DE19521337A1 - Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer Felder - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer FelderInfo
- Publication number
- DE19521337A1 DE19521337A1 DE1995121337 DE19521337A DE19521337A1 DE 19521337 A1 DE19521337 A1 DE 19521337A1 DE 1995121337 DE1995121337 DE 1995121337 DE 19521337 A DE19521337 A DE 19521337A DE 19521337 A1 DE19521337 A1 DE 19521337A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- chamber
- electron beam
- magnetic
- electromagnetic
- plasma
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
- H01J37/30—Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
- H01J37/301—Arrangements enabling beams to pass between regions of different pressure
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/302—Contactless testing
- G01R31/305—Contactless testing using electron beams
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/0213—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using deviation of charged particles by the magnetic field
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2237/00—Discharge tubes exposing object to beam, e.g. for analysis treatment, etching, imaging
- H01J2237/25—Tubes for localised analysis using electron or ion beams
- H01J2237/2505—Tubes for localised analysis using electron or ion beams characterised by their application
- H01J2237/2588—Lorenz microscopy (magnetic field measurement)
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Plasma Technology (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Nachweis und Loka
lisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer Felder
die von einem an elektrischer Spannung liegenden Körper
emittiert werden.
Elektronische Bauteile wie beispielsweise Chips oder be
stückte Leiterplatten können magnetische oder elektromagne
tische Felder emittieren, die während des Betriebs zu ver
fälschten Arbeitsergebnissen führen und gegebenenfalls
Defekte auslösen können.
Die Erfindung hat sich zur Aufgabe gestellt, ein Verfahren
anzugeben, mit dessen Hilfe derartige Störfelder sich pro
blemlos lokalisieren lassen.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß ein
fokussierter Elektronenstrahl in eine mindestens teilweise
durchsichtige, den Körper enthaltende Plasmakammer eingelei
tet und darin fächerförmig so geführt wird, daß er bei
vorhandenen magnetischen und/oder elektromagnetischen Stör
feldern in Richtung auf diese abgelenkt wird.
Damit bietet dieses Verfahren die Möglichkeit, solche Stör
felder sichtbar zu machen und/oder photographisch festhalten
zu können.
Das Verfahren läßt sich in vorteilhafter Weise derart wei
terbilden, daß Störfelder nicht nur sichtbar werden, sondern
am zu überprüfenden Körper selbst am Ort des Entstehens
genau zu lokalisieren sind. Zu diesem Zweck wird gemäß
Anspruch 2 die Spannung am Körper so verstärkt, daß bei Be
aufschlagung des Elektronenstrahles am Körper Brennmarken
entstehen.
Weiterer Gegenstand der Erfindung ist eine Vorrichtung zur
Durchführung des Verfahrens, die in Anspruch 3 gekennzeich
net ist. Demgemäß sind zwei hintereinander liegende, gas
dicht voneinander getrennte Kammern vorgesehen, von denen
die erste eine Elektronenstrahlkanone sowie eine den Elek
tronenstrahl fokussierende und in dessen Austrittsbereich
aus der ersten Kammer ablenkende Einheit enthält und evaku
iert ist und die zweite, mindestens teilweise durchsichtige
und gegebenenfalls evakuierte Kammer ein Plasma sowie den an
Spannung anliegenden Körper enthält. An dieser Plasmakammer
liegt ein Hochfrequenzfeld an. Beide Kammern sind hierbei
über ein für Elektronenstrahlen durchlässiges Fenster mit
einander verbunden.
Um die Ablenkung des Elektronenstrahls durch Störfelder am
Körper gut beobachten oder photographieren zu können, weist
die zweite Kammer gemäß Anspruch 5 eine durch einen Glaszy
linder gebildete Wandung auf, die zwischen den Elektroden
eines Hochfrequenzgenerators liegt. Hierbei kann es vorteil
haft sein, die Konstruktion so zu treffen, daß gemäß An
spruch 6 der Körper in der zweiten Kammer lageveränderlich
gehalten ist, wodurch insbesondere bei ebenen Körpern die
Ablenkung des Elektronenstrahls noch besser erkennbar ist.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Vorrichtung sind
Gegenstand der Ansprüche 4 sowie 6 bis 13.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der erfindungs
gemäßen Vorrichtung stark schematisiert dargestellt.
