DE19543057A1 - Einem Wellenleiter in einer Polymerschicht überlagertes Gitterfilter und Verfahren zu seiner Herstellung - Google Patents
Einem Wellenleiter in einer Polymerschicht überlagertes Gitterfilter und Verfahren zu seiner HerstellungInfo
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf ein einem Wellenleiter in einem Polymer
überlagertes Gitterfilter mit ortsabhängigem Brechungsindex zur gleichmäßigen
optischen Auskopplung eines Wellenlängenbereichs aus einem im Wellenleiter
geführten Lichtstrahl und auf ein Verfahren zu seiner Herstellung unter
Verwendung eines direkt schreibenden Elektronenstrahls.
Polymerwellenleiter finden in der optischen Nachrichtentechnik zunehmende
Verbreitung, da sie relativ unempfindlich und gut für die verlustarme Leitung von
Laserlicht in einem Emissionsband von 1,55 µm geeignet sind. Dabei ist auf
einen planaren Träger, beispielsweise aus Silizium, Quarzglas,
Halbleitermaterial oder Polymer, eine photoempfindliche Wellenleiterschicht aus
einem Polymer, beispielsweise aus Polymethylmethacrylat PMMA, mit einer
üblichen Dicke von unter 10 µm aufgebracht. In diese Polymerschicht ist
entweder durch eine maskenbasierende Belichtung mit UV-Strahlung oder durch
eine direktschreibende Belichtung mit Teilchenstrahlung ein länglicher
Wellenleiter mit angenähert rechteckigem Querschnitt strukturiert. Die
Belichtung ruft eine stoffliche Umwandlung, d. h. eine Veränderung der
chemischen Zusammensetzung des den Wellenleiter definierenden Polymers
hervor. Dadurch ist jeweils der Brechungsindex im Bereich des strukturierten
Wellenleiters ortsabhängig erhöht, so daß eine Lichtführung durch Totalreflexion
erfolgen kann. Zur Auskopplung einzelner Wellenlängen aus dem geführten
Lichtstrahl werden Gitterfilter verwendet, die in die Polymerschicht integriert und
dem Wellenleiter überlagert sind. Diese wirken durch ihren Aufbau wie eine
parallele Reihe halbdurchlässiger, schmaler Spiegelstreifen, die entsprechend
der durch die Gitterparameter vorgegebenen Filtercharakteristik kontinuierlich
den gewünschten Lichtanteil auskoppeln. Alle bisher bekannten überlagerten
Gitterfilter werden durch lithographische, d. h. relieferzeugende Verfahren
hergestellt.
Der Stand der Technik, von dem die Erfindung ausgeht, wird beschrieben in
dem Aufsatz "Efficient Focusing and Beam Shaping Grating Couplers into
Polymer Waveguides" von R. Waldhäusl et al. Jena, Deutschland (Technical
Digest IOOC-95-lntern. Conf. on Integrated Optics and Optical Fiber
Communication-, ThB2-2, pp 42-45). Das hieraus bekannte Gitterfilter in einer
PMMA-Schicht weist eine reliefartige Oberfläche mit Gitterstegen und
zwischen liegenden Rillen mit unterschiedlicher Tiefe auf. Die ortsabhängigen
Brechungsindizes werden durch die Abwechslung zwischen Material und Luft
realisiert und führen zu jeweils großen und sprunghaften
Brechungsindexänderungen. Dabei werden die Rillen durch assistierende
Elektronenstrahl-Lithographie mit einem variabel formbaren Elektronenstrahl
hergestellt, bei der das elektronenstrahlbelichtete Polymer durch ein reaktives
Gas geätzt wird, so daß Materialteilchen aus der Oberfläche der Polymerschicht
herausgeschnitten werden. Hierbei handelt es sich um einen Trockenätzprozeß.
Durch Ätzvorgänge wird das Material einem chemischen Angriff ausgesetzt, der
Inhomogenitäten im Material, insbesondere Rauhigkeiten an den
Gitterstegflanken, und andere interne Vorgänge hervorrufen kann. Derartige
Störungen können zu inneren Verlusten bei der Lichtauskopplung führen.
