DE2037039A1

DE2037039A1 - Test device for inductances, in particular cell transformers, transformers for high voltage generation, line deflection coils and image deflection coils in televisions

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Publication number: DE2037039A1
Application number: DE19702037039
Authority: DE
Inventors: Der Anmelder Ist
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1970-07-25
Filing date: 1970-07-25
Publication date: 1972-02-03

Description

Prüfgerät für Induktivitäten.insbesondere Zeilentransformatoren, Transformatored zurHochspannungserzeugung,Zeilenablenkspulen und Bildablenkspuler inFernsehgeräten Die Erfindung betrifft ein Verfahren und Prüfgerät zur Prüfung von Induktivitäten, insbesondere Zeilentransformatoren, Transformatoren zur HochßpannungBerzeugung, Zeilenablenkspulen und Bildablenkspulen in Fernsehgeräten.Test device for inductances, especially line transformers, transformers for high voltage generation, line deflection coils and image deflection coils in television sets The invention relates to a method and testing device for testing inductances, in particular line transformers, transformers for high voltage generation, Line deflection coils and image deflection coils in televisions.

Das Prüfgerät gemäß der Erfindung soll vor allem die schwierige Fehlerbestimmung in den Zeilenendstufen von Fernsehgeräten, und in den Hochspannungsstufen von Farbfernsehgeräten vereinfachen.The testing device according to the invention is primarily intended to solve the difficult problem determination in the line output stages of televisions, and in the high-voltage stages of color televisions simplify.

Zeilentransformatoren weisen in den meisten Fällen keine sichtbaren oder mit einfachen Meßgeräten, z.B. Ohmmetern, erkennbare Fehler auf. Dementsprechend schwierig und unsiche r ist die Fehlersuche. Mit Hilfe des Prüfgerätes gemäß der Erfindung ist eine sichere Entscheidung in kürzester Zeit möglich.In most cases, flyback transformers are not visible or with simple measuring devices, e.g. ohmmeters, detectable errors. Accordingly Troubleshooting is difficult and uncertain. With the help of the test device according to Invention, a safe decision is possible in the shortest possible time.

Es sind folgende Verfahren bekannt: 1. Messung der Induktivität der vorhandenen Spulen.The following methods are known: 1. Measuring the inductance of the existing coils.

2. Verfahren, bei denen die vorhandenen Eigenresonanzfrequenzen des Prüflings ermittelt werden. Im Fehlerfall tritt eine Verschiebung dieser Frequenzen auf, oder es sind keine Eigenresonanzen vorhanden. (Funkschau Heft 7/1970 Seite 205) 3. Verfahren, bei denen der Prüfling mittels Rechteckimpulsen zu gedämpften Schwingungen angestoßen wird. Die Zeitdauer bis zum Abklingen der Schwingungen ist ein Maß für die vorhandene Dämpfung.2. Process in which the existing natural resonance frequencies of the DUT are determined. In the event of an error, these frequencies are shifted or there are no natural resonances. (Funkschau issue 7/1970 page 205) 3. Procedure in which the test object is damped by means of square-wave pulses Vibrations is triggered. The time it takes for the vibrations to subside is a measure of the existing damping.

Verfahren nach 1. setzen das Vorhandensein von Induktivitätsmeßgeräten voraus. Je nach Art des Fehlers den der Prüfling hat, tritt keine wesentliche Änderung der Induktivität ein, lediglich die SpulengUte wird schlechter. Eine sichere Fehlerbestimmung nach dieser Methode ist ungeübten Technikern nicht möglich.Procedure according to 1. set the presence of inductance meters in advance. Depending on the type of error the DUT has, there is no significant change the inductance, only the coil quality gets worse. A safe fault determination this method is not possible for inexperienced technicians.

Da z.B. Zeilentransformatoren verschiedner Firmen unterschiedlich bemessene Teil spulen aufweisen, deren Anschlüsse außerdem noch raumlich verschieden angeordnet sind, ist dieses Verfahren für Service Werkstätten nicht brauchbar.Since, for example, line transformers from different companies have differently dimensioned part coils, their connections also have are arranged spatially differently, this method is not useful for service workshops.

Beim Verfahren nach 2. wird an den Prüfling über einen Widerstand die Spannung eines Sinusgenerators gelegt. Wenn die Frequenz des Sinusgenerators mit der Eigenresonanzfrequenz des Prüflings Ubereinstimmt, stellt dieser einen hochohmigen Belastungswiderstand dar. Die Belastung des Generators ist dann klein, am Prüfling tritt ein Spannangs;;J;u=ay Bei der praktischen Ermittlung der Resonanzfrequenzen wird die Frequenz des Sinusgenerators manuell oder automatisch im Bereichder möglichen Resonanzfrequenzen verstellt. Mit Hilfe eines Oszillografen werden die. auftretenden Resonanzfrequenzen ermittelt.In the procedure according to 2. a resistor is applied to the test item applied the voltage of a sine wave generator. When the frequency of the sine wave generator coincides with the natural resonance frequency of the test object, this represents a high-resistance The load on the generator is then small on the test object a tension occurs ;; J; u = ay In the practical determination of the resonance frequencies the frequency of the sine wave generator is set manually or automatically within the range of possible Adjusted resonance frequencies. With the help of an oscilloscope the. occurring Resonance frequencies determined.

