DE19749953A1 - Verfahren und Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von Baugruppen - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von BaugruppenInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine
Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von Baugruppen,
insbesondere von elektronischen Baugruppen in
Oberflächenmontagetechnik (SMD-Technik) wie
BGA-Komponenten (Ball Grid Array-Komponenten) auf
Kontaktflächen von Leiterplatten, Substraten oder
dgl., gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Durch die hohen Packungsdichten der Baugruppen und
durch die immer kleiner werdenden Rastermaße der
Kontaktflächen auf den Leiterplatten werden immer
höhere Anforderungen an das zu verwendende Plazier
system in Bezug auf Genauigkeit, Handhabung und
Zuverlässigkeit sowie Kontrolle gestellt, um
zuverlässige Lötverbindungen zwischen Bauteil und
Platine zu gewährleisten.
Es sind Plaziersysteme zur Positionierung von hoch
poligen Bauelementen und dgl. unter Einsatz von opti
schen Systemen bekannt.
Es ist bekannt, durch optische Überlagerung der Bild
ebenen mittels Strahlteiler gleichzeitig die Unter
seite des Bauteils und die Oberseite der Platine auf
einem Monitor darzustellen (Prospekt der Firma OK
Industries Deutschland GmbH : "BGA und Fine-Pitch
Plazier- & Reparatursysteme", BGA-96 (01.04.1996)).
Die Verwendung einer hochauflösenden Kamera, die
Verwendung von Strahlteilern zur gleichzeitigen
Betrachtung gegenüberliegender Bauteil- und
Platinen-Ecken sowie die Einstellung der Platinen auf
einem Koordinatentisch bedeuten einen hohen geräte
technischen Aufwand, der mit hohen Kosten verbunden
ist und in einigen Bereichen, zum Beispiel beim
Laboreinsatz, oft nicht gerechtfertigt ist.
Es ist ferner vorgeschlagen worden, zur präzisen
Plazierung von hochpoligen SMD-Schaltkreisen auf
Leiterplatten und anderen Schaltungsträgern
Strahlteiler-Prismen und ein Stereo-Mikroskop sowie
Positioniertische zu verwenden, wobei anstelle eines
Mikroskops auch eine Videokamera einsetzbar ist
(Prospekt der Firma FINETECH electronic:
"Fineplacer"- alle SMD-IC mit LEAD TO PAD MATCHING
exakt placieren, einlöten und auslöten").
Nachteilig ist auch hier die kostspielige Verwendung
von optischen Komponenten wie Strahlteiler und
Mikroskop und von Koordinatentischen.
Aus der DE 195 24 475 C1 ist eine optische
Zentriervorrichtung zum lagegenauen Bestücken eines
Bauelementes in Oberflächenmontagetechnik bekannt, bei
der zur gleichzeitigen Darstellung der beiden
Verbindungsflächen ein teildurchlässiger Spiegel in
der optischen Einrichtung angeordnet ist.
Der Strahlengang zwischen der Beobachtungseinrichtung
und dem teildurchlässigen Spiegel ist dabei ein zur
optischen Achse der Beobachtungseinrichtung paralleler
Strahlengang. Zwischen dem Spiegel und der
Verbindungsfläche des einen Teils ist ein erstes
Objektiv angeordnet, welches den Strahlengang auf
diese Verbindungsfläche fokussiert. Zwischen dem
Spiegel und der Verbindungsfläche des anderen Teils
ist ein zweites Objektiv angeordnet, das den
Strahlengang auf dessen Verbindungsfläche fokussiert.
Die beiden Objektive und der Spiegel sind justiert an
Haltern befestigt. Vor dem Verbinden beider Teile
werden die Objektive aus dem Schwenkbereich des
Hebelarms mittels einer Bewegungseinrichtung bewegt.
Nachteilig ist auch hier, daß aufwendige optische
Komponenten eingesetzt werden müssen.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein
Verfahren und eine Vorrichtung zum Plazieren von
Baugruppen der gattungsgemäßen Art zu schaffen, mit
welchem das präzise Plazieren von Baugruppen auf
Schaltungsträgern unter Vermeidung von aufwendigen
Optikkomponenten wie Spiegel, Strahlteiler, Mikroskope
und von Koordinatentischen wesentlich kostengünstiger
gewährleistet wird.
