DE1942429B2

DE1942429B2 - Spectroscopic measuring device for resolving the fine structure of two spectral lines

Info

Publication number: DE1942429B2
Application number: DE19691942429
Authority: DE
Inventors: Higuchi Itami Hyogo Takaichi (Japan)
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1968-08-22
Filing date: 1969-08-20
Publication date: 1970-11-05
Also published as: FR2017000A1; DE1942429A1

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine spektroskopische ,Meßeinrichtung zur Auflösung der Feinstruktur von jeweils zwei Spektrallinien.The invention relates to a spectroscopic measuring device for resolving the fine structure of two spectral lines each.

Spektroskope bekannter Bauart arbeiten teilweise mit Beugungsgittern, Prismen oder Interferenzen mit einer Mehrzahl von parallelen Lichtstrahlen, die von einer einzigen Lichtquelle mit Hilfe einer Linse erzeugt werden. Diese obengenannten bekannten Arten von Spektroskopen weisen eine Auflösung auf, die unter anderem von der Genauigkeit abhängt, mit welcher diese Spektroskope hergestellt werden können. Wenn demzufolge Spektroskope eine hohe Auflösung aufweisen sollen, so müssen sie mit einer äußerst hohen Genauigkeit hergestellt werden, so daß der Zeit- und Arbeitsaufwand zu deren Herstellung äußerst aufwendig werden.Known design spectroscopes sometimes work with diffraction gratings, prisms or interferences a plurality of parallel light beams generated by a single light source using a lens will. These above-mentioned known types of spectroscopes have a resolution as below depends, among other things, on the accuracy with which these spectroscopes can be manufactured. if accordingly spectroscopes are to have a high resolution, they must have an extremely high resolution Accuracy can be produced, so that the time and effort required to produce them is extremely expensive will.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine neue Anordnung zur Auflösung von Hyperfeinstrukturen von zwei Spektrallinien zu schaffen, wobei die bisher üblichen optischen Dispersionsmittel, wie Prismen oder Gitter, nicht benötigt werden.The object of the present invention is to provide a new arrangement for the resolution of hyperfine structures of two spectral lines, using the previously common optical dispersing means, such as prisms or grid, are not required.

Erfmdungsgemäß wird dies dadurch erreicht, daß der von einer Lichtquelle ausgesandte Lichtstrahl über einen Lichtteiler an zwei getrennte Photonendetektoren geleitet ist und daß die Ausgangssignale der Photonendetektoren über Impulsverstärker einem UND-Kreis zugeführt sind, welcher beim gleichzeitigen Eintreffen von zwei Impulsen innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls ein Ausgangssignal an einen Zähler abgibt.According to the invention this is achieved in that the light beam emitted by a light source over a light splitter is passed to two separate photon detectors and that the output signals of the photon detectors are fed to an AND circuit via pulse amplifiers, which when they arrive at the same time of two pulses within a specified time interval an output signal to a counter gives away.

Vorzugsweise sind Einrichtungen vorgesehen, um die Zeitverzögerung zwischen den Ausgangsimpulsen beider Verstärker zu verändern, um die Zählgeschwindigkeit in Abhängigkeit der Zeitverzögerung zwischen den Ausgangsimpulsen beider Verstärker aufzuzeichnen. Die Zeitverzögerungseinrichtungen sind vorzugsweise elektrische Verzögerungskreise, die mit den Verstärkern verbunden sind. Falls dies gewünscht sein sollte, können die Verzögerungskreise jedoch auch Einrichtungen zur Bewegung von wenigstens einem der Detektoren in Richtung des Lichtteilers sein.Means are preferably provided to reduce the time delay between the output pulses of both amplifiers to change the counting speed depending on the time delay between record the output pulses of both amplifiers. The time delay devices are preferably electrical delay circuits connected to the amplifiers. If so desired should be, the delay circuits can, however, also means for moving at least one of the detectors in the direction of the light splitter.

