DE1544312A1 - Method of incorporating foreign matter into a semiconductor or insulator - Google Patents

Method of incorporating foreign matter into a semiconductor or insulator

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DE1544312A1
DE1544312A1 DE19641544312 DE1544312A DE1544312A1 DE 1544312 A1 DE1544312 A1 DE 1544312A1 DE 19641544312 DE19641544312 DE 19641544312 DE 1544312 A DE1544312 A DE 1544312A DE 1544312 A1 DE1544312 A1 DE 1544312A1
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Germany
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semiconductor
foreign matter
insulator
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vapor
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DE19641544312
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Dahlberg Dipl-Phys Dr Reinhard
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B23/00Single-crystal growth by condensing evaporated or sublimed materials
    • C30B23/02Epitaxial-layer growth

Description

"Verfahren zum Einbauen von Fremdstoffen in einen Halbleiter oder Isolator" Bekanntlich können durch den Einbau von Fremdatomen in Halbleiter oder Isolatoren die-elektrischen Eigenschaften dieser Stoffe in weiten Grenzen geändert werden. Der Einbau der Fremdatome geschieht bei Halbleitern zum Beispiel dadurch, daß die Fremdatome in der Schmelze des Halbleiters gelöst werden."Method of incorporating foreign matter into a semiconductor or Insulator "As is well known, can be caused by the incorporation of foreign atoms in semiconductors or Insulators changed the electrical properties of these substances within wide limits will. The incorporation of foreign atoms occurs in semiconductors, for example, by that the foreign atoms are dissolved in the melt of the semiconductor.

Eine weitere Möglichkeit zum Einbau von Fremdatomen in einen Halbleiter besteht darin, daß der Halbleiter in dem Fremdstoff bei höheren Temperatur-en gelöst wird, aua dem er sich dann beim Erkälten dotiert ausscheidet. Dieses Verfahren wird bekanntlich Legieren genannt.Another way to incorporate foreign atoms into a semiconductor is that the semiconductor is dissolved in the foreign matter at higher temperatures is, from which it then excretes doped when taking a cold. This procedure will known as alloying.

Ein weiteres bekanntes Verfahren zum Einbringen von Fremdatomen in einen Halbleiter besteht darin, daß die Fremdatome durch Diffusion in den Halbleiter gebracht werden Diasex bei höheren Temperaturen stattfindende Diftusionsproze8: füt im Halbleiter oder Isolator zu einex Konzentrationegradienten. Die bekannten Verfahren haben den Nachteil, daß die durch den Einbau im Halbleiter odet- Isolator erziel- baren Konzentrationen für manche Anwendungszwecke nicht groß genug sind. Grißere Konzentrationen lassen sich da- gegen erzielen, wenn erfindungsgemäß sowohh der Halbleiter oder Isolator als, auch der einzubauende Fremdstoff in. den dampfförmigen Zustand überführt, der Dampf des Halbleiters oder Isolators und der Dampf des einzubauenden Fremdsteffes- miteinander gemischt und die miteinander gemischten Dämpfe kondensiert werden. - Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich vorzugsweise zum Dotieren von Halbleitern. Der Dampf des Halbleitera oder Isolators und der Dajopf des einzubauenden Fremd- stoffes werden zur RRrzielung einer bestimmten Konzenträ@ tion deratt miteinander gemischt, daß die kondensierte Schicht'dei. lfeemdatoff in der vörgeaehenen_Konzentratian enthält .oder bestimmte elektrische Eigenschaften erhält. Die miteinander gemischten Dämpfe werden zum Beispiel _ auf einem Äuffängeede@rgescälagen, der ortend den, NiederschlaSextsL auf bestimmter Temperatur gehalten: und/oder in Rotation verisetzt Wird. - ' 'Der Einbau der Fremdstoffe erfolgt vorzugsweise im ffochvakuum. Für die zu verdampfenden Stoffe sind getrennte Verdampfer vorgesehen, die durch eine oder mehrere Blenden vorzugsweise abgeschirmt sind.Another known method for introducing foreign atoms into a semiconductor is that the foreign atoms are brought into the semiconductor by diffusion. The known methods have the disadvantage that the achieved by installing it in the semiconductor odet isolator suitable concentrations for some applications are big enough. Larger concentrations can be against achieve if according to the invention as well as the semiconductor or insulator as, also the foreign matter to be built into. the transferred to the vapor state, the vapor of the semiconductor or isolator and the vapor of the external strength to be installed mixed together and the vapors mixed together be condensed. - The method according to the invention is preferably suitable for doping semiconductors. The vapor of the semiconductor or isolator and the Dajopf of the foreign- substances are used to achieve a certain concentration tion deratt mixed together that the condensed Shift'dei. lfeemdatoff in the vorgeaehenen_Konzentratian contains. or has certain electrical properties. The mixed vapors are, for example, _ on a Äuffängerede @ rgescälagen, which locates the, PrecipitationSextsL kept at a certain temperature: and / or is set in rotation. - ' The incorporation of foreign matter is preferably carried out in a vacuum. Separate evaporators are provided for the substances to be evaporated, which are preferably shielded by one or more screens.

