DE19929406A1 - Zeilen-OCT als optischer Sensor für die Meß- und Medizintechnik - Google Patents
Zeilen-OCT als optischer Sensor für die Meß- und MedizintechnikInfo
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Abstract
Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen in einer Probe mit einem bzgl. eines Referenzzeitpunktes zu einem Meßstrahl koherenten Referenzstrahls und mit einer Einrichtung zur räumlichen Überlagerung des von der Probe reflektierten Meßstrahls mit dem Referenzstrahl, wobei dieser Einrichtung eine Auswerteeinheit mit einem Detektor zugeordnet ist, wobei der Referenzstrahl (9) und der Meßstrahl (7) bei einer mindestens auf einem Teilbereich (27) überlappenden flächigen Bestrahlung einer dem Detektor (25) zugeordneten Sensorfläche (29) in einem Abstand (35) voneinander angeordnet sind.
Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung und ein Verfahren zur Aufnahme von
Tiefenprofilen in einer Probe. Zur Aufnahme eines Tiefenprofils wird die Probe mit einem
Meßstrahl beleuchtet, wobei die von der Probe reflektierte Strahlung mit Strahlung eines
Referenzstrahles räumlich überlagert wird. Aus der Überlagerung resultiert ein
Interferenzmuster. Die Strahlungsintensität des Interferenzmusters wird mittels eines
Detektors aufgenommen und einer Auswerteeinheit zugeführt.
Es sind beispielsweise aus der DE 32 01 801 C2, aus der WO 92/19930 sowie aus dem
Artikel "Optical Coherence Tomography" von David Huang et al., veröffentlicht in
SCIENCE, VOL. 254, Seite 1178-1181 vom 22.11.1991, Vorrichtungen und Verfahren
bekannt, die ein Michelson Interferometer mit einem Meßzweig und einem Referenzzweig
aufweisen. Bei diesen Michelson Interferometern wird die von der Probe reflektierte
Strahlung des Meßzweigs mit der Strahlung des Referenzzweiges überlagert, wobei der
Weg den die Strahlung im Referenzzweig zurücklegt, moduliert wird. Als Lichtquelle sind
zeitlich inkohärente Lichtquellen, die multispektral sind, wie z. B. Glühlampen,
Gasentladungslampen und Laserdioden, vorgesehen. Nur bei identischen optischen
Weglängen von Referenzzweig und Meßzweig treten Interferenzerscheinungen bei
Überlagerung der Strahlung auf. Durch Variation der optischen Weglänge im
Referenzzweig wird ein Tiefenprofil der Probe aufgenommen, da nur die in der
entsprechenden Tiefe der Probe reflektierte Strahlung mit der Strahlung des
Referenzzweiges interferiert.
Nachteilig ist bei diesen Verfahren, die im Referenzzweig für die Modulation des optischen
Weges ein bewegtes Element erforderlich ist, wobei durch die
Modulationsgeschwindigkeit die für die Aufnahme eines Tiefenprofils erforderliche
Zeitspanne gegeben ist. Somit hängt die Zeit, die erforderlich ist um ein Tiefenprofil
aufzunehmen von der Scangeschwindigkeit des bewegten Elementes ab. Während einer
Aufnahme eines Tiefenprofils sollte eine Bewegung der Probe verhindert werden, da sonst
die Zuordnung von Meßpunkt des Tiefenprofils zu dem entsprechenden Meßpunkt in der
Probe nur unter Berücksichtigung der Bewegung der Probe möglich ist. Damit wird aber
eine 3-dimensionale Aufnahme einer Probe nahezu unmöglich, sofern die Bewegung der
Probe nicht steuerbar ist. Dadurch bedingt können Aufnahmen einer lebenden Probe nur
begrenzt bzw. mit begrenzter Genauigkeit durchgeführt werden. Insbesondere bei
lebenden Proben ist die erforderliche Belichtungszeit von gravierender Bedeutung.
