DE1514406B1 - SEMI-CONDUCTOR ARRANGEMENT - Google Patents

SEMI-CONDUCTOR ARRANGEMENT

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DE1514406B1 DE19651514406 DE1514406A DE1514406B1 DE 1514406 B1 DE1514406 B1 DE 1514406B1 DE 19651514406 DE19651514406 DE 19651514406 DE 1514406 A DE1514406 A DE 1514406A DE 1514406 B1 DE1514406 B1 DE 1514406B1
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Description

Der große Aufwand, den das Parallelschalten von zu erwarten wäre — die entscheidenden Kriterien Stromtoren und auch Gleichrichtern erfordert, hat des der Erfindung zugrunde liegenden Problems darden Wusch nach Halbleiteranordnungen mit höheren stellen. Es wurde nämlich gefunden, daß es für die Nennstromstärken, also größeren Elektrodenflächen, vorliegende Problemstellung nicht ausreichend ist, zur Folge. Bei der Entwicklung von solchen Halb- 5 etwa entsprechend der Lehre der deutschen Auslegeleiteranordnungen bereitet die Abfuhr der Verlust- schrift 1 026 434 den Wärmeableitkörper im Verwärme Schwierigkeiten, während sich die elektrischen gleich zum Halbleiterelement relativ groß auszubilden Qualitäten nicht wesentlich verschlechtern und auch und dabei auf die bekannte Wasserkühlung überder äußere Aufbau technologisch keine grundsätz- zugehen. Eine Vergrößerung des Wärmeableitkörpers liehen Schwierigkeiten bereitet. Die Verlustwärme io bringt nämlich auch eine Erhöhung der thermischen muß über einen Wärmewiderstand abgeführt werden, Zeitkonstante des Wärmeableitkörpers mit sich. Dies der sich zusammensetzt aus dem Wärmewiderstand bedeutet, daß der Wärmeableitkörper auch bei forder Kühlvorrichtung, bestehend aus Wärmeableit- cierter Fremdkühlung zu träge ist, um Überlastungskörper und Kühlmittel, und dem des Halbleiter- stoße aufzufangen, d. h. um die erhöhte Wärmeelementes, das aus dem Halbleiterkörper mit den 15 energie unmittelbar von dem Halbleiterelement abElektroden und den gegebenenfalls vorhandenen An- leiten zu können. Dies ist auch bei der Anordnung schlußkörpern besteht. Das zur Wärmeabfuhr er- nach der schweizerischen Patentschrift 347 578 der forderliche Temperaturgefälle ist begrenzt und durch Fall, die ebenfalls einen Kühlkörper mit wesentlich die höchstzulässige Temperatur des Halbleiter- größeren Abmessungen als das Halbleiterelement materials und die Temperatur des Kühlmittels ge- ao zum Gegenstand hat.The great effort that would be expected to be connected in parallel - the decisive criteria Requires current gates and also rectifiers, has the problem underlying the invention darden Wished for semiconductor arrangements with higher positions. It was found that for the Nominal currents, i.e. larger electrode areas, the problem at hand is not sufficient, result. In the development of such half-5 approximately in accordance with the teaching of the German extension ladder orders The dissipation of the leaflet 1 026 434 prepares the heat sink in the warming up Difficulties, while the electrical form equal to the semiconductor element relatively large Qualities do not deteriorate significantly and also and thereby on the well-known water cooling above external structure technologically not fundamentally approachable. An enlargement of the heat sink borrowed difficulties. The heat loss io also brings an increase in the thermal must be dissipated via a thermal resistor, time constant of the heat sink with it. this which is composed of the thermal resistance means that the heat dissipation body is too sluggish, even with the cooling device consisting of heat dissipated external cooling, to absorb the overload body and coolant and that of the semiconductor impact, i.e. H. around the increased heat element, that from the semiconductor body with the 15 energy directly from the semiconductor element from electrodes and to be able to use the instructions that may be available. This is also the case with the arrangement closing bodies consists. The heat dissipation is based on Swiss Patent 347 578 of the Required temperature gradient is limited and by case, which also has a heat sink with essential the maximum allowable temperature of the semiconductor- larger dimensions than the semiconductor element material and the temperature of the coolant.

