DE2122878C3 - Four-phase delay unit - Google Patents

Four-phase delay unit

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DE2122878C3 DE19712122878 DE2122878A DE2122878C3 DE 2122878 C3 DE2122878 C3 DE 2122878C3 DE 19712122878 DE19712122878 DE 19712122878 DE 2122878 A DE2122878 A DE 2122878A DE 2122878 C3 DE2122878 C3 DE 2122878C3
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Jean Martial Paris; Fernandez Claude-Jane Montrouge Hauts-de-Seine; Ducamus (Frankreich)
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Description

Kx = - Kx = -

C,C,

annehmen wird, siehe F i g. 2d. Im Zeitintervall (U - fs) ist die Spannung am Ausgang Φ4 der Schaltspannungsquelle gleich —fund dies ist zugleich die Spannung an dem Gate des Transistors M5. Die Spannung an der Kapazität G2 beträgt auch - £ Der Transistor M5 wird im letztgenannten Zeitintervall nichtleitend sein, und die Spannung an der Speicherkapazität entspricht weiterhin -E, siehe Fig.2g. Letzteres gilt nur, wenn dafür gesorgt wird, daß die Spannung an der Speicherkapazität Ci gemäß der Beziehung (1) kleiner bleibt als die Schwellenspannung des Transistors M6. Das bedeutet, daß Ci > Cd sein muß und die Spannung £ nicht zu hochwill assume, see FIG. 2d. In the time interval (U - fs) the voltage at the output Φ 4 of the switching voltage source is the same - and this is also the voltage at the gate of the transistor M 5 . The voltage across the capacitance G 2 is also - £ The transistor M 5 will be non-conductive in the last-mentioned time interval, and the voltage across the storage capacitance continues to correspond to -E, see FIG. 2g. The latter only applies if it is ensured that the voltage across the storage capacitance Ci according to relation (1) remains lower than the threshold voltage of the transistor M 6 . This means that Ci > Cd and the voltage £ must not be too high

gewählt werden darf. In denjenigen Fällen jedoch, in denen der Kapazitätswert der Speicherkapazität Q mit fern der Streukapazität Q vergleichbar wird, tritt die Gefahr auf, daß der Transistor M6 im Zeitintervall (fr - fc) leitend wird. Dadurch wird die Kapazität C2 auf 0 Volt entladen werden und das bedeutet, daß die in der Kapazität Q gespeicherte Information (0 Volt = Binärziffer 0) nicht mehr der dem Eingang der Verzögerungseinheit angebotenen Information (-£ S= Binärziffer 1) entspricht, siehe Fig.2g gestrichelte linie. Der Kapazitätswert der Speicherkapazität Q muß also für eine sichere Funktion genügend groß gegenüber der Streukapazität Cd sein, wobei letztere jedoch durch den Aufbau weitgehend festgelegt ist Andererseits bestimmt der Kapazitätswert der Speicherkapazität die Geschwindigkeit der Verzögerungseinheit Daher ist diese bekannte Verzögerungseinheit also für hohe Schaltfrequenzen ungeeignet may be chosen. In those cases, however, where the capacitance value of the storage capacity Q with remote from the stray capacitance Q is comparable occurs the danger that the transistor M 6 in the time interval (fr - fc) is conductive. As a result, the capacitance C 2 will be discharged to 0 volts and that means that the information stored in the capacitance Q (0 volts = binary digit 0) no longer corresponds to the information offered at the input of the delay unit (- £ S = binary digit 1), see Fig.2g dashed line. The capacity value of the storage capacity Q must therefore be sufficiently large compared to the stray capacity Cd for reliable operation, although the latter is largely determined by the structure.On the other hand, the capacity value of the storage capacity determines the speed of the delay unit

Aufgabe der Erfindung ist es, die im Oberbegriff des Patentanspruchs 1 angegebene Verzögerungseinheit so auszugestalten, daß sie für höhere Schaltfrequenzen geeignet ist, indem der zulässige Minimalwert der Speicherkapazität herabgesetzt wird. Diese Aufgabe löst die Erfindung durch die im Patentanspruch 1 angegebenen Merkmale.The object of the invention is to provide the in the preamble of Design claim 1 specified delay unit so that it can be used for higher switching frequencies is suitable by lowering the minimum allowable value of the storage capacity. This task solves the invention by the features specified in claim 1.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den weiteren Zeichnungen dargestellt Es zeigtAn embodiment of the invention is shown in the further drawings

F i g. 3 eine erfindungsgemäße VerzögerungseinheitF i g. 3 shows a delay unit according to the invention

F i g. 4 ein Diagramm zur Erläuterung der Wirkungsweise der Verzögerungseinheit nach F i g. 3.F i g. 4 shows a diagram to explain the mode of operation of the delay unit according to FIG. 3.

