DE1764405A1 - Lawinen-Diode - Google Patents
Lawinen-DiodeInfo
- Publication number
- DE1764405A1 DE1764405A1 DE19681764405 DE1764405A DE1764405A1 DE 1764405 A1 DE1764405 A1 DE 1764405A1 DE 19681764405 DE19681764405 DE 19681764405 DE 1764405 A DE1764405 A DE 1764405A DE 1764405 A1 DE1764405 A1 DE 1764405A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- carrier
- diode
- diameter
- noise
- avalanche diode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims description 14
- 239000012876 carrier material Substances 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 27
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 18
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 12
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000003913 Coccoloba uvifera Nutrition 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 240000008976 Pterocarpus marsupium Species 0.000 description 1
- 241000656145 Thyrsites atun Species 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000008094 contradictory effect Effects 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000000593 degrading effect Effects 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000000752 ionisation method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Lawinen-Diode mit einem relativ
loicht dotierten Schutzring, der sich von der Oberfläche des
Trägers aus in diesen hinein erstreckt und einen kleinen Durchmesser
aufweist und mit einem relativ stark dotierten Bereich, der sich innerhalb des üchutzringes in den Träger erstreckt,
wobei der Träger vom einen Leitfähigkeitstyp und der Schutzring sowie der stark dotierte Bereich vom anderen Leitfähigkeitstyp
ist.
Beim herkömmlichen Aufbau einer Lavfinen-Diode iat der Durchmenaor
der Diode verhältnismäßig groß und liegt in der Größenordnung
zwiochen 500 bia 1000yu, um die Übergangsimpedanz der
Fs/Ja
109028/1582
Diode
Diode zu erniedrigen. Der theoretische l/ert der kleinsten
Impedanz wird jedoch bei Dioden mit verhältnismäßig großem Durchmesser nicht erreicht, da der Durchschlag am Übergang
beim Anlegen einer öperrvorspannung uneinheitlich ist.
Wenn mit dem Vergrößern der Operrvorspannung ein uneinheitlicher
Durchschlag erfolgt, durchsetzt der ütrom infolge eines
Durchschlags in nur kleinen Teilen des Übergangs diesen in kleinen örtlichen Bereichen. An Stelle eines Durchschlags am
übergang zum selben Augenblick, wodurch die theoretische kleinste Impedanz erzielt werden würde, erfolgt der Durchschlag
nur allmählich, wodurch die effektive Impedanz nur der Impedanz der parallelliegenden örtlichen Bereiche entspricht,
die jedoch infolge der kleinen betroffenen Übergangsbereiche verhältnismäßig groß ist. Mit dem sich schrittweise
ausdehnenden Durohschlagsbereich wird ein zusätzlicher Geräuschanteil erzeugt, so daß Lawinendioden mit verhältnismäßig
großem Durchmesser ein verhältnismäßig hohes Geräusch aufweisen·
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Lawinendiode
zu schaffen, bei der bei niedrigem otrom das Geräusch geringer
ala bei bekannten Lawinendloden ist und bei der zur Erzielung
'.::-·■. . -."''■■■ ί ■'■■■-■·'·'■ ■"■'■.■ ■' '-['■' ' ■ - ■■ -■ ':'
einer niedrigen Impedanz nicht der Diodendurchmesser vergrößert wird· Die Lawinendiode soll ferner als Rauschgenerator mit
niedriger Leistung verwendet werden können.
BAD OWQINAL Ausgehend
IpMlI/Uli ■
/.umgehend von der eingangs erwähnten .Lawinen-Diode wird diese
.i-jticyua im wesentlichen dadurch gelöst, da!; sich der Schutzring
parallel zur '.'.'rägeroberfläche zwischen dem stark dotierte
B-reich und dem [Trägermaterial so -eit nach innen erstreckt,
dp- nur eine verhältnismäßig kleine Zone des Trägermaterials
im lnnoren,vorzugsweise im Zentrum des ■ "chutzringes, angeordnet
i.- .
Bei ein^r nach den Merkmalen der Erfindung ausgeführten
Lav.'inen-Diode wird der übliche Durchmesser von ungefähr 500
bis 10Ov)/u auf eine Größe von ungefähr c_5 bis 250/U verringert.
Im Gegensatz zu der normalerweise zu erwartenden Vergrößerung
der übergangsimpedans infolge einer Verkleinerung der Übergangszone
nimmt die Impedanz einer Diode mit einem kleinen ochutzriiigdurchmesser
in überraschender V/eise bis zu einem Wert ab, ler νί'Λΐ niedriger als bei Dioden mit großem Durchmesser ist.