Im Fehlerfall tritt eine Verschiebung oder der Ausfall einzelner Resonanzfrequenzen ein. Besonders nachteilig bei diesem Verfahren ist die Tatsache, daß die auftretenden Eigenresonanzfrequenzen bei verschiedenen Fabrikaten verschieden sein können. Außerdem muß die Zeitachse des Oszillografen in Frequenzen geeicht sein.In the event of an error, there is a shift or failure of individual resonance frequencies a. A particular disadvantage of this method is the fact that the occurring Natural resonance frequencies can be different for different makes. aside from that the time axis of the oscillograph must be calibrated in frequencies.

Auch die Verschiebung einer Resonanzfrequenz bedeutet nicht mit Sicherheit eine "schlecht" Anzeige.Shifting a resonance frequency does not mean with certainty either a "bad" ad.

Dieses Verfahren ist nur brauchbar, wenn von jedem vorkommenden Typ Meßkurven vorliegen. Soll die Prüfung im eingebauten Zustand des Prüflings vorgenommen werden, müssen außerdem noch Meßkurven der verschiedenen Geräte typen vorhanden sein.This procedure is only useful if of every occurring type Measurement curves are available. Should the test be carried out with the device under test installed measurement curves of the various device types must also be available be.

Das Verfahren nach 3. benützt zur Prüfung Rechteckimpulse.The method according to 3. uses square-wave pulses for testing.

Diese werden auf den Prüfling gegeben und sollen diesen zu gedämpften Schwingungen anregen. Dabei wäre die Zeitdauer der gedämpften Schwingung bei gutem Prüfling groß und bei fehlerhaftem Prüfling kitt klein. Da die Widerstände der Prüflinge zum Teil sehr klein sind, währen zu diesem Prüfverfahren Rechteckimpulsgeneratoren mit verhältnismäß großer Leistung und kleinem Innenwiderstand erforderlich.(Anpassun8) Da aber der niedere Innenwider stand des Impulsgenerators parallel zum Prüfling liegt (Fig. 2), wid dieser stark bedämpft. Es kann sich keine brauchbare gedämpfte Schwingung ausbilden. Aus diesem Grund ist dieses Verfahren in dieser Form praktisch nicht brauchbar.These are given to the test item and are intended to dampen it Stimulate vibrations. The duration of the damped oscillation would be good The test object is large and, if the test object is defective, it is small. As the resistances of the test items are sometimes very small, while square-wave pulse generators are used for this test method with relatively high performance and low internal resistance required. But since the lower internal resistance of the pulse generator was parallel to the test object is (Fig. 2), this is heavily attenuated. It cannot be a usable muted Develop vibration. It is for this reason that this method is practical in this form not usable.

Das Verfahren wurde jedoch gemäß der Erfindung weiterentwickelt und wird weiter unten beschrieben.However, the method has been further developed according to the invention and is described below.

Die Erfindung hat die Aufgabe, die Fehlersuche bei Induktivitäten, insbesondere in den Zeilenendstufen und Hochspannungsgeneratoren von Fernsehgeräten zu vereinfachen. Dabei soll es möglich sein, Zeilentransformatoren und Transformatoren zur Hoehspannungserzeugung auch im eingebauten Zustand, mit Sicherheit aber im ausgebauten Zustand zu prüfen, und zwar gefahrlos bei ausgeschaltetem Gerät.The invention has the task of troubleshooting inductances, especially in the line output stages and high-voltage generators of televisions to simplify. It should be possible to use line transformers and transformers for generating high voltage even when installed, but certainly when removed Check the condition, safely when the device is switched off.

Die Aufgabe kann dadurch gelöst werden, daß in der Weiterentwicklung des oben beschriebenen Verfahrens nach 3., gemäß der Erfindung, im Prüfling periodisch eine gedämpfte Schwingung angeregt wird. Die entstehende Schwingung wird auf einem Oszillograten dargestellt. Die Zeitdauer ist lang, wenn der Prüfling gut ist, und sie ist kurz, wenn der Prüfling fehlerhaft ist.The task can be solved in that in the further development of the above-described method according to 3., according to the invention, periodically in the test object a damped oscillation is excited. The resulting vibration is on a Oscillograts shown. The period of time is long when the test object is good, and it is short if the DUT is faulty.

Zur Prüfung muß der Prufling an einen Rechteckimpulsgenerator angeschlossen werden, der eine Impulsfolge ähnlich Fig. 1 liefert. Dabei hat der Impuls die Zeitdauer ti, die Impulspause die Zeitdauer tp, die Impulsfolgefrequenz hat die Periodendauer T.The test specimen must be connected to a square-wave pulse generator for testing which supplies a pulse train similar to FIG. The pulse has the duration ti, the pulse interval has the duration tp, the pulse repetition frequency has the period duration T.

Die Periodendauer ist der Kehrwert der Impulsfolgefrequenz f.The period is the reciprocal of the pulse repetition frequency f.

T= 1/f.T = 1 / f.