Aus SPIE Vol. 2925, 298-303, 1996 mit Titel "Fast optical analysis in volume scatteres by
short coherence interferometry" ist es bekannt Tiefenprofile einer Probe aufzunehmen,
indem als Lichtquelle eine sehr breitbandige Quelle eingesetzt wird, wobei die von der
Lichtquelle ausgehende Strahlung mittels eines Strahlenteilers in einen Meßstrahl und in
einen Referenzstrahl aufgeteilt wird. Die Strahlung des Referenzzweiges legt bei der
Transmission durch ein im Referenzzweig angeordneten stark dispersiven Medium in
Abhängigkeit von der jeweiligen Wellenlänge in dem Referenzzweig unterschiedliche
optische Wege zurück. Anschließend wird die Strahlung des Referenzzweiges mit der von
der Probe reflektierten Strahlung überlagert. Der so gebildete Strahl wird mittels eines im
Strahlengang angeordneten Prismas nach Wellenlängen räumlich aufgespalten. Durch
Detektion der Intensität in Abhängigkeit von der dieser Position zugeordneten Wellenlänge
kann auf die Reflektivität in der entsprechenden Tiefe der Probe geschlossen werden.
Nachteilig ist bei diesem Verfahren, daß bei Proben, bei denen die Reflektivität stark von
der Wellenlänge des einstrahlenden Lichtes abhängt in Profiltiefen, denen eine
Wellenlänge zugeordnet ist, die bezogen auf das zu untersuchende Medium nur eine
vernachlässigbare Reflektivität aufweist, eine Untersuchung in dieser Profiltiefe nicht
möglich ist. Weiterhin wird durch das starke dispersive Medium, insbesondere dessen
Dispersivität, die maximale Scantiefe bzw. Profiltiefe beschränkt. Daraus resultiert, daß es
erforderlich sein kann, daß der Referenzstrahl große Wege im dispersivem Medium
zurücklegen muß, um einen akzeptablen Scanbereich durch eine entsprechende
Aufspaltung der Strahlung in Abhängigkeit von der Wellenlänge im Referenzzweig zu
erreichen.
Hinzu kommt, daß die Bereitstellung einer dementsprechend breitbandigen Lichtquelle nur
beschränkt möglich ist.
Aufgabe der Erfindung ist es eine Vorrichtung und ein Verfahren bereitzustellen, bei dem
die Aufnahme von Tiefenprofilen mittels sehr kurzer Lichtpulse möglich ist.
Weiterhin lag der Erfindung die Aufgabe zugrunde eine Vorrichtung und ein Verfahren zur
Aufnahme von Tiefenprofilen bereitzustellen, welche ohne bewegte Elemente im
Referenzzweig auskommen.
Die Aufgabe der Erfindung wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 und 10 gelöst.
Durch die Maßnahme bei einer Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen einen
Referenzstrahl und einen Meßstrahl beabstandet voneinander anzuordnen, wobei durch
diese eine einem Detektor zugeordnete Sensorfläche auf einem Teilbereich ihrer
Erstreckung gleichzeitig durch den Referenzstrahl und den Meßstrahl bestrahlt wird, ist ein
Verfahren und eine Vorrichtung geschaffen, mit der die Aufnahme von Tiefenprofilen mit
sehr kurzen Belichtungszeiten möglich ist, wobei der Überlappungsbereich ein Tiefenprofil
darstellt. Bei diesem Verfahren und dieser Vorrichtung sind keine bewegten Elemente zur
Modulation des optischen Weges in dem Referenzzweig erforderlich, da durch die
Bereitstellung einer flächigen Bestrahlung unterschiedliche optische Wege der jeweiligen
Strahlung bis zur Sensorfläche zurückzulegen sind bezogen auf einem dem jeweiligen
Strahl zugeordneten Strahlenausgang. Aus der Differenz der unterschiedlichen Wege für
die Strahlung des Referenzzweiges und des Meßstrahls bis zur Sensorfläche ergibt sich der
Meßpunkt in der entsprechenden Tiefe der Probe, damit eine konstruktive Interferenz der
entsprechenden Strahlung resultiert.
Die auf diesem Teilbereich, der gleichzeitig durch den Referenzstrahl und den Meßstrahl
bestrahlt wird, auftretenden Interferenzerscheinungen geben Aufschluß über die
Reflektivitäten der Probe und deren Beschaffenheit in den entsprechenden Tiefen.
Es hat sich als vorteilhaft herausgestellt dem Meßstrahl und dem Referenzstrahl eine Optik
zuzuordnen, durch die der jeweilige Strahl aufgeweitet wird, so daß die Sensorfläche
möglichst großflächig durch jeden Strahl bestrahlt wird. In Abhängigkeit von der
maximalen Differenz der optischen Wege von Strahlenausgang des jeweiligen Strahls bis
zum Erreichen der Sensorfläche wird die maximale Scantiefe in der Probe festgelegt.