Aus dem Aufsatz "Realization of Integrated Bragg Reflectors in DANS-Polymer
Waveguides" von S. Aramaki et al. (Journal of Lightwave Technology, Vol. 11,
No.7, July 93, pp. 1189-1195) ist ein Gitterfilter bekannt, dessen durch
trockenes lonenstrahl-Ätzen reliefartig ausgebildete Oberfläche durch Ausfüllen
der Rillen mittels Aufschleudern eines Polymerüberzuges wieder geglättet wird.
Weiterhin wird hier beschrieben, daß die Filtercharakteristik eine thermooptische
Nichtlinearität, d. h. eine Abhängigkeit des örtlichen Brechungsindex von der
Temperatur, aufweisen kann. Eine Erhöhung der Intensität der
Eingangsstrahlung kann zu einer sprungartigen Erhöhung der
Filterdurchlässigkeit führen, also einen Umschaltvorgang bewirken.
Nachgewiesen wurde diese Nichtlinearität in Versuchen durch Vorsehen eines
Heizelements.
Der Aufsatz "Novel Computer designed Waveguide Grating Structures with
optimised Reflection Characteristics" von M. Wilkinson et al. (Electronics Letters
13.08.92, Vol. 28, No. 17, pp 1660-1661) offenbart ein Gitterfilter mit
abschnittsweise festgelegten Gitterparametern, das eine Rillenstruktur mit
ungefähr 0,25 µm tiefen Rillen aufweist. Diese Rillen werden durch nasses
Ionen-Ätzen durch eine zuvor in mehreren Verfahrensschritten durch
Elektronenstrahl-Belichtung hergestellte Maske hindurch in einen Quarzträger
eingeätzt. Das fertiggestellte Gitterfilter wird einer abgeflachten Faser
überlagert, die in ein Polymer-Substrat eingelagert ist. Zu den bereits genannten
Nachteilen beim Trocken-Ätzen können beim Naß-Ätzen auf Maskenbasis noch
Maßungenauigkeiten in der Rillenstruktur hinzukommen.
In dem Aufsatz "400-Å high Aspect-ratio Lines produced in Polymethyl
Methacrylate (PMMA) by lon-beam Exposure" von I.Karapiperis et al.
(Appl.Phys. Lett. 35(5), 01.09.79, pp. 395-397) wird die Herstellung von
reliefartig ausgebildeten Filtergittern mit 0,45 µm Periode durch assistierendes,
d. h. von Trockenätzen begleitetes Ionenstrahl-Schneiden durch eine
winkelgetreue, holographisch erzeugte Goldmaske beschrieben. Dieses
Verfahren wird hier angewendet, da nach Aussage der Autoren bei Einsatz von
Elektronenstrahl-Lithographie die durch Elektronenstreuung im Photolack und im
Substrat erreichbare minimale Linienbreite begrenzt ist und die Empfindlichkeit
von PMMA gegenüber Elektronen 50mal geringer ist als gegenüber Ionen.
Trotzdem wird auf die Vorzüge der Verwendung von Elektronenstrahlen
hingewiesen, insbesondere auf das Entfallen jeglicher Zwischenmasken, auf die
hohe Auflösung und die mögliche Computersteuerung für schwierige Muster.
Aus dem Aufsatz "Apodisation of the Spectral Response of Fibre Bragg Gratings
using a Phase Mask with variable Diffraction Efficiency" von J. Albert et al.
(Electronics Letters 02.02.95, Vol.31, No.3, pp. 222-223) ist es bekannt, ein
linienförmiges Gitterfilter mit variablem Brechungsindex ohne Relieferzeugung in
eine optische Glasfaser zu integrieren. Dieses erfolgt durch UV-Belichtung der
Kernschicht durch eine vorgefertigte Phasenmaske mit variabler
Brechungsindex-Effektivität. Die erzeugten lokalen Brechungsindexänderungen
erstrecken sich entlang der Faserachse und weisen eine gitterähnliche Struktur
auf.
Schließlich wird in dem Tutoren-Konferenzbericht "Photosensitivity and its
Application to Optical Fiber Communication" von K. Hill et al. (Optical Fiber
Communication Conference, San Diego 1995, pp. 146-193) die Integration von
Gitterfiltern in den Kern von Glasfasern mit holographischen Verfahren
(Zweistrahlinterferenz) und mit faserinternen Verfahren beschrieben.
