DE202004007653U1 - Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren - Google Patents
Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren Download PDFInfo
- Publication number
- DE202004007653U1 DE202004007653U1 DE200420007653 DE202004007653U DE202004007653U1 DE 202004007653 U1 DE202004007653 U1 DE 202004007653U1 DE 200420007653 DE200420007653 DE 200420007653 DE 202004007653 U DE202004007653 U DE 202004007653U DE 202004007653 U1 DE202004007653 U1 DE 202004007653U1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- measuring
- tactile
- optically
- touchable
- lengths
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Ein-,
zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen
Größe Länge mit kombiniert
optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider
Antastverfahren dadurch gekennzeichnet, dass sie optisch-taktil
abtastbare Messflächen
aufweisen, die mit einer Oberflächenstruktur homogen
angeordneter, halbkugelförmiger
Vertiefungen und Erhebungen im Bereich von (je nach Herstellungsverfahren)
wenigen Nanometern bis ca. 50 Mikrometern versehen sind.
Description
- Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen sowie systematischem Maßbezug beider Antastverfahren
- Maßverkörperungen sind in der Längenmesstechnik gebräuchliche Normale zur Übertragung bzw. Rückführung der Messgröße Länge. Hierzu werden ein-, zwei-, und dreidimensionale Maßverkörperungen eingesetzt.
- Unter eindimensionalen Maßverkörperungen sind Normale zu verstehen, deren dargestellte Länge(n) entlang einer Messlinie angeordnet sind. Bei zweidimensionalen Maßverkörperungen sind die dargestellten Längen in einer Ebene angeordnet. Dreidimensionale Maßverkörperungen stellen die Längen im Volumen (= dreidimensional) dar.
- Herkömmliche Maßverkörperungen sind in der Regel entweder taktil (mechanisch) oder optisch (Lasertriangulation, Laser-Fokus-Systeme, Streifenprojektionssysteme) antastbar. Eine gleichzeitige Anwendung beider Antastverfahren wurde bisher nur in wenigen Ausnahmefällen realisiert, wobei die Messergebnisse der beiden Verfahren keinen systematischen (= eindeutigen) Zusammenhang aufweisen. So sind die Messergebnisse der unterschiedlichen Antastverfahren bislang untereinander nicht verifizierbar.
- Der im Schutzanspruch 1. angegebenen Erfindung liegt das Problem zugrunde, Maßverkörperungen zu schaffen, deren Messflächen sowohl taktil als auch optisch antastbar sind und deren Maße bei der Anwendung beider Messverfahren korrelieren, d.h. deren mit beiden Antastverfahren ermittelten Messergebnisse innerhalb ihrer definierten Messunsicherheit systematischen Bezug haben.
- Übliche Präzisionsbearbeitete Oberflächen, wie sie an Maßverkörperungen für taktile Antastung typisch sind, reflektieren das Licht gemäß der optischen Gesetzmäßigkeiten (Eintrittswinkel = Austrittswinkel) unmittelbar. Diese Form der Reflektion ist jedoch für optische Sensoren ungeeignet, da diese diffus reflektierende Oberflächen benötigen, um geeignete Messsignale zu erhalten.
- Dieses Problem wird mit den im Schutzanspruch 1. aufgeführten Merkmalen gelöst.
- Mit der Erfindung wird erreicht, dass durch die Ausstattung taktil abtastbarer Messflächen mit speziellen sphärischen Strukturen, eine ausreichend diffuse Reflektion erfolgt, welche eine ebenfalls optische Antastbarkeit der Messfläche ermöglicht. Die Erfindung ist auf allen gebräuchlichen Prüfkörpern der Messgröße Länge anwendbar.
Claims (2)
- Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren dadurch gekennzeichnet, dass sie optisch-taktil abtastbare Messflächen aufweisen, die mit einer Oberflächenstruktur homogen angeordneter, halbkugelförmiger Vertiefungen und Erhebungen im Bereich von (je nach Herstellungsverfahren) wenigen Nanometern bis ca. 50 Mikrometern versehen sind.