Es hat sich als vorteilhaft herausgestellt den Meßstrahl und den Referenzstrahl in Fasern
bzw. Lichtleitern, vorzugsweise Monomodfasern, zu führen, die endseitig jeweils mit einer
Optik zur Aufweitung des jeweiligen Strahls versehen sind. Solche mit einer Optik zur
Bereitstellung einer hohen Apertur bzw. für die Aufweitung des Strahls versehene
Lichtleiter sind bereits als Standardbauteile kostengünstig erhältlich.
In einigen Ausführungsbeispielen hat es sich als vorteilhaft herausgestellt eine einzige
Optik für die Aufweitung von Meß- und Referenzstrahl vorzusehen. Ist insbesondere die
Sensorfläche in Form einer Sensorzeile ausgebildet, so hat es sich als vorteilhaft
herausgestellt eine Optik für eine Fokussierung der Strahlung von Meßstrahl und
Referenzstrahl auf diese Sensorzeile vorzusehen, wobei eine Aufweitung der jeweiligen
Strahlen in Richtung der Erstreckung der Sensorzeile erhalten bleibt, so daß ein möglichst
großer Teilbereich gleichzeitig durch Meß- und Referenzstrahl bestrahlt wird.
Das Vorsehen einer Sensorzeile ist zur Einsparung von Kosten vorteilhaft, da bereits durch
eine einzige Sensorzeile alle Informationen eines Tiefenprofils enthalten sind. Weitere
vorteilhafte Maßnahmen sind in weiteren Unteransprüchen beschrieben.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispieles näher beschrieben.
Es zeigt:
Fig. 1 schematische Darstellung einer Vorrichtung zur Aufnahme von
Tiefenprofilen;
Fig. 2 Detaildarstellung des den Detektor umfassenden Teilbereichs; und
Fig. 3 Detektor mit einer CCD-Zeile.
Anhand von Fig. 1 wird zunächst der prinzipielle Aufbau einer Vorrichtung 1 zur
Aufnahme von Tiefenprofilen beschrieben. Diese Vorrichtung 1 weist als Strahlungsquelle
3 eine Superlumineszenzdiode 4a auf, die zeitlich inkohärente Strahlung abgibt. Diese
Superlumineszenzdiode 4a stellt eine Weißlichtquelle 4 dar. Die von der
Superlumineszenzdiode 4a abgegebene Strahlung wird mit von einer Laserdiode 2
vermischt, die zeitlich kohärente Strahlung im für das menschliche Auge sichtbaren
Frequenzbereich abgibt. Diese Laserdiode 2 ist vorgesehen, um den Strahlenverlauf der im
nicht sichtbaren Bereich abgegebenen Strahlung der Superlumineszenzdiode 4a verfolgen
zu können. Die Strahlungsintensität des auf diese Weise gebildeten Strahls geht zu 90%
auf die Superlumineszenzdiode 4a und zu 10% auf die Laserdiode 2 zurück.
Selbstverständlich können auch andere Mischungsverhältnisse gewählt werden. Diese
Strahlung wird in einen Referenzzweig 16 bzw. Referenzstrahl 9, in den bei dem
dargestellten Ausführungsbeispiel 10% der Strahlungsintensität eingekoppelt werden, und
einen Meßzweig 14 bzw. Meßstrahl 7, in den die verbleibenden 90% eingekoppelt werden,
aufgeteilt.
In dem dargestellten Ausführungsbeispiel ist dem Referenzstrahl 9 ein Mischer 10
zugeordnet, durch den 50% der eingekoppelten Strahlung mit 50% der von einem in dem
Referenzzweig 16 angeordneten Spiegel 41 reflektierten Strahlung gemischt werden. Die
derart aufbereitete Strahlung des Referenzzweiges 9 wird mittels eines Lichtleiters 11 zu
einem Strahlenausgang 17 des Referenzzweiges 9 geleitet. Als Lichtleiter 11 werden
insbesondere Monomodfasern, durch die die optische Weglänge des Referenzzweiges 16
mit hoher Genauigkeit festgelegt und bekannt ist, verwendet.
Die in den Meßzweig 14 eingekoppelte Strahlung 7 wird ebenfalls durch einen Mischer 8
zu 50% mit der von der im Meßzweig 14 angeordneten Probe 13 reflektierten Strahlung
vermischt und ebenfalls über einen Lichtleiter 11 zu einem Strahlenausgang 15 geleitet.
