DE1917443C

DE1917443C - Circuit for sampling, preferably one-time processes

Info

Publication number: DE1917443C
Authority: DE
Inventors: Dieter Dipl Ing Thal witzer Axel Dipl Ing 8000 München Schmidt
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Publication date: 1971-12-09

Description

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Schaltung zu finden, bei der nur eine begrenzte Anzahl von Abtastköpfen benötigt wird und sich die Anzahl der einem einzelnen Abtastkopf zugeordneten Speicher, die nacheinander umzuschalten sind, in praktischThe invention is based on the object of finding a circuit in which only a limited number is required by scanning heads and the number of memories allocated to a single scanning head which are to be switched one after the other in practical

zur Darstellung eines Mcßsignals eine Verstärkung io verwirklichbaren Grenzen hält.to represent a Mcßsignals a gain io holds realizable limits.

no.wennV rli.nn wrrH_Pn mit w,*h*r s-,ki:^i— cu„.. _{Bei einer Scha}„_{ung zur} Abtastung vorzugsweiseno.wennV rli.nn wrrH _P n with w, * h * r s-, ki: ^ i— cu ".. _{With a setting} _for scanning preferably

einmaliger Vorgänge auf einer angezapften Abtastleitiing mit einem Abtastkopf, der über eine von dem Vorgang getriggerte Triggereinrichtung mit einer Folgeone-time occurrences on a tapped scanning line with a scanning head that has one of the Process triggered trigger device with a sequence

notwendig, dann werden mit bisher üblichen Elektronenstrahloszillographen mit direkter Zeitablenkung Anstiegszeiten von 2,4 nsec erreicht. Eine fotografische Registrierung derart schneller Impulse ist nur mitnecessary, then with the electron beam oscillographs that have been used up to now Rise times of 2.4 nsec are achieved with direct time deflection. A photographic one Registering such fast impulses is only possible with

höchstemplindlichen Filmen möglich. Andererseits 15 von Abtastimpulsen beaufschlagt ist und mehreren gibt es eine große Anzahl von Vorgängen mit geringerer
Signalamplitude und schnellem Ablauf, deren Auf-high-quality films possible. On the other hand, 15 is acted upon by sampling pulses and several there are a large number of processes with less
Signal amplitude and rapid sequence, the rise of which

Speichern nebst einer ebenfalls von der Triggereinrichtung gesteuerten wiederholten Anschaltung der einzelnen Speicher an den Abtastkopf, wird die obengenannte Aufgabe gemäß der Erfindung dadurch gelöst,Save together with a repeated connection of the individual memory to the scanning head, the above-mentioned object is achieved according to the invention by

Mitteln nicht sichtbar und bleibend dargestellt werden 20 daß, wie an sich bekannt, mehrere Abtastköpfe längs k°^nnen- der Abtastleitung verteilt sind und die Anzahl der Ab-Means are not shown visible and lasting 20 that, as known per se, a plurality of scan heads along ° k ^can - the scanning line are distributed and the number of waste

Fur sich wiederholende Vorgänge ist mit der Samp- tastköpfe bestimmt ist durch den Quotienten aus der ling-Methode ein Verfahren bekannt, mit Hilfe dessenFor repetitive processes, the sampling probe is determined by the quotient from the ling method known a procedure with the help of this

zeichnung von großem wissenschaftlichem oder technischem Interesse wäre, die jedoch mit den bisherigendrawing would be of great scientific or technical interest, but with the previous

auch sehr schnell verlaufende Vorgänge dargestellt werden können. Dabei wird von jedem der sich wiederholenden und einander gleichen Vorgänge jewcilr. ein anderer Amplitudenwert abgetastet und die so gewonnenen Abtast- oder Samplingwerte wieder zu einem verständigen Abbild des sich wiederholenden Einzelvorganges zusammengesetzt. Weil diese kannte Sampling-Methodc als Voraussetzung die mehrmalige Wiederholung r^;ncs gleichartigen Vorganges hat, ist sie für einmalig ablaufende Vorgänge nicht anwendbar.very fast processes can also be displayed. In doing so, each of the repetitive and identical processes is carried out in each case. another amplitude value is sampled and the sampling values obtained in this way are reassembled to form an intelligible image of the repetitive individual process. Because this knew the sampling method as a prerequisite the repeated repetition r ^; ncs has a similar process, it cannot be used for one-time processes.