Aus dem beschriebenen Stand der Technik zeichnet sich im Zusammenhang
mit dem eingangs genannten Stand der Technik, von dem die Erfindung
ausgeht, die ihr zugrundeliegende Problematik ab. Im Hinblick auf die
Gestaltung eines einem Wellenleiter überlagerten Gitterfilters steht
insbesondere dessen bekannte reliefartige Oberflächenausbildung als Problem
im Vordergrund. Diese kann die Integrationsfähigkeit des Gitterfilters in
komplexere optische Schaltkreise behindern. Außerdem sind Maßnahmen zum
Auffüllen der Rillen, beispielsweise Auffüllen mit einem Polymer, epitaktisches
Kristallwachstum oder Aufdampfen bzw. Aufsputtern anderer Materialien,
erforderlich, wenn der Brechungsindex der Rillen von dem von Luft verschieden
sein soll, um den Sprung bei der Brechungsindexänderung verringern zu
können. Derartige Probleme sollen bei der Erfindung vermieden sein. Die
optimale Integrationsfähigkeit des optischen Bauteils soll ermöglicht werden.
Dabei sollen die erforderlichen ortsabhängigen Brechungsindzes durch einfache
materialinterne Änderungen realisiert und einfach einstellbar sein. Insbesondere
bei dem erfindungsgemäßen Verfahren sollen diese materialinternen
Veränderungen einfach und ohne Zusatzmaßnahmen sowie kostengünstig, aber
hochgenau und reproduzierbar herstellbar sein. Dabei sollen
Automationsmöglichkeiten berücksichtigt werden können.
Die Aufgaben bei der Ausgestaltung eines einem Wellenleiter überlagerten
Gitterfilters werden bei der Erfindung dadurch gelöst, daß das Gitterfilter als
latentes Bild mit einer planaren Oberfläche ausgebildet ist und die den
Wellenleiter definiererende Polymerschicht im Bereich des latenten Bildes des
Gitterfilters ortsabhängig molekülverändertes Polymer mit unterschiedlichem
Brechungsindex aufweist, wobei die Brechungsindexänderung kontinuierlich ist
und im Bereich eines Tausendstels des Brechungsindex des Polymers liegt.
Die Strukturierung des Gitterfilters erfolgt bei der Erfindung nicht durch ein
Relief, sondern durch ein "latentes Bild", d. h. durch eine dauerhafte Abbildung
der Gitterparameter im Polymer, die dadurch einfach einstellbar sind. Durch die
planare Gitterfilteroberfläche ist die Voraussetzung für eine einfache
Integrationsmöglichkeit mit komplexen wellenleiterbasierenden Bauelementen,
wie beispielsweise Schaltern oder polarisationsändernden Elementen, gegeben.
Ohne die übliche "topographische" Veränderung des Polymers können mit den
erfindungsgemäßen Gitterfiltern komplexe integriert-optische Schaltkreise
realisiert werden. Die Abbildung der Gitterparameter ist bei der Erfindung durch
die ortsabhängige Brechungsindexänderung infolge materialinterner
Veränderungen realisiert. Hierzu sind jedoch keine zusätzlichen, implantierten
Materialien vorhanden, sondern beispielsweise die im PMMA vorhandenen
Molekülketten sind ortsabhängig in geeigneter Weise aufgespalten, so daß eine
Brechungsindexänderung durch eine Verschiebung der
Molekulargewichtsverteilung (kurze Molekülketten haben einen höheren
Brechungsindex als lange) bewirkt ist. Dabei ist die Brechungsindexänderung
durch eine kontinuierliche Materialbeeinflussung fließend gestaltet und relativ
gering, so daß eine optimale Lichtauskopplung durch eine minimale und damit
einfache Umgestaltung des Polymers gewährleistet ist. Durch die beliebig
wählbare Strukturierung des erfindungsgemäßen Gitterfilters ist es möglich,
sowohl gezielt einzelne Wellenlängen als auch Wellenlängenbereiche optimal
auskoppeln zu können.
