DE19830402A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-Prozeß - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-ProzeßInfo
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Abstract
Der Erfindung, die ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-Prozeß betrifft, bei dem ein eingeleitetes Reaktivgas infolge einer Hochspannung dissoziiert, liegt die Aufgabe zugrunde, die Beschichtungsrate in diesem PECVD-Prozeß unter Gewährleistung einer guten Schichthomogenität zu erhöhen. Dies wird dadurch gelöst, daß über dem Substrat eine erhöhte Plasmadichte erzeugt wird, indem das Substrat während der Beschichtung von einem Magnetfeld tunnelförmig durchflutet wird.
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Abscheidung von
Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-
Prozeß, bei dem in einem Vakuum zwischen einer Flächenelek
trode und einer Gegenelektrode eine Mittelfrequenzspannung von
1 kHz bis 500 kHz oder eine HF-Spannung von 500 kHz bis zu
einigen MHz angelegt und ein Reaktivgas eingeleitet wird, und
bei dem ein bewegtes Substrat als Gegenelektrode geschalten
ist, das in dem Vakuum in Richtung seiner Längserstreckung
bewegt und dabei eine Vorderseite des Substrates beschichtet
wird.
Die Erfindung betrifft auch eine Vorrichtung zur Abscheidung
von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-
Prozeß mit einem Vakuumrezipienten, der mit einer Flächenelek
trode versehen ist, die mit einem Plasmagenerator verbunden
ist, und in dem eine Gegenelektrode als ein bewegtes Substrat
beweglich geführt ist, und in der Mittel zur Einleitung von
Reaktivgas angeordnet sind.
Die chemische Schichtabscheidung aus der plasma-aktivierten
Gasphase, kurz PECVD-Prozeß genannt, ist ein etabliertes Ver
fahren in der Dünnschichttechnologie.
Im einfachsten Fall besteht die Anlagentechnik aus einem Vaku
umrezipienten in dem zwei flächige Elektroden, parallel zuein
ander angeordnet, installiert sind. Die Elektroden sind
gegenüber dem Rezipienten elektrisch isoliert befestigt. Es
ist auch möglich, nur eine Elektrode in den Rezipienten ein
zubauen. Dann wird die Funktion der Gegenelektrode von dem
Teil des Rezipienten, der auf Erdpotential liegt, übernommen.
Gewöhnlich wird an eine der beiden Elektroden ein Plasmagene
rator angeschlossen. Die Anregungsfrequenz des Plasmagenera
tors liegt im Bereich zwischen einigen Kilohertz bis zu eini
gen Megahertz. Somit wird die mit dem Plasmagenerator verbun
dene Elektrode zur HF-Elektrode. Die gegenüberliegende Elek
trode, die nachfolgend als Gegenelektrode bezeichnet ist, wird
mit dem Erdpotential verbunden.
Eine Schichtabscheidung findet auf der HF-, der Gegenelektrode
und den Wänden des Rezipienten mit unterschiedlichen Schicht
qualitäten statt.
Die Wachstumsrate und die Schichteigenschaften werden bestimmt
durch den Radikalenstrom und den Ionenbeschuß auf dem Sub
strat. Ein hoher Dissoziationsgrad des eingelassenen Reaktiv
gases und eine hohe Plasmadichte führen zu einem hohen Radika
len- und Ionenstrom und damit zu einer hohen Wachstumsrate auf
der Substratoberfläche. Die Plasmadichte ist im allgemeinen am
höchsten im Bereich vor der HF-Elektrode, wenn die Anregungs
frequenz deutlich geringer als ein Megahertz ist und die auf
Erdpotential liegende Gegenelektrode, die mit dem Plasma in
Kontakt steht, sehr viel größer als die HF-Elektrode ist. Zur
Nutzung dieser hohen Plasmadichte ist es somit zweckmäßig, das
Substrat als HF-Elektrode auszuführen.
Die Ausbildung des Substrates als HF-Elektrode ist allerdings
bei bewegte bandförmigen Substrate, bedingt durch Kontaktie
rungs- und Potentialverteilungsprobleme, unzweckmäßig. Aus
diesem Grunde liegen bewegten Substrate in industriellen Be
schichtungsanlagen auf Erdpotential und wirken daher als Ge
genelektrode.
Es gilt daher, die Erzeugung von angeregten hochreaktiven
Radikalen und Ionen im unmittelbaren Raumbereich vor der Ge
genelektrode zu unterstützen. Dies kann durch einen geringen
Abstand, d. h. durch eine erhöhte Konzentration des Plasmas
zwischen den Elektroden oder mittels einer asymmetrischen
Elektrodenkonfiguration erreicht werden. Bei der asymmetri
schen Elektrodenkonfiguration ist die HF-Elektrode in der
Fläche sehr viel größer als die Gegenelektrode.
