DE2113541A1

DE2113541A1 - Procedure for testing a binary converter for accuracy

Info

Publication number: DE2113541A1
Application number: DE19712113541
Authority: DE
Inventors: Friedrich Dietzmann; Hans Dipl-Ing Dr Herrmann
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1971-03-16
Filing date: 1971-03-16
Publication date: 1972-09-21

Description

Verfahren zur Prüfung eines Binär-Umformers auf Genauigkeit Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Prüfung eines Binär-Umformers auf Genauigkeit.Method for testing a binary converter for accuracy The invention relates to a method for testing a binary converter for accuracy.

Es ist bekannt, Analog-Meßglieder durch Betriebs- oder Testmanöver zu prüfen. Dies ist bei Binär-Meßgliedern, die unzulässige Grenzwerte anzeigen, nicht möglich, wenn beim Herbeiführen der Grenzwerte Schäden an Anlagen oder Produkten entstehen würden. Die Aufgabe besteht daher darin, ein Verfahren zu schaffen, bei dem binäre Meßformerwährend des Betriebes geprüft werden können, ohne daß am fleßfühler oder im Prozess simuliert werden muß und ohne daß ein anstehendes Analog-Meßsignal verfälscht wird. Die Prüfung des binären Meßumformers soll den analogen Teil der Neßeinrichtung lückenlos ergänzen und sowohl die Funktion als auch die Genauigkeit erfassen. Die Aufgabe wird durch das Verfahren nach der Erfindung dadurch gelöst, daß das analoge Meßsignal in einem Teil des Neßkanals durch ein genau definiertes Prüfsignal ersetzt wird, derart, daß das analoge Meßsignal für eißen Abnehmer des Analogwertes unverändert bleibt Die Erfindung wird im folgenden näher erläutert anhand von Zeichnungen. Eine Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung ist in Fig. 1 dargestellt. Von einem Generator 1 wird eine Einrichtung 2 zur Erzeugung eines genau definierten Prüfsignais beautschlagt. Ein Meßsignal von einem Fühler 3 wird über einen Analog-Umformer 4 einem binären fleßumformer 5 (Grenswertgeber) zugeleitet. Außerdem wird es dem Abnehmer 6 des Analogwertes, der ein Regler sein kann, zugeführt. In dem Meßkanal zwischen dem Analog-Umformer und dem Binär-Umformer befindet sich ein Netzwerk aus Dioden und Widerständen. Die Diode 7 dient dazu, dem Prüfsignal den Weg zum Analog-Umformer 4 zu sperren, während die Dioden 8 bis 9 dem Meßsignal den direkten Weg zum Abnehmer des Analogwertes sperren.It is known to use analog measuring elements through operational or test maneuvers to consider. This is the case with binary measuring elements that display impermissible limit values, not possible if damage to equipment or products occurs when the limit values are reached would arise. The task is therefore to create a method at the binary transducer can be checked during operation without the need for a sensor or has to be simulated in the process and without an existing analog measurement signal is adulterated. The test of the binary measuring transducer should cover the analog part of the Complete measuring device and complete both the function and the accuracy capture. The object is achieved by the method according to the invention in that that the analog measurement signal in one Part of the Neßkanal through a precisely defined test signal is replaced in such a way that the analog measurement signal for All consumers of the analog value remain unchanged. The invention is described below explained in more detail with reference to drawings. An arrangement for carrying out the procedure according to the invention is shown in FIG. A generator 1 becomes a device 2 to generate a precisely defined test signal. A measurement signal from a sensor 3 via an analog converter 4 to a binary transducer 5 (limit transmitter). In addition, it is the consumer 6 of the analog value, which can be a controller. In the measuring channel between the analog converter and the binary converter is a network of diodes and resistors. the Diode 7 is used to block the test signal from getting to the analog converter 4 while the diodes 8 to 9 the measuring signal the direct way to the buyer of the analog value lock.

Das Meßsignal gelangt vom Analog-Umformer 4 über die Diode 7 zum Punkt 10. Dort wird es mit dem Prüfsignal von der Einrichtung 2 vereinigt. Am Widerstand 11 entsteht ein Signal, das dem Maximum vom Meßsignal und Prüfsignal entspricht.The measuring signal comes from the analog converter 4 via the diode 7 to the point 10. There it is combined with the test signal from device 2. At the resistance 11 a signal is produced which corresponds to the maximum of the measurement signal and test signal.