Die Verzögerungseinheit nach Fig.3 enthält zwei Stufen I und II. Der erste Transistor aus der ersten Stufe wird durch den Feldeffekttransistor M\ und der zweite Transistor durch den Feldeffekttransistor M2 gebildet Das Gate des Transistors M ist mit dem Taktimpulsleiter 2 verbunder, der mit dem Ausgang Φ2 einer Schaltspannungsquelle S verbunden ist Die Drain des Transistors Mi ist über die Hauptstrombahn des Feldeffekttransistors M3 mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden, der mit dem Ausgang Φι der Schaltspannungsquelle 5 verbunden ist Die Source des Transistors Mt ist mit der Drain des Transistors M2 verbunden, dessen Source über die Hauptstrombahn des Transistors M9 mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden ist Die Drain des Transistors M2 ist über die Hauptstrombahn des Transistors M4 mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden, der mit dem Ausgang Φ3 der Schaltspannungsquelle S verbunden ist Die Drain des Transistors M] ist mit der Speicherkapazität Q verbunden. Das binäre Eingangssignal V, wird dem Gate des Transistors Mi zugeführt Der erste Transistor aus der zweiten Stufe wird durch den Feldeffekttransistor M5 und der zweite Transistor durch den Feldeffekttransistor M6 gebildet. Das Gate des Transistors Af5 ist mit dem Taktimpulsleiter 4 verbunden, der mit dem Ausgang Φ4 der Schaltspannungsquelle 5 verbunden ist. Die Drain des Transistors Ms ist über die Hauptstrombahn des Feldeffekttransistors M7 dem Taktimpulsleiter 3 verbunden. Die Source des Transistors M5 ist mit der Drain des Transistors Me verbunden, dessen Source über die Hauptstrombahn des Transistors Mio mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden ist. Die Drain des Transistors M6 ist über die Hauptstrombahn des Transistors Me mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden. Die Drain des Transistors M5 ist mit der Speicherkapazität C2, und das Gate des Transistors Me ist mit der Speicherkapazität C\ verbunden. Die Wirkungsweise dieser Verzögerungseinheit ist wie folgt The delay unit according to Figure 3 contains two stages I and II. The first transistor from the first stage is formed by the field effect transistor M \ and the second transistor by the field effect transistor M 2 the output Φ 2 of a switching voltage source S is connected The drain of the transistor Mi is connected via the main current path of the field effect transistor M 3 to the clock pulse conductor 1, which is connected to the output Φι of the switching voltage source 5. The source of the transistor Mt is connected to the drain of the transistor M. 2 , whose source is connected to the clock pulse conductor 1 via the main current path of the transistor M9 The drain of the transistor M 2 is connected via the main current path of the transistor M 4 to the clock pulse conductor 3, which is connected to the output Φ3 of the switching voltage source S. The drain of the The transistor M] is connected to the storage capacitance Q. The binary input signal V, is fed to the gate of the transistor Mi. The first transistor from the second stage is formed by the field effect transistor M5 and the second transistor is formed by the field effect transistor M 6 . The gate of the transistor Af 5 is connected to the clock pulse conductor 4, which is connected to the output Φ 4 of the switching voltage source 5. The drain of the transistor Ms is connected to the clock pulse conductor 3 via the main current path of the field effect transistor M 7. The source of the transistor M5 is connected to the drain of the transistor Me, the source of which is connected to the clock pulse conductor 3 via the main current path of the transistor Mio. The drain of the transistor M 6 is connected to the clock pulse conductor 1 via the main current path of the transistor Me. The drain of the transistor M 5 is connected to the storage capacitance C 2 , and the gate of the transistor Me is connected to the storage capacitance C \ . The operation of this delay unit is as follows