Anzahl der abzutastenden Werte des Vorgangs und einer der Anzahl von den Vorgang längenmäßig unterteilenden Intervallen entsprechenden Anzahl von Abtastzyklen.Number of values to be scanned for the process and one of the number of values dividing the process in terms of length Number of sampling cycles corresponding to intervals.

Mit der Einteilung des zu untersuchenden Vorgangs in einzelne Abschnitte, die von einer begrenzten Anzahl von Abtastköpfen analysiert werden, wird vermieden, be- 30 daß eine Abtastleitung mit einer von der erforderlichen Auflösung bestimmten großen Anzahl von Ablastköpfen versehen werden muß, die wegen der von ihr.er, verursachten vervielfältigten Reflexionen den zu untersuchenden Vorgang stören. Andererseits wird auch derWith the division of the process to be investigated into individual sections, which are of a limited number are analyzed by scanning heads, is avoided, 30 that a scan line with one of the required Resolution certain large number of load heads must be provided, which because of her. caused duplicated reflections disturb the process to be investigated. On the other hand, the

Es ist eine Schaltung zur Abtastung elektrischer ::₅ Nachteil nur eines'einzigen Abtastkopfes, der in der Wellenformen bekannt, bei der die über eine Ablast- k
leitung ausgebreitete elektrische Wellenform an mehreren Abtaststellen auf der Leitung gleichzeitig nach
Art einer Momentaufnahme abgetastet wird. Bei einer
anderen bekannten Schaltung wird an einer einzigenIt is a circuit for scanning electrical: ₅ disadvantage of only a single scanning head, which is known in the waveforms in which the over a load k
line propagated electrical waveform at multiple sampling points on the line simultaneously
Kind of a snapshot is sampled. At a
another known circuit is attached to a single

\Ulll AL !:?■! I- - 1\ Ulll AL!:? ■! I- - 1

Abiasistclle der Abtastlcilung, über die sich die Wellenform ausbreitet, eine zeitlich gestaffelte Abtastung vorgesehen. Hei dieser zeitlich gestaffelten Abtastung der
Wellenform ist es auch bekannt, einem einzigen Abtastkopf mehrere Speicher zuzuordnen, die aufein- 45 ist zweckmäßig kleiner als die Laufzeit des Meßsignal» nndcrfolgendc Abtastwerte bei der zeitlich gestaffelten zwischen zwei Abtaststellen. In diesem Fall wird derAbiasistclle of the scanning line over which the waveform propagates, a time-staggered scanning is provided. Hei this staggered sampling of the
Waveform, it is also known to assign several memories to a single scanning head, which is expediently smaller than the running time of the measurement signal and subsequent scanning values in the case of the time-staggered between two scanning points. In this case the

Vorgang von den Abtastimpulsen überholt. Prinzipiell ist es jedoch auch möglich, die AbtastgeschwindigkeitProcess overtaken by the sampling pulses. In principle, however, it is also possible to adjust the scanning speed

komplizierten Steuerung der diesem zugeordneten Speicher liegt, vermieden.complicated control of this associated memory is avoided.

Die Speicher sind zweckmäßig in Zwischen- und Endspeicher unterteilt. Diese dienen dem leichteren Erreichen einer langen Speicherzeit.The stores are expediently divided into intermediate and final stores. These serve the easier Achieving a long storage time.

Der zeitliche Abstand zwischen den an zwei aufeinanderfolgenden Anzapfungen auftretenden Abtastimpulsen. der auch mit der Laufzeit der Abtastimpulse zwischen zwei Abtaststcllcn bezeidir,.. werden kann.The time interval between the sampling pulses occurring on two consecutive taps. which can also be determined by the transit time of the scanning pulses between two scanning stcllcn, ...

