DE1917877B2 - Device for determining surface defects on a continuous web of material - Google Patents

Device for determining surface defects on a continuous web of material

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Description

bahn so dicht wie möglich nebeneinander und so dicht wie möglich an der Oberfläche dieser Materialbahn über diese gestrahlt werden. Wenn diese Lichtstrahlen LW und LW durch Fehlerstellen 8 bzw. 8' ganz oder teilweise abgefangen und das Licht reflektiert wird, trifft dieses auf die benachbarten Wandler der Wandlerreihe 9, so daß diese entsprechende Ausgangssignale abgeben.web as close as possible next to each other and as close as possible to the surface of this material web are blasted over them. When these light beams LW and LW are wholly or partially intercepted by defects 8 and 8 'and the light is reflected, it strikes the neighboring transducers of the transducer row 9, so that they emit corresponding output signals.

Bei .diesem Ausführungsbeispiel werden die Lichtstrahlen LW und LW' in entgegengesetzte Richtungen und in sehr dicht benachbarten Linien von den jeweils nur etwas von den Längskanten des Bandmaterials 1 entfernt vorgesehenen Lichtquellen ausgestrahlt; auch wenn die Oberfläche der Rolle 2 nicht genau gerade ist, reichen deshalb die Lichtstrahlen LW und LW' sehr dicht an der Oberfläche des Bandmaterials 1 auf der Rolle soweit in die gegenüberliigende Richtung, daß zumindest jeweils die halbe Breite des Bandmaterials 1 einer genauen Prüfung unterworfen ist. Eine solche Ausführungsform ist in dem Fall nützlich, wo der Mittelteil der Rolle aus Gründen der Stabilisierung etwas dicker als die beiden Enden gemacht ist oder in dem Fall, wo die Rolle mehrere Meter lang ist und deshalb leicht durchhängt.In this exemplary embodiment, the light beams LW and LW ' are emitted in opposite directions and in very closely spaced lines from the light sources provided only slightly away from the longitudinal edges of the strip material 1; Even if the surface of the roll 2 is not exactly straight, the light rays LW and LW ' therefore extend very close to the surface of the strip material 1 on the roll so far in the opposite direction that at least half the width of the strip material 1 is subjected to a precise examination is. Such an embodiment is useful in the case where the central part of the roller is made somewhat thicker than the two ends for reasons of stabilization or in the case where the roller is several meters long and therefore sags slightly.

Bei dem in Fig. 3 gezeigten Ausführungsbeispiel wird ein modulierter Lichtstrahl LWM verwendet. Hierzu wird der von der Lichtquelle 6 ausgesandte Lichtstrahl durch eine umlaufende Lochkarte 61, die mit mehreren Löchern 62 versehen ist und über einen Riemen 63 von einem Motor 64 angetrieben ist, periodisch unterbrochen, d.h. moduliert. Damit ist auch das von einer Fehlerstelle 8 reflektierte Licht moduliert und der dieses Licht empfangende Wandler gibt damit ein Wechselstromausgangssignal ab, auch wenn die Fehlerstelle 8 in Längsrichtung relativ laug ist Dieses Modulafionsprinzip kann uuch bei einer Anordnung mit zwei Lichtstrahlen im SinneIn the embodiment shown in FIG. 3, a modulated light beam LWM is used. For this purpose, the light beam emitted by the light source 6 is periodically interrupted, ie modulated, by a circumferential punch card 61 which is provided with several holes 62 and is driven by a motor 64 via a belt 63. This modulates the light reflected by a fault location 8 and the converter receiving this light emits an alternating current output signal, even if the fault location 8 is relatively long in the longitudinal direction

der Fig. 2 angewendet werden.of Fig. 2 can be applied.

Fig 4 zeigt die Kombination eines modulierten Lichtstrahles LWM und eines nicht modulierten Lichtstrahles LW', jeweils ausgesandt von Lichtquellen 6 bzw. 6', die entgegengesetzt zueinander4 shows the combination of a modulated light beam LWM and a non-modulated light beam LW ', each emitted by light sources 6 and 6' which are opposite to one another

!0 dicht nebeneinander über die Oberfläche des Bandmaterials 1 verlaufen. Der Lichtstrahl LWM wird wieder wie in Fig. 3 durch eine Lochblende^moduliert. Bei einer solchen Vorrichtung werden über eine in Längsrichtung verlaufende Fehlerstelle 81 beispiels- ! 0 run close to one another over the surface of the strip material 1. The light beam LWM is again modulated as in Fig. 3 by a pinhole ^. In such a device, for example, a flaw 81 running in the longitudinal direction