Gemäß einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung ist die Polymerschicht
oberhalb des Gitterfilters mit einer Pufferschicht und einem darüber
angeordneten thermischen Kontakt versehen. Die Pufferschicht besteht
beispielsweise aus Teflon und dient zum einen dem Schutz der
Gitterfilteroberfläche gegen Staub und mechanische Kräfte. Weil die
Gitterfilteroberfläche erfindungsgemäß planar ist, kann das Teflon einfach
aufgebracht werden. Darauf angeordnet ist ein thermischer Kontakt, der
beispielsweise mit einer Heizelektrode oder einem Peltierelement verbunden ist.
Im Wellenleiter bewirkt eine Temperaturveränderung eine zusätzliche
Beeinflussung der Molekülketten. Damit verändert sich das ursprünglich
eingestellte latente Gitterfilterbild durch Änderung des örtlichen Brechungsindex
und damit die Filtercharakteristik des Gitterfilters. Die Auskopplungswellen länge
kann gezielt eingestellt werden. Die beschriebene Anordnung realisiert damit ein
durchstimmbares Gitterfilter und damit ein äußerst wichtiges und vielseitiges
Bauelement in der optischen Nachrichtentechnik.
Nach der Beschreibung der körperlichen Ausgestaltung des erfindungsgemäß
einem Wellenleiter überlagerten Gitterfilters wird nachfolgend im Hinblick auf
den bereits gewürdigten Stand der Technik, aus dem der Einsatz eines direkt
schreibenden Elektronenstrahls in der Wellenleitertechnik bekannt ist, und im
Hinblick auf die bereits angesprochene Problematik das erfindungsgemäße
Verfahren zur Herstellung eines einem Wellenleiter überlagerten Gitterfilters mit
ortsabhängigem Brechungsindex zur gleichmäßigen optischen Auskopplung
eines Wellenlängenbereichs aus einem im Wellenleiter geführten Lichtstrahl
näher erläutert, das dadurch gekennzeichnet ist, daß das latente Bild des
Gitterfilters durch die ausschließliche Belichtung mit dem Elektronenstrahl direkt
erzeugbar ist.
Das latente Bild wird einfach direkt in die Polymerschicht geschrieben.
Wesentlich für dieses Verfahren ist damit, daß keine zusätzlichen Prozeßschritte
zur Gitterfiltererzeugung notwendig sind. Insbesondere entfällt die Anwendung
von trockenen oder nassen Ätztechniken, so daß die damit verbundenen
Nachteile vermieden sind. Die Verlustmechanismen, wie beispielsweise
Abstrahlungsverluste durch Vergrößerung der inneren Rauhigkeit und
Herstellungsungenauigkeiten durch Maskenverwendung oder
Schneidstrahlabweichungen, sind damit deutlich reduziert. Mit der
Elektronenstrahl-Direktbelichtung können auch technisch anspruchsvolle Filter
einfach hergestellt werden. Die Flexibilität bezüglich Gitterperiodizität, Wahl des
Tastverhältnisses und Belichtungsdosisverteilung sowie die Wahl der
Beschleunigungsspannung zur Einstellung des örtlichen Brechungsindex erlaubt
auf einfache Weise auch verschiedene Gitterfilter in komplexen integriert
optischen Schaltkreisen gleichzeitig und damit kostengünstig herzustellen. Dabei
sorgt die in lateraler Richtung auftretende Streuung der Elektronen im
Gitterfilterbereich zu einer die Ausmaße der Strahleindringfläche
überschreitenden Brechungsindexveränderung und damit für den
kontinuierlichen Übergang zu dem Brechungsindex der nichtbelichteten, weiter
entfernten Flächen. Die relativ geringen Wechselwirkungen der Elektronen
selbst bewirken dabei die erfindungsgemäß nur geringen Abweichungen des
Brechungsindex von dem des Wellenleiters. Die Möglichkeiten, mit
Elektronenstrahlen auch komplizierte Muster (Variation von Tastverhältnis und
Gitterperiode sowie Gitterstruktur und -länge) mit Linienbreiten und -abständen
im Mikro- und im Submikrometerbereich herstellen zu können, sowie eine
computergesteuerte Automatisierung vornehmen zu können, fanden bereits
Erwähnung. Hinzu kommt, daß es sich bei Elektronenstrahlanlagen zwar immer
noch um relativ aufwendige Anlagen handelt, die aber im Vergleich zu
Ionenstrahl-Anlagen jedoch schon weit fortentwickelt und damit trotz ihrer hohen
Flexibilität und Schreibgenauigkeit relativ weit verbreitet sind.