Weitere Einzelheiten der Erfindung sollen im folgenden an Hand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert und beschrieben werden, wobei auf die Zeichnung Bezug genommen ist. Es zeigtFurther details of the invention are to be found in the following on the basis of an exemplary embodiment will be explained and described, reference being made to the drawing. It shows

Fig. 1 ein Blockdiagramm einer spektroskopischen Meßeinrichtung gemäß der Erfindung,Fig. 1 is a block diagram of a spectroscopic measuring device according to the invention,

F i g. 2 ein Diagramm zur Darstellung der Energieniveaus für Atome oder Moleküle einer Lichtquelle, wobei durch die Pfeile Übergänge zwischen zwei Energieniveaus dargestellt sind, undF i g. 2 is a diagram showing the energy levels for atoms or molecules of a light source, where transitions between two energy levels are represented by the arrows, and

F i g. 3 eine Kurvendarstellung eines Ausgangssignals der in Fig. 1 dargestellten Einrichtung entsprechend F i g. 2 dargestellten Übergängen.F i g. 3 shows a graph of an output signal of the device shown in FIG according to FIG. 2 transitions shown.

Das gegenüber bekannten Spektroskopen grundverschiedene Prinzip der Erfindung beruht auf den statistischen Eigenschaften eines Photonenstrahls, der einem Lichtstrahl entspricht. Es sei angenommen, daß für die Feststellung von Photonen und Umwandlung derselben in elektrische Impulse ein Paar von idealen Photonendetektoren in den Abständen r_l und r₂ vonThe principle of the invention, which is fundamentally different from known spectroscopes, is based on the statistical properties of a photon beam which corresponds to a light beam. It is assumed that a pair of ideal photon detectors at the distances r ₁ and r ₂ from

ίο einer Lichtquelle angeordnet sind. Entsprechend der Glanberschen Theorie, die auf S. 63 von »Quantum Optics and Electronics«, herausgegeben von C. D e w i 11 (Gorden and Breach Science Publisher, New York, N. Y., 1965) beschrieben ist, kann dieίο a light source are arranged. According to the Glanber's theory, published on page 63 of "Quantum Optics and Electronics," edited by C. D e w i 11 (Gorden and Breach Science Publisher, New York, N.Y., 1965), the

Wahrscheinlichkeit P (r_u Z₁; r₂, Z₃), daß zu einem Zeitpunkt Z₁ ein Photon den im Abstand T₁ angeordneten Detektor und gleichzeitig zu einem Zeitpunkt Z₂ ein Photon den im Abstand r₂ angeordneten Detektor erreicht, durch die folgende Gleichung ausgedrücktProbability P (r _u Z ₁ ; r ₂ , Z ₃ ) that at a time Z ₁ a photon will reach the _{detector arranged at the distance T 1} and at the same time at a time Z ₂ a photon will reach the detector arranged at the distance r ₂ , through which is expressed in the following equation

ao werden:ao will:

P(r_x, Z₁; r₂, Z₂)
~ <//£"-(f„ Z₁) E- (r₂, QE'(r₂, QEHr₁, /,)// > , P (r _x , Z ₁ ; r ₂ , Z ₂ )
~ <// £ "- (f" Z ₁ ) E- (r ₂ , QE '(r ₂ , QEHr ₁ , /,) //>,

(D(D

wobeiwhereby

E~ (r, Z) der negative Freqiienzteil des Operators des elektrischen Feldes, E ~ (r, Z) is the negative frequency part of the electric field operator,

E~ (r, t) der positive Frequenzteil dieses Operators und //> der Anfangszustand des Strahlungsfeldes ist, bevor die Photonen den Detektor erreichen, sind. E ~ (r, t) is the positive frequency part of this operator and //> is the initial state of the radiation field before the photons reach the detector.

Der Ausdruck auf der rechten Seite von GleichungThe expression on the right side of equation

(I) entspricht einem Mittelwert über »/;>«.(I) corresponds to an average value over "/;>".

Es sei nunmehr angenommen, daß — wie dies aus der die Energieniveaus und unabhängigen Übergänge der Elektronen einer Lichtquelle unter spektroskopischer Beobachtung darstellenden F i g. 2 ersichtlichIt is now assumed that - like this from the the energy levels and independent transitions of the electrons of a light source under spectroscopic observation F i g. 2 can be seen

ist — zwei unabhängige Übergänge verschiedener Art von den Energieniveaus a! und b' stattgefunden haben, wie dies durch die Pfeile in F i g. 2 angedeutet ist. Demzufolge werden zwei Photonen ausgesandt. Es sei ferner angenommen, daß E_a und Eb den Energie-is - two independent transitions of different kinds from the energy levels a! and b ' have taken place, as indicated by the arrows in FIG. 2 is indicated. As a result, two photons are emitted. It is also assumed that E _a and Eb represent the energy

differenzen zwischen den Energiehöhen α und a' bzw. b und b' entsprechen, wobei im Hinblick auf die Energieniveaus α und b die entsprechenden Halbwertsbreiten von γα und γι, in Winkelfrequenzen angegeben sind. Dann kann die in Gleichung (1) angegebenecorrespond to differences between the energy levels α and a ' or b and b' , with the corresponding half- widths of γα and γι being given in angular frequencies with regard to the energy levels α and b. Then the given in equation (1) can be