Vorausgesetzt wird wieder, daß dem Gate des Transistors M2 die Binärziffer 1 (= -£) angeboten wird, siehe Fig.4c. Im Zeitintervall (it - f2) ist die Spannung an den Ausgängen Φι und Φ2 der Schaltspannungsquelle S gleich —E, siehe Fig.4a und 4b. In diesem Zeitintervall ist der Transistor M3 leitend und die Speicherkapazität G wird aufgeladen, bis die Spannung an der Kapazität gleich —E ist, siehe Fig.4d In demselben Zeitintervall ist der Transistor Ma aus der zweiten Stufe auch leitend. Dies hat zur Folge, daß die Streukapazität Cn zwischen der Drain und dem Substrat des Transistors Me aufgeladen wird, bis die SpannungIt is again assumed that the binary digit 1 (= - £) is offered to the gate of transistor M 2, see FIG. 4c. In the time interval (i t - f 2 ) the voltage at the outputs Φι and Φ 2 of the switching voltage source S is equal to —E, see FIGS. 4a and 4b. In this time interval, the transistor M 3 is conductive and the storage capacitance G is charged until the voltage across the capacitance is equal to —E , see FIG. 4d. In the same time interval, the transistor Ma from the second stage is also conductive. As a result, the stray capacitance Cn between the drain and the substrate of the transistor Me is charged until the voltage

ι s daran gleich - Eist Da das Aufladen der Speicherkapazität Ci und der Kapazität Ca in demselben Zeitintervall stattfindet wird die Spannung an der Streukapazität Ca zwischen der Drain und dem Gate des Transistors Af6 gleich 0 Volt sein. Im Zeitintervall (i2 - *3) sind die Transistoren Mi und M? leitend, wodurch die Speicherkapazität Ci wieder entladen wird, bis die Spannung an dieser Kapazität gleich 0 Volt ist siehe F i g. 4d. Da die Spannung an der Drain des Transistors Mb im betreffenden Intervall gleich - Eist siehe F i g. 4b, wird am Ende des genannten Intervalls die Spannung an der Kapazität Cd gleich -E sein. Es findet also im genannten Intervall keine Ladungsverteilung zwischen der Speicherkapazität Ci und der Streukapazität Cd statt Die Spannung an der Speicherkapazität C1 ist also vom Verhältnis zwischen den Kapazitätswerten der Kapazitäten C und Cd unabhängig. Dies hat zur Folge, daß, wenn man eine sehr schnelle Verzögerung!>ciiiheit realisieren will, die Speicherkapazität Ci beliebig klein gemacht werden kann, beispielsweise 0,01 pF. Die weitere Übertragung der in der Speicherkapazität Cl gespeicherten Information zur Speicherkapazität C2 ist der entsprechenden Übertragung der in der Speicherkapazität C2 gespeicherten Information aus der bekannten Verzögerungseinheit nach F i g. 1 analog. Vollständigkeitshalber ist dies in Fig.4e bis 4g noch näher dargestellt. Die Source des Transistors Me ist über die Hauptstrombahn des Transistors Mw mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden. Dadurch ist dafür gesorgt daß der Transistor M6 in den Phasen Φι und Φ2 des Taktimpulssignals nie leitend werden kann. Die Source des Transistors M2 ist über die Hauptstrombahn des Transistors M9 mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden, damit der Transistor M2 in den Phasen Φ3 und Φ4 des Taktimpulssignals nie leitend wird.Since the charging of the storage capacitance Ci and the capacitance Ca takes place in the same time interval, the voltage across the stray capacitance Ca between the drain and the gate of the transistor Af 6 will be equal to 0 volts. In the time interval (i 2 - * 3) the transistors Mi and M? conductive, as a result of which the storage capacitance Ci is discharged again until the voltage across this capacitance is equal to 0 volts see FIG. 4d. Since the voltage at the drain of the transistor M b in the relevant interval is equal to - E, see FIG. 4b, the voltage across the capacitance C d will be equal to -E at the end of the said interval. There is therefore no charge distribution between the storage capacitance Ci and the stray capacitance Cd in the interval mentioned. The voltage across the storage capacitance C 1 is therefore independent of the ratio between the capacitance values of the capacitances C and Cd. This has the consequence that, if one wants to realize a very fast delay!> Ciiiheit, the storage capacity Ci can be made as small as desired, for example 0.01 pF. The further transmission of the information stored in the storage capacity C1 to the storage capacity C 2 is the corresponding transmission of the information stored in the storage capacity C 2 from the known delay unit according to FIG. 1 analog. For the sake of completeness, this is shown in more detail in FIGS. 4e to 4g. The source of the transistor Me is connected to the clock pulse conductor 3 via the main current path of the transistor Mw. This ensures that transistor M 6 can never become conductive in phases Φι and Φ 2 of the clock pulse signal. The source of the transistor M 2 is connected to the clock pulse conductor 1 via the main current path of the transistor M9 , so that the transistor M 2 never becomes conductive in phases Φ3 and Φ 4 of the clock pulse signal.