Zur Lösung dieser Aufgabe sieht die Erfindung die
Merkmale der Ansprüche 1 und 10 vor.
Es wird durch die Verwendung von vorzugsweise zwei
Kamerasystemen zu je zwei Kameras und durch die
Einführung der Wegstrecke "Versatz" die lagegenaue
Positionierung von Chip und Landefläche auf der
Leiterplatte ohne die Verwendung von aufwendigen
Optikkomponenten wie Prismen, Strahlenteiler oder dgl.
durch die Abbildung der Anschlüsse auf dem Chip und
der Leiterplatte auf einem Bildschirm gewährleistet.
Die verwendeten modernen vier CCD-Kameras erlauben
eine hohe Bildauflösung und genaue Positionierung
sowie die Überwachung der Lead-to-Pad-Justage auf dem
Bildschirm eines handelsüblichen Fernsehgerätes.
Zur Lagekorrektur des Bauelementes wird gleichzeitig
der Chip und das untere und obere Kamerasystem zur
Leiterplattenkontaktfläche hin, auf die der Chip
plaziert werden soll, verfahren. Dadurch und durch die
Möglichkeit, die zwei Kamerasysteme zueinander zu
verfahren, wird das Bauvolumen der Vorrichtung
wesentlich verringert. Gleichzeitig wird eine höhere
Flexibilität bei der Bauelementegeometrie erreicht,
die mit der Vorrichtung nach der Erfindung
positioniert werden können. Es können Bauelemente mit
einem breiten Dimensionierungsspektrum verarbeitet
werden, zum Beispiel BGA-Bauteile ebenso wie
Bauelemente von beispielsweise bis zu 50 mm
Kantenlänge. Die Vorrichtung kann problemlos an die
Leiterplattengröße angepaßt werden.
Durch die vorzugsweise pneumatische Steuerung der
vertikalen Bewegungsachse (z-Achse) kann die Aufsetz
kraft auf die Verbindungsfläche/Kontaktfläche eines
Schaltungsträgers jedem Bauelement angepaßt werden.
Alle linearen Achsen werden im wesentlichen
vorzugsweise pneumatisch verfahren, so daß einer
breiten Anforderungspalette entsprochen werden kann.
Durch den Einsatz einer speicherprogrammierbaren
Steuerung ist eine individuelle Steuerung möglich. Die
Anlage ist als manuelle Lötvorrichtung für
unterschiedliche Arten von elektronischen Bauelementen
oder als vollautomatische Lötstation einsetzbar.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung
ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Die Erfindung ist nachfolgend anhand einer in den
Zeichnungen näher dargestellten Ausführungsform einer
Vorrichtung zum Plazieren von BGA-Komponenten auf
einer Leiterplatte näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung der
Vorderansicht der Vorrichtung zum
Plazieren von Bauteilen,
Fig. 1a die schematische Teilansicht der hori
zontalen Positioniereinheit 2 auf der
x-Achse nach Fig. 1,
Fig. 1b die schematische Teilansicht ergänzt
durch die weitere horizontale Positionier
einheit 4 entsprechend der Darstellung in
den Fig. 1, 1a,
Fig. 1c die Teilansicht der Justiereinrichtung
entsprechend der Darstellung in der Fig. 1,
Fig. 1d die schematische Draufsicht auf die verti
kale Positioniereinheit 3 auf der y-Achse,
Fig. 2 eine schematische Draufsicht auf die
Abbildung der Chip- und Leiterplatten
anschlüsse auf dem Bildschirm und
Fig. 3 die schematische Darstellung der
Bildverarbeitung der Kamerasysteme.
In der Fig. 1 sind alle Bewegungen, einschließlich der
Bewegung auf der z-Achse, der Phi-Achse und der
y-Achse, in einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zum
lagenauen Plazieren eines Bauelementes 16 auf der
Landefläche einer Leiterplatte 10, dargestellt.
Entsprechend der Darstellung in der Fig. 1 besteht die
Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von Chips 16 im
wesentlichen aus einem festen Gestell 1, welches aus
zwei vertikalen Tragsäulen 23, 24 und aus daran starr
befestigten zwei Querträgern 25, 26 besteht. Mit einem
Pfeil 45 sind gekennzeichnet die Bewegungsrichtung der
horizontalen Positioniereinheiten 2, 4 auf der x-Achse
und mit einem Pfeil 46 sind gekennzeichnet die
Bewegungsrichtungen auf der y-Achse sowie der z-Achse
5 mit der Phi-Drehachse 6.
