DE19915018B4 - Method for producing a calibration curve in an infrared gas analyzer - Google Patents
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- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 title claims abstract description 42
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title description 10
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims abstract description 66
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000003085 diluting agent Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 239000003344 environmental pollutant Substances 0.000 description 2
- 231100000719 pollutant Toxicity 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
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Abstract
Verfahren zum Herstellen einer Kalibrierungskurve in einem Infrarot-Gasanalysator, in welchem Gase mit verschiedenen Konzentrationen einem Infrarot-Gasanalysator zugeführt werden, und Ausgangssignale des Infrarot-Gasanalysators, die den Gaskonzentrationen entsprechen, über einen weiten Konzentrationsbereich an verschiedenen Meßpunkten abgetastet werden, um eine Mehrzahl von Konzentrations-Meßwerten, deren Anzahl nicht kleiner als vier ist, zu erhalten, und bei dem die Kalibrierungskurve durch ein Polynom, das nicht größer als von vierter Ordnung ist, mittels der Methode kleinster Quadrate auf Basis der wenigstens vier Konzentrations-Meßwerte approximiert wird, dadurch gekennzeichnet, daß nach Ausführen der Polynom-Approximation jeder Term des Polynoms mit einem Faktor multipliziert wird, der dem Kehrwert des Quadrates eines Konzentrationsverhältnisses CG/DG entspricht, wobei das Konzentrationsverhältnis CG/DG das Verhältnis der Konzentrationen eines Komponentengases CG, dessen Konzentration zu messen ist, und eines Verdünnungsgases DG bildet.method for establishing a calibration curve in an infrared gas analyzer, in which gases with different concentrations of an infrared gas analyzer supplied and output signals of the infrared gas analyzer containing the Gas concentrations correspond, over a wide concentration range at different measuring points sampled to obtain a plurality of concentration measurements, whose number is not less than four, and in which the calibration curve by a polynomial not larger than of fourth order, by means of least squares method Basis of the at least four concentration measured values is approximated by characterized in that To run of the polynomial approximation, each term of the polynomial with a factor multiplied by the inverse of the square of a concentration ratio CG / DG corresponds to the CG / DG concentration ratio Concentrations of a component gas CG, its concentration to measure, and a diluent gas DG forms.
Description
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zum Herstellen einer Kalibrierungskurve in einem Infrat-Gasanalysator zum Messen der Konzentration eines Probengases, wie beispielsweise CO und CO2.The present invention relates to a method of producing a calibration curve in an infrared gas analyzer for measuring the concentration of a sample gas, such as CO and CO 2 .
Bei Konzentrationsmessungen für beispielsweise in Fahrzeugabgasen enthaltenem CO und CO2 werden Infrarot-Gasanalysatoren des Nicht-Verteilungstyps (NDIR) verwendet, und zusammen mit jüngsten raschen Entwicklungen in Motoren mit geringer Emission gibt es ständig steigende Forderungen nach hochpräzisen Infrarot-Gasanalysatoren.Concentration measurements for, for example, CO and CO 2 contained in vehicle exhaust gases, use non-distribution type infrared gas analyzers (NDIRs), and along with recent rapid developments in low emission engines, there is an ever increasing demand for high precision infrared gas analyzers.
Einer
der wichtigsten Faktoren zum Erzielen einer analytischen Genauigkeit
für den
Infrarot-Gasanalysator liegt darin, in geeigneter Weise Kalibrierungskurven
aufzustellen und aufrechtzuerhalten. Die Bildung dieser Kalibrierungskurve
wird allgemein mittels eines Systemes ausgeführt, wie dieses in
Ein
Gasteiler
Eine
Hauptsteuereinheit bzw. MCU
Bei
der oben erläuterten
Anordnung werden das Komponentengas CG für Kalibrierungszwecke und das
Verdünnungsgas
DG zu dem Gasteiler
Mit
anderen Worten, die Kalibrierungskurve f(x) wird wie folgt dargestellt:
Wenn
angenommen wird, daß die
Meßgröße durch
(xi, yi) gegeben
ist, werden die Koeffizienten a0 – a4 aus den folgenden Gleichungen erhalten:
Hier
ist es üblich,
daß das
Meßprinzip
des Infrarot-Gasanalysators
I
= Intensität
des übertragenen
Lichtes,
μ =
Absorptionkoeffizient,
c = Konzentration eines zu messenden
Probengases und
L = Dicke der Gasschicht.Here it is common that the measuring principle of the infrared gas analyzer
I = intensity of the transmitted light,
μ = absorption coefficient,
c = concentration of a sample gas to be measured and
L = thickness of the gas layer.
