DE19705574C2 - Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik - Google Patents

Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik

Info

Publication number
DE19705574C2
DE19705574C2 DE19705574A DE19705574A DE19705574C2 DE 19705574 C2 DE19705574 C2 DE 19705574C2 DE 19705574 A DE19705574 A DE 19705574A DE 19705574 A DE19705574 A DE 19705574A DE 19705574 C2 DE19705574 C2 DE 19705574C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
axis
laser
plate
plane
fan
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
DE19705574A
Other languages
English (en)
Other versions
DE19705574A1 (de
Inventor
Volker Krause
Christoph Dr Ullmann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Laserline Gesellschaft fuer Entwicklung und Vertrieb Von Diodenlasern GmbH
Original Assignee
Laserline Gesellschaft fuer Entwicklung und Vertrieb Von Diodenlasern GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Laserline Gesellschaft fuer Entwicklung und Vertrieb Von Diodenlasern GmbH filed Critical Laserline Gesellschaft fuer Entwicklung und Vertrieb Von Diodenlasern GmbH
Priority to DE19705574A priority Critical patent/DE19705574C2/de
Priority to US09/016,342 priority patent/US5986794A/en
Priority to EP98101690A priority patent/EP0863588B1/de
Priority to DE59810118T priority patent/DE59810118D1/de
Publication of DE19705574A1 publication Critical patent/DE19705574A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE19705574C2 publication Critical patent/DE19705574C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/005Optical devices external to the laser cavity, specially adapted for lasers, e.g. for homogenisation of the beam or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/005Optical components external to the laser cavity, specially adapted therefor, e.g. for homogenisation or merging of the beams or for manipulating laser pulses, e.g. pulse shaping
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4012Beam combining, e.g. by the use of fibres, gratings, polarisers, prisms
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/40Arrangement of two or more semiconductor lasers, not provided for in groups H01S5/02 - H01S5/30
    • H01S5/4025Array arrangements, e.g. constituted by discrete laser diodes or laser bar