Nach einer Ausgestaltung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist vorgesehen,
daß die Charakteristiken des latenten Bildes des Gitterfilters durch
Nachbehandlungsschritte noch verstärkbar sind. Damit können im latenten Bild
verdeckt vorhandene Bildinhalte als zusätzliche Teilinformationen noch genutzt
werden. Bei solchen Nachbehandlungsschritten handelt es sich beispielsweise
um das Tempern oder um das Behandeln mit einem chemischen Mittel.
Eine andere vorteilhafte Ausgestaltung beschreibt die Möglichkeit, daß vor der
direkten Erzeugung des latenten Bildes des Gitterfilters der Wellenleiter selbst
durch die ausschließliche Belichtung mit dem Elektronenstrahl direkt erzeugbar
ist. Dadurch verringert sich nochmals die Zahl der Herstellungsschritte. Die
unstrukturierte Polymerschicht auf dem Substrat bildet das Ausgangsmaterial,
das nur einmal eingespannt und justiert werden muß. Wellenleiter und Gitterfilter
werden additiv in zwei aufeinanderfolgenden Verfahrensschritten mit ein- und
demselben Elektronenstrahl erzeugt. Im Bereich des Wellenleiters erfährt das
Material eine überlagerte Brechungsindexänderung. Möglich ist
erfindungsgemäß aber auch, daß während der direkten Erzeugung des latenten
Bildes des Gitterfilters der Wellenleiter selbst durch die ausschließliche
Belichtung mit dem Elektronenstrahl direkt erzeugbar ist. Wellenleiter und
Gitterfilter werden dann in nur noch einem einzigen Verfahrensschritt
alternierend nacheinander strukturiert, so daß das Material ortsabhängig nur
eine einmalige Änderung des Brechungsindex erfährt. Das Verfahren ist damit
besonders ablauf- und kostengünstig. Durch eine automatische Steuerung
mittels eines programmierbaren Computers, in dem Programme zur Herstellung
jeder einzelnen Gitterlinie gespeichert sind, kann es noch weiter optimiert
werden.
Im folgenden soll anhand von Erläuterungen der Figuren das Wesentliche der
Erfindung bezüglich Ausgestaltung und Herstellung noch verdeutlicht werden.
Es zeigt dabei schematisch und vereinfacht im einzelnen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht eines einem Wellenleiter
überlagerten Gitterfilters,
Fig. 2 die Brechzahlverteilung im Querschnitt der PMMA-Schicht,
Fig. 3 eine Gitterfiltervariation durch Variation der Elektronen
belichtungsdosis,
Fig. 4 eine Gitterfiltervariation durch Variation der Gitterperiode,
Fig. 5 eine Gitterfiltervariation durch Variation des Tastverhältnisses,
Fig. 6 ein gemessenes Gitterspektrum bei einem thermisch beeinflußten
Gitterfilter und
Fig. 7 ein Blockschema für den Verfahrensablauf zur Herstellung eines
einem Wellenleiter überlagerten Gitterfilters.
Die Fig. 1 zeigt eine, auf ein Substrat 1 aus Silizium aufgebrachte
Polymerschicht 2 aus Polymethymethacrylat (PMMA), in die ein Wellenleiter 3
mit rechteckigem Querschnitt eingebettet ist. Der Verlauf des geführten
Lichtstrahls ist durch einen Pfeil angedeutet. Die eingezeichneten
Begrenzungslinien zwischen dem Wellenleiter 3 und der Polymerschicht 2 sind
keine Körperkanten, sondern bezeichnen materialinterne Grenzbereiche, die
durch die materialverändernde Strukturierung des Wellenleiters 3 entstanden
sind.