Diese beiden Strahlenausgänge 15 und 17 sind beabstandet voneinander angeordnet. Von
jedem Strahlenausgang 15, 17 geht ein Lichtkegel 37 aus, der auf eine zu beleuchtende als
Sensorfläche 29 vorgesehene CCD-Zeile 33 eines Detektors 25 gerichtet ist. Durch diese
von den Strahlenausgängen 15, 17 des Meß- und Referenzstrahls 7, 9 ausgehenden
Lichtkegeln 37 wird ein Teilbereich 27 der CCD-Zeile 33 gleichzeitig beleuchtet. Nur bei
identischen zurückgelegten optischen Wegen der Strahlung 9 des Referenzzweiges 16 und
der Strahlung 7 des Meßzweiges 14 treten Interferenzerscheinungen auf, so daß durch
Detektion der Strahlungsintensität im Teilbereich 27 durch Auswertung der verschiedenen
zurückzulegenden Weglängen vom jeweiligen Strahlenausgang F1, F2 zum jeweiligen Ort
der CCD-Zeile ein Tiefenprofil der zu untersuchenden Probe abgeleitet wird, indem die
Differenz der zurückzulegenden optischen Wege bis zum Erreichen des jeweiligen Punktes
der CCD-Zeile 33 herangezogen wird. Dabei ist der optische Wege im Referenzzweig 16
und im Meßzweig 14 von der Strahlungsquelle 3 bis zum Strahlenausgang 15, 17 unter der
Annahme einer Reflektion der Strahlung im Meßzweig an einem vorbestimmten
Bezugspunkt, der vorzugsweise die Probenoberfläche ist, identischer Länge. Ausgehend
vom Referenzpunkt erhält man durch Division durch zwei der ermittelten Wegdifferenz
von den Strahlenausgängen 15, 17 zu der Sensorzeile 31 den entsprechenden Meßpunkt in
der entsprechenden Tiefe der Probe unter Berücksichtigung der optischen Dichte der
Probe.
Die mittels der CCD-Zeile 33 aufgenommenen Intensitäten werden einer zugeordneten
Auswerteeinheit 23, die mit einem Digital- oder Analogfilter versehen sein kann,
zugeleitet. Die von der Auswerteeinheit 23 ermittelten Reflektivitäten werden mittels einer
zugeordneten Bildverarbeitungeinrichtung 45 graphisch dargestellt.
Dieses Verfahren hat den Vorteil, daß zur Aufnahme eines Tiefenprofils ein sehr kurzer
Belichtungspulses ausreicht, da ein Tiefenscan bereits durch Aufnahme der detektierten
Intensitäten einer einzigen CCD-Zeile 33 vorliegt, wobei die Auswertung später erfolgen
kann. Somit gehen Bewegungen der Probe 13 nur während dieser äußerst kurzen
Belichtungszeit ein und die Probe wird durch die nur kurz andauernde Bestrahlung durch
die Strahlung der Lichtpulse nur kurzzeitig beeinflußt bzw. belastet. Die Auswertung einer
aufgenommenen CCD-Zeile 33 kann und darf ein Vielfaches der Belichtungszeit erfordern.
In dem dargestellten Ausführungsbeispiel ist vor der Probe 13 eine Einrichtung 39, die ein
Scannen über die Probe 13 ermöglicht, angeordnet. Durch Scannen über die Probe 13 kann
somit ein dreidimensionales Bild von der Probe 13 erstellt werden.
Der in Fig. 2 dargestellte Ausschnitt zeigt voneinander beabstandet angeordnete
Faserenden 15 und 17 und eine CCD-Zeile 33 als Sensorfläche 29, wobei zwischen den
Faserenden 15, 17 und der CCD-Zeile 33 eine Zylinderlinse 43 zur Fokussierung der von
den Faserenden 15, 17 ausgehenden Strahlung auf die CCD-Zeile 33 vorgesehen ist.
Weiterhin kann zwischen den Faserausgängen 15 und 17 und der CCD-Zeile 33 eine
zusätzliche Linse 44, wie in Fig. 3 gezeigt, vorgesehen, durch die ein streng periodisches
Interferenzmuster erzeugt wird.