Dem Prüfling wird während der Impulsdauer ti (Fig. 1) elektrische Energie zugeführt, die im Prüfling ein Magnetfeld aufbaut. Bei Beginn der Impulspause tp (Fig. 1) bricht das Magnetfeld im Prüfling zusammen. Größere Spulen wie Zeilentransformatoren, Ablenkeinheiten usw. besitzen eine zum Teil beträchtliche Eigenkapazität Ce. Sie stellen somit einen Parallelresonanzkreis dar, bestehend aus der Induktivität L und der Eigenkapazität Ce.During the pulse duration ti (Fig. 1), the test object becomes electrical Energy is supplied, which builds up a magnetic field in the test object. At the beginning of the pulse pause tp (Fig. 1) collapses the magnetic field in the test object. Larger coils such as line transformers, Deflection units etc. have a partially considerable self-capacitance Ce. she thus represent a parallel resonance circuit, consisting of the inductance L. and the self-capacitance Ce.

Das zusammenfallende Magnetfeld ruft im Prüfling eine gedämpfte Schwingung hervor. Die Zeitdauer der Schwingung hängt von der Güte des Prüflings ab. Bei fehlerhaftem Prüfling ist die Güte klein, die Zeitdauer der gadämpften Schwingungen also kurz.The collapsing magnetic field causes a damped oscillation in the test object emerged. The duration of the oscillation depends on the quality of the test item. In case of faulty The quality of the test object is low, so the duration of the gas-damped oscillations is short.

Da die einzelnen Prüflinge zum Teil sehr kleine Widerstände aufweisen, muß der Innenwiderstand des Impulsgenerators klein sein.Since the individual test items sometimes have very low resistances, the internal resistance of the pulse generator must be small.

(Anpassung) Dieser kleine Innenwiderstand liegt aber auch während der Impulspause tp parallel zum Prüfling (Fig. 2). Der Prüfling wird daurch so stark bedämpft, daß sich keine, oder keine nennenswerte gedämpfte Schwingung ausbilden kann. Damit ist das Verfahren in dieser Form nicht brauchbar. Damit es angewendet werden kann muß folgende Forderung erfüllt werden: Der Innenwiderstand des Impulsgenerators muß während der Impulsdauer ti klein, und während der Impulspause tp sehr groß sein.(Adjustment) This small internal resistance is also during the pulse pause tp parallel to the test object (Fig. 2). This makes the test object so strong damped so that no or no significant damped oscillation is formed can. This means that the method cannot be used in this form. So that it applied The following requirement must be met: The internal resistance of the pulse generator must be small during the pulse duration ti and very large during the pulse pause tp.

In der Weiterentwicklung des Verfahrens kann diese Forderung dadurch erfüllt werden, daß die Impulse durch einen periodisch betätigten Schalter, z.B. Relais, erzeugt werden. Fig. 3 zeigt dieses Prinzip. Fig. 3A stellt den Impulsgenerator dar. Das Relais d wird dabei periodisch ein- und ausgeschaltet. Bei geschlossenem Relaiskontakt d liegt die Spannung der Stromquelle n an den Klemmen x-y und damit auch am angeactlossenen Prüfling (Fig. 3B) Der innenwiderstand des Impulsgenerators (Fig. 3A) ist praktisch gleich dem Widerstand der Stromquelle, kann also Xx klein gemacht werden. Bei geöffnetem Relaiskontakt d ist die Stromquelle n vom Prüfling abgetrennt. Der Widerstand ist praktisch unendlich groß geworden. Ein impulsgenerator gemäß Fig. 3A liefert ebenfalls eine Impulsfolge gem. Fig. 1; dabei ist aber der Innenwiderstand während der Impulsdauer ti klein und während der Imp-pause tp praktisch unendlich groß. Der Prüfling kann jetzt während der Impulapause auf seiner Eigenfrequenz schwingen. Die gedämpfte Schwingung kann auf einem Oszillografen dargestellt und ausgewertet werden.In the further development of the process, this requirement can be avoided be satisfied that the pulses are triggered by a periodically operated switch, e.g. Relay. Fig. 3 shows this principle. Figure 3A illustrates the pulse generator The relay d is switched on and off periodically. When closed Relay contact d is the voltage of the current source n at the terminals x-y and thus also on the connected test item (Fig. 3B) The internal resistance of the pulse generator (Fig. 3A) is practically equal to the resistance of the current source, so Xx can be small be made. When the relay contact d is open, the current source n is from the device under test severed. The resistance has become practically infinite. A pulse generator 3A also provides a pulse train according to Fig. 1; included but the internal resistance is small during the pulse duration ti and during the pulse pause tp practically infinitely large. The test item can now open during the pulse pause vibrate at its natural frequency. The damped oscillation can be viewed on an oscilloscope can be displayed and evaluated.

Das eben beschriebene Verfahren hat den Nachteil, daß der Relaiskontakt d (Fig. 3A) praktisch nicht prellfrei geschaltet werden kann. Deshalb lassen sich keine einwandfrei stehenden Bilder auf dem Oszillografen erzielen, und damit ist eine brauchbare Auswertung nicht möglich.The method just described has the disadvantage that the relay contact d (Fig. 3A) can practically not be switched to bounce-free. Therefore let yourself do not achieve perfectly standing images on the oscillograph, and so is a useful evaluation is not possible.

Bei der We-iterbildung des Verfahrens wurde der mechanische Kontakt d (Fig. 3A) durch einen elektronischen Schalter erstzt.In the further development of the process, the mechanical contact d (Fig. 3A) replaced by an electronic switch.

