surface of this single crystal plate remains. »5 at a speed of 2 to 5 ° K / min. At this
Die Temperung erfolgt in einer Quarzampulle bei Abkühlung wächst eine Cr2Se3-Schicht 24 epitaktischThe tempering takes place in a quartz ampoule, while cooling, a Cr 2 Se 3 layer 24 grows epitaxially
einer Temperatur von 800 bis 850°C in einer Selen- auf dem Substrat auf. Nun wird das Gefäß gemäß dera temperature of 800 to 850 ° C in a selenium on the substrate. Now the vessel is according to the
atmosphäre, die einen Druck von 2 bis 5 Atmosphären F i g. 5 wiederum in die Ausgangsposition zurückge-atmosphere having a pressure of 2 to 5 atmospheres F i g. 5 again to the starting position
besitzt. kippt, und der größte Teil der Schmelze läuft von demowns. tilts, and most of the melt runs off that
Soll CdCr2Se4 auf ein Substrat aufgebracht werden, 30 Substrat ab. Jedoch verbleibt eine dünne CdSe-If CdCr 2 Se 4 is to be applied to a substrate, 30 substrate. However, a thin CdSe-
so verfährt man gemäß Fig. 2 in ganz ähnlicher Schicht 25 auf der Cr2Se3-Schicht 24, die das Substratthus proceeding according to FIG. 2 in a very similar layer 25 on the Cr 2 Se 3 layer 24, which is the substrate
Weise, jedoch dient hier die Substratscheibe 14 als bedeckt. Zur Temperung wird nun das Gefäß einerIn this way, however, the substrate wafer 14 serves as a covered one. The vessel is now used for tempering
Kristallisationskeim. Bevor diese Substratscheibe in Temperatur von 800 bis 850°C ausgesetzt. DabeiCrystallization nucleus. Before this substrate wafer exposed in temperature of 800 to 850 ° C. Included
die Schmelze eingetaucht wird, wird sie ebenfalls auf reagieren die beiden auf dem Substrat aufliegendenthe melt is immersed, it will also react to the two resting on the substrate
etwa 13000C aufgeheizt. Dabei ist noch vorgesehen, 35 Schichten (24, 25) miteinander, es bildet sich eineabout 1300 0 C heated. It is also provided for 35 layers (24, 25) to form one with the other
das Substrat 14 für etwa 1 bis 10 Minuten in der Schicht aus CdCr2Se4.the substrate 14 for about 1 to 10 minutes in the layer of CdCr 2 Se 4 .
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings
Claims (5)
schung: aus CdSe und Cr2Se3 mit mehr als 12 Ge- Es ist demnach eine Aufgabe der Erfindung, emwichtsprozent Cr8Se3 hergestellt wird und diese kristallines CdCr2Se4 von hoher Qualität und reprodu-Mischung bei über 1200"C geschmolzen wird, daß io zierbar, insbesondere dünne Schichten, herzustellen, darauf diese Schmelze so weit abgekühlt wird, daß Diese Aufgabe wird durch em wie im Oberbegriff Cr2Se3 teilweise auskristallisiert, daß dann aus des Patentanspruches 1 angegebenes Verfahren gelöst, dieser Schmelze Cr^-Kristalle entnommen wer- das erfindungsgemäß entsprechend dem Kennzeichen den, wobei eine dünne Schicht CdSe auf diesen dieses Anspruches ausgebildet ist.1. Process for the production of CdCr 2 Se 4 -EUi- th evaporation processes were produced under optimal crystals as platelets or as layers on 5 conditions only mixtures of CdCr 2 Se 4 and CdSe Cr 2 Se 3 , CdSe or a substrate body, d a- . Single crystal layers of CdCr 2 Se 4 characterized in that a mi was not realizable with this method,
Schung: from CdSe and Cr 2 Se 3 with more than 12 Ge It is accordingly an object of the invention to produce weight percent Cr 8 Se 3 and melt this crystalline CdCr 2 Se 4 of high quality and reproducible mixture at over 1200 ° C is that io edible, especially thin layers, to produce, then this melt is cooled so far that this object is partially crystallized by em as in the preamble Cr 2 Se 3 , that then from the method specified in claim 1 is achieved, this melt Cr ^ -Crystals are removed according to the invention in accordance with the characteristic, a thin layer of CdSe being formed on this of this claim.
