DE19805040A1 - Durchlichtbeleuchtung für Koordinatenmeßmaschinen - Google Patents
Durchlichtbeleuchtung für KoordinatenmeßmaschinenInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine optische Koordinatenmeßmaschine mit
Durchlichtbeleuchtung nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 und ein Verfahren
zur optischen Vermessung von Meßobjekten mit Durchlichtbeleuchtung nach dem
Oberbegriff des Patentanspruchs 10.
In der Praxis sind optische Koordinatenmeßmaschinen bekannt, wie sie beispielhaft in
einer vereinfachten, perspektivischen Darstellung in Fig. 3 gezeigt ist. Bei diesen
herkömmlichen Koordinatenmeßmaschinen ist in dem auf einer Grundplatte 1
montierten Meßtisch 2 eine durchsichtige Glasplatte 3 integriert, die als Auflage für ein
zu vermessendes Meßobjekt (nicht gezeigt) dient und deren Auflagefläche der Größe
des Meßobjektes angepaßt ist. Die Glasplatte 3 ermöglicht eine sogenannte Durchlicht
messung des Meßobjektes, indem unterhalb des Meßtisches 2 eine Beleuchtungsquelle
8 und über dem auf dem Meßtisch 2 abgelegten Meßobjekt eine optische Meßeinheit 9,
beispielsweise ein photoelektrischer Sensor oder eine komplette CCD-Kamera,
installiert ist. Die optische Meßeinheit 9 ist in einer Achse (x-Achse) oder evt. auch in
einer Ebene (x-y-Ebene) parallel zur Werkstückebene bzw. zur Glasplatte 3
üblicherweise CNC-gesteuert positionierbar. Die Beleuchtungsquelle 8 ist über einen
Träger 5 starr mit der beweglichen optischen Meßeinheit 9 verbunden. Durch die
mechanische Kopplung von Sensor- und Beleuchtungseinheit 8, 9 bewegen sich beide
gleichzeitig über den gesamten Meßbereich der Anordnung, und die Beleuchtungsquelle
8 leuchtet dabei permanent das relativ zum gesamten Meßbereich kleine Objektfeld aus.
Eine solche Koordinatenmeßmaschine ist beispielsweise auch aus der DE-C1-196 47 059
bekannt. Um die Meßgenauigkeit zu erhöhen, besteht die Auflage für das
Meßobjekt bei der in dieser Druckschrift offenbarten Koordinatenmeßmaschine aus
zumindest zwei parallel zueinander, beabstandet angeordneten durchsichtigen
Glasplatten. Von den zwischen den Glasplatten eingeschlossenen Hohlräumen ist
zumindest ein Hohlraum mit einem durchsichtigen Druckmedium gefüllt, wobei der
Druck innerhalb dieses Hohlraumes größer ist als der Druck außerhalb des Hohlraumes.
Der Überdruck im Hohlraum soll eine der durch das Gewicht des Meßobjekts
verursachten Durchbiegung der Auflage entgegenwirkende Kraft erzeugen, um die
maximal mögliche Traglast der Auflage zu erhöhen und eine sonst bei Durchbiegung
der Glasplatte ständig erforderliche Nachfokussierung der optischen Meßeinheit zu
vermeiden.
Zur Erzielung kurzer Meßzeiten wird in der Praxis eine hohe Positionier
geschwindigkeit der Einheit aus optischem Sensor und Beleuchtungsquelle gefordert.
Die insbesondere beim Abbremsen auftretenden Beschleunigungen führen aufgrund der
oben anhand von Fig. 3 erläuterten Konstruktion der Befeuchtungsquelle bei
herkömmlichen Koordinatenmeßmaschinen zu unerwünschten Schwingungen, da
insgesamt relativ große Massen bewegt werden und die Beleuchtungsquelle an einem
etwa L-förmigen Tragarm befestigt ist. Sind hohe Meßgenauigkeiten gefordert, muß vor
der Meßwertaufnahme an der Zielposition zunächst das Abklingen dieser
Schwingungen abgewartet werden, was demzufolge zu längeren Meßzeiten führt.
Ausgehend von dem vorgenannten Stand der Technik ist es eine Aufgabe der
vorliegenden Erfindung, eine optische Koordinatenmeßmaschine und ein optisches
Meßverfahren jeweils mit Durchlichtbeleuchtung vorzusehen, die mit einfachen
technischen Mitteln auch bei hohen Meßgenauigkeiten kurze Meßzeiten ermöglichen.
Gemäß einem ersten Aspekt der Erfindung wird diese Aufgabe durch eine optische
Koordinatenmeßmaschine mit den Merkmalen von Patentanspruch 1 gelöst.