In der Fig. 1a ist das Gestell 1 mit der horizontalen
Positioniereinheit 2 auf der x-Achse gesondert darge
stellt, um die Bewegungsabläufe und die nach der Er
findung eingeführte Wegstrecke "Versatz" 44 deutlicher
machen zu können. Die Wegstrecke "Versatz" 44 ist
danach der Mittenabstand der beiden Kamerasysteme 7,8.
Durch die Einführung der Wegstrecke "Versatz" 44 ist
es möglich, gleichzeitig die Unterseite des Chips 16
und die Oberseite der Leiterplatte 10 (Landefläche)
ohne Behinderung des Strahlengangs der beiden
Kamerasysteme 7, 8 abzubilden und die Anschlüsse durch
optische Kontrolle der Bewegungsabläufe zur
Deckungsgleichheit zu führen. Da diese Wegstrecke
"Versatz" 44 definiert ist, kann sie nach Erreichen
der Deckungsgleichheit wieder zurückgenommen werden,
um das Bauelement 16 lagegenau auf die Leiterplatte 10
aufzusetzen (Fig. 1b).
Die horizontale Positioniereinheit 2 (x-Achse) wird
aus in sich starr miteinander verbundenen Führungs
teilen 27, 28, 29, 30, zum Beispiel in Gestalt von
prismenartigen Profilen, die über Schlitten 31 bis 34
geführt werden, aus dem Bauteilgreifer 11 mit
Heizdüse, aus dem optischen System, bestehend aus
einem System von vier Kameras 7,8, einer beheizbaren
Bauteilentnahmestation 12, aus Hebelsystemen 14 zum
Verfahren der Leiterplatten 10 (Fig. 1) und des
horizontalen Positioniersystems 2, aus einer nicht
dargestellten Lötvorrichtung mit einem Temperatur
meßfühler, gebildet.
Die Fig. 1b stellt die überlagerte Bewegung auf der
x-Achse dar, um den Chip 16 nach der Justage der
Vorrichtung (Fig. 1c) über die Leiterplatte 10 zu
positionieren.
Entsprechend der Darstellung in der Fig. 1b ist der
horizontalen Positioniereinheit 2 (x-Achse) eine
unabhängige zweite horizontale Positioniereinheit 4
überlagert, die aus dem Schlitten 31, dem oberen
Kamerasystem 8 und aus den zugehörigen
Führungselementen gebildet ist.
Wenn die horizontale Positioniereinheit 2 in eine
Position gefahren wurde, die das untere und das obere
Kamerasystem 7, 8 miteinander in Deckung gebracht hat
(Fig. 1c), dann wird die horizontale Führungseinheit 2
am Gestell 1 festgeklemmt. Die horizontale
Positioniereinheit 4 wird nun darüberhinaus bis zu
einer definierten Wegstrecke verfahren, die als
"Versatz" 44 definiert ist (Fig. 1a, 1b). Diese
Wegstrecke "Versatz" 44 wird durch die Dimensionierung
der Zylinder 15 festgelegt und bringt das zu
plazierende Bauelement 16 deckungsgleich zu der
Landefläche auf der Leiterplatte 10.
Entsprechend der Darstellung in der Fig. 1 ist an der
horizontalen Positioniereinheit 4 eine vertikale
Bewegungsachse 5 (z-Achse, Pfeil 46), befestigt, an
welcher der Bauteilgreifer 11 mit Heizdüse befestigt
und verfahren werden kann. Um diese vertikale
Bewegungsachse 5 kann der Bauteilgreifer 11 mit
Heizdüse gedreht werden, Phi-Achse 6 (Pfeil 46).
Die Fig. 1d stellt die y-Achse in der Draufsicht dar.
Der Pfeil 41 kennzeichnet die Bewegungsrichtung für
die Leiterplatte 10 und für den Bauteilgreifer 11. Der
Pfeil 42 kennzeichnet die Bewegungsrichtung des oberen
Kamerapaares 8 und der Pfeil 43 des unteren
Kamerapaares 7.
