DE1652233A1 - Optische Bauelemente und Verfahren zu ihrer Herstellung - Google Patents
Optische Bauelemente und Verfahren zu ihrer HerstellungInfo
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Description
Western Electric Company Incorporated Herriott-Perry-Wimperis
New York - V. St. A. 14-1-1
Die Erfindung befaßt sich mit optischen Bauteilen wie Filtern, Wellenplättchen,
Spiegeln und dergleichen und mit Verfahren zu ihrer Herstellung.
Das weit verbreitete Interesse und die Forschung auf optischem Gebiet,
die noch kürzlich durch die Erfindung des optischen Masers oder Lasers angeregt wurde, hat eine große Nachfrage nach optischen Bauteilen verschiedener
Typen ausgelöst. Da optische Wellen elektromagnetische Wellen sind,, haben viele Bauteile ihr Gegenstück in der Mikrowellen-Technik,
doch ist es, da die fraglichen Wellenlängen so kurz sind, nicht immer möglich oder tunlich, einige Bauteile durch Anwendung der üblichen
Mikrowellen-Technik herzustellen. Im Fall der Bandbreiten-Filter, die durch ein Dielektrikum getrennte, reflektierende Oberflächen verwenden,
ist es beispielsweise wegen der extrem geringen Dicke, die für die dielektrische Schicht verlangt wird, wenigstens bisher undurchführbar,
Trennungen im Bereich von 5 λ bis 0, 5 mm anzuwenden, wie man es bei Mikrowellen-Frequenzen machen kann. Demzufolge werden Filter
hergestellt, in denen die reflektierenden Flächen durch viele hundert oder tausend Halbwellenlängen getrennt sind. Dieser weite Abstand läßt
zwei Probleme entstehen, die sich gegenseitig ausschließen. Das heißt,
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daß die Lösung des einen die des anderen erschwert und umgekehrt. Diese Probleme sind Moden-Bildung und Bandbreiten-Größe. Moden-Bildung
ist einfach das Vorhandensein verschiedener Bandbreiten in der Filtercharakteristik., die auf der Frequenzskala voneinander getrennt
sind. Je größer der Abstand zwischen den reflektierenden Flächen des Filters, desto enger liegen die Maxima (peaks) in der Frequenz
beieinander. Daher können bei einem breiten Abstand verschie- ψ dene dieser Maxima im Frequenzbereich, der von Interesse ist, auftreten
und die Arbeitsweise des Filters wird verschlechtert.
Andererseits wird bei Verringerung des Abstands, um eine breitere Trennung der Maxima zu bewirken, die Bandbreite des Filters vergrössert.
Es ist daher im allgemeinen notwendig, einen Kompromiß zu schließen. Es wurde gefunden, daß ein Abstand in Höhe von etwa dreihundert
Halbwellenlängen eine annehmbar scharfe Filterbandbreite mit ausreichend breiter Zwischengrößen-Trennung bewirkt. Solch ein Abstand
zwischen den Flächen beträgt jedoch in einigen Fällen nur wenige Hundertstel Millimeter. Bisher war es in Wirklichkeit unmöglich, FiI-
■ $
ter mit solchem Abstand wegen der Anforderungen an optische Ebenheit
und Parallelität der reflektierenden Flächen herzustellen.
Eine Methode zur Herstellung solcher Filter besteht im Spalten von
Glimmer, um ein dünnes Dielektrikum zu erhalten. Dies Verfahren liefert bestenfalls eine Filter-Bandbreite, die annähernd zwei bis drei
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AE hat, was für viele Anwendungszwecke bei weitem zu breit ist. Es
sind doppeltbrechende Filter angefertigt worden mit Bandbreiten von ein bis zwei ÄE, was auch zu breit ist. Interferenz-Filter mit aufgedampften
Filmen haben Charakteristika in der Größenordnung von 10 ÄE Halbbreite.
