DE202012101557U1

DE202012101557U1 - test device

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Publication number: DE202012101557U1
Application number: DE201220101557
Authority: DE
Original assignee: MPH MESS PRUEF und HANDLING SYSTEME GmbH; Mph Mess- Pruef- und Handling-Systeme GmbH
Current assignee: MPH MESS PRUEF und HANDLING SYSTEME GmbH; Mph Mess- Pruef- und Handling-Systeme GmbH
Priority date: 2012-04-26
Filing date: 2012-04-26
Publication date: 2012-05-10
Anticipated expiration: 2022-04-27

Abstract

Testvorrichtung (1) zum Prüfen eines Elektronikmoduls mit einem Wechselkopf (2), an welchem an eine Messvorrichtung (8) angeschlossene Kontaktstifte (3) positionsverstellbar gelagert sind, und mit einer dem Wechselkopf (2) zugeordneten Einstellvorrichtung (4), mittels derer selektiv ein Raster von Kontaktstiften (3) zur Prüfung des Elektronikmoduls vorgebbar ist, in dem nur diese Kontaktstifte (3) in eine Prüfposition am Wechselkopf (2) eingebracht werden.Test device (1) for testing an electronic module with an interchangeable head (2), on which contact pins (3) connected to a measuring device (8) are mounted so as to be position-adjustable, and with an adjusting device (4) assigned to the interchangeable head (2), by means of which an selective adjustment is made Grid of contact pins (3) for testing the electronic module can be specified by inserting only these contact pins (3) into a test position on the interchangeable head (2).

Description

Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung zum Prüfen eines Elektronikmoduls.The invention relates to a test device for testing an electronic module.

Derartige Testvorrichtungen weisen zur Prüfung von Elektronikmodulen, die insbesondere von Leiterplatten gebildet sind, Prüfköpfe auf, an welchen Kontaktstifte vorgesehen sind, die an eine Messvorrichtung angeschlossen sind. Zur Prüfung des Elektronikmoduls wird der Prüfkopf so verfahren, dass die Kontaktspitzen der Kontaktstifte vorgegebene Kontaktstellen an dem Elektronikmodul kontaktieren um dann mittels der Messvorrichtung bestimmte Messungen am Elektronikmodul vornehmen zu können. Beispielsweise kann durch Aufsetzen einer Kontaktspitze eines Kontaktstifts auf einer Kontaktstelle der dortige Durchgangswiderstand gemessen werden.Such test devices have, for testing electronic modules, which are formed in particular by printed circuit boards, on probes, on which contact pins are provided, which are connected to a measuring device. To test the electronic module, the test head is moved so that the contact tips of the pins contact predetermined contact points on the electronic module in order then to be able to make certain measurements on the electronic module by means of the measuring device. For example, can be measured by placing a contact tip of a contact pin on a contact point of the local volume resistance.

Zur Prüfung eines Elektronikmoduls müssen üblicherweise mehrere Kontaktstellen elektrisch kontaktiert werden, um an diesem spezifische Messungen durchführen zu können.To test an electronic module, usually several contact points must be electrically contacted in order to be able to carry out specific measurements on it.

Üblicherweise weist der Prüfkopf einer Testvorrichtung nur einen Kontaktstift auf. Um dann die unterschiedlichen Messungen durchzuführen, muss der Prüfkopf nacheinander in unterschiedliche Positionen verfahren werden, damit mit dem Kontaktstift jeweils eine Kontaktstelle zur Durchführung einer Messung kontaktiert werden kann. Das einzelne Anfahren der Kontaktstellen ist jedoch äußerst zeitaufwändig und führt somit zu einer unerwünschten Erhöhung der Prüfzeiten.Usually, the test head of a test device has only one contact pin. In order to then carry out the different measurements, the test head must be moved one after the other into different positions, so that a contact point for performing a measurement can be contacted with the contact pin. However, the single approach of the contact points is extremely time consuming and thus leads to an undesirable increase in the test times.

Aus der EP 0 807 258 B1 ist eine Testvorrichtung bekannt, welche einen Prüfkopf mit einem Kontaktstift in Form einer Nadel aufweist. Die Nadel ist im Prüfkopf schwenkbar gelagert und kann so in unterschiedliche Stellungen eingebracht werden.From the EP 0 807 258 B1 For example, a test device is known which has a test head with a pin in the form of a needle. The needle is pivotally mounted in the test head and can be placed in different positions.