Dabei mußte wiederum die Forderung erfüllt werden, daß der Innenwiderstand des Impulsgenerator9 während der Impulsdauer ti klein, und während der Impulspause sehr groß ist.Here again the requirement had to be met that the internal resistance of the pulse generator9 during the pulse duration ti small, and during the pulse pause is very big.

In der Lösung wurde zunächst der mechanische Kontakt durch einen Transistor T V (Fig. 4A) ersetzt. Der Transistor wird durch einen Steuergenerator u gesteuert, und schaltet die Stromquelle n periodisch an den Ausgang. Es entsteht wiederum eine Impulsfolge gem. Fig. 1. Die Forderung nach kleinem Innenwiderstand während der Impulsdauer ti, und großem Innenwiderstand während der Impulspause tp läßt sich aber mit dieser Schaltung nur teilweise realisieren. Zwar ist der Innenwiderstand des Impulsgenerators während der Impulsdauer ti klein und praktisch nur vom Innenwiderstand der Stromquelle n abhängig, während der Impulspause tp jedoch praktisch nicht sehr groß.In the solution, first the mechanical contact was made through a transistor T V (Fig. 4A) replaced. The transistor is controlled by a control generator u, and periodically switches the current source n to the output. Another emerges Pulse sequence according to Fig. 1. The requirement for a small internal resistance during the Pulse duration ti, and large internal resistance during the pulse pause tp can but only partially realized with this circuit. True, the internal resistance of the pulse generator during the pulse duration ti small and practically only from the internal resistance depends on the current source n, but practically not very much during the pulse pause tp great.

Fig. 53 zeigt das Etsatzschaltbild eines npn Transistors. Er besteht demnach aus zwei gegeneinander geschalteten Dioden. Der Stromdurchgang vom Kollektor zum Emitter ist nur im durchgeschalteten Zustand des Transistors möglich (Impulsdauer ti). Im nichtdurchgeschalteten Zustand ist diese Strecke gesperrt, also hochohmig. (Impulspause tp) Jetzt liegt aber die Reihenschaltung von Innenwiderstand des Steuergenerators n und Basis-Kollektordiode des Transistors v parallel zum Prüfling(Fig. 5G). Die Kollektor-Basis-Diode des Transistors v würde eine Halbwelle der entstehenden gedämpften Schwingung gleichrichten. Der Prüfling würde wiederum stark bedämpft.53 shows the block diagram of an npn transistor. He exists accordingly from two diodes connected against each other. The passage of current from the collector to the emitter is only possible when the transistor is switched on (pulse duration ti). In the non-switched state, this path is blocked, i.e. high-resistance. (Pulse pause tp) But now there is a series connection of the internal resistance of the control generator n and base-collector diode of transistor v parallel to the test object (Fig. 5G). the The collector-base diode of the transistor v would dampen a half-wave of the resulting Rectify vibration. The test item would in turn be strongly damped.

In der Weiterentwicklung des Verfahrens konnte die Forderung nach sehr großem Innenwiderstand während der Impulspause tp durch Einschalten einer Siliziumdiode D in Reihe zur Basis-Kollektordiode des Transistors verwirklicht werden. Fig. 6 zeigt die Schaltung. Im durchgeschalteten Zustand des Transistors (Impulsdauer ti) ist die Emitter-Kollektor-Strecke leitend. Die Diode D liegt ebenfalls in Durchlaßrichtung im Stromkreis. Die Pfeile in Fig. 6 zeigen die Richtung des Stromflusses während der Impulsdauer ti. Im nichtdurchgeschalteten Zustand des Transistors ist die Emitter-Kollektor- Strecke gesperrt, es beginnt die Impulspause ti.In the further development of the process, the demand for very high internal resistance during the pulse pause tp by switching on realized a silicon diode D in series with the base-collector diode of the transistor will. Fig. 6 shows the circuit. In the switched-through state of the transistor (Pulse duration ti) the emitter-collector path is conductive. The diode D is also connected in the forward direction in the circuit. The arrows in Fig. 6 show the direction of the Current flow during the pulse duration ti. In the non-switched state of the transistor if the emitter-collector path is blocked, the pulse pause ti begins.

Im Prüfling ensteht eine gedämpfte Schwingung. Die Wechselspannung dieser Schwingung liegt an den Klemmen x-y des Impulsgenerators.A damped oscillation occurs in the test item. The alternating voltage this oscillation is applied to the x-y terminals of the pulse generator.

Fig. 7A zeigt die Verhältnisse während der Halbwelle der gedämpften Schwingung, in'der die EMK E von unten nach oben gerichtet ist.Fig. 7A shows the conditions during the half-wave of the damped Oscillation in which the EMF E is directed from below to above.

An der Klemme x liegt positives, an der Klemme y negatives Potential. Die Emitter-Kollektor-Strecke ist gesperrt. Ein Stromweg wäre möglich über die Diode D, Kollektor-Basis-Diode des Transistors v und Steuergenerator u nach Klemme y. Nun ist zwar die Diode D für die angenommene Spannungsrichtung in Durchlaßrichtung geschaltet, jedoch die Kollektor-Basis-Diode in Sperrichtung. Ein Stromfluß ist nicht möglich.There is positive potential at terminal x, negative potential at terminal y. The emitter-collector path is blocked. A current path would be possible via the diode D, collector-base diode of transistor v and control generator u to terminal y. Now the diode D is in the forward direction for the assumed voltage direction switched, but the collector-base diode in reverse direction. A current flow is not possible.

