DE202015103903U1 - Light measuring device - Google Patents
Light measuring device Download PDFInfo
- Publication number
- DE202015103903U1 DE202015103903U1 DE202015103903.4U DE202015103903U DE202015103903U1 DE 202015103903 U1 DE202015103903 U1 DE 202015103903U1 DE 202015103903 U DE202015103903 U DE 202015103903U DE 202015103903 U1 DE202015103903 U1 DE 202015103903U1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- light
- translucent substrate
- neck portion
- measuring device
- light measuring
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 90
- 230000010354 integration Effects 0.000 claims description 97
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 23
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 12
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 9
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 3
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000006748 scratching Methods 0.000 description 2
- 230000002393 scratching effect Effects 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/06—Restricting the angle of incident light
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J2001/0481—Preset integrating sphere or cavity
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J2001/4247—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources
- G01J2001/4252—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors for testing lamps or other light sources for testing LED's
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Lichtmessvorrichtung, Folgendes umfassend: eine Plattform mit einer Öffnung; einen Haltering, der auf einer Oberfläche der Plattform angeordnet und dazu ausgelegt ist, einen Gegenstand zu fixieren, der aus einem Trägerfilm und mehreren Licht emittierenden Diodenchips besteht, wobei der Haltering und der Gegenstand auf der Plattform angeordnet sind, und zumindest ein Teil des Gegenstands durch die Öffnung hindurch freiliegt; und eine Integrationskugel, die entsprechend an der Öffnung angeordnet ist und umfasst: einen kugelförmigen Hohlraum; einen Halsabschnitt, der mit dem kugelförmigen Hohlraum verbunden und dazu ausgelegt ist, einen Lichteingang zu definieren; und ein lichtdurchlässiges Substrat, das am Lichteingang angeordnet und im Halsabschnitt enthalten oder auf einer Oberfläche des Halsabschnitts angeordnet ist, wobei ein vertikaler Abstand zwischen einem Teil des das lichtdurchlässige Substrat abdeckenden Gegenstands und der Plattform größer als ein oder gleich einem vertikalen Abstand zwischen einem anderen Teil des Gegenstands und der Plattform ist.A light measuring device, comprising: a platform having an opening; a retainer ring disposed on a surface of the platform and configured to fix an article consisting of a carrier film and a plurality of light-emitting diode chips, wherein the retainer ring and the article are disposed on the platform, and at least a portion of the article the opening is exposed; and an integrating sphere disposed respectively on the opening and comprising: a spherical cavity; a neck portion connected to the spherical cavity and configured to define a light entrance; and a translucent substrate disposed at the light entrance and contained in the neck portion or disposed on a surface of the neck portion, wherein a vertical distance between a part of the translucent substrate covering the object and the platform is greater than or equal to a vertical distance between another part of the object and the platform.
Description
STAND DER TECHNIK STATE OF THE ART
Technisches Gebiet Technical area
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf eine Lichtmessvorrichtung. Im Spezielleren bezieht sich die vorliegende Offenbarung auf eine Lichtmessvorrichtung, die eine Integrationskugel, auch Ulbrichtkugel genannt, umfasst. The present disclosure relates to a light meter. More particularly, the present disclosure relates to a light metering apparatus that includes an integrating sphere, also called integrating sphere.
Beschreibung des verwandten Stands der Technik Description of the Related Art
Da Licht emittierende Dioden (LEDs) Vorteile geringen Stromverbrauchs, kleiner Größe und starker Helligkeit haben, fanden LEDs weitverbreitet eine Anwendung als Lichtquelle. Für die Qualitätskontrolle bei der Herstellung der LEDs, werden die LEDs im Allgemeinen für gewöhnlich mittels einer Integrationskugel gemessen. Die Integrationskugel fängt das von einer an einer Öffnung der Integrationskugel angeordneten LED emittierte Licht auf und führt eine Lumenmessung der LED durch. Since light emitting diodes (LEDs) have low power consumption, small size, and high brightness advantages, LEDs have been widely used as a light source. For quality control in the manufacture of the LEDs, LEDs are generally measured by means of an integrating sphere. The integration ball intercepts the light emitted from an LED disposed at an opening of the integration ball and performs a lumen measurement of the LED.