Wahrscheinlichkeit P (r_u Z₁; r₂, Z₂) berechnet werden, wobei eine Annäherung durch folgende Gleichung gegeben ist:Probability P (r _u Z ₁ ; r ₂ , Z ₂ ) can be calculated, an approximation being given by the following equation:

P{t\,t_x;r₂, t₂) = P {t \, t _x ; r ₂ , t ₂ ) =

YaYa

^AA. << ι ^B ι ^B rr

■— exp{-y_o Z₂-Z₁:)- ._ exp {-y_b I₂-I₁ ■ - exp {-y _o Z ₂ -Z ₁ :) - ._ exp {-y _b I ₂ -I ₁

-I exp {-(γ_α + Yb) h - Z₁ } 1 + cos i-------- (Z₂ - Z₁)I ,-I exp {- (γ _α + Yb) h - Z ₁ } 1 + cos i -------- (Z ₂ - Z ₁ ) I,

VV [ \ η[\ η jjyy

wobei A und B durch Matrixelemente für die Über- der Wahrscheinlichkeit P(r_u Z₁; r₂, Z₂) und die Abszissewhere A and B are represented by matrix elements for the probability P (r _u Z ₁ ; r ₂ , Z ₂ ) and the abscissa

gänge festgelegte Konstanten und ü die Plancksche 65 der Zeitverzögerung t₂—t_v entspricht. Wie dies inconstant and ü the Planckian 65 corresponds to the time delay t ₂ -t _v. Like this in

Konstante A dividiert durch 2 π ist. F i g. 3. dargestellt ist, ergibt sich, eine gedämpfteIs constant A divided by 2π. F i g. 3. is shown, results in a damped

Die Gleichung (2) beschreibt eine Wellenform, wie Schwingung mit einem Amplitudenmaximum beiEquation (2) describes a waveform such as oscillation with an amplitude maximum at

sie in F i g. 3 angezeigt ist, wobei die Ordinatenachse h—h = O, die graduell mit zunehmendem Z₂-Zithey in Fig. 3 is indicated, the ordinate axis h-h = O, gradually increasing with increasing Z ₂ -Zi

sowohl in positiver wie auch in negativer Richtung abnimmt. Von der Cosinusfunktiondecreases in both positive and negative directions. From the cosine function

coscos

-ti)-ti)

ergibt sich, daß die gedämpfte Schwingung eine Periodeit is found that the damped oscillation has a period

2 η fi T = 2 η fi T =

Ea — EhEa - Eh

aufweist.having.

2;τΛ2; τΛ

Es sei angenommen, daß «>_a, v„ und ?._a eine Winkelfrequenz, eine Frequenz und eine Wellenlänge entsprechend der Energiedifferenz E_a angeben. Es ergeben sich somitGleichungen der Form E_a -- fio>_a, o>_a ---■ 2 η v„ Assume that "> _a , v" and ?. _a specify an angular frequency, a frequency and a wavelength corresponding to the energy difference E _a. This results in equations of the form E _a - fio> _a , o> _a --- ■ 2 η v "

und ιό —and ιό -

wobei c der Lichtgeschwindigkeitwhere c is the speed of light

entspricht. Demzufolge ist E_a gleich ' .In gleicheris equivalent to. Hence E _{a is} equal to '. In the same

Weise ist £& gleich ,·' , wobei Xb einer der Eneraie t.a ~ Way, £ & equals, · ', where Xb is one of the energies t.a ~

differenz Eb entsprechenden Wellenlänge entspricht. Die Periode T kann demzufolge wie folgt berechnet werden:difference Eb corresponds to the corresponding wavelength. The period T can therefore be calculated as follows:

Ea — EbEa - Eb

f;2rrrf; 2rrr

λαλα

c — c -

X_aX„X _a X "
C λ_α — XC λ _α - X

Durch Substitution Λλ— X_n-λ_α ergibt sich:Substituting Λλ— X _n -λ _α results in:

;.„(;.„ + JA) _ ;.»„ + ;„ j;. "(;." + YES) _;. »" +; "J

cA?. '" cΔ λcA ?. '"cΔ λ

T —T -

(4)(4)

Wenn AX <| X_a ist bzw. X_b ungefähr gleich groß wie Xa ist, dann ergibt sich:If AX <| X _a is or X _{b is} approximately the same size as Xa , then we get:

T - T -

c A λc A λ

(5)(5)

wobei angenommen sei, daß )._a und Xb sich λ annähert.assuming that ). _a and Xb approaches λ .