Die vertikale Bewegungsachse (y-Achse) wird
entsprechend der Darstellung in der Fig. 1d) durch
eine Positioniereinheit 3 gebildet, die sich um 90°
zur horizontalen Positioniereinheit 2 bewegt und zum
Positionieren der Leiterplatte 10 zum Bauelement 16
dient. Die Positioniereinheit 3 besteht im
wesentlichen aus prismenartigen Führungsprofilen 35,36
mit Schlitzen zum Führen der Leiterplatte 10 und aus
der Leiterplatte 10 (Fig. 1d).
Die Oberseite der Leiterplatte 10 stellt die exakte
Mittelposition des Gestells 1 bezüglich der vertikalen
Ausdehnung des Gestells 1 dar. Das obere Kamerapaar 8
bildet die Leiterplatten-Anschlüsse 18 von oben im
selben Abstand ab wie das untere Kamerapaar 7 die
Chip-Anschlüsse 17 von unten. Damit ist die
Vergrößerung für alle Kameras gleich. Vorzugsweise ist
eine Vergrößerung von 1 : 20 gewählt.
Im folgenden wird das lagegenaue Plazieren des
SMD-Chips 16 auf der Leiterplatte 10 beschrieben.
Vor der Inbetriebnahme der Vorrichtung ist eine
einmalige Lagekorrektur der Kameras bzw. deren
Lagejustierung erforderlich (Fig. 1c).
Die Fig. 1c stellt die überlagerte Bewegung der
Positioniereinheit 2 auf der x-Achse und des unteren
Kamerasystems 7 zum Justieren der Kamerasysteme 7, 8
dar. Der Pfeil 45 zeigt die Bewegungsrichtung auf der
x-Achse.
Zur Justierung wird das untere Kamerapaar 7 um den
definierten Abstand "Versatz" 44 mit einem Teil 2a
der horizontalen Positioniereinheit 2 verfahren,
vorzugsweise mit pneumatischen Mitteln (Fig. 1c).
Über eine nicht dargestellte Leiterplattenmaske mit
exakt definierten Löchern werden das obere und das
untere Kamerapaar 8, 7 zueinander in Deckung gebracht
(Fig. 1c). Die Kontrolle erfolgt über den Bildschirm 9.
Anschließend wird das untere Kamerapaar 7 zurückge
fahren und auf die Abbildung der Chip-Anschlüsse 17
eingestellt (Fig. 1, 1a, 1b).
Die beiden Kamerapaare 7, 8, vorzugsweise CCD-Kameras,
sind jeweils um 45° zur Bewegungsrichtung der
horizontalen Positioniereinheit 2 (x-Achse) geneigt
angebracht, um die Eckpunkte der Bauelemente-Diago
nalen und der Leiterplatten-Diagonalen abbilden zu
können. Die Kameras eines Systems 7, 8 lassen sich
zueinander verfahren, um unterschiedliche Größen von
Chips 16 betrachten zu können. Das Kamerapaar 7
betrachtet die Eckdiagonalen des Chips 16 und das
Kamerapaar 8 betrachtet die Eckdiagonalen der
Leiterplatte 10 (Fig. 2, 1d). Dazu ist jeweils eine
Diagonalenfläche in jeder Kamera abgedeckt (Fig. 3).
Alle vier Kamerabilder werden zeitgleich überlagert
auf einem Bildschirm 9 dargestellt. Der Bildschirm 9
ist in seiner Diagonalen 21 geteilt (Fig. 2, 3). Durch
die Abdeckung jeweils einer Kameradiagonalenfläche in
jeder Kamera werden in einer Bildschirm-Diagona
lenfläche 22 jeweils eine Chip-Anschlußecke 19 mit der
dazugehörigen Leiterplatten-Anschlußecke 20
abgebildet. Dadurch ist eine Lagekorrektur des Chips
16 und der Leiterplatte 10 durch Betrachtung am
Bildschirm 9 möglich. Es besteht Deckungsgleichheit,
wenn entsprechend der Fig. 2 die Lotkugeln 37 des
Bauelements 16 konzentrisch in den Kontaktflächen 38
auf der Leiterplatte 10 übereinstimmen (schwarze
Punkte liegen in den Kreisen konzentrisch).
