DE2119370A1

DE2119370A1 - Method for step-by-step testing of the functions of a digital assembly, as well as switching arrangements and devices for carrying out the method

Info

Publication number: DE2119370A1
Application number: DE19712119370
Authority: DE
Inventors: Dieter August 2800 Bremen. M Müller
Original assignee: Fried Krupp AG
Current assignee: Fried Krupp AG
Priority date: 1971-04-21
Filing date: 1971-04-21
Publication date: 1972-12-14

Description

Verfahren zum schrittweisen Prüfen der Funktionen einer digitalen Baugruppe, sowie Schaltanordnungen und Vorrichtungen zum Ausüben des Verfahrens. Procedure for the step-by-step testing of the functions of a digital Assembly, as well as switching arrangements and devices for carrying out the method.

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zu in einzelnen aufeinanderfolgenden Prüfschritten erfolgendem schrittweisen Prüfen der Funktionen von jeweils einer digitalen Baugruppe, insbeßondere bei in Serien größerer Stückzahl vorliegenden oder herzustellenden Baugruppen aus vielen logisch miteinander verknüpften digitalen Funktionsteilen und mit einer Mehrzahl von Anschlüssen für elektrische Signale, vorzugsweise mit Signalausgängen für Signale in Form digitaler statischer Signalzustände und mit Signaleingängen für Signale in Form wahlweise digitaler statischer Signalzustände oder digitaler Puisfolgen vorgebbarer Anzahl, unter Verwendung von aus den schaltungsmäßigen Verknüpfungen der Funktionsteile (Aufbau der Baugruppe) hergeleiteten Testkriterien für zu Prüfachritten zusainengefaßte Teilschritte, sowie Schaltanordnungen und Vorkichtungen zum Ausüben dieses Verfahrens0 Durch die Verwendung von integrierten digitalen Schaltkreisen aus untereinander logisch verknüpften Funktionsteilen einer Baugruppe - beispielsweise in Form einer gedruckten Schaltkarte mit angebrachten und untereinander sowie mit den Anschlüssen der Baugruppe (z.B. mit einer Kontaktleiste) über Schaltbahnen verschalteten Bausteinen in integrierter Technik -ist die sogenannte Packungadichte bei den Schaltungen und Funktionsteilen der Digitaltechnik erheblich angestiegen und damit auch die Komplexität der Funktionen je einer solchen Baugruppe angewachsen. Diese Tendenz hält mit zunehmender Integrierung, also mit zunehmender Abkehr von der herkbulichen Schaltungstechnik unter Verwendung diskreter elektronischer Bauelemente, an. Durch diese Zunahme der in einer einzelnen Baugruppe, z0B.The invention relates to a method for in individual successive Test steps, step-by-step testing of the functions of one at a time digital assembly, especially in the case of larger numbers in series or assemblies to be produced from many logically linked digital Functional parts and with a plurality of connections for electrical signals, preferably with signal outputs for signals in the form of digital static signal states and with signal inputs for signals in the form of optionally digital static signal states or digital pulse sequences of a predeterminable number, using from the circuit-related Links of the functional parts (structure of the assembly) derived test criteria for sub-steps combined into test steps, as well as switching arrangements and precautions to practice this procedure 0 By using built-in digital circuits made up of function parts that are logically linked to one another Assembly - for example in the form of a printed circuit card with attached and with each other as well as with the connections of the assembly (e.g. with a contact strip) Components connected via circuit paths in integrated technology -is the so-called Packing density in the circuits and functional parts of digital technology is considerable increased and with it the complexity of the functions of such an assembly grown. This tendency continues with increasing integration, i.e. with increasing Moving away from traditional circuit technology using discrete electronic Components. Due to this increase in the in a single assembly, z0B.

einer Leiterplatte, zusammengefaßten Funktionen wird auch der zeitliche Aufwand zum Prüfen solcher Baugruppen, sei es nach Abschluß der Entwicklung vor Aufnahme der Serienfertigung oder im Zuge der Prüfungen während der Serienfertigung, zunehmend zeitraubender, und es ist aus Aufwandsgründen oft kaum noch eine lückenlose Prüfung im Hinblick auf sämtliche mit der Baugruppe ausführbare Funktionen möglich. Bei der Komplexität moderner Anlagen mit Funktionsteilen der digitalen Datentechnik ist aber zuverlässige Vor- und Zwischenprüfung anzustreben, um Fehler schon im frühesten Baustadium zu erkennen, denn in einer fertig erstellten gesamten Anlage sind sonst die Fehlermöglichkeiten zu zahlreich, um rasch die Fehlerquelle oder gar zusammenwirkende Fehlerquellen einkreisen zu können.a circuit board, summarized functions is also the temporal Expenditure for testing such assemblies, be it after the development has been completed Start of series production or in the course of tests during series production, increasingly time-consuming, and for reasons of effort it is often hardly a complete one Testing possible with regard to all functions that can be carried out with the module. With the complexity of modern systems with functional parts of digital data technology However, reliable preliminary and intermediate tests should be aimed for in order to detect errors at the earliest The construction stage can be recognized, because otherwise in a completed entire system the possible errors too numerous to quickly identify the source of error or even to be able to isolate interacting sources of error.

Ein besonderer Mangel der herkömmlichen Prüfverfahren besteht in erheblicher Zurichtzeit für das Prüfen, also in der Vorbereftungszeit zum Aufbau einer Prüfanordnung einschließlich der Bereitstellung der Geräte für Testsignalabgabe und für Messen der Funktionen der jeweiligen Baugruppe. Ein weiterer Mangel der gegenwärtig überwiegend gebräuchlichen Verfahren herkömmlicher Baugruppen-PrUfungen besteht darin, daß beim manuellen Durchführen solcher Prüfungen, insbesondere beim Durchführen von Reihenprüfungen einer großen Anzahl gleicher Baugruppen, nichtreproduzierbare Bedienungsfehler und vor allem nicht überprüfbare Auslassungen an einzelnen zu prüfenden Stükken dieser Baugruppen vorkommen können. Schließlich haftet der herkömmlichen manuellen Prüfmethode der erhebliche Nachteil an, daß vor Beginn der Serienprüfungen - und damit in der Regel praktisch eine erhebliche Zeitspanne nach Abschluß der labormäßigen Entwicklungsarbeiten zum Erstellen der einzelnen Baugruppe - aufgrund des dem Aufbau (d.h. der Schaltung) der Baugruppe zugrundeliegenden Funktionsplanes ein spezielles Protokoll als Prüftorschrift aufgestellt werden muß, in das die verschiedenen logischen Abhängigkeiten, nämlich Eingangsbedingungen und die zugehörigen, aufgrund dieses Funktionsplanes geforderten, Ausgangsbedingungen, eingetragen werden' die dann vom Prüfen an jedem Einzelstück der Baugruppen nachzukontrollieren sind. Es ist verständlich, daß solche Protokolle, die mindestens in gleichem Maße wie die zunehmenden Funktionsmöglichkeiten innerhalb einer Baugruppe an Umfang gewinnen müßten, in der täglichen Praxis und besonders bei Baugruppen, die nicht in großer Stückzahl zu prüfen sind, oftmals nicht mehr als das gerade Notwendigste an Prüfschritten aufweisen, in der Regel jedenfalls durchaus nicht so eingehend durchdacht werden, wie der Entwickler das Ergebnis seiner selbst entworfenen und ausgeführten Arbeit prüft, ehe er die von ihm neu entwickelte-Baugruppe für die Prototypenfertigung oder gar die Serienfertigung bzw. für die der Serienfertigung vorangehenden Vorbereitungsarbeiten freigibt.A particular shortcoming of the conventional test methods is considerable Set-up time for testing, i.e. in the preparation time for setting up a test arrangement including the provision of devices for test signal delivery and for measuring the functions of the respective assembly. Another shortcoming of the present predominantly common method of conventional assembly tests is that the performing such tests manually, especially when performing series tests a large number of identical assemblies, non-reproducible operating errors and Above all, omissions on individual items to be checked that cannot be checked Assemblies can occur. Finally, the traditional manual test method adheres the considerable disadvantage that before the start of the series tests - and thus in the Usually practically a considerable period of time after the completion of the laboratory development work to create the individual assembly - due to the structure (i.e. the circuit) the module is based on a special protocol as a test document must be set up in which the various logical dependencies, namely Input conditions and the associated, required on the basis of this function plan, Initial conditions 'are entered' the then from testing each individual piece of the assemblies must be checked again. It's understandable, that such protocols at least as much as the increasing functionality would have to gain in scope within an assembly, in daily practice and especially with assemblies that do not need to be checked in large numbers, often usually do not have more than the bare minimum of test steps at least not as thoroughly thought out as the developer Checks the result of his self-designed and executed work before he checks that of a newly developed assembly group for prototype production or even series production or for the preparatory work prior to series production.

Zur Beschleunigung des Prüfen bei weitgehendem Ausschalten von Fehlern während des Ablaufes der Prüfung sind schon verschiedene Lösungen zur automatisierten Prüfung serienweise gefertigter Baugruppen bekannt geworden, vergleiche z. B. Veröffentlichungen in "Nachrichtentechnische Zeitschrift" 1969 Heft 12, Seite 724; in "Elektronik" 1969, Heft 11, Seite 341; in ~Electronics" Juni 1970 Seite 125; in 11Elektronik11 1970, Heft 91 Seite 303o In der deutschen Offenlegungsschrift Nr. 1 951 861 ist eine halbautomatische Vorrichtung beschrieben, die prinzipiell gleichartig, nämlich nach einem vorbereiteten Programm, arbeitet, ohne aber den Stand der Automatisierung mittels Rechenanlagen aufzuweisen.To accelerate testing when errors are largely eliminated During the course of the test there are already various solutions for the automated Testing of mass-produced assemblies has become known, compare z. B. Publications in "Nachrichtenentechnische Zeitschrift" 1969 issue 12, page 724; in "Electronics" 1969, No. 11, page 341; in ~ Electronics "June 1970 page 125; in 11Elektronik11 1970, issue 91 page 303o in German Offenlegungsschrift No. 1 951 861 is a semi-automatic device described, which is basically the same, namely according to a prepared program, works without but the state automation by means of computer systems.

Alle diese bisher vorgeschlagenen Lösungswege haben prinzipiell den Nachteil zueigen, daß, vor Beginn der eigentlichen Serienprüfung einer als solche bereits bestehenden Baugruppe, zunächst wiederum nach Art einer Prüfvorschrift grundsätzlich festgelegt werden muß, welche funktionellen Zusammenhänge innerhalb der Baugruppe geprüft werden sollen0 Da diese Festlegung, wie schon angedeutet, gewöhnlich wesentlich später erfolgt, als die Fertigstellung der schaltungsmäßigen Entwicklung einer Baugruppe, wird auch bei Festlegung dieses Testumfanges verständlicherweise in der Regel großzügiger verfahren und ein speziellerer Rahmen gewählt, als es dem Abschlußtest im Entwicklungslabor durch den Entwickler selbst gewöhnlich entspricht Darüberhinaus haben diese schon vorgeschlagenen Lösungen für die betriebliche Praxis den besonderen Nachteil, daß eine automatische Prüfung nur entweder im Vergleich zu einer bereits irgendwann auf konventionelle Art geprüften, hundertprozentig fehlerfreien und voll funktionstüchtigen gleichen Baugruppe erfolgen kann (Unsicherheiten im Bezugsexemplar für diese Prüfung wirken sich dann also auf die gesamte Serie aus), oder - speziell für jede Baugruppe und nach Festlegung eines Prüfprogrammes durch den Schaltungsspezialisten - ein vollständiges dem zugrundeliegenden schaltungstechnischen Funktionsplan angepaßtes Rechner-Programm für einen das Prüfprogramm steuernden kompletten elekt ronischen Prozeßrechner erstellt werden muß; wegen des Zeitaufwandes und der erforderlichen Fachkräfte für das Programmieren und für das Bedienen des Rechners ist das jedoch sehr aufwendig, abgesehen von den unverhältnismäßig hohen Kosten infolge der Beanspruchung einer teuren elektronischen Datenverarbeitungsanlage für das Prüfen. Ein Unsicherheitsfaktor entsteht ferner dadurch, daß das Entwerfen und Erstellen einer Prüfvorschrift sich auf zwei ausführende Personengruppen verteilt, deren Arbeits- und Denkungsweise nach unterschiedlichen Gesichtspunkten ausgerichtet ist. Da die Programmierfachkräfte auch nicht mit den schaltungstechnischen Einzelheiten der zu prüfenden Baugruppe notwendigerweise vertraut sind, können bei diesem Arbeitsgang weitere Fehler auftreten, und es muß schließlich für die betriebliche Anwendung de-s Rechner-Programmes besonders ausführlich hinsichtlich des Ausdruckens der Prüfergebnisse1 besonders der Fehlerarten und -orte, gestaltet sein. Die notwendige Zeit zum Erstellen eines einzigen derartigen Programmes beträgt bei bekannten Prüf anlagen je nach Umfang der Funktionen der Baugruppe, die geprüft werden soll, zwei Tage bis zwei Wochen. Dabei ist es für die Belange der Praxis gleichermaßen von Nachteil, ob solch ein separates Programm zur Steuerung eines die Prüfung vornehmenden Rechners erstellt wird oder nur zum Herstellen von Prüfprogramm-Lochstreifen, die dann zum Steuern eines separaten Testgexätes benutzt werden.All of these solutions proposed so far have in principle The disadvantage is that, before the start of the actual series test, one as such already existing assembly, initially again basically in the manner of a test specification it must be determined which functional relationships within the assembly should be examined0 Since this determination, as already indicated, is usually essential takes place later than the completion of the circuit development of an assembly, is understandably usually more generous when defining this test scope procedure and a more special framework than the final test in the development laboratory by the developer himself usually corresponds moreover these already have proposed solutions for operational practice have the particular disadvantage that an automatic check only either versus one already at some point conventionally tested, one hundred percent error-free and fully functional same assembly can take place (uncertainties in the reference copy for this test then have an effect on the entire series), or - especially for each assembly and after a test program has been determined by the circuit specialist - a full the underlying circuit function diagram adapted computer program for a complete electronic control that controls the test program ronic process computer must be created; because of the time required and the necessary However, they are specialists in programming and operating the computer very expensive, apart from the disproportionately high costs due to the stress an expensive electronic data processing system for testing. A factor of uncertainty also arises from the fact that the design and creation of a test specification itself Distributed between two groups of people who do the work, their way of working and thinking is aligned according to different points of view. Because the programmers not even with the circuit-related details of the assembly to be tested are necessarily familiar, further errors can occur during this operation, and it has to be special for the operational use of the computer program in detail with regard to the printing of the test results1, especially the types of errors and locations. The time necessary to create a single such In known test systems, the program amounts to depending on the scope of the functions Assembly to be tested, two days to two weeks. It is for the practice concerns equally detrimental to having such a separate program to control one the exam prestigious computer is created or only for the production of test program punched tape, which is then used to control a separate test equipment can be used.