In dem in Fig.3 dargestellten Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Verzögerungseinheit ist die Drain des Transistors M2 über die Hauptstrombahn des Transistors M4 mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden. Es ist jedoch auch möglich, die Drain des Transistors M2 über den Transistor M4 mit dem Taktimpulsleiter 4 zu verbinden. Auf ähnliche Waise kann die Source des Transistors M2 über die Hauptstrombahn des Transistors M9 mit dem Taktimpulsleiter 2 statt mit dem Taktimpulsleiter t verbunden werden. Die Drain des T ι ansistors M6 kann auch über die Hauptstrombahn des Transistors Ms mit dem Taktimpulsleiter 2 statt mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden werden. Auf gleiche Weise kann die Source des Transistors Mö über die Hauptstrombahn des Transistors Mi0 mit dem Taktimpulsleiter 4 statt mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden werden.In the exemplary embodiment of the delay unit according to the invention shown in FIG. 3, the drain of the transistor M 2 is connected to the clock pulse conductor 3 via the main current path of the transistor M 4. However, it is also possible to connect the drain of the transistor M 2 to the clock pulse conductor 4 via the transistor M 4. In a similar way, the source of the transistor M 2 can be connected via the main current path of the transistor M 9 to the clock pulse conductor 2 instead of to the clock pulse conductor t. The drain of the transistor M 6 can also be connected to the clock pulse conductor 2 instead of the clock pulse conductor 1 via the main current path of the transistor Ms. In the same way, the source of the transistor Mö can be connected to the clock pulse conductor 4 instead of the clock pulse conductor 3 via the main current path of the transistor Mi 0.