Es können jeweils zwei Kameras eines Systems 7, 8 mit
einer Farbe (RGB-Signal) gespeist werden, so daß der
Chip 16 z. B. als rote Fläche und die Leiterplatte 10
als grüne oder blaue Fläche abgebildet werden (Fig. 3).
Entsprechend der Darstellung in der Fig. 3 erfolgt die
Bildverarbeitung der Kameras der Systeme 7, 8 zur
Kontrasterhöhung der Abbildung der Chip- und der
Leiterplattenanschlüsse 17, 18 auf dem Bildschirm 9
derart, daß das Bildsignal von einem der beiden
Kamerasysteme 7, 8 auf den RGB-Eingang des
Fernsehgerätes "rot" und vom jeweils anderen
Kamerasystem 7,8 auf den RGB-Eingang "grün" (oder
"blau") gegeben wird. So wird zum Beispiel eine
Diagonalenfläche 22 des Bildschirms 9
"rot" für das Abbild aus dem Kamerasystem 7 ange
steuert (Chipanschlüsse) und die andere Diagonalen
fläche 39 des Bildschirms 9 "grün" für das Abbild aus
dem Kamerasystem 8 (Leiterplattenanschlüsse).
Zur Ausblendung nichtbenötigter Informationen ist in
den Kameras jeweils eine Bilddiagonalenfläche
abgedeckt, so daß zum Beispiel die Kamera a des
Systems 7 nur die linke Ecke der Chipunterseite und
die Kamera b nur die rechte Ecke der Chipunterseite
abbildet. Die Abbildungen der beiden Ecken werden in
einer internen Verarbeitungseinheit 40 zu einem Bild
zusammengeführt und auf dem Bildschirm 9 sichtbar
gemacht. In gleicher Weise werden die Ecken der
Leiterplatte 10 abgebildet und verarbeitet und auf dem
Bildschirm zusammengeführt und mit den Abbildungen des
unteren Kamerasystems 7 überlagert, so daß die
Deckungsgleichheit zwischen den Chipanschlüssen und
den Leiterplattenanschlüssen optisch sichtbar wird.
Zum lagegenauen Plazieren des Chips 16 entnimmt der
Bauteilgreifer 11, der vorzugsweise aus einem
bekannten Saugelement mit einer Heizdüse gebildet ist,
aus der beheizbaren Bauteilentnahmestation 12 einen
Chip 16, indem er sich in der z-Achse 5 (Fig. 1)
bewegt. Die Bauteilentnahmestation 12 kann zwischen
zwei festen Positionen, 90° gedreht zur Bewegungs
richtung der horizontalen Positioniereinheit 2 aus dem
Strahlengang des unteren Kamerasystems 7 heraus,
verfahren werden (entsprechend der Darstellung in der
Fig. 1 in die Zeichenblattebene hinein). Von der
Ausgangsposition außerhalb des Strahlengangs des
Kamerasystems 7 wird die Bauteilentnahmestation 12 zu
einer nicht dargestellten Chipaufnahme unterhalb des
Bauteilgreifers 11 mit Heizdüse bewegt. Anschließend
bewegt sich die Bauteilentnahmestation 12 wieder aus
dem Strahlengang des unteren Kamerapaares 7 heraus.
Das untere Kamerapaar 7 bildet wieder die Chip-An
schlußseite 17 ab.
Dann wird die Leiterplatte 10 in die aus den
Führungsprofilen 35, 36 gebildete Halterung eingelegt
und durch eine nicht dargestellte Unterheizung
vorgewärmt.
Zuerst erfolgt eine Grobjustage der Leiterplatte 10 in
x-, y- und Phi-Richtung. Nachdem die Eckdiagonalen in
eine annähernd genaue Position gebracht wurden,
erfolgt die Feinjustage über das pneumatische
Hebelsystem 14 in x- und y-Richtung. Der Bediener
sieht nun auf dem Bildschirm 9 die jeweiligen Ecken
der Leiterplatte 10 und des Chips 16, welche durch die
Lagekorrektur der Leiterplatte 10 in y-Richtung und
des Chips 16 in x- und Phi-Richtung in Deckung zu
bringen sind. Nachdem diese Deckung der Ecken erreicht
ist, wird die horizontale Positioniereinheit 2
(x-Achse) am Gestell 1 festgeklemmt, vorzugsweise
pneumatisch, und das obere Kamerapaar 8 verfährt mit
dem Bauteilgreifer 11 als horizontale Positionier
einheit 4 um den Weg "Versatz" 44. Damit steht der
Bauteilgreifer 11 exakt über der Leiterplatte 10. Die
Chip-Anschlüsse 17 und die Leiterplatten-Anschlüsse 18
liegen deckungsgleich übereinander (Fig. 2, 3). Durch
Verfahren auf der z-Achse 5 setzt der Chip 16 auf die
Leiterplatte 10 auf, und der Lötvorgang wird
ausgelöst. Vorher wurden die Vorheiztemperatur und
deren Zeitdauer, die Nachheiztemperatur und deren
Zeitdauer, Volumenstrom und Druck, vorzugsweise von
Luft oder von Stickstoff, eingestellt.