In Erkenntnis dieser Mängel bestand die der vorliegenden Erfindung zugrundeliegende erfindungsgemäße Aufgabenstellung darin, ein Konzept für das Prüfen digitaler Baugruppen zu finden, dessen Aufwand diesen Problemen optimal angepaßt ist und das ohne Programmiererkenntnisse und ohne sonstige Vorbedingungen, z.B. hinsichtlich eines bereits garantiert funktionstüchtigen Vergleichsmusters oder der Notwendigkeit einer kompletten, frei programmierbaren oder vorprogrammierten elektronischen Rechenanlage, bedient und auch von angelernten Kräften für automatisiertes Serienprüfen eingesetzt werden kann.It was in recognition of these shortcomings that the present invention was made underlying problem according to the invention is a concept for testing to find digital assemblies, the effort of which is optimally adapted to these problems and that without programming knowledge and without other preconditions, e.g. with regard to a comparative sample that has already been guaranteed to be functional, or the need for a complete, freely programmable or preprogrammed electronic computing system, operated and also by semi-skilled workers for automated Series testing can be used.

Bei der Lösung ist von der Erkenntnis ausgegangen, daß eine neu entwickelte Baugruppe nie wieder so intensiv geprüft werden wird, wie vor dem Abschluß der Entwicklung durch den verantwortlichen Entwickler selbst im Zuge des Durchtestens mit Hilfe des Kathodenstrahloszillographen, ehe er sie etwa zum Freigabeverfahren für eine Serienfertigung meldet. In der Praxis prüft daher, nach der Grundidee dieser Erfindung, der schaitungstechnische Entwickler selbst wie bisher zum Abschluß seiner eigenen Entwicklungsarbeiten sämtliche von ihm für die Baugruppe vorgesehenen Funktionen, und dabei nun erstellt er nebenher und ohne zusätzliche Tätigkeit ein Prüfprogramm, das seine eigene Abschlußprüfung beinhaltet. So umfangreich und genau würde ein später eigens für ein Prüffeld der Serienfertigung erstelltes Prüfprotokoll kaum wieder werden, auch dann nicht, wenn es später vom Entwickler selbst - nach Abschluß seiner zurückliegenden Entwicklungsarbeiten an dieser Baugruppe - erstellt werden sollte.The solution was based on the knowledge that a newly developed The assembly will never again be tested as intensively as it was before development was completed by the responsible developer himself in the course of testing with the help of the cathode ray oscilloscope before it is used for the approval process for a Serial production reports. In practice, therefore, according to the basic idea of this invention, the circuit-technical developer himself as before at the end his own development work all functions intended by him for the assembly, and now he creates a test program on the side and without additional activity, which includes its own final exam. So extensive and precise would a Later test protocol created especially for a test field in series production hardly again, not even if it is later by the developer himself - after completion of his previous development work on this assembly should.

Die Lösung dieser erfindungsgemäßen Aufgabenstellung besteht also in einem Verfahren, das beinhaltet, daß gleichzeitig mit labormäßigem Prüfen der Funktionen eines Exemplare solcher Baugruppen, vorzugsweise bei Abschluß ihrer schaltungstechnischen Erst entwicklung noch durch den Entwickler selbst und somit vor Eintritt in ihre Fertigung, die Testkriterien, z.B.The solution to this problem according to the invention therefore exists in a process that involves that simultaneous with laboratory testing of the Functions of a copy of such assemblies, preferably at the end of their circuitry First development by the developer himself and thus before entering your Manufacturing, the test criteria, e.g.

die einzelnen Teilschritte eines Prüfschrittes während jeden momentanen Prüfschrittes, oder, nach jedem einzelnen erfolgreich durchgeführten, der gesamte Prüfschritt - ggf. nach Zwischenspeicherung und Umkodierung - als Teil eines kompletten Prüfprogrammes in ein, an sich beliebiges, Speichermedium, z*Bo einen Lochstreifen, eingespeichert werden, wobei der Inhalt dieses Speichermediums dann für spätere Prüfungen, insbesondere für automatisch oder halbautomatisch ablaufende Serienprüfungen gleichen Umfanges und gleicher Sorgfalt, wie sie etwa als Schlußtest der Entwicklung dieser Baugruppe walteten, als Prüfstreifen stets wieder zur Verfügung steht.the individual sub-steps of a test step during each current one Test step, or, after each successfully completed one, the entire Test step - possibly after buffering and recoding - as part of a complete Test program in any storage medium, e.g. a punched tape, can be stored, the content of this storage medium then being used for later Tests, especially those that run automatically or semi-automatically Series tests the same scope and care as, for example, as the final test of the development this assembly prevailed as a test strip is always available again.

Es entsteht somit, quasi nebenher, nämlich im Zuge der'abschließenden Arbeiten des Laboringenieurs, eine sehr detaillierte und hinsichtlich der Funktionen der Baugruppe bestimmt sinnvolle wie auch vollständige Prüfanweisung schon bei der Kontrolle eines die Entwicklungsarbeiten abschließenden Labornusters dieser Baugruppe, und zwar entsprechend den t;berlegungen und mit den speziellen Kenntnissen ihres schaltungstechnischen Entwicklers selbst. Irgendwelche Programmier kenntnisse sind dafür nicht erforderlich, das Bediengerät für Erstellen des Prüfprogrammes dient gleichzeitig der manuellen Vorgabe der Testsignale, so daß für die Prüfprogrammerstellung kein zusätzlicher Arbeitsgang erforderlich ist.It thus arises, as it were, on the side, namely in the course of the final Work of the laboratory engineer, a very detailed and functional of the assembly determines meaningful as well as complete test instructions during the Control of a laboratory sample of this assembly that completes the development work, in accordance with your considerations and with your special knowledge circuit developer himself. Any programming skills are not required for this, the control unit is used to create the test program at the same time the manual specification of the test signals, so that for the test program creation no additional operation is required.

Dieses gleichzeitig mit der labormäßigen Schlußprüfung auf ein Spsicheriedium, z.B. einen Lochstreifen oder einen magnetischen Datenträger, festgehaltene umfangreiche Original-Prüfprogramm steht dann, auch nur angelernten Bedienkräften im Prüffeld, für alle weiteren Baugruppenprüfungen zum gleichen Typ zur Verfügung, wobei vorzugsweise die gleiche Vorrichtung wie die, mit der dieses Prüfprogramm vom Entwickler parallel zur schaltungstechnischen Prüfung festgehalten und eingespeichert wurde, als Steuergerät für eine automatische oder halbautomatische Prüfung mittels Auslesens des Speichermediums di4ien kann. Die Geschwindigkeit der automatischen Serienprüfung ist dann allein abhängig von der Arbeitsgeschwindigkeit beim Auslesen des Prüfprogrammes zum Betreiben des Steuergerätes: hinsichtlich Zeitbedarf und Sorgfalt sind bei der späteren Einzelstück- oder Serienprüfung dann also alle bedienungstechnischen Schwächen ausgeschaltet.This at the same time as the final laboratory test for a storage room, e.g. a punched tape or a magnetic data carrier, recorded extensive The original test program is then available in the test field, even for semi-skilled operators available for all further assembly tests of the same type, whereby preferably the same device as the one with which this test program from the developer is parallel recorded for the circuit test and stored was used as a control unit for an automatic or semi-automatic test using Read out of the storage medium. The speed of the automatic Series testing is then solely dependent on the working speed when reading out of the test program for operating the control unit: with regard to the time required and In the later single-item or series test, care is then given to all operational aspects Weaknesses eliminated.

In einer besonders vorteilhaften Ausführung einer Vorrichtung zum Ausüben des erfindungsgemäßen Verfahrens ist das Steuergerät Teil eines komplexen Bediengerätes, nit dem auch eine Vervielfältigung des kompletten Prüfprogrammea (Duplizieren des Inhalts des Speichermediums) möglich ist.In a particularly advantageous embodiment of a device for When the method according to the invention is carried out, the control unit is part of a complex Control unit, which also means that the complete test program can be copied (Duplicating the contents of the storage medium) is possible.

Zum Erfassen von einzelnen Teilschritten des sich aus Prütschritten aufbauenden Prüfprogrammes werden die Vorgaben zu den einzelnen Teilschritten (nämlich die einzelnen logischen Signalzustände 'logisch L", ~logisch 0" und "Anzahl von I-pulsen',) (im folgenden einfach als Signale bezeichnet) zunächst sukzessive in einen Vorgabespeicher eingegeben und jeweils erst dann in das Speichermedium eingespeichert (z.B.For recording individual sub-steps of the test steps In the test program, the specifications for the individual sub-steps (namely the individual logical signal states' logical L ", ~ logical 0" and "number of I-pulse ',) (hereinafter referred to simply as signals) initially successively in entered a default memory and only then stored in the storage medium (e.g.

im Falle eines Lochstreifens als Speichermedium durch Lochen eines Lochrasters in den Lochstreifen), wenn der jüngste Prüfschritt positiv verlaufen ist. Stellt sich im Verlaufe eines Prüfschrittes ein Fehler hinsichtlich einer Vorgabe oder hinsichtlich der Funktionen der Baugruppe heraus, so wird der zugehörige Inhalt des Vorgabespeichers gelöscht, indem der entsprechende momentane Teilschritt - nach Korrektur des Fehlers, z. 3. nach schaltungstechnischer Korrektur an der entwickelten Baugruppe- oder nach bedienungstechnischer Korrektur hinsichtlich der Vorgabe der Signale - wiederholt wird. Der bisher erhaltene, positiv verlaufene Teil des Prüfprogrammes, der schon in das Speichermedium eingespeichert ist, wird also nicht beeinträchtigt und steht weiterhin zur Verfügung; an ihn schließen sich die weiteren Teilschritte zum nächsten Prüfschritt an, sobald der Fehler gefunden und behoben ist.in the case of a perforated tape as a storage medium by punching a Hole grid in the punched tape), if the most recent test step positive has run. If there is an error in the course of a test step a specification or with regard to the functions of the module, the associated content of the default memory is deleted by the corresponding current Sub-step - after correcting the error, e.g. 3. after correcting the circuitry on the developed assembly or after technical corrections with regard to the specification of the signals - is repeated. The one that has been received so far and that has gone well Part of the test program that is already stored in the storage medium so not impaired and is still available; close to him the further sub-steps to the next test step as soon as the error is found and is fixed.

Für die praktische Anwendung dieser Erfindung ist es hilfreich, die Gegebenheiten der einzelnen Teilschritte der Prüfschritte eines Prüfprogrammes während seines Ablaufes, insbesondere während der Herstellung des Prüfprog~ammes, durch optische Signale anzuzeigen. Das ist im Rahmen dieser Erfindung durch eine vorteilhafte Anpassung von Aufbau und Funktion des Bediengerätes an den Ablauf des Verfahrens gewährleistet.For the practice of this invention it is helpful to have the Conditions of the individual sub-steps of the test steps of a test program during its sequence, in particular during the production of the test program display optical signals. This is advantageous within the scope of this invention Adaptation of the structure and function of the control unit to the process sequence guaranteed.

So bewirkt diese Erfindung, daß ein denkbar vollständiges Prüfprogramm praktisch nebenbei, nämlich während der ohnehin stets vorgenommenen gewissenhaften Prüfung-des Labormusters einer neu entwickelten Baugruppe, erstellt wird und fortan zur Verfügung steht. Der Entwickler selbst prüft wie bisher üblich die von ihm entwickelte und erstellte Baugruppe in aus Teilschritten (speziellen Kombinationen von Signalvorhaben gemäß manueller Eingabe) aufgebauten einzelnen Prüfschritten und steuert im Zuge seiner normalen, das eigene Entwicklungsergebnis kontrollierenden Tätigkeit gemäß dieser Erfindung zugleich die Zusammenstellung eines vollständigen Prüfprogrammes aus einzelnen Prüfschritten gemäß den geforderten Funktionen der Baugruppe. Irgendwelche Programmierkenntnisse, ein Prozeßrechner oder ein Belegexemplar der Baugruppe für Vergleichsprüfungen sind hierfür nicht erforderlich, und für spätere, z*B. serienmäßige Prüfung der gleichen Baugruppe steht dann ein denkbar umfassendes Prüfprogramm stets zur Verfügung.Thus the effect of this invention is that a conceivably complete test program practically by the way, namely during the anyway always made conscientious examination of the laboratory sample of a newly developed assembly, created and is available from now on. The developer himself checks as usual the assembly developed and created by him in sub-steps (special Combinations of signal projects according to manual input) built-up individual Test steps and controls in the course of its normal, the own development result controlling activity according to this invention at the same time the compilation a complete test program from individual test steps according to the required Functions of the assembly. Any programming skills, a process computer or a specimen copy of the assembly for comparative tests are not required for this required, and for later, e.g. serial testing of the same assembly an extremely comprehensive test program is then always available.