Durch die starr angeordnete Beleuchtungsquelle, die gleichzeitig den gesamten
Meßbereich der Anordnung ausleuchtet, können die oben erläuterten Schwingungen
nicht mehr auftreten, da die Beleuchtungsquelle zu keiner Zeit bewegt werden muß.
Außerdem sind aufgrund der verringerten bewegten Masse, welche im wesentlichen nur
von der optischen Meßeinheit gebildet wird, höhere Beschleunigungen und schnellere
Positionierungen der optischen Meßeinheit und somit auch kürzere Meßzeiten möglich.
Besonders vorteilhaft ist es, wenn sich die Beleuchtungsquelle in der Ebene parallel zur
Auflage im wesentlichen nur in einer Richtung (x-Achse) erstreckt und die optische
Meßeinheit ebenfalls nur in dieser einen Richtung (x-Achse) in einer Ebene parallel zur
Auflage positionierbar ist, wobei in diesem Fall das Meßobjekt bzw. der Meßtisch mit
dem darauf angeordneten Meßobjekt vorzugsweise in der anderen Richtung (y-Achse)
parallel zur Auflage positionierbar ist.
Ebenso kann sich aber die Beleuchtungsquelle in der Ebene parallel zur Auflage auch in
beide Richtungen erstrecken (x-y-Ebene) und die optische Meßeinheit ebenfalls in beide
Richtungen (x-y-Ebene) in einer Ebene parallel zur Auflage positionierbar sein, so daß
das Meßobjekt bzw. der Meßtisch mit dem darauf angeordneten Meßobjekt während der
Vermessung des Meßobjektes nicht verschoben werden muß.
Vorzugsweise weist die Beleuchtungsquelle eine Anordnung von Faserlichtleitern,
Leuchtstoffröhren und/oder Leuchtdioden auf, wobei die Beleuchtungsstärke durch eine
Anordnung von Blenden, durch Steuerung des Beleuchtungsstromes, durch Steuerung
der Belichtungszeit der optischen Meßeinheit und/oder durch Filteranordnungen
eingestellt werden kann.
Gemäß einem zweiten Aspekt der Erfindung wird die oben genannte Aufgabe durch ein
optisches Meßverfahren gemäß Patentanspruch 10 gelöst.
Das Verfahren wird im Prinzip mit einer oben beschriebenen erfindungsgemäßen
Koordinatenmeßmaschine durchgeführt, weshalb an dieser Stelle bezüglich der Vorteile
und Weiterbildungen des Verfahrens nur auf die bereits erläuterten Vorteile und
Weiterbildungen der Koordinatenmeßmaschine verwiesen werden soll.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind
Gegenstand weiterer Unteransprüche.
Ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Koordinaten
meßmaschine wird im folgenden anhand der beiliegenden Zeichnung näher erläutert.
Darin zeigen:
Fig. 1 eine vereinfachte Darstellung einer erfindungsgemäßen Koordinaten
meßmaschine in Seitenansicht;
Fig. 2 eine perspektivische Prinzipdarstellung der Koordinatenmeßmaschine von
Fig. 1; und
Fig. 3 eine vereinfachte, perspektivische Darstellung einer herkömmlichen
Koordinatenmeßmaschine.
In Fig. 1 ist ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel einer optischen Koordinaten
meßmaschine mit Durchlichtbeleuchtung in Seitenansicht dargestellt; dabei sind gleiche
Bauteile mit gleichen Bezugsziffern versehen wie in der oben beschriebenen
herkömmlichen Koordinatenmeßmaschine von Fig. 3.
Die Koordinatenmeßmaschine besteht aus einer Grundplatte 1, auf der ein Meßtisch 2
montiert ist. In den Meßtisch 2 ist eine Auflage 3 aus durchsichtigem Material,
vorzugsweise eine durchsichtige Glasplatte, integriert, die als Auflage für das zu
vermessende Meßobjekt 4 dient. Unter dem Meßtisch 2 ist eine Beleuchtungsquelle 8
angeordnet, die auf einem entsprechenden Träger 13 montiert ist und die Licht nach
oben in Richtung auf die Glasplatte 3 bzw. das Meßobjekt 4 ausstrahlt. Der Träger 13
der Beleuchtungsquelle 8 ist fest mit der Grundplatte 1 verbunden, so daß die
Beleuchtungsquelle starr und unbeweglich angeordnet ist.
Die Beleuchtungsquelle 8 ist im Prinzip linienförmig aufgebaut, d. h. die Ausdehnung
der Beleuchtungsquelle 8 in der Ebene parallel zur Auflage 3 erstreckt sich im
wesentlichen nur in einer Richtung, vorzugsweise der x-Richtung der Anordnung, wie
insbesondere aus der perspektivischen Darstellung von Fig. 2 gut zu erkennen ist. Die
Länge der Beleuchtungsquelle 8 in x-Richtung entspricht etwa der Ausdehnung der
Glasplatte 3 in x-Richtung, so daß von der starren Beleuchtungsquelle 8 gleichzeitig der
gesamte Meßbereich der Anordnung ausgeleuchtet werden kann, der durch die
möglichen Positionierungen der in x-Richtung verschiebbaren optischen Meßeinheit 9
bestimmt wird.