Hierzu 3 Blatt ZeichnungenFor this purpose 3 sheets of drawings

Claims (2)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Vier-Phasen-Verzögerungseinheit aus einer Reihenschaltung mindestens einer ersten and einer s zweiten Stufe, die je mindestens einen ersten und einen zweiten Feldeffekttransistor enthalten, wobei jeweils die Source des ersten Transistors mit der Drain des zweiten Transistors und mit für beide Stufen unterschiedlichen Taktimpulsleitungen verbunden ist und die Drain des ersten Transistors aus der erste» Stufe mit dem Gate des zweiten Transistors aus der zweiten Stufe und mit einer Speicherkapazität verbunden ist und das Gate des zweiten Transistors aus der ersten Stufe ein binäres Signal erhält, wobei ferner die Drain des ersten Transistors und die Source des zweiten Transistors der ersten Stufe mit einem ersten Taktimpulsleiter und das Gate des ersten Transistors mit einem zweiten Taktimpulsleiter verbunden ist und die Drain des ersten Transistors und die Source des zweiten Transistors der zweiten Stufe mit einem dritten Taktimpulsleiter und das Gate des ersten Transistors mit einem vierten Taktimpulsleiter verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Source des ersten Transistors (Mi, Ms) bei der ersten Stufe (I) mit dem dritten (3) oder vierten Taktimpulsleiter (4) und bei der zweiten Stufe (II) mit dem ersten (1) oder zweiten Taktimpulsleiter (2) verbunden ist, und daß zwischen der Source des zweiten Transistors (Mt, Me) beider Stufen (I, II) und dem zugehörigen Taktimpulsleiter je ein dritter Transistor (M% Mw) angeordnet ist, der gesperrt ist, wenn bei der ersten Stufe der erste (1) und der zweite Taktimpulsleiter (2) und bei der zweiten Stufe der dritte (3) und der vierte Taktimpulsleiter (4) jeweils gleichzeitig einen Taktimpuls fuhren.1. Four-phase delay unit from a series circuit of at least a first and a second stage, each containing at least a first and a second field effect transistor, the source of the first transistor with the drain of the second transistor and with different clock pulse lines for both stages and the drain of the first transistor from the first »stage is connected to the gate of the second transistor from the second stage and to a storage capacitance and the gate of the second transistor from the first stage receives a binary signal, the drain of the first The transistor and the source of the second transistor of the first stage are connected to a first clock pulse conductor and the gate of the first transistor to a second clock pulse conductor and the drain of the first transistor and the source of the second transistor of the second stage to a third clock pulse conductor and the gate of the first Transistor with a fourth clock pulse conductor is connected, characterized in that the source of the first transistor (Mi, Ms) in the first stage (I) with the third (3) or fourth clock pulse conductor (4) and in the second stage (II) with the first ( 1) or second clock pulse conductor (2) is connected, and that a third transistor (M% Mw) is arranged between the source of the second transistor (Mt, Me) of both stages (I, II) and the associated clock pulse conductor, which is blocked when the first (1) and second clock pulse conductor (2) in the first stage and the third (3) and fourth clock pulse conductor (4) in the second stage each have a clock pulse at the same time. 2. Vier-Phasen-Verzögerungseinheit nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Source des ersten Transistors (M,, Ms) beider Stufen über jeweils einen vierten Transistor (M«, Me) mit dem zugehörigen Taktimpulsleiter (3,1) verbunden sind.2. Four-phase delay unit according to claim 1, characterized in that the source of the first transistor (M ,, Ms) of both stages via a fourth transistor (M «, Me) are connected to the associated clock pulse conductor (3,1) . 4545 Die Erfindung betrifft eine Vier-Phasen-Verzögerungseinheit nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1. Eine solche Verzögerungseinheit, die insbesondere für dynamische Vier-Phasen-Logiksysteme, wie beispielsweise Schieberegister, geeignet ist, ist aus der DT-OS Ol 886 bekannt und in Fig.! dargestellt. Diese bekannte Verzögerungseinheit enthält zwei Stufen I und II. Der erste Transistor aus der ersten Stufe wird durch den Feldeffektttansistor Mi und der zweite Transistor durch den Feldeffekttransistor Mt gebildet Das Gate des Transistors M\ ist mit dem Taktimpulsleiter 2 verbunden, der mit dem Ausgang Φ2 einer Schaltspannungsquelle S verbunden ist Die Drain des Transistors M, ist über die Hauptstrombahn des Feldeffekttransistors M3 mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden, der mit dem Ausgang Φι der Schaltspannungsquelle 5 verbunden ist. Die Source des Transistors Mi ist mit der Drain des Transistors Mi verbunden, dessen Source mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden ist. Die Drain des Transistors M2 ist über die Hauptstrombahn des Transistors M4 mit dem Taktimpulsleiter 1 verbunden. Die Drain des Transistors Mi ist mit derThe invention relates to a four-phase delay unit according to the preamble of claim 1. Such a delay unit, which is particularly suitable for dynamic four-phase logic systems, such as shift registers, is known from DT-OS Ol 886 and is shown in FIG. ! shown. This known delay unit contains two stages I and II. The first transistor from the first stage is formed by the field effect transistor Mi and the second transistor by the field effect transistor Mt. The gate of the transistor M \ is connected to the clock pulse conductor 2 , which is connected to the output Φ 2 a switching voltage source S is connected. The drain of the transistor M is connected via the main current path of the field effect transistor M 3 to the clock pulse conductor 1, which is connected to the output Φι of the switching voltage source 5. The