Ein Filtertyp, der eine extrem scharfe Charakteristik ergibt, ist das Interferometer nach Fabry-Perot, aber es ist etwa 0, 3 m lang,
bewirkt Modenbildung, ist sehr temperaturempfindlich und schwierig zu bauen.
Im Fall der Wellenplättchen ist das Problem noch schwieriger zu lösen.
Wellenplättchen sind doppelbrechende Vorrichtungen, die Phasenverzögerungen bei verschieden polarisiertem Licht hervorrufen und haben erwünschtermaßen
eine Dicke von 15 bis 40 Mikron je nach der fraglichen Lichtfrequenz. Es hat sich als praktisch unmöglich erwiesen, mit bekannten Techniken den gewünschten Grad optischer Ebenheit und Parallelität
bei so dünnem Material zu erreichen. Bisher sind Wellenplättchen aus Quarz, einem ausgezeichneten Material für diesen Zweck, hergestellt
worden, indem zwei Quarzstücke mit gekreuzten Achsen miteinander verbunden werden, sodaß ihre wirksame Länge (oder Breite) im Bereich von
15 bis 40 Mikron liegt, obwohl ihre tatsächliche Länge weit größer ist. Es ist schwierig, mit dieser Methode den gewünschten Effekt exakt zu
erreichen. Wellenplättchen aus Kunststoff oder Glimmer sind allgemein unbefriedigend wegen der ihnen von Natur aus anhaftenden Eigenschaft
der Lichtstreuung.
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BADORIGfNAL
BADORIGfNAL
Bei allen vorerwähnten Geräten bedeutet die extrem geringe Dicke, die
gefordert wird, daß das Material nicht stark genug ist., um sich selbst
zu tragen, weswegen das Schleifen auf Ebenheit und Parallelität mit den
gegenwärtigen Techniken allgemein unbefriedigend ist.
Die vorliegende Erfindung besteht in einem Verfahren zur Anfertigung
von Filtern, Wellenplättchen und dergleichen von der gewünschten geringen
Dicke, um Ergebnisse oder Charakteristiken welcher auch immer geforderten Art zu erhalten.
In der Anwendung auf die Herstellung eines Bandbreitenfilters besteht
das Verfahren der Erfindung aus den Arbeitsgängen des Schleifens und Polierens einer Fläche einer Scheibe oder Platte aus geschmolzenem
Quarz auf optische Ebenheit und anschließendem Niederschlagen - etwa
durch Aufdampfen - von abwechselnden Schichten dielektrischer Filme von hohem und niedrigem Brechungsindex abwechselnder Schichten von
Zinksulfid oder Kryolith.
Die beschichtete Fläche wird dann mit einem optisch geeigneten Klebemittel,
beispielsweise Epoxy-Kleber auf einer Unterlage aus Quarzglas
montiert. Die andere unbedeckte Fläche wird dann geschliffen und poliert. Zwischendurch wird während des Schleifens der zweiten Fläche vorübergehend
ein Silberfilm, etwa durch Aufdampfen, auf der Fläche niedergeschlagen, um vorübergehend ein Filter herzustellen und Licht der Fre-
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quenz durchzuschicken, mit der das Filter benutzt werden soll. An dem
entstandenen Beugungsmuster kann man anhand bekannter Techniken den Keilwinkel (oder die Parallelität), die Ebenheit und die Dicke der Platte
ermitteln. Das Silber wird dann, etwa durch Salpetersäure, entfernt und
das Polieren und Nacharbeiten fortgesetzt, um etwa beobachtete Aberrationen zu korrigieren. Dies Verfahren wird fortgesetzt bis die gewünschte
Dicke erreicht ist.
Wenn die geeignete Dicke, Ebenheit und Parallelität erreicht ist, wird
die Fläche mit abwechselnden Lagen dielektrischen Materials von hohem und niedrigem Brechungsindex beschichtet wie bei der ersten Fläche.