Das erfindungsgemäße Verfahren wird nachstehend, an einfachen Ausführungsbeispielen für das Prinzip einer Schaltanordnung und für eine Vorrichtung zum Ausüben des Verfahrens, anhand der Zeichnung näher erläutert0 Es zeigt: Fig. 1 ein Bediengerät als Vorrichtung zum Ausüben des Verfahrens, Fig. 2 eine Prinzipdarstellung einer Schaltanordnung für die Vorrichtung nach Figo 1, Fig. 3 eine schematische Ubersicht über den Ablauf der erfindungsgemäßen Verfahrensschritte, dargestellt anhand eines Lochstreifens als Speichermedium, Fig. 4 ein Beispiel für tabellarische Ordnung von Änschlüssen einer Baugruppe in Eingänge und Ausgänge, sowie für Eingangsvorgaben und Ausgangsvorgaben des zweiten Prüfschrittes unter Zugrundelegung eines bereits erfolgreich durchgeführten ersten Prüfsohrittes.The method according to the invention is described below using simple exemplary embodiments for the principle of a switching arrangement and for a device for carrying out the method, explained in more detail with reference to the drawing. It shows: FIG. 1 an operating device as a device to carry out the procedure, Fig. 2 is a schematic diagram of a Switching arrangement for the device according to FIG. 1, FIG. 3 shows a schematic overview on the sequence of the method steps according to the invention, shown using a Perforated strip as a storage medium, Fig. 4 shows an example of tabular order of connections of a module in inputs and outputs, as well as for input specifications and output specifications of the second test step based on an already successfully completed first test step.

Als Baugruppe 1 für ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer Vorrichtung zum Ausüben des erfindungsgemäßen Verfahrens ist in Fig. 1 eine Leiterplatte vorgesehen, die Funktionsteile 2 z. 3. in Form von Unterplatinen 2a, integrierten digitalen Bausteinen 2b und Einzelelementen 2c enthält; diese Funktionsteile 2 sind elektrisch in bekannter Weise, z.B. durch gedruckte Schaltbahnen 2d, miteinander sowie mit Signaleingängen 3e und Signalausgängen 3a der Baugruppe 1 (Anschlüsse 3.i in Form von z.B. einer 35-poligen Kontaktleiste) verknüpft.As an assembly 1 for a preferred embodiment of a device To carry out the method according to the invention, a printed circuit board is provided in FIG. 1, the functional parts 2 z. 3. in the form of sub-boards 2a, integrated digital Contains building blocks 2b and individual elements 2c; these functional parts 2 are electrical in a known manner, e.g. by printed circuit tracks 2d, with each other and with Signal inputs 3e and signal outputs 3a of module 1 (connections 3.i in the form e.g. from a 35-pin contact strip).

Solche Anschlüsse ).i, an denen vorgegebene Potentiale (Versorgungsspannungen und Nullpotentiale) ständig anliegen, oder solche, die gar nicht belegt sind, brauchen für die Funktionsprüfung fortan nicht in Betracht gezogen zu werden.Such connections) .i, at which specified potentials (supply voltages and zero potentials) are constantly present, or need those that are not assigned at all not to be considered for the functional test from now on.

De; als Beispiel für ein mit eingespeicherten Prüfprogramm 4 versehenes Speichermedium 5, in Fig. 2 und Fig. 3 dargestellte Lochstreifen (fortan Prüfstreifen 5a genannt) entsteht gemäß dem Verfahren dieser Erfindung während der labormäßigen Endprüfung der nach einem Funktionsplan (dem elektrischen Schaltplan) aus den einzelnen Funktionsteilen 2 aufgebauten Baugruppe 1. Diese wird - für ihre entwicklungsmäßige Endprüfung und zum erfindungsgemäß gleichzeitig dabei vorzunehmenden Erst eI-len des Prüfprogrammes 4 - in ein Bediengerät 6 eingeführt und dabei über ihre Anschlüsse 3.i und eine Steckerleiste 7 an dieses Bediengerät 6 angeschlossen.De; as an example of a stored test program 4 Storage medium 5, punched strips shown in FIGS. 2 and 3 (henceforth test strips 5a) arises according to the method of this invention during the laboratory Final check according to a function plan (the electrical circuit diagram) from the individual Functional parts 2 built-up assembly 1. This is - for their developmental Final test and at the same time to be carried out according to the invention at the same time of the test program 4 - introduced into a control unit 6 and thereby via its connections 3.i and a plug connector 7 are connected to this control unit 6.

Im dargestellten Ausführungsbeispiel enthält das Bediengerät 6 als Vorgabesteuerung dreispaltigen Drucktastenschaltersatz 9, dessen oberste Zeile die Funktion eines Anwahl schalters 9W für verschiedene Betriebsarten des Bediengerätes 6 aufweist. Zur Erläuterung der prinzipiellen Wirkungsweise des Bediengerätes 6 sind der dreiteilige Aufbau des Anwahlschalters 9W sowie weitere Teile des Drucktastenschaltersatzes 9 in Fig. 2 in mehreren Funktionen getrennt dargestellt.In the exemplary embodiment shown, the operating device contains 6 as a default control three-column push button switch set 9, the top line of which has the function of a selection switch 9W for different operating modes of the control unit 6. To explain the basic mode of operation of the operating device 6, the three-part structure of the selection switch 9W and other parts of the push button switch set 9 are shown separately in several functions in FIG.

Für ein erstmaliges Durchprüfen der Baugruppe 1 durch Einzelvorgaben der Testsignale von Hand mit gleichzeitigem Erstellen des Prüfstreifens 5a wird die mittlere Spalte ~Prüfen" 9P angewählt und dann zunächst über eine Starttaste 9S ein Befehl für Einspeichern einer Startmarke-10 (siehe Fig. 3?, bei Lochstreifen eine fest vorgegebene Lochkodierung, gegeben, die später für automatischen Prüfablauf mit Steuern aufeinanderfolgender Prüfschritte 11.i vom Prüfstreifen Sa aus benötigt wird.For an initial check of assembly 1 by means of individual specifications the test signals by hand with simultaneous creation of the test strip 5a the middle column ~ Check "9P is selected and then initially via a start button 9S a command for storing a start mark 10 (see Fig. 3 ?, for punched tapes, a predefined hole coding, which is later used for automatic test sequence with control of successive test steps 11.i from Test strip Sa is required.

Wie in Fig. 3 beispielhaft für einen Prüfstreifen 5a dargestellt, folgen zum Standardisieren des Umfanges der Einzelbefehle auf dem Prüfatreifen 5a und auch aus Gründen der praktischen Handhabung beim späteren automatischen Serienprüfen sowie zur einfacheren Interpretation seines Inhaltes, auf die Startmarke 1Q eine Reihe von Leerstellen b, ehe das eigentliche Prüfprogramm 4 mit dem ~Prüfschritt 0t' als erstem der Prüfschritte 11.i beginnt. Betätigen der Vorbereitungstaste 9V bewirkt einen Speicherbefehl ~Prüfschritt 0", der z.B. in einem Ubergabespeicher 17.2 vorprogrammiert ist, durch welchen auch das Einspeichern von Leerstellen b in das Speichermedium 5 selbsttätig nach jeder Eingabe gesteuert wird, um jeden abgespeicherten Befehl aus - im dargestellten Beispiel - drei Worten zu bilden. Auf einer Prüfschrittanzeige 12.P wird der momentan behandelte Prüfschritt 11.i optisch, vorteilhaft als Zahl, angezeigt. Zur Bedienungsvereinfachung kann der ~Prüfschritt 0" auch selbsttätig eingeschaltet werden, sobald die Startmarke 10 erzeugt wurde; das ist allein eine Frage der internen Steuerung des Bediengerätes 6, ohne das Wesen dieser Erfindung zu betreffen.As shown in FIG. 3 as an example for a test strip 5a, follow to standardize the scope of the individual commands on the test tire 5a and also for reasons of practical handling during subsequent automatic series testing as well as for easier interpretation of its content, on the start marker 1Q a Row of blanks b before the actual test program 4 with the ~ test step 0t 'is the first of the test steps 11.i to begin. Press the preparation button 9V causes a storage command ~ test step 0 ", which is e.g. in a transfer memory 17.2 is preprogrammed, through which the storage of spaces b is automatically controlled in the storage medium 5 after each input to each stored command from - in the example shown - to form three words. The currently treated test step 11.i is shown on a test step display 12.P visually, advantageously as a number, displayed. To simplify operation, the ~ test step 0 "can also be switched on automatically as soon as the start marker 10 has been generated; that is just a matter of internal control of the operator panel 6 without affecting the essence of this invention.

DieserPrüfschritt Ott ist ein Vorbereitungsschritt 11.C): nach Betätigen einer Vorbereitungstaste 9V wird im Rahmen dieses Vorbereitungsschrittes 11.0 einmalig, gültig für das gesamte Prüfprogramm 4, aufgrund des zugrundeliegenden Funktionsschemas der Baugruppe 1 über Vorgabetasten 14 ~eineoVorgabe-und speicher 15 (s. Fig. 2)reiner Logikschaltung 18 Information darüber eingegeben, welche Nummern der Anschlüsse 3.i der Baugruppe 1 Signaleingänge 3e und welche Signalausgänge 3a darstellen. Dazu wird jeweils die Ziffernfolge einer jeden Nummer der Anschlüsse 5.i über eine Zifferneingabe 16 und jeweils danach entweder eine Eingangsvorgabetaste 14e oder eine Ausgangsvorgabetaste 14a betätigt. Eine Anschlußnummernanzeige 12A gibt ziffernmäßig zur Kontrolle an, welcher der Anschlüsse 3.i gerade angewählt ist. Zweckmäßigerweise, werden zunächst alle Anschlüsse 3.i, die Signaleingänge 3e sind, dann alle Signalausgänge Da behandelt, so wie es beispielhaft in Fig. 4 in der Spalte für den Vorbereitungsschritt 11.0 skizziert ist, ohne daß diese zeitliche Reihenfolge oder Aufteilung Bedingung ist.This test step Ott is a preparatory step 11.C): after actuation a preparation button 9V is used once as part of this preparation step 11.0, valid for the entire test program 4, due to the underlying functional diagram the assembly 1 via default keys 14 ~ a default and memory 15 (see Fig. 2) purer Logic circuit 18 entered information about which numbers of the connections 3.i of assembly 1 signal inputs 3e and which signal outputs 3a represent. In addition is the sequence of digits for each number of the connections 5.i via a digit input 16 and thereafter either an input preset key 14e or an output preset key 14a actuated. A connection number display 12A indicates numerically for control purposes, which of the connections 3.i is currently selected. Appropriately, be first all connections 3.i, which are signal inputs 3e, then all signal outputs Da treated, as it is exemplified in FIG. 4 in the column for the preparation step 11.0 is outlined without this temporal sequence or division being a condition.

Irrtümer der Eingabe können, in in der Datentechnik an sich geläufiger Weise z. 3. durch Uberschreiben des momentanen Inhalts des Vorgabespeichers 15 (also der jüngsten Vorgabe) mit einer neuen Information) eliminiert und richtiggestellt werden.Input errors can be more common in data technology Way z. 3. by overwriting the current content of the default memory 15 (i.e. the most recent default) with new information) eliminated and be corrected.

Eine andere schaltungstechnische Möglichkeit ist, die Vorbereitungsinformation für je einen Anschluß 3.i in einem Vorbereitungsspeicher 1703, vorzugsweise ein kurzes Schieberegister, 5. einzusetzen gestalten, daß er immer nur einen kompletten Datenblock (aus Nummer des Anschlusses 3.i und Kennung von einer der Vorgabetasten 14) an eine Logikschaltung 18 überträgt, wenn ein weiterer Anschluß 30i angesteuert und der bisherige Datenblock nicht als falsch insgesamt gelöscht wurde.Another possibility in terms of circuit technology is to use the preparation information for each connection 3.i in a preparation memory 1703, preferably a short shift register, 5. design that it always only transmits a complete data block (from the number of the connection 3.i and the identifier of one of the default keys 14) to a logic circuit 18 when a further connection 30i is activated and the previous data block has not been completely erased as incorrect.

Für Fig. 4 ist angenommen, daß eine Baugruppe 1 nach Fig. 1 bzw. Fig. 2 Anschlüsse 3.i = 3.101 bis 3.108 und 3.116 aber ohne 3.105 als Signaleingänge 3e und 3.i = 3.113 bis 3.135 sowie 3.105 als Signalausgänge 3a aufweist. Die dazwischenliegenden Nummern von Anschlüssen 3.i = 3.109 bis 3.112 seien unbelegt oder der Energieversorgung bzw. evtl. aus anderen Gründen stets konstant vorgegebenen Potentialen zugeordnet, sie brauchen also bei der Prüfung der logischen Funktion der Baugruppe 1 nicht berücksichtigt zu werden. Sofern das hier dargestellte Bediengerät 6 für Baugruppen 1 mit genormter Verteilung der Anschlüsse 3.i eingesetzt wird, ist zweckmäßigerweise die Energieversorgung bereits durch interne Verdrahtung der Steckerleiste 7 den zugehörigen Anschlüssen 3.i fest zugeordnet. Ubergang auf eine andere Verdrahtungsnorm würde dann durch ein Umschalten der festen Kontaktbelegung oder mittels einer entsprechend vordrahteten Adapter-Steckkontaktleiste erfolgen.For Fig. 4 it is assumed that an assembly 1 according to Fig. 1 or Fig. 2 connections 3.i = 3.101 to 3.108 and 3.116 but without 3.105 as signal inputs 3e and 3.i = 3.113 to 3.135 and 3.105 as signal outputs 3a. The ones in between Numbers of connections 3.i = 3.109 to 3.112 are unoccupied or the power supply or possibly for other reasons always assigned constant given potentials, so they do not need to be taken into account when checking the logical function of assembly 1 to become. If the operating device 6 shown here for assemblies 1 with standardized Distribution of the connections 3.i is used, is expediently the power supply the associated connections already by internal wiring of the connector strip 7 3.i permanently assigned. A change to a different wiring standard would then be carried out a changeover of the fixed contact assignment or by means of one accordingly pre-wired adapter plug connector.