Das erfindungsgemäße Verfahren eignet sich beispielsweise zum Einbauen von Bor oder Wismut in Germanium oder Silizium. Das erfindungsgemäße Verfahren kann natürlich auch bei anderen Halbleitermaterialienwie zum Beispiel bei dän III/V- oder II/Vi-Verbindungen Anwendung finden, indem beispielsweise Zink oder Cadmium in III/V-Verbindungen oder Kupfer oder Silber in II/VI-Verbindungen eingebaut werden. Für den Einbau in Quarz eignen sich beispielsweise Platin oder Indium, während in Aluminiumoxyd (A1203) zum Beispiel Chrom eingebaut werden kann. Die Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens ist natürlich nicht auf die o.g. Stoffe beschränkt, sondern kann ebenso bei anderen Halbleitern oder Isolatoren und Fremdstoffen Anwendung finden.The method according to the invention is suitable , for example, for incorporating boron or bismuth in germanium or silicon. The method according to the invention can of course also be used with other semiconductor materials such as, for example, Danish III / V or II / Vi compounds, by incorporating, for example, zinc or cadmium in III / V compounds or copper or silver in II / VI compounds. Platinum or indium, for example, are suitable for installation in quartz, while chromium, for example, can be installed in aluminum oxide (A1203). The use of the method according to the invention is of course not restricted to the above-mentioned substances, but can also be used with other semiconductors or insulators and foreign substances.

Die Erfindung soll an einem Ausführungsbeispiel in Verbindung mit der Figur näher erläutert werdet. Zum Einbau der Fremdstoffe in einen Grundkörper wird gemäß der Figur beispielsweise ein Rezipient '! verwendet, in dem vor dem Einbau der Fremdstoffe ein Hochvakuum erzeugt ti.rd.. Das Ausführungsbeispiel befaßt sich mit dem Einbau von Chrom in Aluminiumoxyd (A1203). Zu diesem Zweck werden aus den zwei getrennten Verdampfern 2 und 3 Chrom und A1203 gleichzeitig im Hochvakuum verdampft, und -die Dampfstrahlen so gemisoht, daß sich auf einem Auffänger 4, der zum Beispiel auf eine bestimmte Temperatur hochgeheizt wird, eine kondensierte Al 203-Schicht 5 niederschlägt, die Chrom in der gewünschten Konzentration enthält.* Die Mischung der beiden von den Verdampfern ausgehenden Dampfstrahlen kann durch die Blende 6 gesteuert. werden. Diese Steuerung ist nötig, um eine vorgegebene Konzentration von Fremdstoffen im Grundkörper 5 zu :yrreichen.The invention is intended to be based on an exemplary embodiment in conjunction with the figure will be explained in more detail. To incorporate the foreign matter in a base body becomes, for example, a recipient according to the figure! used, in which, before the foreign matter is installed, a high vacuum is generated ti.rd .. The exemplary embodiment deals with the incorporation of chromium in aluminum oxide (A1203). Be for this purpose from the two separate evaporators 2 and 3 chromium and A1203 at the same time in a high vacuum evaporated, and -the steam jets mixed so that on a catcher 4, the for example, a condensed Al is heated up to a certain temperature 203 layer 5 is deposited, which contains chromium in the desired concentration. * The mixture of the two steam jets emanating from the evaporators can pass through the diaphragm 6 controlled. will. This control is necessary to achieve a given concentration of foreign matter in the base body 5 to: yrrich.

Claims (2)

