DE2202365A1

DE2202365A1 - ARRANGEMENT FOR CAPTURING VALUES STRICTLY OUT OF A SERIES OF MEASUREMENT VALUES

Info

Publication number: DE2202365A1
Application number: DE19722202365
Authority: DE
Inventors: Hans Dipl-Ing Kuerner
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1972-01-19
Filing date: 1972-01-19
Publication date: 1973-07-26
Also published as: IT978220B; NL7300695A; JPS4882871A; CH544929A; FR2168790A5; BE794305A

Description

Anordnung zum Erfassen von aus einer Reihe von Meßwerten sich hervorhebenden WertenArrangement for recording values which stand out from a series of measured values

Die Erfindung "betrifft eine Anordnung zum Erfassen von aus einer Reihe von Meßwerten sich hervorhebenden Werten mit einem Speicher, in den die Meßwerte fortwährend eingeschrieben und aus dem die ältesten Meßwerte ausgegeben werden, und mit einer Auslösevorrichtung, welche die Meßwerte mit Vergleichswerten vergleicht und beim Auftreten von sich hervorhebenden Meßwerten eine Vorrichtung zum Erfassen von Meßwerten an den Speicher anschließt.The invention "relates to an arrangement for detecting from a series of measured values highlighting values with a memory in which the measured values are continuously written and from which the oldest measured values are output, and with a triggering device, which the measured values compares with comparative values and, in the event of the occurrence of highlighted measured values, a device for Acquisition of measured values connects to the memory.

Eine derartige Vorrichtung ist in der "Siemens-Zeitschrift" 1971, Seite 634 ff beschrieben. Die bekannte Vorrichtung, die zur Störwerterfassung dient, speichert den Verlauf von zu beobachtenden Meßgrößen und gibt diesen formgetreu nach einer Verzögerungszeit wieder ab, die so lange ist, daß bei Auftreten einer Störung ein von der Auslösevorrichtung gesteuertes Registriergerät anlaufen und den Beginn der Störung aufzeichnen kann. Der Verlauf der gestörten Meßgrößen kann dann analysiert werden. Die Auslösevorrichtung spricht an, wenn die Amplitude oder die Änderung der Spannung einen vorbestimmten konstanten Wert über- oder unterschreitet.Such a device is in the "Siemens magazine" 1971, page 634 ff. The known device, which is used to record disturbance values, stores the course of the measured variables to be observed and gives them true to form after a delay time which is so long that when a fault occurs, the triggering device is activated can start the controlled recording device and record the start of the fault. The course of the disturbed Measured variables can then be analyzed. The trip device responds when the amplitude or the change the voltage exceeds or falls below a predetermined constant value.

Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zu schaffen, mit der sich in der verschiedensten Weise aus einer Reihe von Meßwerten sich hervorbebende Werte von einem bei Auftritt der Störung anlaufenden Registrier- oder Auswertegerät erfaßt werden können. Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß ein Zusatzspeicher vorgesehen ist, in den die Ver-The present invention has for its object to provide an arrangement with which in the most diverse From a series of measured values, values emerge from one that starts when the fault occurs Registration or evaluation device can be recorded. According to the invention, this object is achieved by that an additional memory is provided in which the

VPA 9/361/2502, Zin/BaVPA 9/361/2502, Zin / Ba

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gleichswerte eingeschrieben und von dessen Ausgang die Vergleichswerte der Auslösevorrichtung zugeführt sind. Die Vergleichswerte können z. B. eine Reihe von ungestörten Meßwerten oder auch von einem Rechner ermittelte Werte sein. Die Auslösung kann erfolgen, wenn die vorgegebene Schwelle zum ersten Mal überschritten wurde oder auch, nachdem eine Anzahl Überschreitungen aufgetreten ist.written equivalent values and from the output of which the comparison values are fed to the release device. The comparison values can e.g. B. a number of undisturbed measured values or determined by a computer Be values. It can be triggered when the specified threshold has been exceeded for the first time or after a number of overruns.

