DE19715232A1 - Verfahren zur Bestimmung optischer Wegdifferenzen - Google Patents
Verfahren zur Bestimmung optischer WegdifferenzenInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung optischer
Wegdifferenzen für Anwendungen in der hochpräzisen Längenmeßtechnik,
Positionierung, Lageüberwachung u.ä.
Es ist bekannt hochgenaue optische Wegmessungen, die Erfassung und
Überwachungen von Stell- und Positioniervorgängen etc. mit
interferometrischen Methoden zu realisieren (z. B. Klein, Furtak: "Optik",
Springer Verlag, 1988). Dazu erzeugt man mittels Strahlteilung zwei
räumlich getrennte, kohärente Teilstrahlen (Meß- und Referenzstrahl), die
nach Passieren eines bestimmten optischen Weges wieder zusammengeführt
und zur Referenz gebracht werden. Aus den durch die Zusammenführung der
Teilstrahlen entstehenden Intensitätsverteilungen können Rückschlüsse auf
die optischen und damit auch auf die geometrischen Wegdifferenzen der
Teilstrahlen gezogen werden. Man nutzt dabei die hohe Kohärenz der
verfügbaren Laserlichtquellen aus, um große Wegdifferenzen zwischen
Meß- und Referenzstrahl detektieren zu können. Diese Meßverfahren erreichen
derzeit die höchsten Genauigkeiten.
Die interreferenzoptischen Meßverfahren besitzen allerdings den Nachteil,
daß für eine hochgenaue Analyse des entstehenden Interferenzmusters
entweder ein Detektor mit hoher Ortsauflösung oder eine dynamische
Messung erforderlich sind. Die erste Bedingung ist nur mit sehr aufwendigen
und kostenintensiven Detektorsystemen erfüllbar. Die Möglichkeit einer
dynamischen Messung läßt sich hingegen nur schwer mit den auftretenden
Forderungen nach Echtzeitanalysen vereinen.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, optische Wegdifferenzen auf möglichst
einfache Weise und auch unter Echtzeitbedingungen hochgenau messen zu
können.
Erfindungsgemäß wird ein polarisierter Lichtstrahl einer kohärenten
Lichtquelle mit geeigneten Mitteln in zwei vorzugsweise senkrecht
zueinander polarisierte Teilstrahlen aufgespaltet, welche die beiden in ihrer
Differenz zu bestimmenden Wege getrennt durchlaufen und anschließend zu
einem Auswertestrahl zusammengeführt werden. Durch die Detektion des aus
dem durch die Zusammenführung der beiden Teilstrahlen resultierenden
Polarisationszustand dieses Auswertestrahls (z. B. mit Hilfe eines an sich
bekannten Polarimeters) werden Informationen über die Differenzen der
optischen Wege der beiden Teilstrahlen gewonnen. Die beiden senkrecht
zueinander polarisierten Teilstrahlen können zum Zeitpunkt t mathematisch
wie folgt beschrieben werden:
wobei A, B die Amplituden der beiden Teilstrahlen sind, ω die
Winkelfrequenz des Lichtstrahls ist und δ=2π.Δs/λ die
Differenz der
optischen Wege Δs der beiden Teilstrahlen enthält. Durch die
Zusammenführung der beiden Teilstrahlen entsteht eine Welle, die zum
Zeitpunkt t durch
beschrieben werden kann. Das entspricht dem allgemeinen Fall einer
elliptisch polarisierten Welle. Ändern sich die Intensitäten der Teilstrahlen
nicht, so besteht ein direkter Zusammenhang zwischen dem
Polarisationszustand und der Phasenverschiebung δ und damit der optischen
Wegdifferenz Δs. Die erreichbare Genauigkeit hängt dabei davon ab, wie
exakt der Polarisationszustand bestimmt werden kann.
Ein großer Vorteil des Verfahrens besteht darin, daß die Polarisationsanalyse
im Gegensatz zu interferometrischen Verfahren punktuell, d. h. auf einer
Fläche von wenigen µm2, mit sehr hoher Genauigkeit in Echtzeit erfolgen
kann.
In einer speziellen Ausführung der Erfindung wird in den Auswertestrahl, der
sich aus der Zusammenführung der zwei senkrecht zueinander polarisierten
Teilstrahlen vorzugsweiser gleicher Intensität ergibt, ein λ/4-Plättchen
eingefügt, dessen Achsrichtung 45° zu den Polarisationsrichtungen der
beiden Teilstrahlen liegt. Dieses λ/4-Plättchen transformiert den im
allgemeinen elliptischen Polarisationszustand in linear polarisiertes Licht,
wobei die Richtung der Polarisation direkt von der Differenz der optischen
Wege der beiden Teilstrahlen abhängt. Sind die Intensitäten der beiden
Teilstrahlen nicht gleich, so ist der Polarisationszustand nach dem λ/4
elliptisch, wobei die Richtung der Ellipsenhauptachse aber mit der Richtung
der linearen Polarisation im Falle gleicher Intensitäten übereinstimmt.