Bei sorgfältiger Fabrikation kann bei einer Lawinen-Diode mit
einem Durchmesser zwischen ungefähr 25 bis 250/U ein im wesentlichen
über den gesamten Bereich gleichförmiger Übergang geschaffen werden. Wenn daher bei einer derartigen Diode die
LrTiinen-Durchschiagsspannung erreicht ist, erfolgt die Lawinen-Entladung
im gesamten Übergangsbereich.
!■Aue beispielsweise Ausführungsform der Erfindung ist in der
Zeichnung dargestellt; es zeigen:
BAD
109828/158?
Fig.1 eine teilweise geschnittene iaometrische Ansicht einer herkömmlichen Lawinen-Diode
mit einem großen Schutzringdurchmesser;
Fig.2 eine teilweise geschnittene isometrische Ansicht einer Lawinen-Diode gemäß der Erfindung
mit einem relativ kleinen ochutzringdurchmesser;
Fig.3 eine graphische Darstellung der spektralen
Geräuschspannungsdichte für einen offenen Schaltkreis über dem Strom durch den Übergang
für eine Vielzahl von Dioden mit kleinem Durchmesser;
Fig.4 eine graphische Darstellung der spektralen
Geräuschleistungsdichte über dem Strom durch den übergang für eine Vielzahl von Dioden
mit kleinem Durchmesser;
Fig.5 eine graphische Darstellung einer Reihe von
Serienwiderst&nden über dem Durchmesser des Übergangs für eine Vielzahl von Dioden mit
kleinem Durchmesser;
Fig.6 einen Vergleich in graphischer Darstellung
der JEDEC-Norm (Joint Electron Device Engineering Council) für die oerienwiderstände
über der Sperrvorspnnmmg für eine Anzahl herkömmlicher
Dioden mit gro'em Durchmesser gegen über einer Diode gemäß der Erfindung mit kleinem
Durchmesser;
■:::■■.>
' Fig.7
Fig.7 eine graphische Darstellung der spektralen
Geräuschspannungsdichte über dem Strom durch den Übergang für eine herkömmliche Lawinen-Diode
mit groi3em Durchmesser und einer Lawinen Diode gemäij der Erfindung mit kleinem Durchmesser;
i'ig.S eine graphische Darstellung der spektralen
Geräuschspannungsdichte für einen offenen »Schaltkreis über der Frequenz für eine typische
Diode mit kleinem Durchmesser gemäß der Erfindung.
In 51Ig. 1 ist eine Lawinen-Diode mit einem herkömmlichen
Schutzring dargestellt. In einem Träger 2 mit F Leitung ist ein verhältnismäl ig großer Bereich 1 mit N+ Leitung vorgesehen.
Beim Anlegen einer zunehmenden Jperrvorspannung erfolgt ein
Durchschlag zuerst am N+P Übergang 5 an der Ütelle, an welcher
der Übergang 5 normalerweise die Oberfläche des Trägers 2 durchsetzen würde. Um diesen Durchschlag zu verhindern, wird
ein ochutzring 3 mit N- Leitung um den Boreich 1 mit N+ Leitung
herum vorgesehen. Über den Metallkonfcakt 4 erfolgt eine
ohmirjche Verbindung mit dem Bereich 1 mit M+ Leitung, wogegen
übf-;r einen weiteren nicht dargestellten Metallkontakt eine
ohmirjcho Verbindung mit dem Träger 2 mit P Leitung erfolgt.
Kino typische Lawinen-Diode mit niedriger Impedanz besitzt
einen N+P Übergang 5 von ungefähr 500 bis 1000/U Durchmesser D,
der
109028/1502
der am inneren Umfangsbereich des Schutzringes mit N- Leitung
gemessen wird. Eine isolierende Oxydschicht 6 auf der Oberfläche des Trägers dient zu deren Schutz. Die Lawinen-Diode
gemäß Fig.1 wird in der üblichen Weise hergestellt, mit der eine verhältnismäßig niedrige Impedanz durch einen so groß als
möglich ausgeführten N+P übergang 5 angestrebt wird. Die Impedanz dieses relativ großen N+P Übergangs erreicht jedoch nie
den niedrigen theoretischen Wert für den speziellen Diodendurchmesser. Wie bereits angedeutet, ist dieser gegenüber dem
theoretischen Wert größere Impedanzv/ert eine Folge der örtlich
veränderten Lawinen-Durchbruchspannung an dem N+P Übergang.
