DE1815752A1 - Circuit arrangement for generating low-frequency images of high-frequency signals to be examined - Google Patents
Circuit arrangement for generating low-frequency images of high-frequency signals to be examinedInfo
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Description
IV - 306IV - 306
12. 12. 1968 Cr/KL12. 12. 1968 Cr / KL
ELTRO GMBH & CO., GESELLSCHAi1O? FÜR STRAHLUNGSTECHNIK Heidelberg, Schloßwolfsbrunnenweg 33ELTRO GMBH & CO., GESELLSCHAi 1 O? FOR RADIATION TECHNOLOGY Heidelberg, Schloßwolfsbrunnenweg 33
Schaltungsanordnung zur Erzeugung niederfrequenter Abbildungen von zu untersuchenden Hochfrequenz-SignalenCircuit arrangement for generating low-frequency images of high-frequency signals to be examined
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Erizeugung niederfrequenter Abbildungen von zu untersuchenden 'Hochfrequenz-Signalen.The invention relates to a circuit arrangement for generating electricity low-frequency images of 'high-frequency signals to be examined.
Derartige Schaltungsanordnungen werden vielfach auch als Signalabtastschaltungen oder Sampling— Schaltungen bezeichnet und sind bereits bekannt, insbesondere in der Oszillografentechnik zur Darstellung zeitlich kürzester Vorgänge.Such circuit arrangements are often also as Signal sampling circuits or sampling circuits and are already known, especially in oscillograph technology for displaying the shortest possible time Operations.
Die bekannten Schaltungen -weisen meistens zwei in Reihe geschaltete, im Ruhestand in Sperrichtung vorgespannte Dioden oder vier in einer Brückenschaltung miteinander gekoppelte Dioden auf. Bei richtigem Abgleich der Brückenschaltung wird dadurch verhindert, daß die die Dioden kurzzeitig aufsteuernden Tastimpuise in das Meßobjekt gelangen und infolgedessen unerwünschte Echoimpulse hervorrufen.The known circuits usually have two series-connected, biased in the retirement in the reverse direction Diodes or four diodes coupled together in a bridge circuit. If the bridge circuit is adjusted correctly is thereby prevented that the momentary open-triggering the diodes get into the device under test and consequently produce undesirable echo pulses.
Außerdem sind die bekannten Schal tungs anordnungen mit relativ komplizierten Gegenkopplungsnetzwerken versehen, welche die Aufgabe haben, eine möglichst exakte, fehlerfreie Impulsdarstellung zu erzielen.In addition, the known circuit arrangements are provided with relatively complicated negative feedback networks, which have the task of achieving the most exact, error-free display of impulses.
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ORIGINAL INSPECTEDORIGINAL INSPECTED
In manchen Anwendungsfällen hat es sich nun herausgestellt, daß der "bei den "bekannten Schaltungsanordnungen betriebene Aufwand viel zu hoch ist und sich praktisch nicht lohnt, vor allem dann nicht, wenn von vornherein keine allzu hohen Eingangsspannungen verarbeitet werden müssen oder wenn es an sich ohne Bedeutung ist, daß der sum öffnen der Empfangsdioden dienende T as timpuls unter Umständen gleichzeitig in das Meßobjekt gelangt.In some applications it has now been found that the "with the" known circuit arrangements The effort expended is far too high and is practically not worth it, especially not if it is done in advance no input voltages that are too high need to be processed or if it is of no importance that the sum open the receiving diodes serving T as timpuls under Circumstances at the same time enters the test object.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine als Sampling-Schaltung geeignete Schaltungsanordnung zu schaffen, zu deren Realisierung nur wenige Bauelemente benötigt werden.The invention is therefore based on the object as a Sampling circuit to create a suitable circuit arrangement, for the implementation of which only a few components are required.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch einen nur eine einzige, periodisch und kurzzeitig aufsteuerbare Empfangsdiode enthaltenden Abtastsignalkreis gelöst. According to the invention, this object is achieved by only one single, periodically and briefly controllable receiving diode containing scanning signal circuit solved.