Mit 10 ist als Ganzes eine erste Kammer bezeichnet, die eine
Elektronenstrahlkanone 12 enthält. Diese befindet sich in
einem Teilraum 10a, der über eine Verbindungsöffnung 14 mit
einem Teilraum 10b der Kammer 10 in Verbindung steht. Zwi
schen beiden Teilräumen befindet sich ein von einer Öffnung
14 durchsetzter gekühlter Ringflansch 16. Die Kühlung er
folgt durch einander vorzugsweise konzentrisch zugeordnete
Kühlrohre 18. Der Teilraum 10b ist durch einen sich in
Richtung eines durch die Elektronenstrahlkanone 12 erzeugten
fokussierten Elektronenstrahls 20 erstreckenden Zylinder 22
gebildet, der sich in Strahlrichtung kegelförmig erweitert.
An dessen Außenumfang liegen Spulen 24 und 26 an, von denen
die Spule 24 eine magnetische Linse zum Fokussieren des
Elektronenstrahls 20 und die Spule 26 eine Ablenkungseinheit
für den Elektronenstrahl 20 bildet.
Der Teilraum 10 ist gegenüber dem Ringflansch 16 durch eine
Stirnwand 28 dicht verschlossen, um in der Kammer 10 ein
Vakuum in einer Größe von maximal 1 × 10-4 bar aufrecht zu
erhalten. Das Vakuum wird mittels einer Vorpumpe 30 er
zeugt, der eine Öldiffusionspumpe 32 nachgeschaltet ist,
die über ein Kammerventil 34 an die erste Kammer 10 ange
schlossen ist. Außerdem liegt in einer Verbindungsleitung
36 zwischen den Pumpen 30 und 32 noch ein Dreiwegeventil
38, das über eine Umgehungsleitung 40 gleichfalls an der
ersten Kammer 10 angeschlossen ist.
Die Stirnwand 28 bildet zugleich eine Trennwand zu einer
sich an die erste Kammer 10 anschließenden zweiten Kammer
42 und besteht aus einem nicht magnetisierbaren Metall,
wie Aluminium oder Edelstahl. In der Stirnwand 28 ist
zentral ein Fenster 44 vorgesehen, das aus einem Silikat,
vorzugsweise Glimmer, gebildet ist. Der Elektronenstrahl
wird mit einer Beschleunigungsspannung bis ca. 13 kV durch
das Fenster 44 in die rechte Kammer durchgeschossen.
Die zweite Kammer 42 ist vorzugsweise im Querschnitt kreis
zylindrisch und derart ausgebildet, daß Ablenkungsvorgänge
des Elektronenstrahls 20 visuell zu beobachten sind. Zu
diesem Zweck ist die Kammerwandung vorzugsweise durch
einen Glaszylinder 46 gebildet, der gegenüber der Stirn
wand 28 mittels einer Stirnplatte 48 gasdicht verschlossen
ist. Mit 50 ist ein zu prüfender Gegenstand bezeichnet,
der an einer Aufnahmevorrichtung 52 befestigbar ist, die
ihrerseits in der Stirnplatte 48 vorzugsweise derart
beweglich gehalten ist, daß sich der Körper 50 in seiner
Lage verändern läßt. Zu diesem Zweck trägt die Aufnahme
vorrichtung eine Handhabe 54. Sie ist des weiteren über
eine Verbindungsleitung 56 am Stromnetz anschließbar.
In der zweiten Kammer 42 befindet sich ein inertes Gas
oder Edelgas zur Erzeugung einer Plasmaentladung beim
Auftreffen des Elektronenstrahls. Es wird in dieser Kammer
ein Vakuum im Zündbereich des Plasmas vorzugsweise zwi
schen etwa 4 und 3 × 10-2 aufrechterhalten.
Zur Erzeugung eines Hochfrequenzfeldes innerhalb der
zweiten Kammer 42 sind dem Außenumfang des Glaszylinders
46 Elektroden 58 und 60 eines Hochfrequenzgenerators
zugeordnet, der über eine elektrische Leitung 62 ebenfalls
ans Netz anschließbar ist. Mit 64 ist eine Gasquelle
bezeichnet, über die der zweiten Kammer 42 über eine Lei
tung 66 ein inertes Gas, vorzugsweise Edelgas zuführbar
ist. Die Plasmaentladung innerhalb der zweiten Kammer wird
mit einer Spannung zwischen DC und Mikrowellen, vorzugs
weise 13,56 und und 27,12 MHZ erzeugt.