Das Endprodukt ist ein Filter mit einem dielektrischen Raum oder Schicht von 0, 025 bis 0, 051 mm bis zu 1 mm herauf zwischen den reflektierenden
Flächen und hat eine Filterbandbreite zwischen 0,1 und 2 AE. Die anderen
Filtermaxima sind in der Frequenz ausreichend weit vom Hauptmaximum entfernt, sodaß sie kein Problem darstellen. Das Filter ist (mechanisch)
fest, unempfindlich gegen die Temperatur und, relativ betrachtet, recht wirtschaftlich herzustellen.
Bei der Herstellung eines Wellenplättchens ist das Verfahren der Erfindung
praktisch das gleiche, doch werden die Plattierungsgänge ausgelassen und eine Quarzkristallscheibe ist das Bauteil, das geschliffen und
poliert wird. Eine Fläche des Kristalls wird eben geschliffen und poliert, dann mit Epoxy-Kleber auf eine Unterlage aus geschmolzenem Quarz
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geklebt. Die andere Fläche wird dann geschliffen, um eine Quarz scheibe
in der Größenordnung von 40 Mikron Dicke mit ebenen und parallelen Flächen herziistellen.
Bei dem Verfahren nach der Erfindung stellt die Verwendung einer Unterlagsplatte
aus geschmolzenem Quarz die notwendige Stütze dar, die ihrerseits das Schleifen des Filters oder des Wellenplättchens auf die notwendigen
extrem geringen Abmessungen gestattet. Diese Rückenplatte, die optisch die Arbeitsweise der Bauteile nach dem Verfahren der Erfindung
nicht nachteilig beeinflußt, ist ein wesentliches Element des Erfindungsverfahrens.
Es kann auch bei einer Abwandlung der Erfindungsmethode verwendet werden, wenn gekrümmte Spiegel für konfokale Resonatoren
herzustellen sind, wie im folgenden besprochen wird.
Die Hauptmerkmale und Ziele der Erfindung werden aus der nachfolgenden
Beschreibung und in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen rasch verständlich werden.
Fig. la bis If erläutern die Arbeitsgänge des Erfindungsverfahrens
bei der Herstellung eines Filters.
Fig. 2a bis 2e erläutern die Arbeitsgänge des Verfahrens der Erfindung
bei der Herstellung eines gekrümmten, geschützten Spiegels.
Fig. 3a bis 3d erläutern die Arbeitsgänge des Verfahrens der Erfindung
bei der Herstellung eines Wellenplättchens.
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In den Zeichnungen stellt Fig. la eine Scheibe oder Rohling 11 aus hochwertigem
geschmolzenem Quarz dar, aus der das dielektrische Distanzstück zwischen den zwei reflektierenden Flächen eines Filters hergestellt
werden soll. Um geeignetes optisches Arbeiten sicherzustellen, wird
eine Fläche 12 der Scheibe 11 bis zu einem hohen Grad von Ebenheit geschliffen und poliert.
Ein partiell durchlässiger und partiell reflektierender Film 13 wird auf
der Fläche 12 durch Aufdampfen niedergeschlagen, um einen optischen
Film hoher Qualität sicherzustellen. Der in Fig. Ib gezeigte Film 13 ist
aus ausreichenden Schichten dielektrischer Filme von abwechselnd hohem und niedrigem Brechungsindex zusammengesetzt, um eine Durchlässigkeit
von vielleicht 3 bis 17 % bei der ausgewählten Wellenlänge zu erhalten.
Die Scheibe 11 wird dann wie in Fig. Ic gezeigt ,rutiels eines optisch geeigneten
Epoxy-Klebers'l6 auf eine Rückenplatte 14 mit dem Film 13 zur
Platte 14 hin montiert und danach die zweite Fläche 17 der Scheibe 11
geschliffen. Für das richtige Arbeiten des Filters ist es notwendig, daß die Fläche 17 eben und parallel zur Fläche 12 geschliffen und poliert wird.