Die obige Gleichung (3) zeigt, daß die Durchlässigkeit, die die Änderungsrate in der Intensität des übertragenen Lichtes ist, durch eine Gleichung erster Ordnung im Bereich geringer Dichte approximiert werden kann und daß sie mit steigender Konzentration durch eine Gleichung höherer Ordnung zu erklären ist.The above equation (3) shows that the Permeability, the rate of change in intensity of the transferred Light is lower in the range due to a first-order equation Density can be approximated and that they increase with increasing concentration by an equation higher To explain order is.
Beispielsweise
ist es bei Abgasmessungen von Fahrzeugen erforderlich, die in dem
Infrarot-Gasanalysator
In
der Druckschrift
In
der Druckschrift
In
der Druckschrift
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, die oben erwähnten Probleme zu überwinden und den systematischen Fehler zu minimieren, der zwangsläufig bei dem Meßprinzip des Infrarot-Gasanalysators auftritt, und so folglich ein Herstellungsverfahren für eine Kalibrierungskurve zu schaffen, in welcher ein Infrarot-Gasanalysator in der Lage ist, die Meßgenauigkeit zu verbessern.It object of the present invention, the above-mentioned problems to overcome and to minimize the systematic error that inevitably occurs in the Measuring principle of the infrared gas analyzer, and thus a manufacturing process for one Calibration curve to create, in which an infrared gas analyzer is capable of measuring accuracy to improve.
Zur Lösung dieser Aufgabe ist erfindungsgemäß ein Verfahren zum Herstellen einer Kalibrierungslinie mit den im Patentanspruch angegebenen Merkmalen vorgesehen.to solution This object is a method according to the invention for producing a calibration line with the in claim provided features specified.
Zur Lösung der obigen Aufgabe zeichnet sich die vorliegende Erfindung, die sich auf ein Verfahren bezieht, bei dem Gase mit verschiedenen Konzentrationen zu einem Infratrot-Gasanalysator gespeist sind und die Ausgangssignale entsprechend den Gaskonzentrationen in diesem Fall als eine Vielzahl von Punkten abgetastet werden, deren Anzahl nicht kleiner als vier ist, und bei dem die Kalibrierungskurve durch ein Polynom vierter Ordnung mittels der Methode der kleinsten Quadrate aufgrund der Meßwerte von nicht weniger als vier derart abgetasteten Ausgangssignale angenähert wird, dadurch aus, daß nach Ausführen der obigen Polynom-Annäherung ein Kehrwert des Quadrates eines geteilten Verhältnisses an jedem der die Kalibrierungskurve bildenden Daten verwendet wird, um eine Gewichtungsoperation auszuführen.to solution the above object is the present invention, which refers to a process in which gases with different concentrations fed to an infrared gas analyzer and the output signals according to the gas concentrations in this case as a variety scanned by points whose number is not less than four and in which the calibration curve is fourth by a polynomial Order by the method of least squares due to the readings is approximated by not less than four such sampled output signals, characterized in that after To run the above polynomial approximation a reciprocal of the square of a divided ratio on each of the calibration curve forming Data is used to perform a weighting operation.
Genauer gesagt: die Erfindung stellt ein Verfahren zum Herstellen einer Kalibrierungskurve in einem Infrarot-Gasanalysator bereit, in welchem Gase mit verschiedenen Konzentrationen einem Infrarot-Gasanalysator zugeführt werden, und Ausgangssignale des Infrarot-Gasanalysators, die den Gaskonzentrationen entsprechen, über einen weiten Konzentrationsbereich an verschiedenen Messpunkten abgetastet werden, um eine Mehrzahl von Konzentrations-Messwerten, deren Anzahl nicht kleiner als 4 ist, zu erhalten, und bei dem die Kalibrierungskurve durch ein Polynom, das nicht größer als von vierter Ordnung ist, mittels der Methode kleinster Quadrate auf Basis der wenigstens vier Konzentrations-Messwerte approximiert wird. Erfindungsgemäß wird nach Ausführen der Polynom-Approximation jeder Term des Polynoms mit einem Faktor multipliziert, der dem Kehrwert des Quadrats eines Konzentrationsverhältnisses CG/DG entspricht, wobei das Konzentrationsverhältnis CG/DG das Verhältnis der Konzentrationen eines Komponentengases CG, dessen Konzentration zu messen ist, und eines Verdünnungsgases DG bildet.More accurate said: the invention provides a method for producing a Calibration curve in an infrared gas analyzer ready in which Gases with different concentrations of an infrared gas analyzer supplied and output signals of the infrared gas analyzer containing the Gas concentrations correspond, over a wide concentration range at different measuring points sampled to obtain a plurality of concentration measurements, whose number is not less than 4, and in which the Calibration curve through a polynomial not larger than of fourth order, by the method of least squares is approximated on the basis of the at least four concentration measurement values. According to the invention To run of the polynomial approximation, each term of the polynomial with a factor multiplied by the inverse of the square of a concentration ratio CG / DG corresponds, with the CG / DG concentration ratio of the concentrations a component gas CG whose concentration is to be measured, and a diluent gas DG forms.