beispielsweise aus dem Vortrag W. Lugscheider, Es ist ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen W.Zinn. Intermag Conf. Kyoto, 10. bis 13. 4. 1972, Verfahrens, daß die eben genannten Schichtanord- »Switching Effects in Magnetic Semiconductors«, her- nungen gemäß einer Weiterbildung des Verfahrens auf vorgeht. einem Substratkörper aufgebracht werden können. Bislang wurde versucht, Dünnschichten aus Cad- 60 Als Materialien für das Substrat eignen sich beispielsmium-Chrom-Selenid nach dem sogenannten CVD- weise Saphir, Granat und Mg-Al-Spinelle. Gemäß Verfahren herzustellen. Dieses Verfahren ist beschrie- dem weitergebildeten Verfahren wird das Substrat in ben in H. L. P i η c h, L. Ekstrom, RCA Rev., 31 die flüssige Mischung aus CdSe-Cr2Se3 getaucht. Beim (1970) (4), 692 bis 701. Ein anderes Verfahren ist be- Abkühlen der Mischung wirkt das Substrat als Krischrieben in S. Y a m a η a k a, Y. Funada, Jap. 65 stallisationskeim, und eine einkristalline Cr2Se3-J. Appl. Phys., 11 (1972) 1068. Hier wird simultan aus Schicht wächst auf dem Substrat auf. Entfernt man das drei Quellen im Hochvakuum Cadmium, Chrom und Substrat mit dieser Schicht aus der Mischung, so verSelen verdampft. Beide Verfahren arbeiteten jedoch bleibt wiederum eine dünne Schicht von CdSe an derClaim 1 specified. With the method according to the invention, the ferromagnetic semiconducting spinel Cad - that is, large-area, thin CdCr 2 Se 4 single crystals of hermium-chromium-selenide - CdCr 2 Se 4 - shows a large size. It is also possible to produce layers of CdCr 2 Se 4 Ben negative magnetoresistance effect below on a layer of Cr 2 Se 3 or Schich-Seiner Curie temperature, ie that the electrical 50 th of CdCr 2 Se 4 on a layer of CdSe or Resistance of this material also decreases when it is exposed to a multilayer arrangement of CdSe, CdCr 2 Se 4 and an external magnetic field or when a Cr 2 Se 3 . To produce these different variants, the external magnetic field that is already acting must be strengthened, the thickness ratio of the Cr 2 Se 3 -KnSIaIIe, which is. In addition, this material shows switching and can be removed from the melt, to which storage effects below the Curie temperature, such as the CdSe layer lying on them, are varied,
for example from the lecture W. Lugscheider, It is a further advantage of the W. tin according to the invention. Intermag Conf. Kyoto, April 10 to 13, 1972, method that the above-mentioned layer arrangement "Switching Effects in Magnetic Semiconductors" proceeds according to a further development of the method. can be applied to a substrate body. Up to now, attempts have been made to produce thin layers of cad 60. As materials for the substrate, for example, sapphire, garnet and Mg-Al spinels are suitable, according to the so-called CVD, as materials for the substrate. Manufacture according to procedure. This method is described, the substrate is immersed in the liquid mixture of CdSe-Cr 2 Se 3 in HL P i η ch, L. Ekstrom, RCA Rev., 31. Beim (1970) (4), 692 to 701. Another method is cooling the mixture, the substrate acts as writing in S. Y ama η aka, Y. Funada, Jap. 65 nuclei, and a single-crystalline Cr 2 Se 3 -J. Appl. Phys., 11 (1972) 1068. Here the layer grows simultaneously on the substrate. If the three sources cadmium, chromium and substrate with this layer are removed from the mixture in a high vacuum, selenium evaporates. Both procedures worked but again a thin layer of CdSe remains on the
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2334811A DE2334811C2 (en) | 1973-07-09 | 1973-07-09 | Process for the production of CdCr deep 2 Se deep 4 single crystals |
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DE2334811A DE2334811C2 (en) | 1973-07-09 | 1973-07-09 | Process for the production of CdCr deep 2 Se deep 4 single crystals |
Publications (2)
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DE2334811B1 DE2334811B1 (en) | 1974-12-12 |
DE2334811C2 true DE2334811C2 (en) | 1975-07-31 |
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Families Citing this family (1)
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---|---|---|---|---|
FR2512846A1 (en) * | 1981-09-16 | 1983-03-18 | Labo Electronique Physique | Crystalline growth of semiconductor crystals - giving reduced density of dislocations |
-
1973
- 1973-07-09 DE DE2334811A patent/DE2334811C2/en not_active Expired
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