DE202005013160U1 - Ions measuring device, has collector electrode and secondary electrons multiplier that are used as detectors, and deflecting unit deflecting ions or secondary particles e.g. electrons, in absorber or multiplier - Google Patents
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Abstract
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Messung von Ionen durch Kopplung unterschiedlicher Messtechniken.The The invention relates to a device for measuring ions by Coupling of different measuring techniques.
Die Messung von Ionen ist insbesondere in Verbindung mit massenspektrometrischen Analyseverfahren von Bedeutung. Aus einer Materialprobe, etwa im Rahmen einer Materialanalyse, werden Ionen generiert, nach Massen oder anderen Kriterien separiert und in einem Detektor oder einer ähnlichen Einrichtung detektiert.The Measurement of ions is particularly associated with mass spectrometry Analysis method of importance. From a material sample, about in As part of a material analysis, ions are generated, according to masses or other criteria, and in a detector or similar device detected.
Als
Detektoren grundsätzlich
bekannt sind Auffänger,
zum Beispiel Faraday-Cups, mit deren Hilfe der Ionenstrom als Spannung
an einem hohen Widerstand bzw. an einem Verstärker mit hohem Widerstand messbar
ist. Daneben sind Sekundärelektronenvervielfacher
(SEV) bekannt. Diese arbeiten am Eingang mit einer Konversions-Dynode,
an deren Oberfläche
die eingehenden Ionen neutralisiert und zugleich Elektronen freigesetzt
werden. Die Elektronen werden dann innerhalb des SEV von Stufe zu Stufe
vervielfacht, so dass auch kleinste Ionenmengen nachweisbar sind.
Bekannt ist auch bereits das Betreiben eines SEV in zwei unterschiedlichen
Betriebsarten, nämlich
im Analog-Modus und im Zähl-Modus.
Für die
Erfassung der Elektronen im Analog-Modus wird ein Signal an einer
der mittleren Stufen abgegriffen. Der Zähl-Modus erfasst die an der
letzten Stufe des SEV ankommenden Elektronen. Analog-Modus und Zähl-Modus
laufen parallel nebeneinander, etwa in dem Massenspektrometer Finnigan
Element
In bestimmten Anwendungsfällen ist ein hoher dynamischer Messbereich von mehr als neun Größenordnungen (größer 109) zweckmäßig. Beispielsweise ist es in der massenspektrometrischen Materialanalyse, etwa in der Laser-Ablations-ICP-Massenspektrometrie oder der Glow-Discharge-Massenspektrometrie (GD-MS) von Interesse, zur Quantifizierung kleiner Verunreinigungen oder Dotierungen sowohl die Hauptkomponente (Matrix) als auch die Verunreinigungen oder Dotierungen messen zu können. Oft ist auch von Interesse ein im Massenspektrometer verwendetes Prozessgas (Träger), beispielsweise Argon oder andere Edelgase, zu erfassen. Für viele Anwendungen, insbesondere der GD-MS, ist es interessant, die Nachweisgrenze für Verunreinigungen oder Dotierungen zu verringern. Kleinste Spuren der vorhandenen Komponenten sollen möglichst im Sub-ppb-Bereich gleichzeitig neben dem Hauptbestandteil (Matrix) nachweisbar sein. Daneben ist es wünschenswert effizient und schnell zu messen, da beispielsweise bei Anwendungen der GD-MS kontinuierlich Analytmaterial von der Probenoberfläche abgetragen wird. In Abhängigkeit von der Tiefe der Probe kann sich die Materialzusammensetzung ändern.In certain applications, a high dynamic range of more than nine orders of magnitude (greater than 10 9 ) is appropriate. For example, in mass spectrometric material analysis, such as in laser ablation ICP mass spectrometry or glow-discharge mass spectrometry (GD-MS), it is of interest to quantify small impurities or dopants both the major component (matrix) and the impurities or To be able to measure dopings. Often it is also of interest to use a process gas (carrier) used in the mass spectrometer, for example argon or other noble gases. For many applications, in particular GD-MS, it is interesting to reduce the detection limit for impurities or dopants. Smallest traces of the existing components should be detectable in the sub-ppb range at the same time as the main component (matrix). In addition, it is desirable to measure efficiently and quickly since, for example, in GD-MS applications, analyte material is continuously removed from the sample surface. Depending on the depth of the sample, the composition of the material may change.