Ein weiterer Vorteil der Erfindung besteht in der Möglichkeit, die
Polarisationsauswertung nacheinander oder gleichzeitig bei mehreren
Wellenlängen, vorzugsweise bei paralleler Auswertung in einem
kontinuierlich durchstimmbaren Wellenlängenbereich, durchzuführen, wobei
die Auswertung der Teilstrahlen für die einzelnen Wellenlängen mit
bekannten Verfahren der spektrometrischen Polarisationsanalyse erfolgen
kann. Auf diese Art und Weise kann insbesondere der Eindeutigkeitsbereich
der Differenzmessung stark vergrößert werden.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines in der Zeichnung dargestellten
Ausführungsbeispiels näher erläutert werden.
In der Zeichnung ist eine einfache und vorteilhafte Anordnung zur
spektrometrischen Auswertung der optischen Wegstrecken gezeigt.
Eine kohärente Lichtquelle 1 erzeugt einen Lichtstrahl 2 mit einer
Wellenlänge λ, der in einer (durch Pfeile in der Zeichnung angedeuteten)
Polarisationsrichtung 3 unter einem Winkel von 45° bezüglich eines
beliebigen Koordinatensystems linear polarisiert ist und auf einen
Strahlteiler 4 trifft. Durch den Strahlteiler 4 wird der Lichtstrahl 2 in einen
ersten Teilstrahl 5 und in einen zweiten Teilstrahl 6 aufgespaltet. Mit Hilfe
eines Polarisators 7 wird aus dem Teilstrahl 5 linear polarisiertes Licht in
einer (durch Pfeile in der Zeichnung angedeuteten) Polarisationsrichtung 8
von 0° herausgefiltert und an einem Referenzspiegel 9 reflektiert. In gleicher
Weise wird aus dem Teilstrahl 6 durch einen Polarisator 10 linear
polarisiertes Licht in einer (ebenfalls durch Pfeile in der Zeichnung
angedeuteten) Polarisationsrichtung 11 von 90° herausgefiltert und an einem
Meßspiegel 12 reflektiert. Die Polarisationsrichtungen 8, 11 der beiden
Teilstrahlen 5, 6 stehen damit senkrecht aufeinander. Nach Reflexion am
Referenzspiegel 9 bzw. am Meßspiegel 12 werden die Teilstrahlen 5, 6 am
Strahlteiler 4 zu einem gemeinsamen Auswertestrahl 13 wieder
zusammengeführt.
Der Polarisationszustand des resultierenden Auswertestrahls 13 ist im
allgemeinen Fall elliptisch (durch eine Polarisationsrichtung 14 in der
Zeichnung angedeutet), wobei die Elliptizität und die Richtung der Ellipse
abhängig von der Differenz der optischen Wege ist, welche die beiden
Teilstrahlen 5, 6 zurückgelegt haben. Ein λ/4-Plättchen 15 mit jeweils 45°
Achsrichtung zu den Polarisationsrichtungen 8, 11 der Teilstrahlen 5, 6
transformiert das elliptisch polarisierte Licht in eine Strahlung mit (durch
einen Pfeil in der Zeichnung angedeuteter) linearer Polarisationsrichtung 16.
Diese ist ebenfalls von der Differenz der optischen Wege der beiden
Teilstrahlen 5, 6 abhängig und kann mit einem Polarisationsmeßgerät 17
bestimmt werden. Aus der Polarisationsrichtung 16 wird auf die optische
Wegdifferenz Δs gemäß
rückgeschlossen, wobei α der Polarisationswinkel und δ=2π.Δs/λ ist.
Damit läßt sich beispielsweise eine durch Pfeile in der Zeichnung
symbolisierte Verschiebung des Meßspiegels 12 erfassen, da sich in diesem
Fall die Differenz der optischen Wege der Teilstrahlen 5, 6 und damit die
Polarisationsrichtung 16 ändern.
Die Änderung der Brechzahl des Mediums, durch das der Teilstrahl 6 läuft,
führt ebenfalls zu einer Drehung der Polarisationsrichtung 16 nach dem
λ/4-Plättchen 15. Ist das Polarisationsmeßgerät 17 in der Lage, den vollständigen
Polarisationszustand der wieder zusammengeführten Teilstrahlen 5, 6 zu
detektieren, kann das λ/4-Plättchen 15 entfallen. Die Aufspaltung des
Lichtstrahls 2 in die zwei Teilstrahlen 5, 6 mit senkrecht zueinander
stehenden Polarisationskomponenten kann auch mit Hilfe von an sich
bekannten doppelbrechenden Kristallen (z. B. Wollaston-Prisma) erfolgen,
wobei dann die beiden Polarisatoren 7, 10 nicht benötigt werden.
1
Lichtquelle
2
Lichtstrahl
3
,
8
,
11
,
14
,
16
Polarisationsrichtung
4
Strahlteiler
5
,
6
Teilstrahl
7
,
10
Polarisator
9
Referenzspiegel
12
Meßspiegel
13
Auswertestrahl
15
λ/4-Plättchen
17
Polarisationsmeßgerät
λ Wellenlänge des Lichtstrahls
λ Wellenlänge des Lichtstrahls
2
Claims (8)
1. Verfahren zur Bestimmung optischer Wegdifferenzen, bei dem ein
kohärenter Lichtstrahl in zwei räumlich getrennte, Teilstrahlen aufgespaltet
wird, die nach Durchlaufen der in ihrer Differenz zu bestimmenden
Wegstrecken wieder zu einem Auswertestrahl, welcher auf die optische
Wegdifferenz der Teilstrahlen untersucht wird, zusammengeführt werden,
dadurch gekennzeichnet, daß der kohärente Lichtstrahl in zwei die
Wegstrecken durchlaufenden Teilstrahlen unterschiedlicher Polarisation
aufgespaltet wird, daß der aus der Zusammenführung der Teilstrahlen
resultierenden Polarisationszustand des Auswertestrahls gemessen wird und
daß aus dem resultierenden Polarisationszustand des Auswertestrahls über
eine aus der Phasenbeziehung zweier Signale an sich bekannte
Vektorrechnung die optische Wegdifferenz bestimmt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der kohärente
Lichtstrahl in senkrecht zueinander polarisierte Teilstrahlen gleicher
Intensität aufgespaltet wird.
3. Verfahren nach Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß der
resultierende Polarisationszustand des Auswertestrahls mit Hilfe eines
λ/4-Plättchens, dessen Achse um 45° gegenüber den Polarisationsrichtungen der
Teilstrahlen gedreht ist, in einen linearen Polarisationszustand transformiert
wird, dessen Polarisationsrichtung direkt proportional zur optischen
Wegdifferenz der Teilstrahlen ist.
4. Verfahren nach einem oder mehreren der Anspruch 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der kohärente Lichtstrahl nacheinander oder gleichzeitig
für mehrere Wellenlängen in Teilstrahlen unterschiedlicher Polarisation
aufgespaltet wird und daß der resultierende Polarisationszustand des
Auswertestrahls ebenfalls in Abhängigkeit der Wellenlänge ermittelt wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Wellenlänge
in einem kontinuierlichem Wellenlängenbereich durchgestimmt wird.
6. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bestimmung
der optischen Wegdifferenz aus dem resultierenden Polarisationszustand des
Auswertestrahls rechentechnisch erfolgt.
7. Anordnung zur Durchführung des Verfahrens nach einem oder mehreren
der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang (2)
einer kohärenten Lichtquelle (1) ein Strahlteiler (4) mit Polarisatoren (7, 10)
angeordnet ist, wodurch der mit 45° polarisierten Lichtstrahl in zwei
senkrecht zueinander polarisierte Teilstrahlen (5, 6) zum getrennten
Durchlaufen der Wegstrecken aufspaltet, daß Spiegel (9, 12) vorgesehen
sind, welche die Teilstrahlen (5, 6) vorzugsweise über den Strahlteiler (4) zu
einem Auswertestrahl (13) zusammenführen und daß im Auswertestrahl (13)
ein λ/4-Plättchen (15), dessen Achse um 45° gegenüber den
Polarisationsrichtungen der Teilstrahlen (5, 6) gedreht ist, sowie ein
Polarimeter (17) angeordnet sind.
8. Anordnung gemäß Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß anstatt des
Strahlteilers (4) mit den Polarisatoren (7, 10) doppelbrechende Kristalle, z. B.
ein Wollaston-Prisma, eingesetzt werden.
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
DE1997115232 DE19715232B4 (de) | 1997-04-12 | 1997-04-12 | Verfahren zur Bestimmung optischer Wegdifferenzen |
Applications Claiming Priority (1)
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---|---|---|---|
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1997115232 Expired - Fee Related DE19715232B4 (de) | 1997-04-12 | 1997-04-12 | Verfahren zur Bestimmung optischer Wegdifferenzen |
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DE (1) | DE19715232B4 (de) |
-
1997
- 1997-04-12 DE DE1997115232 patent/DE19715232B4/de not_active Expired - Fee Related
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