Durch die kapazitive Kopplung des HF-Generators mit der HF-
Elektrode stellt sich im zeitlichen Mittel an der HF-Elektrode
eine positive Spannung ein. Dies hat zur Folge, daß sich eine
erhöhte Plasmadichte an der Gegenelektrode einstellt. Der
artige Konfigurationen werden zur Abscheidung von Plasmapoly
meren genutzt, wie dies in der europäischen Patentanmeldung 0786795 A2
dargestellt ist.
Der Erfindung liegt nunmehr die Aufgabe zugrunde, die Be
schichtungsrate bei der Beschichtung von bewegten Substraten
in einem PECVD-Prozeß unter Gewährleistung einer guten
Schichthomogenität zu erhöhen.
Gemäß der Erfindung wird die Aufgabe verfahrensseitig dadurch
gelöst, daß über dem Substrat eine erhöhte Plasmadichte er
zeugt wird, indem das Substrat während der Beschichtung von
mindestens einem Magnetfeld tunnelförmig durchflutet wird.
Durch die Feldlinien dieses Magnetfeldes wird ein ge
schlossener Ring oder mehrere geschlossene Ringe erhöhter
Plasmadichte erzeugt, die sich im unmittelbaren Substratbe
reich befinden und somit die Plasmadichte an dem als Gegen
elektrode wirkenden Substrat erhöhen.
In einer bevorzugten Ausführung der Erfindung ist vorgesehen,
daß das Magnetfeld quer zur Längserstreckung des bewegten
Substrates größer ist als die Breite des Substrats. Damit wird
gleichmäßig über die Breite des Substrates eine erhöhte Plas
madichte erzielt und damit eine homogene Schichtdickenver
teilung erreicht.
Es ist zweckmäßig, daß bei Verwendung eines elektrisch leit
fähigen Substrats dieses auf Erdpotential gelegt wird. Auch
wenn grundsätzlich das Potential des Substrates "schwimmend"
sein kann, was bei einer isolierten Handhabung des Substrats
eintritt, können die Beschichtungsverhältnisse bei Erdpotenti
al an dem Substrat genau definiert werden.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist vorgese
hen, daß das Magnetfeld außerhalb eines Bereiches erhöhter
Plasmadichte unmittelbar über der Vorderseite des Substrates
senkrecht zur Bewegungsrichtung des Substrates abgeschwächt
wird. Damit wird erreicht, daß die erhöhte Plasmadichte weit
gehend nur dort auftritt, wo sie erwünscht ist, nämlich im
unmittelbaren Substratbereich.
Weiterhin ist es zweckmäßig, daß das Plasma in einem Raum
zwischen dem Substrat und der Flächenelektrode konzentriert
wird. Auch dies dient dem Ziel, die erhöhte Plasmadichte nur
dort entstehen zu lassen, wo sie benötigt wird, um damit
unerwünschte Beschichtungen zu vermeiden.
Vorrichtungsseitig wird die Aufgabe dadurch gelöst, daß unter
der der Vorderseite gegenüberliegenden Rückseite des Substra
tes ein Magnetsystem angeordnet ist. Mittels dieses Magnet
systems durchdringt ein Magnetfeld das Substrat. Entlang der
Feldlinien entstehen Ringe mit erhöhter Plasmadichte, die
durch die Anordnung des Magnetsystems unter dem Substrat in
unmittelbarer Nähe zu der Vorderseite des Substrates auftre
ten. Damit wird die Beschichtungsrate erhöht.
Zweckmäßig ist es, das Magnetsystem aus einem oder mehreren
Permanentmagneten bestehen zu lassen, deren Nord-Süd-Richtung
parallel oder senkrecht zur Rückseite des Substrats verläuft.
Damit kann der dargestellte Effekt mit einfachen technischen
Mitteln erreicht werden.
In einer Ausführung der Erfindung ist vorgesehen, daß das
Magnetsystem elektrisch isoliert befestigt und auf ein de
finiertes Potential gegenüber dem Erdpotential eingestellt
ist. Dadurch kann ein schwimmendes Potential vermieden und es
können definierte Beschichtungsverhältnisse eingestellt wer
den.
In einer Ausführungsform der Erfindung ist das Magnetsystem an
eine elektrische Widerstandsschaltung angeschlossen, wodurch
das definierte Potential mit einfachen technischen Mitteln
eingestellt werden kann.