An Hand von Gleichung (2) ergibt sich, daß die Einhüllende der in F i g. 3 dargestellten Wellenform von acn Halbwertbreiten γ_α und y& abhängt. Die Abhängigkeit ist für jede Art von Übergang verschieden. Beispielsweise ergeben die Kaskadenübergänge mit einem gemeinsamen oberen bzw. unteren Energieniveau eine etwas verschiedene Wellenform gegenüber der in F i g. 3 dargestellten Wellenform.On the basis of equation (2) it follows that the envelope of the in FIG. 3 depends on acn half- widths γ _α and y &. The dependency is different for each type of transition. For example, the cascade transitions with a common upper and lower energy level result in a slightly different waveform from that in FIG. 3 waveform.

Demzufolge ergibt sich, daß für eine beliebige Wellenform — beispielsweise der in F i g. 3 dargestellten Wellenform — die Periode der oszillierenden Teile gemessen werden kann, während die Ausdrücke Ea-Eb und γ α und y& geschätzt werden können, wobei Rechenmaschinen bekannter Bauweise eingesetzt werden können. Wenn es bereits bekannt ist, daß die Wellenlänge λ_α angenähert der Wellenlänge Xh und gleich λ ist — wie sich dies auf Grund einer Messung mit einem gewöhnlichen Spektroskop ergibt — kann die Differenz zwischen beiden Wellenlängen an Hand von Gleichung (5) berechnet werden. Demzufolge kann die Art des Übergangs und die Feinstruktur der Energieniveaus bestimmt werden.As a result, for any waveform - for example, that shown in FIG. 3 - the period of the oscillating parts can be measured, while the expressions Ea-Eb and γ α and y & can be estimated using calculating machines of known construction. If it is already known that the wavelength λ _{α is} approximately the wavelength Xh and equal to λ - as is evident from a measurement with an ordinary spectroscope - the difference between the two wavelengths can be calculated using equation (5). As a result, the type of transition and the fine structure of the energy levels can be determined.

Im folgenden soll auf F i g. 1 Bezug genommen werden, in welcher eine spektroskopische Meßeinrichtung gemäß der Erfindung dargestellt ist. Diese Einrichtung besteht aus einer zu messenden Lichtquelle, einem die Strahlen der Lichtquelle 10 empfangenden, einem ein vorgegebenes spektrales Band hindurchlassenden optischen Filter 12 und einem beispielsweise als Halbspiegel oder aus einer halbversilberten Platte bestehenden Lichtteiler 14. Dieser Lichtteiler 14 ist im wesentlichen unter 45° gegenüber der Achse des Lichtstrahles angeordnet, so daß eine Hälfte des Lichtstrahles hindurchgelassen wird, während die andere Hälfte im wesentlichen senkrecht zu dieser Achse reflektiert wird.In the following, on FIG. 1 should be referred to, in which a spectroscopic measuring device is shown according to the invention. This device consists of a light source to be measured, one that receives the rays of the light source 10, one that transmits a predetermined spectral band optical filter 12 and one, for example, as a half mirror or from a half-silvered plate existing light splitter 14. This light splitter 14 is substantially at 45 ° with respect to the axis of the Light beam arranged so that one half of the light beam is allowed to pass, while the other Half is reflected substantially perpendicular to this axis.