Anhand der Zeichnung werden im folgenden die Erfindung sowie v/eitere Vorteile und Ergänzungen näher erläutert.The invention and other advantages and additions are explained in more detail below with the aid of the drawing.

Es zeigenShow it

Figur 1 das Prinzipschaltbild eines Ausführungsbeispiels der Erfindung undFIG. 1 shows the basic circuit diagram of an exemplary embodiment of the invention and

Figur 2 eine Abänderung der Anordnung nach Figur 1.FIG. 2 shows a modification of the arrangement according to FIG. 1.

In Figur 1 ist mit MW ein Meßstellenwähler bezeichnet, der zyklisch einen der Eingänge M1 ... M6 nach dem anderen an einen Analog-Digital-Umsetzer ADU schaltet..In FIG. 1, MW denotes a measuring point selector which cyclically sends one of the inputs M1 ... M6 after the other switches to an analog-to-digital converter ADU ..

Die Ausgangssignale des Analog-Digital-Umsetzers gelangen einerseits über einen ersten Schalter S1 wahlweise zu einem der Speicher SPI und SPII, andererseits zu einer Auslösevorrichtung AL. In dieser werden die digitalen Ausgangswerte des Analog-Digital-Umsetzers ADU mit den Ausgangswerten des Speichers SPII verglichen. Aufgrund von vorgegebenen Grenzwerten und Auslöseparametern gibt die Auslösevorrichtung AL im Falle, daß sich hervorhebende Meßwerte auftreten, ein Signal an eine Steuereinheit ST, welche die Umschalter S1 und S2 in bestimmter, noch näher zu beschreibender Reihenfolge betätigt. Ferner wird mit dem Ausgangssignal der Auslösevorrichtung AL eine Ausgabeeinrichtung AG durchgeschaltet, welcher die Ausgangssignale des Schalters S4 über einen Digital-Analog-Umsetzer DAU und einen Wahlschalter WS in analoger Form zugeführt werden. Der Wahlschalter WS wird entsprechend dem Meßstellen-The output signals of the analog-digital converter arrive on the one hand via a first switch S1 optionally to one of the memories SPI and SPII, on the other hand to a triggering device AL. In this, the digital output values of the analog-digital converter ADU are combined with the output values of the memory SPII compared. Based on specified limit values and trigger parameters, the Trip device AL in the event that highlighted measured values occur, a signal to a control unit ST, which actuates the switches S1 and S2 in a specific sequence to be described in more detail. Furthermore, with the output signal of the triggering device AL an output device AG through which the output signals of the switch S4 can be supplied in analog form via a digital-to-analog converter DAU and a selector switch WS. The WS selector switch is set according to the measuring point

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wähler MW so weitergeschaltet, daß die auf den Eingangsleitungen M1 ... M6 eintreffenden Analogsignale auf den Ausgabeleitungen A1 ... A6 nach einer durch die Speicher SPI und SPII bestimmten Verzögerungszeit wieder erscheinen. Mit dem Ausgangsimpuls der Auslösevorrichtung AL kann z. B. ein Registriergerät gestartet werden, dessen Anlaufzeit kurzer als die Verzögerungszeit für die Meßwerte ist und das daher trotz seiner endlichen Anlaufzeit die sich hervorhebenden Meßwerte von Beginn ihres Auftretens an aufzeichnen kann.selector MW switched so that the incoming analog signals on the input lines M1 ... M6 on the Output lines A1 ... A6 reappear after a delay time determined by the memories SPI and SPII. With the output pulse of the trigger device AL can, for. B. a recording device can be started, its start-up time is shorter than the delay time for the measured values and that is why the highlighted values despite its finite start-up time Record measured values from the beginning of their occurrence can.

Nach dem kurzen Überblick über die Bausteine der Anordnung nach Figur 1 werden im folgenden sie und ihre Punktionen einzeln näher beschrieben.After the brief overview of the building blocks of the arrangement according to FIG. 1, they and their punctures are described below individually described in more detail.