X5 weise eine Falte od.dgl., die Lichtstrahlen LWM und LW' ganz oder teilweise abgefangen und so das Licht zu dem nächstgelegenen Wandler der Wandlerreihe 9 reflektiert. Wegen des modulierten Lichtstrahles kann der zugeordnete Wandler dieses LichtX 5 has a fold or the like. The light beams LWM and LW 'are wholly or partially intercepted and the light is thus reflected to the closest transducer in the transducer row 9. Because of the modulated light beam, the assigned converter can produce this light

so auch dann empfangen, wenn die Fehlerstelle 81 relativ lang ist, da er ein Wechselstromsignal abgibt, solange die Fehlerstelle 81 durch den Lichtstrahl LWM läuft. Andererseits wird eine kurze m Längsrichtung liegende Fehlerstelle 82, beispielsweiseso received even if the fault location 81 is relatively long, since it emits an alternating current signal as long as the fault location 81 runs through the light beam LWM. On the other hand, a short flaw 82 lying in the longitudinal direction, for example

ebenfalls eine Falte od. dgl., durch den nicht modulierten Lichtstrahl LW' mit Sicherheit festgestellt und zwar auch dann, wenn der modulierte Lichtstrahl LWM unterbrochen ist und dadurch wird dann ein Ausgangsimpuls an den zugeordneten Wandler er-also a fold or the like, detected with certainty by the non-modulated light beam LW ' , even if the modulated light beam LWM is interrupted and an output pulse is then sent to the associated transducer.

zeugt. Mit dieser Vorrichtung können damit sowohl kurze als auch relativ lange in Längsrichtung verlaufende Fehlerstellen mit Sicherheit festgestellt werden.testifies. With this device, both short and relatively long ones can run in the longitudinal direction Defects can be determined with certainty.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims (4)