Mit der Erfindung sollen Messungen in möglichst kurzer Zeit über einen hohen dynamischen Bereich möglich sein. Vorzugsweise soll eine Zeit von 1 ms pro Messkanal eingehalten werden. Angestrebt ist außerdem ein dynamischer Bereich von 12 Größenordnungen oder mehr (101 2=Sub-ppb), beispielsweise 1 cps bis > 101 2cps.With the invention measurements should be possible in the shortest possible time over a high dynamic range. Preferably, a time of 1 ms per measuring channel should be maintained. The aim is also a dynamic range of 12 orders of magnitude or more (10 1 2 = sub-ppb), for example 1 cps to> 10 1 2 cps.
Die Merkmale der erfindungsgemäßen Vorrichtung sind Anspruch 1 entnehmbar. Danach ist ein erster Detektor ein Auffänger und zweiter Detektor ein SEV, wobei die zu messenden Ionen oder resultierende Sekundärteilchen wahlweise in den Auffänger oder den SEV geleitet werden. Durch Kopplung der beiden Detektortypen ist ein großer dynamischer Messbereich abdeckbar, auch für hohe Ionenströme.The Features of the device according to the invention are claim 1 removable. Thereafter, a first detector is a catcher and second detector an SEV, where the ions to be measured or resulting offspring optionally in the interceptor or the SEV. By coupling the two detector types is a big dynamic measuring range can be covered, even for high ionic currents.
Vorzugsweise wird der SEV wahlweise im Analog-Modus und im Zähl-Modus betrieben. Dies ergibt einen weiter erhöhten dynamischen Messbereich. Auch können die Messbereiche einander überlappen. Dies kann vorteilhaft sein beim Normieren der Messungen untereinander.Preferably the SEV is operated alternatively in the analog mode and in the counting mode. This results a further increased dynamic measuring range. Also can the measuring ranges overlap one another. This can be advantageous when normalizing the measurements with one another.
Als Auffänger ist insbesondere mindestens ein Farady-Cup vorgesehen. Dessen Technik ist bekannt und muss hier nicht weiter erläutert werden. Vorzugsweise wird der Auffänger mit einer integrierenden elektronischen Schaltung (Integrator) betrieben. Dies ermöglicht Kurzeitmessungen im Bereich von 1 ms oder weniger. Ohne Integrator sind oft längere Messzeiten erforderlich, da dann das Einschwing- und Abklingverhalten der gemessenen elektrischen Größen längere Mindest-Messzeiten erfordert.When Interceptor In particular, at least one Farady Cup is provided. His technique is known and need not be explained here. Preferably Will the interceptor with an integrating electronic circuit (integrator) operated. this makes possible Short-term measurements in the range of 1 ms or less. Without integrator are often longer Measuring times required, because then the transient and decay behavior the measured electrical quantities longer minimum measurement times requires.
Vorteilhafterweise werden bei der Messung unter Verwendung des SEV aus den Ionen zunächst Sekundärteilchen erzeugt und dann diese Sekundärteilchen in den SEV geleitet. Bei den Sekundärteilchen handelt es sich in der Regel um Elektronen. Diese werden außerhalb des SEV erzeugt, etwa an einer separaten Konversions-Dynode. Der Vorteil dieser Maßnahme liegt in der verlängerten Lebensdauer des SEV und in einer Verringerung von Massenabhängigkeiten der Messergebnisse.advantageously, For example, in the measurement using the SEV, the ions are first secondary particles generates and then these secondary particles directed to the SEV. The secondary particles are in usually around electrons. These are generated outside the SEV, such as on a separate conversion dynode. The advantage of this measure is in the extended one Lifetime of the SEV and in a reduction of mass dependencies the measurement results.