Im Normalfalle wird man einen Analog-Digital-Umsetzer mit linearer Umsetzcharakteristik verwenden. Nichtlineare Analog-Digital-Umsetzer können»für die logarithmische Verschlüsselung bei Pegelmessungen oder für die Linearisierung der AuRgangsspannungen von Thermoelementen eingesetzt werden. Ferner kann der Analog-Digital-Umsetzer so auegebildet sein, daß unmittelbar der Effektivwert von Wechselspannungen gemessen wird oder daß Meßwerte in mehrere, gleich oder verschieden große Klassen klassifiziert werden. Werden die Meßleitungen M1 ... M6 von verschiedenartigen Meßwertgebern gespeist, so ist erforderlich, daß die Umsetzcharakteristik des Analog-Digital-Umsetzers ADU zusammen mit dem Meßstellenwähler MW umgeschaltet wird.Normally you will have an analog-to-digital converter use linear conversion characteristics. Non-linear analog-to-digital converters can »for logarithmic encryption Used for level measurements or for the linearization of the output voltages of thermocouples will. Furthermore, the analog-digital converter can be designed in such a way that the effective value of AC voltages are measured or that measured values are divided into several classes of the same or different sizes can be classified. If the measuring lines M1 ... M6 are of different types Supplied transducers, it is necessary that the conversion characteristics of the analog-digital converter ADU is switched over together with the measuring point selector MW.

Die Übertragungsbandbreite der Gesamtanordnung ist von der Umsetzzeit des Analog-Digital-Umsetzers ADU und der Anzahl der Kanäle des Meß Stellenwählers MW bestimmt. Theoretisch darf der zeitliche Abstand der Abtastungen höchstens halb so groß sein wie die Periodendauer der höchsten im Signal enthaltenen Teilschwingung, damit der Signalverlauf vollständig wiedergegeben wird. Dies setzt allerdings einen idealen Tiefpaß bei der Digital-Analog-Umsetzung voraus.The transmission bandwidth of the overall arrangement depends on the conversion time of the analog-digital converter ADU and the number of the channels of the measuring position selector MW. Theoretically, the time interval between the scans must not exceed half be as long as the period of the highest partial oscillation contained in the signal, so that the signal course is complete is reproduced. However, this requires an ideal low-pass filter for the digital-to-analog conversion.

309830/069& "⁴ ~309830/069 &" ⁴ ~

- 4 - VPA 9/361/2502- 4 - VPA 9/361/2502

Da ein solcher nicht zu verwirklichen ist, muß die Abtastfrequenz wesentlich höher gewählt werden. Übliche Werte sind Abtastfrequenzen, die um den Faktor 8 bis 10 höher als die höchste Signalfrequenz liegen.Since this cannot be achieved, the sampling frequency can be chosen much higher. Typical values are sampling frequencies that are 8 to 10 times higher than the highest signal frequency.

Die Bandbreite einer Anordnung für mehrkanaligen Betrieb läßt sich dadurch vergrößern, daß jeder Meß stelle ein gesonderter Analog-Digital-Umsetzer zugeordnet und der Meßstellenschalter den verschiedenen Analog-Digital-Umsetzern nachgeschaltet ist. Dadurch erhöht sich die Bandbreite um einen Faktor, der bei gleicher Umsetzzeit der Analog-Digital-Umsetzer etwa der Kanalzahl entspricht. Zusätzlich vereinfacht sich die Ausführung des Meßstellenschalters, da dieser keine analogen Signale, sondern nur Digitalwerte in binärer Form durchschalten muß. The bandwidth of an arrangement for multi-channel operation can be increased in that each measuring point has a separate one Analog-digital converter assigned and the measuring point switch assigned to the various analog-digital converters is downstream. This increases the bandwidth by a factor that of the analog-digital converter with the same conversion time corresponds approximately to the number of channels. In addition, the design of the measuring point switch is simplified, since this does not have to switch through any analog signals, but only digital values in binary form.