Beide Teile der durch den Lichtteiler 14 hmdurchgelasssnen bzw. reflektierten Lichtstrahlen fallen auf ao ein Paar von Photonendetektoren 16, 17, welche beim Auffallen jedes Photons einen elektrischen Impuls erzeugen. Diese Detektoren 16, 17 sind vorzugsweise photoelektronische Vielfacher bekannter Bauart. Die Ausgangsimpulse der Detektoren 16, 17 werden durchBoth parts of the hm durchgelasssnen through the light splitter 14 or reflected light rays fall on ao a pair of photon detectors 16, 17, which at When each photon falls, it generates an electrical impulse. These detectors 16, 17 are preferred photoelectronic multiples of known type. The output pulses of the detectors 16, 17 are through

*5 Impulsverstärker 18, 19 verstärkt und veränderlichen Verzögerungskreisen 20, 21 zugeführt. Diese Verzögerungskreise 20, 21 können den Impulsen innerhalb vorgegebener Grenzen eine beliebige Verzögerung in bezug auf den anderen Verzögerungskreis erteilen.* 5 pulse amplifiers 18, 19 amplified and changeable Delay circuits 20, 21 supplied. These delay circuits 20, 21 can the pulses within give any delay in relation to the other delay circuit within the specified limits.

Die zeitverzögerten Impulse der Verzögerungskreise 20, 21 werden den beiden Eingängen eines UND-Kreises 22 zugeführt. Nur wenn die Impulse der Verzögerungskreise 20, 21 innerhalb eines kurzen Zeitintervalls — in dem folgenden Auflösezeit genannt — an den" Eingängen des UND-Kreises 22 auftreten, wird am Ausgang dieses UND-Kreises 22 ein Impuls abgegeben. Wenn beispielsweise die Differenz zwischen einem Zeitpunkt I₁, zu welchem ein Photon auf den Detektor 16 fällt, und zu einem Zeitpunkt /₂. zu welchem ein Photon auf den Detektor 17 fällt, gleich der Größe r = I₁-I₂ ist, dann ist das UND-Gatter 22 so ausgelegt, daß es einen Ausgangsimpuls abgibt. Die Impulse des UND-Gatters 22 werden einem Zähler 24 zugeführt, in welchem dieselben gezählt werden.The time-delayed pulses of the delay circuits 20, 21 are fed to the two inputs of an AND circuit 22. Only when the pulses of the delay circuits 20, 21 occur at the "inputs of the AND circuit 22" within a short time interval - referred to below as the resolution time - is a pulse emitted at the output of this AND circuit 22. If, for example, the difference between a point in time I ₁ , at which a photon falls on the detector 16, and at a point in time / _2nd at which a photon falls on the detector 17 is equal to the magnitude r = I ₁ -I ₂ , then the AND gate 22 is like this The pulses of the AND gate 22 are fed to a counter 24 in which they are counted.

Für den Betrieb der Meßeinrichtung können beliebige Steuereinrichtungen verwendet werden, um die Zeitdifferenz τ zwischen den Zeitpunkten Z₁ und /₂ diskret — d. h. von einem bestimmten Wert auf den nächsten diskreten Wert — oder kontinuierlich zu verändern, um eine veränderliche Ablesung an dem Zähler 24 zu ermöglichen. Die digitale Zählgeschwindigkeit pro Zeiteinheit wird einem geeigneten, nicht dargestellten Digital-Analog-Konverter zugeführt, so daß sich ein entsprechender Analogwert ergibt. Der Analogwert wird dann einem X- K-Schreiber zugeführt, der die Verzögerungszeit entlang der A'-Achse gegen die Zählgeschwindigkeit entlang der F-Achse darstellt. Der Konverter und Schreiber können bekannter Konstruktion sein und brauchen deshalb nicht weiter beschrieben zu werden.Any control devices can be used to operate the measuring device in order to change the time difference τ between the times Z ₁ and / ₂ discretely - ie from a certain value to the next discrete value - or continuously in order to obtain a variable reading on the counter 24 enable. The digital counting speed per unit of time is fed to a suitable digital-to-analog converter, not shown, so that a corresponding analog value is obtained. The analog value is then fed to an X- K recorder which plots the delay time along the A 'axis versus the counting speed along the F axis. The converter and writer can be of known construction and therefore do not need to be described further.

Bei einem eine geeignete Auflösezeit aufweisenden UND-Gatter 22 ergeben sich Kurven, die der in Fig. 3 dargestellten Kurve entsprechen. Es ist festgestellt worden, daß zur Beobachtung einer wie in F i g. 3 dargestellten gedämpften Schwingung die Auflösezeit At des UND-Kreises 22 nicht mehr als ein Viertel der Periode T der gedämpften SchwingungIn the case of an AND gate 22 having a suitable resolution time, curves are produced which correspond to the curve shown in FIG. 3. It has been found that in order to observe one as shown in FIG. 3 illustrated damped oscillation, the resolution time At of the AND circuit 22 not more than a quarter of the period T of the damped oscillation

sein muß Wenn ein Paar von Wellenlängen in der Nähe der Größe / liegt, dann muß demzufolge der U N D-K reis 22 eine Auslösezeit/1/ haben, die folgender Bedingung genügt:must be. Accordingly, if a pair of wavelengths is close to magnitude /, then the must be U N D circle 22 have a release time / 1 /, the following Condition is sufficient:

AcA).AcA).