Dem Wellenleiter 3 ist quer zur Lichtausbreitung ein Gitterfilter 4 überlagert, mit
dem Licht vorgegebener Wellenlänge aus dem Lichtstrahl gleichmäßig
ausgekoppelt werden kann. Die Weitergabe des ausgekoppelten Lichtanteils an
weitere optische Bauteile und Bauelemente ist in der Fig. 1 nicht weiter
gezeigt. Das dargestellte Gitterfilter 4 ist zur Bezeichnung von Details
maßstabsverzerrt stark vergrößert dargestellt. Es weist aus Herstellungsgründen
eine größere Breite als der Wellenleiter 3 auf. Das Gitterfilter 4 ist wie dieser als
latentes Bild, d. h. als Abbildung vorgegebener ortsabhängiger Veränderungen,
in die Polymerschicht 2 integriert und weist eine planare Oberfläche 5 auf. Dabei
bestehen die ortsabhängigen Veränderungen aus Bereichen unterschiedlicher
Brechungsindizes n in Form von einzelnen Gitterlinien 6. Auch hier sind die
eingezeichneten Linien also keine reliefartigen Körperkanten, sondern
bezeichnen die unterschiedlichen Brechungsbereiche.
In Fig. 2 ist ein Querschnitt durch die Polymerschicht 2 entlang des
Wellenleiters 3 dargestellt. Hieraus ist zu erkennen, daß die Gitterlinien 6 einen
nicht genau rechteckigen Querschnitt aufweisen, sondern keulenartig
aufgeweitet sind. Die Aufweitung erfolgt durch die Streuung der belichtenden
Elektronen (Pfeile) an den Atomen in der Polymerschicht 2 und durch
Rückstreuung an den Atomen im Substrat 1. Durch die nach außen
abnehmende Streuung entsteht ein kontinuierlicher Brechungsindexübergang
vom Brechungsindex n₂ im Kern der Gitterlinien 6 bis auf den Brechungsindex n₁
der Polymerschicht 2.
Die Fig. 3 bis 5 verdeutlichen die große Variationsbreite bei der Gestaltung
des Gitterfilters 4 und zeigen wiederum jeweils einen Querschnitt durch den
Wellenleiter 3. In Fig. 3 ist ein Gitterfilter 6 dargestellt, bei dem die Gitterlinien
6 zwar einen konstanten Abstand zueinander haben, aber jeweils einen anderen
Brechungsindex n₂, n₃, n₄ aufweisen. Derartige Veränderungen sind durch
einfache Variation der Elektronendosis bei der Belichtung herstellbar. Die Fig.
4 zeigt ein Gitterfilter 4 mit einer veränderten Gitterperiode P. Durch stetige
Verbreiterung der Gitterlinien 6 und Zunahme ihres Abstandes nimmt auch die
Gitterperiode P zu. Es gilt hier P₁<P₂<P₃. Die Fig. 5 zeigt die Variation des
Tastverhältnisses L in einem Gitterfilter 4 mit voneinander unterschiedlich
entfernten Gitterlinien 6, wobei deren Breite d₁, d₂, d₃ mit ihrem jeweils
benachbarten verschieden breiten Polymerstreifen 7 die konstante Breite B
ergibt. Dabei ermittelt sich das Tastverhältnis L aus dem Verhältnis der
Gitterlinienbreite d zur Gesamtbreite B. Es gilt d₁/B ≠ d₂/B ≠ d₃/B. Die
aufgezeigten Gitterparameter sind also von Linie zu Linie einfach variierbar.
Die Fig. 6 zeigt ein mit einem Meßaufbau aufgenommenes Gitterspektrum
(bezogene Lichtstrahlleistung P über der durchgelassenen Wellenlänge λ) für
ein durch Dosisvariation inhomogen strukturiertes Gitterfilter mit einer
Gitterlänge von 8300 Linien unter Temperatureinfluß. Dabei wurde die
Transmission der TE-Mode ermittelt. Die obere Kurve zeigt das
Durchlaßverhalten des Gitterfilters bei einer Polymertemperatur im
Wellenleiterbereich von 24°C mit einer minimalen Durchlässigkeit für Licht mit
einer Wellenlänge von ca. 1557 nm. Bei einer Temperatur von 53°C liegt die
minimale Durchlässigkeit ungefähr 9 nm darunter (Änderung -0,3 nm/°C), also
bei ungefähr 1548 nm. Damit ist gezeigt, daß durch Temperatureinfluß das
Gitterfilter in einem großen Bereich durchstimmbar geworden ist, d. h. in seiner
Filtercharakteristik durch einfache Änderung seines latenten Bildes kontinuierlich
veränderbar ist. Dabei ist der sich verändernde Parameter der Brechungsindex
n, der in seiner Größe bekanntermaßen temperaturabhängig ist. Außerdem
treten Verspannungen zwischen der Polymerschicht 2 und dem Substrat 1 auf.