Für die Messung von langsam verlaufenden Meßgrößen, z. B. in der Verfahrenstechnik, können auch integrierende Analog-Digital-Umsetzer trotz ihrer langen Verschlüsselungszeit eingesetzt werden. Diese bieten den Vorteil der Mittelwartbildung, der hohen Störunterdrückung und der Potentialtrennung. Derartige Analog-Digital-Umsetzer bestehen z. B. aus einem Spannungs-Frequenz-Uraformer mit einem nachgeschalteten Zähler und einem eine konstante Meßzeit liefernden Generator oder aus einem Spannungs-Zeit-Umformer mit einem Takt- oder einem Zeitbasisgenerator. Die Meßspannung wird in beiden Fällen über die Meßzeit integriert. Schaltet man an den Spannungs-Frequenz-Umformer oder den Taktgenerator eine weitere Zählkette, der die Zählimpulse nicht nur während einer einzigen Meßzeit, sondern über mehrere Meßzeiten zugeführt werden, so lassen sich mit einem einzigen Analog-Digital-Umsetzer der Momentanwert und das Integral einer Meßgröße bilden und als zwei getrennte Wertereihen auf zwei Kanälen speichern und weiterverarbeiten. Ein solcher kombinierter Meßvorgang ist z. B. in Energieversorgungen erwünscht, wo Leistung und gelieferte Geeamtenergie ermittelt werden sollen.For the measurement of slowly moving measurands, e.g. B. in process engineering, integrating analog-to-digital converters can also be used despite their long encryption time. These offer the advantage of central maintenance, high interference suppression and electrical isolation. Such analog-to-digital converters exist z. B. from a voltage-frequency Uraformer with a downstream counter and a generator delivering a constant measuring time or from a voltage-time converter with a clock or a time base generator. In both cases, the measuring voltage is integrated over the measuring time. If you connect another counting chain to the voltage-frequency converter or the clock generator, to which the counting pulses are fed not only during a single measuring time, but over several measuring times, the instantaneous value and the integral of a Form measured variable and save and process further as two separate series of values on two channels. Such a combined measuring process is z. B. desired in energy supplies, where performance and total energy delivered are to be determined.

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Im Normalfalle kann der MeßStellenwähler MV/ zyklisch arbeiten und in jeder Stellung je einen anderen Meßwert zum Analog-Digital-Umsetzer AOU durchschalten. Um die Bandbreite eines einzelnen, besonders interessierenden Meßwertes zu erhöhen, kann dieser während eines Zyklus mehrfach abgetastet werden. Hierzu kann z. B. dieser Meßwert mehreren Eingängen des Meßstellenwählers zugeführt sein. Insbesondere aber dann, wenn die Abtastfolge variabel sein soll, kann der MeßStellenwähler adressengesteuert betrieben werden. Hierzu wird dem Meßstellenwähler eine Kanalfolge eingegeben, welche die Reihenfolge der Abtastung bestimmt. Die Kanalfolge kann mit Hilfe von Zahlenstellern eingestellt werden oder durch Eingabe einer Zahlenfolge von einem Prozeßrechner in Abhängigkeit von einem Programmzustand oder von einem aufgetretenen Sonderfall, wie z. B. Grenzwertüberschreitung, Störung, Alarm- oder Uhrzeit. Bei einem solchen Betrieb muß allerdings zusätzlich zu jedem Meßwert noch seine Kanalnummer gespeichert werden, damit der Wählschalter WS aufgrund dieser Adressen die ihm zugeführten Meßwerte auf die richtigen Kanäle verteilt. Pur einen solchen Betrieb erhöht sich der Aufwand für den Speicher, den Meßstellenwähler MW und den Wahlschalter WS.Normally the measuring point selector MV / can work cyclically and switch through a different measured value to the analog-digital converter AOU in each position. In order to increase the bandwidth of an individual, particularly interesting measured value, it can be scanned several times during a cycle. For this purpose, z. B. this measured value can be fed to several inputs of the measuring point selector. In particular, but if the sampling sequence will be variable, which can be operated MeßStellenwähler address controlled. For this purpose, a channel sequence is entered into the measuring point selector, which determines the sequence of scanning. The channel sequence can be set with the help of number dials or by entering a sequence of numbers from a process computer depending on a program status or on a special case that has occurred, such as. B. Limit value exceeded, malfunction, alarm or time. In such an operation, however, its channel number must be stored in addition to each measured value so that the selector switch WS distributes the measured values supplied to it to the correct channels on the basis of these addresses. Pur such an operation increases the effort for the memory, the measuring point selector MW and the selector switch WS.