source of the transistor Mi is connected to the drain of the transistor Mi , the source of which is connected to the clock pulse conductor 1. The drain of the transistor M 2 is connected to the clock pulse conductor 1 via the main current path of the transistor M 4. The drain of the transistor Mi is with the Speicherkapazität Ck verbunden. Das binäre Eingangssignal Vi wird dem Gate des Transistors Mt zugeführt Der erste Transistor aus der zweiten Stufe wird durch den Feldeffekttransistor M5 und der zweite Transistor durch den Feldeffekttransistor M6 gebildet Das Gate des Transistors Af5 ist mit dem Taktimpulsleiter 4 verbunden, der mit dem Ausgang Φ* der Schaltspannungsquelle S verbunden ist Die Drain des Transistors Ms ist über die Hauptstrombahn eines Feldeffekttransistors Mi mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden, der mit dem Ausgang Φ3 der Schaltspannungsquelle 5 verbunden ist Die Source des Transistors Af5 ist mit der Drain des Transistors Me verbunden, dessen Source mit dem Taktimpulsleiter 3 verbunden ist Die Drain des Transistors M6 ist über die Hauptstrombahn des Transistors M8 mit aem Taktimpulsleiter 3 verbunden. Die Drain des Transistors M5 ist mit der Speicherkapazität Ci und das Gate des Transistors M6 ist mit der Speicherkapazität Q verbunden. Die Wirkungsweise der bekannten Verzögerungseinheit wird anhand des Diagramms in F i g. 2 erläutertStorage capacity Ck connected. The binary input signal Vi is supplied to the gate of the transistor MT is supplied to the first transistor of the second stage through the field effect transistor M5 and the second transistor is formed by the field effect transistor M 6 The gate of transistor Af 5 is connected to the clock pulse conductor 4, connected to the output Φ * of the switching voltage source S is connected The drain of the transistor Ms is connected via the main current path of a field effect transistor Mi to the clock pulse conductor 3, which is connected to the output Φ 3 of the switching voltage source 5. The source of the transistor Af 5 is connected to the drain of the transistor Me , the source of which is connected to the clock pulse conductor 3. The drain of the transistor M 6 is connected to aem clock pulse conductor 3 via the main current path of the transistor M 8. The drain of the transistor M 5 is connected to the storage capacity Ci and the gate of the transistor M 6 is connected to the storage capacity Q. The mode of operation of the known delay unit is illustrated using the diagram in FIG. 2 explained Vorausgesetzt wird, daß das binäre Eingangssignal, das dem Gate des Transistors Mt zugeführt wird, die Binärziffer 1 ist (-E), siehe Fig.2a Im Zeitintervall (ti - f2) ist die Spannung am Ausgang Φι der Schaltspannungsquelle S gleich - £ siehe F i g. 2a. Der Transistor M3 wird in diesem Intervall leitend sein und die Speicherkapazität G wird aufgeladen, bis die Spannung daran -E beträgt In dem genannten Zeitintervall ist zugleich der Transistor M4 leitend, wodurch die Kapazität Cs) zwischen der Drain des Transistors Mt und dem Substrat (Erde) aufgeladen wird, bis die Spannung daran gleich -E ist Im Zeitintervall (ti - t3) ist die Spannung an dem Gate der Transistoren Mi und M2 gleich - E, siehe F i g. 2b und 2c. Dadurch sind diese Transistoren leitend, und in diesem Zeitintervall wird die Speicherkapazität Q entladen weden, bis die Spannung daran gleich 0 Volt ist siehe Fig.2d Im Zeitintervall (h - Üjist die Spannung am Ausgang Φ3 der Schaltspannungsquelle 5 gleich - £ siehe Fig.2e. Die Transistoren M7 und M8 werden dadurch leitend sein. Die Speicherkapazität C2 wird über den Transistor Mr aufgeladen, bis die Spannung daran gleich -E ist, siehe Fig.2g, una die Kapazität Ca zwischen der Drain des Transistors M6 und dem Substrat (Erde) wird über den Transistor M8 aufgeladen, bis die Spannung daran gleich -E ist Letzteres bedeutet zugleich, daß die Spannung an der Reihenschaltung aus der Speicherkapazität Q und der Kapazität d zwischen dem Gate und der Drain des Transistors M6 gleich - E wird. Dies hat zur Folge, daß die Spannung an der Speicherkapazität Ci den WertIt is assumed that the binary input signal which is fed to the gate of the transistor Mt is the binary digit 1 (-E), see Fig.2a In the time interval (ti - f 2 ) the voltage at the output Φι of the switching voltage source S is equal to - £ see Fig. 2a. The transistor M 3 will be conductive during this interval and the memory G is charged until the voltage across it is -E in said time interval, transistor M 4 at the same time is conductive, whereby the capacitance C s) between the drain of the transistor MT and the Substrate (earth) is charged until the voltage across it is equal to -E In the time interval (ti -t 3 ) the voltage at the gate of the transistors Mi and M 2 is equal to -E, see FIG. 2b and 2c. As a result, these transistors are conductive, and in this time interval the storage capacity Q is discharged until the voltage across it is equal to 0 volts see Fig. 2d In the time interval (h - Üj the voltage at the output Φ3 of the switching voltage source 5 is the same - £ see Fig. 2e. the transistors M 7 and M 8 are thereby be conductive. the storage capacitor C 2 is charged via the transistor Mr until the voltage across it is equal to -E, see Fig.2g, una the capacitance C a between the drain of transistor M 6 and the substrate (earth) is charged via the transistor M 8 until the voltage across it is equal to -E . The latter also means that the voltage across the series circuit of the storage capacitance Q and the capacitance d between the gate and the drain of the transistor M. 6 equals - E. This has the consequence that the voltage across the storage capacitance Ci has the value
DE19712122878 1970-05-13 1971-05-08 Four-phase delay unit Expired DE2122878C3 (en)

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