geben. Um den Durchlaßstrom proportional zur Die Erfindung betrifft eine Halbleiteranordnunggive. The invention relates to a semiconductor device

Elektrodenfläche steigern zu können, müßte die mit einem scheibenförmigen Halbleiterkörper, an Summe der Wärmewiderstände umgekehrt propor- dessen Flachseiten je ein flüssigkeitsgekühlter Wärmetional der Flächengröße abnehmen. Der Wärme- ableitkörper angeordnet ist. Die Erfindung ist dawiderstand des Wärmeableitkörpers könnte zwar 25 durch gekennzeichnet, daß bei einer wirksamen durch Vergrößern der Kühlfläche oder durch forcierte Elektrodenfläche größer als 4 cm2 der mit Anschluß-Kühlung fast beliebig verkleinert werden. Aus Grün- körpern versehene Halbleiterkörper in einem an sich den der Überlastbarkeit der Halbleiteranordnung ist bekannten Gehäuse mit den Halbleiterkörper überes aber ferner günstig, ein Verhältnis der beiden deckenden Stirnwänden angeordnet ist, wobei die Wärmewiderstände von 1:1 einzuhalten. Man er- 30 Stirnwände des Gehäuses unmittelbar einerseits mit reicht also ein Optimum, wenn es durch konstruktive den Anschlußkörpern und andererseits mit den Maßnahmen gelingt, beide Wärmewiderstände in Wärmeableitkörpern in Berührung stehen und die gleichem Maße zu erniedrigen. Auflagefläche der Wärmeableitkörper etwa gleich derIn order to be able to increase the electrode area, the flat sides with a disk-shaped semiconductor body, inversely proportional to the sum of the thermal resistances, would have to decrease a liquid-cooled heat percentage of the area size. The heat dissipating body is arranged. The invention is because the resistance of the heat sink could be characterized by the fact that in the case of an effective, by enlarging the cooling surface or by forcing the electrode surface larger than 4 cm 2, the area with connection cooling can be almost arbitrarily reduced. Semiconductor bodies provided from green bodies in a housing known per se for overloadability of the semiconductor arrangement with the semiconductor body over it is, however, also advantageous if a ratio of the two covering end walls is arranged, the thermal resistances of 1: 1 being maintained. One obtains the end walls of the housing directly on the one hand, so an optimum is sufficient if the construction of the connecting bodies and, on the other hand, the measures make it possible for both thermal resistances in heat dissipation bodies to be in contact and to reduce the same extent. Contact surface of the heat sink approximately equal to the