Soll ein periodisch wiederkehrender Impuls extrem kurzer Sauer sichtbar gemacht werden, so wird er bei der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung auf die gesperrte Empfangsdiode gegeben, die durch einen zweiten, ebenfalls periodisch auftretenden Impuls, der jedoch gegenüber dem abzubildenden HF~Impuls entweder phasenmoduliert wird oder eine etwas abweichende Impulsfolgefrequenz besitzt, geöffnet wird. Durch die Phasenmodulation oder die abweichende Impulsfolgefrequenz des Tastimpulses trifft dieser bei jeder neuen Periode mit einem anderen Augenblickswert des abzubildenden Impulses zusammen. Am Ausgang der Empfangsdiode treten somit Impulse auf, deren Amplituden eine Funktion der Amplituden des Tastimpulses und des entsprechenden Augenblickswertes des abzubildenden Impulses sind. Infolgedessen werden die Tastimpulse amplitudenmoduliert. Die dann durch einfache Integration erhaltene Modulationsspannung stellt ein niederfrequentes Abbild des zu untersuchenden Hochfrequenzimpulses dar.If a periodically recurring pulse of extremely short acidity is to be made visible, it becomes visible in the case of the invention Circuit arrangement given to the blocked receiving diode by a second, also periodically Occurring pulse, which is either phase-modulated or a slightly different one compared to the RF pulse to be imaged Has pulse repetition rate, is opened. Due to the phase modulation or the different pulse repetition frequency of the tactile impulse this hits with each new period with another instantaneous value of the impulse to be imaged together. At the output of the receiving diode there are thus pulses whose amplitudes are a function of the amplitudes of the key pulse and the corresponding instantaneous value of the impulse to be mapped. As a result, the Sampling pulses are amplitude-modulated. The modulation voltage then obtained by simple integration is set represents a low-frequency image of the high-frequency pulse to be examined.
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Gemäß einer Weiterbildung der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung ist ein mit der Empfangsdiode in Serie geschalteter Ladekondensator vorgesehen, der als integrator dient und gleichzeitig die durch Spi'tzengleichrichtung der die Empfangsdiode öffnenden Tastimpulse gebildete Sperrspannung für die Empfangsdiode liefert. Durch diese Maßnahme wird eine zusätzliche Spannungsquelle zur Erzeugung der Sperrspannung für die Empfangsdiode entbehrlich gemacht, da der Ladekondensator ohnehin zur Speicherung der Tastimpulse und des empfangenen HP-Signals erforderlich ist.According to a development of the invention Circuit arrangement is provided with the receiving diode connected in series charging capacitor as integrator serves and at the same time the peak rectification the blocking voltage for the receiving diode formed by the scanning pulses that open the receiving diode supplies. This measure provides an additional voltage source to generate the reverse voltage for the Receiving diode made dispensable, since the charging capacitor is anyway to store the tactile pulses and the received HP signal is required.
Die weitere Erläuterung der Erfindung erfolgt anhand der beigefügten Zeichnungen. Im Rahmen von Ausführungsbeispielen zeigen:The invention is further explained with reference to FIG attached drawings. In the context of exemplary embodiments:
1 eine Schaltungsanordnung nach der Erfindung (Blockschaltbild) und 1 shows a circuit arrangement according to the invention (block diagram) and
ig. 2 zugehörige Impulsdiagramme. ig. 2 associated pulse diagrams.
Im Blockschaltbild gemäß Fig. 1 ist ein Meßobjekt mit 1 und ein HF-Impulsgenerator mit 2 bezeichnet. Dieser wird durch einen Steuergenerator 4 mit einer Steuer spannung beaufschlagt, aufgrund deren im Generator 2 unter Verwendung einer Schaltdiode Hochfrequenz-Impulse gebildet werden,- die dann zum Meßobjekt 1 gelangen.In the block diagram according to FIG. 1, a device under test is denoted by 1 and an RF pulse generator by 2. This one will applied by a control generator 4 with a control voltage, due to which in the generator 2 using a switching diode high-frequency pulses are formed, - which then reach the test object 1.