Dieses wird dem binären Umformer 5 zur Auswertung zugeleitet. In einem Vergleicher 12 wird das von dem Binär-Umformer 5 ausgewertete Signal mit dem Prsignal verglichen und gegebenenfalls eine Störungsmeldung ausgegeben. An einem Widerstand 13 am Analogwert-Abnehmer 6 steht jedoch lediglich das analoge Meßsignal an. Der Abnehmer des Analogwertes kann daher unbeeinflußt vom binären Prüfsignal arbeiten.This is sent to the binary converter 5 for evaluation. In one Comparator 12 is the evaluated by the binary converter 5 signal with the Prsignal compared and, if necessary, an error message is issued. At a resistance 13 at the analog value pick-up 6, however, only the analog measurement signal is present. Of the Buyer of the analog value can therefore not be influenced by the binary test signal work.

Es ist ohne weiteres möglich, eine Reihe von Binär-Umformern anzuschließen.It is easily possible to connect a number of binary converters.

Ein anderes Ausführungsbeispiel zeigt die Fig. 2. Auch diese Anordnung kann mit Hilfe eines Prozessrechners und eines Multiplexers mehrfach verwendet werden. Für den Fall, daß dem Abnehmer des Analogwertes ein Meßsignal zugeführt wird, das ständig gröBer sein muß als der Grenzwert, wäre die in Fig. 1 dargestellte Anordnung nicht zweckmäßig. Die Dioden 8, 9 der Fig. 1 werden ersetzt durch eine Zenerdiode 14, die mit der Diode 7 in Reihe geschaltet ist. Bei der Messung ist die Zenerdiode 14 leitend, das Meßsignal fließt über den Widerstand 11 und den Widerstand 13. Bei der Prüfung wird die Durchbruchspannung der Zenerdiode 14 nicht erreicht, sie sperrt, und das Prüfsignal fließt nun lediglich über den Widerstand 11.Another exemplary embodiment is shown in FIG. 2. This arrangement, too can be used multiple times with the help of a process computer and a multiplexer. In the event that the consumer of the analog value is supplied with a measurement signal that must always be greater than the limit value, would be the arrangement shown in FIG not functional. The diodes 8, 9 of FIG. 1 are replaced by a Zener diode 14, which is connected in series with the diode 7. When measuring is the zener diode 14 conductive, the measurement signal flows through resistor 11 and resistor 13. At the breakdown voltage of the Zener diode 14 is not reached during the test, it blocks, and the test signal now only flows through resistor 11.

Damit wird ein Ausfall des Binär-Umformers erfaßt und vom Vergleicher 12 eine Störungsmeldung abgegeben.In this way, a failure of the binary converter is detected and the comparator 12 issued a fault report.

Der Vorteil des Verfahrens besteht darin, daß diese Prüfung auf Funktion und Genauigkeit von Binär-Umformern die Abnehmer von Analogwerten nicht beeinflußt, daß diese Anordnung eine Überwachung des Analogsignals lückenlos ergänzt und daß der binäre Grenzwert nicht am Fühler simuliert werden muß.The advantage of the procedure is that this test is functional and accuracy of binary converters does not affect the users of analog values, that this arrangement completely supplements monitoring of the analog signal and that the binary limit value does not have to be simulated on the sensor.

3 Seiten Beschreibung 4 Patentansprüche glatt Zeichnungen mit 2 Fig.3 pages description 4 patent claims smooth drawings with 2 fig.

Claims

Patent claims:

1. Procedure for testing a binary converter for accuracy, thereby characterized in that the analog measurement signal in a part of the measurement channel by a exactly defined test signal is replaced1 in such a way that the analog measurement signal for Consumer of the analog value remains unchanged.

2. The method according to claim 1, characterized in that on the Binary converter, the maximum of the measuring and test signal is effective.

3. The method according to claim 1, characterized in that on the Binary converter, the M in iaum of the measurement and test signal acts.

4. The method according to claim 1, characterized in that a central Test signal generator and comparator optionally to various via a process computer Measuring channels is switched.