Bei der Lumenmessung der LED, z.B. einer Flip-Chip-LED, wird, weil die Oberfläche der Flip-Chip-LED elektrisch kontaktiert ist und die von der Unterseite der Flip-Chip-LED emittierten Lichtstrahlen von der Oberfläche der Integrationskugel aufgefangen werden, ein Quarzglas auf einer Plattform angeordnet, um die Flip-Chip-LED zu tragen. Aufgrund dessen, dass das Quarzglas auf der Plattform angeordnet wird, kann in der Situation, in der die Lichtquelle mit der Flip-Chip-LED von Dicken der Plattform und dem darauf befindlichen Quarzglas getrennt ist, die Flip-Chip-LED nicht nahe an der Integrationskugel angebracht werden, was zu einem Messwinkel führt, der zu klein ist, um genau gemessen zu werden. Außerdem kann ein Messefehler in der Licht sammelnden Fläche der Integrationskugel aufgrund dieses kleinen Messwinkels auftreten, so dass das Licht nicht homogen in die Integrationskugel eintreten kann. Zusätzlich können sich während der Messung die Plattform und das darauf befindliche Quarzglas entlang einer horizontalen Richtung oder einer vertikalen Richtung in Bezug auf die Integrationskugel bewegen. Deshalb können beim Messen der verschiedenen LED-Chips die durch die LED-Chips emittierten Lichtstrahlen in die Integrationskugel bei unterschiedlichen Bereichen eintreten, und von daher können Messbedingungen variieren. Darüber hinaus kann sich das Licht, nachdem es in die Integrationskugel eingetreten ist, wenn ein Spalt zwischen der Flip-Chip-LED und der Integrationskugel besteht, diffus außerhalb der Integrationskugel ausbreiten und die Genauigkeit der Lumenmessung beeinträchtigen. In the lumen measurement of the LED, e.g. a flip-chip LED, because the surface of the flip-chip LED is electrically contacted and the light beams emitted from the bottom of the flip-chip LED are picked up from the surface of the integration sphere, a quartz glass is placed on a platform to carry the flip chip LED. Due to the fact that the quartz glass is placed on the platform, in the situation where the light source with the flip-chip LED is separated from thicknesses of the platform and the quartz glass thereon, the flip-chip LED can not be close to the Integrating ball attached, resulting in a measurement angle that is too small to be measured accurately. In addition, a measurement error in the light-collecting surface of the integration sphere due to this small measurement angle may occur, so that the light can not enter homogeneously into the integration sphere. In addition, during the measurement, the platform and the quartz glass thereon may move along a horizontal direction or a vertical direction with respect to the integration sphere. Therefore, when measuring the various LED chips, the light beams emitted by the LED chips may enter the integration sphere at different regions, and therefore, measurement conditions may vary. Moreover, the light, after entering the integration sphere, when there is a gap between the flip-chip LED and the integration sphere, may diffuse diffusely outside the integration sphere and affect the accuracy of the lumen measurement.
ZUSAMMENFASSUNG SUMMARY
Ein Aspekt der vorliegenden Offenbarung stellt eine Lichtmessvorrichtung bereit. Ein lichtdurchlässiges Substrat mit Staubschutz ist in einem Lichteingang einer Integrationskugel angeordnet und im Halsabschnitt enthalten oder auf einer Oberfläche des Halsabschnitts angeordnet, so dass ein Gegenstand (zum Beispiel eine Licht emittierende Diode (LED), die an einem Schutzband blauen Typs (protection tape with blue type) angeklebt ist), der auf dem lichtdurchlässigen Substrat angeordnet ist, nahe an der Integrationskugel angebracht werden kann, wodurch ein Öffnungswinkel von Lichtstrahlen vergrößert wird, die durch die LED zum Lichteingang hin emittiert werden. Indem ein Höhenunterschied zwischen der LED und dem Lichteingang der Integrationskugel verkleinert wird, kann die Lumenmessung der LED genauer sein, und die Lichtstrahlen, die von der LED emittiert werden und in die Integrationskugel eintreten, können sich nicht außerhalb der Integrationskugel über den Höhenunterschied zwischen der LED und der Integrationskugel durch eine diffuse Reflexion ausbreiten. One aspect of the present disclosure provides a light meter. A translucent substrate with dust shield is disposed in a light entrance of an integrating sphere and contained in the neck portion or disposed on a surface of the neck portion such that an article (eg, a light emitting diode (LED) attached to a blue-type protective tape type) mounted on the transparent substrate can be mounted close to the integrating sphere, thereby increasing an opening angle of light rays emitted by the LED toward the light entrance. By decreasing a height difference between the LED and the light entrance of the integration sphere, the lumen measurement of the LED may be more accurate, and the light rays emitted from the LED entering the integration sphere can not fall outside the integration sphere beyond the height difference between the LED and propagate the integration sphere through a diffuse reflection.
Ein Aspekt der vorliegenden Offenbarung stellt eine Lichtmessvorrichtung bereit, die eine Plattform, einen Haltering und eine Integrationskugel umfasst. Die Plattform hat eine Öffnung. Der Haltering ist auf einer Oberfläche der Plattform angeordnet und dazu ausgelegt, einen Gegenstand zu fixieren, der aus einem Trägerfilm und Licht emittierenden Diodenchips besteht. Der Haltering und der Gegenstand werden auf der Plattform angeordnet, und zumindest ein Teil des Gegenstands liegt durch die Öffnung hindurch frei. Die Integrationskugel wird entsprechend an der Öffnung angeordnet und umfasst einen kugelförmigen Hohlraum, einen Halsabschnitt und ein lichtdurchlässiges Substrat. Der Halsabschnitt ist mit dem kugelförmigen Hohlraum verbunden und dazu ausgelegt, einen Lichteingang zu definieren. Das lichtdurchlässige Substrat ist am Lichteingang angeordnet und im Halsabschnitt enthalten oder auf einer Oberfläche des Halsabschnitts angeordnet, wobei ein vertikaler Abstand zwischen einem Teil des das lichtdurchlässige Substrat abdeckenden Gegenstands und der Plattform größer als ein oder gleich einem vertikalen Abstand zwischen einem anderen Teil des Gegenstands und der Plattform ist. One aspect of the present disclosure provides a light metering device that includes a platform, a retaining ring, and an integration ball. The platform has an opening. The retaining ring is disposed on a surface of the platform and adapted to fix an article consisting of a carrier film and light-emitting diode chips. The retaining ring and the article are placed on the platform and at least part of the article is exposed through the opening. The integrating sphere is correspondingly arranged at the opening and comprises a spherical cavity, a neck portion and a translucent substrate. The neck portion is connected to the spherical cavity and adapted to define a light entrance. The translucent substrate is disposed at the light entrance and contained within the neck portion or disposed on a surface of the neck portion, wherein a vertical distance between a portion of the translucent substrate covering the article and the platform is greater than or equal to a vertical distance between another portion of the article and the platform is.
In der Lichtmessvorrichtung sind die Integrationskugel und das lichtdurchlässige Substrat so kombiniert, dass der Höhenunterschied zwischen der LED und dem Lichteingang verkleinert ist, wodurch der Öffnungswinkel von Lichtstrahlen vergrößert ist, die von der LED zur Integrationskugel hin emittiert werden. Darüber hinaus ist in der Lichtmessvorrichtung der vorliegenden Offenbarung, indem zusätzlich der Positionierungsabschnitt oder der Tragrahmen an der Integrationskugel angeordnet wird, der Öffnungswinkel vergrößert und eine für diffuse Reflexion sorgende Schicht an einer Innenwand der Integrationskugel kann geschützt werden. In the light measuring device, the integration sphere and the transparent substrate are combined so that the height difference between the LED and the light entrance is reduced, thereby increasing the opening angle of light rays emitted from the LED to the integration sphere. Moreover, in the light measuring device of the present disclosure, in addition to the positioning portion or the Support frame is arranged on the integration sphere, the opening angle is increased and a care for diffuse reflection layer on an inner wall of the integration sphere can be protected.
KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
AUSFÜHRLICHE BESCHREIBUNG DETAILED DESCRIPTION
In der folgenden ausführlichen Beschreibung werden zu Erklärungszwecken zahlreiche spezifische Details dargelegt, um ein gründliches Verständnis der offenbarten Ausführungsformen zu bieten. Es wird jedoch offensichtlich sein, dass sich eine oder mehrere Ausführungsform/en ohne diese spezifischen Details in die Praxis umsetzen lässt bzw. lassen. In anderen Fällen sind hinlänglich bekannte Strukturen und Vorrichtungen schematisch aufgezeigt, um die Zeichnung zu vereinfachen. In the following detailed description, for purposes of explanation, numerous specific details are set forth in order to provide a thorough understanding of the disclosed embodiments. It will be apparent, however, that one or more embodiments may or may not be practiced without these specific details. In other instances, well-known structures and devices are shown schematically to simplify the drawing.
Bei einer Messung einer Integrationskugel einer Messvorrichtung ist beispielsweise das Messen einer Licht emittierenden Diode (LED) auf einem Schutzband, zum Beispiel einem Schutzband mit blauem Typ bzw. blauen Typs, da ein Höhenunterschied zwischen einer LED und einer Öffnung der Integrationskugel (z.B. Dicken einer Plattform und eines darauf befindlichen Quarzglases) besteht, dergestalt, dass ein Öffnungswinkel von Lichtstrahlen, die von der LED emittiert werden, begrenzt ist. Deshalb kann die Integrationskugel die von der LED emittierten Lichtstrahlen nicht gänzlich empfangen. Darüber hinaus werden die Lichtstrahlen, die von der LED in die Integrationskugel emittiert werden, möglicherweise über einen durch den Höhenunterschied entstandenen Spalt von der Innenseite der Integrationskugel zur Außenseite der Integrationskugel diffus reflektiert. For example, when measuring an integration sphere of a measuring device, measuring a light-emitting diode (LED) on a protective tape, for example a blue-type or blue-type protective tape, results in a difference in height between an LED and an opening of the integration sphere (eg, thicknesses of a platform and a quartz glass thereon), such that an opening angle of light rays emitted from the LED is limited. Therefore, the integration sphere can not fully receive the light rays emitted from the LED. In addition, the light rays emitted from the LED into the integration sphere may be diffusely reflected by a gap caused by the height difference from the inside of the integration sphere to the outside of the integration sphere.
Entsprechend dem vorstehenden Problem wird in einer Lichtmessvorrichtung der vorliegenden Offenbarung ein lichtdurchlässiges Substrat in einem Lichteingang der Integrationskugel so angeordnet, dass der Höhenunterschied zwischen einer LED und dem Lichteingang verkleinert ist, wodurch der Öffnungswinkel von Lichtstrahlen vergrößert wird, die von der LED zur Integrationskugel hin emittiert werden. Indem darüber hinaus in der Lichtmessvorrichtung der vorliegenden Offenbarung der Positionierungsabschnitt oder der Tragrahmen an der Integrationskugel angeordnet wird, wird die Winkelöffnung vergrößert und eine für diffuse Reflexion sorgende Schicht an einer Innenwand der Integrationskugel kann geschützt werden. According to the above problem, in a light measuring device of the present disclosure, a transparent substrate is disposed in a light entrance of the integration sphere so that the difference in height between an LED and the light entrance is reduced, thereby increasing the opening angle of light rays emitted from the LED to the integration sphere become. Moreover, in the light measuring device of the present disclosure, by disposing the positioning portion or the supporting frame on the integrating sphere, the angular aperture is increased and a diffuse reflection-providing layer on an inner wall of the integrating sphere can be protected.
Wie in
Bei dem Haltering
Die Integrationskugel
Der Gegenstand
Die Messvorrichtung
Die Integrationskugel
Wie in
Mit Bezug zurück auf
Nachdem sich die Plattform
Während der Messung wird der Lichtstrahl
Da das lichtdurchlässige Substrat
Damit der Trägerfilm
Darüber hinaus wird bei einer Messung einer Integrationskugel ein Gegenstand auf einem Quarzglas angebracht, wobei sich das Quarzglas auf einer Plattform befindet und sich mit der Plattform bewegt. Deshalb kann jeder der LED-Chips eine andere Anordnungsposition haben. Mit den unterschiedlichen Positionen können sich auch die Messbedingungen und die Glätte der LED-Chips voneinander unterscheiden. Wenn beispielsweise die Glätte der LED-Chips nicht gut ist, unterscheiden sich Abstrahlrichtungen von Lichtstrahlen, die von den LED-Chips emittiert werden, voneinander, und deshalb kann die Regelgröße bei der Messung nicht gesteuert werden. In addition, when measuring an integrating sphere, an object is mounted on a quartz glass with the quartz glass on a platform and moving with the platform. Therefore, each of the LED chips can have a different arrangement position. With the different positions, the measuring conditions and the smoothness of the LED chips can differ from each other. For example, if the smoothness of the LED chips is not good, irradiation directions of light beams emitted from the LED chips are different from each other, and therefore, the controlled variable can not be controlled in the measurement.
Außerdem kann, wenn der von den LED-Chips
Nachdem der Trägerfilm
Bei der vorstehenden Auslegung kann der Lichtstrahl
Darüber hinaus beträgt, wie in
Der transparente Bereich
Gemäß den vorstehenden Ausführungsformen wurde die Anordnung der Lichtmessvorrichtung beschrieben. In folgenden Ausführungsformen werden die Beschreibungen im Hinblick auf die Veränderung der Integrationskugel beschrieben und dieselben Beschreibungen wie in der ersten Ausführungsform nicht wieder aufgeführt. According to the above embodiments, the arrangement of the light measuring device has been described. In the following embodiments, the descriptions with respect to the change of the integration sphere will be described and the same descriptions as in the first embodiment will not be reiterated.
In der vorliegenden Ausführungsform steht die Oberfläche des lichtdurchlässigen Substrats
Der Positionierungsabschnitt
Der Tragrahmen
Der Verbindungsabschnitt
Der Tragabschnitt
Weil das lichtdurchlässige Substrat
Zusammenfassend ist in der Lichtmessvorrichtung das lichtdurchlässige Substrat an der Integrationskugel angeordnet und befindet sich so im Lichteingang der Integrationskugel, dass ein Höhenunterschied zwischen dem auf dem lichtdurchlässigen Substrat befindlichen Gegenstand und dem Lichteingang der Integrationskugel verkleinert ist. Deshalb ist der Aufnahmewinkel der Integrationskugel vergrößert, und die anderen Mittel, das lichtdurchlässige Substrat durch den Positionierungsabschnitt oder den Tragrahmen zu tragen, können verhindern, dass die für diffuse Reflexion sorgende Materialschicht der Innenfläche der Integrationskugel durch Verkratzen beschädigt wird. In summary, in the light measuring device, the translucent substrate is arranged on the integration sphere and is located in the light entrance of the integration sphere such that a difference in height between the object located on the translucent substrate and the light entrance of the integration sphere is reduced. Therefore, the receiving angle of the integrating sphere is increased, and the other means of supporting the translucent substrate by the positioning portion or the supporting frame can prevent the diffuse reflection material layer of the integrating sphere material surface from being damaged by scratching.
Dann sind
Um zu verhindern, dass die für diffuse Reflexion sorgende Materialschicht der Innenfläche der Integrationskugel
Die Integrationskugel ist in den vorstehend beschriebenen Ausführungsformen im Hinblick auf die Merkmale beschrieben, die sich von der bekannten Technologie unterscheiden, und die anderen Merkmale, bei denen es sich um dieselben wie in der bekannten Technologie handelt, sind nicht noch einmal aufgeführt, beispielsweise umfasst die Integrationskugel mindestens einen Lichtaustritt oder zumindest einen Lichtaustrittskanal. The integrating sphere is described in the above-described embodiments in terms of the features different from the known technology, and the other features which are the same as in the known technology are not listed again, for example, FIG Integrationskugel at least one light outlet or at least one light exit channel.
Obwohl die vorliegende Offenbarung in erheblichem Detail mit Bezug auf bestimmte Ausführungsformen von dieser beschrieben wurde, sind auch andere Ausführungsformen möglich. Deshalb sollte der Aussagegehalt und Umfang der beigefügten Ansprüche nicht auf die hier enthaltene Beschreibung der Ausführungsformen beschränkt werden. Although the present disclosure has been described in considerable detail with respect to particular embodiments thereof, other embodiments are possible. Therefore, the spirit and scope of the appended claims should not be limited to the description of the embodiments contained herein.