Eine weitere Ausgestaltung ist dadurch gekennzeichnet, daß das
Magnetsystem längserstreckt ausgebildet ist und zumindest
einen längserstreckten Pol aufweist, wobei das tunnelförmige
Magnetfeld das Substrat durchflutet.
Besonders zweckmäßig ist es hierbei, daß der längserstreckte
Pol von dem anderen Pol in einer Ebene liegend ringförmig
umschlossen wird. Durch diese Gestaltung ist das Magnetsystem
geeignet, unter der gesamten Breite des bewegten Substrates
wirksam zu werden.
In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist ein zwischen
der Flächenelektrode und dem Substrat liegender Raum von einer
die Flächenelektrode einschließenden und gegenüber dem Sub
strat offenen Umhüllung umschlossen. Durch diese Maßnahme kann
das Plasma in dem Raum konzentriert werden, der für die Be
schichtung maßgebend ist.
Es ist zweckmäßig, zwischen dem Substrat und dem Magnetsystem
einen Spalt vorzusehen. Dadurch kann ein Schleifen des beweg
ten Substrats auf dem Magnetsystem vermieden werden. Zur Ver
hinderung parasitärer Entladungen zwischen der Rückseite des
Substrats und dem Magnetsystem ist es weiterhin zweckmäßig,
diesen Spalt durch eine isolierende Platte auszufüllen.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines Ausführungsbei
spieles näher erläutert werden. Die zugehörige Zeichnung zeigt
einen schematischen Querschnitt durch eine erfindungsgemäße
Anordnung.
In einem Vakuumrezipienten 1 ist eine Flächenelektrode 2
angeordnet. Die Flächenelektrode 1 ist mit einem Plasmagenera
tor 3 verbunden. In dem Vakuumrezipienten wirkt ein bewegtes
bandförmiges Substrat 4, das durch den Vakuumrezipienten 1
geführt wird, als Gegenelektrode. Weiterhin wird in den Vaku
umrezipienten 1 Reaktivgas über eine Gaseinleitung 5 einge
bracht. Unter der Rückseite des Substrates 4 ist ein Magnet
system 6 angeordnet.
Das Magnetsystem 6 ist elektrisch isoliert angeordnet. Sein
Potential ist auf Erdpotential eingestellt. Das Magnetsystem
6 ist längserstreckt ausgebildet und weist einen längser
streckten Pol 7 auf, der von dem anderen Pol 8 in einer Ebene
liegend ringförmig umschlossen wird. Damit verläuft dessen
Nord-Süd-Richtung parallel zur Rückseite 9 des Substrats 4.
Zwischen dem Substrat 4 und dem Magnetsystem 6 ist ein Spalt
vorgesehen, der durch eine isolierende Platte 12 ausgefüllt
ist.
In dem Vakuumrezipienten 1 wird Vakuum erzeugt. An die Flä
chenelektrode 2 wird eine HF-Spannung angelegt und über die
Gaseinleitung 5 ein Reaktivgas eingeleitet. Dabei ist das
bandförmige Substrat 4 als Gegenelektrode geschalten. Dieses
wird in dem Vakuum in Richtung seiner Längserstreckung bewegt.
Dabei wird die Vorderseite 10 des Substrates 4 beschichtet.
Über dem Substrat 4 wird dabei eine erhöhte Plasmadichte er
zeugt, indem das Substrat 4 während der Beschichtung von einem
Magnetfeld 11 tunnelförmig durchflutet wird. In nicht näher
dargestellter Weise ist das Magnetfeld 11 quer zur Längser
streckung des bandförmigen Substrates 4 größer, als die Breite
des Substrats 4.
Um eine Berührung des Substrats 4 mit dem Magnetsystem 5 zu
vermeiden, ist ein Spalt vorgesehen, der durch eine isolieren
de Platte 12 ausgefüllt ist.
1
Vakuumrezipient
2
Flächenelektrode
3
Plasmagenerator
4
Substrat
5
Gaseinleitung
6
Magnetsystem
7
Pol
8
Pol
9
Rückseite des Substrats
10
Vorderseite des Substrats
11
Magnetfeld
12
Platte
Claims (13)
1. Verfahren zur Abscheidung von Funktionsschichten auf be
wegten Substraten in einem PECVD-Prozeß, bei dem in einem
Vakuum zwischen einer Flächenelektrode und einer Gegen
elektrode eine Mittelfrequenzspannung von 1 kHz bis 500
kHz oder eine HF-Spannung von 500 kHz bis zu einigen MHz
angelegt und ein Reaktivgas eingeleitet wird, und bei dem
ein bewegtes Substrat als Gegenelektrode geschalten ist,
das in dem Vakuum in Richtung seiner Längserstreckung
bewegt und dabei eine Vorderseite des Substrates
beschichtet wird, dadurch gekennzeich
net, daß über dem Substrat (4) eine erhöhte Plasmadichte
erzeugt wird, indem das Substrat während der Beschichtung
von mindestens einem Magnetfeld (11) tunnelförmig durch
flutet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Magnetfeld (11) quer zur Längser
streckung des bewegten Substrates (4) größer ist, als die
Breite des Substrats (4).