Mit diesem Prüfkopf können die Prüfzeiten zur Prüfung eines Elektronikmoduls verkürzt werden, da nun für die Kontaktierung der Nadel mit vorgegebenen Kontaktstellen des Elektronikmoduls der Prüfkopf nicht mehr einzeln alle Kontaktstellen anfahren muss. Vielmehr kann nun der Prüfkopf in mehrere Sollpositionen verfahren werden, wobei in dieser Sollposition die Nadel ein oder mehrmals verstellt werden kann um unterschiedliche Kontaktstellen zu kontaktieren. Damit ist es möglich, in einer Sollposition des Prüfkopfs Messungen an unterschiedlichen Kontaktstellen durchzuführen.With this test head, the test times for testing an electronic module can be shortened, because now the probe no longer has to approach all contact points individually for contacting the needle with predetermined contact points of the electronic module. Rather, the test head can now be moved into a plurality of desired positions, wherein in this desired position, the needle can be adjusted one or more times to contact different contact points. This makes it possible to carry out measurements at different contact points in a desired position of the test head.

Nachteilig hierbei ist jedoch, dass mit der Nadel am Prüfkopf jeweils nur eine Messung durchgeführt werden kann. Auch die Verstellung der Nadel bei einem in einer Sollposition liegenden Prüfkopf erfordert für jede Einzelmessung einen Positionieraufwand für die Nadel, wodurch sich insgesamt noch unzufriedenstellend hohe Prüfzeiten für die Prüfung des Elektronikmoduls ergeben.The disadvantage here, however, is that only one measurement can be performed with the needle on the test head. Also, the adjustment of the needle at a lying in a desired position probe requires a positioning effort for the needle for each individual measurement, resulting in total still unsatisfactory high test times for testing the electronic module.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde eine Testvorrichtung der eingangsgenannten Art bereitzustellen, mittels derer ein rationelles Prüfen von Elektronikmodulen ermöglicht wird.The invention has for its object to provide a test device of the type mentioned above, by means of which a rational testing of electronic modules is made possible.

Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Anspruchs 1 vorgesehen. Vorteilhafte Ausführungsformen und zweckmäßige Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.To solve this problem, the features of claim 1 are provided. Advantageous embodiments and expedient developments of the invention are described in the subclaims.

Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung zum Prüfen eines Elektronikmoduls mit einem Wechselkopf. Am Wechselkopf sind an eine Messvorrichtung angeschlossene Kontaktstifte positionsverstellbar gelagert und mit einer dem Wechselkopf zugeordneten Einstellvorrichtung. Mittels der Einstellvorrichtung ist selektiv ein Raster von Kontaktstiften zur Prüfung des Elektronikmoduls vorgebbar. In dem Elektronikmodul werden nur diese Kontaktstifte in eine Prüfposition am Wechselkopf eingebracht.The invention relates to a test device for testing an electronic module with a replaceable head. On the replaceable head, contact pins connected to a measuring device are mounted in a positionally adjustable manner and with an adjusting device associated with the replaceable head. By means of the adjusting device, a grid of contact pins for testing the electronic module can be selectively specified. In the electronic module only these pins are placed in a test position on the removable head.

Durch die am Wechselkopf vorgesehene Mehrfachanordnung von Kontaktstiften können nach Einfahren des Wechselkopfs in eine bestimmte Sollposition an dem Elektronikmodul mehrere Kontaktstellen des Elektronikmoduls gleichzeitig mit verschiedenen Kontaktstiften elektrisch kontaktiert werden, so dass simultan am Elektronikmodul mehrere Messungen zur Prüfung des Elektronikmoduls durchgeführt werden können. Wesentlich hierbei ist, dass durch die dem Elektronikmodul zugeordnete Einstellvorrichtung selbsttätig ein Raster von Kontaktstiften derart vorgegeben werden kann, dass nur bestimmte vorgegebene Kontaktstifte an Kontaktstellen des Elektronikmoduls gebracht werden. Dies wird dadurch erreicht, dass mit der Einstellvorrichtung vor Einfahren des Wechselkopfs in eine Sollposition am Elektronikmodul nur die Kontaktstifte, die zur Kontaktierung von Kontaktstellen des Elektronikmoduls und damit zur Durchführung von Messungen in bestimmte Prüfpositionen eingebracht werden. Dadurch wird erreicht, dass bei Einfahren des Wechselkopfs in eine Sollposition nur diese ausgewählten Kontaktstifte in Kontakt mit dem Elektronikmodul sind, während die restlichen Kontaktstifte nicht in Kontakt mit dem Elektronikmodul sind. Das Raster der so ausgewählten Kontaktstifte des Wechselkopfs wird vorzugsweise rechnergesteuert an das Raster der zu kontaktierenden Kontaktstifte am Elektronikmodul angepasst. Dadurch ist gewährleistet, dass auf jede zu kontaktierende Kontaktstelle am Elektronikmodul exakt ein Kontaktstift geführt ist, so dass dann für das gesamte Raster simultan Messungen zur Prüfung es Elektronikmoduls durchgeführt werden können.Due to the multiple arrangement of contact pins provided on the replaceable head, several contact points of the electronic module can be electrically contacted simultaneously with different contact pins after retraction of the replaceable head into a specific desired position on the electronic module, so that several measurements can be carried out simultaneously on the electronics module for testing the electronic module. What is essential here is that a grid of contact pins can be automatically set by the adjustment device assigned to the electronic module in such a way that only certain predetermined contact pins are brought to contact points of the electronic module. This is achieved in that with the adjusting device before retracting the replaceable head into a desired position on the electronic module only the contact pins, which are introduced for contacting contact points of the electronic module and thus to carry out measurements in certain test positions. This ensures that when retracting the replaceable head in a desired position, only these selected pins are in contact with the electronic module, while the remaining pins are not in contact with the electronic module. The grid of the so selected contact pins of the removable head is preferably computer-controlled adapted to the grid of the contact pins to be contacted on the electronic module. This ensures that exactly one contact pin is guided on each contact point to be contacted on the electronics module, so that measurements for testing the electronic module can then be carried out simultaneously for the entire grid.