Es ist auch notwendig, daß die schließliche Breite der Scheibe 11, die von Arbeits-Wellenlänge des Filters bestimmt wird, präzis ist. Um diese
Genauigkeit während des Polierens der Fläche 17 in einer oder- mehreren
Stufen zu gewährleisten, wird die Fläche 17 durch Aufdampfen eines teil« weise durchlässigen Silberfilms 18 hoher optischer Qualität beschichtet,
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BADORlGINAt
wie in Fig. Id gezeigt. In diesem Stadium bilden Scheibe 11 und die Filme
13 und 18 zeitweilig ein Filter, das danach mit Licht der Frequenz geprüft
wird, für die das Filter hergestellt wird. Bei solcher Beleuchtung erzeugt das zeitweilige Filter ein Beugungsmuster, das, wie dem Fachmann
wohl bekannt, die Ebenheit der Fläche 17, die Parallelität der Flächen 12 und 17 und die Dicke der Scheibe 11 anzeigt. Nachdem diese
Information einmal erhalten ist, wird der Silberfilm 18 durch geeignete Mittel, wie beispielsweise Salpetersäure entfernt. Anhand dieser Information
werden notwendige Justierungen beim Poliervorgang durchgeführt, um jegliche beobachtete Aberration zu korrigieren. Es ist bisweilen notwendig,
den Arbeitsgang der Silberbeschichtung mehrmals durchzuführen, während die Fläche 17 poliert wird, bevor die Scheibe 11 die geeignete
Dicke hat und Fläche 17 flach und parallel zur Fläche 12 ist.
Dies Stadium des Verfahrens ist in Fig. Ie dargestellt. Nachdem Fläche
17 poliert ist, wird sie mit dem partiell durchlässigen, partiell reflektierenden
Film 19 überzogen, der so wie Film 13 aus einer geeigneten Anzahl abwechselnder Schichten aus Material von hohem und niedrigem
Brechungsindex zusammengesetzt ist. Im Fall daß Fläche 17 zufällig zu dünn poliert worden ist, so reicht die Abscheidung eines Films von niedrigem
Brechungsindex zuerst auf Fläche 17 gewöhnlich aus, den Mangel zu korrigieren und das Abstandsstück zu einer exakten integralen Zahl
von Halbwellen-Dicke zu machen. Das vollständige Filter wird in Fig. If
gezeigt.
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Es wurde gefunden, daß geschmolzener Quarz ein ausgezeichnetes Material
für die Zwecke dieser Erfindung ist. Insofern die Rückenplatte 14 das Arbeiten des Filters optisch nicht beeinträchtigt, ist es nicht nötig
sie zu entfernen. Die Belassung der Rückenplatte 14 am Filter sichert einen Grad von Stabilität, der größer ist als bisher bei solchen Filtern
bekannt.
Das vorstehende Verfahren kann auch benutzt werden, um geschützte optische Spiegel zu machen. Alles was erforderlich ist, ist die Verwendung
eines hoch reflektierenden Films anstelle von Film 13 und die Beseitigung des ganzen Films 19. Wo ein gekrümmter geschützter Spiegel
gewünscht wird, wie bei konfokalen optischen Resonatoren, werden die in Fig. 2a bis 2e dargestellten Arbeitsgänge angewandt. Diese Arbeitsgänge
verlaufen kurz gesagt wie folgt:
Ein Rohling aus geschmolzenem Quarz 21, wie in Fig. 2a gezeigt, hat
eine geschliffene und polierte Fläche 22 zur Herstellung einer konvexen Oberfläche hoher Qualität vom gewünschten Krümmungsradius, wie in
Fig. 2b gezeigt. Diese Fläche wird dann mit einem stark reflektierenden Film 23 hoher Qualität nach irgendeinem geeigneten Verfahren beschichtet,
wie in Fig. 2c gezeigt. Das Teil 21 wird dann auf eine Rückenplatte 24 aus geschmolzenem Quarz montiert, dessen Fläche 26 geschliffen und
poliert ist und sich der Krümmung der Fläche 22 anpaßt. Die in Fig. 2d gezeigte Zusammenstellung wird durch eine Schicht 27 eines geeigneten
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Kittes, wie etwa ein Epoxy-Kleber zusammengehalten. Die andere Fläche
28 wird dann zur gewünschten Dicke geschliffen und poliert. Wo ein hoher Genauigkeitsgrad gefordert wird, kann zeitweilig ein Gerät vom Filtertyp
hergestellt werden, indem man Fläche 28 mit einer partiell durchlässigen Silberschicht bedeckt und das mit monochromatischem Licht
erzeugte Interferenzmuster als Test für Dicke, Krümmung und Parallelität benutzt, wonach das Silber entfernt und das Polieren fortgesetzt
wird, bis das Teil 21 den Anforderungen an Dicke und Parallelität und Fläche 28 der gewünschten Krümmung und Politur entspricht, wie in
Fig. 2e gezeigt.