Das Aufschmelzen des Lotes des Chips 16 wird von der
Anlage erfaßt. Nach dem Aufschmelzen des Lotes wird
der Chip 16 vom Bauteilgreifer 11, beispielsweise
durch Abschalten des Vakuums, nicht mehr gehalten. Der
Chip 16 liegt frei auf der Leiterplatte 10. Der
Temperaturmeßfühler mißt die Temperatur auf der
Leiterplatte 10, wodurch die Überwachung während des
Lötvorgangs erfolgt.
Die Steuerung der Anlage (Vorrichtung) erfolgt
vorzugsweise über eine speicherprogrammierbare
Steuerung (SPS). Nach Abschluß des Lötvorgangs fährt
der Bauteilgreifer 11 in die Ausgangsposition zurück,
d. h., er fährt nach oben und um die Wegstrecke
"Versatz" 44 zurück.
Die Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von
Baugruppen nach der Erfindung erfüllt alle
Anforderungen an einen BGA-Bestückungsarbeitsplatz,
insbesondere wenn die Vorrichtung mit der Vorrichtung
zur Erfassung des Aufschmelzpunktes beim Weichlöten
von BGA-Bauelementen kombiniert wird, wie es in einer
parallelen Patentanmeldung beschrieben ist.
Durch die regelbare Unterheizung werden die unter dem
Bauelementegehäuse liegenden Lötstellen schonend und
reproduzierbar erwärmt und mit den schonend erwärmten
Kontaktflächen der Leiterplatte verbunden. Die
Erfassung des Aufschmelzpunktes erfolgt reproduzierbar
mit mechanischen Mitteln durch Messung.
1
Gestell
2
horizontale Positioniereinheit (x-Achse)
2
a Teil des horizontalen Positioniersystems
2
3
Positioniereinheit (y-Achse)
4
horizontale Positioniereinheit
5
vertikale Bewegungsachse (z-Achse)
6
Phi-Achse (Drehachse)
7
unteres Kamerapaar
8
oberes Kamerapaar
9
Bildschirm
10
Leiterplatte
11
Bauteilgreifer mit Heizdüse
12
Bauteilentnahmestation
13
14
Hebelsystem
15
Zylinder
16
Bauteil/Chip
17
Bauteilanschlüsse
18
Leiterplatten-Anschlüsse
19
20
21
Diagonale
22
Bildschirm-Diagonalenfläche
23
Tragsäule
24
Tragsäule
25
Querträger
26
Querträger
27
Führungsteil
28
Führungsteil
29
Führungsteil
30
Führungsteil
31
Schlitten
32
Schlitten
33
Schlitten
34
Schlitten
35
Führungsprofil
36
Führungsprofil
37
Lotkugel
38
Kontaktfläche
39
Bildschirm-Diagonalenfläche
40
Verarbeitungseinheit
41
Pfeil
42
Pfeil
43
Pfeil
44
Versatz
45
Pfeil
46
Pfeil
a, b Kamera von
a, b Kamera von
7
c, d Kamera von
8
Claims (11)
1. Verfahren zum lagegenauen Plazieren von Baugruppen,
insbesondere von elektronischen Baugruppen in
Oberflächenmontagetechnik wie BGA-Komponenten, auf
Kontaktflächen von Leiterplatten, Substraten, mit
dem eine optische Überlagerung der Bilder der
Unterseite der zu plazierenden Baugruppe und der
Verbindungsfläche (Kontaktfläche) auf einer
Leiterplatte, einem Substrat unter Verwendung von
Kameras und eines Bildschirms erfolgt,
dadurch gekennzeichnet, daß
durch mindestens zwei Kamerasysteme (7, 8) mit
jeweils mindestens zwei Kameras aus einem
definierten gleichen Abstand gleichzeitig die
Unterseite des zu plazierenden Bauelements (16) und
die Kontaktfläche auf der Leiterplatte (10)