Es sind Halbleiteranordnungen, beispielsweise Scheibenfläche des Halbleiterkörpers ist.
Siliziumgleichrichter und Siliziumstromtore bekannt, 35 Die Erfindung wird an Hand einiger Ausbei denen ein scheibenförmiges Halbleiterelement in führungsbeispiele in Verbindung mit den Figuren ein flaches, symmetrisch gebautes Gehäuse ein- näher erläutert. Fig. 1 zeigt einen Schnitt durch geschlossen ist. An jeder Stirnseite des Gehäuses ist eine ein Stromtor darstellende Halbleiteranordnung, ein Wärmeableitkörper angebracht, der aus einem wie sie in den Ansprüchen gekennzeichnet ist. Der den elektrischen Strom und Wärme gut leitenden 40 scheibenförmige Halbleiterkörper 2 von z. B. 3,3 cm Metall, beispielsweise Kupfer, besteht. In dieser An- Durchmesser liegt zwischen den zwei Anschlußordnung wird die Verlustwärme gleichmäßig nach körpern 3 aus einem Metall, z. B. Molybdän, das etwa beiden Seiten abgeführt und damit der Wärme- denselben Ausdehnungskoeffizienten wie das Halbwiderstand des Halbleiterelementes halbiert (vgl. leitermaterial besitzt. Die Folien 4 aus duktilem gut Siemens Zeitschrift 1963, Heft 4, Seite 299), Die 45 leitendem Metall sind an den Stirnseiten des Keramik-Wärmeableitkörper dieser Halbleiteranordnung sind ringes 5 angelötet und bilden die Stirnwände des Geplattenförmig ausgeführt und weisen einen Durch- häuses für das Halbleiterelement. Die Stirnwände messer auf, der wesentlich größer ist als der des Halb- können auch aus einem plattenartigen Mittelteil und leiterelemenies. Bei dieser Anordnung ist man also einem Randteil bestehen, der den Mittelteil mit dem davon ausgegangen, die Belastbarkeit dadurch zu er- 50 Keramikring federnd verbindet. An den Stirnseiten höhen, daß man den Wärmewiderstand des Kühl- sind Wärmeableitkörper 6 aus einem gut leitenden körpers möglichst klein macht. Metall, beispielsweise Kupfer, angebracht, die über
There are semiconductor arrangements, for example the wafer surface of the semiconductor body.
Silicon rectifiers and silicon current gates are known, 35 The invention is explained in more detail on the basis of some examples in which a disk-shaped semiconductor element is illustrated in connection with the figures and a flat, symmetrically constructed housing. Fig. 1 shows a section through is closed. At each end face of the housing a semiconductor arrangement representing a current gate, a heat dissipating body is attached, which is characterized by one as it is characterized in the claims. The 40 disk-shaped semiconductor body 2 of z. B. 3.3 cm metal, such as copper. In this to diameter is between the two connection arrangement, the heat loss is evenly after bodies 3 made of a metal, z. B. molybdenum, which is dissipated about both sides and thus halves the thermal expansion coefficient as the half resistance of the semiconductor element (see. Conductor material. The foils 4 from ductile good Siemens magazine 1963, issue 4, page 299), which are 45 conductive metal rings 5 are soldered to the end faces of the ceramic heat sink of this semiconductor arrangement and form the end walls of the plate-shaped design and have a through-housing for the semiconductor element. The end walls knife, which is much larger than that of the half-can also consist of a plate-like middle part and ladder elements. With this arrangement, there is an edge part that connects the middle part with the assumed resilient connection to the load-bearing capacity. At the end faces, that you make the heat resistance of the cooling heat dissipation body 6 from a highly conductive body as small as possible. Metal, such as copper, attached over the

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei die Stutzen 7 und, mit der Zeichenebene als Spiegeleiner Halbleiteranordnung den Wärmewiderstand der ebene, zu diesen spiegelbildlich angeordneten Kühlvorrichtung durch Flüssigkeitskühlung so zu er- 55 Stutzen an ein geschlossenes Kühlsystem angeschlosniedrigen, daß die Halbleiteranordnung an Überlast- sen sind. Um eine günstige Kühlmittelströmung in barkeit nichts einbüßt. Nur nach Lösung dieser Auf- dem Wärmeableitkörper zu erreichen, können die gäbe erweist es sich als zweckmäßig, größere wirk- Stutzenöffnungen durch eine Wand getrennt werden, same Elektrodenflächen zu verwenden. Auf diese die von dem Mantel bis zur Achse des zylindrischen Weise können z. B. in einem Halbleiterelement mit 60 Hohlraumes reicht. Die Stutzen können auch diaeiner wirksamen Elektrodenfläche von 6 cm'- zu- metral angeordnet sein. Das Kühlmittel, beispielslässige Stromdichten erreicht werden, die in bisher weise Öl oder destilliertes Wasser, kann von einer gebräuchlichen Anordnungen nur bis zu einer Pumpe angetrieben und mit Öl, Wasser oder Luft Flächengröße von 1,5 cm2 zulässig waren. rückgekühlt werden. Ein in axialer Richtung auf dasThe invention is based on the object of connecting the nozzle 7 and, with the plane of the drawing as a mirror of a semiconductor arrangement, the thermal resistance of the planar cooling device, which is arranged in mirror image to this, to a closed cooling system so that the semiconductor arrangement is overloaded are. There is no loss of a favorable coolant flow. Only after the dissipation of this on the heat dissipating body can it prove to be expedient to separate larger effective nozzle openings by a wall and to use the same electrode surfaces. In this the from the jacket to the axis of the cylindrical way can, for. B. in a semiconductor element with 60 cavity is enough. The nozzles can also be arranged around an effective electrode area of 6 cm 'to metrical. The coolant, for example current densities that were previously achieved in oil or distilled water, can only be driven by a conventional arrangement up to a pump and with oil, water or air area sizes of 1.5 cm 2 were permissible. be re-cooled. One in the axial direction on the