Der Inhalt des Vorbereitungsschrittes 11.0 legt somit, gültig für alle Baugruppen 1 gleichen Types und für deren gesamte Prüfung, die Bedeutung der Anschlüsse 3.i fest. Dieser Inhalt wird zugleich, ggfls. über einen als Datenpuffer wirkenden Zwischenspeicher 17.1 und über einen umkodierenden Ubergabespeicher 17.2, wenn für das Einspeichern in das Speichermedium 5 eine andere Kodierung gewählt wird, als für die interne Funktion des Bediengerätes 6 - in das Speichermedium 5 eingespeichert, wo er fortan als Inhalt des Vorbereitungsschrittes 11.0 zu Beginn des Prüfprogrammes 4 zur Verfügung steht (vergl. Fig.3).The content of preparation step 11.0 thus applies to all assemblies 1 of the same type and for their entire test, the meaning of the 3.i connections tight. This content is at the same time, if necessary. via one as a data buffer acting buffer memory 17.1 and a recoding transfer memory 17.2, if a different coding is selected for storage in the storage medium 5 as for the internal function of the control unit 6 - into the storage medium 5 stored where it will henceforth as the content of preparation step 11.0 at the beginning of the test program 4 is available (see Fig. 3).

Nach jeder Eingabe innerhalb des Vorbereitungsschrittes 11.0 - wie auch später nach jedem Prüfschritt 11.i - wird vorteilhaft möglichst wenigstens eine Leerstelle b in das Speichermedium 5 eingespeichert, um im Bedarfsfalle bei visueller Uberprüfung des Prüfprogrammes 4, insbesondere bei Verwendung eines gelochten Prüfstreifens 5a, auch ohne automatische 4u6wertung schon anhand des Lochmusters die einzelnen Abschnitte eines Prüfstreifens 5a leichter auseinanderhalten und interpretieren zu können. Vorteilhaft für den internen Steuerungsablauf im Bediengerät 6 ist eine interne Synchronisation in der Weise, daß der Ubergabespeicher 17.2 jeden eingegebenen Befehl in eine feste Anzahl von - in Fig. 3 drei - Worten aufteilt.After each entry within preparatory step 11.0 - how also later after each test step 11.i - it is advantageous if possible at least a blank space b is stored in the storage medium 5 to be used in case of need visual review of the test program 4, especially when using a perforated one Test strip 5a, even without automatic 4u6 evaluation based on the hole pattern distinguish and interpret the individual sections of a test strip 5a more easily to be able to. One advantage for the internal control sequence in the control unit 6 is internal synchronization in the way that the delivery store 17.2 each input command in a fixed number of - in Fig. 3 three - words divides.

Durch Eingabe der Einzelheiten dieses Vorbereitungsschrittes 11.0 wird, mit dem Vorgabespeicher 15, gesteuert durch die Logikschaltung 187 z.B. in Form des bekannten Diodenkoppelfeldes nach Art einer Kreuzschienenverteilung, wie sie aus der Nachrichtentechnik etwa zum Umkodieren oder als Schaltmatrix zur Signalzuordnung geläufig ist, eine Zuordnung der Anschlüsse 3.i vorgenommen, derart, daß die nun später im Verlaufe des Prüfprogrammes 4 folgenden Eingangs- bzw. Ausgangsvorgaben 11e bzw0 11a der eigentlichen Funktionsprüfung auch als entsprechende Signale an Anschlüsse ).i gelangen, die Signaleingänge 3e bzw.By entering the details of this preparation step 11.0 is, with the default memory 15, controlled by the logic circuit 187 e.g. Form of the known diode switching network in the manner of a crossbar distribution, such as they are used in communications technology, for example, for recoding or as a switching matrix for signal assignment is common, an assignment of the connections 3.i made such that the now later in the course of the test program 4 following input and output specifications 11e or 11a of the actual function test also as corresponding signals Connections) .i, the signal inputs 3e resp.

-ausgänge 3a der Baugruppe 1 sind. Zugleich werden die Signalausgänge 3a über die Logikschaltung 18 mit einer Normlast beaufschlagt, um Betriebsbedingungen zu simulieren.outputs 3a of assembly 1 are. At the same time the signal outputs 3a subjected to a normal load via the logic circuit 18 in order to achieve operating conditions to simulate.

Da eine Baugruppe 1 nur eine begrenzte Anzahl von Anschlüssen 3.i aufweist, deren Funktion dem Entwickler geläufig ist, ist der zeitliche und bedienungstechnische Ablauf des Vorbereitungsschrittes 11.0 weitaus weniger aufwendig, als es bei ausführlicher schriftlicher Erläuterung erscheint: wie bei der Bedienung einer Tischrechenmaschine mit Zifferntastatur werden zu Beginn der Funktionsprüfung und damit der Erstellung eines Prüfprogrammes 4 nacheinander über die Zifferneingabe 16 die Ziffern der Nummern der Anschlüsse 3.i und über die Vorgabetasten 14 jeweils das zugehörige Merkmal für 1 ingang" oder für "AusSsang" eingegeben, damit allein sind schon, über die Logikschaltung 18, die Signalverbindungen zu den Anschlüssen ).i der Baugruppe 1 hergestellt; alle weiteren 15ingaben im Zuge der Prüfung brauchen dann nur noch Signalvorgaben zu sein, die unter Hinzufügen der Nummer des jeweils in Betracht gezogenen Anschlusses 3.i, also ohne sonstiges Hinzutun seitens des Bedieners, richtig als Eingangsvorgaben 11e oder als Ausgangsvorgaben 11a (Erwartungswerte für die Signalzustände an Signalausgängen 3a bei einer bestimmten Eingangskonstellation) durchgeschaltet werden können. Im hier beschriebenen Beispiel ist allerdings eine Ausführung gewählt, bei der eine solche Zuordnung der Testsignale von Hand mittels einer Eingangsvorgabetaste 9e oder einer Ausgangsvorgabetaste 9a erfolgt.Since an assembly 1 only has a limited number of connections 3.i the function of which the developer is familiar with is the temporal and operational one The process of preparation step 11.0 is far less time-consuming than in the case of more detailed written explanation appears: as when operating a desktop calculator with numeric keypad are at the beginning of the functional test and thus the creation one Test program 4 one after the other via the number input 16 the digits of the numbers of the connections 3.i and via the default keys 14 respectively the associated characteristic for 1 ingang "or for" AusSsang "entered, so alone are already, via the logic circuit 18, the signal connections to the connections ) .i of assembly 1 produced; need all other entries in the course of the test then only signal defaults to be, adding the number of each Considered connection 3.i, i.e. without any other involvement on the part of the Operator, correctly as input specifications 11e or as output specifications 11a (expected values for the signal states at signal outputs 3a with a certain input constellation) can be switched through. In the example described here, however, there is a Execution selected in which such an assignment of the test signals by hand by means of an input preset key 9e or an output preset key 9a takes place.

Nachdem die Anschlüsse 3.i der Baugruppe 1 im Vorbereitungsschritt 11.0 in Signaleingänge 3e und Signalausgänge 3a geordnet wurden, kann der erste eigentliche, funktionelle Prüfschritt 11.1 der Prüfschritte 11.i erfolgen, womit zunächst einmal für sämtliche Anschlüsse 3.i der Baugruppe 1 ein Grundsignal zustand geschaffen wird.After the connections 3.i of the assembly 1 in the preparatory step 11.0 were sorted into signal inputs 3e and signal outputs 3a, the first actual, functional test step 11.1 of test steps 11.i take place, with which first of all a basic signal state for all connections 3.i of the assembly 1 is created.

Dazu wird am Bediengerät 6 in der Spalte '|Prüfen" 9P der Vorgabesteuerung 8 von der Vorbereitungstaste 9V auf die Eingangsvorgabetaste 9e weitergeschaltet. Damit wird automatisch, aufgrund der internen Organisation des Bediengerätes 6, durch eine Verriegelungsschaltung die Funktion der Vorgabetasten 1k außer Betrieb gesetzt und stattdessen ein bisher zur Vermeidung mgl. Fehlbedienungen verriegelter Vorgabeschalter 20 zusätzlich zur Zifferneingabe 16 freigegeben. Nun erfolgen als eingangsseitige Teilschritte des ersten Prüfschrittes 11.1 nacheinander Eingangsvorgaben 11e, z.B. die in Fig. 4 angegebenen. Dazu werden der Reihe nach die Ziffern des momentan betroffenen Anschlusses 3.i über die Zifferneingabe 16 vorgegeben, gefolgt von dem Signal, das je nach Betätigung eines Vorgabeschalters 20 auf den angewählten Eingang gegeben wird: ein L-Signal oder ein O-Signal zur Einstellung des statischen Grundzustandes der Logikschaltung, auf sich die folgenden Prüfschritte aufbauen0 Gemäß dem in Fig. 4 dargestellten Beispiel für den ersten Prüfschritt 11.1 sollen an dem Anschluß 3.101 ein L-Signal, am Anschluß 3.102 ein O-Signal, ...., und an den letzten der vorhandenen Eingänge, den Anschlüssen 3.108 und 3.116 je ein L-Signal anliegen; bei dieser Konstellation für die Signaleingänge 3e der Baugruppe 1 wird aufgrund ihres Funktionsplanes an den Signalausgängen 3a, nach Eingabe sämtlicher Eingangsvorgabejille, an den Anschlüssen 3.105 und 3.113 ein L-Signal, bei 3.114 ein O-Signal, bei 3.115 ein L-Signal;.* bei 3.134 ein O-Signal und schließlich bei 3.135 ein I;-Signal erwartet. Es wird deshalb innerhalb des gegenwärtigen ersten Prüfschrittes 11.1 nach Verabfolgung aller Eilgangsvorgaben 11e von der Eingangsvorgabetaste 9e auf die Ausgangsvorgabetaste 9a weitergeschaltet und nun erfolgen die Ausgangsvorgaben 11a in gleicher Weise1 wie zuvor - etwa wie sie in Fig. 4 beispielhaft als Erwartungswerte angegeben sind - bis sämtliche Signalvorgaben im Vorgabespeicher 15 enthalten sind.For this purpose, the default control 8 is switched from the preparation key 9V to the input default key 9e on the control unit 6 in the column '| Check "9P. Due to the internal organization of the control unit 6, the function of the default keys 1k is automatically disabled by a locking circuit and instead, a default switch 20, which was previously locked to avoid possible operating errors, is released in addition to the input of digits 16. Input defaults 11e, e.g. those specified in FIG .i specified via the numeric input 16, followed by the signal that is given to the selected input depending on the actuation of a default switch 20: an L signal or an O signal for setting the static basic state of the logic circuit the following test steps build up0 According to the example shown in FIG. 4 for the first test step 11.1, an L signal at connection 3.101, an O signal at connection 3.102, ...., and at the last of the available inputs, the Connections 3.108 and 3.116 each have an L signal; In this constellation for the signal inputs 3e of the assembly 1, due to its function diagram, an L signal is generated at the signal outputs 3a, after all input specifications have been entered, at the connections 3.105 and 3.113, at 3.114 an O signal, at 3.115 an L signal. * Expected an O signal at 3.134 and finally an I; signal at 3.135. Therefore, within the current first test step 11.1, after all rapid traverse specifications 11e have been processed, the input specification key 9e is switched to the output specification key 9a and the output specifications 11a are now made in the same way1 as before - for example as they are given as expected values in FIG. 4 by way of example - up to all Signal specifications in the specification memory 15 are contained.

Diese Vorgaben von Eingangs- und Erwartungswerten erfolgen jeweils unter Zuordnung zu einem bestimmten der Anschlüsse 3.i, dessen Nummer über die Ziffereingabe 16 vorgegeben wurde und somit über die Logikschaltung 18, die gemäß dem Vorbereitungsschritt 11.0 eine entsprechende schaltungsmäßige Zuordnung zu den Anschlüssen 3.i vornimmt.These input and expected values are specified in each case with assignment to a specific one of the connections 3.i, its number via the number input 16 was specified and thus via the logic circuit 18, according to the preparatory step 11.0 makes a corresponding circuit assignment to the connections 3.i.

Die Signale, die Eingangsvorgaben 11e darstellen, gelangen folglich jeweils über die Logikschaltung 18 und den Vorgabespeicher- 15 direkt auf die zugeordneten Signaleingänge 3e der Baugruppe 1. Die Ausgangsvorgaben 11a als die Erwartungswerte für die Signalzustände der Signalausgänge 3a werden hingegen nicht direkt auf die Signalausgänge 3a der Baugruppe 1 gegeben, sondern gesteuert über die Logikschaltung 18, in einen Erwartungsspeicher 22 übernommen und mit den tatsächlichen Ausgangswerten der Signalausgänge 3a verglichen. Bei der Vorgabe von Erwartungswerten, also nach Betätigen der Ausgangsvorgabetaste 9a, ist die Möglichkeit einer Eingabe von Impulsen gesperrt.The signals which represent input specifications 11e are consequently obtained each via the logic circuit 18 and the default memory 15 directly to the assigned Signal inputs 3e of the assembly 1. The output specifications 11a as the expected values for the signal states of the signal outputs 3a, however, are not directly on the Given signal outputs 3a of the assembly 1, but controlled via the logic circuit 18, transferred to an expectation memory 22 and with the actual Baseline values of the signal outputs 3a compared. When specifying expected values, i.e. after Pressing the output preset key 9a enables the input of pulses locked.

Nachdem auch alle Ausgangsvorgaben 11a zum momentanen ersten Prüfschritt 11.1 erfolgten, findet in einem letzten Prüf-Teilschritt, dem Bestätigungsteilschritt leib, eine Kontrolle der tatsächlichen Ausgangszustände der Baugruppe 1 statt: wenn die Ausgangsvorgaben 11a mit den tatsächlichen Ausgangszuständen an den Signalausgängen 3a übereinstimmen, arbeitet die Baugruppe 1 für die vorgegebene Signalkombination an den Signaleingängen 3e fehlerfrei. Dieses wird mittels einer Koinzidenzschaltung 23 zwischen dem Erwartungsspeicher 22 und den Signalausgängen 3a überprüft Gleichzeitig mit Ansteuern von Logikschaltung 18t Vorgabespeicher 15 und ggf. Erwartungsspeicher 22 gelangen sämtliche Ein-und Ausgangsvorgaben 11e und 11a über einen Zwischenspeicher 17.1 an den Ubergabespeicher 17.2 zwecks Einspeicherns in das Speichermedium 5. Es ist eine Frage der internen Organisation des Bediengerätes 6, ob bei bestätigter Koinzidenz automatisch oder erst auf ein Kommando des Bedieners hin das Auslesen der Vorgaben vom Zwischenspeicher 1701 zum Umkodieren im Ubergabespeicher 17.2 und Einspeichern in das Speichermedium 5 erfolgt, wonach dann natürlich keine Änderungen im bisherigen Prüfprogramm 4 mehr vom Bediengerät 6 aus vorgenommen werden können, ohne den Prüfstreifen 5a neu herstellen zu müssen.After all of the initial specifications 11a for the current first test step 11.1 takes place in a final test substep, the confirmation substep leib, a check of the actual output states of the assembly 1 instead of: if the output specifications 11a with the actual output states at the signal outputs 3a match, the assembly 1 works for the specified signal combination error-free at the signal inputs 3e. This is done by means of a coincidence circuit 23 checked between the expectation memory 22 and the signal outputs 3a at the same time with control of logic circuit 18t default memory 15 and possibly expected memory 22, all input and output specifications 11e and 11a arrive via a buffer store 17.1 to the transfer memory 17.2 for the purpose of storing in the storage medium 5. It is a question of the internal organization of the operating device 6 whether with confirmed Coincidence automatically or read-out only on a command from the operator the specifications from the buffer 1701 for recoding in the transfer memory 17.2 and Storage in the storage medium 5 takes place, after which then Naturally no changes were made in the previous test program 4 from the control unit 6 can be without having to re-produce the test strip 5a.