Innerhalb der zweiten Kammer 42 ist im Abstand vor der
Stirnplatte 48 noch ein Hitzeschild 68, vorzugsweise aus
Zirkonium, angeordnet, um bei Zuführen hoher Energie für
den Elektronenstrahl 20 eine Überhitzung der Stirnplatte
48 zu vermeiden.
Wie die Zeichnung zeigt, wird durch die Ablenkspulen 26
der zuvor fokussierte Elektronenstrahl in der zweiten
Kammer 42 fächerartig derart abgelenkt, daß er den zu
prüfenden Körper 50 überstreicht. Treten an diesem magne
tische oder elektromagnetische Felder auf, wird der Elek
tronenstrahl in Richtung auf diese abgelenkt, was sich
durch Augenschein und auf photographischem Wege feststel
len läßt. Wird der Elektronenstrahl in die Plasmakammer 42
entsprechend hoher Energie eingeschossen, ist es möglich,
auftretende Störfelder exakt durch Brennflecke am Körper
50 zu markieren. Mit 70 ist eine Pumpe bezeichnet, die an
der Plasmakammer 42 angeschlossen ist, um in dieser den
erforderlichen Unterdruck zu erzeugen.
Claims (13)
1. Verfahren zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer
und/oder elektromagnetischer Felder, die von einem an
elektrischer Spannung liegenden Körper emittiert wer
den,
dadurch gekennzeichnet, daß
ein fokussierter Elektronenstrahl in eine mindestens
teilweise durchsichtige, den Körper enthaltende Plas
makammer eingeleitet und darin fächerförmig so geführt
wird, daß er bei vorhandenen magnetischen und/oder
elektromagnetischen Störfeldern in Richtung auf diese
abgelenkt wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die am Körper anliegende elektrische Spannung zum
Zwecke des lokalen Sichtbarmachens durch Brennmarken
im Körper verändert wird.
3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach An
spruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch zwei hinterei
nander liegende, gasdicht voneinander getrennte Kam
mern, von denen die erste eine Elektronenstrahlkanone
sowie eine den Elektronenstrahl fokussierende und in
dessen Austrittsbereich aus der ersten Kammer ablen
kende Einheit enthält und evakuiert ist und die zwei
te, mindestens teilweise durchsichtige und gegebenen
falls evakuierte Kammer ein Plasma sowie den an Span
nung anliegenden Körper enthält und an der ein Hoch
frequenzfeld anliegt, wobei beide Kammern über ein
für Elektronenstrahlen durchlässiges Fenster miteinan
der verbunden sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß das Fenster aus einem Silikat, insbesondere Glim
mer, gebildet ist.
5. Verfahren nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß die zweite Kammer eine durch einen Glas
zylinder gebildete Wandung aufweist, die zwischen den
Elektroden eines Hochfrequenzgenerators liegt.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß der Körper in der zweiten Kammer
lageveränderlich gehalten ist.
7. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 1
bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß der in der ersten
Kammer befindlichen Elektronenstrahlkanone eine elek
tromagnetische Fokussierlinse und dieser eine den fo
kussierten Elektronenstrahl ablenkende elektromagneti
sche Ablenkungseinheit nachgeschaltet sind.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 7, dadurch
gekennzeichnet, daß der Stirnwand der zweiten Kammer,
die dem für Elektronenstrahlen durchlässigen Fenster
gegenüberliegt, ein hochhitzebeständiger Schild vorge
ordnet ist.
9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 8, dadurch
gekennzeichnet, daß die erste Kammer in Richtung des
Elektronenstrahls in zwei miteinander verbundene Teil
räume unterteilt ist, von denen der eine die Elektro
nenstrahlkanone und der andere die Fokussierlinse und
die elektromagnetische Ablenkungseinheit enthält, wo
bei die beide Teilräume teilende Wand gekühlt ist.