3. Verfahren nach Anspruch 1 bis 2, dadurch ge
kennzeichnet, daß bei Verwendung eines elek
trisch leitfähigen Substrats (4) dieses auf Erdpotential
gelegt wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß das Magnetfeld (11) au
ßerhalb eines Bereiches erhöhter Plasmadichte unmittelbar
über der Vorderseite (10) des Substrats (4) senkrecht zur
Bewegungsrichtung des Substrats (4) abgeschwächt wird.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß das Plasma in einem Raum
zwischen dem Substrat (4) und der Flächenelektrode (2)
konzentriert wird.
6. Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf
bewegten Substraten in einem PECVD-Prozeß mit einem Vaku
umrezipienten, der mit einer Flächenelektrode versehen
ist, die mit einem Plasmagenerator verbunden ist, und in
dem eine Gegenelektrode als ein bewegtes Substrat beweg
lich geführt ist, und in der Mittel zur Einleitung von
Reaktivgas angeordnet sind, dadurch gekenn
zeichnet, daß unter der der Vorderseite (10) gegen
überliegenden Rückseite (9) des Substrates (4) ein Magnet
system (6) angeordnet ist.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Magnetsystem (6) aus einem oder
mehreren Permanentmagneten besteht, deren Nord-Süd-Rich
tung parallel oder senkrecht zur Rückseite (9) des Sub
strats (4) verläuft.
8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Magnetsystem (6) elek
trisch isoliert befestigt und auf ein definiertes Potenti
al gegenüber dem Erdpotential eingestellt ist.
9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Magnetsystem (6) an eine elek
trischer Widerstandsschaltung angeschlossen ist.
10. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 9, da
durch gekennzeichnet, daß das Magnet
system (6) längserstreckt ausgebildet ist und zumindest
einen längserstreckten Pol (7) aufweist, wobei das tunnel
förmige Magnetfeld (11) das Substrat (4) durchflutet.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch ge
kennzeichnet, daß der längserstreckte Pol (7)
von dem anderen Pol (8) in einer Ebene liegend ringförmig
umschlossen wird.
12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 11, da
durch gekennzeichnet, daß ein zwischen
der Flächenelektrode (2) und dem Substrat (4) liegender
Raum von einer die Flächenelektrode (2) einschließenden
und gegenüber dem Substrat (4) offenen Umhüllung umschlos
sen ist.
13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 12, da
durch gekennzeichnet, daß zwischen dem
Substrat (4) und dem Magnetsystem (5) ein Spalt vorgesehen
ist, der durch eine isolierende Platte (12) ausgefüllt
ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998130402 DE19830402C2 (de) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | Verfahren und Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-Prozeß |
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DE1998130402 DE19830402C2 (de) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | Verfahren und Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-Prozeß |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19830402A1 true DE19830402A1 (de) | 2000-01-13 |
DE19830402C2 DE19830402C2 (de) | 2001-02-22 |
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ID=7873273
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
DE1998130402 Expired - Fee Related DE19830402C2 (de) | 1998-07-08 | 1998-07-08 | Verfahren und Vorrichtung zur Abscheidung von Funktionsschichten auf bewegten Substraten in einem PECVD-Prozeß |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19830402C2 (de) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0099708B1 (de) * | 1982-07-12 | 1986-04-09 | Energy Conversion Devices, Inc. | Magnetisches Gerät zur Reduzierung der Substratverwerfung |
EP0617143A1 (de) * | 1993-03-26 | 1994-09-28 | Sollac S.A. | Verfahren und Vorrichtung zum kontinuierlichen Beschichten eines metallischen Materials |
EP0786795A2 (de) * | 1996-01-17 | 1997-07-30 | Canon Kabushiki Kaisha | Dünnfilmherstellungsverfahren und Beschichtungsgerät |
-
1998
- 1998-07-08 DE DE1998130402 patent/DE19830402C2/de not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
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DE19830402C2 (de) | 2001-02-22 |
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