Abtastung aufnehmen.Record a scan.

fs ist auch eine Schaltung zur Zciltransformation um Vorgängen bekannt, die im wesentlichen aus zweifs also a circuit for Zciltransformation to processes is known which essentially consists of two

11 η mehreren Abgriffen parallel verbundenen Ver- 5° Abtastleitung zu machen, so dab das Ahtastsignal rögeriingsleitungen unterschiedlicher Laufzeiten be- gegenüber dem Vorgang zurückbleibt. Weiterhin ist Itchl. Der einen Leitung wird der umzusetzende Vor- es möglich, daß die Abtastsignale dem Vorgang umfang aufgegeben, während auf der anderen Leitung
ein Ablaslinipuls cntlangcilt, der gegenüber dem Vorfang eine unterschiedliche Aiisbrcitungsgcschwindig- 55 Die Erfindung wird mittels einer Prinzipdarstellung keil hat. Die Aushreitungsrichliingcn des Vorgangs und einem Ausführiingsbcispiel an Hand der F i g.11 η to make several taps connected in parallel 5 ° scanning line, so that the touch signal remains delaying lines of different transit times compared to the process. Furthermore, Itchl. The one line is the advantage to be implemented, that the scanning signals are given to the process extensively, while on the other line
An Ablaslinipulse cntlangcilt, which has a different displacement speed compared to the previous catch. The Aushreitungsrichliingcn of the process and an execution example on the basis of FIG.

auch gegenläufig kleiner als die Fortpflanzungsgeschwindigkeit auf deralso in opposite directions smaller than the speed of propagation on the

gegen laufen und bei der letzten der Anzapfungcr pro Zyklus beginnen.against running and at the last of the tapping cr pro Start cycle.

und des Abtastimpulses können sein. Hei einer Modifikation dieser bekannten Schaltung ist auch die gleichzeitige Abtastung aller Abtastslellcn vorgesehen.and the sampling pulse can be. A modification of this known circuit is also the simultaneous scanning of all scanning positions intended.

Die Verwendung eines einzigen Abtastkopfcs in Verbindung mit einer zeitlich gestaffelten Abtastung erfordert eine sehr schnelle Umschaltung der dem Abtastkopf zugeordneten Speicher für die einzelnen bis 3 im folgenden näher erläutert.The use of a single readhead in Connection with a time-staggered sampling requires a very fast changeover of the dem Memory assigned to the scanning head for the individual to 3 explained in more detail below.

An Hand von F i g. 1 wird zunächst das der Erfindung zugrunde liegende Samplingverfahren näher erläutert. Ein Spannungssignal u, der geometrischen Länge«·/, (gemessen in cm) soll an «(Stellen mit gegenseitigem geometrischem Abstand I f abgelistet werden. Das geschieht mit Vorteil durch sukzessive intcrvallwcise Abtastung. Auf jedes von 11 aufeinandcr-With reference to FIG. 1, the sampling method on which the invention is based is explained in more detail. A voltage signal u, the geometrical length "· / (measured in cm) is intended to" (points with a mutual geometric distance I f are tricked. This is done with advantage by successive intcrvallwcise scan. In each of 11 aufeinandcr-

Abtiistwertc. Bei Signalen mit sehr kurzen Anstiegs- 65 folgenden Intervallen der Länge «· Ljn L (in dieActual value c. For signals with very short rising intervals of length «· Ljn L (into the

zeiten ist eine so schnelle Umschaltung kaum reali- man sich das ganze Signal i/, zerlegt denken kann)times, such a fast switchover is hardly possible - you can think of the whole signal i /, disassembled)

sierbar. Demgegenüber werden bei der Momentauf- entfallen dabei/' - min Abtastungen. Das Spannungs-sizable. In contrast, with the momentary, / '- min samples are omitted. The tension

nahme eines Signals mit Hilfe von mehreren Ablast- signal«, ist über der geometrischen Länge.ν dnerAcquisition of a signal with the help of several load signals «is thinner over the geometric length.ν

Leitung aufgetragen, auf der es sich mit der Geschwindigkeit ι¹« ausbreiten möge. Willkürlich herausgegriffen — für eine genauere Betrachtung ist Linus der Intervalle der Länge L, die in jeweils einem der /J Ahiasuyklen der Zeitdauer ρ ■ \ ι erfaßt werden. In Abständen von . 1 ί sind die ρ Abtastpunkte ί,... S_n eingezeichnet. Ihnen zugeordnet sind die ebenfalls eingetragenen Stellen Z³, ... P₁, der Leitung, an denen die Anzapfungen (Samplingköpfe) in geometrischen Abständen I ν angeordnet sind.Line applied, on which it may propagate with the speed ι ¹ «. Arbitrarily selected - for a closer look, Linus is the intervals of length L, which are each recorded in one of the / J Ahiasuy cycles of the duration ρ ■ \ ι . At intervals of. 1 ί the ρ sampling points ί, ... S _{n are} shown. Associated with them are the places Z ³ , ... P ₁ , also entered, of the line on which the taps (sampling heads) are arranged at geometrical intervals I ν.