Mit der erfindungsgemäßen Testvorrichtung können somit die Prüfzeiten zur Prüfung von Elektronikmodulen erheblich verkürzt werden, da mit dem Wechselkopf nur noch wenige Sollpositionen am Elektronikmodul angefahren werden müssen. Durch Vorgabe jeweils eines zur Prüfung zu verwendenden Rasters von Kontaktstiften für jede der Sollpositionen kann nämlich in jeder Sollposition eine Vielzahl von Einzelmessungen durchgeführt werden.Thus, with the test device according to the invention, the test times for testing Electronic modules are shortened considerably, since with the replaceable head only a few set positions on the electronic module must be approached. By specifying in each case a grid of contact pins to be used for the test for each of the desired positions, a large number of individual measurements can be carried out in each desired position.

Die erfindungsgemäße Testvorrichtung ermöglicht somit ein rationelles Prüfen von Elektronikmodulen. Weiterhin ist vorteilhaft, dass die Testvorrichtung einfach an die Prüfung unterschiedlicher Elektronikmodule anpassbar ist, in dem vorzugsweise rechnergesteuert für einzelne Sollpositionen des Wechselkopfs an jeweiligen Elektronikmodulen geeignete Raster von für die Prüfung zu verwendeten Kontaktstiften entsprechend dem Raster der Kontaktstellen des jeweiligen Elektronikmoduls einfach vorgegeben werden können.The test device according to the invention thus enables a rational testing of electronic modules. Furthermore, it is advantageous that the test device is easily adaptable to the testing of different electronic modules, in which preferably computer-controlled for individual nominal positions of the replaceable head at respective electronic modules suitable grid of contact pins to be used for the test according to the grid of the contact points of the respective electronic module can be easily specified.

Gemäß einer konstruktiv vorteilhaften Ausführungsform weist der Wechselkopf ein Klemmstück auf. Mittels vom Klemmstück ausgeübten Haltekräften werden die Kontaktstifte in vorgegebenen Positionen festgehalten. Zur Positionsverstellung von Kontaktstiften wird das Klemmstück mittels der Einstellvorrichtung verstellt, so dass das Klemmstück außer Eingriff mit den Kontaktstiften ist.According to a structurally advantageous embodiment, the replaceable head on a clamping piece. By means of holding forces exerted by the clamping piece, the contact pins are held in predetermined positions. For positional adjustment of contact pins, the clamping piece is adjusted by means of the adjusting device, so that the clamping piece is out of engagement with the contact pins.

Die vom Klemmstück ausgeübten Haltekräfte sind so groß, dass die Kontaktstifte sicher in ihren Positionen festgehalten sind, wenn der Wechselkopf in die einzelnen Sollpositionen am zu prüfenden Elektronikmodul verfahren werden und wenn am Elektronikmodul mit dem jeweils vorgegebenen Raster von Kontaktstiften Messungen durchgeführt werden. Insbesondere ist durch das Klemmstück ein sicherer Halt aller Kontaktstifte gewährleistet, so dass sichergestellt ist dass bei den durchzuführenden Messungen nur die ausgewählten Kontaktstifte des Rasters in Kontakt mit den Kontakstellen des Elektronikmoduls kommen.The holding forces exerted by the clamping piece are so great that the contact pins are securely held in their positions when the replaceable head is moved into the individual desired positions on the electronic module to be tested and if measurements are carried out on the electronics module with the respectively prescribed grid of contact pins. In particular, a secure hold of all contact pins is ensured by the clamping piece, so that it is ensured that only the selected pins of the grid come into contact with the contact points of the electronic module in the measurements to be performed.

Um einen Wechsel des Rasters der für eine Prüfung am Elektronikmodul zu verwendenden Kontaktstifte vorzunehmen wird das Klemmstück mit der Einstellvorrichtung so bewegt, dass es außer Eingriff mit den Kontaktstiften ist. Nun kann ein neues Raster von Kontaktstiften eingestellt werden, in dem vorgegebene Kontaktstifte in die Prüfpositionen eingebracht werden und die restlichen Kontaktstifte aus den Prüfpositionen ausgefahren oder außerhalb dieser gehalten werden.In order to make a change of the grid of the pins to be used for a test on the electronic module, the clamping piece with the adjusting device is moved so that it is out of engagement with the contact pins. Now, a new grid of pins can be adjusted, are introduced in the predetermined pins in the test positions and the remaining pins are extended from the test positions or held outside this.

Dieser Einstellvorgang erfolgt selbsttätig. Vorzugsweise weist die Einstellvorrichtung Betätigungsmittel auf, mittels derer einzelne Kontaktstifte verstellbar sind.This adjustment is done automatically. Preferably, the adjustment device on actuating means by means of which individual pins are adjustable.

Die vorgenannte Anordnung zur Vorgabe von Raster von Kontaktstiften zur Prüfung des Elektronikmoduls kann dadurch noch verbessert werden, dass zusätzlich zu dem Klemmstück Federkontaktstifte zur Lagefixierung der Kontaktstifte vorgesehen sind. Die Haltekräfte der Federkontaktstifte zur Lagefixierung der Kontaktstifte sind erheblich kleiner als die von dem Klemmstück auf die Kontaktstifte ausgeübten Haltekräfte. Bei einer Positionsverstellung werden vorgegebene Kontaktstifte gegen die von den Kontaktstiften ausgeübten Haltekräfte zwischen einer Prüfposition und einer Rastposition verstellt.The aforementioned arrangement for specifying grid of contact pins for testing the electronic module can be further improved by providing spring contact pins for fixing the position of the contact pins in addition to the clamping piece. The holding forces of the spring contact pins for fixing the position of the contact pins are considerably smaller than the holding forces exerted by the clamping piece on the contact pins. In a position adjustment predetermined contact pins are adjusted against the force exerted by the contact pins holding forces between a test position and a detent position.

Wird das Klemmstück betätigt und außer Eingriff mit den Kontaktstiften gebracht, bestünde ohne weitere Halterung für die Kontaktstifte die Gefahr, dass diese aus dem Wechselkopf herausfallen oder wenigstens in undefinierten Postionen am Wechselkopf sind. Um dies zu vermeiden sind die Kontaktstifte mittels der Federkontaktstifte mit geringen Haltekräften gehalten, die ein Herausfallen der Kontaktstifte vom Wechselkopf oder einen Übergang in unkontrollierte Positionen am Wechselkopf vermeiden. Die Haltekräfte der Federkontaktstifte sind jedoch so gering, dass die Kontaktstifte mittels der Betätigungsmittel der Einstellvorrichtung in der gewünschten Weise in ihren Positionen verstellt werden können. Die Federkontaktstifte halten dann die so eingestellten Positionen bis mittels der Einstellvorrichtung das Klemmstück wieder in Eingriff mit den Kontaktstiften gebracht wird, so dass dann das Klemmstück die Kontaktstifte wieder mit größeren Haltekräften fixiert.If the clamping piece is actuated and brought out of engagement with the contact pins, there would be a risk, without further support for the contact pins, that they will fall out of the replaceable head or at least be in undefined positions on the replaceable head. To avoid this, the contact pins are held by means of the spring contact pins with low holding forces, which prevent falling out of the contact pins from the replaceable head or a transition to uncontrolled positions on the replaceable head. However, the holding forces of the spring contact pins are so small that the contact pins can be adjusted by means of the actuating means of the adjustment in the desired manner in their positions. The spring contact pins then hold the positions thus adjusted until the clamping piece is again brought into engagement with the contact pins by means of the adjusting device, so that then the clamping piece fixes the contact pins again with greater holding forces.

Besonders vorteilhaft weist der Wechselkopf eine ebene Seitenwand auf, an welcher die Kontaktstifte in einer Linearanordnung mit vertikal orientierten Längsachsen angeordnet sind. Die Kontaktstifte sind höhenverstellbar angeordnet.Particularly advantageously, the replaceable head has a planar side wall, on which the contact pins are arranged in a linear arrangement with vertically oriented longitudinal axes. The contact pins are arranged adjustable in height.

Die zugeordnete Einstellvorrichtung ist dann vor der Seitenwand des Wechselkopfs positioniert und bildet vorteilhaft eine Baueinheit mit dem Wechselkopf. Die so ausgebildete Testvorrichtung weist einen einfachen und kompakten Aufbau auf.The associated adjustment device is then positioned in front of the side wall of the replaceable head and advantageously forms a structural unit with the replaceable head. The test device designed in this way has a simple and compact construction.

Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Zeichnungen erläutert. Es zeigen:The invention will be explained below with reference to the drawings. Show it:

1: Schematische Darstellung einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Testvorrichtung zur Prüfung von Elektronikmodulen. 1 : Schematic representation of an embodiment of the test device according to the invention for testing electronic modules.

2: Darstellung eines Wechselkopfs für die Testvorrichtung gemäß 1. 2 : Representation of a replaceable head for the test device according to 1 ,

1 zeigt schematisch den Aufbau eines Ausführungsbeispiels der erfindungsgemäßen Testvorrichtung 1. Die Testvorrichtung 1 umfasst einen Wechselkopf 2, an welchem eine Anordnung von Kontaktstiften 3 gelagert ist. Dem Wechselkopf 2 ist eine Einstellvorrichtung 4 zugeordnet, die eine Anordnung von Befestigungsmitteln 5 aufweist. Im vorliegenden Fall sind der Wechselkopf 2 und die Einstellvorrichtung 4 über Verbindungselemente 6 gekoppelt, so dass diese eine Baueinheit bilden. Prinzipiell können der Wechselkopf 2 und die Einstellvorrichtung 4 auch separate Einheiten bilden. Der Wechselkopf 2 ist über elektrische Anschlussmittel 7 mit einer Messvorrichtung 8 verbunden. Die elektrischen Anschlussmittel 7 umfassen vorzugsweise mehrere elektrische Leitungen, die in 1 nicht dargestellt sind. 1 schematically shows the structure of an embodiment of the test device according to the invention 1 , The test device 1 includes a replaceable head 2 on which an arrangement of contact pins 3 is stored. The replaceable head 2 is an adjustment device 4 associated with an arrangement of fasteners 5 having. In the present case, the replaceable head 2 and the adjustment device 4 over fasteners 6 coupled so that they form a structural unit. In principle, the replaceable head 2 and the adjustment device 4 also form separate units. The replaceable head 2 is via electrical connection means 7 with a measuring device 8th connected. The electrical connection means 7 preferably comprise a plurality of electrical lines, which in 1 are not shown.

Mit der Testvorrichtung 1 erfolgt eine Prüfung von Elektronikmodulen, die insbesondere von Leiterplatten gebildet sein können. Zur Durchführung von Prüfungen wird der Wechselkopf 2 mittels einer nicht dargestellten, vorzugsweise rechnergesteuerten Verfahreinheit in vorgegebene Sollpositionen gefahren. In jeder Sollposition wird eine bestimmte Anzahl von Kontaktstellen des Elektronikmoduls einer entsprechenden, vorgegebenen Anzahl von Kontaktstiften 3 des Wechselkopfs 2 elektrisch kontaktiert. Die Kontaktstifte 3 sind elektrisch mit der Messvorrichtung 8 über die elektrischen Anschlussmittel 7 verbunden, so dass elektrische Prüfsignale von der Messvorrichtung 8 ausgegeben werden und/oder elektrische Signale von den Kontaktstellen an die Messvorrichtung 8 übertragen werden. Beispielsweise können auf diese Weise Durchgangswiderstände an den Kontaktstellen gemessen werden.With the test device 1 a check of electronic modules, which may be formed in particular by printed circuit boards. For performing tests, the replaceable head 2 moved by a non-illustrated, preferably computer-controlled positioning in predetermined target positions. In each desired position, a certain number of contact points of the electronic module of a corresponding, predetermined number of pins 3 of the replaceable head 2 electrically contacted. The contact pins 3 are electrical with the measuring device 8th via the electrical connection means 7 connected, so that electrical test signals from the measuring device 8th are output and / or electrical signals from the contact points to the measuring device 8th be transmitted. For example, volume resistances at the contact points can be measured in this way.

2 zeigt den Wechselkopf 2 in einer Einzeldarstellung. Der Wechselkopf 2 weist im vorliegenden Fall einen quaderförmigen Gehäusekörper 9 auf. An einer der Einstellvorrichtungen 4 zugeordneten Seitenwand des Gehäusekörpers 9 sind die Kontaktstifte 3 gelagert, die im vorliegenden Fall alle identisch ausgebildet sind. Die Kontaktstifte 3 sind mit in vertikaler Richtung verlaufenden Längsachsen in äquidistanten Abständen zueinander angeordnet. Jeder Kontaktstift 3 weist an seinem unteren Ende eine Kontaktspitze 3a auf, mit der der jeweilige Kontaktstift 3 an einer Kontakspitze des Elektronikmoduls elektrisch kontaktiert werden kann. 2 shows the replaceable head 2 in a single presentation. The replaceable head 2 has in the present case a cuboid housing body 9 on. At one of the adjusting devices 4 associated side wall of the housing body 9 are the contact pins 3 stored, which are all identical in the present case. The contact pins 3 are arranged with longitudinal axes extending in the vertical direction at equidistant intervals. Every contact pin 3 has a contact tip at its lower end 3a on, with the respective contact pin 3 can be contacted electrically at a contact tip of the electronic module.