Der Aufbau nach Fig. 2e kann sehr ökonomisch vollzogen werden, wo eine
extreme Oberflächengüte nicht notwendig ist, indem man eine flexible
Scheibe, wie ein Mikroskop-Deckgläschen aus Glas oder Quarz mit einem reflektierenden Überzug versieht und in geeigneter Weise an einer
passenden Rückenplatte mit konkaver Fläche befestigt, wie in Fig. 2d dargestellt.
Das Verfahren nach der Erfindung ist im Grunde das gleiche, wie im
Vorangegangenen für die Herstellung von Wellenplättchen beschrieben, doch werden natürlich die Plattierungsgänge ausgelassen. Ein Rohling
aus einem Quarzkristall von Y- oder X-Schnitt, wie in Fig. 3a gezeigt,
wird auf einer Fläche 32 auf einen hohen Grad von Ebenheit geschliffen und poliert. Diese Fläche 32 wird dann auf eine polierte Rückenplatte
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aus geschmolzenem Quarz mittels eines Epoxy-Klebers 34 oder anderem
optischen Kitt geklebt, wie in Fig. 3b gezeigt. Eine zweite Fläche 36 des
Kristalls 31 wird dann geschliffen und poliert, bis Kristall 31 die gewünschte
Dicke hat und die Fläche 36 eben und parallel zur Fläche 32 ist. Wegen
der geforderten extremen Präzision wird das Polieren der Fläche 36 periodisch unterbrochen und die Dicke des Kristalls 31 mittels eines optischen
Kompensators gemessen, wie in Fig. 3c gezeigt. Der Kompensator 38 besteht aus einem Paar Quarzkeilen 3 9 und 41 und ist justierbar.
In der Wirkung arbeitet er wie ein justierbares Wellenplättchen. Licht von der Frequenz, mit der das Wellenplättchen benutzt werden soll, wird
durch einen Polarisator 35, die Teile 33 und 31, den Kompensator 38
und einen zweiten, parallel zum ersten liegenden Polarisator 40 geschickt. Der Kompensator 38, der zu Beginn auf Null justiert ist, d.h. keinen
Einfluß auf das Licht hat, wird dann <-krei die gleitenden Teile 39 und 41
justiert, bis Auslöschung des Lichts bs, Ir in· sag des Polarisattr-Paares
35 und 40 erreicht wird. In diesem Stadium ist die gesamte Zusammenstellung ein Halbwellen-Plättchen. Die erforderliche Größe der Justierung
durch Teil 38 zeigt die Materialmenge an, die von Fläche 36 noch wegpoliert werden muß. Dieser Arbeitsgang wird mehrfach wiederholt, bis
Auslöschung in der Nullstellung des Kompensators erreicht ist, in welchem Punkt der Kristall 31 ein Halbwellen-Plättchen ist, wie in Fig. 3d
gezeigt. Ein Beispiel für die geforderte Präzision ist, daß die Fläche 36
innerhalb einer Zwanzigstel Wellenlänge eben \>
:1 parallel zur Fläche 32 poliert werden muß. Für eine Wellenlänge von 6328 AE ist der Kristall
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BAD ORIGINAL
nur 34, 9 - 0,1 Mikron dick für ein Halbwellen-Plättchen.