P a::t e n t a a s p r ü c h e 1) Verfahren zum Einbauen von Fremdstoffen in einen Halbleiter oder Isolator, dadurch gekennzeichnet, daß sowohl der Halbleiter oder Ismlator als auch der einzubauende Fremdstoff in den dampfförmigen Zustand überführt werden, daß der Dampf des Halbleiters oder Isolators und der Dampf des einzubauenden Fremdstoffes miteinander gemischt werden, und daB die miteinander gemischten Dämpfe kondensiert werden. P a :: tentaasprü che 1 ) A method for installing foreign matter in a semiconductor or insulator, characterized in that both the semiconductor or insulator and the foreign matter to be incorporated are converted into the vaporous state, that the vapor of the semiconductor or insulator and the Vapors of the foreign matter to be incorporated are mixed with one another, and that the vapors mixed with one another are condensed. 2) Anwendung des Verfahrens nach Anspruch 1 zum Dotieren von Halbleitern, 3) Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekenn- zeichnet, edaß der Dampf des Halbleiters oder Isolators und der Dampf des einzubauenden Fremdstoffes derart miteinander gemischt werden, daß die kondensierte Schicht den Fremdstoff -in der vorgesehenen Konzentration enthält. 4) Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche v P da urc eennzeic,o t y daß der Dampf des Nalbleiters Ader Isolators und der Dampf den einzubauenden Fremd- fitöffew derart miteinander gemischt werden, daß die konden- siehe Schicht bestimmte elektrische Eigenschaften erhält., 5) Verfahren nach einem der vorhergehenden .Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die miteinander gemisch- ten Dämpfe auf einem Auffänger niedergeschlagen werden. 6) Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Auffänger wäiwqd des Niederschlagens rotiert. 7) Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurc.,_geke=zeichnet,, daß der Auffänger geheizt wird. 6) Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch ,Sekennzeichr.t, daß der Auffänger gekühlt wird. . Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Einbau der Fremdstoffe msm r @rr_ r@W im Hochvakuum erfolgt, ro) Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, .@aLrch"Bekennz ic ,@hn. e#,. daß für die zu verdampfenden Stoffe getrennte Verdampfer vorSesehen sind.
11) Verfahret. nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da#,.inekennz.eichnnet, daß die Verdampfer durch eine öder mehrere Blenden abgeschirmt sind. 12) Anwendung des Verfahrens nach einem der vorher- Sehenden Ansprüche zum Einbauen von Bor in Germanium öder Silizium. 13) Anwendung des Verfahrens nach einem-der vorherge- henden Ansprüche zum Einbauen vor. Wismut in Germanium oder Silizium, 14) Anwendung des Verfahrensc nag - :-ai rem Ier orhergeher.-- d en Ansprüche zum Einbauen -- 7tDr. *' --ak --oder Jadi um in II-V- Verbindungen.
y Anwendung des 'terfah: enld`,.@v.9. r'.i.avm ler vorherGe- henden Ansprüche -.um.aba,;@@en -@°on Mapf er oder Silber i n II-VI= derbindungen. °'W6) Anwendung deserfa.::.=.saach einem der.@oräa.:?@@ den Ansprüche zum Einbau(">r. or. 2l atin oder ind:tum. °n@..arz. 17) Anwendung des Verfahrens mach einem der Ansprüche 1 -. 1't zum Einbauen von Chrom in kluminummxyd (Al 203)0
2) application of the method according to claim 1 for the doping of semiconductors, 3) Method according to claim 1 or 2, characterized characterized marked, Edass the vapor of the semiconductor or insulator and the vapor of the incorporated impurity are so mixed together that the condensed layer the Contains foreign matter in the intended concentration. 4) Method according to one of the preceding claims v P da urc eennzeic, o ty that the vapor of the semiconductor The insulator and the steam to install the foreign fitöffew are mixed together in such a way that the condensate see layer receives certain electrical properties., 5) Method according to one of the preceding claims. characterized in that the mixed th vapors are deposited on a catcher. 6) Method according to claim 5, characterized in that that the catcher wäi wq d of depositing rotates. 7) Method according to one of the preceding claims, dadurc., _ geke = indicates , that the collector is heated. 6) Method according to one of the preceding claims, by virtue of the fact that the collector is cooled. . Method according to one of the preceding claims, characterized in that the incorporation of the foreign matter msm r @rr_ r @ W takes place in a high vacuum, ro) Method according to one of the preceding claims, . @ aLrch "Bekennz ic, @ hn. e #,. that for the to be evaporated Separate vaporizers are provided for.
11) Moved. according to one of the preceding claims, da # ,. inekennz.eichn n et that the evaporator is through a or several panels are shielded. 12) Application of the procedure according to one of the previous Seeping claims for incorporating boron into germanium dreary silicon. 13) Application of the procedure according to one of the previous existing claims for installation. Bismuth in germanium or silicon, 14) Application of the procedure c nag -: -ai rem Ier vorhergeher .-- The requirements for installation - 7tDr. * '--ak --or Jadi um in II-V connections.
y Use of the 'terfah: en ld`,. @ v.9. r'.i.avm ler previously pending claims -.um.aba,; @@ en - @ ° on Mapf er or silver in II-VI = ties. ° 'W6) Application deserfa.::.=.saach one of the. @ Oräa.:? @@ the requirements for installation ("> r. or. 2l atin or ind: tum. ° n @ .. arz. 17) Application of the method made one of the claims 1 -. 1't for installing chrome in kluminummxyd (Al 20 3) 0
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3216387A1 (en) * 1982-05-03 1983-11-03 Vereinigte Glaswerke Gmbh, 5100 Aachen METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING AN ABSORBER LAYER ON A BASE, IN PARTICULAR FOR SOLAR COLLECTORS

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3216387A1 (en) * 1982-05-03 1983-11-03 Vereinigte Glaswerke Gmbh, 5100 Aachen METHOD AND DEVICE FOR PRODUCING AN ABSORBER LAYER ON A BASE, IN PARTICULAR FOR SOLAR COLLECTORS

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