Lim den Sachverhalt für alle betrachteten Fälle beschreiben zu können, sei folgende Vorstellung eingefugt. Man denke sich zu der Leitung, an der die Samplingköpfe P₁ ... P₁, sitzen, eine zweite Leitung parallel geführt, die an ihrem Anfang mit einem Abiastimpuls gespeis' wird und jeweils in Höhe der Samplingköpfe P₁ ... P₁, mit der Abtastleitur.g verbunden ist. Die Ausbrcitungsgeschwindigkeit der Wellen auf der Hilfsleitung denke man sich beliebig einstellbar. Man kann dann den eingespeisten Abtastimpuls als Abtastwelle auffassen, die die Hilfsleitung entlanglauft und je nach Einstellung der Ausbreitungsfjcschwindigkeit der zu messenden" Signalwelle nachhinkt, mit ihr Schritt häit, sie überholt oder ihr entgegeneilt. To be able to describe the facts for all cases considered, let the following idea be inserted. Imagine to the line on which the sampling heads P ₁ ... P _1, sit out a second line parallel, the gespeis at its beginning with a Abiastimpuls' and each in the amount of the sampling heads P ₁ ... P ₁ , is connected to the scanning line. The speed of propagation of the waves on the auxiliary line can be thought of as adjustable. The injected sampling pulse can then be viewed as a sampling wave that runs along the auxiliary line and, depending on the setting of the propagation speed of the signal wave to be measured, lags, keeps pace, overtakes it or rushes towards it.

für die folgenden Betrachtungen wird der Abtast- \ !irgang durch Hinzunahme der in F i g. 2 dargestellten Abtastwelle beschrieben. Die einzelnen Abtastimpulse / erscheinen in Zeitabständen Ii an den zugeordneten Samplingköpfen P₁ ... P₁₁. Die Abtastimpulse / können z. B. aus einer einheitlichen Quelle. ebensogut aber aus verschiedenen Quellen stammen.for the following considerations, the scanning process is determined by adding the values shown in FIG. 2 described scanning shaft shown. The individual sampling pulses / appear at time intervals Ii at the assigned sampling heads P ₁ ... P ₁₁ . The sampling pulses / can, for. B. from a single source. but just as well come from different sources.

Der Abtastwelle kanr die Geschwindigkeit r.i gemäß der Gleichung (1)The speed r.i according to the scanning wave can the equation (1)

i.Y Wi.Y W.

(D(D

zugeordnet werden, mit der sie sich längs der Abtastleitnng bewegt. Für die folgenden Betrachtungen wird die Breite der Abtastimpulse / mit τ bezeichnet, die zunächst um vieles kleiner sei als der Zeitabstand W der einzelnen Abtastimpulse /. Bei der/>-ten Abtastung muß der Abtastimpuls / am zugeordneten Samplingkopf Pp stehen, also muß die Gleichung (2)be assigned with which it moves along the scanning line. For the following considerations, the width of the scanning pulses / is denoted by τ , which is initially much smaller than the time interval W of the individual scanning pulses /. For the /> - th sampling, the sampling pulse / must be at the assigned sampling head Pp , so equation (2) must

(P- 1)· ! ii - v,(p~ DvW (/>-■ 1)· Iv (2) (P- 1) ·! ii - v, (p ~ DvW (/> - ■ 1) Iv (2)

erfüllt sein.be fulfilled.