Im folgenden wird anhand des Blockschaltbildes in der Fig. 7 das
erfindungsgemäße Verfahren näher erläutert. Im Verfahrensschritt I wird eine
Silizium-Scheibe als Substrat in der vorgesehenen Größe, beispielsweise zum
Aufbau eines optischen Chips, vorbereitet. Anschließend wird im
Verfahrenschritt II das Substrat mit einer Siliziumoxidschicht von einigen µm
Schichtdicke versehen. Auf diese wird im nachfolgenden Verfahrensschritt: III
eine Schicht aus PMMA mit eine Schichtdicke von 4-5 µm aufgeschleudert.
Beim dargestellten Verfahrensablauf wird dann im Verfahrensschritt IV das
beschichtete Substrat in einer Anlage zur Elektronenstrahlbelichtung justiert und
dann der Wellenleiter mit einer Breite von 5 µm durch ausschließliche
Elektronenstrahl-Belichtung in die Polymerschicht auf dem Substrat direkt
strukturiert. Es ist aber auch möglich, im Verfahrensablauf den Wellenleiter
durch einen UV-Belichtungsprozeß durch eine Chrommaske hindurch zu
strukturieren, wenn zuvor das Polymer für den Belichtungsprozeß vorbereitet
wurde, beispielsweise durch Dotierung mit einem Photostarter. In den
belichteten Bereichen wird dann der Brechungsindex durch chemische Spaltung
des Photostarters erhöht, nachfolgend werden die ungespaltenen Moleküle bei
einem Ausheizprozeß ausgegast.
Das mit dem Wellenleiter versehene beschichtete Substrat verbleibt im
Verfahrensschritt V in der Justageposition in der Elektronenstrahl
belichtungsanlage. Durch direkte und ausschließliche Elektronenstrahlbelichtung
wird nunmehr das latente Bild eines Gitterfilters in die Polymerschicht
eingeschrieben. Dabei sorgt die Beibehaltung der Justageposition aus
Verfahrensschritt IV für die exakte Überlagerung des Gitterfilters mit dem
Wellenleiter. Die Erzeugung des latenten Bildes erfolgt ausschließlich durch
elektroneninduzierte örtliche Brechungsindexänderung. Es erfolgen keine
Teilcheneinlagerungen oder sonstige Volumeneffekte. Die einzelnen Gitterlinien
werden sequentiell nach der Festlegung der Parameter in einem
Computerprogramm geschrieben. Die Gitterparameter "Brechungsindex",
"Gitterperiode" und "Tastverhältnis" können von Linie zu Linie beliebig verändert
werden durch einfache Variation der Elektronendosis sowie der
Elektronenstrahlgeometrie und -führung. Durch Streuung der Elektronen im
Polymer und Rückstreuung der Elektronen durch das darunterliegende Substrat
sind die Belichtungsgrenzen der Gitterlinien nicht scharf definiert, die
Dosisverteilung erfolgt kontinuierlich. Die in den Chip eingebrachte Ladung im
Bereich der Gitterlinien beträgt einige tausend µC/cm² bei einer benutzten
Beschleunigungsspannung von 50 kV. Diese Ladung wird durch das
Siliziumsubstrat abgeführt, so daß die Entstehung von hohen lokalen
Ladungskonzentrationen weitgehend verhindert wird. Weitere Verfahrensschritte
entfallen, die bei reliefbildenden Lithographieverfahren zum Erzeugen von
Gitterrillen erforderlich sind, insbesondere das Aufbringen von Photolack,
dessen Belichtung und Entfernung sowie trockenes oder nasses Ätzen des
belichteten Polymers.