abgebildet und beide Abbilungen auf einem
Bildschirm (9) zeitgleich überlagert dargestellt
werden, wobei die Positionierung der Leiterplatte
(10) in y-Richtung und die Positionierung des
Bauelements (16) in x- und Phi-Richtung bis zur
exakten Deckungsgleichheit vorgenommen werden und
wobei das Bauelement (16) vor dem Aufsetzen auf die
Leiterplatte (10) um eine vorgegebene Wegstrecke
(Versatz) verfahren wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß mittels eines Bauelementegreifers
(11) aus einer Bauelemente-Entnahmestation (12)
das Bauelement (16) entnommen und mit seiner
Unterseite in den Strahlengang des unteren
Kamerasystems (7) gebracht wird, daß die Oberfläche
der Leiterplatte (10) in den Strahlengang des
oberen Kamerasystems (8) gebracht wird und eine
Grobjustierung und danach eine Feinjustage von
Bauelement (16) und Leiterplatte (10) vorgenommen
werden, so daß die Eckdiagonalen von Bauelement
(16) und Leiterplatte (10) sich in Deckung
befinden, daß nach der Justage des oberen
Kamerasystems (8) mit dem Bauelementegreifer (11)
in horizontaler Bewegungsrichtung (x1-Achse 4) um
die definierte Wegstrecke (Versatz) verfahren wird,
so daß der Bauelementegreifer (11) exakt über der
Leiterplatte (10) steht und die Bauelemente-An
schlüsse (17) und die Leiterplatten-Anschlüsse (18)
deckungsgleich übereinanderliegen, daß durch
Verfahren auf einer vertikalen Bewegungsachse
(z-Achse 5) das Bauelement (16) auf die Oberfläche
der Leiterplatte (10) abgesetzt wird.
3. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch
gekennzeichnet, daß zur Lagekorrektur des
Bauelementes (16) gleichzeitig das Bauelement (16)
und das untere und obere Kamerasystem (7, 8)
zur Kontaktfläche auf der Leiterplatte (10), auf
die das Bauelement (16) plaziert werden soll,
verfahren wird.
4. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die nichtbenötigten
Informationen durch eine Diagonalenabdeckung in den
Kameras (7, 8) ausgeblendet werden.
5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß die Bilder der Kamerasysteme
(7,8) zu einem auf dem Bildschirm (9) in der
Diagonalen geteilten Bild verarbeitet werden.
6. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß die Bildsignale eines
Kamerasystems (7, 8) einem Farbsignaleingang des
RGB-Eingangs des Fernsehgerätes zugeordnet werden,
so daß die Diagonalenflächen des Bildschirmbildes
jeweils unterschiedliche Farben aufweisen.
7. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß die jeweils zwei Kameras eines
Kamerasystems (7, 8) zueinander verfahren werden.
8. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß die Aufsetzkraft des
Bauelementes (16) auf die Leiterplatte (10) durch
Steuerung der vertikalen Bewegungsachse (z-Achse 5)
regelbar ist.
9. Verfahren nach den Ansprüchen 1 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß eine speicherprogrammierbare
Steuerung eingesetzt wird, um alle Bewegungsabläufe
zu steuern.
10. Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von
Baugruppen, insbesondere von elektronischen
Baugruppen in Oberflächenmontagetechnik wie
BGA-Komponenten, auf Kontaktflächen von
Leiterplatten, Substraten oder dgl., mit dem eine
optische Überlagerung der Bilder der Unterseite der
zu plazierenden Baugruppe und der Verbindungsfläche
(Kontaktfläche) auf einer Leiterplatte unter
Verwendung von Kameras und eines Bildschirms
erfolgt, zur Durchführung des Verfahrens nach den
Ansprüchen 1 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß an einem festen Gestell
(1) eine horizontale Bewegungsachse (x-Achse 2;
horizontale Positioniereinheit 2) und eine verti
kale Bewegungsachse (y-Achse 3; Positioniereinheit
3) angeordnet sind, wobei der horizontalen Bewe
gungsachse (x-Achse 2) eine zweite unabhängige
horizontale Bewegungsachse (x1-Achse 4; horizontale
Positioniereinheit 4) überlagert ist, an der eine
weitere vertikale Bewegungsachse (z-Achse 5) be
festigt ist, mit der eine Drehachse (6) verbunden
ist, daß an der horizontalen Bewegungsachse
(x-Achse 2) jeweils um 45° zur horizontalen Bewe
gungsachse (x-Achse 2) geneigt ein unteres Kamera
system (7) direkt unter einem Bauteilgreifer (11)
für die Bauelemente (16) und ein oberes Kamerasy
stem (8) oberhalb einer Leiterplatten-Auflage (10)
in einem definierten Abstand (Versatz) zum Bauteil
greifer (11) zueinander verfahrbar angebracht sind,
daß eine Bauelemente-Entnahmestation (12) mit der
weiteren vertikalen Bewegungsachse (z-Achse 5) in
zwei festen Positionen verfahrbar verbunden ist,
daß zur Bewegung und Justage der Kamerasysteme (7,
8), der Entnahmestation (12), des Bauelementegrei
fers (11) ein Hebelsystem (14) vorgesehen ist.
11. Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekenn
zeichnet, daß die zweite horizontale Bewegungsachse
(x1-Achse 4) zeitweise ortsfest mit der horizon
talen Bewegungsachse (x-Achse 2) verbunden ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19749953A DE19749953A1 (de) | 1997-11-03 | 1997-11-03 | Verfahren und Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von Baugruppen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE19749953A DE19749953A1 (de) | 1997-11-03 | 1997-11-03 | Verfahren und Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von Baugruppen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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Family
ID=7848376
Family Applications (1)
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DE19749953A Withdrawn DE19749953A1 (de) | 1997-11-03 | 1997-11-03 | Verfahren und Vorrichtung zum lagegenauen Plazieren von Baugruppen |
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---|---|
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10009386A1 (de) * | 2000-02-29 | 2001-09-13 | Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh | Magazin, Montagevorrichtung für Mikrobauteile und Verfahren zum Montieren von Mikrobauteilen |
DE10016017A1 (de) * | 2000-03-31 | 2001-10-18 | Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh | Verfahren zur Montage von magazinierten Mikrobauteilen |
WO2014174017A1 (de) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | Finetech Gmbh & Co. Kg | Platziervorrichtung und platzierverfahren |
DE102015115065A1 (de) * | 2015-09-08 | 2017-03-09 | Asm Assembly Systems Gmbh & Co. Kg | Teachen von Bestückpositionen |
-
1997
- 1997-11-03 DE DE19749953A patent/DE19749953A1/de not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10009386A1 (de) * | 2000-02-29 | 2001-09-13 | Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh | Magazin, Montagevorrichtung für Mikrobauteile und Verfahren zum Montieren von Mikrobauteilen |
DE10009386B4 (de) * | 2000-02-29 | 2005-09-08 | INSTITUT FüR MIKROTECHNIK MAINZ GMBH | Magazin, Montagevorrichtung für Mikrobauteile und Verfahren zum Montieren von Mikrobauteilen |
DE10016017A1 (de) * | 2000-03-31 | 2001-10-18 | Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh | Verfahren zur Montage von magazinierten Mikrobauteilen |
DE10016017C2 (de) * | 2000-03-31 | 2002-10-17 | Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh | Verfahren und Montagevorrichtung zur Montage von magazinierten Mikrobauteilen |
WO2014174017A1 (de) * | 2013-04-25 | 2014-10-30 | Finetech Gmbh & Co. Kg | Platziervorrichtung und platzierverfahren |
CN105359640A (zh) * | 2013-04-25 | 2016-02-24 | 泛泰有限两合公司 | 安放设备和安放方法 |
US9921552B2 (en) | 2013-04-25 | 2018-03-20 | Finetech Gmbh & Co. Kg | Placement apparatus and placement method |
CN105359640B (zh) * | 2013-04-25 | 2020-07-03 | 泛泰有限两合公司 | 安放设备和安放方法 |
DE102015115065A1 (de) * | 2015-09-08 | 2017-03-09 | Asm Assembly Systems Gmbh & Co. Kg | Teachen von Bestückpositionen |
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