Aus Gleichung (2) folgt nach kurzer Umformung die Gleichung (3)After a short transformation, equation (2) results in equation (3)

I.ν Ii · v.,· W (j) I.ν Ii v., W (j)

oder, mil Gleichung (D. die für manche Betrachtungen zweckmäßigere Form nach Gleichung (4)or, with equation (D. which for some considerations more appropriate form according to equation (4)

IMIN THE

1 -1 -

v,t,'v, t, '

(4)(4)

Die bereits zitierten Spezialfälle hissen sich wie folgt einordnen:The special cases already cited are called as follows classify:

a) Gleichzeitige Abtastung bedeutet, daß der Betrag der Geschwindigkeit i'.i gegen unendlich geht, so daß aus Gleichung (4) dafür folgt, daß die Länge .l.v gleich der Lunge. Il ist, d. h.. 'lie Länge der Abtasticiiung muß gleich der Signalintervall· länge L sein.a) Simultaneous sampling means that the magnitude of the speed i'.i approaches infinity, so that it follows from equation (4) that the length .lv is equal to the lung. Il is, ie. 'lie length of Abtasticiiung must equal the signaling interval · length be L.

b) Die Ahtasiwelle überholt das Signal, d. h.. die Geschwindigkeit i'.i ist größer als die Geschwindigkeit r, des Spannungssgnals "-■ Aus Gleichung (4) folgt daher, daß die Größe Lv größer ist als If. Somit muß die Leitung gegenüber der Leitung nach Punkt a) verlangen werden.b) The Ahtasi wave overtakes the signal, d. h .. the Speed i'.i is greater than the speed r, of the voltage signal "- ■ From equation (4) it therefore follows that the size Lv is larger than If. Thus the line must face the line according to point a).

c) Der Fall, daß die Geschwindigkeit i'.i der Miinsiwelle kleiner ist als die Geschwindigkeit 1- des Spannungssignals 1/, bedeutet, daß die Ahtasiwelle hinter der Signalwelle zurückbleibt. Für den Geschwindigkeitsbereich 0 r.i r, ergibt eine genauere Diskussion der Gleichung (4). daU sich die Reihenfolge der Abtastpunkte c, ... f.,, auf dem Signal, bei unveränderter Reihenfolge der Samplingköpfe P₁ ... /',,. umkehrt, d. h.. abweichend son F i g. 1 liegt dann der Ahtastpunkt i, ganz rechts, der Abiastpunkt ·,, ganz links auf dem Spannungssigmtl //.,-. Formal äußert sich dies darin, c';iß der aus Gleichung (4) zu berechnende Quotient negativ wird. Für denc) The case that the speed i'.i of the Miinsi wave is less than the speed 1- of the voltage signal 1 /, means that the Ahtasi wave lags behind the signal wave. For the speed range 0 ri r, a more detailed discussion of equation (4) results. that the order of the sampling points c, ... f. ,, on the signal, with the order of the sampling heads P ₁ ... / ',,. reverses, ie. deviating from F i g. 1 is then the sampling point i, on the far right, the sampling point · ,, on the far left on the voltage sigmtl //.,-. Formally, this is expressed in the fact that the quotient to be calculated from equation (4) becomes negative. For the

übrigen Geschwindigkeitsbereich mit v.\ ··. 0 vertauscht sich zusätzlich die Reihenfolge der Samplingköpfe P₁ ... /',,. d. h., jetzt denke man sich auch P₁ ganz, rechts, P₁, ganz links in Fig. I. Die Abtastung beginnt jedoch voraussetzungsgemäß weiterhin um Samplingkopf P₁. so daß sie jetzt in letzterem ^r;alle in negativer v-Richtung fortschreitet. Ferner gilt in jedem Falle [auch in a) und b)], daß bei eier jeweils ersten Abtastung eine·, jeden Abiastzyklus der Abtastsvert 5/, an der Stelle P₁ stehen muß. Im Bereich für dicGcschwin-other speed range with v. \ ··. 0 the order of the sampling heads P ₁ ... / ',, is also interchanged. that is to say, now think of P ₁ all the way to the right, P ₁ , all the way to the left in FIG. I. However, as required, the sampling continues around sampling head P ₁ . so that they are now in the latter ^r; all progresses in the negative v-direction. Furthermore, it applies in each case [also in a) and b)] that for each first scan, one, each scanning cycle, the scanning value 5 /, must be at the point P _1. In the area for dicGcschwin-

■ bis ,' ergibt sich für die■ bis, 'results for the

35 digkeit v.i von 35 age vi of

Absolutbeträge der Größen Lv und Ii. daß die Größe 1 I .νI kleiner als _i \ ·\ ist. was eine gegenüber gleichzeitiger Abtastung verkürzte LciUingslänge bedeutet.Absolute values of the quantities Lv and Ii. that the quantity 1 I .νI is smaller than _i \ · \ . which means a shortened LciUingslänge compared to simultaneous scanning.

