DE2044533A1 - Spiegel Mikroskop - Google Patents

Spiegel Mikroskop

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DE2044533A1
DE2044533A1 DE19702044533 DE2044533A DE2044533A1 DE 2044533 A1 DE2044533 A1 DE 2044533A1 DE 19702044533 DE19702044533 DE 19702044533 DE 2044533 A DE2044533 A DE 2044533A DE 2044533 A1 DE2044533 A1 DE 2044533A1
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Germany
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mirror
light
objective lens
opaque
microscope
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Pending
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DE19702044533
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German (de)
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Inventor
Montada Tokio Anmura Yoshi aki Kawasaki Abe Yasuaki Yokohama Kubo, (Japan)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/082Condensers for incident illumination only

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3126938A1 (de) * 1981-07-08 1983-01-27 Heinz-Wolfgang Dipl.-Ing. 8000 München Köhler Vorrichtung zur bild-auswertung
EP0285547A2 (fr) * 1987-03-31 1988-10-05 Achim Dr.-Ing. Willing Appareil d'illumination pour vérifier visuellement des objets

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4561436A (en) * 1983-10-28 1985-12-31 Cooper Lasersonics, Inc. Optical system for surgical ophthalmic laser instrument
DE10311000C5 (de) 2003-03-06 2012-05-10 Leica Instruments (Singapore) Pte. Ltd. Beleuchtungseinrichtung für ein Mikroskop

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3126938A1 (de) * 1981-07-08 1983-01-27 Heinz-Wolfgang Dipl.-Ing. 8000 München Köhler Vorrichtung zur bild-auswertung
DE3126938C3 (de) * 1981-07-08 1989-03-16 Heinz-Wolfgang Koehler Vorrichtung zur Bild-Auswertung
EP0285547A2 (fr) * 1987-03-31 1988-10-05 Achim Dr.-Ing. Willing Appareil d'illumination pour vérifier visuellement des objets
EP0285547A3 (en) * 1987-03-31 1990-09-26 Achim Dr.-Ing. Willing Illumination device for visually checking objects

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FR2061657A1 (fr) 1971-06-25
GB1277979A (en) 1972-06-14
FR2061657B1 (fr) 1974-05-24

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