Für die Beleuchtungsquelle 8 können beispielsweise geeignete Anordnungen von
Faserlichtleitern, Leuchtstoffröhren, Leuchtdioden oder auch Kombinationen derselben
eingesetzt werden. Die Einstellung der Beleuchtungsstärke kann dabei auf verschiedene
Weisen erfolgen. Bei der Verwendung von Faserlichtleitern und Leuchtdioden bietet
sich hierzu eine Steuerung des Beleuchtungsstromes an, bei der Verwendung von
Faserlichtleitern und Leuchtstoffröhren sind geeignete Blenden oder Blendensysteme
denkbar. Ferner ist es auch möglich, die Belichtungszeit der optischen Meßeinheit 9,
beispielsweise durch einen sogenannten Shutterbetrieb von CCD-Kameras, anzupassen
oder die Einstellung der Beleuchtungsstärke durch geeignete Filter, wie zum Beispiel
Polfilter zu realisieren. Außerdem ist es denkbar, das Meßobjekt 4 entweder diffus oder
gerichtet durch die Beleuchtungsquelle 8 auszuleuchten.
Zur Befestigung der optischen Meßeinheit 9, beispielsweise ein photoelektrischer
Sensor mit vorgeschaltetem Objektiv 10 oder eine komplette CCD-Kamera, ist ein
vertikaler Träger 6 vorgesehen, der starr mit der Grundplatte 1 der
Koordinatenmeßmaschine verbunden ist. An seinem oberen Ende weist der Träger 6
einen Querträger 7 auf, der in einer Orientierung parallel zur Glasplatte 3, insbesondere
in x-Richtung, angeordnet ist. Auf diesem Querträger 7 ist, in Längsrichtung des
Querträgers 7 auf diesem verschiebbar, ein Schlitten 12 montiert. Der Schlitten 12 dient
als Träger für die optische Meßeinheit 9, die zum Zwecke einer möglichen
Fokussierung am Schlitten 12 auch in z-Richtung, d. h. in der Richtung senkrecht zur
Ebene der Auflage 3, verschiebbar ist. Die Positionierung der optischen Meßeinheit 9 in
z-Richtung sowie des Schlittens 12 in x-Richtung erfolgt vorzugsweise CNC-gesteuert.
In y-Richtung ist die optische Meßeinheit in jeder Stellung so positioniert, daß die
optische Achse 11 der Meßeinheit 9 exakt über der Beleuchtungsquelle 8 liegt.
Da bei der in Fig. 1 und 2 gezeigten Konstruktion der Koordinatenmeßmaschine die
Beleuchtungsquelle 8 starr angeordnet ist und während der Vermessung des Meßobjekts
4 nicht bewegt wird bzw. bewegt werden muß, werden die bei herkömmlichen
Koordinatenmeßmaschinen aufgrund der Beschleunigung der Beleuchtungsquelle 8
auftretenden Schwingungen vollständig vermieden. Bei einer gewünschten hohen
Meßgenauigkeit muß somit ein Abklingen solcher Schwingungen nicht abgewartet
werden und es können auch bei hohen Meßgenauigkeiten kürzere Meßzeiten erzielt
werden. Ferner wird bei der erfindungsgemäßen Konstruktion nur die optische
Meßeinheit 9 mit dem Schlitten 12 bewegt, so daß im Vergleich zu den herkömmlichen
Koordinatenmeßmaschinen die zu bewegende Masse deutlich verringert ist, was zu
einer schnelleren Positionierung der optischen Meßeinheit 9 und somit ebenfalls zu
kürzeren Meßzeiten führt.
Alternativ zu der oben anhand der Fig. 1 und 2 beschriebenen Anordnung einer
linienförmigen Beleuchtungsquelle 8 und einer in x-Richtung positionierbaren
optischen Meßeinheit 9 ist es im Sinne der Erfindung ebenso möglich, eine großflächige
Beleuchtungsquelle 8 zu verwenden und die optische Meßeinheit 9 in x- und in
y-Richtung zu verschieben, so daß es zur kompletten Vermessung eines Meßobjekts 4
nicht nötig ist, das Meßobjekt 4 auf der Auflage 3 oder den gesamten Meßtisch 2 in
y-Richtung verschiebbar vorzusehen. In diesem Fall erstreckt sich die Ausdehnung der
Beleuchtungsquelle 8 in der Ebene parallel zur Auflage 3 also sowohl in x-Richtung als
auch in y-Richtung, wobei die Größe der Ausdehnung der Beleuchtungsquelle 8
vorzugsweise etwa der Größe der Glasplatte 3 entspricht, so daß als Meßbereich die
gesamte Glasplatte 3 dienen kann.