Gleichzeitig läuft die vom Steuergenerator 4 erzeugte Steuerspannung in eine Phasenmodulatorstufe 5 und wird hier zu einer sägezahnförmigen Spannung gleicher Frequenz umgeformt. Die Phasenmodulatorstufe 5 wird weiterhin durch einen Sägezahngenerator 11 mit einer niederfrequenten Sägezaznspannung beaufschlagt. Beide SpannungenAt the same time, the control voltage generated by the control generator 4 runs into a phase modulator stage 5 and is here converted to a sawtooth voltage of the same frequency. The phase modulator stage 5 will continue acted upon by a sawtooth generator 11 with a low frequency sawtooth voltage. Both tensions
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werden in der Phasenmodulatorstufe 5 derart verarbeitet, daß an ihrem Ausgang eine Rechteckimpulsfolge mit der Frequenz der Steuerspannung des Steuergenerators 4- entsteht ο Diese Rechteckimpulsfolge wird durch die niederfrequente Sägezahnspannung des Sägezahngenerators 11 längenmodüliert und dient als Steuer spannung für den Tastimpuls gener at or 6. Dieser enthält eine Schaltdiode, z.B. eine Tunneldiode oder eine Steprecovery-Diode, welche · durch die dem Tastimpulsgenerator 6 zugeführte Steuerspannung zum Schalten veranlaßt wird, so daß an ihren Klemmen eine entsprechende Rechteckspannung entsteht-, deren .Schaltflanken nach Differentiation die Tastimpulse "bilden (vgl. Fig. 2b). ·are processed in the phase modulator stage 5 in such a way that a square pulse train with the frequency of the control voltage of the control generator 4 is produced at its output ο This square pulse train is length-modulated by the low-frequency sawtooth voltage of the sawtooth generator 11 and serves as the control voltage for the tactile pulse generated at or 6. This contains a switching diode, e.g. a tunnel diode or a step recovery diode, which is caused to switch by the control voltage supplied to the pulse generator 6, so that a corresponding square-wave voltage is generated at its terminals, the "switching edges of which form the pulse pulses" after differentiation (cf. Fig. 2b).
;Der Abtastsignalkreis 3, der die eigentliche Sampling-Schaltung darstellt, enthält nun weiterhin lediglich eine Empfangsdiode 7» die durch die Tastimpulse des Generators kurzzeitig geöffnet wird» Im Ruhestand ist die Empfangsdiode 7 gesperrt, und zwar wird jeweils.durch einen mit der Empfangsdiode 7 in Serie geschalteten Ladekondensator die durch Spitzengleichrichtung der die Empfangsdiode 7 öffnenden Tastimpulse gebildete Sperrspannung geliefert, die in Form einer Gleichspannung und einer dieser überlagerten, durch das periodische Speichern und Wiederabfallen der Tastimpulsspannung am Ladekondensator 8 entstehenden, sägezahnförmigen Wechselspannung auftritt (vgl. Fig. 2c).; The sampling signal circuit 3, which is the actual sampling circuit represents, now furthermore contains only one receiving diode 7 »which is caused by the pulse pulses of the generator is opened briefly »In the idle state, the receiving diode 7 is blocked, by means of a the receiving diode 7 series-connected charging capacitor by peak rectification of the receiving diode 7 blocking voltage formed by opening key pulses is supplied, which is in the form of a direct voltage and one of these superimposed, through periodic storage and re-use the pulse voltage at the charging capacitor 8, sawtooth-shaped alternating voltage occurs (see. Fig. 2c).
Gelangt nun der vom Meßobjekt 1 kommende hochfrequente Meßimpuls (vgl» Fig. 2a) auf die Empfangsdiode 7 in dem Augenblick, wenn diese durch einen Tastimpuls aufgesteuert ist, so entsteht am Ladekondensator 8 eine Spannung, deren Amplitude von der Amplitude des Tastimpulses und der Augenblicksamplitude des empfangenden HF-Impulses abhängt, da infolge der Phasenmodulation der Tastimpulse (vgl. Fig. 2b) dieseIf the high-frequency measuring pulse coming from the test object 1 (see »Fig. 2a) reaches the receiving diode 7 at the moment if this is opened by a key pulse, this creates a voltage at the charging capacitor 8, the amplitude of which depends on the amplitude of the probe pulse and the instantaneous amplitude of the receiving RF pulse, as a result the phase modulation of the probe pulses (see. Fig. 2b) this
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bei jeder neuen Periode mit einem anderen Augenblickswert des abzubildenden HF-Impulses zusammentreffen (vgl. Fig. 2a/b).coincide with a different instantaneous value of the RF pulse to be mapped for each new period (see. Fig. 2a / b).