Für die Fachleute auf den Gebiet wird es offensichtlich sein, dass verschiedene Abwandlungen und Veränderungen am Aufbau der vorliegenden Offenbarung vorgenommen werden können, ohne vom Umfang und Aussagegehalt der Erfindung abzuweichen. Angesichts des Vorstehenden soll die vorliegende Offenbarung Abwandlungen und Veränderungen der vorliegenden Offenbarung abdecken, vorausgesetzt, sie fallen in den Umfang der folgenden Ansprüche. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and changes may be made to the construction of the present disclosure without departing from the scope and spirit of the invention. In view of the foregoing, the present disclosure is intended to cover modifications and variations of the present disclosure provided they come within the scope of the following claims.
Claims (19)
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
TW103213158 | 2014-07-24 | ||
TW103213158 | 2014-07-24 | ||
TW104200660 | 2015-01-15 | ||
TW104200660U TWM502171U (en) | 2014-07-24 | 2015-01-15 | Light measure device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE202015103903U1 true DE202015103903U1 (en) | 2015-08-14 |
Family
ID=53329989
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE202015103903.4U Expired - Lifetime DE202015103903U1 (en) | 2014-07-24 | 2015-07-24 | Light measuring device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN204373777U (en) |
DE (1) | DE202015103903U1 (en) |
TW (1) | TWM502171U (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019510968A (en) * | 2016-02-24 | 2019-04-18 | トムラ ソーティング ナムローゼ フェンノートシャップ | Method and apparatus for the detection of the presence of mycotoxins in cereals |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI702379B (en) * | 2015-10-02 | 2020-08-21 | 晶元光電股份有限公司 | Testing apparatus for light-emitting device |
TWI623761B (en) * | 2016-10-20 | 2018-05-11 | 旺矽科技股份有限公司 | Chip probing apparatus and chip probing method |
TWI647465B (en) * | 2017-08-16 | 2019-01-11 | 旺矽科技股份有限公司 | Optical inspection system |
-
2015
- 2015-01-15 CN CN201520025426.2U patent/CN204373777U/en not_active Expired - Fee Related
- 2015-01-15 TW TW104200660U patent/TWM502171U/en not_active IP Right Cessation
- 2015-07-24 DE DE202015103903.4U patent/DE202015103903U1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019510968A (en) * | 2016-02-24 | 2019-04-18 | トムラ ソーティング ナムローゼ フェンノートシャップ | Method and apparatus for the detection of the presence of mycotoxins in cereals |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWM502171U (en) | 2015-06-01 |
CN204373777U (en) | 2015-06-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE202015103903U1 (en) | Light measuring device | |
DE60216707T2 (en) | Fingerprint detection device | |
DE102009015313B4 (en) | display device | |
EP3321649B1 (en) | Lighting unit for a micro-spectrometer, micro-spectrometer and mobile terminal | |
DE4421243A1 (en) | Device for inputting a fingerprint | |
WO2007059736A1 (en) | Inclination sensor | |
EP3440427A1 (en) | Device and method for measuring a surface topography, and calibration method | |
DE102013219477A1 (en) | Providing components by means of vibration and optically detecting the components from below by means of an integrated camera | |
DE112012005324T5 (en) | Optical measuring sensor | |
WO2016005150A1 (en) | Semiconductor laser device and camera | |
DE202007019330U1 (en) | Coating / cover for optoelectronic components | |
DE4431744A1 (en) | Device for optical range measurement (distance measurement) | |
DE102007060206A1 (en) | Arrangement with at least one optoelectronic semiconductor component | |
DE102016104464A1 (en) | OPTICAL TEST EQUIPMENT | |
DE102018206376B4 (en) | Testing device for testing intraocular lenses | |
WO1996009531A1 (en) | Device for measuring the visual characteristics of surfaces | |
DE102018003908A1 (en) | Photoelectric encoder | |
DE112015004195B4 (en) | OPTOELECTRONIC COMPONENT | |
DE112020006525T5 (en) | sensor in the lower part of the display | |
DE102018105794B4 (en) | Representation of an object using shadows | |
EP1579169B1 (en) | Measuring device and measuring method for pins, in particular plug pins | |
DE202015104269U1 (en) | Sample card and test equipment with it | |
DE10258283A1 (en) | Probe device for workpiece measurement | |
DE102015218484A1 (en) | Reference pixel array for an image sensor | |
DE102013110190B4 (en) | sensor device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R207 | Utility model specification | ||
R150 | Utility model maintained after payment of first maintenance fee after three years | ||
R157 | Lapse of ip right after 6 years |