ι 2 (USA.-Patentschrift 2 636 603, USA.-Patentschrift Patentansprüche: 2 967 947 und USA.-Patentschrift 3 041461). Diese nach Art einer Lichtschranke sind nicht mit Re-ι 2 (USA.-patent specification 2 636 603, USA.-patent specification patent claims: 2 967 947 and USA.-patent specification 3 041461). These, like a light barrier, are not 1. Vorrichtung zum Feststellen von Ober- flexion arbeitende Vorrichtung eignet sich nur zum flächenfehlern an einer fortlaufenden Material- 5 Feststellen grober und relativ weit aus der Bahnbahn mit mindestens einer die Bahnoberfläche oberfläche herausragenden Fehlern,
beleuchtenden Lichtquelle, mit einer quer über Es ist Aufgabe des Erfindungsgegenstandes, eine die Bahnbreite sich erstreckenden Reihe von Vorrichtung zum Feststellen von Oberflächenfehlern photoelektrischen Wandlern, die von der Ma- an einer fortlaufenden Materialbahn zu schaffen, die terialbabn reflektiertes Licht aufnehmen, und io mit Sicherheit die Feststellung sehr feiner und in mit mindestens einem Verstärker zum Verstärken Längsrichtung der Materialbahn-Laufrichtung verder von den photoelektrischen Wandlern korn- laufender erhabener Fehlstellen, wie schmale Falten, menden elektrischen Signale, dadurch ge- aufliegende Materialfasern od. dgl. erlaubt,
kennzeichnet, daß die Lichtquelle (6, 6') Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß ausgehend derart neben dem Rand der Materialbahn (1) 15 von einer Vorrichtung der eingangs erwähnten Art angeordnet ist, daß sie einen schmalen Licht- gelöst durch die Merkmale nach dem Hauptanspruch, strahl (LW, LW, LWM) quer zur Bahnbreite Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen dieser erfin- und parallel zur Bahnoberfläche zwischen dieser dungsgemäßen Vorrichtung ergeben sich aus den und der Wandlerreihe (9) ausstrahlt. Unteransprüchen.1. Device for determining overflexion working device is only suitable for surface defects on a continuous material 5 detection of coarse and relatively far from the web with at least one the web surface protruding defects,
It is the object of the invention to create a series of devices for detecting surface defects, photoelectric transducers that extend across the width of the web, which from the Ma- on a continuous web of material that absorb materialbabn reflected light, and io with certainty the detection of very fine and raised imperfections running through the grain of the photoelectric converters, such as narrow folds, electrical signals, thereby overlying material fibers or the like, allowed in at least one amplifier for amplifying the longitudinal direction of the material web running direction,
indicates that the light source (6, 6 ') This object is arranged according to the invention in such a way next to the edge of the material web (1) 15 of a device of the type mentioned that it a narrow light is achieved by the features according to the main claim, beam (LW, LW, LWM) transversely to the web width. Further advantageous configurations of this inventively and parallel to the web surface between this device according to the invention result from the and the transducer row (9) emits. Subclaims. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch 20 Bei der nach dem Reflexionsprinzip arbeitenden gekennzeichnet, daß zwei an den gegenüberlie- erfindungsgemäßen Vorrichtung wird jeweils nur gciiJen Rändern der Materialbahn (1) angeord- derjenige Lichtanteil von einem der photoelektrischen nete Lichtquellen (6, 6') zwei schmale Licht- Wandler aufgenommen, der von einer schmalen in strahlen (LW, LW', LWM) nebeneinander in Längsrichtung verlaufenden erhabenen Fehlerstelle entgegengesetzten Richtungen zwischen Bahn- 25 der Bahn, beispielsweise einer Falte od. dgl., aus dem Oberfläche und Wandlerreihe (9) ausstrahlen. quer zur Bahn verlaufenden Lichtstrahl abgelenkt2. Device according to claim 1, characterized in that two at the opposite device according to the invention, only gciiJen edges of the material web (1) are arranged that light component from one of the photoelectric light sources (6, 6 ') ) two narrow light transducers added, which from a narrow in rays (LW, LW ', LWM) side by side in the longitudinal direction extending raised flaws in opposite directions between web 25 of the web, for example a fold or the like, from the surface and transducer row (9) radiate. deflected light beam running across the web 3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, wird. Die erfindungsgemäße Vorrichtung ist aus dadurch gekennzeichnet, daß mindestens einer diesem Grunde sehr empfindlich, da von einer der schmalen Lichtstrahlen (LWM) moduliert ist fehlerfreien Bahn kein Licht zu den Wandlern reflek- und die den photoelektrischen Wandler (91 30 tiert wird, die Wandler im Normalbetrieb also im bis 9n) nachgeschalteten Verstärker Wechsel- wesentlichen unbelichtet bleiben. Die erfindungsstromverstärker sind. gemäße Vorrichtung besitzt daher ein sehr großes3. Apparatus according to claim 1 or 2, is. The device according to the invention is characterized in that at least one is very sensitive for this reason, since one of the narrow light beams (LWM) is modulated by a fault-free path, no light is reflected to the transducers and the photoelectric transducer (91 30 benefits), the transducers in the Normal operation in the up to 9n) downstream amplifier alternating essentially remain unexposed. The invention current amplifiers are. contemporary device therefore has a very large one 4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 Signal-Rauschverhältnis und ermöglicht mit größerer bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Licht- Sicherheit die Feststellung auch von sehr feinen quelle (6, 6') eine Laserstrahlquelle ist. 35 Fehlerstellen.4. Device according to one of claims 1 signal-to-noise ratio and allows with greater to 3, characterized in that the light security the detection of very fine source (6, 6 ') is a laser beam source. 35 points of failure. Die Erfindung wird im folgenden an Hand schematisch ;r Zeichnungen an mehreren Ausführungs-The invention is illustrated schematically below with reference to drawings of several embodiments beispielen näher erläutert.examples explained in more detail. Fig. 1 zeigt ein erstes Ausführungsbeispiel der 40 erfindungsgemäßen Vorrichtung. Hierbei wird die zuFig. 1 shows a first embodiment of the 40 device according to the invention. Here the to Die Erfindung bezieht sich auf eine Vorrichtung untersuchende Materialbahn 1 in Richtung des Pfeizum Feststellen von Oberflächenfehlern an einer les α über eine zylindrische Rolle 2 gezogen. Von fortlaufenden Materialbahn mit mindestens einer die einer Lichtquelle 6, beispielsweise einer Lasergas-Bahnoberfläche beleuchtenden Lichtquelle, mit einer lampe mit zugeordneter Sammeloptik, wird ein quer über die Bahnbreite sich erstreckenden Reihe 45 schmaler Lichtstrahl LW über den längs der Rolle 2 von photoelektrischen Wandlern, die von der Ma- laufenden Teil der Materialbahn 1 quer zu dieser terialbahn reflektiertes Licht aufnehmen, und mit ganz dicht längs der Oberfläche dieser Materialbahn mindestens einem Verstärker zum Verstärken der über diese hinweggestrahlt. Über diesem Lichtstrahl von den photoelektrischen Wandlern kommenden LW ist eine Reihe 9 aus photoelektrischen Wandlern elektrischen Signale. 50 91, 92 ... 911 angeordnet, durch welche der darun-The invention relates to a device examining material web 1 drawn in the direction of the pipe to detect surface defects on a les α over a cylindrical roller 2. From a continuous web of material with at least one light source illuminating a light source 6, for example a laser gas web surface, with a lamp with associated collecting optics, a row 45 narrow light beam LW extending across the width of the web is transmitted over the length of the roll 2 of photoelectric converters, which Pick up light reflected from the measuring part of the material web 1 transversely to this material web, and with very close along the surface of this material web at least one amplifier to amplify the radiated over it. Above this light beam coming from the photoelectric converters LW is a row 9 of photoelectric converters electrical signals. 50 91, 92 ... 911, through which the Es ist eine Vorrichtung dieser Art bekannt (USA.- ter liegende Lichtstrahl abgedeckt ist. Diese Wandler Patentschrift 3 105 151), bei der eine sich quer über sind mit entsprechenden elektrischen Verstärkern die ganze Bahnbreite erstreckende Lichtquelle vor- verbunden. Wenn eine in Längsrichtung liegende gesehen ist. Mit dieser Vorrichtung können im Fehlerstelle 8, beispielsweise eine Falte, eine vorwesentlichen nur Löcher oder andere entsprechende 55 stehende Stelle oder ein anhaftender Stoff, den Oberflächenfehler in der Bahn festgestellt werden, Lichtstrahl LW ganz oder teilweise abfängt und das da hier die Lichtquelle die Bahnoberfläche senkrecht Licht reflektiert, trifft dieser reflektierte Lichtanteil beleuchtet und daher nur senkrecht reflektiertes Licht auf den nächstgelegenen photoelektrischen Wandler Licht über die Wandlerreihe ausgewertet werden und bewirkt, daß dieser ein elektrisches Ausgangskann. Mit dieser bekannten Vorrichtung könnten 60 signal abgibt. Durch eine querliegende Fehlerstelle 5, keine sich in Längsrichtung der Bahn erstreckende beispielsweise ebenfalls eine Falte, wird der Lichterhabene Fehler festgestellt werden. strahl LW nur kurz abgefangen und der Wandler A device of this type is known (USA. The light beam is covered. This converter patent specification 3 105 151), in which a light source extending across the entire width of the web is connected in advance with corresponding electrical amplifiers. When a lengthwise one is seen. With this device, the surface defect in the web can be detected in the fault location 8, for example a fold, a mainly only holes or other corresponding 55 standing point or an adhering substance, the light beam LW wholly or partially intercepts and that here the light source perpendicularly to the surface of the web If light is reflected, this reflected light component hits illuminated and therefore only perpendicularly reflected light hits the closest photoelectric converter. With this known device, 60 signals could be emitted. The flaw under the lights will be detected by a transverse flaw 5, not a fold extending in the longitudinal direction of the web, for example. ray LW only intercepted briefly and the converter Bei einer anders aufgebauten Vorrichtung zum gibt durch das reflektierte Licht nur einen kurzenIn the case of a differently constructed device, the reflected light only gives a short one Feststellen von Oberflächenfehlern an einer fort- Stromimpuls ab.Detecting surface flaws on a continu- ous current pulse. laufenden Materialbahn, bei der seitlich am Bahn- 65 Bei der Anordnung nach Fig. 2 sind zwei gerand eine Photozelle angeordnet ist, ist es an sich trennte Lichtquellen 6 und 6', z. B. wieder Lasergasbekannt, einen quer über die Bahn auf diese Photo- Lichtquellen vorgesehen, durch welche zwei schmale zelle gerichteten gebündelten Lichtstrahl vorzusehen Lichtstrahlen LW und LW' quer über die Material-running material web, in which the side of the web 65. In the arrangement according to FIG. B. again known laser gas, one provided across the web on these photo light sources, through which two narrow cell directed bundled light beam to provide light beams LW and LW ' across the material
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Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3736063A (en) * 1970-08-07 1973-05-29 Mitsubishi Electric Corp Comparison system for determining shape and intensity of illumination of luminous objects
US3910124A (en) * 1971-07-14 1975-10-07 George H Halsey Non-destructive testing procedures
DE2141741C3 (en) * 1971-08-20 1980-04-03 Krauss-Maffei Ag, 8000 Muenchen Device for detecting the thickness of the kneading at the nip of calender rolls
US3755674A (en) * 1972-03-09 1973-08-28 Columbia Res Corp Method of detecting pinhole defects in sheet material
US3856414A (en) * 1973-01-18 1974-12-24 Paulmar Inc Apparatus for inspecting strip material
JPS51113783A (en) * 1975-03-31 1976-10-07 Asahi Chem Ind Co Ltd Defects detector of nonwoven fabric
JPS5254484A (en) * 1975-10-28 1977-05-02 Omron Tateisi Electronics Co Defect inspecting apparatus
DE2700004A1 (en) * 1977-01-03 1978-07-06 Sick Optik Elektronik Erwin ELECTRO-OPTICAL FOLDING MONITORING DEVICE
US4170419A (en) * 1977-02-23 1979-10-09 Camsco, Inc. Optical web inspection system
JPS55113491A (en) * 1979-02-23 1980-09-02 Paanitsuku Kk Detector for defective seam in toe automatic sewing machine of stocking
JPS5698634A (en) * 1980-01-09 1981-08-08 Dainippon Printing Co Ltd Printed matter testing device
DE3043849A1 (en) * 1980-11-21 1982-07-08 Koninklijke Textielfabrieken Nijverdal-Ten Gate N.V., Almelo METHOD FOR VIEWING A REFLECTIVE AND / OR TRANSPARENT, MOVING TRAIN AND FOAMING MACHINE FOR CARRYING OUT THE METHOD
JPS57125805A (en) * 1981-01-30 1982-08-05 Bridgestone Corp Method and device for measuring width of rubber border of coating sheet
US4563095A (en) * 1982-12-20 1986-01-07 Essex Group, Inc. Method and apparatus for monitoring the surface of elongated objects
US4877323A (en) * 1984-11-23 1989-10-31 Stillwagon W C Method and apparatus for inspecting a high speed web
US4704603A (en) * 1986-04-24 1987-11-03 Journey Electronics Corp. Glue detection system
DE3703449C2 (en) * 1987-02-05 1998-07-23 Truetzschler Gmbh & Co Kg Device for determining foreign bodies, such as metal parts, wires or the like, within or between textile fiber flakes
GB8916033D0 (en) * 1989-07-13 1989-08-31 De La Rue Syst Sheet inspection apparatus
DE4130677C2 (en) * 1991-09-14 1995-11-23 Roland Man Druckmasch Device for photoelectric monitoring of the run of webs in rotary printing machines
US5373365A (en) * 1992-12-23 1994-12-13 Eastman Kodak Company Apparatus and method for measuring particle contamination
US5497235A (en) * 1995-01-12 1996-03-05 Monarch Knitting Machinery Corporation Inspecting and grading apparatus for hosiery and method of inspecting same
JP3413310B2 (en) * 1995-06-09 2003-06-03 富士写真フイルム株式会社 Inspection method and apparatus for flexible disk of photographic film cartridge
US5798531A (en) * 1996-06-10 1998-08-25 Harris Instrument Corporation System for detecting small holes in moving articles
US6075882A (en) * 1997-06-18 2000-06-13 Philip Morris Incorporated System and method for optically inspecting cigarettes by detecting the lengths of cigarette sections
US5966218A (en) * 1997-07-11 1999-10-12 Philip Morris Incorporated Bobbin optical inspection system
US6020969A (en) * 1997-07-11 2000-02-01 Philip Morris Incorporated Cigarette making machine including band inspection
US6198537B1 (en) 1997-07-11 2001-03-06 Philip Morris Incorporated Optical inspection system for the manufacture of banded cigarette paper
DE10233011B4 (en) 2002-07-20 2020-03-19 Trützschler GmbH & Co Kommanditgesellschaft Device on a spinning machine for the detection and assessment of textile fiber material
EP3523634B1 (en) * 2016-10-06 2024-05-15 Canon Production Printing Holding B.V. Defect detection for print media
FI128235B (en) * 2018-12-10 2020-01-15 Procemex Oy Ltd Overhead sidelight
CN112718522B (en) * 2020-12-03 2022-07-12 常熟理工学院 Nickel-titanium wire counting, detecting and laser marking all-in-one machine

Also Published As

Publication number Publication date
US3588513A (en) 1971-06-28
FR2005765A1 (en) 1969-12-19
DE1917877C3 (en) 1974-04-18
DE1917877A1 (en) 1969-11-06
GB1217642A (en) 1970-12-31

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