DE1773783A1

DE1773783A1 - Non-contact thickness measuring device

Info

Publication number: DE1773783A1
Application number: DE19681773783
Authority: DE
Inventors: Auf Nichtnennung Antrag
Original assignee: KRICO ELEKTRONIC KG H J FRIEDR
Current assignee: KRICO ELEKTRONIC KG H J FRIEDR
Priority date: 1968-07-05
Filing date: 1968-07-05
Publication date: 1971-11-04

Description

Berührungsloses Dickenme#gerat Die Erfindung betrifft ein Dickenmeßgerät , insbesondere für kontinuierlich sich bewegendes Me#gut. Dickenmeßgeräte für kontinuierliche Messungen sind besikannt. Contactless thickness measuring device The invention relates to a thickness measuring device , especially good for continuously moving Me #. Thickness gauges for continuous Measurements are known.

Diese Gerate werden in den Weg eines kontinuierlich sich bewegenden Meßgutes, z.B. eines gewalzten Bandes eingeschaltet und tasten mit mechanischen Tasten, ollen oder ahnlichen Einrichtungen die Stärke des egutes ab.These devices are in the way of a continuously moving one The material to be measured, e.g. a rolled strip, is switched on and touched with mechanical Feel, ollen or similar devices from the strength of the property.

Diese Geräte sind aber nur bedingt brauchbar, cla sich die Abtastorgane abnutzen, wobei der abnutzungsgrad die Größe der Abmessungen der Stärkenunterschiede des zu messenden Materialies erreichen kann. Nachteilig wirken sich auch die Abtastorgane auf empfindliche Oberflächenbeschaffenheit von verschiedenen Materialien aus. Ein minimaler auflagedruck muß für eine einwandfreie Messung immer gegeben sein, und dies kann unerwünschte Meßspuren verursachen.However, these devices can only be used to a limited extent, because the scanning organs are wear out, the degree of wear being the size of the dimensions of the thickness differences of the material to be measured. The scanning elements also have a disadvantageous effect on the sensitive surface properties of different materials. A minimum contact pressure must always be given for perfect measurement, and this can cause unwanted measurement traces.

Vorliegender Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde ein Dickenmeßgeråt zu schaffen, das die genannten Mängel nicht besitzt. Diese Aufgabe wird durch ein beruhrungslos messendes Gerat gelöst, das dadurch gekennzeichnet ist, dafl zwei in definiertem Abstand voneinander zweckmäßig gegenüberliegende, das Meßobjekt als Reflektor benutzende sende- und Empfangseinrichtungen für bündlings- und reflektionsfähige Wellen angeordnet sind, wobei jede der Einrichtungen den abstand zur jeweiligen Oberfläche des refkektierenden Me#gutes mißt und die Differenz der Summe dieser Abstände zum konstanten Abstand der Einrichtungen die Dicke des Reflektors ergibt.The present invention is based on the object of a thickness measuring device to create that does not have the defects mentioned. This task is accomplished by a contactless measuring device, which is characterized in that two Expediently opposite at a defined distance from one another, the test object as Transmitting and receiving devices using reflector for bundles and reflective Shafts are arranged, each of the facilities the distance to the respective The surface of the reflective measurement is measured and the difference between the sum of these Distances to the constant distance between the devices gives the thickness of the reflector.

Ein Merkmal der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß alle bundl@ngs- und reflektionsfähigen Wellen, unter anderem auch sichtbares und unsichtbares Licht , d@enen Als Reflektor dienen reflektierende Bänder , Folien, Platten und Gegenstande anelerer Formen.A feature of the invention is characterized in that all bundles and reflective waves, including visible and invisible light , d @ enen Reflective tapes, foils, plates and objects serve as reflectors other forms.

Es sind Einrichtungen bekannt, die gebundelte Wellen gegen zu messende Gegenstande strahien und die Reflektion em1>fan gen.There are devices known, the bundled waves against to be measured Objects shine and catch the reflection.

Die differenz der benötigten Laufzeit der Wellen von den beiaen Oberflächen des Meßgutes wird zur Dickenmessung herangezogen. Auch sind anordnungen bekannt, bei denen eine quantitative Auswebtung der Reflektion für die Messung benutzt wird.The difference in the required travel time of the waves from the two surfaces of the material to be measured is used for the thickness measurement. Arrangements are also known in which a quantitative evaluation of the reflection is used for the measurement.

Der Unterschied zur beschriebenen Binrichtung liegt darin, daß hier die Anderung der Lage des reflektierten Strahles in einer Ebene das Maß der Entfernung vom Reflektor bildet.The difference to the described binarization is that here the change in the position of the reflected beam in a plane the measure of the distance forms from the reflector.

Dabei wird die Abbildungsebene so gegen den reflektierenden Strahl gelegt, daß in jedem Fall wie schärfe der Abbildung erhalten bleibt. abb. l neigt das Meßprinzip. Ein schafrf gebündelter Strahl wird vom Sender G gegen den Reflektor F 1 gesendet.In this way, the imaging plane is opposed to the reflecting beam placed that in any case how sharp the image is retained. fig. l tends the measuring principle. A well-bundled beam is emitted from the transmitter G against the reflector F 1 sent.

In der abbildungsebene # wird der refelktierte Strahl im Punkt o empfangen. Bei einer Dickenzunahme wird @ der Strah. vom reflektor in der Lage F 2 im Punkt P empfangen. Die Wegänderung g 5 ist der Dickenzunahme@ direkt proportional.In the imaging plane #, the reflected beam is received at point o. With an increase in thickness @ the jet. from the reflector in position F 2 at the point P received. The change in path g 5 is directly proportional to the increase in thickness @.

Entsprechend ergibt die Wegänderung t St hervorgerufen durch die Lage des Reflektors F 3 eine Dickenabnahme an. ln Abb. 2 ist eine Dickenzunahme dargestellt. Die änderungen # d@ und # d' ergeben @x@@ Wegänderungen der Punket 0 und 0' nach P und P '. Die Kichtungsänderung der Abbildungspunkte ist hier gegensinnig Abb. 3 zeigt eine Bewegungsänderung in der gleichen Richtung. Die Wegänderung der Abbildungspunkte 0 nach P und O t nach P t sind gleich groß. Die Tatsache der gleichen Richtung und Bewegung der Abbildungspunkte, sowie die Gleichheit der Wege derselben, gestatten eine Messung an Objekten, die sich zwischen den Sende- und Empitangsaggregaten auf- und abbewegen.Correspondingly, the change in path results t St caused by the position of the reflector F 3 a decrease in thickness. An increase in thickness is shown in FIG. The changes # d @ and # d 'result in @ x @@ path changes of points 0 and 0' P and P '. The change in direction of the mapping points is in the opposite direction Fig. 3 shows a change in movement in the same direction. The change in the path of the mapping points 0 to P and O t to P t are equal. The fact of the same direction and Allow movement of the image points as well as the equality of the paths of the same a measurement on objects that are located between the transmitting and receiving units. and move away.

Claims

Claims: 1. gek @ nnzei chnet that bundled, reflective Waves are blasted against the material to be measured from both sides by suitable transmission devices and by suitable receiving devices in a Position of the imaging plane can be received. Sender and receiver have constants Distance to the object to be measured.

2. characterized in that ctie Weganderung @@ x of the mapping points, Caused by changes in the thickness of the measuring object in one plane by suitable Receiving devices give an exact measure of the changes in thickness,