1
Grundplatte
2
Meßtisch
3
Durchsichtige Auflage/Glasplatte
4
Meßobjekt
5
Träger
6
Träger
7
Querträger
8
Beleuchtungsquelle
9
Optische Meßeinheit
10
Objektiv
11
Optische Achse
12
Schlitten
13
Träger
Claims (14)
1. Optische Koordinatenmeßmaschine mit Durchlichtbeleuchtung, mit einer Auflage
(3) aus durchsichtigem Material für ein Meßobjekt (4), einer Beleuchtungsquelle (8) auf
einer Seite der Auflage und einer optischen Meßeinheit (9) auf der anderen Seite der
Auflage,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsquelle (8) starr angeordnet und derart aufgebaut ist, daß
gleichzeitig der gesamte Meßbereich ausleuchtbar ist.
2. Koordinatenmeßmaschine nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich die Ausdehnung der Beleuchtungsquelle (8) in der Ebene parallel zur Auflage
(3) im wesentlichen nur in einer Richtung (x-Richtung) erstreckt.
3. Koordinatenmeßmaschine nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Meßeinheit (9) in einer Ebene parallel zur Auflage (3) nur in einer
Richtung (x-Richtung) positionierbar und das Meßobjekt (4) in einer anderen Richtung
(y-Richtung) parallel zur Auflage (3) positionierbar ist.
4. Koordinatenmeßmaschine nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich die Ausdehnung der Beleuchtungsquelle (8) in der Ebene parallel zur Auflage
(3) in beide Richtungen (x-y-Ebene) erstreckt.
5. Koordinatenmeßmaschine nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Größe der Ausdehnung der Beleuchtungsquelle (8) in der Ebene parallel zur
Auflage (3) etwa der Größe der Auflage (3) entspricht.
6. Koordinatenmeßmaschine nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß die optische Meßeinheit (9) in einer Ebene parallel zur Auflage (3) in beiden
Richtungen (x-y-Ebene) positionierbar ist.
7. Koordinatenmeßmaschine nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsquelle (8) eine Anordnung von Faserlichtleitern, Leuchtstoffröhren
und/oder Leuchtdioden aufweist.
8. Koordinatenmeßmaschine nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsquelle (8) eine Anordnung von Blenden zur Einstellung der
Beleuchtungsstärke aufweist.
9. Koordinatenmeßmaschine nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsquelle (8) eine Steuervorrichtung des Beleuchtungsstromes zur
Einstellung der Beleuchtungsstärke aufweist.
10. Verfahren zur optischen Vermessung eines Meßobjekts (4) mit Durchlicht
beleuchtung, bei dem das Meßobjekt (4) auf einer Auflage (3) aus durchsichtigem
Material angeordnet wird, eine Beleuchtungsquelle (8) auf einer Seite der Auflage das
Meßobjekt anstrahlt und eine optische Meßeinheit (9) auf der anderen Seite der Auflage
das Meßsignal erfaßt,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsquelle (8) gleichzeitig den gesamten Meßbereich ausleuchtet.
11. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich der Meßbereich nur in einer Richtung (x-Richtung) erstreckt und die optische
Meßeinheit (9) in einer Ebene parallel zur Auflage (3) in der gleichen Richtung
(x-Richtung) positioniert wird.
12. Verfahren nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß sich der Meßbereich in beide Richtungen einer Ebene (x-y-Ebene) erstreckt und die
optische Meßeinheit (9) in einer Ebene parallel zur Auflage (3) in beide Richtungen
(x-y-Ebene) positioniert wird.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 12,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Beleuchtungsstärke durch Steuerung des Beleuchtungsstromes, durch Blenden
oder Blendensysteme, durch Steuerung der Belichtungszeit der optischen Meßeinheit
(9) und/oder durch Filter eingestellt wird.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 bis 13,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Meßobjekt (4) von der Beleuchtungsquelle (8) diffus oder gerichtet beleuchtet
wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998105040 DE19805040A1 (de) | 1998-02-09 | 1998-02-09 | Durchlichtbeleuchtung für Koordinatenmeßmaschinen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE1998105040 DE19805040A1 (de) | 1998-02-09 | 1998-02-09 | Durchlichtbeleuchtung für Koordinatenmeßmaschinen |
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Publication Number | Publication Date |
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DE19805040A1 true DE19805040A1 (de) | 1999-08-12 |
Family
ID=7857046
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998105040 Ceased DE19805040A1 (de) | 1998-02-09 | 1998-02-09 | Durchlichtbeleuchtung für Koordinatenmeßmaschinen |
Country Status (1)
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|
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