(6)(6)

wie sich dies an Hand von Gleichung (5) ergibt. Aus der obigen Gleichung erhält man:as can be seen from equation (5). From the above equation we get:

At-M <At-M <

(7)(7)

Dies bedeutet, daß, je niedriger der Wert von A). ist, desto geringer die durch den Wert A t hervorgerufene Begrenzung ist. Wenn beispielsweise A).-- 10 ¹A bei einer Wellenlänge von ungefähr 5(KKlA ist. dann muß At nicht mehr als 2- 10 ⁸ Sekunden betragen.This means that the lower the value of A). the lower the limitation caused by the value A t. For example, if A) - 10 ¹ A at a wavelength of about 5 (KKlA. Then At need not be more than 2- 10 ⁸ seconds.

Die durch den Schreiber sich ergebenden Kurven werden in der bereits in bezug auf den Zusammenhang mit Fi g. 3 beschriebenen Art und Weise verarbeitet, um die Lichtquelle 10 spektroskopisch festzulegen, d. h. die bestimmte Art von Übergängen und die Struktur der Energiehöhen festzulegen.The curves produced by the writer are already in relation to the context with Fi g. 3 processed in the manner described, to spectroscopically define the light source 10, d. H. the particular type of transitions and the Define the structure of the energy levels.

Die vorliegende Erfindung ist insbesondere für die Feststellung der hyperfeinen Struktur von Spektrallinien geeignet. Sie ist jedoch ebenfalls für Spektralanalysen von ausgesandtem Licht, und zwar nicht nur für die in F i g. 2 dargestellten übergänge, sondern auch andere übergänge — einschließlich Kaskadenübergänge mit einem gemeinsamen oberen und unteren Energieniveau — geeignet. Im letzteren Fall ergibt sich eine Kurve der gedämpften Schwingung, die hinsichtlich ihrer Form gegenüber der in F i g. 3 dargestellten etwas verschieden ist. die jedoch in ähnlicher WeiseThe present invention is particularly useful for determining the hyperfine structure of spectral lines suitable. However, it is also for spectral analysis of emitted light, and not only for the in F i g. 2, but also other transitions - including cascade transitions with a common upper and lower energy level - suitable. In the latter case it results a curve of the damped oscillation, which in terms of its shape compared to that in FIG. 3 shown something is different. however, in a similar way

verarbeitet werden kann, wie dies bereits in bezug auf eine bestimmte Art von Übergängen und Struktur der Energieniveaus beschrieben worden ist.can be processed as it is already with respect to a certain type of transitions and structure the energy levels has been described.

Schließlich sei bemerkt, daß an Stelle einer Verwendung des Verzögerungskreises 20, 21 wenigstens einer der Detektoren 16 oder 17 in Richtung des Lichtteilers 14 bewegt werden kann, wodurch ebenfalls eine zeitliche Differenz zwischen den beiden Sätzen von Impulsen erzeugbar ist.Finally, it should be noted that instead of using the delay circuit 20, 21 at least one of the detectors 16 or 17 can be moved in the direction of the light splitter 14, whereby likewise a time difference between the two sets of pulses can be generated.

Claims

Patent claims:

1. Spectroscopic measuring device for resolving the fine structure of two spectral lines, characterized in that the light beam emitted by a light source (10) is passed via a light splitter (14) to two separate photon detectors (16, 17) and that the output signals of the photon detectors (16, 17) via pulse amplifiers (18, 19) to an AND circuit (22) are supplied, which when two pulses arrive at the same time within emits an output signal to a counter (24) at a predetermined time interval.

2. Measuring device according to claim 1, characterized in that at least one measuring mast (14, 16, 20, 22) an adjustable delay circuit (20) is arranged.

3. Measuring device according to claim 2, characterized in that in both measuring branches to the Outputs of the pulse amplifiers (18, 19) delay circuits (20, 21) are arranged.

4. Measuring device according to claim 1, characterized in that to achieve a time delay at least one photon detector (16, 17) with respect to its distance from the light splitter (14) is adjustable.

1 sheet of drawings