Vorzugsweise überlappen die Messbereiche des Auffängers und des SEV einander, insbesondere um mindestens zwei Größenordungen (102). Analog kann dies für die Messbereiche innerhalb des SEV gelten, nämlich für den Zähl-Modus einerseits und den Analog-Modus andererseits. Die Überlappung der Messbereiche ermöglicht eine einfachere Kalibrierung der verschiedenen Messbereiche gegeneinander. Vorzugsweise werden die verschiedenen Messbereiche während der Messung gegeneinander kalibriert.The measuring ranges of the catcher and the SEV preferably overlap one another, in particular by at least two orders of magnitude (10 2 ). Analogously, this can apply to the measuring ranges within the SEV, namely for the counting mode on the one hand and the analogue mode on the other hand. The overlapping of the measuring ranges makes it easier to calibrate the different measuring ranges at the. Preferably, the different measuring ranges are calibrated against each other during the measurement.
Vorteilhafterweise erfolgt die Kalibrierung durch Messung von ein und derselben Ionen-Masse für alle Messbereiche oder für zumindest je zwei benachbarte Messbereiche und Abgleich der Ergebnisse. Bei Verwendung von Argon als Trägergas kann beispielsweise ein Argon-Isotop geeigneter Intensität, etwa das Argon-Isotop mit der Massenzahl 36 für eine Kalibrierung aller drei Messbereiche verwendet werden. Das den Detektoren vorgeschaltete Massenspektrometer führt einen Scan über den betreffenden Massenbereich durch. Die anfallenden Ergebnisse lassen sich in einem Diagramm als Signal-Peak für das genannte Isotop darstellen. Eine Überlappung von Messbereichen liegt dann in einem unteren Teil der ansteigenden Peak-Flanke und an der Spitze des Peaks vor. Die Kalibrierung der Messbereiche gegeneinander kann während der laufenden Messung erfolgen, so dass die Messergebnisse sofort gegeneinander normiert werden.advantageously, Calibration is performed by measuring one and the same ion mass for all measuring ranges or for at least two adjacent measuring ranges and comparison of the results. When using argon as a carrier gas For example, an argon isotope of suitable intensity, such as the argon isotope with the mass number 36 for a calibration of all three Measuring ranges are used. The upstream of the detectors Mass spectrometer leads a scan over the relevant mass range. The results can be represented in a diagram as a signal peak for said isotope. An overlap of measuring ranges then lies in a lower part of the rising Peak flank and at the top of the peak. The calibration of the Measuring ranges against each other during the current measurement done so that the measurement results are normalized against each other immediately become.
Vorteilhafterweise sind die zu messenden Ionen zuvor in einem Massenspektrometer separierbar. Bevorzugt ist ein doppelt fokussierendes Massenspektrometer mit einem magnetischen und einem elektrostatischen Sektor oder ein Quadrupol-Massenspektrometer. Bevorzugte Techniken sind die ICP-Massenspektrometrie, die ICP-Massenspek trometrie gekoppelt mit Laser-Ablation oder die Glow-Discharge-Massenspektrometrie (GD-MS).advantageously, the ions to be measured are previously separable in a mass spectrometer. Preference is given to a double-focusing mass spectrometer a magnetic and an electrostatic sector or a quadrupole mass spectrometer. Preferred techniques are ICP mass spectrometry, ICP mass spectrometry coupled with laser ablation or glow-discharge mass spectrometry (GD-MS).
Bevorzugte Anwendungen sind die massenspektrometrische Materialanalyse, etwa die Messung von Verunreinigungen oder Dotierungen in einer Hauptkomponente (Matrix).preferred Applications include mass spectrometric material analysis, such as the measurement of impurities or dopants in a main component (Matrix).