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Laseroptik gemäß Oberbegriff Patentanspruch 1 sowie auf einen Diodenlaser entsprechend Oberbegriff Patentanspruch 26.
Im Gegensatz zu konventionellen Laserstrahlquellen, die einen Strahldurchmesser von einigen mm bei einer geringen Strahldivergenz im Bereich von wenigen mrad aufweisen, zeichnet sich die Strahlung eines Halbleiter-Diodenlaser (nachstehend auch "Diodenlaser") durch einen stark divergenten Strahl mit einer Divergenz < 1000 mrad aus. Hervorgerufen wird dies von der auf < 1 µm Höhe begrenzten Austrittsschicht, an der ähnlich der Beugung an einer spaltförmigen Öffnung, ein großer Divergenzwinkel erzeugt wird. Da die Ausdehnung der Austrittsöffnung in der Ebene senkrecht und parallel zur aktiven Halbleiterschicht unterschiedlich ist, kommen verschiedene Strahldivergenzen in der Ebene senkrecht und parallel zur aktiven Schicht zustande.
Um eine Leistung von 20-40 W für einen Diodenlaser zu erreichen, werden zahlreiche Laser-Chips auf einem sog. Barren zu einem Laserbauelement zusammengefaßt. Üblicherweise werden hierbei 10-50 einzelne Emittergruppen in einer Reihe in der Ebene parallel zur aktiven Schicht angeordnet. Der resultierende Strahl eines solchen Barrens hat in der Ebene parallel zur aktiven Schicht einen Öffnungswinkel von ca. 10° und einen Strahldurchmesser von ca. 10 mm. Die resultierende Strahlqualität in dieser Ebene ist um ein Vielfaches geringer als die sich ergebende Strahlqualität in der zuvor beschriebenen Ebene senkrecht zur aktiven Schicht. Auch bei einer möglichen zukünftigen Verringerung der Divergenzwinkel von Laser-Cips bleibt das stark unterschiedliche Verhältnis der Strahlqualität senkrecht und parallel zur aktiven Schicht bestehen.
Der Strahl verfügt aufgrund der zuvor beschriebenen Strahlcharakteristik über einen großen Unterschied der Strahlqualität in beiden Richtungen senkrecht und parallel zur aktiven Schicht. Der Begriff der Strahlqualität wird dabei beschrieben durch den M2 Parameter. M2 ist definiert durch den Faktor, mit dem die Strahldivergenz des Diodenlaserstrahles über der Strahldivergenz eines beugungsbegrenzten Strahles gleichen Durchmessers liegt. In dem oben gezeigten Fall verfügt man in der Ebene parallel zur aktiven Schicht über einen Strahldurchmesser, der um den Faktor 10.000 über dem Strahldurchmesser in der senkrechten Ebene liegt. Bei der Strahldivergenz verhält es sich anders, d. h. in der Ebene parallel zur aktiven Schicht wird eine fast 10- fach kleinere Strahldivergenz erreicht. Der M2 Parameter in der Ebene parallel zur aktiven Schicht liegt also um mehrere Größenordnungen über dem M2 Wert in der Ebene senkrecht zur aktiven Schicht.
Ein mögliches Ziel einer Strahlformung ist es, einen Strahl mit nahezu gleichen M2 Werten in beiden Ebenen, d. h. senkrecht und parallel zur aktiven Schicht zu erreichen. Bekannt sind derzeit folgende Verfahren zur Umformung der Strahlgeometrie durch die eine Annäherung der Strahlqualitäten in den beiden Hauptebenen des Strahles erreicht wird.
Mittels eines Faserbündels lassen sich linienförmige Strahlquerschnitte durch Umordnen der Fasern zu einem kreisrunden Bündel zusammenfassen. Solche Verfahren sind z. B. in den US-Patentschriften 5 127 068, 4 763 975, 4 818 062, 5 268 978 sowie 5 258 989 beschrieben.
Daneben besteht die Technik des Strahldrehens, bei dem die Strahlung einzelner Emitter um 90° gedreht wird, um so eine Umordnung vorzunehmen bei der eine Anordnung der Strahlen in Richtung der Achse der besseren Strahlqualität erfolgt. Zu diesem Verfahren sind folgende Anordnungen bekannt: US 5 168 401, EP 0 484 276, DE 44 38 368. Allen Verfahren ist gemein, daß die Strahlung eines Diodenlasers nach dessen Kollimation in der Fast-Axis-Richtung, um 90° gedreht wird um eine Slow-Axis- Kollimation mit einer gemeinsamen Zylinderoptik vorzunehmen. In Abwandlung der genannten Verfahren ist auch eine durchgehende Linienquelle denkbar (z. B. die eines in Fast-Axis-Richtung kollimierten Diodenlasers hoher Belegungsdichte), deren Strahlprofil (Linie) aufgeteilt wird und in umgeordneter Form hinter dem optischen Element vorliegt.
Daneben besteht die Möglichkeit, ohne eine Drehung des Strahles eine Umordnung der Strahlung einzelner Emitter vorzunehmen, wobei z. B. durch den parallelen Versatz (Verschieben) mittels paralleler Spiegel eine Umordnung der Strahlung erreicht wird (WO 95/15510). Eine Anordnung, die sich ebenfalls der Technik des Umordnens bedient, ist in DE 19 50 053 und DE 195 44 488 beschrieben. Hierbei wird die Strahlung eines Diodenlaserbarrens in verschiedene Ebenen abgelenkt und dort einzeln kollimiert.
Die Nachteile des Standes der Technik lassen sich u. a. dahingehend zusammenfassen, daß bei fasergekoppelten Diodenlasern meist ein Strahl mit sehr unterschiedlichen Strahlqualitäten in beiden Achsrichtungen in die Faser eingekoppelt wird. Bei einer kreisrunden Faser bedeutet dies, daß in einer Achsrichtung die mögliche numerische Apertur oder der Faserdurchmesser nicht genutzt wird. Dies führt zu erheblichen Verlusten bei der Leistungsdichte, so daß in der Praxis eine Beschränkung auf ca. 104 W/cm2 erfolgt.