Aus Aufwandsgründen ist es zweckmäßig, die interne Organisation des Bediengerätes 6 so auszulegen, daß vorzugebende Impulse (sbu.) mittels derer etwa die Funktion eines bistabilen Kippkreises, eines Schieberegisters oder einer Zählschaltung bit-genau getestet wird, direkt - ohne Speicherung im Vorgabespeicher 15 und im Zwischenspeicher 17.1 -einerseits über die Logikschaltung 18 an die jeweils zugeordneten Signaleingänge 3e gelegt und andererseits über den tßbergabespeicher 17.2 in das Speichermedium 5 eingespeichert werden. Alle anderen Vorgaben, die Eingangsvorgaben 11e und die Ausgangsvorgaben 11a (also die Erwartungswerte für Ausgangszustände bei gegebenen Eingangsvorgaben 11e), werden zweckmäßigerweise zunächst in den Zwischenspeicher 17.1 eingelesen und in das Speichermedium 5 erst danrflleingespeichert, wenn sich dieser momentane Prüfschritt 1fl1.i als erfolgreich herausstellt.For reasons of effort, it is advisable to change the internal organization of the Control unit 6 to be interpreted in such a way that impulses to be specified (sbu.) By means of which approximately the function of a bistable trigger circuit, a shift register or a counting circuit is tested bit-precisely, directly - without storage in the default memory 15 and in the Buffer 17.1 - on the one hand via the logic circuit 18 to the respectively assigned Signal inputs 3e and on the other hand via the transfer memory 17.2 into the Storage medium 5 are stored. All other specifications, the input specifications 11e and the initial specifications 11a (i.e. the expected values for initial states with given input specifications 11e), are expediently first stored in the buffer 17.1 read in and only then stored in the storage medium 5 when this current test step 1fl1.i turns out to be successful.

Im dargestellten Ausführungsbeispiel eines Bediengerätes 6 mit Vorgabesteuerung 8 nach Fig. 1 wird der Bestätigungsteilschritt 11b dadurch vorgenommen, daß nach Abschluß aller Ausgangsvorgaben lla eine als Leuchttaste ausgebildete Abfrage taste 19 betätigt wird, wodurch im Falle der -Koinzidenz eine Koinzidenzanzeige 19 A angesteuert und die Funktion des Ubergabespeichers Ebenso ist es aber möglich, den Bestätigungsteilschritt ii b und daran anschließend bei Koinzidenz die Funktion des Ubergabespeichers 1702 automatisch einzuleiten, sobald sämtliche im Vorbereitungsteilschritt 1100 als Signalein und ausgänge 3e und 3a ausgewiesene Anschlüsse 30i mit Vorgaben belegt sind.In the illustrated embodiment of a control unit 6 with default control 8 according to FIG. 1, the confirmation sub-step 11b is carried out in that after completion of all output defaults lla a query button designed as a light button 19 is actuated, whereby in the case of coincidence a coincidence display 19 A is controlled and the function of the transfer memory However, it is also possible to automatically initiate the confirmation substep ii b and then, if there is a coincidence, the function of the transfer memory 1702 as soon as all connections 30i identified as signal inputs and outputs 3e and 3a in the preparatory substep 1100 are occupied with specifications.

Wird dagegen zu Ende eines Prüfschrittes 11.i (zOBo 11.1), d.h.If, however, at the end of a test step 11.i (zOBo 11.1), i.e.

also beim Bestätigungsteilschritt 11 b, keine Koinzidenz erreicht, dann leuchtet ein. Fehlermeldung 24 A auf, die zweckmäßigerweise mit einer Löschtaste 24 kombiniert ißt. Außerdem werden ein uebergang auf den nächsten Prüfschritt 11.2 und die Funktion des Ubergabespeich.rs 17.2 gesperrt. Der Fehlerort läßt sich dann anhand eines Prüfprotokolles,ähnlich der Darstellung in Fig. 4, aus den momentanen Signalzuständen an den Signaleingängen 3e und Signalausgängen 3a ermitteln0 Um den Fehlerort schnell zu finden, ist ei zweckmäßig, den Anschlüssen 3. i eine Leuchtanzeige 28 derart anzuordnen, daß eine Lampe beispielsweise aufleuchtet, wenn an dem ihr zugehörigen Anschluß 3.i ein L-Signal anet#ht.So in the confirmation substep 11 b, no coincidence is reached, then makes sense. Error message 24 A, expediently with a delete key 24 eats combined. In addition, a transition to the next test step 11.2 and the function of the Uberabespeich.rs 17.2 blocked. The error location can then on the basis of a test protocol, similar to the illustration in FIG. 4, from the current Determine the signal states at the signal inputs 3e and signal outputs 3a It is advisable to quickly find the location of the fault by adding an indicator light to the connections 3. 28 to be arranged in such a way that a lamp lights up, for example, when you are on the associated connection 3.i an L signal anet # ht.

Eine weitere Vereinfachung der Fehlersuche stellt es dar, wenn diese Leuchtanzeige 28 so mit dem Vorgabespeicher 15 und dei Erwartungsspeicher 22 zusammengeschaltet ist, daß sie zu Signalausgängen 3a, deren Signale während des Bestätigungstejischrittes 11b nicht mit den eingegebenen Erwartungswerten übereinstimmen, ein besonderes Kennzeichen abgibt. Eine sinnfällige Wahl dieses Kennzeichens besteht darin, über eine Unterbrecherschaltung 27 die Leuchtanzeige 28 dieses einen Signalausganges 3a kurzzeitig aufleuchten zu lassen, wenn ein L-Signal als Erwartungswert vorgegeben wurde, aber nicht tatsächlich erscheint, und umgekehrt die dem fehlerhafte Funktion aufweisenden Anschluß 30i zugeordnete Leuchtanzeige 28 kurzzeitig dunkelzutasten, wenn ein zwar vorgegebenes Null-Signal ja Erwartungsspeicher 22 enthalten ist aber im gegenwärtigen Prüfschritt 110i stattdessen am zugeordneten Signalausgang 3a fälschlich ein L-Signal auftritt.A further simplification of troubleshooting is when this Illuminated display 28 is interconnected with the default memory 15 and the expectation memory 22 is that them to signal outputs 3a, their signals during the confirmation step 11b do not match the expected values entered, a special feature gives away. A sensible choice of this indicator is to use an interrupter circuit 27 the indicator light 28 of this one signal output 3a light up briefly leave if an L signal was specified as an expected value, but not actually appears, and vice versa the terminal 30i having the faulty function associated indicator light 28 briefly dark when a predetermined Zero signal yes expectation memory 22 is included in the current test step 110i instead an incorrectly low signal occurs at the assigned signal output 3a.

In diesen Fällen, bei denen beim Bestätigungsteilschritt lib keine Koinzidenz für den momentanen Prüfechritt Ilei erreicht wird, kann entweder eine falsche Eingangs- oder Ausgangsvorgabe 11e oder lla die Ursache des Fehlers sein oder ein Schaltungsfehler innerhalb der Baugruppe t vorliegen. Stellt sich aus einem Vergleich mit dem Funktionsplan ein Schaltungsfehler heraus1 so kann die Baugruppe 1 dem Bediengerät 6 entnommen und überarbeitet werden, und anschließend wird der Prüfablauf beim schon vorbereiteten Prüfschritt 11.i fortgesetzt, denn das gesamte bisherige Prüfprogramm 4 des momentanen Prüfschrittes 11.i ist ja noch im Vorgabespeicher 15 enthalten0 Stellt sich eine falsche Signalvorgabe als Fehlerursache heraus, dann wird die Löschtaste 24 betätigt und daraufhin die Nummer des Anschlusses 3.i über die Ziffereingabe 16 neu vorgegeben, dem eine falsche Eingangs- oder Ausgangsvorgabe lla oder 11e zugeordnet wurde, wodurch diese falsche Eingabe im Vorgabespeicher 15 bzw. Erwartungsspeicher 22 gelöscht wird. Wie oben beschrieben, kann hierfür nun stattdessen eine neue Vorgabe vorgenommen werden, das bisherige Prüfprogramm 4 steht weiterhin zur Verfügung.In those cases in which no Coincidence for the current test step Ilei is reached, either a Incorrect input or output specification 11e or lla could be the cause of the error or there is a circuit fault within the assembly t. Turns out one Comparison with the function diagram shows a circuit fault1 so the module 1 can be removed from the control unit 6 and revised, and then the Test procedure for the already prepared test step 11.i continued, because the entire previous test program 4 of the current test step 11.i is yes still contained in the default memory 15 0 If an incorrect signal default occurs as the cause of the error, then the delete key 24 is pressed and then the Number of the connection 3.i newly specified via the digit input 16, which is an incorrect one Input or output specification lla or 11e was assigned, making them wrong Input in the default memory 15 or expectation memory 22 is deleted. As above described, a new specification can now be made instead, the previous test program 4 is still available.

Falls der Zwischenspeicher 17.1 ein Schieberegister oder eine andere Anordnung ist, bei der kein unmittelbarer Zugriff zu einem beliebigen, definierten Speicherplatz möglich ist, dann wird mit Betätigen der Löschtaste 24 dessen Inhalt insgesamt gelöscht, und der gegenwärtige Teilschritt ist insgesamt zu wiederholen.If the buffer 17.1 is a shift register or another Arrangement is in which there is no direct access to any, defined Storage space is possible, then when the delete key 24 is actuated, its content is deleted deleted altogether and the current substep must be repeated in its entirety.

Wenn - ggf. nach Korrekturen - für einen Prüfschritt Ilol im Bestätigungsteilschritt 11 b Koinzidenz erreicht wurde, also ein Prüfschritt 111 erfolgreich beendet wurde, schaltet mittels einer Zählschaltung 29 die Prüfschrittanzeige 12P automatisch um eine Einheit weiter, als Zeichen dafür, daß nun der nächste Prüfschritt 110i = 11.2 vorge nommen werden kann; zugleich wird der momentane, den soeben erfolgreich beendeten Prüfschritt 11.1 darstellende Inhalt des Zwischenspeichers 17.1 - soweit noch nicht geschehen - nun vom Ubergabespeicher 1702 zum Einspeichern in das Speichermedium 5 übernommen1 ohne allerdings den Inhalt des Vorgabespeichers 15 zu beeinflussen0 Für den nächsten Prüfschritt 11.2 wird wie oben verfahren, d.h - die Eingangsvorgabetaste 9e erneut betätigt (der zuallererst durch die Vorbereitungstaste 9V eingeleitete Vorbereitungsschritt 1100 und damit die Konstellation der Logikschaltung 18 bleiben ja für sämtliche Prüfschritte 11#i einer Baugruppe 1 gültig und erhalten!)* Die Eingangsvorgaben 11e für den nächsten Prüfschritt 1102 nach erfolgreich abgeschlossenem Prüfschritt 1101 sind in der Regel wesentlich weniger umfangreich, als beim ersten Prüfschritt 11.1, da nach einem weiteren Gesichtspunkt dieser Erfindung nun nur noch solche Signalvorgaben neu eingegeben zu werden brauchen, die sich von denjenigen des unmittelbar vorangegangenen Prüfschrittes 11.i unterscheiden.If - possibly after corrections - for a test step Ilol in the confirmation substep 11 b coincidence was reached, i.e. a test step 111 was successfully completed, switches the test step display 12P automatically by means of a counting circuit 29 one unit further, as a sign that the next test step 110i = 11.2 pre can be taken; at the same time the momentary one becomes the one just now Successfully completed test step 11.1 showing the contents of the buffer 17.1 - if not already done - now from the transfer memory 1702 for storing transferred to the storage medium 51 without, however, the content of the default memory 15 to be influenced 0 For the next test step 11.2, proceed as above, i.e. - the input preset key 9e is pressed again (first of all by the preparation key 9V initiated preparatory step 1100 and thus the constellation of the logic circuit 18 remain valid and retained for all test steps 11 # i of an assembly 1!) * The input specifications 11e for the next test step 1102 after it has been successfully completed Check steps 1101 are generally much less extensive than in the first Test step 11.1, since according to a further aspect of this invention now only such signal specifications still need to be re-entered that differ from those of the immediately preceding test step 11.i.

Gemäß Fig. 4 sei beispielsweise angenommen, daß der nächste Prüfschritt 11.2 sich gegenüber dem vorangegangenen Prüchritt 11.1 nur dadurch -unterscheidet, daß jetzt die Eingangsvorgabe 11e am Anschluß 3.101 nicht mehr "L" sondern "O" laute und der Anschluß 3o103 jetzt mit Impulsen angesteuert werden soll, was bei gegebener Baugruppe 1 zur Folge habe, daß für den stationären Endzustand die Ausgangsvorgaben 11a an den Anschlüssen 3o114 und 3.115 vertauscht werden müssen0 Dann sind bei einer Vorrichtung nach dieser Erfindung für den gegenwärtigen Prüfschritt 11.2 lediglich diese Änderungen gegenüber dem vorangegangenen Prüfschritt 11.1 vorzugeben, alle übrigen Eingangs- und Ausgangsvorgaben 11e und 11a werden aus dem Vorgabespeicher 15 übernommen, wo sie schon seit dem vorangegangenen Prüfschritt 11.1 (ggf. schon seit mehreren vorangegangenen Prüfschritten) vorliegen.According to FIG. 4 it is assumed, for example, that the next test step 11.2 differs from the previous test step 11.1 only in that the input specification 11e at connection 3.101 is no longer "L" but "O" and connection 3o103 is now also Pulses are to be controlled, which for a given assembly 1 has the consequence that the output specifications 11a at the connections 3o114 and 3.115 have to be swapped for the stationary final state Specify test step 11.1, all other input and output specifications 11e and 11a are taken from the default memory 15, where they have been present since the previous test step 11.1 (possibly for several previous test steps).