Selbstverständlich wird nicht der gesamte durch Gleichung (4) umfaßte Bereich zu technisch sinnvollen Lösungen führen. Verläßt nun insbesondere die weller oben getroffene Voraussetzung τ <? W, so kommen verschiedene zusätzliche Kriterien zur Geltung, wieOf course, not the entire range covered by equation (4) will lead to technically meaningful solutions. Does the assumption made above τ <? W, various additional criteria apply, such as

z. B. die Spaltfunktion (Gleichung für die Beschreibung des Vorganges der Überlagerung zweier Spalte son ζ. Β. Rechteckform).z. B. the gap function (equation for the description the process of superimposing two columns son ζ. Β. Rectangular shape).

Fig. 3 zeigt ein AusführungsheUpiel für gleichzeitige Abtastung, d.h.. v.i - - =*. Das zu messende Signal ί_χ läuft nach diesem Ausführi.ngsheispiel über eine Triggerschaltung T und anschließend über eine Verzögerungsleitung 1. Hierauf läuft es über eine Anpaßschaltimg .1 /ur Liiitcrdrückung von Reflexionen bei der Abtastung (z. B. einer T- oder Tf-Schaltung aus ohmschen Widerständen). Die Verzögerungsleitung 1' wird im allgemeinen erforderlich sein, um die nötige Voreilung der Triggeruiig gegenüber dem abzutastenden Vorgang zu bewirken, da die Lr/cugung des Abtastsignals, vom Triggerzeitpunkt an ge-Fig. 3 shows an embodiment for simultaneous sampling, ie. vi - - = *. The signal to be measured _ί χ runs for this Ausführi.ngsheispiel via a trigger circuit T and then via a delay line 1. Then, it passes over a Anpaßschaltimg .1 / ur Liiitcrdrückung of reflections in the scanning (z. B. a T- or Tf Circuit made of ohmic resistors). The delay line 1 'will generally be required in order to bring about the necessary lead of the trigger compared to the process to be scanned, since the generation of the scanning signal starts from the trigger time.

rechnet, eine endliche, nicht vernachlässigbnrc Zeit erfordert, der abzutastende Vorgang also ohne die Verzögerungsleitung f'z.u früh auf dcrAbtastleitung.ST erschiene. Bei Verwendung der Verzögerungsleitung Γ kann sich weiter der Vorteil ergeben, daß auch beicalculates a finite, not negligible time requires the process to be scanned without the delay line f'z.u early on the scanning line.ST appeared. When using the delay line Γ can furthermore result in the advantage that also with

Ss eingangsscitiger Fehlanpassung des Anpaßglicdcs .( vor der Abtastlcitung ST cmc unverfälschte Messung des Signals 1/.« möglich ist, sofern das Signal u* hinsichtlich seiner Dauer die doppelte Laufzeit in der Ver-Ss eingangsscitiger mismatch Anpaßglicdcs. (Before Abtastlcitung ST cmc undistorted measurement of the signal 1 /. Is "possible, provided that the signal u * in terms of its duration twice the propagation time in the past

/ügcrungslcitung Γ nicht überschreitet. Hiernach läuft das Signal </« über die Abtasllcitung ST7,um Abschliil.tuidcistaiid II'. An dieser Abtastleitung ST sind /;Samplingköpi^fe /', ... P_P angeschlossen, die das Signal ii.< nach rinlnufcn in die Abtastlcitung ST Mach dem beschriebenen Verfahren abfragen./ Ügcrungslcitung Γ does not exceed. The signal then runs through the department ST7 to terminate the status II '. Are on this scanning line ST /; Samplingköpi ^f e / ', ... P _P connected, the query signal ii <rinlnufcn according to the Abtastlcitung ST Mach to the method described..