Soll das optische Bauteil unter üblichen, d. h. nicht staubfreien Bedingungen
eingesetzt werden, kann nachfolgend im Verfahrensschritt VI zum Schutz des
Gitterfilters noch eine Pufferschicht aufgebracht werden, hier durch
Aufschleudern von Teflon. Soll das Gitterfilter in seiner Filtercharakteristik
durchstimmbar sein, so kann dies durch eine steuerbare
Temperaturbeeinflussung des PMMA im Gitterbereich erfolgen, da dessen
örtlicher Brechungsindex zumindest temperaturabhängig ist. Dazu wird im
Verfahrensschritt VII auf die Teflonschicht oberhalb des Gitterfilters ein
thermischer Kontakt, beispielsweise in Form einer Heizelektrode oder eines
Peltierelements, aufgebracht. Die Kontakte für den elektrischen Anschluß
können nach dem, an sich bekannten "lift-off"-Verfahren angebracht werden und
aus Gold bestehen. Um das hergestellte Bauteil für eine korrekte Ankopplung an
optische Fasern gut vorzubereiten, können im Anschluß an den letzten
durchgeführten Verfahrensschritt noch die Endflächen senkrecht zum
Wellenleiter durch einen Sägeprozeß um einige mm gekürzt werden, so daß die
durch das Aufschleudern des Polymers entstandene Verdickung im Randbereich
beseitigt wird.
Claims (6)
1. Einem Wellenleiter in einer Polymerschicht überlagertes Gitterfilter mit
ortsabhängigem Brechungsindex zur gleichmäßigen optischen Auskopplung
eines Wellenlängenbereichs aus einem im Wellenleiter geführten Lichtstrahl,
dadurch gekennzeichnet, daß
das Gitterfilter (4) als latentes Bild mit einer planaren Oberfläche (5) ausgebildet
ist und die den Wellenleiter (3) definierenden Polymerschicht (2) im Bereich des
latenten Bildes des Gitterfilters (4) ortsabhängig molekülverändertes Polymer mit
unterschiedlichem Brechungsindex (n) aufweist, wobei die Brechungsindex
änderung kontinuierlich ist und im Bereich eines Tausendstels des
Brechungsindex des Polymers liegt.
2. Einem Wellenleiter überlagertes Gitterfilter nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Polymerschicht (2) oberhalb des Gitterfilters (4) eine Pufferschicht aufweist.
3. Einem Wellenleiter überlagertes Gitterfilter nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Polymerschicht (2) oberhalb der Pufferschicht einen thermischen Kontakt
aufweist.
4. Verfahren zur Herstellung eines einem Wellenleiter in einer Polymerschicht
überlagerten Gitterfilters mit ortsabhängigem Brechungsindex zur gleichmäßigen
optischen Auskopplung eines Wellenlängenbereichs aus einem im Wellenleiter
geführten Lichtstrahl unter Verwendung eines direkt schreibenden
Elektronenstrahls,
dadurch gekennzeichnet, daß
das latente Bild des Gitterfilters (4) durch die ausschließliche Belichtung mit dem
Elektronenstrahl direkt erzeugbar ist.
5. Verfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Charakteristiken des latenten Bildes des Gitterfilters (4) durch
Nachbehandlungsschritte noch verstärkbar sind.
6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
vor oder während der direkten Erzeugung des latenten Bildes des Gitterfilters (4)
der Wellenleiter (3) selbst durch die ausschließliche Belichtung mit dem
Elektronenstrahl direkt erzeugbar ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995143057 DE19543057A1 (de) | 1995-11-06 | 1995-11-06 | Einem Wellenleiter in einer Polymerschicht überlagertes Gitterfilter und Verfahren zu seiner Herstellung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995143057 DE19543057A1 (de) | 1995-11-06 | 1995-11-06 | Einem Wellenleiter in einer Polymerschicht überlagertes Gitterfilter und Verfahren zu seiner Herstellung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19543057A1 true DE19543057A1 (de) | 1997-05-07 |
Family
ID=7777809
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995143057 Withdrawn DE19543057A1 (de) | 1995-11-06 | 1995-11-06 | Einem Wellenleiter in einer Polymerschicht überlagertes Gitterfilter und Verfahren zu seiner Herstellung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19543057A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999042868A1 (en) * | 1998-02-20 | 1999-08-26 | Corning Incorporated | Fabrication of diffraction gratings for optical signal devices and optical signal devices containing the same |
-
1995
- 1995-11-06 DE DE1995143057 patent/DE19543057A1/de not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999042868A1 (en) * | 1998-02-20 | 1999-08-26 | Corning Incorporated | Fabrication of diffraction gratings for optical signal devices and optical signal devices containing the same |
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