Diese örtlichen Unterschiede der Lawinen-Durchbruchspannung
sind höchstwahrscheinlich eine Folge der statistischen uchwankung
der Störstellenverteilung. Diese Vermutung wurde von W. Shockley in seinem Aufsatz "Probleme Related to P-N Junctions"
in der Zeitschrift Solid State Electronics 2, Jahrgang 35 (1961) aufgestellt. Sie kann auch von dem graduellen Unterschied
der Störstellendichte im Durchbruchsbereich herrühren, wie dies von A. Ooetzberger, B. McDonald, R.H. Haitz und
B.M. Scarlett in ihrem Aufsatz "Avalanche Effects in Silicon
PrN Junctions II. Structurally Perfect Junctions" , Journal of Appl. Phya. Jahrgang 3* (1963), Seite 1591 vermutet iird. Die
Dioden mit herkömmlich großem Durchmesser besitzen ein sehr hohes Geräusch auf Grund der Änderung der Lawinen-Durchbruchsspannungea
in verschiedenen Teilen dee Übergangs· Hit jeder
4ΛΛ.; Erweiterung 109828/158* *
Erweiterung des Durchbruchbereichs wird weiteres Geräusch.
erzeugt. Deshalb wird mit einer zunehmenden an die Lawinen-Diode angelegten öperrvorspannung an Stelle eines einmaligen
Durchschlags durch den gesamten N+P Übergang, wodurch eine sehr cteile 8trom-üpannungskurve erzielt wird, der N+P Übergang
5 bei verschiedenen Spannungen durchschlagen.
Eine Lavrinen-Diode mit Schutzring gemäß der Erfindung ist in
J?ig.2 dargestellt. Obwohl auch P+N übergänge für Lawinen-Dioden
mit kleinem Durchmesser verwendet v/erden können, wurde ein Aufbau mit einem N+P Übergang vorgezogen, da ein gleichmäßiger
Durchbruch sehr viel leichter durch eine Phosphordiffusion in ein Bor-dotiertes Material mit P- Leitung als
durch eine Bordiffusion in ein Phosphor-dotiertes Material mit N- Leitung erzielt werden kann. Der Grund für diesen Unterschied
ist höchstwahrscheinlich in den Kristallversetzungen zu suchen, welche durch'eine hohe Bordotierung in eine Schicht
mit P+ Leitung verursacht wird.
Eine großflächige Gehutzringzone 8 mit N Leitung wird in
einem Träger 11 mit F Leitung angebracht» Der innere Durchmesser der Bchutzringzone 8 ist klein und bestimmt, wie bei
den herkömmlichen Dioden gemäß Pig.1,den Durchmesser D der
Diode. Der Bereich 10 mit N+ Leitung wird innerhalb der Schutzringsone
8 vorgesehen.
Gegenüber
109828/1S82 BAD
Gegenüber der Ausführungsform gemäß Fig.1 wird der Durchmesser
D des N+P Übergangs 7 auf ungefähr einen Wert von 25 bis 250 /u.
verkleinert, wodurch die unerwartete Verminderung des Geräusches und der Impedanz erzielt wird. Durch die öchutzringzone
8 mit N- Leitung v/ird erreicht, daß der N+P Übergang 7 die Oberfläche des Trägers 11 nicht durchsetzt. Hierfür ist derselbe
Grund maßgebend der auch für die Ausführungsform gemäß
Pig.1 gilt. Ein Metallkontakt 9 stellt die ohmische Verbindung mit dem Bereich 10 mit N+ Leitung dar, während ein an-
s a
derer nicht dargestellter Metallkontakt als ohmische Verbindung zu dem Träger 11 mit F Leitung wirksam ist. Die Oberfläche
der Diode wird von einer isolierenden Schicht 12 aus z.B. einem Oxyd geschützt.
Um zu zeigen, wie nahe die Parameter der Lawinendiode mit kleinem Durchmesser bei dem niedrigen theoretisch möglichen
Geräusch und der geringen theoretisch möglichen Impedanz liegen, wurde eine Diode mit kleinem Durchmesser hergestellt
und deren Parameter mit den mathematischen Werten einer Modelldiode verglichen. Die spektrale Geräuschspannungsdichte
für einen offenen Schaltkreis u wird für Frequenzen (o
Af
kleiner als die Lawinen-Frequenz to aus folgender Formel ge-
kleiner als die Lawinen-Frequenz to aus folgender Formel ge-
β.
funden:
10ta 28/158? BAD ORIGINAL
2 Ttr 2 Vb 2 2 Vb 2
2mc "rl2" ι ι
.A.
s/obei
co2 = 2mvdI/kgAVb ist. (2)
Die Gleichung (1) ergibt sich durch eine Modifikation der Hines-Geräuschtheorie für Dioden mit einem N+P übergang.