Die Kontaktstifte 3 sind jeweils zwischen zwei Endpositionen höhenverstellbar am Wechselkopf 2 gelagert. Ist ein Kontaktstift 3 in einer Prüfposition gelagert, ist dessen Kontaktspitze 3a in einer Höhenposition h₁ relativ zur Unterkante des Wechselkopfs 2. Ist der Kontaktstift 3 in einer Rastposition, so liegt die Kontaktspitze 3a des Kontaktstifts 3 höher als in der Prüfposition, nämlich in einer Höhenposition h₂. Bei der Anordnung von 2 sind mit Ausnahme eines Kontaktstifts 3 sämtliche Kontaktstifte 3 in der Prüfposition angeordnet.The contact pins 3 are each height-adjustable between two end positions on the replaceable head 2 stored. Is a contact pin 3 stored in a test position, the contact tip is 3a in a height position h ₁ relative to the lower edge of the replaceable head 2 , Is the contact pin 3 in a detent position, so is the contact tip 3a of the contact pin 3 higher than in the test position, namely in a height position h ₂ . In the arrangement of 2 are with the exception of a contact pin 3 all pins 3 arranged in the test position.

Die Kontaktstifte 3 werden in ihren Positionen mittels eines Klemmstücks 10 gehalten. Das Klemmstück 10 besteht aus einem flachen quaderförmigen Körper, dessen Breite sich über die gesamte Breite der Anordnung der Kontaktstifte 3 erstreckt. Das Klemmstück 10 ist in einer Ebene senkrecht zu den Längsachsen der Kontaktstifte 3 angeordnet. Das Klemmstück 10 wird im vorliegenden Fall durch Federkräfte gegen die Kontaktstifte 3 gedrückt und hält so die Kontaktstifte 3 in ihren Endpositionen fest. Die den Kontaktstiften 3 zugewandte Vorderseite des Klemmstücks 10 ist an die Anordnung der Kontaktstifte 3 so angepasst, dass dabei das Klemmstück 10 dicht an allen Kontaktstiften 3 gelagert und auf alle Kontaktstifte 3 dieselbe Haltekraft ausübt. Prinzipiell können anstelle von Federkräften auch von Motoren auf das Klemmstück 10 ausgeübte Kräfte die Haltekräfte für die Kontaktstifte 3 generieren.The contact pins 3 be in their positions by means of a clamping piece 10 held. The clamping piece 10 consists of a flat cuboid body whose width is over the entire width of the arrangement of the contact pins 3 extends. The clamping piece 10 is in a plane perpendicular to the longitudinal axes of the contact pins 3 arranged. The clamping piece 10 is in the present case by spring forces against the contact pins 3 Press and hold the contact pins 3 stuck in their final positions. The pins 3 facing front of the clamping piece 10 is the arrangement of the contact pins 3 adjusted so that while the clamping piece 10 close to all pins 3 stored and on all pins 3 exercises the same holding power. In principle, instead of spring forces and of motors on the clamping piece 10 forces exerted the holding forces for the contact pins 3 to generate.

Im Gehäusekörper 9 sind weiterhin Federkontaktstifte 11 vorgesehen, wobei deren Längsachsen senkrecht zu den Längsachsen der Kontaktstifte 3 orientiert sind. Jeweils ein Federkontaktstift 11 ist auf einen Kontaktstift 3 geführt. Durch eine von einem Federkontaktstift 11 ausgeübten Federkraft wird eine Haltekraft generiert, die den jeweils zugeordneten Kontaktstift 3 in einer Position aufhält. Die von den Federkontaktstiften 11 ausgeübten Haltekräfte sind erheblich kleiner als die vom Klemmstück 10 generierten Haltekräfte.In the housing body 9 are still spring contact pins 11 provided, wherein the longitudinal axes perpendicular to the longitudinal axes of the contact pins 3 are oriented. One spring contact pin each 11 is on a contact pin 3 guided. By one of a spring contact pin 11 exerted spring force, a holding force is generated which the respective associated pin 3 in a position. The from the spring contact pins 11 applied holding forces are considerably smaller than those of the clamping piece 10 generated holding forces.