Fig. 7B zeigt die Verhältnisse während der zweiten Halbwelle der gedämpften Schwingung, in der die EMK E von oben nach unten gerichtet ist. An der Klemme x liegt jetzt negatives, an der Klemme y positives Potential. Ein Stromweg wäre auch jetzt wie oben beschrieben möglich. Für die Polarität der anliegenden Spannung ist zwar jetzt die Kollektor-Basis-Diode des Transistors in Durchlaßrichtung geschltet, jedoch die Diode D in Sperrichtung. Ein Stromfluß ist ebenfalls nicht möglich. Bei Verwendung eines pnp Transistors müßte die Diode D umgepolt werden.Fig. 7B shows the conditions during the second half-wave of the damped Oscillation in which the EMF E is directed from top to bottom. At terminal x There is now a negative potential, and a positive potential at terminal y. A current path would also be now possible as described above. For the polarity of the applied voltage is the collector-base diode of the transistor is now switched in the forward direction, however, the diode D in the reverse direction. A current flow is also not possible. at Using a pnp transistor the polarity of the diode D would have to be reversed.

Damit ist die Forderung erfüllt, daß der Innenwiderstand des Impulsgenerators während der Impulsdauer ti klein und während der Impulspauss tp sehr groß sein muß. Diese Forderung kann auch durch Verwendung eines Feldeffekttransistors oder eines ähnlichen Halbleiters erfüllt werden.This fulfills the requirement that the internal resistance of the pulse generator must be small during the pulse duration ti and very large during the pulse pauses tp. This requirement can also be achieved by using a field effect transistor or a similar semiconductor are met.

sollen Induktivitäten geprüft werden, die praktisch keine Eigenkapazität besitzen, dann kann diesen eine verlustarme Kapazität parallel geschaltet werden. Die Frequenz der entstehenden Schwingung hängt dann von der Induktivität L und von der Parallelkapazität Cp ab (Fig. 8). Da die Parallelkapazität praktisch verlustfrei ist, hängt die Dämpfung allein von der Spulengüte ab. Die Zeitdauer der entstehenden gedämpften Schwingung ist also auch in diesem Fall lang wenn die Spule fehlerfrei ist, und sie ist kurz, wenn die Spule einen Fehler aufweist.inductivities are to be tested that have practically no self-capacitance then these can be connected in parallel with a low-loss capacitance. The frequency of the resulting oscillation then depends on the inductance L and on the parallel capacitance Cp from (Fig. 8). Since the parallel capacity is practically lossless is, the attenuation depends solely on the coil quality. The duration of the resulting The damped oscillation is also long in this case if the coil is faultless and it is short when the coil has a fault.

Die gestellte Aufgabe ist damit zunächst gelöst: Ein Rechteckimpulsgenerator liefert eine Rechteckimpulsfolge. Der Innenwiderstand des Rechteckimpulsgenerators ist während der Impulsdauer ti klein, und er ist während der Impulspause sehr groß. Diese Rechteckimpulse werden auf die zu prüfenden Induktivitäten gegeben. induktivitäten bilden zusammen mit ihrer Eigenkapazität Ce einen Parallelresonanzkreis. Den Induktivitäten, die praktisch keine oder eine zu geringe Eigenkapazität aufweisen, kann eine äußere Kapazität 0p parallel geschaltet werden. So entsteht wiederum ein Parallelresonanzkreis. Die Parallelresonanzkreise werden durch die Rechteckimpulse zu gedämpften Schwingungen angestoßen. Die entstehenden gedämpften Schwingungen werden auf einem Oszillografen sichbar gemacht. Die Zeitdauer der Schwingungen hängt vorwiegend von der Spulengüte ab. Sie ist bei guten Prüflingen lang, und sie ist kurz bei fehlerhaften Prüflingenl Die Auswertung der Oszillogramme ist in Fig. 9 dargestellt.The task at hand is thus initially solved: a square-wave pulse generator delivers a square-wave pulse train. The internal resistance of the square pulse generator is small during the pulse duration ti, and it is very large during the pulse pause. These square-wave pulses are applied to the inductances to be tested. inductivities together with their own capacitance Ce form a parallel resonance circuit. The inductors, which have practically no or too little self-capacitance can be an external one Capacitance 0p can be connected in parallel. This in turn creates a parallel resonance circuit. The square-wave pulses turn the parallel resonance circles into dampened oscillations initiated. The resulting damped oscillations are shown on an oscilloscope made visible. The duration of the oscillations mainly depends on the coil quality away. It is long for good DUTs, and it is short for faulty DUTs The evaluation of the oscillograms is shown in FIG.