(üiehe H.E. Hines "Noise Theory for the Head Type Avalanche
Diode1, IEEE Transaction on Electron Devices ED-13, 158,
In der Gleichung gibt π die Elektronenladung an, m*v5
/die
Gtollt eine Konstante dar, die'Leistungsabhängigkeit des
Gtollt eine Konstante dar, die'Leistungsabhängigkeit des
Ionisationskoeffizienten vom elektrischen Feld beschreibt, k durch den Ausdruck V =» kV^ bestimmt wird, wobei V& die
Spannung am Lawinenbereich und V, die Durchbruchspannung
ist, T = τ·//ν, die Übergangszeit der Träger durch die
Rp umladungsschicht mit der Breite W bei einer gesättigten
Driftgeschwindigkeit vd ist, Τχ die mittlere Zeit zwischen
zwei lonisationsvorgängen eines Trägers im Lawinenbereich
ist und I den Lawinenstrom darstellt. Für den Fall, daß konstant int, können die beiden ersben Ausdrücke der
2 Gleichung durch eine weitere Konstante a auf der rechten
.JGxfc'j der Gleichung (1) ersetzt werden, deren Wert sich
exi>orimontel.l nls 3,3 χ 10 ^ A/Hz ergibt.
109828/1
Für
-ίο- 176U05
Pur Frequenzen «-ο* ο und für kleine Übergangswinkel
. _ <x T errechnet sich die spektrale Geräuschleistungsdichte
w (u>) aus der Gleichung (1) als:
ΎΙ
Für die Gleichung (3) wird angenommen, daß der Diodenwiderstand
für Mikrowellenfrequenzen dominierend von dem Ausbreitungswiderstand
R = j/2D bestimmt wird, wobei 3 der Widerstand
des Grundmaterial und D der Durchmesser des Durchbruchbereiches
ist. Die obige Annahme ist gültig für eine Diode mit einem Durchmesser von mehr als 10/U.
Die Dioden mit kleinem Durchmesser gemäß der Erfindung wurden mit dem Hines-Modell für niedrige Frequenzen verglichen,
indem u /Δί i'n Abhängigkeit vom otrom I und von der Durchbruchspannung
V, aus der Gleichung (1) ermittelt wurden.
Zu diesem Zweck wurde eine Serie gleichartiger Lawinen-Dioden kleiner Durchmesser mit V, und D als Parameter hergestellt.
Die Ergebnisse des Vergleiches sind in Fig.3 dargestellt, in der die spektrale Geräuschspannungsdichte
(u /&f) 1/2 als Funktion des Stromes I für eine ...lerie von
Dioden mit einer Lawinen-Durchbruchspannung V^ = 12,9 Volt
und Durchmessern D zwischen 6 und 77/U wiedergegeben wird.
Die ausgezogene Linie 10 charakterisiert die theoretischa
Diode
109828/1582 bad original
Diode und hat eine Neigung von -1/2, wie sich aus der Gleichung
(1) ergibt. Die sehr kleinen Dioden 11 und 12 (6/U und '"3 /U Durchmesser) folgen der vorausgesagten Gesetzmäßigkeit
"'/VT "bei kleinen strömen. Die größeren Dioden 13 und 14-(27/U
und 77/U Durchmesser) erreichen die Gesetzmäßigkeit Λ/^'L bei hohen otrömen. Die Ergebnisse aus Fig. 3 führen zu
der Vermutung, dai sich das gesamte bei niedrigen Frequenzen
errebeiiäe Geräusch aus drei Ursachen zusammensetzt;
a) dem Geräusch auf Grund der Gesetzmäßigkeit 1/VT
gemäß Gleichung (1)
b) dem übermäßigen Geräusch bei niederen Stromdichte!!
c) dem übermäßigen Geräusch bei hohen otromdichten.
Die in Fig.3 dargestellten Ergebnisse sind typisch für
Lawinen-Dioden gemäß der Erfindung mit kleinen Durchmessern.
Das Verhalten der Dipden mit einem kleinen Schutzring vrarde
ebenfalls mit dem Diodenmodell nach Hines bei hohen Frequenzen verglichen, indem in der Gleichung (3) mit £0»«^ die
Abhängigkeit der spektralen Geräuschleistungsdichte w (to) vom iitrom I und der Frequenz Co ermittelt wurde.
Die Ergebnisse der Mikrowellen-Geräuschmessungen bei Frequenzen zwischen 3 GHz und 951 GHz sind in Fig.4 dargestellt.
Die spektrale Geräuschleistungsdichte w (to) ist als Funktion des Stromes I für die Frequenzen zwischen 3 GHz und 9,1 GHz
aufgezeichnet
103828/158? bad
-12- 176UQ5
aufgezeichnet. Die Kurve 41 entspricht der Frequenz von 3 GrHz, die Kurve 42 der Frequenz von 4 GHz, die Kurve 43
der Frequenz von 6 GHz und die Kurve 44 der Frequenz von 9,16 GHz. Bei niedrigen Stromwerten I folgt die Geräuschleistungsdichte
linear dem ßtrom, wie auf Grund der Gleichung (3) zu erwarten ist. Für Ströme geringfügig oberhalb
dem Maximum to ?=%;us ist eine leichte Abweichung von dem linearen
Verhalten zu erkennen.
Die abfallenden Teile 45 von w(u») in Fig.4 entsprechen
der Annäherung für niedrige Frequenzen io«.o . Dabei nimmt
w (u^) etwas stärker ab als auf Grund der Gleichung (3) zu
erwarten ist. Außerdem zeigt w (»o) eine leichte Frequenzabhängigkeit
für Frequenzen über 6 GHz. Beide Effekte werden von einer strom- und frequenzabhängigen Diodenimpedanz
verursacht. Wenn man diese Abhängigkeit in Rechnung stellt, stimmt die spektrale Geräuschleistungsdichte für einen offenen
Schaltkreis sehr gut mit Werten überein, die von Frequenzwerten unterhalb 1 kHz bis zu der dem Lawinen-Durchbruch
entsprechenden Frequenz u» innerhalb der experimentellen To-
SL
leranzen von + 0,5 db liegen.
Der Dioden-Serienwiderstand bei herkömmlichen Lawinen-Dioden mit großem Durchmesser wird gewöhnlich von einer monothon
in Abhängigkeit vom Strom, welcher in seiner Größe bei verschiedenen
109828/158?
-13- 176U05
ncliledenen Dioden beträchtlich schwanken kann, abnehmenden
Funktion bestimmt. Der Wert des tatsächlich auftretenden Widerstandes ist ebenfalls beträchtlich größer als dem
theoretischen Wert entspricht. Diese fehlende Übereinstimmung
ist eine Folge der Tatsache, daß nur ein kleiner Bruchteil dec Ϊί+Ρ Übergangs an dem Lawinen-Durchbruch beteiligt
ist. Solch eine uneinheitliche Stromverteilung wird gewöhnlich von den räumlichen Änderungen der Durchbruchspannung,
//ie bereits erwähnt, verursacht.
Dsr ^erienwiderstand H der Dioden, die einen Schutzring
mit kleinem Durchmesser aufweisen, läßt sich durch die folgende Gleichung beschreiben:
2 1D2 (4-)
O =■ der Widerstand des Grundmaterial
D = der Durchmesser des Durchbruchbereichs A =» der Temperaturkoeffizient von V^
V, = die DurchbruchBpannung A, = die thermische Leitfähigkeit des Siliciums
W « die Breite der Raumladungaschicht
£ » die Dielektrizitätskonstante des üiliciums
v, = die maximale Driftgeschwindigkeit ist.
Der
109828M582 Bad original
176U05
Der erste Ausdruck $/2D in der Gleichung (4) beschreibt die
Streuung des Widerstands im Grundmaterial. Der zweite Ausdruck jiV, /2λΰ beschreibt den thermischen Widerstand, der
sich aus der temperaturabhang!gen Zunahme V, ergibt. Da die
Leistungsverteilung innerhalb der Diode gleich V^I ist, gilt
für die Temperaturzunahme AT » rV^I, v/obei r = 1/2AD ist
und der thermische Widerstand mit °C/W gekennzeichnet wird. Die Änderung der Durchbruchspannung AV, = {iV.AT = r (3 Y-^'"'I
ist linear vom Strom I abhängig, wobei diese Änderung der Durchbruchspannung V, durch einen konstanten 3erienv;ideretand
R/. »AV,/I beschrieben werden kann. Der dritte Ausdruck
2W2ZTf vdD2 in der Gleichung (4) beschreibt den Raumladungswiderstand,
wie er von Shockley eingeführt wurde (siehe oben genannte Literaturstelle).
Es soll bemerkt werden, daß die ersten beiden Ausdrücke der Gleichung (4) nur exakt sind, wenn der Durchmesser D klein
im Vergleich zur Dicke der Siliciumscheibe ist, was für den ITaIl der Dioden mit kleinem Durchmesser zutrifft. Nur unter
dieser Annahme ist die Annäherung für den Strom und die V'är meauflbreitung
in einen Halbkugelbereich mit definiertem Durchmesser gültig.
DaB der Serienwiderstand einer Diode mit kleinem Durchmesser
sehr gut der Gleichung (4) entspricht, ergibt sich auch aus fig,5, in der die Serienwiderstände als Punktion des Durch
109828/1512
. ..... , BAD ORIGINAL
-15- 176UQ5
Tiessera für eine Anzahl von Dioden mit kleinem Durchmesser
bei einer Durchbruchspannung V, zwischen 7;6 Volt und MA Volt
•aufgezeichnet sind.
Die ausgezogenen Linien 50 entsprechen jevreils dem aus der
Gleichung (4-) errechneten Verlauf der Durchbruchspannung V^.
3oi diesen Berechnungen werden <P und W aus folgenden empirischen
Annäherungen gewonnen:
W = 33*1O~8 Vb 1'17 (Vb + ν±)ΐ/2 (6)
v:obei V.<V1,7 Volt, das Diffusionspotential eines Silicium
Pl\ Übergangs beschreibt. Die Uerte der übrigen Konstanten
sind:
A= 0,84 W/cm°G; £= 1,05 pF/cm; vd = 8,5«106 cm/sec.
A= 0,84 W/cm°G; £= 1,05 pF/cm; vd = 8,5«106 cm/sec.
Die entlang den ausgezogenen Linien verteilt angeordneten durch Dreiecke, Kreise, Hechtecke oder Sterne gekennzeichneten
Werte entsprechen den tatsächlich gemessenen Werten an Dioden mit kleinem Durchmesser, für die die Jeweils ausgezogene
Linie 50 die errechneten theoretischen Werte widergibt.
Die Werte der errechneten Kurven 50 und die tatsächlichen
im Experiment gemessenen Werte des Widerstands in Abhängig keit vom Durohnesser liegen innerhalb einer Toleranz von ± 10%.
109828/1S82 Aus
BAD ORIGINAL
Aus dem Vergleich der tatsächlichen Parameter für das Geräusch und die Impedanz von Dioden gemäß der Erfindung mit
den Parametern eines theoretischen Modells ergibt sich eindeutig, daß die erzielbaren Geräusch- und Impedanzv/erte bei
niedrigen Stromwerten sehr günstig im Vergleich mit den theoretisch möglichen Kleinstwerten sind. Im folgenden sollen die
tatsächlichen Parameter von Dioden mit kleinem Durchmesser mit den tatsächlichen Parametern von kommerziell erhältlichen
Dioden mit großem Durchmesser verglichen werden.
In Fig.6 ist die Impedanz in Abhängigkeit von der Durchbruchspannung
für eine Diode mit kleinem Durchmesser im Vergleich mit der Impedanz auf Grund der JiSDEC-Norm für eine Anzahl von
Dioden mit niederer Leistung und niederem Geräusch aufgetragen. Die Kurve 61 beschreibt die Typenserie 1N4O99 der Dioden für
niedrigen Strom (250/U A) und niedriges Geräusch. Die Kurve
beschreibt die Typenserie 1N962 mit 400 mW Dioden. Die Typenserie 1N763 mit 250 mW Dioden wird durch die Kurve 6? beschrieben,
während die Kurve 64 die Typenserie INI315 kennzeichnet.
Die voll ausgezogene Linie 65 beschreibt die Verhältnisse für eine Diode mit kleinem Durchmesser gemäß der Erfindung, wobei
der Durchmesser etwa 200/U beträgt. Es ist offensichtlich, daß
die Impedanz sehr viel niedriger als bei den herkömmlichen Lawinen-Dioden
ist.
Das
- 17 - i/64405
Das Geräusch einer Lawinen-Diode mit kleinem .^chufczringdarchmescer
gemäß der Erfindung liegt ebenfalls beträchtlich unter dem Niveau des Geräusches einer Lawinendiode herkömmlicher
.Art. Der Verlauf der soeknralen Geräuschs oanrmngsdichte
is j in If1I ft*. 7 über dem .„trom auf getragen, wobei eine Lav.'inen-Diode
der T;v tenser ie !■ ί'4-099 mit einer Lawinen-Diode nib kleiuin
-chatzriugdurchmesser gemäß der Erfindung verglichen wird.
Me Goräusclinorm für die Tynenserie 1TT4Ü99 liegb bei kleiner
g -Ίϋ /uV/yii^. Dieser '/urt v;ird von Dioden gemäk der Lviiiidiuir;
loichb eingehalben. Das tatsächliche Geräusch einer
ir-^riiiicraiellen Diode -tus der Typenserie 1ίί^Ο99 mit einer Durchbruchrj;;.:>imuiig
von 9,'"1 VoIb v/ird durch die gestrichelte Kurve
7 beschrieben, . v/o ge gen der theoretische aus der Gleichung (?)
•.rrechnafce l/erb des Geräusches für diese Diode der gestrichelcen
Linie 72 entspricht. Das tatsächliche Geräusch einer
Lav/inen-Diode mit kleinem Schubzringdurchmesser, wobei der
Jchufczring etwa 82 ,u und die Durchbruchspannung 959 Volt beträgb,
wird durch die ausgezogene Linie 73 beschrieben, während der dazu gehörige aus der Gleichung (2) errechnete Verlauf
für das Geräusch durch die voll ausgezogene Linie 7^
'/idergegeben wird.
Zv/i3chen den Durchmessern von ungefähr 25 /U bis 250 ax kann
die niedrigste Impedanz oder dao niedrigste Geräusch dadurch
optimal erreicht werden, daß innerhalb des angegebenen Bereiches ein besbimmber Durchmesser ausgewählt wird. Wenn z.B.
der
109828/ 1582 bad original
- ίο - 176U05
der Durchmesser von 25/U auf 250 /U ansteigt, steigt ebenfalls
das erzeugte Geräusch an, 'vogegen die Impedanz abnimmt·, ucohalb
wird für eine Diode mit; einem minimalen Geräusch und oiler
mittleren Impedanz ein Durchmesser von ungefähr 25 hl-z 90 ,\\
besonders geeignet sein. Wenn eine niedrigere Impedanz erwünscht
ist und ein höheres Geräusch zugelassen wird, ir.;!; alec
mit einem vergrößerten Durchmesser zu erreichen. Bei ein:\r
Lawinen-Diode mit einem Bchutzringdurchmesser von ungefähr
250/U wird immer noch eine Impedanz und ein Geräuscnverhr·.!-
ten erzielt, das besser als bei anderen bekannten Dioden kleiner Leistung ist. Die Verbesserung der Impedanz zeige
sich besonders bei niedrigen strömen, z,B. von Strömen kleiner
gleich 1mA.
Eine Lawinendiode mit einem Durchmesser von etwa 25 /U kenn,
obwohl es gegenüber den großen Dioden mit einem hohen Geräusch widersprüchlich zu sein scheint, als Rauschgenerator vorteilhaft
verwendet werden. Der Vorteil des hohen Geräuschsignals bei den herkömmlichen Dioden wird durch den Nachteil der
Temperaturabhängigkeit des abgegebenen Geräuschsignals und
die geringe Beproduzierbarkeit des Geräuschnivaaus von Diode
zu Diode kompensiert. Die geringste Temperaturabhängigkeit und die beate Reproduslerbarkeit des Geräuschsignals ergeben
sieh, wenn die Dioden kein überschüssiges Geräusch besitzen
und die spektrale Dichteverteilung der Gleichung (2) entspricht,
die die idealen Bedingungen für eine Lawinen-Diode
mit niedrigem Geräusch widergibt·
BAD ORIGINAL
109828M582
Ein weiterer'Vorteil besteht darin, daß die Dioden mit kleinem
Durchmesser einem ebenen über einen groi en Freouenzbereich
verlaufenden Freauenzgang gemäi? Fig.8 aufweisen, welche
den Frequenzgang einer Diode mit einem Durchmesser von 35/U von 20 Hz bis 9 GHz v.'idergibt. Die spektrale Geräuschdichte fällt bei Freouenzen. oberhalb 4- GHz rasch ab. Diese
Gren:;i're^uenz von 4- GHz stimmt verhältnismäßig gut mit der
L^'.-inen-Frequenz CO /27Γ überein, welche sich aus der Glei-
a '
cliuixg (2) bei 6 GHz und einem otrom von j5 mA errechnet.