Aus dem Vorangegangenen ist leicht ersichtlich, daß das Verfahren nach
der vorliegenden Erfindung, in dem ein optisch neutrales Material als Stütze eines Bauelements dient und zu einem integralen Teil des vollständigen
Bauelements wird, es dem Fachmann ermöglicht, extrem genaue kleine Geräte in verhältnismäßig einfacher Art herzustellen.
Yersehiedene Änderungen oder Zusätze zu den Arbeitsgängen der Erfindung
liegen für den Fachmann nahe, ohne vom Erfindungsgedanken und -Umfang abzuweichen.
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Claims (6)
1. Verfahren zur Herstellung optischer Bauteile, bestehend aus den
Arbeitsgängen der Auswahl eines Rohlings (11) aus Material, aus dem das Bauteil herzustellen ist, dem Schleifen und Polieren einer Fläche
(12) des Rohlings zu einer Oberfläche optischer Qualität, dem Schleifen
der gegenüber liegenden Fläche (17) des Rohlings zur gewünschten Ebenheit und (gleichzeitig) des Rohlings zur gewünschten Dicke, dadurch gekennzeichnet,
daß die eine Fläche (12) nach dem Schleifen auf eine Rückenplatte aus im wesentlichen optisch neutralem Material mittels eines optischen
Kitts geklebt wird und ferner dadurch gekennzeichnet, daß das Schleifen der gegenüber liegenden Fläche (17) periodisch unterbrochen
wird und daß der Rohling zeitweilig als optisches Bauelement des Typs verwendet wird, zu dem er verarbeitet wird und (schließlich) unter dem
Einfluß von Licht derjenigen Frequenz geprüft wird, bei der er benutzt werden soll, um seine Dicke und die optische Qualität der gegenüber
liegenden Fläche (17) zu ermitteln.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Rückenplatte
aus geschmolzenem Quarz besteht.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Rohling
aus Kristallquarz besteht.
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4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Rohling
aus geschmolzenem Quarz besteht.
5. Verfahren zur Herstellung eines optischen Bandbreiten-Filters nach
Anspruch 4, gekennzeichnet durch die weiteren Arbeitsgänge des Aufbringens eines partiell reflektierenden, partiell durchlässigen Überzugs
auf eine Fläche, nachdem sie geschliffen und poliert ist, des periodischen Beschichtens der gegenüber liegenden Fläche während
der Unterbrechungen des Schleifens, dem Durchschicken von Licht der Frequenz, mit der das Filter benutzt werden soll, durch den Rohling hindurch
und Beobachtung seiner Durchlässigkeits- und Filterungs-Eigenschaften,
um die optische Ebenheit und Parallelität der gegenüber liegenden Fläche und die Dicke des Rohlings zu ermitteln,
dem Entfernen des Überzugs auf der gegenüber liegenden Fläche, der Fortsetzung des Schleifens und Polierens der Fläche und der periodischen Prüfung
des Rohlings zeitweilig als Filter, bis die gewünschte Filtercharakteristik, Ebenheit und Parallelität der gegenüber liegenden Fläche erreicht
sind und
dem Aufbringen eines partiell reflektierenden, partiell durchlässigen Überzugs
auf die gegenüber liegende Fläche.
6. Verfahren zur Herstellung eines optischen Bandbreiten-Filters nach
Anspruch 5, wonach der Überzug auf der einen und auf der gegenüber liegenden Fläche aus einer Mehrzahl abwechselnder Schichten dielektrischen
• Materials von hohem und niedrigem Brechungsindex hergestellt wird.
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Leerseite
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US3039362A (en) * | 1958-05-09 | 1962-06-19 | Ca Nat Research Council | Narrow band interference filter |
-
1966
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-
1967
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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