Fig. 9A zeigt die vom Rechteckimpulsgenerator gelieferte Impulsfolge, Fig. 9B das Oszillogramm der enstehenden gedämpften Schwingung eines guten Prüflings. Die gedämpfte Schwingung Fig. 9B beginnt mit der Impulspause tp Fig. 9A Zur Beurteilung muß die Zeitdauer t1 (Fig. 9B) bis zum Abklingen der gedämpften Schwingung gemessen werden. Fig. 9C zeigt das Oszillogramm eines fehlerhaften Prüflings vom gleichen Typ wie in Fig. 9B. Die Zeitdauer bis zum Abklingen der Schwingung ist jetzt sehr viel kürzer.9A shows the pulse train supplied by the square-wave pulse generator, 9B shows the oscillogram of the resulting damped oscillation of a good test specimen. The damped oscillation Fig. 9B begins with the pulse pause tp Fig. 9A For assessment the time period t1 (FIG. 9B) until the damped oscillation has died down must be measured will. Fig. 9C shows the oscillogram of a defective device under test of the same Type as in Fig. 9B. The time it takes for the vibration to subside is now very long much shorter.

Die Messung der Ausschwingdauer der gedämpften Schwingung setzt normalerweise einen zeitgeeichten Oszillorafen voraus. Bei der weiteren Ausgestaltung der Erfindung wurde dieser Nachteil dadurch beseitigt, daß die Periodendauer der Impulsfolgefrequenz der Zeitdauer der gedämpften Schwingung angepaßt wurde. Fig. 10 zeigt dies nochmals für die in Fig. 9 verwendeten Prüflinge: Fig. 10A zeigt die vom Impulsgenerator gelieferte Impulsfolge. Die Periodendauer T ist jetzt sehr viel kürzer als in Fig. 9A. Auch hier entsteht die gleiche gedämpfte Schwingung wie in Fig. 9B. Dadurch, daß jetzt die Impulspause t, p sehr viel kürzer ist als in Fig. 9A kann die gedämpfte Schwingung nicht bis zum Wert null abklingen. Die gedämpfte Schwingung (Fig. lOB) hat am Ende der Impulspause tp (Fig. 10A) noch eine bestimmte Amplitude. Mit Beginn des nächsten Impulses wird der Innenwiderstand des impulsgenerators wieder sehr klein und bewirkt damit eine so große Bedämpfung des Prüflings, daß die gedämpfte Schwingung sofort zu null wird. Fig. 10C zeigt den Vorgang wiederum für einen fehlerbehafteten Prüfling. Die Dämpfung ist jetzt so groß, daß die Schwingung schon lange vor Beginn des nächsten Impulses abgeklungen ist.The measurement of the decay time of the damped oscillation normally starts a timed oscillator port ahead. In the further embodiment of the invention this disadvantage was eliminated by the fact that the period of the pulse repetition frequency the duration of the damped oscillation was adapted. Fig. 10 shows this again for the specimens used in Fig. 9: Fig. 10A shows that from the pulse generator delivered pulse train. The period T is now much shorter than in Fig. 9A. Here, too, the same damped oscillation arises as in FIG. 9B. Through this, that now the pulse pause t, p is very much shorter than in FIG. 9A, the damped Vibration does not decay to zero. The damped oscillation (Fig. 10B) has a certain amplitude at the end of the pulse pause tp (FIG. 10A). With the beginning of the next pulse, the internal resistance of the pulse generator becomes very high again small and thus causes such a great damping of the test object that the damped Vibration immediately becomes zero. Fig. 10C shows the Process again for a faulty test item. The damping is now so great that the oscillation has subsided long before the start of the next impulse.

Die Beurteilung des Prüflings geschieht jetzt dadurch, daß man feststellt, ob die gedämpfte Schwingung am Ende der Impulspause tp noch nicht abgeklungen ist (gut), oder ob die gedämpfte Schwingung schon vor dem Ende der Impulspause tp abgeklungen ist. Die Zeitdauer der Schwingung braucht nicht mehr gemessen zu werden, es genügt also jeder gewohnliche Oszillograf.The test item is now assessed by noting whether the damped oscillation has not yet subsided at the end of the pulse pause tp (good), or whether the damped oscillation had already subsided before the end of the pulse pause tp is. The duration of the oscillation no longer needs to be measured, it is sufficient so any ordinary oscillograph.

Durch verandern der Impulsfolgefrequenz kann das Verfahren den zu prüfenden Typen angepaßt werden.By changing the pulse repetition frequency, the method can to be adapted to the types to be tested.

Abweichend vom bisher besohriebenen Verfahren wäre es auch möglich die entstehenden Schwingungen mit einer geeigneten Einrichtung zu messen und mit einem Zeigerinstrument anzuzeigen.Deviating from the procedure described so far, it would also be possible to measure the resulting vibrations with a suitable device and with a pointer instrument.

Das Prüfverfahren kann auch dann angewendet werden, wenn die Impulse von der idealen Rechteckform abweichen.The test method can also be used when the pulses deviate from the ideal rectangular shape.

Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehend insbesondere darin, daß die Zeit zur Fehlersuche bei Induktivitäten, insbesondere Zeilentransformatoren, Transformatoren zur Hochspannungserzeugung, Zeilenablenkspulen und Bildablenkspulen von Fernsehgeräten auf ein Minimum reduziert wird. Die Prüfung kann völlig gefahrlos am ausgeschalteten Gerät erfolgen. Zeilentransformatoren, Transformatoren zur Hochspannungserzeugung, Zeilenablenkspulen und Bildablenkspulen können auch im eingebauten Zustand geprüft werden. Kein Zeitraubeder Ausbau! Die Prüfung ist so einfach durchzuführen, daß sie auch von Lehrlingen und Anlernkräften vorgenommen werden kann.The advantages achieved with the invention consist in particular in that the time for troubleshooting inductivities, especially flyback transformers, Transformers for high voltage generation, line deflection coils and image deflection coils from televisions is reduced to a minimum. The exam can be completely safe on the device when it is switched off. Line transformers, transformers for high voltage generation, Line deflection coils and image deflection coils can also be tested in the installed state will. No time wasting expansion! The test is so easy to perform that it can also be carried out by apprentices and semi-skilled workers.