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 3
bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß in der ersten Kam
mer ein Druck < 1 × 10-4 vorgesehen ist.
11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche
3 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Elektro
nenstrahl eine Beschleunigungsspannung im Bereich
von ca. 13 kV aufweist.
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche
3 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß in der zweiten
Kammer ein Druck zwischen 4 und ca. 3 × 10-2 mbar
vorliegt.
13. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche
3 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß in der zweiten
Kammer bei einer Spannung zwischen DC und Mikrowel
len, vorzugsweise 13,56 oder 27,12 MHZ, die Plasma
entladung stattfindet.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995121337 DE19521337C2 (de) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer Felder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1995121337 DE19521337C2 (de) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer Felder |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19521337A1 true DE19521337A1 (de) | 1996-12-19 |
DE19521337C2 DE19521337C2 (de) | 1999-06-24 |
Family
ID=7764182
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1995121337 Expired - Fee Related DE19521337C2 (de) | 1995-06-12 | 1995-06-12 | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer Felder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19521337C2 (de) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3437550A1 (de) * | 1984-10-12 | 1986-04-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur fehleranalyse an integrierten schaltungen |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4003356C2 (de) * | 1990-02-05 | 1994-05-26 | Siemens Ag | Detektionseinrichtung zur dreidimensionalen Bestimmung mikromagnetischer oder mikroelektrischer Felder |
-
1995
- 1995-06-12 DE DE1995121337 patent/DE19521337C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3437550A1 (de) * | 1984-10-12 | 1986-04-24 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren zur fehleranalyse an integrierten schaltungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE19521337C2 (de) | 1999-06-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60114394T2 (de) | FAIMS Vorrichtung und Verfahren mit Ionisierungsquelle auf Laserbasis | |
DE2112215C3 (de) | Neutronengenerator | |
DE112011103599B4 (de) | Laserionenquelle | |
DE69737942T2 (de) | Verfahren zum Erreichen eines im Wesentlichen gleichförmigen Oberflächenpotentials eines isolierenden Objektes | |
DE1798021B2 (de) | Einrichtung zur buendelung eines primaer-ionenstrahls eines mikroanalysators | |
DE2131652B2 (de) | Elektronenoptische Kurzzeitmeß-Bildwandlerröhre sowie Verfahren und Schaltungsanordnung zu ihrem Betrieb | |
DE102008001812A1 (de) | Positioniereinrichtung für ein Teilchenstrahlgerät | |
DE2040521A1 (de) | Massenspektrometer | |
DE102007013693B4 (de) | Ionennachweissystem mit Unterdrückung neutralen Rauschens | |
DE3424449A1 (de) | Quelle fuer negative ionen | |
DE112014003782T5 (de) | lonenstrahlvorrichtung und Emitterspitzenausformverfahren | |
DE4036115A1 (de) | Verfahren und einrichtung zur quantitativen nichtresonanten photoionisation von neutralteilchen und verwendung einer solchen einrichtung | |
DE2041422A1 (de) | Elementanalysator | |
EP0175807B1 (de) | Einrichtung zur Durchführung des SNMS-Verfahrens | |
DE112004000929T5 (de) | Stabanordnung in einer Ionenquelle | |
DE3438987A1 (de) | Auger-elektronenspektrometer mit hoher aufloesung | |
DE19521337A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Nachweis und Lokalisieren magnetischer und/oder elektromagnetischer Felder | |
DE1953659B2 (de) | Ionenquelle für die Zerstäubung mit langsamen Ionen | |
DE2048862C3 (de) | Vorrichtung zur spektralphotometrischen Analyse | |
EP0108375B1 (de) | Verfahren zur Kontrolle von elektronenstrahlgravierten Druckformoberflächen | |
DE4214417C1 (en) | Plasma lens e.g. for focussing charged particle beam - has insulating wall enclosing cylindrical discharge plasma between two opposing electrodes with aligned apertures for passage of particle beam | |
DE1218078B (de) | Vorrichtung zum Erzeugen und Einschliessen eines Plasmas | |
DE1233068B (de) | Neutronengenerator | |
DE1033816B (de) | Verfahren zum Bohren feiner Loecher | |
DE2752933A1 (de) | Elektronenmikroskop |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |