DE2207194A1

DE2207194A1 - DENSITOMETER FOR TOP AND THROUGH MEASUREMENT

Info

Publication number: DE2207194A1
Application number: DE19722207194
Authority: DE
Inventors: Karlheinz Dipl Phys Fuerst
Original assignee: DuPont de Nemours Deutschland GmbH
Current assignee: DuPont de Nemours Deutschland GmbH
Priority date: 1972-02-16
Filing date: 1972-02-16
Publication date: 1973-08-23
Also published as: DE2207194C3; DE2207194B2

Description

Densitometer für Aufsichts- und Durchsichts-Messung Die Erfindung bezieht sich auf ein Densitometer fi,r Aufsichts-und Durchsichts-Messung, bei dem das von dem zu messenden Objekt kommende Licht von einem in kurzem Abstand von der Oberfläche des Objekts angeordneten Lichtleiter aufgenommen und auf einen das Licht in elektrische Signale umsetzenden Meßgeber übertragen wirde Im grafischen Gewerbe müssen nebeneinander Dichtemessungen an Aufsichts- und Durchsichtsvorlagen durchgeführt werden Bisher ist es erforderlich, dazu zwei verschiedene Geräte zu benutzern, Es ist auch bereits ein Densitometer der oUsn heschriebenen Art vorgeschlagen worden, mit dem Aufsichts- wie auch Durchsichtsmessungen mit einem Gerät maglich sind (DT-OS 1 772 161). Dieses Gerät ist ein Densitometer mit einarmigen Lichteitern, jedoch ist auch bei diesem Gerät der Übergang von Aufsichtsmessung zu Durchsichtsmessung nur durch Austausch der Meßköpfe möglich. Densitometer for top and bottom view measurement The invention refers to a densitometer fi, r reflective and reflective measurement in which the light coming from the object to be measured comes from a short distance from the Surface of the object arranged light guide added and on a the light In the graphic arts industry density measurements must be carried out side by side on reflective and transparent templates Up to now it has been necessary to use two different devices for this purpose, Es a densitometer of the type described above has also already been proposed, with which top and back measurements are possible with one device (DT-OS 1 772 161). This device is a densitometer with one-armed light pipes, however is also with this device the transition from top view measurement to view measurement only possible by exchanging the measuring heads.

Demgegenüber liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Densitometer für Aufsichts- und Durchsichtsmessung zu schaffen, bei dem kein Austausch von Meßköpfen oder sonstigen Teilen notwendig ist, sondern durch einfaches Umschalten von Aufsichtsmessung auf Durchsichtsmessung bzw. umgekehrt überzugehen.In contrast, the invention is based on the object of a densitometer to create for overhead and see-through measurements, in which there is no exchange of measuring heads or other parts is necessary, but by simply switching over from top view measurement to switch to transparency measurement or vice versa.

Dies wird gemäß der Erfindung dadurch ermöglicht, daß von einer gemeinsamen Lichtquelle ein Lichtleiterweg zum Zuführen des für Aufsichtsmessung erforderlichen Lichtes auf diejenige Oberfläche des Objektes, die dem das Licht aufnehmenden und zum Meßgeber führenden Lichtleiter zugewandt ist, und ein zweiter Lichtleiterweg zum Zuführen des für Durchsichtsmessung erforderlichen Lichtes auf die entgegengesetzte Oberfläche des Objektes sowie Einrichtungen zum Unterbrechen des einen oder anderen Lichtleiterweges vorgesehen sind. Der Übergang von der einen Meßart zur anderen bedingt somit nur noch die Unterbrechung des einen oder anderen Lichtleiterweges.This is made possible according to the invention in that of a common Light source a fiber optic path for supplying what is required for overhead measurements Light on that surface of the object that receives the light and to the transducer leading light guide is facing, and a second light guide path for supplying the light required for transparency measurement to the opposite one Surface of the object as well as facilities for interrupting one or the other Light guide path are provided. The transition from one type of measurement to the other thus only requires the interruption of one or the other light guide path.

In besonders vorteilhafter Ausführungsform der Erfindung ist ein zweiarmiger Lichtleiter zum Aufteilen des von der gemeinsamen Lichtquelle kommenden Lichtes in zwei Lichtbündel und zum Zuführen des einen Lichtbündels auf den einen und des anderen Lichtbündels auf den zweiten Lichtleiterweg vorgesehen. Dabei kónrserl in jedem der beiden Lichtleiterwege hinter dem zweiarmigen Licht leiter eine wahlweise zum Unterbrechen des einen oder anderen Lichtleiterweges einstellbare Blende und dahinter weitere Lichtleiter zum Zuführen des jeweiligen Lichtbündels zur einen bzw.In a particularly advantageous embodiment of the invention is a two-armed Light guide for splitting the light coming from the common light source in two light bundles and for feeding one light bundle onto one and the other other light beam provided on the second light guide path. Thereby kónrserl in each of the two light guide paths behind the two-armed light ladder one that can be optionally set to interrupt one or the other light guide path Cover and further light guides behind it for supplying the respective light bundle on the one hand or

anderen Oberfläche des Objektes vorgesehen sein.other surface of the object may be provided.

In vorteilhafter Ausführungsform der erfindung sind der das Lichtbündel für Aufsichtsmessung zur Oberfläche des Objektes führende und der das zu messende Licht zum Meßgeber führende Lichtleiter durch die beiden Arme eines zweiarmigen Lichtleiters gebildet.In an advantageous embodiment of the invention, these are the light bundles for top view measurement leading to the surface of the object and the one to be measured Light guide leading to the transducer through the two arms of a two-armed Light guide formed.

Beugen der speziellen optischen Eigenschaften des Lichtleiters sind naturgemäß geringe Abweichungen der Meßwerte von solchen Meßwerten, wie sie bei den genormten Meßanordnungen erzielt werden, in Kauf zu nehmen. Solche Abweichungen können aber im Rahmen der Erfindung in einfacher Weise dadurch eliminiert werden, daß an den Meßgeber eine Einrichtung zum Linearisieren der elektrischen Signale angeschlossen ist, die gleichzeitig zum Ausgleich der geringen Abweichungen der Meßwerte ausgebildet ist, die durch die Abweichung der von den Lichtleitern gebildeten Meßanordnung von genormten Meßanordnungen auftreten. Beispielsweise kann an den Meßgeber ein Analog-Digital-Wandler angeschlossen sein, bei dem eine elektrische Spannung in eine analoge Anzahl von in einem Anzeigezähler gelangenden elektrischen Impulsen umgesetzt wird, wobei eie Einrichtung zur digitalen Linearisierung vorgesehen ist, in der die Anzahl der in den Anzeigezähler gelangenden Impulse durch einen variablen Teiler beeinflußt wird,dessen jeweiliges Untersetzungsverhältnis wiederum durch den Anzeige -zähler gesteuert wird. Vor dem Anzeigezähler kann dabei ein mit verschiedenen Zähidekaden und NAND-Verknüpfungen arbeitender, variabler Untersetzer für die Anzahl der ankommenden elektrischen Impulse angeordnet sein, dessen NAND-Verknüpfungen jeweils über Flip-Flop-Schaltungen gesteuert ist, die selbst aus im Anzeigezähler vorgebildeten Vorwahl-Schaltungen gesteuert sind.Bending are the special optical properties of the light guide naturally small deviations of the measured values from such measured values as in the standardized measuring arrangements are achieved to be accepted. Such deviations but can be eliminated in a simple manner within the scope of the invention, that to the transducer a device for linearizing the electrical signals is connected, which at the same time to compensate for the small deviations of the Measured values is formed by the deviation of the formed by the light guides Measuring arrangement of standardized measuring arrangements occur. For example, the Encoder connected to an analog-to-digital converter, in which an electrical Voltage into an analog number of electrical ones arriving in a display counter Pulses is implemented, wherein a device for digital linearization is provided is, in which the number of impulses reaching the display counter is indicated by a variable divider is influenced, whose respective reduction ratio is in turn controlled by the display counter. Before the display counter can thereby a variable one that works with different counters and NAND links Coaster for the number of incoming electrical impulses can be arranged, whose NAND links are each controlled via flip-flop circuits that are controlled even from pre-formed preselection circuits in the display counter.

Im Rahmen der Erfindung können auch die an den Meßgeber angeschlossenen Einrichtungen zum Linearisieren der elektrischen Signal. und Ausgleichen der Abweichungen der Meßwerte wahlweise ein- bzw. umschaltbare Ausgleicheinrichtungen für geringe Abweichungen der Meßuerte bei Aufsichtsmessung und Durchsichtsmessung enthalten.Auf diese Weis können die für Aufsichtsmessung und Durchsichtsmessung ausgebildeten umschaltbaren Einrichtungen relativ einfach ausgebildet werden, da geringe Meßwertabweichungen an Meßgeber in Kauf genommen und bei der Auswertung und Linearisierung der Meßwerte eliminiert werden. Besonders vorteilhaft ist es im Rahmen der Erfindung, wenn Einrichtungen zum Linearisieren der elektrischen Signale zusammen mit dem eigentlichen Meßgeber unmittelbar in einem Meßteil vereinigt sind. Der Meßgeber kann dabei ein Fotofeldeffekttransistor sein, und es kann an die Gate-Elektrode dieses rotofeldeffekttransistors eine Diode mit logarithmischer Kennlinie als den Fotostrom in eine Charakteristik für lineare Dichteanzeige umsetzende Einrichtung angeschlossen sein Dabei kann der durch den Meßgeber und das Linearisierungselement gebildete Meßteil einen zusätzlichen Abgleich-Operationsverstärker für den auf lineare Dichtecharakteristik gebrachten Preßdruck enthalten, und es kann an dissen Operationsverstärker ein Potentiometer für Null-Abgleich ohne Probe im Strahlengang vor dem Meßgeber und ein Potentiometer für Kalibrierung bei in den Strahlengang vor dem Meßgeber eingesetzter Eichprobe verbunden sein.Within the scope of the invention, those connected to the encoder can also be used Means for linearizing the electrical signal. and compensate for the deviations of the measured values optionally on or switchable compensation devices for low Contains deviations in the measured values in the case of overhead measurements and transparency measurements this can be done by those trained for monitoring measurements and transparency measurements switchable devices are made relatively simple, since small deviations in measured values on measuring transducers and in the evaluation and linearization of the measured values be eliminated. It is particularly advantageous within the scope of the invention if devices for linearizing the electrical signals together with the actual encoder are directly combined in one measuring part. The transducer can be a photo field effect transistor and a diode can be connected to the gate electrode of this rotofield effect transistor with a logarithmic characteristic as the photocurrent in a characteristic for linear Density display converting device must be connected Here can the measuring part formed by the measuring transducer and the linearization element has an additional one Adjustment operational amplifier for the linear density characteristic Contain pressure, and a potentiometer can be attached to the operational amplifier for zero adjustment without a sample in the beam path in front of the encoder and a potentiometer for calibration with the calibration sample inserted in the beam path in front of the transducer be connected.

Besonders vorteilhaft ist es in solchem Fall, wenn der Meßgeber, die die Charakteristik des Meßstromes in Charakteristik für lineare Dichteanzeige umsetzende Einrichtung und ggf. der Abgleich-Operationsverstärker in einen auf konstanter Temperatur gehaltenen Block eingesetzt sind. Der Meßteil kann dabei einen elektronischen, mittels eines Kaltleiters über einen Operationsverstärker gesteuerten Thermostaten enthalten.It is particularly advantageous in such a case if the encoder, the the characteristic of the measuring current in the characteristic for linear density display converting Set up and, if necessary, the adjustment operational amplifier in one at a constant temperature held block are inserted. The measuring part can be an electronic, means a PTC thermostat controlled by an operational amplifier.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird im folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert; es zeigen: Fig. 1 eine schematische Darstellung des Strahlenganges des Densitometers gemäß der Erfindung; Fig. 2 ein schematisiertes Schaltbild für den Meßgeber, die die Charakteristik des Meßstromes in Charakteristik für lineare Dichteanzeige umsetzende Ein -richtung und einen Abgleich-Operationsverstärker, sowie deren Einrichtung zum Konstanthalten der Temperatur; Fig. 3 ein Blockschaltbild für die Einrichtungen für digitale Linearisierung und Fig. 4 ein Schaltbild für die praktische Ausführung der digitalen Linearisierung.An embodiment of the invention is described below with reference to the Drawing explained in more detail; They show: FIG. 1 a schematic representation of the beam path the densitometer according to the invention; Fig. 2 is a schematic circuit diagram for the measuring transducer, which the characteristic of the measuring current in characteristic for linear Density display converting device and a balancing operational amplifier, and their device for keeping the temperature constant; Fig. 3 shows a block diagram for the devices for digital linearization and FIG. 4 a circuit diagram for the practical implementation of the digital linearization.

Bei dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel wird das von einer Lichtquelle 1 ausgehende Licht mit einem zweiarmigen Lichtleiter 2 in zwei Teilbündel zerlegt. Bei der in Fig. 1 dargestellten Stellung der Blende 6 gelangt das Licht über den in Fig. 1 unteren Arm des Lichtleiters 2 zum Lichtleiter 5 und von dort auf die dem abnehmenden Lichtleiter 4 gegenüberliegende Seite der Probe 7 (Durchsichts-Messung). Wird die Blende 6 im Sinne des in Fig. 1 dargestellten Pfeiles verstellt, dann wird der Lichtweg zwischen dem in Fig. 1 unteren Arm des Lichtleiters 2 und dem Lichtleiter 5 unterbrochen und dafür der Lichtweg zwischen dem in Fig. 1 oberen Arm des Lichtleiters 2 und dem Lichtleiter 3 freigegeben, so daß das Lichtbündel auf diesem freigegebenen Weg auf diejenige Seite der Probe 7 gelangt, von der das Licht vom Lichtleiter 4 abgenommen wird (Aufsichts-Messung). Das von der Probe durchgelassene bzw. reflektierte Licht erreicht dann über den Arm 4 des zueiarmigen Lichtleiters 3, 4 den Lichtsensor 8.In the example shown in FIG. 1, this is done by a light source 1 outgoing light with a two-armed light guide 2 split into two partial bundles. In the position of the diaphragm 6 shown in Fig. 1, the light passes through the in Fig. 1 lower arm of the light guide 2 to the light guide 5 and from there to the the side of the sample 7 opposite the decreasing light guide 4 (transparency measurement). If the diaphragm 6 is adjusted in the direction of the arrow shown in FIG. 1, then the light path between the lower arm of the light guide 2 in FIG. 1 and the light guide 5 interrupted and instead the light path between the upper arm of the light guide in FIG. 1 2 and the light guide 3 released so that the light beam released on this Path reaches that side of the sample 7 from which the light from the light guide 4 is removed (overhead measurement). That transmitted or reflected by the sample Light then reaches the light sensor via the arm 4 of the optical waveguide 3, 4 with one arm 8th.

Die Auswertung des Meßsignals und die Anzeige der Dichte erfolgt in einem gemeinsamen Elektronikteil 9. Der Lichtsensor 8 und der Elektronikteil 9 werden im folgenden im einzelnen erläutert.The measurement signal is evaluated and the density is displayed in a common electronic part 9. The light sensor 8 and the electronic part 9 are explained in detail below.