Jeder Kontaktstift 3 des Wechselkopfs 2 ist weiterhin mit einem Federkontaktstift 12 leitend verbunden. Der Kontaktstift 3 ist über den Federkontaktstift 12 und elektrische Leitungen mit der Messvorrichtung 8 leitend verbunden. Jeder Federkontaktstift 12 weist eine federnde Spitze auf die mit vorgegebenen Anpressdruck gegen den zugeordneten Kontaktstift 3 drückt und so eine leitende Verbindung zu diesem herstellt.Every contact pin 3 of the replaceable head 2 is still with a spring contact pin 12 conductively connected. The contact pin 3 is over the spring contact pin 12 and electrical lines with the measuring device 8th conductively connected. Each spring contact pin 12 has a resilient tip on the given contact pressure against the associated contact pin 3 presses and thus creates a conductive connection to this.

Wird zur Durchführung von Messungen der Wechselkopf 2 in eine Sollposition an das Elektronikmodul gebracht so wird je nach Anordnung von Kontaktstellen am Elektronikmodul in diesem Bereich nur eine bestimmte Anzahl von Kontaktstiften 3 des Wechselkopfs 2 benötigt um diese an den Kontaktstellen des Elektronikmoduls zu kontaktieren. Für jede von Elektronikmodulen auszuführende Sollposition kann die Anordnung und Anzahl der Kontaktspitzen 3a unterschiedlich sein.Used to perform measurements of the replaceable head 2 placed in a desired position to the electronic module so depending on the arrangement of contact points on the electronic module in this area only a certain number of pins 3 of the replaceable head 2 needed to contact them at the contact points of the electronic module. For each target position to be performed by electronic modules, the location and number of contact tips can be determined 3a be different.

Demzufolge wird vor Einfahren des Wechselkopfs 2 in eine Sollposition mittels der Einstellvorrichtung 4 selbsttätig, vorzugsweise rechnergesteuert das für diese Sollposition erforderliche Raster von Kontaktstiften 3, mit denen die Kontaktstellen zu kontaktieren sind, am Wechselkopf 2 eingestellt. Diese Einstellung erfolgt derart, dass die für die Messungen benötigten Kontaktstifte 3 jeweils in die Prüfpositionen eingebracht werden, während die restlichen Kontaktstifte 3 in die Rastpositionen eingebracht werden.Consequently, before retracting the replaceable head 2 in a desired position by means of the adjusting device 4 automatically, preferably computer-controlled, the grid of contact pins required for this desired position 3 with which the contact points are to be contacted, at the replaceable head 2 set. This adjustment is made such that the pins required for the measurements 3 each in the Test positions are introduced while the remaining pins 3 be introduced into the locking positions.

Bei diesem Einstellvorgang wird über die Befestigungsmittel 5 der Einstellvorrichtung 4 zunächst das Klemmstück 10 gegen die wirkende Federkraft in das Innere des Gehäusekörpers 9 geschoben, so dass das Klemmstück 10 keine Haltkräfte mehr auf die Kontaktstifte 3 ausübt.In this adjustment process is about the fasteners 5 the adjustment 4 first the clamping piece 10 against the acting spring force in the interior of the housing body 9 pushed so that the clamping piece 10 no more holding forces on the contact pins 3 exercises.

Nun sind die Kontaktstifte 3 nur noch mit den geringen, von den Federstiften 11 ausgeübten Haltekräften gehalten. In diesem Zustand erfolgt über die Befestigungsmittel 5 der Einstellvorrichtung 4 die Vorgabe des gewünschten Rasters. Hierzu werden mit den vorzugsweise hebelförmig ausgebildeten Befestigungsmittel 5 die einzelnen Kontaktstifte 3 entweder in die Rastposition oder in die Prüfposition geschoben und zwar gegen die von den Federstiften 11 nach wie vor ausgeübten Federkräfte. Nachdem das gewünschte Raster von vorgegebenen in die Prüfpositionen eingebrachten Kontaktstiften 3 erhalten ist, werden die Befestigungsmittel 5 von dem Wechselkopf 2 weggefahren. Dadurch wird das Klemmstück 10 wieder über die Federkraft gegen die Kontaktstifte 3 gedrückt, so dass diese wieder mit den großen Haltekräften des Klemmstücks 10 lagegesichert sind.Now the pins are 3 only with the small, of the spring pins 11 held holding forces. In this state, via the fastening means 5 the adjustment 4 the specification of the desired grid. For this purpose, with the preferably lever-shaped fastening means 5 the individual contact pins 3 either pushed into the detent position or in the test position and against that of the spring pins 11 still exerted spring forces. After the desired grid of predetermined introduced into the test positions pins 3 is obtained, the fasteners 5 from the replaceable head 2 drove away. This will be the clamping piece 10 again via the spring force against the contact pins 3 pressed so that these again with the large holding forces of the clamping piece 10 are secured.