Wird als Pixelgröße 10 µm bei 5.000 Pixeln für eine CCD-Zeile 33 angenommen und wird
davon ausgegangen, daß durch die den Faserausgängen 15, 17 zugeordnete Optik 19 ein
Lichtkegel 37, der jeweils 12° überstreicht, ausgeht und wird als mittlere Wellenlänge der
für die Untersuchung eingesetzten Strahlung 800 nm angenommen, und sind die
Faserenden 15, 17 in einem Abstand von 24 cm vor der CCD-Zeile 33 angeordnet, so ergibt
sich, daß zwei Punkte mit einem Abstand von 10 µm auflösbar sind. Die Faserenden 15, 17
sollten in einem Abstand von 10 mm zueinander angeordnet sein. Bei solch einer
Anordnung ist ein Tiefenhub bis zu 2 mm möglich.
1
Vorrichtung
2
Laserdiode (zentr. Kohärent.)
3
Strahlungsquelle
4
Weißlichtquelle
4
a Superlumineszenzdiode
5
Strahlenteiler
7
Meßstrahl
8
Mischer
9
Referenzstrahl
10
Mischer
11
Lichtleiter
12
Faserenden
13
Probe
14
Meßzweig
15
Strahlenausgang Meßstrahl
16
Referenzzweig
17
Strahlenausgang
Referenzstrahl
19
Optik
23
Auswerteeinheit
25
Detektor
27
Teilbereich
29
Sensorfläche
31
Sensorzeile
33
CCD-Zeile
35
Abstand
37
Lichtkegel
39
Einrichtung zum Abscannen
der Probe
41
Spiegel
43
Zylinderlinse
44
zusätzliche Linse
45
Bildverarbeitungseinrichtung
Claims (11)
1. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen in einer Probe mit einem bezüglich
eines Referenzzeitpunktes zu einem Meßstrahl kohärenten Referenzstrahls und mit
einer Einrichtung zur räumlichen Überlagerung des von der Probe reflektierten
Meßstrahls mit dem Referenzstrahl, wobei dieser Einrichtung eine Auswerteeinheit
mit einem Detektor zugeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzstrahl
(9) und der Meßstrahl (7) für eine mindestens auf einem Teilbereich (27)
überlappenden flächigen Bestrahlung einer dem Detektor (25) zugeordneten
Sensorfläche (29) in einem Abstand (35) voneinander angeordnet sind.
2. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß dem Meßstrahl (7) und dem Referenzstrahl (9) eine Optik (19)
für eine Aufweitung des jeweiligen Strahls (7, 9) zugeordnet ist.
3. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach Anspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß der Meßstrahl (7) und der Referenzstrahl (9) in Fasern bzw. in
Lichtleitern (11) geführt sind, die endseitig mit einer Optik (19) zur Aufweitung des
jeweiligen Strahls (7, 9) versehen sind.
4. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach Anspruch 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Sensorfläche (29) durch von den Faserenden (12) der Fasern
(11) ausgehenden Lichtkegeln (37) bestrahlt sind.
5. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach mindestens einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Sensorfläche (29) als
Sensorzeile (31) ausgebildet ist.
6. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach mindestens einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßstrahl (7) und der
Referenzstrahl (9) aus einem von einer Strahlungsquelle (3) ausgehenden und mit
einem Strahlenteiler (5) versehenen Strahl hervorgeht.
7. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach mindestens einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlungsquelle (3)
eine gepulste Strahlung abgebende Strahlungsquelle (3) ist.
8. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach mindestens einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß als Strahlungsquelle (3)
eine Weißlichtquelle (4) vorgesehen ist.
9. Vorrichtung zur Aufnahme von Tiefenprofilen nach mindestens einem der
vorangegangenen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Meßstrahl (7) mit
einer Einrichtung (39) zum räumlichen Abscannen der Probe (13) versehen ist.
10. Verfahren mit einer Vorrichtung gemäß mindestens einem der vorangegangenen
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß mit dem Meßstrahl (7) eine Probe (13)
bestrahlt wird und die von der Probe (13) reflektierte Strahlung, den reflektierten
Meßstrahl (7) bildend, mindestens einen Teilbereiche (27) der Sensorfläche
(Sensorzeile) bestrahlt, der gleichzeitig durch den Referenzstrahl (9) bestrahlt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerteeinheit (23)
aus den aufgenommenen Strahlungsintensitäten der Sensorzeile die Reflektivitäten in
den Schichttiefen der Probe (13) ermittelt, die mittels einer
Bildverarbeitungseinrichtung (45) graphisch darstellbar sind.
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