Bei den genannten bekannten Verfahren müssen weiterhin teilweise erhebliche Weglängenunterschiede kompensiert werden. Dies geschieht meist durch Korrekturprismen, die Fehler nur begrenzt ausgleichen können. Vielfachreflexionen stellen weiterhin erhöhte Anforderungen an Justagegenauigkeit, Fertigungstoleranzen sowie Bauteilstabilität (WO 95/15510). Reflektierende Optiken (z. B. aus Kupfer) verfügen über hohe Absorptionswerte.
Bekannt ist eine Laseroptik zum Umformen eines Laserstrahls, der einen linien- oder bandförmigen Querschnitt aufweist, welcher sich in einer ersten Achsrichtung senkrecht zur Strahlachse erstreckt (DE 195 14 625). Zum Umformen des Laserstrahls mit dem linien- oder bandförmigen Querschnitt in einen Laserstrahl mit einem Querschnitt, der in zwei senkrecht zueinander verlaufenden Querschnittsachsen möglichst gleiche Abmessungen aufweist, sind im Strahlengang aufeinander folgend zwei optische Umformelemente angeordnet, von denen ein erstes ein Auffächern des Laserstrahls in mehrere Teilstrahlen bewirkt, die sowohl in der ersten Achsrichtung als auch in einer zweiten Achsrichtung, die senkrecht zur Strahlachse sowie senkrecht zur ersten Achse liegt, gegeneinander versetzt sind. In dem anschließenden zweiten Umformelement erfolgt dann ein Übereinanderschieben der einzelnen Teilstrahlen in der Weise, daß diese parallel zueinander nur noch in der zweiten Achse gegeneinander versetzt sind. Als Umformelemente sind im bekannten Fall beispielsweise von mehreren plattenförmigen Elementen gebildete Treppenstufenspiegel verwendet, die an den Stufen unterschiedlich geneigte Reflektionsflächen bilden, oder aber es werden von dem jeweiligen Laserstrahl durchstrahlte Elemente verwendet, deren Strahleintritts- und/oder Austrittsflächen so ausgeführt sind, daß durch entsprechende Licht-Brechung an diesen Flächen die Auffächerung des Laserstrahls in die parallelen Teilstrahlen bzw. das Übereinanderschieben dieser Teilstrahlen erfolgt. Durch die Verwendung von zumindest an der Strahlaustrittsfläche jeweils unterschiedlich ausgebildeter Platten ist die bekannte Laseroptik sehr aufwendig.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Laseroptik aufzuzeigen, die die vorgenannten Nachteile vermeidet und bei der Möglichkeit einer einfachen und preiswerten Fertigung eine Umformung eines Laserstrahls in der jeweils gewünschten Weise ermöglicht. Zur Lösung dieser Aufgabe ist eine Laseroptik entsprechend dem Patentanspruch 1 ausgebildet. Ein Diodenlaser ist entsprechend dem Patentanspruch 26 ausgebildet.
Unter "Plattenfächer" ist im Sinne der Erfindung ein vom Laserlicht durchstrahltes optisches Element zu verstehen, welches sich aus mehreren Platten oder plattenförmigen Elementen aus einem lichtleitenden Material, vorzugsweise Glas, zusammensetzt, die stapelartig aneinander anschließen und fächerartig gegen einander verdreht sind. Jede Platte oder jedes plattenförmige Element bildet an einander gegenüberliegenden Seiten eine Plattenschmalseite für den Lichteintritt oder -austritt und ist so ausgebildet, daß im Platten-Inneren im Bereich der Oberflächenseiten eine Totalreflexion erfolgt.
Unter "Oberflächenseiten" sind im Sinne der Erfindung jeweils die großen Plattenseiten zu verstehen.
Der Plattenfächer kann durch Zusammensetzen aus einzelnen Platten oder plattenförmigen Elementen oder aber auch einstückig, beispielsweise als Formteil mit entsprechenden Zwischenschichten für die Totalreflexion, hergestellt sein.
Mit den im Lichtweg hintereinander angeordneten Umformelementen erfolgt bei der Laseroptik eine Auffächerung des Laserstrahles in in unterschiedlichen Ebenen angeordnete Teilstrahlen und ein anschließendes Übereinanderschieben dieser Teilstrahlen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand der Figuren an Ausführungsbeispielen näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 in vereinfachter Darstellung einen Diodenlaser, bestehend aus einer eine Vielzahl von Laserelementen oder Laserchips aufweisenden Laserdiodenanordnung und einer im Strahlengang dieser Laserdiodenanordnung angeordneten von zwei Plattenfächern gebildeten optischen Anordnung zur Formung des Laserstrahls, wobei die Zeichenebene dieser Figur senkrecht zur aktiven Schicht der Diodenelemente liegt;
Fig. 2 den Diodenlaser der Fig. 1, wobei die Zeichenebene dieser Figur parallel zu der aktiven Schicht der Diodenelement liegt;
Fig. 3 und 4 in vereinfachter Darstellung die Ausbildung des Laserstrahls vor dem Umformen, beim Umformen und nach dem Umformen;
Fig. 5 und 6 einen der optischen Plattenfächer in Seitenansicht sowie in Draufsicht;
Fig. 7 und 8 einen Diodenlaser ähnlich dem Diodenlaser der Fig. 1 und 2, jedoch mit einer im Strahlengang nach den beiden Plattenfächern angeordneten Fokussieroptik bestehend aus einer Zylinderlinse und einer sphärischen Sammellinse, wobei die Zeichenebene der Fig. 7 senkrecht zur aktiven Schicht und die Zeichenebene der Fig. 8 parallel zur aktiven Schicht der Diodenelemente liegt;
Fig. 9 und 10 einen Diodenlaser, bei dem die Laserdiodenanordnung von einer Vielzahl von Diodenelementen gebildet ist, die in mehreren Reihen senkrecht zur aktiven Schicht stapelartig übereinander vorgesehen sind, sowie mit einer Fokussieroptik im Strahlengang vor der von den beiden Plattenfächern gebildeten optischen Anordnung, wobei die Zeichenebene der Fig. 9 senkrecht zur aktiven Schicht der Diodenelemente und die Zeichenebene der Fig. 10 parallel zur aktiven Schicht der Diodenelemente liegt;
Fig. 11 und 12 in ähnlicher Darstellung wie Fig. 1 und 2 eine weitere mögliche Ausführungsform, bei der im Strahlengang lediglich ein Plattenfächer und daran anschließend ein gestufter Spiegel (Treppenspiegel) vorgesehen ist.
Der in den Fig. 1 und 2 dargestellte Diodenlaser 1 besteht im wesentlichen aus einer Laserdiodenanordnung 2, die an einem u. a. auch als Wärmesenke ausgebildeten Substrat 3 ein Laserbauelement 4 mit einer Vielzahl von Laserlicht aussendenden Emittern aufweist, die gleichsinnig orientiert sind und insbesondere auch mit ihren aktiven Schichten in einer gemeinsamen Ebene senkrecht zur Zeichenebene der Fig. 1 bzw. parallel zur Zeichenebene der Fig. 2 liegen, d. h. in einer X-Z-Ebene, die durch die in den Figuren angegebene X-Achse und Z-Achse definiert ist.
Im Strahlengang der von dem Laserbauelement 4 ausgehenden Laserstrahlung befindet sich ein Fast-Axis-Kollimator 6, der beispielsweise von einer mit ihrer Achse in der X- Achse liegenden Zylinderlinse gebildet ist und eine Kollimation der Laserstrahlung in der sog. Fast-Axis, d. h. in der Y-Achse und damit in der Y-Z-Ebene senkrecht zur aktiven Schicht wirkt, in der die Strahlung der Emitter des Laserbauelementes 4 die größere Divergenz aufweist. Nach dem Fast-Axis-Kollimator 6 steht die Laserstrahlung im wesentlichen als schmalbandige Strahlung zur Verfügung, wie dies in der Fig. 3 mit 5 angedeutet ist.
Auf den Fast-Axis-Kollimator 6 folgend ist im Strahlengang der Laserstrahlung eine optische Einrichtung 7 zur weiteren Formung des Laserstrahls vorgesehen, und zwar beispielsweise in der Weise, daß das Strahlung 5 (Fig. 3 - Position a) zunächst in Teilstrahlungen 5' in verschiedenen Ebenen parallel zur X-Z-Ebene zertrennt bzw. aufgefächert wird, die von Ebene zu Ebene auch in der X-Achse gegen einander versetzt sind (Fig. 3 - Position b), und diese Teilstrahlungen 5' dann diagonal übereinander geschoben werden, wie dies in der Fig. 4 mit 5" schematisch gezeigt ist.
Die optische Einrichtung 7 besteht hierfür aus zwei Plattenfächern 8 und 9, die bei der dargestellten Ausführungsform identisch ausgebildet sind, allerdings um 90° um die Z- Achse gedreht beidseitig von einer die Z-Achse senkrecht schneidenden gedachten Mittelebene so angeordnet sind, daß beide Plattenfächer jeweils mit einer gleichartig ausgebildeten Fächerseite 10 von dieser Mittelebene wegweisen und mit einer gleichartig ausgebildeten Fächerseite 11 dieser Mittelebene zugewandt sind. Der Aufbau beispielsweise des Plattenfächers 8 ist in den Fig. 5 und 6 im Detail dargestellt. Der Plattenfächer 9 ist in der gleichen Weise ausgebildet, so daß die nachfolgende Beschreibung auch für diesen Plattenfächer gilt.
Der Plattenfächer 8 besteht aus mehreren dünnen Platten 12, die aus einem Licht leitenden Material, beispielsweise Glas hergestellt sind und bei der dargestellten Ausführugnsform jeweils einen quadratischen Zuschnitt aufweisen. Jede Platte 12 besitzt zwei plane Plattenschmalseiten 13 und 14, die die Seiten für den Eintritt und den Austritt der Laserstrahlen bilden und hierfür optisch hochwertig ausgebildet, d. h. poliert und mit einer Anti-Reflexionsschicht versehen sind. Die beiden Seiten 13 und 14 liegen sich an jeder Platte 12 gegenüber und sind bei der dargestellten Ausführungsform parallel zueinander angeordnet. Bei der Darstellung der Fig. 5 und 6 ist davon ausgegangen, daß der Plattenfächer 8 von insgesamt fünf Platten 12 gebildet ist. Theoretisch sind auch weniger oder mehr als fünf Platten 12 möglich.
Die Platten 12 schließen mit ihren Oberflächenseiten 12', an denen sie ebenfalls poliert sind, stapelartig aneinander an, wobei zwischen jeweils zwei benachbarten Platten 12 ein Spalt 15 vorgesehen ist, der von einem Medium, welches einen im Vergleich zum Material der Platten 12 kleineren optischen Brechungsindex aufweist, ausgefüllt ist. Der Spalt 15 ist beispielsweise ein Luftspalt, bevorzugt ist der jeweilige Spalt 15 aber mit einem die Platten 12 verbindenden Material, beispielsweise mit einem optischen Kitt ausgefüllt, wobei dieses Verbindungsmaterial wiederum einen im Vergleich zum Material der Platten 12 geringeren Brechungsindex aufweist, so daß eine Totalreflexion innerhalb der Platten 12 sichergestellt ist.
Die Platten 12 sind fächerartig gegeneinander versetzt. Bei der dargestellten Ausführungsform sind die Platten 12 hierfür um eine gemeinsame Fächerachse A gegen einander gedreht, wobei außerdem jeweils ein vorgegebener Bereich 16 der Plattenschmalseite 13, nämlich bei der dargestellten Ausführungsform die Mitte jeder Plattenschmalseite 13 jeder Platte 12 zusammen mit dem entsprechenden Bereichen 16 der übrigen Platten auf der gemeinsamen Achse A liegt, die senkrecht zu den Ebenen der Oberflächenseiten 12' der Platten 12 liegt und damit auch senkrecht zu einer parallel zu diesen Oberflächenseiten angeordneten, gedachten Mittelebene M des Plattenfächers 8. Um die Achse A bzw. um ihre Bereiche 16 sind die einzelnen Platten 12 derart fächerartig gegeneinander verdreht oder aufgefächert, daß die Ebenen E der Plattenschmalseiten 13 zweier benachbarter Platten sich in der Achse A schneiden und einen Winkel α miteinander einschließen, der in der Fig. 5 übertrieben groß dargestellt ist und beispielsweise in der Größenordnung von 1-5° liegt. Die mittlere Platte 12 liegt mit der Ebene E ihrer Plattenschmalseite 13 senkrecht zu einer Längserstreckung L oder optischen Achse des Plattenfächers 8. Die Gesamtheit der Plattenschmalseiten 13 aller Platten 12 bildet die Plattenfächerseite 10. Entsprechend der Anordnung der Plattenschmalseiten 13 sind auch die Plattenschmalseiten 14, die in ihrer Gesamtheit die Plattenfächerseite 11 bilden, so relativ zueinander angeordnet, daß die Ebenen E' zweier benachbarter Plattenseiten 14 wiederum den Winkel α miteinander einschließen. Die Ebenen E und E' der Plattenschmalseiten 13 und 14 liegen senkrecht zu den Ebenen der Oberflächenseiten 12'.
Der Plattenfächer 8 ist weiterhin so ausgebildet, daß die an die mittlere Platte 12 anschließenden Platten jeweils symmetrisch gedreht bzw. aufgefächert sind, d. h. für die für die Fig. 5 gewählte Darstellung die auf der einen Plattenschmalseite der mittleren Platte 12 vorgesehenen Platten 12 mit ihren Plattenschmalseiten 13 im Gegenuhrzeigersinn und die auf der anderen Plattenschmalseite der mittleren Platte 12 anschließenden Platten mit ihren Plattenschmalseiten 13 gegenüber der mittleren Platte im Uhrzeigersinn gedreht sind. Durch die dünne Ausbildung der Platten 12 und durch die Totalreflexion, die das Laserlicht innerhalb der Platten 12 an den Oberflächenseiten dieser Platten erfährt, bilden die Platten Licht- bzw. Wellen-Leiter für das Laserlicht.
Die Breite des jeweiligen Spaltes 15 ist möglichst gering, aber ausreichend groß gewählt (z. B. einige 1/100 mm), um sicherzustellen, daß auch bei einer leichten Verwölbung einer oder mehrerer Platten 12 ein direkter Berührungskontakt zwischen zwei benachbarten Platten 12 nicht entsteht und somit Strahlungsverluste vermieden werden, die an derartigen Berührungsstellen auftreten und zur Reduzierung der Effizienz des Systems führen könnten.
Der Plattenfächer 8 ist bei dem Diodenlaser 1 derart angeordnet, daß er mit seiner Längsachse L in der Z-Achse liegt und die Mittelachse M in der Y-Z-Ebene, wobei die Plattenfächerseite 10 der Laserdiodenanordnung 2 zugewandt ist, der Laserstrahl 5 also an der Plattenfächerseite 10 in diesen Plattenfächer eintritt. Der Plattenfächer 9 ist mit seiner Längsachse L, die senkrecht zur Plattenschmalseite 13 der mittleren Platte 12 liegt und die Achse A senkrecht schneidet ebenfalls in der Z-Achse angeordnet, und zwar achsgleich mit der Achse L des Plattenfächers 8, wobei die Plattenfächerseite 11 des Plattenfächers 9 der Plattenfächerseite 11 des Plattenfächers 8 zugewandt ist. Die Mittelebene M des Plattenfächers 9 liegt in der X-Z-Ebene, so daß der Plattenfächer 9 gegenüber dem Plattenfächer 8 um 90° um die Z-Achse gedreht wird.
Der durch den Fast-Axis-Kollimator 6 kollimierte Laserstrahl 5 trifft auf die Plattenfächerseite 13 auf, und zwar im Bereich der Achse A bzw. der Längsachse L.
Durch die unterschiedliche Neigung der Plattenschmalseiten 13 und der Plattenseiten 14 wird der eintretende Laserstrahl 5 in die verschiedenen Teilstrahlen 5' aufgeteilt, die parallel oder im wesentlichen parallel zur Z-Achse an den Plattenseiten 14 aus dem Plattenfächer 8 austreten, wobei die Teilstrahlen 5' bedingt durch die Brechung an den Plattenschmalseiten 13 und 14 in unterschiedlichen Ebenen parallel zur X-Z-Ebene angeordnet sind. Es versteht sich, daß die Breite des Plattenfächers 8 in Richtung der Achse A und damit in Richtung der X-Achse gleich der Breite gewählt ist, die die auftreffende Strahlung 5 aufweist. Durch die Totalreflexion in den Platten 12 des Plattenfächers 8 erfährt die Strahlung in Richtung der Slow-Axis (X-Achse) keine Aufweitung, sondern jeder Teilstrahl 5' tritt mit einem Strahldurchmesser aus, der in dieser Achse gleich der Dicke einer Platte 12 ist.
Die einzelnen Teilstrahlen 5' treten dann jeweils an einer Plattenseite 14 in den Plattenfächer 9 ein. Durch die Brechung an den Plattenschmalseiten 13 und 14 treten sämtliche Teilstrahlen 5' an den Plattenschmalseiten 13 der Platten 12 des Plattenfächers 9 aus, und zwar im Bereich der dort parallel zur Y-Achse liegenden Achse A, so daß die Teilstrahlen 5' diagonal verschoben übereinander angeordnet sind, wie dies in der Fig. 4 dargestellt ist.
Die Fig. 7 und 8 zeigen einen Diodenlaser 1a, der sich von dem Diodenlaser 1 lediglich dadurch unterscheidet, daß im Strahlengang nach der optischen Anordnung 7 ein Slow- Axis-Kollimator 17 in Form einer Zylinderlinse vorgesehen ist, die mit ihrer Achse parallel zur Y-Achse angeordnet ist. Durch diesen Kollimator 17 wird die Divergenz, die die Teilstrahlen 5' in der Slow-Axis, d. h. in der X-Achse aufweisen, korrigiert, so daß anschließend mehrere, in Richtung der Y-Achse übereinander angeordnete kollimierte Teilstrahlen 5" vorliegen, die mittels einer Fokussieroptik, d. h. mittels der sphärischen Sammellinse 18 fokussiert werden.
Die Fig. 9 und 10 zeigen einen Diodenlaser 1b, der sich vom Diodenlaser 1 dadurch unterscheidet, daß anstelle der Laserdiodenanordnung 2, die lediglich in einer X-Z-Ebene mehrere Emitter nebeneinander aufweist, einen Diodenlaser 2a verwendet, der in mehreren X-Z-Ebenen übereinander eine Vielzahl von Laserbauelementen 4 mit jeweils einer Vielzahl von Emittern besitzt, die mit ihrer aktiven Schicht in dieser gemeinsamen Ebene angeordnet sind. Jeder X-Z-Ebene ist ein eigener Fast-Axis-Kollimator 6 zugeordnet. Im Strahlengang befindet sich nach diesen Fast-Axis-Kollimatoren 6 eine optische Anordnung 19, mit der die Laserstrahlung 5 auf den ersten Plattenfächer 8 fokussiert wird. Diese optische Anordnung 19 besteht aus einer Zylinderlinse 20, die mit ihrer Achse parallel zur Y-Achse angeordnet ist sowie aus einer weiteren Zylinderlinse 21, die mit ihrer Achse parallel zur X-Achse angeordnet ist. Durch die optische Anordnung 19 ist auch eine Stapelung von Laserbauteilen 4 möglich, obwohl dadurch der Laserstrahl 5 nach den Fast-Axis-Kollimatoren 6 in Richtung der Y-Achse eine relativ große Höhe besitzt. Eine derart große Strahlenhöhe würde insbesondere bei dem zweiten Plattenfächer 9 eine große Bauhöhe, d. h. eine Vielzahl von Platten 12 bedeuten, aber auch bedeuten, daß die aus dem zweiten Plattenfächer 9 austretende, von den Teilstrahlen 5' gebildete Laserstrahlung in Richtung Y-Achse ebenfalls eine große Höhe aufweist, die für die Weiterverarbeitung des Strahles eine aufwendige Optik erfordert. Durch die Fokussierung des Strahles 5 mit Hilfe der optischen Einrichtung 19 auf den ersten Plattenfächer 8 wird dies vermieden.
Weiterhin ist es auch möglich, an den Oberflächenseiten der Platten 12 metallische Spiegelschichten aufzubringen, um so die Totalreflexion innerhalb der Platten 12 zu gewährleisten.
Bei dem Diodenlaser 1b der Fig. 9 und 10 ist es von Vorteil, wenn die Teilstrahlen 5' beim Eintritt in den Plattenfächer 9 möglichst klein gehalten sind. Ideal wäre eine Anordnung, bei der der von der optischen Anordnung 19 erzeugte Fokus der Laserdiodenanordnung 2a nicht in einem gemeinsamen Punkt liegt, sondern in der Fast- und Slow-Axis-Richtung verschiedene Fokuspunkte aufweist. Der Strahl der stapelartigen Laserdiodenanordnung 2a weist in diesem Fall dann einen Astigmatismus auf. Die einzelnen Foki sollen dabei folgendermaßen angeordnet sein:
  • - Fokus in Slow-Axis-Richtung (in Richtung der X-Achse) auf der Eintrittsseite des Plattenfächers 8;
  • - Fokus in der Fast-Axis-Richtung (Richtung der Y-Achse) auf der Eintrittsseite des Plattenfächers 9.
Bei dieser Fokusanordnung wird eine Minimierung der Dicken der Platten 12 in den beiden Plattenfächern 8 und 9 erreicht. Bevorzugt ist die Ausbildung so getroffen, daß die Divergenz vor dem jeweiligen Plattenfächer in Richtung der Fast-Axis (Y-Achse) im fokussierten Bereich kleiner ist (etwa um die Faktor der Plattenzahl) als in der Richtung der Slow-Axis (X-Achse), um so auf eine annähernd gleiche Strahlenqualität in beiden Achsrichtungen zu kommen.
Die Fig. 11 und 12 zeigen als weitere Ausführungsform einen Diodenlaser 1c, der sich von dem Diodenlaser 1 der Fig. 1 und 2 nur dadurch unterscheidet, daß anstelle des im Strahlengang zweiten Plattenfächers 9 zum diagonalen Zusammenschieben des Strahlenbündels der Teilstrahlen 5' (Position b der Fig. 3) in das Strahlenbündel der Teilstrahlen 5" (Fig. 4) ein sog. Treppenspiegel 22 vorgesehen ist. Dieser besitzt eine Vielzahl von Spiegelflächen 23, die derart treppenartig gegeneinander versetzt sind, daß durch Reflexion an den Spiegelflächen das Umformen des Strahlenbündels der Teilstrahlen 5' in das Strahlenbündel der Teilstrahlen 5" erfolgt.
Die Erfindung wurde voranstehend an Ausführungsbeispielen beschrieben. Es versteht sich, daß zahlreiche Änderungen sowie Abwandlungen möglich sind, ohne daß dadurch der der Erfindung zugrundeliegende Erfindungsgedanke verlassen wird. So ist es beispielsweise auch möglich, die Platten 12 zusätzlich an ihren Oberflächenseiten mit einem Material zu beschichten, welches den im Vergleich zum Material der Platten 12 geringeren optischen Brechungsindex aufweist, um so den Wellenleitereffekt bzw. die Totalreflexion innerhalb der Platten zu verbessern. Weiterhin besteht selbstverständlich die Möglichkeit, auch bei den Diodenlasern 1a und 1b anstelle des Plattenfächers 9 den Treppenspiegel 22 zu verwenden.
Vorstehend wurde davon ausgegangen, daß die Platten 12 der Plattenfächer 8 und 9 jeweils um eine gemeinsame Fächerachse A gegeneinander verdreht sind, die in der Ebene der Plattenschmalseite 13 liegt. Auch hier sind andere Ausführungen denkbar, beispielsweise können die Platten der Plattenfächer auch um mehrere Achsen gegeneinander fächerartig verdreht sein, und zwar jeweils zwei Platten um eine Achse. Weiterhin kann die Lage der Achse bzw. Achsen auch anders gewählt sein als vorstehend beschrieben.
Bezugszeichenliste
1
,
1
a,
1
b,
1
c Diodenlaser
2
,
2
a Laserdiodenanordnung
3
Substrat
4
Laserbauelement
5
bandförmiger Laserstrahl
5
' Teilstrahl
6
Fast-Axis-Kollimator
7
optische Anordnung
8
,
9
Plattenfächer
10
,
11
Plattenfächerseite
12
Platte
13
,
14
Plattenseite
15
Spalt
16
Punkt
17
Slow-Axis-Kollimator
18
Sammellinse
19
Fokussieroptik
20
,
21
Zylinderlinse
22
Treppenspiegel
23
Spiegelfläche

Claims (26)

1. Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls, der einen sich in einer ersten Achsrichtung (X-Achse) senkrecht zur Strahlachse (Z-Achse) erstreckenden linien- oder bandförmigen Querschnitt aufweist, mit wenigstens zwei im Strahlengang aufeinander folgend angeordneten optischen Umformelementen (8, 9, 22), von denen wenigstens eines ein vom Laserstrahl durchstrahltes Element ist und die eine optischen Anordnung (7) bilden,
  • - in der ein Auffächern des wenigstens einen Laserstrahls (5) in einer Ebene (Y-Z- Ebene) senkrecht zur ersten Achse (X-Achse) in mehrere parallele Teilstrahlen (5'), die sowohl in der ersten Achsrichtung (X-Achse) als auch in einer zweiten Achsrichtung (Y-Achse), die senkrecht zur Strahlachse (Z-Achse) sowie senkrecht zur ersten Achse (X-Achse) liegt, gegeneinander versetzt sind, und
  • - in der anschließend ein Zusammenführen der aufgefächerten Teilstrahlen (5') erfolgt,wobei das zweite optische Umformelement ein Verschieben der im ersten optischen Umformelement gebildeten Teilstrahlen (5') jeweils in einer Ebene (X-Z-Ebene) parallel zu der ersten Achse (X-Achse) derart bewirkt, daß bei dem aus dem zweiten optischen Element (9, 22) austretenden Laserstrahl die parallelen Teilstrahlen (5") übereinandergeschoben und nur oder im wesentlichen nur noch in der zweiten Achse (Y-Achse) gegeneinander versetzt sind, und
    wobei wenigstens eines der beiden optischen Umformelemente aus mehreren Platten (12) aus einem lichtleitenden Material besteht, die in Richtung senkrecht zu ihren Oberflächenseiten versetzt sind und in denen eine Führung des Strahls durch Totalreflexion erfolgt, und bei dem
  • - die Platten (12) jeweils eine erste plane Plattenschmalseite (13) und dieser gegenüberliegend eine zweite plane Plattenschmalseite (14) bilden,
  • - die erste Plattenschmalseite (13) und die zweite Plattenschmalseite (14) jeder Platte parallel zueinander liegen,
    dadurch gekennzeichnet,daß die Plattenschmalseiten (13, 14) zur Bildung eines Plattenfächers (8, 9) fächerartig derart gegeneinander verdreht sind, daß die erste Plattenschmalseite (13) jeder Platte (12) in einer Ebene (E) liegt, die mit der Ebene der ersten Plattenschmalseite (13) jeder benachbarten Platte (12) einen Winkel (α) einschließt,
    daß die ersten Plattenschmalseiten (13) in ihrer Gesamtheit eine erste Plattenfächerseite (10) und die zweiten Plattenschmalseiten (14) in ihrer Gesamtheit eine zweite Plattenfächerseite (11) jeweils für den Eintritt oder Austritt des den Plattenfächer durchstrahlenden, wenigstens einen Laserstrahls bilden,
    und daß die Ebenen (E) der Plattenschmalseiten (13, 14) sowie die Fächerachse (A) senkrecht zu den Oberflächenseiten (12') der Platten (12) liegen.
2. Laseroptik nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Platten (12) senkrecht zu ihren Oberflächenseiten stapelartig aufeinanderfolgend vorgesehen sind.
3. Laseroptik nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ebenen (E) der ersten Plattenschmalseiten (13) um wenigstens eine Fächerachse (A) gegeneinander verdreht sind.
4. Laseroptik nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ebenen der ersten Plattenschmalseiten um eine gemeinsame Fächerachse (A) gegeneinander verdreht sind.
5. Laseroptik nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Ebenen (E) der ersten Plattenschmalseiten (13) um wenigstens zwei Fächerachsen (A) gegeneinander versetzt sind.
6. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das erste Umformelement ein Plattenfächer (8) ist, der mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten (12) parallel zu einer von der Strahlachse (Z- Achse) und der zweien Achse (Y-Achse) definierten Ebene (Y-Z-Ebene) angeordnet ist und mit seiner Fächerachse (A) parallel zur ersten Achse (X-Achse) liegt.
7. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite Umformelement ein Plattenfächer (9) ist, der mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten (12) parallel zu einer von der Strahlachse (Z- Achse) und der ersten Achse (X-Achse) definierten Ebene (X-Z-Ebene) angeordnet ist und mit seiner Fächerachse (A) parallel zur zweiten Achse (Y-Achse) liegt.
8. Laseroptik nach Anspruch 6 und 7, dadurch gekennzeichnet, daß das erste und zweite optische Umformelement Plattenfächer (8, 9) sind, und daß die beiden Plattenfächer (8, 9) um die Strahlachse (Z-Achse) um 90° gegeneinander gedreht angeordnet sind, so daß der das erste optische Umformelement bildende Plattenfächer (8) mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten senkrecht zu den Ebenen der Oberflächenseiten der Platten des zweiten Plattenfächers (9) liegt.
9. Laseroptik nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Plattenfächer (8, 9) mit ihrer zweiten Plattenfächerseite (11) einander zugewandt sind.
10. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die wenigstens eine Fächerachse (A) die erste Plattenschmalseite (13) wenigstens einer Platte (12) berührt.
11. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Plattenfächer (8, 9) die Ebenen (E) der ersten Plattenschmalseite jeweils den gleichen oder in etwa den gleichen Winkel miteinander einschließen.
12. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei dem Plattenfächer (8, 9) ausgehend von einer außen liegenden Platte (12) die ersten Plattenschmalseiten (13) oder deren Projektionen auf eine parallel zu den Oberflächenseiten (12') liegenden Ebene jeweils gleichsinnig gegeneinander verdreht sind.
13. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erzielung einer Totalreflexion innerhalb jeder Platte (12) an den Oberflächenseiten dieser Platte an jeder Oberflächenseite anschließend ein Medium vorgesehen ist, welches einen im Vergleich zum Material der Platte kleineren Brechungsindex aufweist.
14. Laseroptik nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen zwei benachbarten Platten (12) ein Kleber oder Kitt mit einem im Vergleich zum Material der Platten kleineren optischen Brechungsindex vorgesehen ist.
15. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen zwei benachbarten Platten ein Luftspalt vorgesehen ist.
16. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Platten (12) an ihren Oberflächenseiten (12') verspiegelt sind.
17. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung wenigstens einer Laserdiodenanordnung (2, 2a) als Strahlungsquelle, die wenigstens ein Laser-Bauelement (4) mit mehreren in einer ersten Achsrichtung (X-Achse) gegeneinander versetzten, Laserlicht aussendenden Emittern aufweist, die mit ihrer aktiven Schicht in einer gemeinsamen, die erste Achsrichtung (X-Achse) einschließenden Ebene (X-Z-Ebene) angeordnet sind, der das erste Umformelement bildende Plattenfächer (8, 9) mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten (12) senkrecht zur Ebene der aktiven Schicht liegt.
18. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung wenigstens einer Laserdiodenanordnung (2, 2a) als Strahlungsquelle, die wenigstens ein Laser-Bauelement (4) mit mehreren in einer ersten Achsrichtung (X-Achse) gegeneinander versetzten, Laserlicht aussendenden Emittern aufweist, die mit ihrer aktiven Schicht in einer gemeinsamen, die erste Achsrichtung (X-Achse) einschließenden Ebene (X-Z-Ebene) angeordnet sind, der das zweite Umformelement bildende Plattenfächer (8, 9) mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten (12) parallel zur Ebene der aktiven Schicht liegt.
19. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei wenigstens zwei im Strahlengang hintereinander angeordneten Plattenfächern (8, 9) der im Strahlengang auf die Laserdiodenanordnung (2, 2a) folgende erste Plattenfächer (8) mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten (12) senkrecht zur Ebene der aktiven Schicht und der im Strahlengang auf die Laserdiodenanordnung (2, 2a) folgende zweite Plattenfächer (9) mit den Ebenen der Oberflächenseiten (12') seiner Platten (12) parallel zur Ebene der aktiven Schicht angeordnet ist.
20. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß auf die von den Umformelementen (8, 9) gebildete optische Anordnung im Strahlengang wenigstens eine weitere, den Strahl formende optische Anordnung, beispielsweise eine Fokussieranordnung und/oder ein Kollimator (17) vorgesehen ist.
21. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß im Strahlengang vor der von den Umformelementen (8, 9) gebildeten optischen Anordnung (7) eine weitere, den Strahl formende Anordnung, beispielsweise wenigstens ein Kollimator (6) und/oder eine Fokussiereinrichtung (19) vorgesehen ist.
22. Laseroptik nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß bei Verwendung einer Laserdiodenanordnung (2a) mit in mehreren Ebenen in einer Achsrichtung (Y-Achse) senkrecht zur aktiven Schicht übereinander angeordneten Laser-Bauelementen (4) zwischen der Laserdiodenanordnung (2a) und der von den Umformelementen (8, 9) gebildeten optische Anordnung (7) eine den Laserstrahl fokussierende Fokussierungsoptik (19) vorgesehen ist.
23. Laseroptik nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß eine den Laserstrahl im Bereich der Umformelemente (8, 9) bzw. im Bereich der von diesen Elementen gebildeten optischen Anordnung (7) fokussierende Fokussieroptik (19) vorgesehen ist.
24. Laseroptik nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß eine einen Astigmatismus aufweisende Fokussieroptik (19) vorgesehen ist, die den Laserstrahl in eine erste Ebene, beispielsweise in der von der ersten Achse (X-Achse) und der Strahlachse (Z-Achse) definierten Ebene (X-Z-Ebene) und an einem in Strahlrichtung (Z-Achse) folgenden Bereich in einer senkrecht zu der ersten Ebene liegenden zweiten Ebene, beispielsweise in der von der zweiten Achse (Y-Achse) und Strahlachse (Z-Achse) definierten Ebene (Y-Z-Ebene) fokussiert.
25. Laseroptik nach Anspruch 24, dadurch gekennzeichnet, daß die Fokussieroptik den Laserstrahl in der ersten Ebene (X-Z-Ebene) auf die Eintrittsfläche des ersten Umformelementes (8) und in der zweiten Ebene (Y-Z-Ebene) auf die Eintrittsfläche des zweiten Umformelementes (9) fokussieren.
26. Diodenlaser mit wenigstens einer Laserdiodenanordnung (2, 2a) als Strahlungsquelle, die wenigstens ein Laser-Bauelement (4) mit mehreren in einer ersten Achsrichtung (X-Achse) gegeneinander versetzten, Laserlicht aussendenden Emittern aufweist, die mit ihrer aktiven Schicht in einer gemeinsamen, die erste Achsrichtung (X-Achse) einschließenden Ebene (X-Z-Ebene) angeordnet sind, sowie mit einer Laseroptik mit wenigstens einer im gemeinsamen Laserstrahl (5) der Emitter angeordneten optischen Anordnung (7) zum Formen des Laserstrahls, dadurch gekennzeichnet, daß die Laseroptik des Diodenlasers nach einem der Ansprüche 1-25 ausgebildet ist.
DE19705574A 1997-02-01 1997-02-14 Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik Expired - Lifetime DE19705574C2 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19705574A DE19705574C2 (de) 1997-02-01 1997-02-14 Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik
US09/016,342 US5986794A (en) 1997-02-01 1998-01-30 Laser optics and diode laser
EP98101690A EP0863588B1 (de) 1997-02-01 1998-02-02 Laseroptik sowie Diodenlaser
DE59810118T DE59810118D1 (de) 1997-02-01 1998-02-02 Laseroptik sowie Diodenlaser

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19703825 1997-02-01
DE19705574A DE19705574C2 (de) 1997-02-01 1997-02-14 Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE19705574A1 DE19705574A1 (de) 1998-08-06
DE19705574C2 true DE19705574C2 (de) 2000-09-07

Family

ID=7819052

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19705574A Expired - Lifetime DE19705574C2 (de) 1997-02-01 1997-02-14 Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik
DE59810118T Expired - Lifetime DE59810118D1 (de) 1997-02-01 1998-02-02 Laseroptik sowie Diodenlaser

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE59810118T Expired - Lifetime DE59810118D1 (de) 1997-02-01 1998-02-02 Laseroptik sowie Diodenlaser

Country Status (1)

Country Link
DE (2) DE19705574C2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10331442A1 (de) * 2003-07-10 2005-02-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung zur Transformation eines optischen Strahlungsfelds
DE10328083B4 (de) * 2003-06-20 2010-12-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung zur Angleichung der Strahlqualität beider Richtungen eines Diodenlaserarrays

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19839902C1 (de) 1998-09-02 2000-05-25 Laserline Ges Fuer Entwicklung Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung sowie Diodenlaser
DE19841285C1 (de) * 1998-09-09 2000-06-08 Laserline Ges Fuer Entwicklung Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung sowie Diodenlaser
DE19846532C1 (de) * 1998-10-09 2000-05-31 Dilas Diodenlaser Gmbh Einrichtung zur Strahlformung eines Laserstrahls und Hochleistungs-Diodenlaser mit einer solchen Einrichtung
DE19918444C2 (de) * 2000-03-15 2001-06-21 Laserline Ges Fuer Entwicklung Laseroptik sowie Diodenlaser
DE19939750C2 (de) * 1999-08-21 2001-08-23 Laserline Ges Fuer Entwicklung Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung sowie Laserdiodenanordnung mit einer solchen optischen Anordnung
JP4794770B2 (ja) * 2001-08-10 2011-10-19 浜松ホトニクス株式会社 レーザバー積層体用整形光学系及びレーザ光源
DE102009031046B4 (de) 2009-06-30 2013-12-05 Laserline Gesellschaft für Entwicklung und Vertrieb von Diodenlasern mbH Laseroptik sowie Diodenlaser
EP2219064B1 (de) 2009-02-13 2020-09-16 Laserline Gesellschaft für Entwicklung und Vertrieb von Diodenlasern mbH Laseroptik sowie Diodenlaser
DE102009008918A1 (de) 2009-02-13 2010-08-19 Laserline Gesellschaft für Entwicklung und Vertrieb von Diodenlasern mbH Laseroptik sowie Diodenlaser

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19514625A1 (de) * 1995-04-26 1996-10-31 Fraunhofer Ges Forschung Anordnung und Verfahren zur Formung und Führung eines Strahlungsfelds eines oder mehrerer Festkörper- und/oder Halbleiterlaser(s)

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19514625A1 (de) * 1995-04-26 1996-10-31 Fraunhofer Ges Forschung Anordnung und Verfahren zur Formung und Führung eines Strahlungsfelds eines oder mehrerer Festkörper- und/oder Halbleiterlaser(s)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10328083B4 (de) * 2003-06-20 2010-12-23 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung zur Angleichung der Strahlqualität beider Richtungen eines Diodenlaserarrays
DE10331442A1 (de) * 2003-07-10 2005-02-03 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung zur Transformation eines optischen Strahlungsfelds
DE10331442B4 (de) * 2003-07-10 2008-03-06 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Anordnung zur Transformation eines optischen Strahlungsfelds

Also Published As

Publication number Publication date
DE59810118D1 (de) 2003-12-18
DE19705574A1 (de) 1998-08-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0863588B1 (de) Laseroptik sowie Diodenlaser
EP2219064B1 (de) Laseroptik sowie Diodenlaser
EP1081819B1 (de) Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung sowie Laserdiodenanordnung mit einer solchen optischen Anordnung
DE4438368C2 (de) Anordnung zur Führung und Formung von Strahlen eines geradlinigen Laserdiodenarrays
EP0803075B1 (de) Optische anordnung zur verwendung bei einer laserdiodenanordnung
EP0984312B1 (de) Laserdiodenanordnung
DE19537265C1 (de) Anordnung zur Zusammenführung und Formung der Strahlung mehrerer Laserdiodenzeilen
DE19500513C1 (de) Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung
DE19645150A1 (de) Optische Anordnung zur Symmetrierung der Strahlung von Laserdioden
DE19751716C2 (de) Anordnung zur Formung und Führung von Strahlung
DE19813127A1 (de) Laservorrichtung
DE19705574C2 (de) Laseroptik zum Umformen wenigstens eines Laserstrahls und Diodenlaser mit einer solchen Laseroptik
DE102007061358B4 (de) Vorrichtung zur Formung von Laserstrahlung
EP1062540B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur optischen strahltransformation
DE102011016253B4 (de) Diodenlaser
DE19918444C2 (de) Laseroptik sowie Diodenlaser
DE10012480C2 (de) Laseroptik sowie Diodenlaser
EP0903823B1 (de) Laserbauelement mit einem Laserarray und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102009031046B4 (de) Laseroptik sowie Diodenlaser
DE19841285C1 (de) Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung sowie Diodenlaser
DE10007123A1 (de) Optische Anordnung zur Verwendung bei einer Laserdiodenanordnung sowie Laserdiodenanordnung mit einer solchen Anordnung
DE19820154A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur optischen Strahltransformation
DE102009008918A1 (de) Laseroptik sowie Diodenlaser
EP3111267B1 (de) Lichtleitvorrichtung und vorrichtung umfassend eine lichtleitvorrichtung und mittel zur ausstrahlung linear angeordneter, paralleler lichtstrahlen
WO2023111137A1 (de) Laservorrichtung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8363 Opposition against the patent
8365 Fully valid after opposition proceedings
R071 Expiry of right