- Maßverkörperungen nach Anspruch 1. dadurch gekennzeichnet, dass sie Messflächen mit Hartmetallbeschichtungen zur Verbesserung der mechanischen Belastbarkeit aufweisen
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200420007653 DE202004007653U1 (de) | 2004-05-10 | 2004-05-10 | Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200420007653 DE202004007653U1 (de) | 2004-05-10 | 2004-05-10 | Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE202004007653U1 true DE202004007653U1 (de) | 2004-10-21 |
Family
ID=33395248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200420007653 Expired - Lifetime DE202004007653U1 (de) | 2004-05-10 | 2004-05-10 | Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE202004007653U1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8826719B2 (en) | 2010-12-16 | 2014-09-09 | Hexagon Metrology, Inc. | Machine calibration artifact |
-
2004
- 2004-05-10 DE DE200420007653 patent/DE202004007653U1/de not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8826719B2 (en) | 2010-12-16 | 2014-09-09 | Hexagon Metrology, Inc. | Machine calibration artifact |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1636542B1 (de) | Verfahren und messvorrichtung zur berührungslosen messung von winkeln oder winkeländerungen an gegenständen | |
WO2009024344A1 (de) | Optische mikrosonde | |
DE102014224246A1 (de) | Systeme und verfahren zur lochmessung unter verwendung eines nicht drehenden chromatischen punktsensor- (cps) stifts | |
DE102011083421A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen homogen reflektierender Oberflächen | |
EP1610089A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Winkeln optischer Oberflächen | |
DE102005005816A1 (de) | Vorrichtung zur Positionsbestimmung voneinander distanzierter Bereiche in transparenten und/oder diffusen Objekten | |
DE102005007244A1 (de) | Formerfassung von reflektierenden Oberflächen in Echtzeit | |
DE10152038C5 (de) | Verfahren zur optoelektronischen Bestimmung von Gewindeparametern | |
DE112016001137B4 (de) | Mit Abschnitt zur Positionsbestimmung versehenes Element und Messverfahren | |
EP1585938B1 (de) | Optisches messverfahren und prazisionsmessmaschine zur ermittlung von idealformabweichungen technisch polierter oberflachen | |
DE202004007653U1 (de) | Ein-, zwei- und dreidimensionale Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit kombiniert optisch und taktil antastbaren Messflächen mit systematischem Maßbezug beider Antastverfahren | |
WO2019206371A1 (de) | Verfahren sowie vorrichtung zur prüfung geometrischer eigenschaften optischer komponenten | |
EP2994717A1 (de) | Anordnung zur dreidimensionalen erfassung eines länglichen innenraumes | |
DE102017117368A1 (de) | Element, welches mit einem Abschnitt zum Positionsermitteln bereitgestellt ist, und Messverfahren | |
DE102021117104A1 (de) | Kalibriernormal zur Messung des Winkels zwischen einer optischen Achse eines Autokollimators und einer mechanischen Linearachse | |
DE19618558C2 (de) | Vorrichtung zur Prüfung von Tieflochbohrungen | |
WO2002004888A1 (de) | Interferometrische, kurzkohärente formmessvorrichtung für mehrere flächen (ventilsitz) durch multifokaloptik, optiksegmente oder hohe schärfentiefe | |
DE202007002917U1 (de) | Massverkörperungen der physikalischen Größe, Länge mit optisch und taktil antastbaren Messflächen aus spezifischer Keramik | |
DE102013219436B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur optischen Analyse eines reflektierenden Prüflings | |
DE102013018569B4 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Vermessung zumindest teilweise reflektierender Oberflächen | |
DE102020102959B4 (de) | Oberflächen-Messsystem und Verfahren zum Vermessen einer Oberfläche eines Prüflings | |
WO1989011630A1 (en) | Process and device for measuring surfaces | |
DE102011077982B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Analyse eines Prüflings | |
DE4138562A1 (de) | Mikroprofilometermesskopf | |
DE102017001524A1 (de) | Anordnung zur Vermessung zumindest teilweise reflektierender Oberflächen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R207 | Utility model specification |
Effective date: 20041125 |
|
R150 | Term of protection extended to 6 years |
Effective date: 20071121 |
|
R157 | Lapse of ip right after 6 years |
Effective date: 20101201 |