Dioden mit kleiner Durchbruchspannung und hoher stromdichte sind als Gsräuschgeneratoren bis zu Frequenzen über 100 GHz
brauchbar. Aus der Gleichung (2) errechnet sich eine Grenzfrenuenz
von 100 GHz für V, = 6V, I = 60 mA und A »5x1° cm1"
100828/188^
Claims (1)
- -20- 176U05Patentansprüche1. Lawinen-Diode mit einem relativ leicht dotierten ochutzring, der sich von der Oberfläche des Trägers aus in diesen hinein erstreckt und einen kleinen Durchmesser auf v/eist und mit einem relativ stark dotierten Bereich, der sich innerhalb des ,ochutzringes in den Träger erstreckt, wobei der Träger vom einen Leitfähigkeitstyp und der Schutzring sowie der stark dotierte Bereich vom anderen Leitfähigkeitstyp ist, dadurch g 'e kennzeichnet, daß sich der -Schutzring parallel zur Trägeroberfläche zwischen dem stark dotierten Bereich und dem Trägermaterial,soweit nach innen erstreckt, da' nur eine verhältnismäßig kleine Zone des Trägermaterials im Inneren, vorzugsweise im Zentrum des Schutzringes angeordnet ist.2. Lawinen-Diode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Schutzring im allgemeinen kreisförmig ausgebildet ist und eine ebene Oberfläche aufweist, die grundsätzlich zip? Oberfläche des Trägers koplanar ist.J. Lawinen-Diode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktbereich zwischen dem Träger und dem stark dotierten Bereich im allgemeinen kreisförmig ist.s :: t it i BAD ORIGINAL4. .bavrinen-Diode nach Anspruch. 3 t dadurch gekennzeichnet, daß der Kontaktbereich zwischen dem Träger und dem stark dotierten Bereich einen Durchmesser zwischen 25/u und 250/U aufweist.5. Lawinen-Diode nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß auf dem ebene» Oberfläohenteil des Trägers eine Oxydschicht angeordnet ist und die Oxydsohicht eine öffnung aufweist, in der ein Teil des stark dotierten Bereiches freiliegt.6. Lawinen-Diode nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, daß die Oxidschicht die kreisförmige ebene Oberfläche dea Schutaringes überdeckt,7. Lawinen-Diode nach Anspruch 5» dadurch gekennzeichnet, daß durch die öffnung in der Oxydachicht ein ohmischer Kontakt an dem stark dotierten Bereich und ein weiterer ohmischer Kontakt am Träger angebracht ist.109128/1512 bad originalL e e TTe i t e
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US64621567A | 1967-06-15 | 1967-06-15 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1764405A1 true DE1764405A1 (de) | 1971-07-08 |
Family
ID=24592213
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19681764405 Pending DE1764405A1 (de) | 1967-06-15 | 1968-05-31 | Lawinen-Diode |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE1764405A1 (de) |
FR (1) | FR1569264A (de) |
NL (1) | NL6808437A (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3219888A1 (de) * | 1982-05-27 | 1983-12-01 | Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg | Planares halbleiterbauelement und verfahren zur herstellung |
-
1968
- 1968-05-31 DE DE19681764405 patent/DE1764405A1/de active Pending
- 1968-06-14 NL NL6808437A patent/NL6808437A/xx unknown
- 1968-06-14 FR FR1569264D patent/FR1569264A/fr not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3219888A1 (de) * | 1982-05-27 | 1983-12-01 | Deutsche Itt Industries Gmbh, 7800 Freiburg | Planares halbleiterbauelement und verfahren zur herstellung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
NL6808437A (de) | 1968-12-16 |
FR1569264A (de) | 1969-05-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2619663C3 (de) | Feldeffekttransistor, Verfahren zu seinem Betrieb und Verwendung als schneller Schalter sowie in einer integrierten Schaltung | |
DE2235783C2 (de) | Metalloxid-Varistorelement | |
DE112013003692T5 (de) | Halbleitervorrichtung | |
DE2559360A1 (de) | Halbleiterbauteil mit integrierten schaltkreisen | |
DE1092131B (de) | Transistor und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE3228574A1 (de) | Referenzspannungsgenerator | |
DE2712114A1 (de) | Selbstschuetzende halbleitervorrichtung | |
DE1208411B (de) | Durchschlagsunempfindlicher Halbleitergleichrichter mit einer Zone hoeheren spezifischen Widerstands | |
DE2407696A1 (de) | Thyristor | |
DE1293900B (de) | Feldeffekt-Halbleiterbauelement | |
DE1764405A1 (de) | Lawinen-Diode | |
DE1489052C2 (de) | Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen | |
DE2648159A1 (de) | Thyristor mit emitterkurzschluessen und verwendung desselben | |
DE2746406C2 (de) | Thyristor mit innerer Zündverstärkung und hohem dV/dt-Wert | |
DE1962403A1 (de) | Verzoegerungseinrichtung fuer elektrische Signale | |
DE2012945C3 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE1464880A1 (de) | Elektronische Schaltanordnung unter Verwendung von sperrschichtfreien Halbleiter-Schaltelementen | |
DE2929133A1 (de) | Transistor mit erhoehter schaltgeschwindigkeit und verminderter empfindlichkeit gegen sekundaeren durchbruch | |
DE1439368A1 (de) | Halbleiterstromtor mit Zuendung durch Feldeffekt | |
DE1919406C3 (de) | Feldeffekttransistor und seine Verwendung in einer Schaltungsanordnung für einen Miller-Integrator | |
CH695521A8 (de) | Strombegrenzendes Bauelement. | |
DE3029836C2 (de) | Thyristor | |
DE1589834A1 (de) | Varaktor mit vergroessertem Kapazitaetsbereich | |
DE2019683A1 (de) | Isolierschicht-Feldeffekttransistor | |
DE2250011A1 (de) | Metalloxidvaristor-potentiometer |