Nun kann der Wechselkopf 2 in die Sollposition am Elektronikmodul eingefahren werden, wobei der Wechselkopf 2 in bekannter Weise von oben auf das Elektronikmodul geführt ist. Dabei können nur die Kontaktstifte 3, die in die Prüfpositionen eingebracht wurden, in Kontakt mit den Kontaktstellen des Elektronikmoduls. Da die Kontaktstellen der Kontaktstifte 3, die in die Rastpositionen eingebracht wurden, höher liegen als die Kontaktspitzen 3a der Kontaktstifte 3 in den Prüfpositionen, sind die Kontaktspitzen 3a der Kontaktstifte 3 in den Rastpositionen nicht in Eingriff mit dem Elektronikmodul.Now the replaceable head 2 be retracted to the desired position on the electronic module, wherein the replaceable head 2 is guided in a known manner from above the electronics module. Only the pins can do this 3 , which were placed in the test positions, in contact with the contact points of the electronic module. Because the contact points of the contact pins 3 , which were introduced into the locking positions, are higher than the contact tips 3a the contact pins 3 in the test positions, are the contact tips 3a the contact pins 3 not engaged with the electronic module in the detent positions.

Vor Anfahren jeder Sollposition am Elektronikmodul wird über die Einstellvorrichtung 4 das hierfür erforderliche, an die Anordnung der Kontaktstelle des Elektronikmoduls angepasste Raster von Kontaktstiften 3 in den Prüfpositionen generiert, wobei davon jeweils der vorher beschriebene Einstellvorgang mittels der Einstellvorrichtung 4 durchgeführt wird.Before approaching each target position on the electronic module is via the adjustment 4 the required for this purpose, adapted to the arrangement of the contact point of the electronic module grid of contact pins 3 generated in the test positions, of which each of the previously described adjustment by means of the adjustment 4 is carried out.

BezugszeichenlisteLIST OF REFERENCE NUMBERS

11: Testvorrichtungtest device
22: Wechselkopfchange head
33: Kontaktstiftpin
3a3a: Kontaktspitzencontact tips
44: Einstellvorrichtungadjustment
55: Befestigungsmittelfastener
66: Verbindungselementconnecting element
77: Anschlussmittelconnection means
88th: Messvorrichtungmeasuring device
99: Gehäusekörperhousing body
1010: Klemmstückclamp
1111: Federstiftfeather pen
1212: FederkontaktstiftSpring contact pin

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG QUOTES INCLUDE IN THE DESCRIPTION

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Zitierte PatentliteraturCited patent literature

EP 0807258 B1 [0005]

Claims

Test device ( 1 ) for testing an electronic module with a replaceable head ( 2 ), to which a measuring device ( 8th ) connected pins ( 3 ) are positionally adjustable, and with a the replaceable head ( 2 ) associated adjusting device ( 4 ), by means of which a grid of contact pins ( 3 ) can be specified for testing the electronic module, in which only these pins ( 3 ) in a test position on the replaceable head ( 2 ) are introduced.

Test device ( 1 ) according to claim 1, characterized in that the replaceable head ( 2 ) a clamping piece ( 10 ), wherein by means of the clamping piece ( 10 ) holding forces the contact pins ( 3 ) are held in predetermined positions.

Test device ( 1 ) according to claim 2, characterized in that for positional adjustment of contact pins ( 3 ) the clamping piece ( 10 ) by means of the adjusting device ( 4 ) is adjusted so that the clamping piece ( 10 ) out of engagement with the contact pins ( 3 ).

Test device ( 1 ) according to one of claims 2 or 3, characterized in that in addition to the clamping piece ( 10 ) Spring pins ( 11 ) for fixing the position of the contact pins ( 3 ) are provided, wherein the holding forces of the spring pins ( 11 ) for fixing the position of the contact pins ( 3 ) are considerably smaller than those of the clamping piece ( 10 ) on the contact pins ( 3 ) holding forces.

Test device ( 1 ) according to claim 4, characterized in that given a position adjustment predetermined contact pins ( 3 ) against the spring contact pins ( 12 ) applied holding forces between a test position and a locking position can be adjusted.

Test device ( 1 ) according to one of claims 1 to 5, characterized in that the adjusting device ( 4 ) Comprises actuation means by means of which individual contact pins ( 3 ) are adjustable.

Test device ( 1 ) according to one of claims 1 to 6, characterized in that the replaceable head ( 2 ) has a flat side wall on which the contact pins ( 3 ) are arranged in a linear arrangement with vertically oriented longitudinal axes.

Test device ( 1 ) according to claim 7, characterized in that the contact pins ( 3 ) are arranged adjustable in height.

Test device ( 1 ) according to one of claims 1 to 8, characterized in that the adjusting device ( 4 ) with the replaceable head ( 2 ) forms a structural unit.

Test device ( 1 ) according to one of claims 1 to 9, characterized in that the adjustment of the grid of the contact pins ( 3 ) is computer controlled.