Der Aufbau eines Prüfgerätes für Induktivitäten, insbesondere Zeilentranaformatoren, Transformatoren zur Hochspannungserzeugung, Zeilenablenkapulen und Bildablenkspulen in Fernsehgeräten, gemäß der Erfindung, wird folgend beschrieben.The structure of a test device for inductances, especially line transformers, Transformers for high voltage generation, line deflection capsules and image deflection coils in televisions according to the invention is described below.

Es zeigen: Fig. 11 Blockschaltbild des Gerätes, Fig. 12 Impulsbilder der einzelnen Stufen, Fig 13 Grundsätzliche Prüfschaltung, Fig. 14 Oszillogramm der Auswertung für einen Zeilentransformator, Fig. 15 Oszillogramm der Auswertung für die Zeilenableispulen: Fig. 11 zeigt das Blockschaltbild des Gerätes. Ein astabiler Multivibrator(Fig. 11A) erzeugt eine Rechteckimpulsfolge. Die Impulsfrequenz ist zur Prüfung von Zeilentransformatoren, Transformatoren zur Hochspannungserzeugung,xm Zeilenablenkspulen und Bildablenkspulen umschaltbar. Fig. 12A zeigt die Rechteckimpulsfolge des astabilen Multivibrators mit der Periodendauer -T1. Mit dieser Impulsfolte wird der nachgeschaltete monostabile Multivibrator (Fig. 11B) angesteuert. Bei jedem Impuls des astabilen Multivibrators mit beliebiger Impulsdauer til (Fig. 12A) liefert der monostabile Multivibrator (Fig. 11B) einen Impuls mit genau definierter Länge ti2 (Pig. 12B). Mit denImpulsen des monostabilen Multivibrators wird die elektronische Schaltstufe (Fig. 11C) gesteuert.They show: FIG. 11 a block diagram of the device, FIG. 12 pulse patterns of the individual stages, Fig. 13 Basic test circuit, Fig. 14 Oscillogram the evaluation for a line transformer, Fig. 15 Oscillogram of the evaluation for the line lead coils: Fig. 11 shows the block diagram of the Device. An astable multivibrator (Fig. 11A) generates a square wave pulse train. The pulse frequency is used to test line transformers, transformers for High voltage generation, xm line deflection coils and image deflection coils switchable. Fig. 12A shows the square pulse train of the astable multivibrator with the period duration -T1. The downstream monostable multivibrator (Fig. 11B) controlled. With each pulse of the astable multivibrator with any pulse duration til (FIG. 12A), the monostable multivibrator (FIG. 11B) also provides a pulse precisely defined length ti2 (Pig. 12B). With the pulses of the monostable multivibrator the electronic switching stage (Fig. 11C) is controlled.

Der Aufbau dieser Schalt stufe wurde weiter vorn beschrieben (Fig. 6 und 7). Die Steuerung der Schaltstufe erfolgt derart, daß nur während der Impufdauer ti2 (Fig. 123) des monostabilen Multivibrators die Stromquelle mit dem Ausgangsklemmen y-x (Fig. 11C) des Prüfgerätes verbunden wird. Die Periodendauer T und die Impulsdauer ti der an den Ausgangsklemmen x-y (Fig. 1tO) erscheinenden Impulse sind gleich der Periodendauer T und der Impulsdauer ti2 des monostabilen Multivibrators (Fig. 12B und 12C). Dabei ist der Innenwiderstand während der Impulsdauer ti klein, und sehr groß während der Impulspause tp.The structure of this switching stage was described above (Fig. 6 and 7). The switching stage is controlled in such a way that only during the pulse duration ti2 (Fig. 123) of the monostable multivibrator the current source with the output terminals y-x (Fig. 11C) of the tester is connected. The period T and the pulse duration ti of the pulses appearing at the output terminals x-y (Fig. 1tO) are equal to the Period duration T and the pulse duration ti2 of the monostable multivibrator (Fig. 12B and 12C). The internal resistance during the pulse duration ti is small and very high large during the pulse pause tp.

In Fig. 13 ist der Prüfaufbau dargestellt. Fig. 133 zeigt das Prüfgerät mit dem Ausgang der Schaltstufe. Der Ausgang der Schaltstufe ist an vier Buchsen geführt, von denen je zwei parallel geschaltet sind. An zwei dieser Buchsen wird der Prüfling, an die beiden andern Buchsen der Oszillograf angeschlossen.The test setup is shown in FIG. 133 shows the test apparatus with the output of the switching stage. The output of the switching stage is on four sockets out of which two are connected in parallel. At two of these sockets the test item, connected to the other two sockets of the oscillograph.

Fig. 14C zeigt die Ausgangsimpulse der Schaltstufe des Prüfgerätes.14C shows the output pulses of the switching stage of the test apparatus.