Es kann aus Aufwandrgrünien, hinsichtlich der Auslegung des Vorgabespeichers 15 und des Zwischenspeichers 17.1> zweckmäßig sein, vorzugebende Impulse (im Beispiel der Fig. 4 auf den Anschluß 3.103) nicht in den Vorgabespeicher 15 und den Zwischenspeicher 17.1 einzulesen9 sondern unmittelbar einerseits über die LogikschaLtung 18 auf die Baugruppe 1 einwirken zu lassen und andererseits mittels des Ubergabespeichers 17.2 in das Speichermedium 5 einzuspeichern. In solchem Falle wäre also bei sämtlichen Prüfschritten 11.i außer den tatsächlich zu ändernden Vorgaben auch die - ggf unveränderte -Impulsvorgabe für Anschluß 3o103 erneut vorzunehmen Aus Gründen der weiteren Bedienungsvereinfachung ist das Bediengerät 6 zweckmäßigerweise so aufgebaut, daß lediglich die Anzahl Z der vorzugebenden Impulse, nicht auch noch deren logischer Pegel, vorgewählt zu werden braucht; beispielsweise ergibt sich aus dem Prüfschritt 1101 (S. Fig. 4), daß am Anschluß 3o103 bisher O-potential anstand, so daß eine Vorgabe Impulse" nur L-Impulse beim Prüfsohritt 11.2 sein können. Der interne Signalablauf innerhalb des Bediengerätes 6 bewirkt ferner, daß bei Betätigen der "Impuls"-Taste des Vorgabeschalters 20 die eingestellte Anzahl Z von Impulsen nicht zwischengespeichert wird. Bei betätigter Ausgangsvorgabetaste 9a ist die 'BImpuls"-Taste außer Funktion, da ja nur statisches Signalverhalten der Baugruppe 1 überprüft wird, also die Funktion, die erfahrungsgemäßlüber 80 R; aller Baugruppen 1 einer komplexen digitalen Datenverarbeitungse anlage von ausschlaggebendem Interesse ist.For reasons of expenditure, with regard to the design of the default memory 15 and the intermediate memory 17.1, it may be expedient not to read in predetermined impulses (in the example of FIG. 4 to the connection 3.103) into the default memory 15 and the intermediate memory 17.19 but directly on the one hand via the logic circuit 18 to act on the assembly 1 and, on the other hand, to be stored in the storage medium 5 by means of the transfer memory 17.2. In such a case, in addition to the specifications that are actually to be changed, the - possibly unchanged - pulse specification for connection 3o103 would have to be carried out again for all test steps 11.i.For reasons of further simplification, the operating device 6 is expediently designed so that only the number Z of pulses to be specified , not also whose logic level needs to be preselected; For example, test step 1101 (see FIG. 4) shows that there was previously O-potential at connection 3o103, so that a specification Impulses "only L-impulses at the test step 11.2 can be. The internal signal sequence within the control unit 6 also has the effect that when the "pulse" key of the default switch 20 is actuated, the set number Z of pulses is not temporarily stored. When the output preset key 9a is actuated, the "pulse" key is inoperative, since only the static signal behavior of module 1 is checked, i.e. the function that experience has shown over 80 R; of all modules 1 of a complex digital data processing system is of decisive interest.

Es ist ersichtlich, daß alle späteren Prüfschritte 11.i in der Regel hinsichtlich der mit Vorgaben zu belegenden Anschlüsse ).i wesentlich weniger umfangreich ausfallen, als der erste Prüfschritt 11.1, im Zuge dessen sämtliche in Betracht kommende Anschlüsse 3.i erstmals mit statischen Signalvorgaben belegt werden. Zur weiteren Aufwandseinsparung insbesondere hinsichtlich des Zwischenspeichers 17.1 ist es daher gemäß einer Weiterbildung dieser Erfindang vorteilhaft, diese} nicht nach dem maximalen möglichen Informationsumfang (nämlich für den ersten Prüfschritt 11.1) zu dimensionieren, sondern ihn für einen wesentlich geringeren Umfang einzurichten. Zweckmäßigerweise ist die interne Steuerung des Zwischenspeichers 17.1 dafür so organisiert, daß die in ihm enthaltene jeweils ältste Information über den Ubergabespeicher 17.2 in das Speichermedium 5 eingespeichert wird, sobald der Zwischenspeicher 17.1 gefüllt ist und eine neue Vorgabeinformation aufnehmen soll Am einfachsten ist dieses realisierbar durch einen Zwischenspeicher 17.1 in Form eines Schieberègisters mit begrenzter Stellenzahl: wenn das Schieberegister mit Informationen gefüllt ist, wird die in der letzten Zelle enthaltene, also älteste Information an den Ubergabespeicher 17.2 übertragen, sobald eine neue Vorgabeinformation in den Zwischenspeicher 17.1, d.h. in die erste Stelle des Schieberegisters, eingelesen wird. Da die Logikschlatung 18 mit dem Vorgabespeicher 15 kombiniert ist, bleibt auch nach Ubertragen der Vorgaben eines Prüfschrittes 11.i in das Speichermedium 5 die Beschaltung und Ansteuerung der Anschlüsse 5.i aufrechterhalten, bis im Zuge eines späteren Prüfschrittes 11.i zu einem bestimmten Anschluß 3.i eine neue Vorgabe erfolgt und zugleich in den Zwischenspeicher 1701 eingelesen wird. So wird erreicht, daß auch bei umfangreichen Prüfungen das im Speichermedium 5 enthaltene Prüfprogramm 4 nur einen relativ begrenzten Umfang aufweist, nämlich nur immer Vorgaben, die sich gegenüber den Vorgaben des unmittelbar voraufgegangenen Prüfschrittes 11.i ändern.It can be seen that all subsequent test steps 11.i as a rule with regard to the connections to be assigned with specifications) .i much less extensive fail, as the first test step 11.1, in the course of which all Possible connections 3.i are assigned static signal specifications for the first time will. For further saving of effort, especially with regard to the buffer 17.1 it is therefore advantageous, according to a further development of this invention, to use this} not according to the maximum possible amount of information (namely for the first test step 11.1), but to set it up for a much smaller scope. The internal control of the intermediate store 17.1 is expediently like this for this purpose organizes that the oldest information contained in it about the transfer memory 17.2 is stored in the storage medium 5 as soon as the buffer 17.1 is filled and a new default information is to be included. This is easiest can be implemented with a buffer 17.1 in the form of a slide register limited number of digits: if the shift register is filled with information, the oldest information contained in the last cell is sent to the transfer memory 17.2 transferred as soon as a new specification information is in the buffer 17.1, i.e. into the first position of the shift register. Since the logic circuit 18th is combined with the default memory 15, also remains after Transferring the specifications of a test step 11.i to the storage medium 5, the wiring and control of the connections 5.i maintained until in the course of a later Test step 11.i for a specific connection 3.i a new specification is made and is read into the buffer 1701 at the same time. So that too is achieved in the case of extensive tests, the test program 4 contained in the storage medium 5 only has a relatively limited scope, namely only ever specifications that are opposite change the specifications of the immediately preceding test step 11.i.

Sind sämtliche für die Prüfung einer Baugruppe 1 vor gesehenen Prüfschritte 11.i auf diese Weise erfolgreich durchgeführt worden, dann wird das auf dem Prüfstreifen 5a abgespeicherte Prtifprogramm 4 durch eine Endmarke 30 beendet, indem eine Endtaste 9S' betätigt wird.Are all the test steps envisaged for testing an assembly 1 11.i has been successfully performed this way, then that will be on the test strip 5a, the stored test program 4 is terminated by an end mark 30 by pressing an end key 9S 'is actuated.

Der Inhalt des Speichermediums 5 stellt zwischen Startmarke 10 und Endmarke 30 dann ein denkbar komplettes Prüfprogramm für die Baugruppe 1 dar, das im Zuge des Prüfens eines Entwicklungsexemplares dieser Baugruppe 1 vom Entwickler selbst nebenbei erstellt wurde, während und indem er diese Prüfung vornahm, wobei diese Prüfarbeiten durch eine einfach zu bedienende Vorrichtung nach dieser Erfindung noch in einer Weise gefördert werden, die unerkannte Auslassungen oder Bedienungsfehler praktisch eliminiert.The content of the storage medium 5 is between the start mark 10 and End mark 30 then represents a conceivably complete test program for the assembly 1, the in the course of testing a development copy of this assembly 1 by the developer himself was created incidentally, while and by doing this test, whereby this test work through an easy-to-use device According to this invention can still be promoted in a way that eliminates undetected omissions or operating errors practically eliminated.

Eine verhältnismäßig geringfügige aber für dis praktische Anwendung einer Vorrichtung nach dieser Erfindung recht zweckmäßige Erweiterung stellt es dar, das bisher beschriebene Ausführungsbeispiel eines Bediengerätes 6 so zu ergänzen, daß mit ihm ein Duplizieren von Priifprogrammen 4 ermöglicht wird, z.B. um ein Doppel des Prüfatreigens 5a als Archivexemplar unmittelbar nach Abschluß der Prüfung zu erstellen. Dazu wird innerhalb des Drucktastensohaltersatzes 9 auf die Spalte ~Duplizieren" 9D des Anwahlschalters 9W umgeschaltet, wobei die gesamte Ansteuerung der Baugruppe 1 außer Funktion gesetzt wird.A relatively minor but practical application a device according to this invention is a very useful extension is to supplement the previously described embodiment of a control unit 6 so that that with it a duplication of test programs 4 is made possible, e.g. by a duplicate of the test series 5a as an archive copy immediately after the test has been completed create. To do this, within the pushbutton holder set 9, the column ~ Duplicate " 9D of the selector switch 9W switched over, with the entire control of the module 1 is disabled.

Dieses Duplizieren kann bei der praktischen Anwendung dieser Erfindung auch von Interesse sein, wenn es etwa gilt, innerhalb eines umfangreichen Prüfprogrammes 4 denjenigen Teil, der sich nicht mehr über die Löschtaste 24 korrigieren läßt, von Anfang bis zu der Stelle eines später äufgefundenen Fehlers neu in ein Speichermedium 5 einzuspeichern, um dann von dieser Stelle aus die weiteren Prüfschritte 110i gemäß bisheriger Beschreibung richtig anschließen zu können. Eine andere Bedeutung hat das Duplizieren zum Herstellen einer Mehrzahl gleicher Prüfprogramme 4, wenn mehrere Testgeräte entsprechend diesem beschriebenen Bediengerät 6 - etwa bei der Serienprüfung im Prüffeld im lochstreifengesteuerten Automatenbetrieb -gleichzeitig betrieben werden sollen.This duplication can be used in the practice of this invention also be of interest, for example, within an extensive test program 4 the part that can no longer be corrected using the delete key 24, from the beginning to the point of an error found later in a storage medium 5 in order to then proceed from this point to the further test steps 110i according to FIG previous description correct to be able to connect. Another Duplication is important in order to produce a large number of identical test programs 4, if several test devices in accordance with this operating device 6 described - for example during series testing in the test field in the punched strip-controlled machine operation - at the same time should be operated.

Zum Duplizieren wird lediglich die Funktionsschleife beansprucht, die in Fig. 2-unten dargestellt ist: nach Vorlauf des Prüfstreifens 5a infolge Betätigung einer Vorlauftaste 9DV wird ab Betätigen der Starttaste 9DS mittels eines Abfragegerätes 32 vom Prüfstreifen 5a das Prüfprogramm 4 abgelesen und damit ein Speicheransteuer gerät 33 - im Falle eines Lochstreifens als Prüfstreifen 5a ein Stanzer - angesteuert, der das gleiche-Prüfprogramm 4 zu einem weiteren Prüfstreifen 5a gestaltet. Zum Unterbrechen des Duplizierens wird die Stoptaste 9DS' betätigt, der Vorgang ist beendet beim Erscheinen der Endmarke 300 Zum automatischen Prüfen von Baugruppen 1 mittels Steuerung durch das gemäß vorstehender Beschreibung erstellte Prüfprogramm 4 wird eine Vorrichtung benutzt, die hinsichtlich der Ansteuerung der Anschlüsse 3.i der Baugruppe 1 in gleicher Weise funktioniert, wie bisher beschrieben. Lediglich die Eingabemöglichkeiten der Vorgabesteuerung 8 sind dafür nun nicht mehr erforderlich.Only the function loop is used for duplication, which is shown at the bottom in Fig. 2: after the test strip 5a has passed as a result of actuation a forward key 9DV is activated by pressing the start key 9DS by means of an interrogation device 32 read the test program 4 from the test strip 5a and thus a memory control device 33 - in the case of a perforated strip as test strip 5a a punch - controlled, which forms the same test program 4 into a further test strip 5a. To the Interrupting the duplication, the stop button 9DS 'is pressed, the process is ended when the end mark 300 appears. For automatic testing of assemblies 1 by means of control by the test program created as described above 4, a device is used that, with regard to the control of the connections 3.i of assembly 1 works in the same way as described so far. Only the input options of the default control 8 are for that now not necessary anymore.