Die der Verzögerung dienenden Speicher SPI und SPII arbeiten digital. Statt dessen können auch analoge Verzögerungsleitungen verwendet werden. In diesem Falle können der Analog-Digital-Umsetzer ADU und der Digital-Analog-Umsetzer DAU entfallen. Für die Speicher SPI und SPII werden vorteilhaft integrierte Halbleiterspeicher in bipolarer oder MOS-Technik, vor allem in Form von Schieberegistern verwendet. Zur Synchronisierung der beiden Speicher ist eine besondere, nicht dargestellte Steuerschaltung notwendig. Es ist möglich, durch Verändern der Taktfrequenz der Schieberegister Meßwarte mit hoher Folgefrequenz ein- und mit langsamer Folgefrequenz auszugeben. In einer solchen Betriebsart ist der Datenfluß am Ausgang an langsame Registriergeräte oder die begrenzte Bandbreite von Datenübertragungseinrichtungen angepaßt.The memories SPI and SPII serving for the delay operate digitally. Analog delay lines can also be used instead be used. In this case, the analog-to-digital converter ADU and the digital-to-analog converter can DAU not applicable. Integrated bipolar semiconductor memories are advantageously used for the memories SPI and SPII or MOS technology, mainly used in the form of shift registers. To synchronize the two storages a special control circuit, not shown, is necessary. It is possible by changing the clock frequency the shift register input control room with high repetition frequency and output with slow repetition frequency. In One such operating mode is the data flow at the output to slow recorders or the limited bandwidth of Data transmission equipment adapted.

309830/0695 - 6 -309830/0695 - 6 -

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Umgekehrt Jet es auch möglich, Meßwerte mit niedriger Folgefrequenz einzugeben und schnell auszulesen. Bei einer solchen Betriebsart kann einer der beiden Speicher SPI und SPII oder beide als Bildwiederholungsspeicher für Sichtgeräte dienen. Der Speicher SPII kann z. B. eine wählbare Zeit nach dem Auslösefall durch Schließen einea Schalters S3 rückgekoppelt werden, so daß in ihm die Werte zyklisch umlaufen und auf einem Sichtgerät als stehendes Bild dargestellt werden können.Conversely, it is also possible to take readings with lower jet Enter repetition frequency and read out quickly. In such an operating mode, one of the two memories SPI and SPII or both serve as refresh memory for display devices. The memory SPII can, for. Legs selectable time after triggering by closing a switch S3 are fed back, so that in it the values circulate cyclically and can be displayed on a display device as a stationary image.

In den Speicher SPI der Anordnung nach Figur 1 werden im Normalfalle über den Schalter S1 die Meßwerte eingeschrieben.. Nach einer gewissen Speicherzeit, die etwa gleich der Verzögerungszeit ist, werden die ältesten Meßwerte gelöscht. Dem Speicher SPII werden die Vergleichswerte, über eine Leitung SW und den Schalter S2 zugeführt. Sie können beispielsweise vor Beginn der Überwachung einer Anlage oder eines Netzes, vor dem Start von Dauerversuchen usw. in den Speicher SPII eingeschrieben werden. Ist der Speicher SPII über den Schalter S3 rückgekoppelt, läuft sein Inhalt unverändert und zyklisch um und kann als Sollwertverlauf für die Auslöseschaltung dienen. Die Vergleichswerte können z. B. aus Neuwerten gewonnen werden, die im Normalzustand einer Anlage übermittelt wurden. Sie können auch von einem beliebigen anderen Speicher übernommen oder z. B.'von einem Prozeßrechner per Programm berechnet und danach in den Speicher SPII übertragen werden. In den Speicher SPI werden die Meßwerte mit geringer Folgefrequenz eingeschrieben, damit bei kleinem Speicheraufwand eine lange Speicherzeit erhalten wird. Spricht nach Eintreffen eines sich hervorhebenden Meßwertes die Auslösevorrichtung AL an, so erhält die Steuereinheit ST einen Impuls, auf den sie den Schalter S1 umschaltet, so daß nunmehr die Meßwerte in den Speicher SPII, der mit höherer Taktfrequenz arbeitet, eingeschrieben werden. Gleichzeitig wird der Schalter S3 geöffnet und über den Umschalter S4 der Digital-Analog-Umsetzer DAU an den Speicher SPI ge-In the normal case, the measured values are written into the memory SPI of the arrangement according to FIG. 1 via the switch S1. After a certain storage time, which is approximately the same as the delay time, the oldest measured values become turned off. The comparison values are fed to the memory SPII via a line SW and the switch S2. she can, for example, before starting monitoring of a system or a network, before starting long-term tests etc. can be written into the memory SPII. If the storage tank SPII is fed back via switch S3, its content circulates unchanged and cyclically and can serve as a setpoint curve for the trigger circuit. the Comparison values can e.g. B. can be obtained from new values that were transmitted in the normal state of a system. You can also take over from any other memory or e. B. 'from a process computer by program calculated and then transferred to the memory SPII. The measured values in the memory SPI are lower Repetition frequency written in, so that a long storage time is obtained with a small memory expenditure. Repeats If a highlighted measured value arrives at the triggering device AL, the control unit ST receives a Pulse to which she switches the switch S1, so that the measured values are now in the memory SPII, the one with a higher Clock frequency works, can be written. At the same time, the switch S3 is opened and the changeover switch S4 the digital-to-analog converter DAU to the memory SPI

- γ 309830/0695 - γ 309830/0695

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schaltet. Entsprechend der höheren Taktfrequenz müssen die Meßwerte häufiger verschlüsselt werden. Sind alle Meßwerte aus dem Speicher SPI ausgegeben, schaltet die Steuereinheit ST den Schalter S4 wieder zurück, so daß nunmehr aus dem Speicher SPII die auf das Störungsereignis folgenden Meßwerte dem Digital-Analog-Umsetzer DAU zugeführt werden.switches. According to the higher clock frequency must the measured values are encrypted more frequently. When all measured values are output from the memory SPI, the Control unit ST the switch S4 back again, so that now from the memory SPII the to the fault event The following measured values are fed to the digital-to-analog converter DAU.

Bei einer solchen Betriebsweise kann nach einer vorgewählten Zeit, die etwa gleich der Zeit sein kann, In der der Speicher SPII mit Meßwerten gefüllt Ist, der Schalter S1 wieder umgeschaltet und der Schalter S3 geschlossen werden, so daß nunmehr die sich von den normalen Meßwerten hervorhebenden Meßwerte in dem Speicher SPII umlaufen und wiederholt, z. B. zum Zwecke der Darstellung auf einem Sichtgerät, ausgegeben werden können. In dem Zusatzspeicher SPII wurden also die ursprünglichen Vergleiohswerte durch neue Meßwerte ersetzt.In such an operating mode, after a preselected time, which can be approximately equal to the time, In the the memory SPII is filled with measured values, the switch S1 is toggled again and the switch S3 is closed, so that now the measured values which stand out from the normal measured values circulate in the memory SPII and repeatedly, e.g. B. for the purpose of display on a display device, can be output. In the additional memory So SPII became the original comparison values replaced by new measured values.

Während der Zusatzspeicher SPII in der Anordnung nach Figur 1 dem Speicher SPI parallelgeschaltet ist, kann er in der Anordnung nach Figur 2 mit diesem in Reihe geschaltet werden. Hierzu dient ein Schalter S5, mit-dem der Eingang des Speichers SPII wahlweise an die Leitung SV/, über welche die Vergleichswerte in den Speicher SPII eingeschrieben werden oder an den Ausgang des Speichers SPI geschaltet werden kann. Ferner gestattet der Schalter S5f den Speicher SPII rückzukoppeln und die in ihm enthaltenen V'erte umlaufen zu lassen. Die Auslöse schaltung AL vergleicht wieder die Ausgangswerte des Speichers SPII mit den in den Speicher SPI eingeschriebenen Werten. Zur Einstellung unterschiedlicher Verzögerungszeiten ist der Speicher SPII in mehrere Teilspeicher SPIIa, SPIIb und SPIIc unterteilt. In entsprechender Weise kann auch der Speicher SPI unterteilt sein. Mit einer solchen Anordnung können ebenso wie mit der Anordnung nach Figur 1 die verschiedenartigsten Vergleiche zwischen den Meßwerten undWhile the additional memory SPII is connected in parallel to the memory SPI in the arrangement according to FIG. 1, it can in the arrangement of Figure 2 are connected in series with this. A switch S5, with which the input is used, is used for this purpose of the memory SPII optionally to the line SV /, via which the comparison values are written into the memory SPII or can be switched to the output of the memory SPI. Furthermore, the switch S5f to feed back the memory SPII and to let the V'erte contained in it circulate. The trip circuit AL compares again the output values of the memory SPII with the values written into the memory SPI. To recruitment The memory SPII is divided into several partial memories SPIIa, SPIIb and with different delay times SPIIc divided. The memory SPI can also be subdivided in a corresponding manner. With such an arrangement As with the arrangement according to FIG. 1, the most varied comparisons between the measured values and

3 0 9 8 3 0/0 6'9 5 " ^β "3 0 9 8 3 0/0 6'9 5 " ^β "

- 8·- VPA 9/361/2502- 8 - VPA 9/361/2502

Vergleichswerten 'durchgeführt werden. Es ist z. B. möglich, zwei aufeinanderfolgende Werte derselben Meßstelle zu vergleichen, wobei der Zeitabstand zwischen den beiden Werten unterschiedlich gewählt werden kann, indem von einem beliebigen Teilspeicher die Vergleichswerte abgegriffen werden. Auch können die Meßwerte mit Vergleichewerten verglichen werden, die in dem rückgekoppelten Speicher SPII umlaufen. Ferner können die Meßwerte mit solchen Werten verglichen werden, die vorher durch Datenreduzierung, z. B. Mittelwertbildung verschiedener aufeinanderfolgender Einzelmeßwerte, gebildet wurden.Comparison values' can be carried out. It is Z. B. possible to compare two successive values of the same measuring point, whereby the time interval between the two values can be selected differently by picking up the comparison values from any part of the memory. The measured values can also be compared with comparison values which circulate in the feedback memory SPII. Furthermore, the measured values can be compared with those values which were previously obtained by data reduction, e.g. B. Averaging of various successive individual measured values were formed.

Wie schon erwähnt, startet die Auslöseschaltung AL die Weiterverarbeitung, z. B. das Registrieren oder Fernübertragen der verzögerten Meßwerte. Sie arbeitet grundsätzlich als Vergleicher zwischen der Meßgröße und einem Vergleichswert. Ferner kann die Auslösevorrichtung AI auch so ausgebildet sein, daß in ihr analoge Signale verglichen werden können. In diesem Falle müßte sich an den Ausgang des Meßstellenwählers oder an eine oder mehrere der Meßwertleitungen M1 ... M6 und andererseits an den Ausgang des Digital-Analog-Umsetzers DAU bzw. an eine oder mehrere der Ausgabeleitungen A1 ... A6 angeschlossen sein. Der Vergleich läßt sich auch in Einrichtungen durchführen, die außerhalb der eigentlichen Meßwerterfassungseinheit angeordnet sind, z. B. zusammen mit Grenzkontakten an Stellgliedern, Endlagenschaltern, in Prozeßrechnern per Programm uew. In jedem Falle wird die Auslösung mit einem oder mehreren Impulsen dem Ausgabegerät übermittelt, wodurch die gewünschte Weiterverarbeitung gestartet wird.As already mentioned, the trigger circuit AL starts the Further processing, e.g. B. the registration or remote transmission of the delayed measured values. She basically works as a comparator between the measured variable and a comparison value. Furthermore, the trigger device AI can also be designed so that analog signals can be compared in it. In this case you would have to go to the exit of the measuring point selector or to one or more of the measured value lines M1 ... M6 and on the other hand to the output of the digital-to-analog converter DAU or to one or more of the output lines A1 ... A6. The comparison can also be carried out in devices which are arranged outside the actual measured value acquisition unit are e.g. B. together with limit contacts on actuators, limit switches, in process computers by program uew. In any case, the triggering is transmitted to the output device with one or more impulses, whereby the desired further processing is started.

Der in der Auslöseschaltung AL enthaltene Vergleicher bildet die Differenz zwischen Meß- und Vergleichewert, überschreitet diese Differenz nach Betrag und/oder Vorzeichen einen vorgegebenen Wert, so wird der Auslöseimpuls abgegeben. An die Ausgabeeinrichtung sind die unterschiedlichsten Geräte zur Speicherung oder Weiterverarbeitung der verzögerten Signale anschließbar. Solche Geräte sindThe comparator contained in the trigger circuit AL forms the difference between the measured value and the comparison value, exceeds If this difference in magnitude and / or sign exceeds a predetermined value, the trigger pulse is emitted. A wide variety of devices for storage or further processing are attached to the output device of the delayed signals can be connected. Such devices are

, 3 0 9 8 3 0 / 0 6⁷Q S _ _s _ , 3 0 9 8 3 0/0 6 ⁷ QS _ _s _

- 9 - VPA 9/361/2502- 9 - VPA 9/361/2502

ζ. B. Registriergeräte, Klassiereinrichtungen für statistische Auswertungen, Korrelationseinrichtungen, Sichtgeräte zur analogen Darstellung von Signalverläufen, Fernv/irk- oder Datenübertragungsanlagen, Prozeßrechner oder Digitalspeicher. Beim Anschluß derartiger Geräte kann evtl. der Wahlschalter WS entfallen, falls die angeschlossenen Geräte eigene adressengesteuerte Umschalter enthalten.ζ. B. recorders, classifiers for statistical Evaluations, correlation devices, display devices for the analog display of signal curves, remote control or data transmission systems, process computers or digital memories. When connecting such devices it may be the WS selector switch is not required if the connected devices contain their own address-controlled switches.

5 Patentansprüche
2 Figuren5 claims
2 figures

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309830/0S9B309830 / 0S9B

Claims

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Claims

M ^ / arrangement for acquiring from a series of measured values highlighting values with a memory in which the measured values are continuously written and from which the oldest measured values are output, and with a release device, which the measured values with Compares comparative values and a device for recording when highlighted measured values occur of measured values connected to the memory, characterized in that an additional memory (SPII) is provided, in which the comparison values are written and from its output the comparison values the release device (AL) are supplied.

2. Arrangement according to claim 1, characterized in that the additional memory (SPII) has a larger capacity than the first memory (SPI) and the values contained in it with a correspondingly higher frequency and read out.

3. Arrangement according to claim 1 or 2, characterized in that the output of the additional memory (SPII) the input can be fed back.

4. Arrangement according to claim 2 or 3, characterized in that the additional memory (SPII), from the trigger circuit (AL) controlled, when highlighting measured values occur at an input device (MW, ADU) of the measured values is switchable and that, if the measured values contained in the first memory (SPI) from this are output, the device for recording the measured values is connected to the additional memory (SPII).

5. Arrangement according to claim 1, characterized in that the additional memory (SPII), from the trigger circuit

- 11 -

309830/0896309830/0896

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(AL) controlled, "when there are prominent ones Measured values can be interconnected with the first memory (SPI) to form a single memory into which the Measured values can be written in at a higher frequency and at the output of the device for detecting Measured values can be connected.

309830/069&309830/069 &