Beim Anschluß eines guten Prüflings, z.B. eines Zeilentransformators, wird beim Beginn des Impulses ti (Fig. 14C) im Zeilentransformator ein Magnetfeld aufgebaut. Die zugeführte elektrische Energie wird dort als magnetisch-e Energie gespeichert. Mit dem Impulsende bricht auch 1 das Magnetfeld im Zeilentransformator zusammen. Es entsteht eine gedämpfte Schwingung gemäß Fig. 14D. Die Periodendauer T (Pig. 14A) der Impulsfolge ist so bemessen, daß der nächste Impuls bereits beginnt, wenn die Amplitude der gedämpften Schwingung auf etwa ein Zehntel ihres Anfangswertes abgefallen ist. Die impulspause tp ist also ganz mit einer gedämpften Schwingung ausgefüllt (Fig. 14D).When connecting a good DUT, e.g. a flyback transformer, becomes a magnetic field at the beginning of the pulse ti (Fig. 14C) in the flyback transformer built up. The supplied electrical energy is there as magnetic-e energy saved. At the end of the pulse, 1 breaks the magnetic field in the flyback transformer together. A damped oscillation is produced as shown in FIG. 14D. The period duration T (Pig. 14A) of the pulse train is dimensioned so that the next pulse already begins, when the amplitude of the damped oscillation is about a tenth of its initial value has fallen off. The pulse pause tp is therefore entirely with a damped oscillation filled out (Figure 14D).

Anders verhält es sich bei fehlerhaften Zeilentrafos. Die entstehende gedämpfte Schwingung ist schon lange vor den Beginn des nächsten Impulses abgeklungen (Fig. 14E und 14F).The situation is different with faulty line transformers. The emerging The damped oscillation has subsided long before the beginning of the next impulse (Figures 14E and 14F).

Andere Prüflinge wie Transformatoren zur Hochspannungserzeugung, Zeilenablenkspulen und Bildablenkspulen haben andere Schwingzeiten. Zur Prüfung dieser Teile wird die Impulsfolgefrequenz des astabilen Multivibrators umgeschaltet (Fig. 12A und 12D). Die Periodendauer wird dabei kürzer oder länger. Damit ändert sioh auch die Periodendauer des monostabilen Multivibrators und der Schaltstufe entsprechend (Fig. 12B/C und 12 E/P). Die Impulsdauer der monostabilen Kippstufe und der Schalt stufe bleiben dagegen unverändert (Fig. 12B/C und 12E/F).Other test items such as transformers for high voltage generation, line deflection coils and image deflection coils have different oscillation times. To test these parts, the Pulse repetition frequency of the astable multivibrator switched (Fig. 12A and 12D). The period becomes shorter or longer. This also changes the period duration of the monostable multivibrator and the switching stage accordingly (Fig. 12B / C and 12 E / P). The pulse duration of the monostable multivibrator and the switching stage remain on the other hand unchanged (FIGS. 12B / C and 12E / F).

Fig. 15 zeigt die Impulse für einen Prüfling mit kürzerer Dauer der gedämpften Schwingung, z.B. Zeilenablenkspulen. Die Impulspause tp2 (Fig. 15B und 15C) ist jetzt kürzer geworden gegenüber tp2 in Fig. 14B und 14C. Dadurch ist aber auch die schneller ab klingende gedämpfte Schwingung dieses Prüflings beim Beginn des nächsten Impulses immer noch vorhanden(Fig. 15D). Bei fehlerhaftem Prüfling ist auch jetzt die gedämpfte Schwingung schon weit vorher beendet (Fig. 15E und 15F).Fig. 15 shows the pulses for a test specimen with a shorter duration of the damped oscillation, e.g. line deflection coils. The pulse pause tp2 (Fig. 15B and 15C) has now become shorter compared to tp2 in FIGS. 14B and 14C. But this is also the faster decaying damped oscillation of this test object at the beginning of the next pulse is still present (Fig. 15D). In the event of a faulty test item the damped oscillation has already ended well before then (Fig. 15E and 15F).

Claims

test device for inductances, especially line transformers, Transformers for high voltage generation, line output coils and image output coils in television sets, characterized in that periodically a damped Vibration is excited and made visible on an oscilloscope. It is dimension the pulse repetition frequency so that the resulting damped oscillation at good DUT has not yet completely subsided at the beginning of the next pulse, and that the damped oscillation in the case of a faulty test object ends well before that is.

2.Anspruch according to 1, characterized in that the pulse repetition frequency can be switched to measure different types of test objects.

3.Prüfgerät according to claim 1 and 2, characterized in that the Display good "or" bad "by a measuring device.

4.Prüfgerät according to claim 1 to 7, characterized in that the Pulses for the test object are generated by an electronic switch.

The electronic switch consists of a silicon transistor a silicon diode is switched on in its collector line. This achieves that the internal resistance of the test device during the pulse duration is very small, and while the pulse pause is very large.

5.Prüfgerät according to claim 4, characterized in that the electronic Switch consists of a field effect transistor or another semiconductor.

6. Testing device according to claim 1 to 4, characterized in that for Increase in the internal capacity of the test object, if necessary, a low-loss one Capacitor is held in parallel.

7.Prüfgerät according to claim 1 to 6, characterized in that the Impulses have a shape other than rectangular.

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