Ein weiteres Beispiel für eine Anwendung ist auch die GD-MS mit Erstellung eines Tiefenprofils einer Materialprobe. Je schneller der Detektor arbeitet und die Messungen durchführbar sind, umso höher ist die Tiefenauflösung.One another example of an application is also the GD-MS with creation of a depth profile a material sample. The faster the detector works and the Measurements feasible are, the higher the depth resolution.
Vorteilhaft ist auch die vorgesehene automatische Umschaltung zwischen den einzelnen Detektoren und den damit verbundenen Messbereichen. Nur so ist sinnvoll ein Tiefenprofil einer aus unterschiedlichen Schichten (mit stark unterschiedlicher Elementszusammensetzung) bestehenden Materialprobe erstellbar.Advantageous is also the intended automatic switching between the individual Detectors and the associated measuring ranges. This is the only way to make sense a depth profile of one of different layers (with strong different elemental composition) existing material sample buildable.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Messung von Ionen weist einen Auffänger als ersten Detektor und einen SEV als zweiten Detektor auf. Außerdem ist eine Umlenkeinheit, etwa ein Deflektor, zum wahlweisen Lenken der Ionen oder resultierender Sekundärteilchen in den Auffänger oder in den SEV vorgesehen.The inventive device for the measurement of ions has a catcher as the first detector and an SEV as the second detector. In addition, a deflection unit, such as a deflector, for selectively directing the ions or resulting offspring in the interceptor or in the SEV.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung kann dem SEV eine Konversions-Dynode vorgeordnet sein, so dass in den SEV nur Elektronen eintreten. Diese entstehen an der Konversions-Dynode nach dem Auftreffen der Ionen. Somit ist die Konversions-Dynode nicht Teil des SEV. Dadurch wird die Lebensdauer des SEV erhöht. Außerdem wird die Massenabhängigkeit einer eventuellen Kalibrierung verringert.To In another aspect of the invention, the SEV may have a conversion dynode be upstream so that only electrons enter the SEV. These occur at the conversion dynode after the impact of the ions. Thus, the conversion dynode is not part of the SEV. This will be the Life of the SEV increased. Furthermore becomes the mass dependency a possible calibration reduced.
Vorteilhafterweise ist die Umlenkeinheit so angeordnet und ausgerichtet, dass in einer Einstellung ohne oder mit nur geringer Ablenkung die Ionen in den Auffänger gelangen, und dass in einer Einstellung mit demgegenüber größerer Ablenkung die Ionen oder resultierende Sekundärteilchen in den SEV gelangen.advantageously, the deflection unit is arranged and aligned so that in one Setting with or without little distraction the ions in the Interceptor arrive, and that in a setting with contrast, greater distraction the ions or resulting secondary particles enter the SEV.
Vorteilhafterweise beinhaltet die Umlenkeinheit eine Konversions-Dynode, so dass die von der Ablenkeinrichtung in den SEV gelangenden Teilchen (Sekundär-) Elektronen sind.advantageously, the diverter unit includes a conversion dynode so that the Particles (secondary) electrons passing from the deflector into the SEV are.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung ist vorgesehen, dass die Umlenkeinheit eine Deflektor-Elektrode beinhaltet, die zwischen der Konversions-Dynode und dem SEV angeordnet ist, wobei die Deflektor-Elektrode mindestens einen Durchlass für die Elektronen aufweist. Vorzugsweise ist die Deflektor-Elektrode ringförmig oder zumindest mit einer mittigen Öffnung oder als Gitter ausgebildet zum Durchtritt der von der Konversions-Dynode kommenden Elektronen.To Another idea of the invention is that the deflection unit a deflector electrode included between the conversion dynode and the SEV, wherein the deflector electrode is at least a passage for having the electrons. Preferably, the deflector electrode annular or at least formed with a central opening or as a grid for passage of the electrons coming from the conversion dynode.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung weist der SEV mindestens zwei Abgriffe (Signal-Ausgänge) auf, nämlich einen Abgriff für einen Analog-Modus und einen Abgriff für einen Zähl-Modus.To In another aspect of the invention, the SEV has at least two Taps (signal outputs) on, namely a tap for an analog mode and a tap for a count mode.
Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann eine Umschalteinheit zum Umschalten zwischen einem Signalausgang des Auffängers und den Abgriffen des SEV aufweisen. Vorgesehen ist ein ständiges Umschalten zwischen den verschiedenen Detektoren und/oder zwischen den Abgriffen des SEV zur Abdeckung eines hohen dynamischen Messbereiches innerhalb einer Messung. Die Umschalteinheit kann Teil einer Auswertungseinheit sein. Vorzugsweise wird zwischen den Abgriffen des SEV nicht umgeschaltet, sondern entweder der Auffänger abgegriffen oder beide Ausgänge des SEV zugleich. Ab einer Schwelle wird automatisch der Zähl-Modus abgeschaltet und nur noch der Analog-Modus verwendet, um die hinteren Dynoden des SEV vor Überlastung zu schützen und Nichtlinearitäten und größere Totzeiteffekte zu minimieren.The inventive device may be a switching unit for switching between a signal output of the interceptor and the taps of the SEV. Provided is a constant switching between the different detectors and / or between the taps of the SEV to cover a high dynamic range within a measurement. The switching unit can be part of an evaluation unit be. Preferably, there is no switching between the taps of the SEV, but either the interceptor tapped or both outputs the SEV at the same time. From a threshold, the counting mode automatically becomes turned off and only the analog mode used to the rear Dynodes of the SEV from overloading too protect and nonlinearities and greater deadtime effects to minimize.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung ist dem Auffänger ein Integrator zugeordnet zum Integrieren des aus dem Auffänger abgeleiteten Signals. Üblicherweise wird der in einen Auffänger gerichtete Ionenstrom über einen hohen Widerstand abgeleitet und die dabei auftretende Spannung gemessen. Die Spannung ist dann ein Maß für den auftretenden Ionenstrom. Auf Grund der Einschwing- und Abklingvorgänge ist die hierfür erforderliche Messzeit relativ groß. Verkürzbar ist die Messzeit durch die Verwendung des Integrators am Auffänger, etwa an einem Faraday-Cup. Auf diese Weise sind Messintervalle von nur 1 ms unabhängig von der Signalhöhe und der Signalhöhe auch des vorigen Messwertes möglich. Der Integrator ist eine einfache elektronische Schaltung zur Aufsummierung (Integration) des anfallenden Ionenstroms und bedarf keiner weiteren Erläuterung.According to a further aspect of the invention, the collector is assigned an integrator for integrating the signal derived from the interceptor. Usually, the ion current directed into a collector is dissipated via a high resistance and the resulting voltage is measured. The voltage is then a measure of the ionic current that occurs. Due to the transient and decay processes, the required measurement time is relatively large. The measuring time can be shortened by using the integrator on the receiver, for example on a Faraday Cup. In this way, measuring intervals of only 1 ms are possible regardless of the signal level and the signal level of the previous measured value. The integrator is a simple electronic circuit for summation (integration) of the resulting ion current and requires no further explanation.
Nach einem weiteren Gedanken der Erfindung ist eine Kalibriereinheit vorgesehen zum Kalibrieren der Ergebnisse der Messung mit dem Auffänger gegenüber der Messung mit dem SEV im Analog-Modus und zum Kalibrieren der Ergebnisse der Messung mit dem SEV im Analog-Modus gegenüber dem SEV im Zähl-Modus (oder umgekehrt). Zweckmäßig ist eine Realisierung der Kalibriereinheit als Software, nämlich als Bestandteil einer Software zum Auswerten der einzelnen Signale und/oder als Teil einer Auswertungseinheit.To Another idea of the invention is a calibration unit provided for calibrating the results of the measurement with the catcher against the Measure with the SEV in analog mode and calibrate the results the measurement with the SEV in analog mode versus the SEV in the counting mode (or the other way around). Is appropriate a realization of the calibration unit as software, namely as a component a software for evaluating the individual signals and / or as Part of an evaluation unit.