Die wesentlichen Teile des Lichtsensors 8 sind, wie Fig, 2 zeigt, ein Fotofeldeffekttransistor P 237 und eine logarithmische Diode PS 5831, die zusammen mit einem integrierten Operationsverstärker 709 in Bohrungen eines kleinen Metallklötzchens sitzen, das in Fig. 2 gestrichelt angedeutet ist. Dieses Metallklötzchen wird durch die Widerstände Ri bis R4 aufgeheizt. Die jeueilige Temperatur wird mit dem Kaltleiter P 310 gemessen und t der am Potentiometer P 1 eingestellten Soll temperatur vergleichen. Ein Operationsverstärker 709a steuert die Transistoren T1 und T2 entsprechend der Abweichung von der Solltemperatur.Dadurch wird eine Temperaturkonstanz von + 0,1°C im Temperaturbereich von 35 bis 40 0C erreicht. Das mit der Einrichtung nach Fig. 1 über den Lichtleiterarm 4 zugeführte Licht gelangt zum FotoSeldefFek+.-transistor P 237. Im Fotofet wird ein Fotostrom erzeugt, der as Gatestrom durch die logarithmische Diode PS 5831 fließt und dort einen Spannungsabfall liefert. Dieser wird vom Fotofet verstärkt und kann an R5 niederohmig abgenommen werden. Bei dem Fotofet handelt es sich also um eine Integration eines lichtempfindlkohen pn-Überganges und eines rauscharmen hochohmigen Verstärkers. Die Empfindlichkeit bei der Wellenlänge A = 0,9 µ beträgt m A/mU/cm2 bei einem Gate Dunkelstrom vom 30 pA und einem Gate-Hückwärts-Dunkelstrom von 250 pA. Letzterer ist jedoch stark temperaturabhängig und trägt neben der Temperaturemp?-indlichkeit doi biode PS 5831 den Hauptteil. zu der durch die obige Temperaturkonstanthalt.ung aufzufangenden Drift bei Der Fotostrom ist in weiten Grenzen proportional zur Lichtintensität, während der Spannungsabfall an der Diode PS 5831 weitgehend proportional zum Logarithmus des Fotostromes ist. Das Signal, das am Source-Anschluß abgenommen wird, verhält sich damit annähernd linear zur Schwärzung der Probe 7o Das Signal wird in dem integrierten Operationsverstärker 709 weiter verstärkt.The essential parts of the light sensor 8 are, as FIG. 2 shows, a photo field effect transistor P 237 and a logarithmic diode PS 5831, which together with an integrated operational amplifier 709 in the holes of a small metal block sit, which is indicated by dashed lines in Fig. 2. This metal block is through the resistors Ri to R4 are heated. The respective temperature is determined with the PTC thermistor P 310 measured and compare t to the setpoint temperature set on potentiometer P 1. An operational amplifier 709a controls the transistors T1 and T2 in accordance with FIG Deviation from the target temperature, resulting in a temperature constancy of + 0.1 ° C reached in the temperature range from 35 to 40 0C. That with the device according to Fig. 1 light supplied via the light guide arm 4 reaches the FotoSeldefFek + .- transistor P 237. In the Fotofet a photocurrent is generated, the gate current through the logarithmic Diode PS 5831 flows and provides a voltage drop there. This is from the Fotofet amplified and can be picked up at R5 with low resistance. The Fotofet is So it is an integration of a light-sensitive pn junction and a low noise high impedance amplifier. The sensitivity at wavelength A = 0.9 µ is mA / mU / cm2 with a gate dark current of 30 pA and a gate reverse dark current from 250 pA. The latter, however, is strongly temperature-dependent and contributes in addition to temperature sensitivity doi biode PS 5831 the main part. to that by the above constant temperature maintenance drift to be absorbed The photocurrent is proportional within wide limits to the light intensity, while the voltage drop across the diode PS 5831 is largely is proportional to the logarithm of the photocurrent. The signal that appears at the source terminal is removed, thus behaves approximately linearly to the blackening of the sample 7o The signal is further amplified in the integrated operational amplifier 709.

Mit dem Potentiometer P2 wird der Ausgang des Verstärkers ohne Probe im Strahlengang auf Null abgeglichen. In dem Potentiometer P3 wird der Ausgang des Verstärkers bei einer Eichdichte im Strahlengang auf einen entsprechenden Wert kalibriert.With the potentiometer P2 the output of the amplifier becomes without a sample calibrated to zero in the beam path. In the potentiometer P3 the output of the Amplifier calibrated to a corresponding value at a calibration density in the beam path.

Wenn eine kurze Umwandlungszeit bei momentan ansteigenden Meßwerten gefordert wird, ist es im Rahmen der Erfindung vorteilhaft, einen Analog-Digitalwandler an den Operationsverstärker 709 anzuschließen, wie dies in Fig. 2 angedeutet ist. Für den Analog -Digitalwandler bietet sich insbesondere ein Nachlaufprinzip an, wie es aus Fig0 3 ersichtlich ist. Am Eingang eines Komparators K liegt die Spannung U, die digitalisiert werden soll. Der andere Eingang des Komparators ist mit der Ausgangsspannung eines Digital-Analog-Wandlers AD-verbunden, dessen Digitaleingang von einem Zähler angesteuert wird. Ist die Eingangsspannung U'am Komparator K größer als die Ausgangsspannung des Digital-Analog-Wand ; lers, so ist das NAND-Gatter für Impulse geöffnet Diese gelangen an den Zähler, bis die Spannung des Digital-Analog-Wandlers mit der Eingangsspannung U übereintimmt. Der Zahler zeigt dann den Spannungswert U digital an.If a short conversion time with currently increasing measured values is required, it is advantageous within the scope of the invention to use an analog-digital converter to be connected to the operational amplifier 709, as indicated in FIG. A follow-up principle is particularly suitable for the analog-digital converter, as can be seen from Fig0 3. The voltage is applied to the input of a comparator K U that should be digitized. The other input of the comparator is with the Output voltage of a digital-to-analog converter AD-connected, its digital input is controlled by a counter. If the input voltage U'am comparator K is greater than the output voltage of the digital-to-analog wall; lers, so is the NAND gate opened for impulses These reach the counter until the voltage of the digital-to-analog converter with the input voltage U corresponds. The counter then shows the voltage value U digitally.

Das Linearisierungsverfahren läßt sich für alle Digitalisierungsschaltungen einsetzen, bei denen die analoge Spannung in ent -sprechende Impulszahl umgesetzt wird (Sägezahnverschlüßler,Dual Slope-Verfahren,Spannungs Frequenz Umsetzer,NachlauFverfahren)e Es besteht im Prinzip darin, daß die Impulszahl,die in den Anzeigezähler gelangt, durch einen variablen Teiler beeinflußt wird, dessen jeweiliges Untersetzungsverhältnis wiederum durch den Anzeigezähler gesteuert wird*Das allgemeine Blockschaltbild dieser Einrichtungen ist in der Fig. 3 enthalten. Dabei ist UF ein Teiler mit festem Untersetzungsverhältnis, das entsprechend der gewünschten Linearisierungsgenauigkeit gewählt wirds Fig. 4 zeigt die Schaltung zur digitalen Linearisierung für fünf frei wählbare Meßgrößsnintervallee Sie wurde mit integrierten Digitalschaltkreisen der 74er Serie realisiert. Verschiedene NAND-Verknüpfungen wurden mit DTL-Inverter und vorgeschalteten Dioden gebildet.The linearization method can be used for all digitization circuits use where the analog voltage is converted into the corresponding number of pulses (sawtooth encoder, dual slope method, voltage frequency converter, follow-up method) e It basically consists in the fact that the number of pulses that gets into the display counter is influenced by a variable divider, its respective reduction ratio in turn controlled by the display counter * The general block diagram of this Facilities are shown in FIG. 3. UF is a divider with a fixed reduction ratio, which is selected according to the desired linearization accuracy, see FIG. 4 shows the circuit for digital linearization for five freely selectable measured variable intervals It was implemented with integrated digital circuits from the 74 series. Different NAND links were formed with DTL inverters and upstream diodes.

Zu Beginn eines Meßvorganges werden durch ein L-Signal die vier Dekaden des Anzeigezählers sowie die Flip-Flop-Schaltungen FF1 bis FF4 zurückgesetzt0 Die Flip-FlopSchaltungen FFO und FF5 werden gesetzt. Die Flip-Flop-Schaltung FF5 gibt dann ein Löschsignal für die drei Dekaden des Untersetzers Uv. Sobald das Tor T für Zählimpulse freigegeben wird, löscht die positive Flanke des ersten Impulses die Flip-Flop-Stufe FF5, und mit der Rückflanke des ersten Impulses beginnt die Zählung im Untersetzer, Erreicht dieser die durch die Dioden vorgewählte Zahl UO, so wird erneut die Flip-Flop-Stufe FF5 gesetzt und damit der Untersetzer auf Null zurückgesetzt. Andererseits gelangt in den Anzeigezähler ein Zählimpuls. Die Vorderflanke des folgenden Generatorimpulses löscht wieder die Flip-Flop-Stufe FF5, und der ganze Zyklus wird erneut durchlaufen. Sobald der Anzeigezähler die durch die Dioden vorgewählte Zahl Al erreicht, wird die Flip-Flop-Stufe FFO gelöscht und die Flip-Flop-Stufe FF1 gesetzt. Damit bestimmt für die folgenden Zyklen die Vorwahl U1 das Untersetzungsverhältnis, bis der Anzeigezähler die Vorwahl A2 erreicht. Dieser Vorgang wiederholt sich bis zur Vorwahl A4. Die Anzahl der Vorwahlen kann praktisch beliebig erweitert werden. Dadurch läßt sich jede gewünschte Genauigkeit der Linearisierung erreichen.At the beginning of a measuring process, the four decades are indicated by an L signal of the display counter and the flip-flop circuits FF1 to FF4 are reset Flip-flop circuits FFO and FF5 are set. The flip-flop circuit FF5 there then a clear signal for the three decades of the reducer Uv. As soon as the gate T is enabled for counting pulses, the positive edge of the first pulse is deleted the flip-flop stage FF5, and begins with the trailing edge of the first pulse Counting in the coaster, achieved this one selected by the diodes Number UO, the flip-flop stage FF5 is set again and thus the coaster reset to zero. On the other hand, a counting pulse is sent to the display counter. The leading edge of the following generator pulse clears the flip-flop stage again FF5, and the whole cycle is run through again. As soon as the display counter reaches the When the number A1 preselected by the diodes is reached, the flip-flop stage FFO is deleted and the flip-flop stage FF1 is set. This determines the for the following cycles Preselection U1 the reduction ratio until the display counter reaches preselection A2. This process is repeated up to the area code A4. The number of area codes can be can be expanded practically at will. This allows any desired accuracy of linearization.

Claims

Claims.

Densitometer for top and back measurements, in which the The light coming from the object to be measured comes from a short distance from the surface of the object arranged light guide and added to a light in electrical Transmitting signals converting transducers is characterized in that by a common Lishtquel le (1) a fiber optic path (2, 3) for supplying the for supervisory measurement required light on that upper surface of the object (7) which the light receiving and to the transducer (8) leading light guide (4) facing and a second light guide path (2, 5) for supplying what is required for transparency measurement Light on the opposite surface of the object (7) and facilities (6) are provided to interrupt one or the other light guide path.

2. densitometer according to claim 1, characterized in that a two-armed light guide (2) for dividing the light from the common light source (1) incoming light in two light bundles and to supply one light bundle. one and the other light bundle on the second light guide -path (3, 5) provided is.

Ji Bensitometer according to claim 2, characterized in that the In jeliern of the two fiber optic paths behind the> egg-shaped i armi gn Light guide (2) one that can be optionally set to interrupt one or the other light guide path Aperture (6) and further light guides (3, 5) behind it for feeding in the respective light beam are provided on one or the other surface of the object (7).

4. Densitometer according to one of claims 1 to 3, characterized in that that the light beam leading to the surface of the object (7) for top-view measurement and the light guide leading the light to be measured to the transducer through the two Arms (3, 4) of a two-armed light guide are formed.

5. Densitometer according to one of claims 1 to 4, characterized in that that on the measuring transducer (8) a device (9) for linearizing the electrical Signals are connected at the same time to compensate for the small deviations of the measured values is formed by the deviation of the from the light guides formed measuring arrangement of standardized measuring arrangements occur.

6. densitometer according to claim 5, characterized in that on the Measuring transducer (8) an analog-to-digital converter is connected, in which an electrical Voltage into an analog number of electrical ones going into a display counter Impulse is implemented, with a device for digital Linearization is provided in which the number of pulses reaching the display counter a variable divider is influenced, its respective reduction ratio in turn is controlled by the display counter.

7. densitometer according to claim 6, characterized in that before Display counter a working with different counting decades and NAND links, variable coaster arranged for the number of incoming electrical impulses whose NAND links are each controlled via flip-flop circuits, which are controlled by preselection circuits preformed in the display counter.

8. densitometer according to one of claims 5 to 7, characterized in that that the device connected to the encoder A for linearizing the electrical Signals and compensation of the deviations of the measured values either on or off. switchable Compensating devices for small deviations in the measured values during supervisory measurements and see-through measurement included,

9. densitometer according to any one of claims 1 to 8, characterized in that devices for linearizing the electrical Signals combined with the actual encoder directly in one measuring part are.

10. densitometer according to claim 9, characterized in that the The transducer is a photo field effect transistor and is connected to the gate electrode of this photo field effect transistor a diode with a logarithmic characteristic as the photocurrent in a characteristic for linear density display converting device is connected.

llo densitometer according to claim 9 or 10, characterized in that that the measuring part formed by the measuring transducer and the linearization element has a additional adjustment operational amplifier for linear density characteristics Brought measuring current contains and on this operational amplifier a potentiometer for zero adjustment without a sample in the beam path in front of the encoder and a potentiometer for calibration with the calibration sample inserted in the beam path in front of the transducer connected is.

12. Densitometer according to one of claims 9 to 11, characterized in that that the measuring transducer, which the characteristic of the measuring current in characteristic for linear Density display converting device and, if necessary, the adjustment operational amplifier are inserted into a block kept at a constant temperature.

13. Densitometer according to claim 12, characterized in that the Pressed part an electronic, by means of a PTC thermistor over an operational amplifier controlled thermostat. --- Blank page