Die Kalibrierungskurve, die durch das herkömmliche Herstellungsverfahren für die Kalibrierungskurve erhalten ist, hat einen größeren Fehler im Bereich geringer Konzentration; jedoch führt das Herstellungsverfahren für die Kalibrierungskurve nach der vorliegenden Erfindung eine große Gewichtungsoperation in dem Bereich geringer Konzentration aus, so daß der Fehler in dem Bereich niedriger Konzentration in einem solchen Ausmaß komprimiert wird, daß nicht irgendein Problem verursacht wird. Darüber hinaus verursacht selbst die Kalibrierungskurve, die durch das herkömmliche Herstellungsverfahren für die Kalibrierungskurve erhalten ist, keinen großen Fehler in dem Bereich hoher Konzentration, und das Herstellungsverfahren für die Kalibrierungskurve gemäß der vorliegenden Erfindung nimmt keine so große Gewichtungsoperation vor; somit treten in diesem Bereich kaum Fehler auf. Mit anderen Worten, gemäß dem Herstellungsverfahren für die Kalibrierungskurve nach der vorliegenden Erfindung wird es möglich, Fehler bei Bereichen niedriger Konzentration und hoher Konzentration auf ein Minimum zu reduzieren.The calibration curve obtained by the conventional manufacturing method for the calibration curve has a larger error in the low concentration region; however, the manufacturing process performs the calibration curve According to the present invention, a large weighting operation is performed in the low-concentration region, so that the error in the low-concentration region is compressed to such an extent that it does not cause any problem. Moreover, even the calibration curve obtained by the conventional manufacturing method for the calibration curve does not cause much error in the high concentration area, and the calibration curve manufacturing method according to the present invention does not make such a large weighting operation; thus hardly any errors occur in this area. In other words, according to the calibration curve manufacturing method of the present invention, it becomes possible to minimize errors in low-concentration and high-concentration regions.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:following The invention will be explained in more detail with reference to the drawings. Show it:
Anhand
der Figuren erläutert
die folgende Beschreibung ein Ausführungsbeispiel der vorliegenden
Erfindung. Bei der vorliegenden Erfindung wird nach Herstellen der
Kalibrierungskurve in einem Infrarot-Gasanalysator die folgende
Gleichung (4) anstelle der herkömmlichen
Gleichung (1) angewandt:
Mit anderen Worten, die rechte Seite der oben erwähnten Gleichung (1) wird mit einem Kehrwert des Quadrates des geteilten Verhältnisses n, der den Gewichtungskoeffizient wi bildet, multipliziert.In other words, the right side of the above-mentioned equation (1) is multiplied by an inverse of the square of the divided ratio n forming the weighting coefficient w i .
Die
Tatsache, daß der
Kehrwert des Quadrates des geteilten Verhältnisses n wirksam zu der Zeit einer
Kurvenanpassung angewandt werden kann, wurde durch die folgenden
Prozesse ermittelt: Bei der herkömmlichen
Kalibrierungskurve wird die Kurvenanpassung mittels Gleichung (1)
vorgenommen; daher zeigt, wie in
In einem derartigen Fall werden drei Arten von Gewichtungsoperationen, d.h. ➀ ein Kehrwert des geteilten Verhältnisses, ➁ ein Kehrwert des Quadrates des geteilten Verhältnisses und ➂ ein Kehrwert der dritten Potenz des geteilten Verhätnisses angedacht.In In such a case, three types of weighting operations, i.e. ➀ a reciprocal of the split ratio, ➁ a reciprocal of the split ratio square and ➂ a reciprocal of the cube of the split ratio being considered.