Die Abtustinipulsc / nach F-" i g. 2 werden von der Triggerschalliing /abgeleitet und über einen Zähler Z geführt und dienen anschließend zur Ansteuerung der Sumplingköpfc /', ... Pp und zur Anwahl von insgesamt in /wischenspeichern Z-V₁₁ .. . ZSpn- Der Zähler Z zählt die eingegebenen Abtastimpulse / und veranlaßt so. du(3 aus der gezählten Anzahl der Ablast/\klus bestimmt werden kann.The Abtustinipulsc / according to F- "i g. 2 are derived from the Triggerschalliing / and passed through a counter Z and are then used to control the Sumplingköpfc / ', ... Pp and to select a total of in / buffer memories ZV ₁₁ ... ZSpn- The counter Z counts the inputted sampling pulses / and thus causes you (3 can be determined from the counted number of load / \ klus.

In jedem Zyklus I .. . ;/ wird jeder Samplingkopf /', ... /',, einmal abgefragt und die jeweilige Signalprobe dabei in einen schnellen Zwischenspeicher Z₁ .../.,, aufgenommen. Bis zum Beginn des nächsten Zyklus — in dem das folgende Signalintervall der Länge L abgetastet wird — müssen die schnellen Zwischenspeicher Z₁ ... Z_v wieder frei und die Information mittels der Schalter S_t ... S₁, auf den dem Z>klus zugeordneten weiteren Zwischenspeichern, /. B. für den ersten Zyklus die Speicher ZS_n, ZS_n ... ZS_Vi übergeben sein. Es sind für jeden schnellen Zwischenspeicher Z₁ ... Z_p weitere Zwischenspeicher ZS_n ... ZS_vl. ZS,, In every cycle I ... ; / each sampling head / ', ... /' ,, is queried once and the respective signal sample is recorded in a fast buffer memory Z ₁ ... /. ,, . Until the beginning of the next cycle - in which the following signal interval of length L is scanned - have the cache server Z ₁ ... Z _v free again and the information by means of the switch S _t ... S ₁ to which the Z> klus assigned further buffers, /. B. the memory ZS _n , ZS _n ... ZS _{Vi be} transferred for the first cycle. There are additional buffers ZS _n ... ZS _vl for each fast buffer memory Z ₁ ... Z _p . ZS ,,

ZS,ZS,

ZSZS

PlPl

ZSZS

pnpn

mittlerer Geschwindigkeit erforderlich, entsprechend den /; Abtastzyklen. Diesen weiteren Zwischenspeichern ZS_n ... ZS,,„ können ebensoviel Endspeicher E_n ... Ep_n zugeordnet sein, in denen die Proben bis auf Abruf gespeichert bleiben können.medium speed required, according to the /; Sampling cycles. The same number of final memories E _n ... Ep _n in which the samples can be stored until they are called up can be assigned to these further intermediate memories ZS _n ... ZS ,, “.

Es ist aber auch weiterhin möglich, daß theoretisch die End- bzw. Hauptspeicher E₁₁ ... E_pn genügen.However, it is still possible that the final or main memories E ₁₁ ... E _pn are theoretically sufficient.

Die Einführung der weiteren Zwischenspeicher ZS_V ... ZSp_n wird jedoch in vielen !"allen erforderlich, da das notwendige Verhältnis von Abtast- zur Speicherzeil nicht mit einer einzigen Anordnung technisch realisiert werden kann. Wegen der parallelen Anordnung kann man von einer Parailel-Zwischenspcicherung sprechen.The introduction of the additional buffer stores ZS _V ... ZSp _n is, however, necessary in many! " Talk to interim storage.

Claims

Patent claims:

1. Circuit i'.ur scanning preferably one-time processes on a tapped scanning line with a scanning head, which is acted upon by a trigger device triggered by the process with a sequence of scanning pulses and several memories in addition to a repeated connection of the individual memories also controlled by the trigger device the scanning head, characterized in that, as known per se, several scanning heads are distributed along the scanning line and the number (p) of scanning heads is determined by the quotient of the number (m) of the values to be scanned in the process and one of the number of the Process number (n) of sampling cycles corresponding to the number (n) of sampling cycles corresponding to the number (n) of intervals (L) that are divided into tedious.

2. A circuit according to claim 1, characterized in that the memory is divided into intermediate (ZS _n ... ZSp _n ) and end memory (E _n ... E _pn ) .

3. A circuit according to claim 1 or 2, characterized in that a further buffer _{memory (Z 1} ... Zp) directly connected to it is assigned to each scanning head.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

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