Die Spannung am Ladekondensator 8 erfährt daher langsame Änderungen ihrer Maximalamplitude (vgl. Fig. 2d). Dies entspricht praktisch einer Amplitudenmodulation der Tastimpulse. Am Eingang des zum Ladekondensator 8 parallel geschalteten NF-Verstärkers 9 erhält man schließlich ein niederfrequentes Abbild des empfangenen HF-Impulses, welches gleich der Modulationsspannung F™ gemäß der Fig. 2d ist. Ein Signalausgang ist mit 10 bezeichnet.The voltage at the charging capacitor 8 therefore experiences slow changes in its maximum amplitude (see FIG. 2d). this corresponds practically to an amplitude modulation of the probe pulses. At the input of the charging capacitor 8 in parallel switched LF amplifier 9 is finally obtained a low-frequency image of the received RF pulse, which equal to the modulation voltage F ™ according to FIG. 2d is. A signal output is denoted by 10.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung zeichnet sich vor allen Dingen dadurch aus, daß sie sehr einfach aufgebaut ist. Sie ist mit Vorteil stets in jenen Fällen anwendbar, in denen die Anforderungen an die Genauigkeit der Impulsdarstellung nicht allzu hoch sind und sich daher komplizierte Meßanordnungen nicht bezahlt machen wurden.The circuit arrangement according to the invention is distinguished above all by the fact that it has a very simple structure is. It can always be used with advantage in those cases in which the requirements for accuracy the momentum display are not too high and therefore complicated measuring arrangements would not pay off.
Darüber hinaus bringt die Verwendung nur einer einzigen Empfangsdiode im Abtastsignalkreis noch den weiteren Vorteil ein, daß das Empfangssystem sehr reflexionsarm aufgebaut ist.In addition, the use of only a single receiving diode in the scanning signal circuit brings further benefits The advantage is that the receiving system is very low-reflection is constructed.
009826/1215009826/1215
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001029521A1 (en) * | 1999-10-15 | 2001-04-26 | Endress + Hauser Gmbh + Co.Kg | Method for increasing the interference resistance of a time frame reflectometer and a circuit device for implementing said method |
DE20016962U1 (en) * | 2000-09-27 | 2002-03-07 | Endress Hauser Gmbh Co | Time-domain reflectometer for use as a limit switch to record the limit level of a good |
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1969
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- 1969-09-02 NL NL6913387A patent/NL6913387A/xx unknown
- 1969-10-15 FR FR6935280A patent/FR2026505A1/fr not_active Withdrawn
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001029521A1 (en) * | 1999-10-15 | 2001-04-26 | Endress + Hauser Gmbh + Co.Kg | Method for increasing the interference resistance of a time frame reflectometer and a circuit device for implementing said method |
DE19949992A1 (en) * | 1999-10-15 | 2001-05-10 | Pepperl & Fuchs | Method for increasing the immunity to interference of a time domain reflectometer and circuit arrangement for carrying out the method |
DE19949992C2 (en) * | 1999-10-15 | 2002-08-29 | Endress & Hauser Gmbh & Co Kg | Method for increasing the immunity of a time domain reflectometer |
US7145349B1 (en) | 1999-10-15 | 2006-12-05 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Method for increasing the interference resistance of a time frame reflectometer and a circuit device of implementing said method |
DE20016962U1 (en) * | 2000-09-27 | 2002-03-07 | Endress Hauser Gmbh Co | Time-domain reflectometer for use as a limit switch to record the limit level of a good |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
SH | Request for examination between 03.10.1968 and 22.04.1971 |