Bei dem in Fig. 1 dargestellten Ausführungsbeispiel eines Bediengerätes 6 handelt es sich insofern um eine bevorzugte Ausführungsform, als im Hinblick auf einen möglichst vielseitigen Einsatz solchen Gerätes dort auch die Verwendung desselben Gerätes zum automatischen Prüfen mit Hilfe eines fertigen Prüfprogrammes 4 vorgesehen isto Dazu wird am Anwahlschalter 9W auf die Spalte "Automatik" 9A umgeschaltet, und nach Betätigen der Starttaste 9AS wird ein in das Abfragegerät 32 eingelegter Prüfstreifen 5a sukzessive abgefragt0 Die einzelnen bei Aufbau des Prüfprogrammes 4 nacheinander vorgenommenen Teilschritte zu Prüfsohritten 110i werden dabei in gleicher Reihenfolge in einem Dekodierer 34, der die Verschlüsselung des Ubergabespeichers 17.2 rückgängig macht, in Informationen zurückgewandelt, die mit den früheren Signalvorgaben für das Ansteuern der Logikschaltung 18 während des Erstellens des Prüfprogrammes 4 identisch sind. Es wird also jetzt in gleicher Reihenfolge die Prüfung einer Baugruppe 1 vorgenommen, wie zuvor während des Betriebes der Spalte ~Prüfen" 9P bei Vorgabe im Handbetrieb mit gleichzeitigem Erstellen des Prüfprogrammes 4, lediglich können jetzt keinerlei Fehlvorgaben mehr erscheinen, und der Ablauf des Prüfvorganges ist nicht an Geschicklichkeit des Bedienungspersonals gebunden, sondern das Durchlaufen des Prüfprogrammes 4 geschieht so rasch, wie es das Abfragegerät 32, zaBo ein Lochstreifenleser, zuläßt.In the embodiment of an operating device shown in FIG. 1 6 is a preferred embodiment insofar as with regard to a versatile use of such a device there also the use of the same Device for automatic testing with the aid of a finished test program 4 is provided isto To do this, switch to the "Automatic" column 9A at the selection switch 9W, and after the start button 9AS has been pressed, a is inserted into the interrogator 32 Test strips 5a queried successively0 The individual ones when setting up the test program 4 successive partial steps for test steps 110i are shown in same order in a decoder 34, which encrypts the transfer memory 17.2 reverses, converted back into information that corresponds to the previous signal specifications for controlling the logic circuit 18 while the test program is being created 4 are identical. The test of an assembly is now carried out in the same order 1 carried out as before during the operation of the column ~ Check "9P with default in manual mode with simultaneous creation of the test program 4, only can now no more incorrect specifications appear, and the test process is complete not tied to the skill of the operating personnel, but walking through it of the test program 4 happens as quickly as the interrogation device 32, e.g. a paper tape reader, allows.

solange sämtliche Prüfschritte 11.i des Prüfprogrammes 4 bestätigt werden, die Baugruppe 1 also richtig arbeitet und für die jeweiligen Eingangsvorgaben 11e die erwarteten Ausgangssignale liefert, leuchtet eine Kontroll-Lampe 35 auf. Sobald einmal am Ende eines Prüfschrittes 110i keine Koinzidenz in der Koinzidenzschaltung 23 festge6tellt werden kann, erlischt die Kontroll-Lampe 35, und es erscheint eine Fehleranzeige 360 Zugleich wird das Ablesen des Prüfprogrammes 4 gestoppt, und aufgrund der Prüfschrittanzeige 12P und der Leuchtanzeige 28 läßt sich feststellen, bei welcheie der Prüfschritte 11.i ein Fehler in der Baugruppe 1 enthalten istt Die dem entsprechenden Au6gangskontaktJ 9s der den vorgegebenen Erwartungswert nicht erreicht hat, zugeordnete-Leuchtanzeige 28 blitzt kurz auf oder wird kurz dunkelgetastet, je nach dem, ob der erwartete Wert "logisch L" oder ~logisch 0" sein sollte, von dem tatsächlichen Ausgangswert jedoch nicht erreicht wurden. Die Baugruppe 1 kann dann dem Bediengerät 6 entnommen und schaltungsmäßig korrigiert werden, und nach neuem Einführen in das Bediengerät 6 wird durch Betätigen einer Repetiertaste 9AR, die zweckmäßigerweise mit der Leuchtanzeige 36 kombiniert ist, auf die Startiarke 10 zurückgestellt und dort ein erneuter Start des Prüfprogrammes 4 vorgenommen.as long as all test steps 11.i of test program 4 are confirmed , the assembly 1 works correctly and for the respective input specifications 11e delivers the expected output signals, a control lamp 35 lights up. As soon as there is no coincidence in the coincidence circuit at the end of a test step 110i 23 can be determined, the control lamp 35 goes out and a appears Error display 360 At the same time, the reading of the test program 4 is stopped, and due to the test step indicator 12P and the indicator light 28 can be determined at which they of the test steps 11.i an error is contained in the assembly 1 The corresponding Output contact 9s that has not reached the specified expected value, associated indicator light 28 flashes briefly or is briefly blanked, depending on whether the expected Value should be "logical L" or ~ logical 0 "from the actual output value however, were not achieved. the Module 1 can then be the control unit 6 can be removed and corrected in terms of the circuitry, and after re-insertion into the Control unit 6 is activated by pressing a repeat button 9AR, which is expediently is combined with the indicator light 36, reset to the starting mark 10 and the test program 4 was restarted there.

Eine weitere sinnvolle Ergänzung zur Vereinfachung der Bedienung dieses universell verwendbaren Bediengerätes 6 nach der voritegenden Erfindung stellt es dar, den Leuchtanzeigen 28 für die einzelnen Anschlüsse 3.i der Baugruppe 1 eine Buchsenleiste 39 zuzuordnen, über die die Anschlüsse 3.i uaittelbar zugänglich sind. Dieses kann von Interesse 8ein, um in Einzelfällen den Spannungspegel dex L-8ign1es an einem Signalausgang 3a oder mittels eines Oszillographen einen Spannungsverlauf zu überprüfen. Auß4rdes konnten über diese Buchsenleiste 39 test vorgegebene Potentiale durch Außenbeschaltung vorgegeben werden, sofern sie nicht - wie beispielsweise ggf. die Energieversorgung für die Baugruppe 1 - bereits fest mit der Steckerleiste 7 verdrahtet sind und sofern interne Sicherheitsschaltungen im Bediengerät 6 vorgesehen sind 7 die Zerstörungen durch irrtümlich falsche Einspeisung, z.B. an einem Kontakt 3.i, der ein Signalausgang 3a ist, verhüten.Another useful addition to simplify the operation of this Universally usable control device 6 according to the previous invention, it represents represents, the light displays 28 for the individual connections 3.i of the assembly 1 a Assign socket strip 39, via which the connections 3.i are directly accessible. This can be of interest to determine the voltage level dex L-8ign1es in individual cases a voltage curve at a signal output 3a or by means of an oscilloscope to check. In addition, 39 test-given potentials could be tested via this socket strip are specified by external wiring, provided that they are not - such as, for example possibly the power supply for module 1 - already firmly attached to the connector strip 7 are wired and if internal safety circuits are provided in the control unit 6 7 are the destruction caused by mistakenly incorrect feed, e.g. on a contact 3.i, the one signal output 3a is, prevent.

Eine weitere Bedienungsvereinfachung dieses universell einsetzbaren und denkbar einfach anzuwendenden, dabei im Aufbau relativ unkomplizierten Bediengeräts 6, -insbesondere während des Betriebes der Spalte ~Prüfen" 9P zum Erstellen eines Prüfprogrammes 4, stellt es dar, unterhalb der Aufnahme für die Baugruppe 1 im Bediengerät 6 eine über einen Schalter 41- betätigbare Beleuchtung 42 vorzusehen1 so daß im Falle von Baugruppen 1 in Form gedruckter Schaltungen auf Isolierstoffplatinen diese Platinen von unten angestrahlt werden und dadurch für den Bediener des Bediengerätes 6 der Verlauf der einzelnen Schaltbahaen 2d zwischen der Funktionsteilen 2 an der Oberseite der Baugruppe 1 als Schattenbild erkennbar wird. Dadurch wird die Fehlersuche bei oszillographischer Prüfung einzelner Punkte innerhalb der Verschaltung der Baugruppe 1 erleichtert, vor allem aber ist mit dieser Ifilfe schnell erkennbar, ob bei der zu prüfenden Baugruppe 1 im Zuge der Serienfertigung irgendwo fälschlich Lotbrücken zwischen den Schaltbahnen 2dbelm Schwall-Löten im Zinnbad) oder Unterbrechungen der Schaltbahnen 2d vorgekommen sind.A further simplification of the operation of this universally applicable and extremely easy to use control unit with a relatively uncomplicated structure 6, -particularly during the operation of the column ~ Check "9P to create a Test program 4, it represents, below the receptacle for the assembly 1 in the control unit 6 an illumination 42 which can be operated via a switch 41 is to be provided1 so that in the Case of assemblies 1 in the form of printed circuits on insulating boards these Boards are illuminated from below and thus for the operator of the control unit 6 the course of the individual Schaltbahaen 2d between the functional parts 2 on the Top of the assembly 1 can be seen as a silhouette. This will help troubleshoot with oscillographic testing of individual points within the interconnection of the module 1 makes it easier, but above all, this If help quickly shows whether the assembly to be tested 1 in the course of series production incorrectly solder bridges somewhere between the switching tracks 2dbelm wave soldering in the tin bath) or interruptions the switching tracks 2d have occurred.

Eine zusätzliche Vervollkommnung des in Fig. 1 dargestéllten Bediengerätes 6 besteht darin, eine automatische oder von Hand zu betätigende Abfrage des Spannungspegels aller Signalausgänge nacheinander zu Ende eines jeden Prüf6chrittes 110i, zo B. im Zuge der EoinzidenzabfrageX vorzunehmen und eine Warnanzeige- bzw. ein Stoppen bei automatischem Prüfbetrieb - zu veranlassen, wenn der Spannungspegel unter die kritische Grenze für störungsfreies Arbeiten der digitalen Schaltfunktionen abgesunken isto In Figo 1 ist diese Pegelkontrolle 43 symbolisch durch einen Anwahischalter 43 A dargestellt, Durch den Anwahlschalter 43 A kann ein Anschluß 3.i mit einem Pegeldiskriminator verbunden werden, der nach Art einer bekannten potentialgesteuerten Kippstufe arbeitet und eine der beiden Kontrollleuchten 4300 oder 43.L ansteuert, je nachdem, ob an diesem Anschluß 3.i gerade ein O-Potential (zoBo bei integrierten Schaltungen ca. 0,3 Volt) oder ein L-Potential (z.B. ca. 4,8 Volt) ansteht; wenn keine beider Kontrollleuchten 43.0 oder 43.L aufleuchtet, ißt dae ein Indiz für eine Leitungsunterbrechung, z.B. infolge Bruches der Schaltbahn 2d zu diesem Anschluß 3#i. Über eine Prüfbuchse 431 ist schließlich, mittels einer externen Leitungsverbindung, jeder beliebige Punkt innerhalb der Baugruppe 1 für diese Pegeldiskrimination zugänglich.An additional improvement of the control device shown in FIG. 1 6 consists in an automatic or manually operated query of the voltage level all Signal outputs one after the other at the end of each test step 110i, e.g. in the course of the incidence queryX and a warning display or a stop in the case of automatic Test mode - to be initiated when the voltage level falls below the critical limit for trouble-free operation of the digital switching functions is o In Figo 1 this level control 43 is symbolically represented by a selection switch 43 A, By means of the selection switch 43 A, a connection 3.i with a level discriminator are connected, which works in the manner of a known potential-controlled multivibrator and controls one of the two indicator lights 4300 or 43.L, depending on whether on this connection 3.i just has an O potential (zoBo for integrated circuits approx. 0.3 volts) or an L potential (e.g. approx. 4.8 volts) is present; if neither of the two indicator lights 43.0 or 43.L lights up, this is an indication of a line interruption, e.g. as a result of the break in the switching path 2d to this terminal 3 # i. Via a test socket 431 is finally, by means of an external line connection, any point accessible within assembly 1 for this level discrimination.

Als Erweiterung von Vorrichtungen zum Durchführen des erfindungsgemäßen Verfahrens ist es auch sinnvoll, daß ein programmgesteuert es Schreibgerät 44 an das Bediengerät 6 angeschlossen wird, über das im Falle von Störungs-Stopp ein Ausdrucken derjenigen Anschlüsse 30i und derjenigen Eingangs-und Ausgangsvorgaben 11e und 11a erfolgt, hinsichtlich derer sich ein Fehler bei der automatischen Prüfung herausstelltO Dazu ist lediglich die momentane Aussteuerung der Baugruppe 1 zu entschlüsseln und im Klartext auszuschreiben, wie es aus der Rechenanlagentechnik geläufig ist. In gleicher Weise kann auch, z0 B. im Zuge des Duplizierens, ein Ausschreiben des gesamten Prüfprogrammös 4 im Klartext erfolgen, so daß dann ein Prüfprotokoll entsprechend der Darstellung in Figo 4 vorliegt, das bei der Fehlersuche zugrundegelegt werden kann0 Dazu wird dann nicht lediglich die Folge der Informationen im Prüfstreifen 5a ausgegeben, sondern in einem SchreibgernSt 44 findet im Zusammenwirken mit der Logikschaltung 18 eine Umschlüsselung in gleicher Weise statt, wie es der schrittweisen Ansteuerung der Baugruppe 1 zum Prüfen entspricht, do h01 jeder Prüfschritt 110i wird mit sämtlichen Ein - und Ausgangsvorgaben 11e und 11a vollständig ausgeschrieben.As an extension of devices for performing the invention In the process, it is also sensible for a program-controlled writing device 44 to be connected to it the control unit 6 connected via which in the event of a fault stop a printout of those connections 30i and those input and output specifications 11e and 11a takes place, with respect to which there is an error in the automatic test It is only necessary to decipher the current modulation of module 1 and write it out in plain text, as is common in computer engineering. In the same way, e.g. in the course of duplicating, the entire Prüfprogrammös 4 take place in plain text, so that then a test report accordingly the illustration in FIG. 4 is available, which is used as a basis for troubleshooting can0 This is then not just the result of the information in the test strip 5a issued, but in a writing instrumentSt 44 takes place in cooperation with the Logic circuit 18 a recoding takes place in the same way as the step-by-step Control of the assembly 1 for testing corresponds to, do h01 each test step 110i is written out in full with all input and output specifications 11e and 11a.