Weitere Merkmale der Erfindungen ergeben sich aus den Patentansprüchen und aus der Beschreibung im Übrigen.Further Features of the invention will become apparent from the claims and from the description by the way.
Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung werden nachfolgend anhand von Zeichnungen näher dargestellt. Es zeigen:advantageous embodiments The invention will be described in more detail below with reference to drawings. Show it:
Gemäß
Der
Ionenstrom gelangt dann in eine Umlenkeinheit
Der
SEV
Die über die
beiden Detektoren (Auffänger
Die
Umlenkeinheit
Mit
der erfindungsgemäßen Vorrichtung
und dem erfindungsgemäßen Verfahren
sind Messungen über
einen dynamischen Messbereich von mehr als 9 Größenordnungen (109)
möglich.
Insbesondere kann über
12 Größenordnungen
(101 2) gemessen werden.
Möglich
ist dies hier durch Aneinanderreihung von drei Messbereichen, nämlich dem
Messbereich des Auffängers
Die
genannten Messbereiche überlappen einander
um vorzugsweise je zwei Größenordungen (102). Die Überlappung
der Messbereiche ist in
Wesentlicher Vorteil der einander überlappenden Messbereiche ist die Möglichkeit der automatischen Kalibrierung während der laufenden Messung. Die Signale können im Überlappungsbereich zweier Messbereiche miteinander verglichen und gegeneinander normiert werden, so dass Korrekturfaktoren oder -Summanden auch außerhalb der Messbereichsüberlappungen verwendet werden können.essential Advantage of overlapping each other Measuring ranges is the possibility automatic calibration during the current measurement. The signals can be in the overlap area of two measuring ranges compared with each other and normalized against each other, so that Correction factors or summations also outside the measuring range overlaps can be used.
Demgegenüber überlappen der Messbereich für den Analog-Modus und der Messbereich für den Zähl-Modus einander in einem unteren Bereich desselben Peaks, nämlich zu Beginn einer Anstiegsflanke oder am Ende einer Abstiegsflanke. Entsprechend wird dort die Kalibrierung der beiden genannten Messbereiche gegeneinander durchgeführt.In contrast, overlap the measuring range for the analogue mode and the measuring range for the counting mode in one lower portion of the same peak, namely at the beginning of a rising edge or at the end of a descent. Accordingly, there is the calibration the two mentioned measuring ranges against each other.
Der besondere Vorteil liegt hier darin, dass während eines einzigen Scans mit ein und derselben Ionen-Masse eine Kalibrierung insgesamt (für alle Messbereiche) durchgeführt werden kann.Of the particular advantage here is that during a single scan with one and the same ion mass one calibration in total (for all measuring ranges) carried out can be.
- 1010
- Ionenquelleion source
- 1111
- Analysatoranalyzer
- 1212
- Filterelement/IonenoptikFilter element / ion optics
- 1313
- Filterelement/EnergiefilterFilter element / energy filter
- 1414
- UmlenkeinheitReturn unit
- 1515
- Konversions-DynodeConversion dynode
- 1616
- Deflektor-ElektrodeDeflector electrode
- 1717
- AuffängerInterceptor
- 1818
- SEVSEV
- 1919
- Abgriff (Analog-Modus)tap (Analog mode)
- 2020
- Abgriff (Zähl-Modus)tap (Count Mode)
- 2121
- Auswertungseinheitevaluating unit
- 2222
- elektrostatischer Analysatorelectrostatic analyzer
Claims (13)
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
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Family Applications (1)
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