Die
folgenden Tatsachen ergeben sich aus den
Bei der Methode ➁, die den Kehrwert des Quadrates des geteilten Verhältnisses für die Gewichtungsoperation verwendet, und der Methode ➂, die den Kehrwert der dritten Potenz des geteilten Verhältnisses für die Gewichtungsoperation verwendet, wird der Fehler kleiner, da die Gewichtungsoperation in dem Bereich niedriger Konzentration größer ist. Jedoch wird bei der Methode ➂ die Gewichtungsoperation sehr groß, was größere Fehler in dem Bereich hoher Konzentration verursacht.at the method ➁, which is the inverse of the square of the divided ratio for the Weighting operation, and the method ➂, the the inverse of the cube of the coveted ratio for the Weighting operation used, the error is smaller because the Weighting operation is greater in the region of low concentration. However, with the method ➂, the weighting operation becomes very large, what bigger mistakes in the high concentration area.
Dagegen wird bei der Methode ➁ der Fehler nicht größer als der Standardwert (± 2,0 % PT) in den Bereichen niedriger Konzentration und hoher Konzentration gehalten, was es möglich macht, den Systemfehler in einem weiteren Bereich einschließlich der Bereiche niedriger Konzentration und hoher Konzentration zu minimieren. Mit anderen Worten, die Linearität zwischen der Konzentration und dem Ausgangssignal ist verbessert.On the other hand If the method ➁ fails, the error does not exceed the default value (± 2.0 % PT) in the low concentration and high concentration ranges kept what it possible makes the system error in another area including the Minimize areas of low concentration and high concentration. In other words, the linearity between the concentration and the output is improved.
Wenn, wie oben beschrieben ist, die Kalibrierungskurve mittels eines Polynomes approximiert bzw. angenähert wird, wird der Kehrwert des Quadrates des geteilten Verhältnisses bei jedem Punkt der die Kalibrierungskurve bildenden Daten als die Gewichtungsoperation verwendet, so daß der meßbare Bereich gedehnt werden kann; beispielsweise ist es möglich, gewünschte Messungen mit hoher Genauigkeit in einem weiten Bereich, beispielsweise einem Bereich des 50-fachen des kleinsten Bereiches, auszuführen.If, As described above, the calibration curve by means of a polynomial approximated or approximated becomes, becomes the inverse of the square of the split ratio at each point of the calibration curve forming data as the Weighting operation is used so that the measurable range are stretched can; for example, it is possible desired Measurements with high accuracy in a wide range, for example an area of 50 times the smallest area.
Bei dem Herstellungsverfahren für die Kalibrierungskurve gemäß der vorliegenden Erfindung wird nach Ausführen der Kalibrierungskurven-Annäherung mittels eines Polynoms der Kehrwert des Quadrates des geteilten Verhältnisses an jedem Punkt des die Kalibrierungskurve bildenden Datums als die Gewichtungsoperation verwendet; daher kann der Systemfehler, der unvermeidbar in dem Meßprinzip im Infrarot-Gasanalysator auftritt, soweit als mögich minimiert werden. Es wird somit möglich, einen Infrarot-Gasanalysator zu erhalten, der Messungen mit hoher Genauigkeit in einem weiteren Bereich einschließlich der Bereiche niedriger Konzentration und hoher Konzentration auszuführen vermag.at the manufacturing process for the calibration curve according to the present Invention will after running the calibration curve approach by means of a polynomial the inverse of the square of the divided one ratio at each point of the calibration curve forming date as the Weighting operation used; therefore, the system error, the unavoidable in the measuring principle in the infrared gas analyzer occurs, as far as possible minimized. It will thus possible To obtain an infrared gas analyzer, the measurements with high Accuracy in another area including the areas lower Concentration and high concentration is able to carry out.
Claims (1)
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10-124220 | 1998-04-18 | ||
JP12422098A JP3461284B2 (en) | 1998-04-18 | 1998-04-18 | How to make a calibration curve for an infrared gas analyzer |
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DE19915018A1 DE19915018A1 (en) | 1999-10-28 |
DE19915018B4 true DE19915018B4 (en) | 2005-10-06 |
Family
ID=14879977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999115018 Expired - Lifetime DE19915018B4 (en) | 1998-04-18 | 1999-04-01 | Method for producing a calibration curve in an infrared gas analyzer |
Country Status (3)
Country | Link |
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JP (1) | JP3461284B2 (en) |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R071 | Expiry of right |