Darüberhinaus ist beim Bediengerät 6 gemäß Figo 1 noch eine Einlaufsteuerung 45 vorgesehen, um einen Vorlauf für den Prüfstreifen 5a vorzugeben, ferner ein Hauptschalter 46, eine Kontrolleuchte 47 für die Energieversorgung der Baugruppe 1 und schließlich eine Lampen-Kontrolltaste 48, mittels derer sämtliche Lampen der Leuchtanzeige 28 kurzzeitig eingeschaltet werden können, um ihre Funktion zu testen0 Bevorzugte Form eines Speichermediums 5 wird bei der praktischen Anwendung dieser Erfindung ein Lochstreifen als Prüfstreifen 5a sein; in gleicher Weise läßt sich aber auch jedes andere Speichermedium verwenden, insbesondere ein Magnetband für Abspeichern von DigitalinfornationenO Die anhand Figo 2 beispielhaft beschriebene Prinzipschaltung zur Realisierung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist an den Belangen zum Prüfen statisch und dynamisch atbeitender logischer Baugruppen 1 orientiert; grundsätzlich gleichartig würde eine Vorrichtung zum Prüfen auch analoger Funktionen konzipiert sein, worauf allerdings im Rahmen dieser Beschreibung von Außführungsbeispielen zur vorliegenden Erfindung wegen des erheblich höheren Aufwandes an Schaltmitteln im Bediengerät 6 nicht näher eingegangen wird. Ferner wurde auf ausführlichere Einzeldarstellung der Schaltungstechnik der Aggregate, die im Blockschaltbild Fig. 2 enthalten sind, verzichtet1 da diese Schaltungstechnik nichts Erfinderisches im Rahmen dieser Erfindung beinhaltet und nach den vorstehenden Anweisungen denDurchschnittsfachmann auf dem Gebiete des Aufbaues und Einsat#es logischer Grundschaltungen das Erstellen einer funktionstüchtigen Ausführung beispielsweise der beschriebenen Vorrichtung zum Durchführen des erfindungsgemäßen Verfahrens ohne weiteres möglich ist.In addition, the control unit 6 according to FIG. 1 also has an inlet control 45 is provided in order to specify a lead for the test strip 5a, and also a main switch 46, a control lamp 47 for the power supply of the assembly 1 and finally a lamp control button 48, by means of which all Lamps of the Illuminated display 28 can be switched on briefly in order to test its function The preferred form of a storage medium 5 in practical use is this Invention be a punched tape as a test strip 5a; in the same way can be but also use any other storage medium, especially a magnetic tape for Storage of digital information O The one described by way of example with reference to FIG Principle circuit for implementing the method according to the invention is related to the issues oriented for testing statically and dynamically operating logical assemblies 1; A device for testing analog functions would be basically the same be designed, which, however, in the context of this description of exemplary embodiments to the present invention because of the significantly higher cost of switching means is not discussed in more detail in the control unit 6. Furthermore, a more detailed individual presentation was made the circuit technology of the units contained in the block diagram in Fig. 2, omitted1 since this circuit technology is nothing inventive within the scope of this invention and according to the above instructions the average person skilled in the art on the Areas of construction and use of basic logic circuits the creation of a functional execution, for example, of the device described to the Carrying out the method according to the invention is readily possible.

- A n s p r ü c h e -- Expectations -

Claims

1. Procedure for taking place in individual successive test steps step-by-step testing of the functions of one digital assembly, in particular in the case of assemblies that are available or to be manufactured in series in larger numbers many logically linked digital functional parts and with a plurality of connections for electrical signals, preferably with signal outputs for signals in the form of digital static signal states ~; ind with signal inputs for signals in the form of either digital static signal states or digital ills sequences specifiable number, using 8u5 the circuit connections the functional parts (structure of the assembly) derived test criteria for test steps summarized iil steps, characterized in that simultaneously with laboratory Checking the functions of an iiemplares of such assemblies (1), preferably at Completion of your first circuit development by the developer himself and thus the test criteria, e.g. the individual ones, before starting their production The sub-steps of a test step (11.i) during each current test step (11.i), or, after each individual successfully carried out, the entire test step (11.i) - if necessary after intermediate storage and recoding - as part of a complete test program (4). in any storage medium (5), e.g. a punched tape, with the content of this storage medium (5) then for later tests, especially for automatic or semi-automatic ongoing business examinations of the same scope and care as they are, for example as the final test of the development of this assembly (i), as test strips (5a) is always available again.

Method according to claim 1 using per se as such with regard to the content of the individual test criteria of the usual sub-steps, and using a default memory containing the test criteria of a test step and a logic circuit that connects the individual specifications to the connections to be tested Associated assembly, characterized by the sequence of at least some the following process steps a. Preparation step (11.0): the connections (5.i) an assembly to be tested for the first time (i) numbered; a.1 the numbers of connections (3.i), the signal inputs (3e) for the module (1) are entered one after the other into the default memory (15) and into the storage medium (5) stored; a.2 the numbers of connections (3.i), the signal outputs (3a) for the assembly (1) are entered one after the other in the default memory (15) and stored in the storage medium (5); b. first test step (11.1): b.1 Sub-steps on the input side: as input specifications (ile) for the first test step (11.1), digital signals are used one after the other as the first test criteria - accordingly a function diagram based on the structure of the module (5) on signal inputs (3e) representing ports (3) switched by the number of the respective port (3.i) and the intended signal entered into the default memory (15) and simultaneously or later stored in the storage medium (5); b.2 Output-side sub-steps: as output specifications (lla) are used one after the other of the function plan underlying the structure of the assembly (1) for the input specifications (ile) according to b.1 possible output signals (expected values) and the Numbers of the connections (5.i) assigned to the associated signal outputs (3a) entered into the default memory (15) in the same way as under b.1; b.3 Confirmation substep (11b): if there is a match between the data in the yorgabespeicher (ins) expected values entered according to b.2 for the current test step (11.i) and the actual signal states at the corresponding signal outputs (3a) of the assembly (1) may not yet be stored in the storage medium (5), Sub-steps of the current test step (11.i), especially now the output-side Sub-steps according to b.2, stored in the storage medium (5); b.4 Correction step if necessary: the current test step (11.i) becomes, if no agreement according to b.3 is achieved is and the currently valid one Input specification (11e) according to-b.1 or the initial specification (11a) according to b.2 (expected value) turn out to be incorrect, repeated with corrected input input (11e) or corrected output input (11a); then again like b.3; c. next test step (11.i + 1), if confirmation substep (body) positive according to b.3: c.1 input-side sub-steps: as input specifications (11e) are now only signals again at those special signal inputs (3e) as specified in b.1, where compared to the previous test step (11.i) the input specification (11e) is changed and, if applicable, a number (Z) to be specified digital pulses for this test step (11.i); c.2 output-side sub-steps: as output specifications (11a) are according to the changed input specifications (11e) if necessary, new expected values for the signal outputs (3a) are specified, as in b.2; c.3 Confirmation substep (11b) as in b.3; c.4 if necessary correction step: as in b.4; d. long test steps (11.i), as in c; e. after a positive settlement all that are deemed necessary to assess the correct function of the assembly (1) Test steps (11.i) and storage of the sub-steps that have been cached in the meantime into the storage medium (5): fully automatic repetition of the same test steps (11.i) one after the other on any number of other identical assemblies (1), each time with control according to a., b., c., d. of the individual successive test steps (11.i) by successively reading out the content (test program 4) in the storage medium (5), with a stop if agreement with regard to the Expected values (if there is no confirmation substep (11b) according to b.3) and possibly with printing out the specifications of the current test step (11.i) (according to b. or c. or d.) and the number of the connection (5.i) with an incorrect signal at the signal output (5a) and possibly its faulty signal state.

Switching arrangement for performing the method according to the claims 1 or 2, using a test device (control unit) that accommodates the assembly, those with devices for entering test data (Default control) and is equipped to display the current function of the module by any manually operable default control (8), preferably in the form of Beuchtdrucktastenaggregaten, namely a selection switch (9 #) for desired operating mode of the control unit (6) and a number input (16), for example in the manner of a calculating machine control keypad, the control outputs of which via either a preparation button (9v) with default buttons (14), during the preparation step (11.0), or, during the remaining test steps (11.i), via input / output specification keys (9e / 9a) with a default switch (20) for the electrical signals to be specified as possible signal states (logical L logical 0 ", number (Z) of digital pulses ") and finally with the input of a logic circuit (18) for Activate the connections (3.i) of the assembly (1) and load their signal outputs (3a) are associated with a nominal load, and possibly with one as such well-known optical connection number display (12A) for entering digits (16) Number of a connection (3.i) of the module just selected in the current sub-step (1), further characterized by one with the logic circuit (18) default memory (15) connected on the output side via the corresponding current Signal coding of the logic circuit (18) a momentarily predetermined total information from information from digit input (16) and default switch (20), directly anidie Signal inputs (3e) of the module connected to the output of the default memory (15) (1) or

via an expectation memory (22) to one of two inputs one Coincidence circuit (23) are connected, while the second input of the coincidence circuit- (23) ~ is connected to those connections (3.i) of the assembly (1) which are due to the supply through the logic circuit (18) signal outputs (3a) of the assembly (i) are further characterized by connecting the output of the coincidence circuit (23) with a memory command generator of a transfer memory (17.2), which with the Input of the LogSk circuit (18) is connected, a storage command for the Storage medium (5) via a transfer memory (17.2) and a memory control device (33), provided that the coincidence condition is positive, as well as within the scope of the selection switch (9 #) by a switching device (column "Automatic" 9A) for switching over the control the Logic circuit (18) from the manually operated default control (8) to automatic Operation with control from the storage medium (5) via an interrogation device (32) and possibly a decoder (34).

4. Switching arrangement according to claim 3, characterized by one to the Coincidence circuit (23) on the one hand and the default memory (15) on the other hand connected Evaluation circuit with display of the input specifications (11e) and the signal states at the signal outputs (3a) by means of an indicator light (28) and possibly with a Test step display (12P), which at the end of each test step (11.i) has a Counting circuit (29) is controlled.

5. Switching arrangement according to claim 4, characterized by an in Dependency on not reached (negative) coincidence condition triggered interrupter circuit in front of the illuminated display (28) with interrupted activation of the illuminated display (28) Expected values not achieved.

6. Switching arrangement according to claim 3, characterized by a, signal outputs (3a) switchable level control (43) from potential-controlled threshold value circuits, which control one of two control lights (43.0- or 43.L) when the Level control (43) Digital signal of the value "logical 0" or "logical L" is present.

7. Switching arrangement according to claim 3, characterized by each connection (3.i) the assembly (1) associated test sockets of a socket strip (39).

8. Switching arrangement according to claim 3, characterized in that between the logic circuit (18) and the memory control device (33) a buffer 1? .1 intended for inclusion of the new specifications for a test step (11.i) which contains means for deleting (delete key 24), as well as means for reading out Beginning of each subsequent test step (11.i + 1), and that of the - possibly recoding - The transfer memory (17.2) is connected downstream.

9. Switching arrangement according to claim 3, characterized in that the Numeric entry (16) and v default keys (14) together a preparation memory (17.3) downstream and upstream of the logic circuit (18), the internal an extinguishing control for its memory content triggers as soon as manual specifications are made, which in the case of a certain specified assembly (1) are not permitted.

10. Switching arrangement according to claim 3, characterized in that that the puncture of a pulse button in the default switch (20) for output defaults (11a) as well as during the first test step (11.1) and the entire default switch (20) is locked during the preparation step (11.0).

11. Switching arrangement according to claim 3, characterized in that a Pulse generator circuit for the delivery of a number (t of pulses bypassing the default memory (15) and the intermediate memory (17.1) on the one hand via the logic circuit (18) directly to the assigned signal inputs (3e) of the assembly (1) and on the other hand, can be connected to the transfer memory (17.2).

12. Switching arrangement according to claim 3, characterized in that the selector switch (9W) allows an operating mode "Duplicate" in which the input of the memory control device (33) directly to the output of the interrogation device (32) is connected.

13. Switching arrangement according to claim 3 or 5, characterized in that that the interrogator (32) contains a stop device which, when the logic circuit is activated (18) via the decoder (34), in the event of a negative coincidence condition from the coincidence circuit (23) is controlled.

14. The device according to claim 3, characterized by a storage medium (5) in the form of a punched tape or magnetic tape as a test strip (5a) with upstream punch or magnetic storage head as storage control device (33), in turn controlled by a transfer memory (17.2) with Uhi coding for converting the signal coding for the logic circuit (18) into one for the selected one Storage medium (5) appropriate storage code and this storage medium (5) adapted interrogation device (32) with subsequent decoder (34) for the delivery of Signals for controlling the logic circuit (18). -15. Device for exercising the Method according to Claim 1 or 2, characterized by an operating device (6) with a default control (8) and with control displays (indicator light 28, connection number display 12 A, test step display 12 P), within the specification control (8) with a control switch, preferably in the form of a lighted keypad to set up the test steps (11 i) from the individual sub-steps according to manual specifications via a number entry (16) for the connections (3.i) of the assembly (1), via default keys (14) for sorting the connections (3.i) l the signal inputs and outputs (5e and 3a) and Via a default switch (20) for specifying digital signal states and pulses selected number (z), as well as with an operating mode selector (push button switch set 9) for commissioning the individual sub-steps for testing by hand, with simultaneous Creation of a test strip (5a), or the automatic test, by means of queries of the test strip (5a) in the interrogation device (32), or if necessary for duplicating a test strip (5a).

16. The device according to claim 5, characterized by a receiving device (Connector 7) for the assembly to be tested (1) next to the specification control (8) and through a socket strip (39) assigned to the connections 3.i. Indicator light (28).

17. The device according to claim 16 for testing assemblies in the form of printed circuit boards with printed circuits, characterized by an arrangement the assembly to be tested (1) in plane or parallel to the plane of the specification control (8) with lighting (42) arranged under the assembly to be tested.

18. Apparatus according to claim 6, characterized by one Level control (43) with selector switch (43A), control lights (43.0 and 43.L) and if necessary a test socket (43 C).

L e r s i t r s e te