Die Erfindung geht von der neuen und für den 65 Halbleiterelement wirkender Druck, der in einem Fachmann überraschenden Erkenntnis aus, daß die Spannrahmen — in der Figur nicht dargestellt — erGröße des Wärmeableitkörpers und die Verwendung zeugt werden kann, ergibt gute elektrische und der Flüssigkeitskühlung allein nicht — wie an sich thermische Kontakte.The invention is based on the new and for the semiconductor element acting pressure, which in one A person skilled in the art surprisingly realized that the tenter frames - not shown in the figure - he size of the heat sink and the use can be made, gives good electrical and not the liquid cooling alone - as thermal contacts per se.

Wie in der Fig. 2 veranschaulicht ist, können Halbleiteranordnungen, wie sie in den Ansprüchen gekennzeichnet sind, zu Stapelsystem zusammengebaut werden. Dagegen ist das Stapeln von luftgekühlten Halbleiteranordnungen gleicher Nennströme wegen den zu großen Wärmeableitkörpern nicht möglich. Nach F i g. 2 sind sechs in Gehäuse eingeschlossene Halbleiterelemente 32 bis 37 und Wärmeableitkörper 8 bis 14 nach dem Schema der F i g. 2 a zu einer dreiphasigen Gleichrichterbrückenschaltung zusammengebaut. Die im Innern des Stapels befindlichen Wärmeableitkörper 9 bis 13 sind mit doppelt so großer Kühlleistung wie die Wärmeableitkörper 8 und 14 an den Enden des Stapels ausgeführt. Um den schädlichen elektrischen Neben-Schluß zu den Halbleiterelementen, der bei großer Potentialdifferenz zwischen den Wärmeableitkörpern durch das Kühlmittel und dessen Leitungen verursacht wird, zu vermeiden, muß gegebenenfalls anstatt eines gemeinsamen Kühlsystems mit geschlossenem Umlauf für jeden Wärmeableitkörper ein eigenes geschlossenes Kühlsystem vorgesehen werden. Die Anschlußfahnen für die elektrischen Zuleitungen können an die Wärmeableitkörper angelötet werden. Die Stirnwände der Gehäuse können sowohl nach innen mit den Anschlußkörpern als auch nach außen mit den Wärmeableitkörpern über lotfreie Druckkontakte verbunden sein. Für sämtliche Druckkontakte des gesamten Stapels ist ein gemeinsames Druckerzeugungsmittel, beispielsweise ein Spannrahmen 15 mit den Druckplatten 16, 17 und 18 und Kraftspeichern, z. B. Federplatten 19 und 20, vorgesehen. Zwischen den Druckplatten 16 und 17 ist ein linsenförmiger Druckkörper 21 angebracht, um über den ganzen Querschnitt des Stapels einen gleichmäßigen Druck zu erzeugen. Der Spannrahmen ist durch die Scheiben 22 und 23 gegen den Stapel isoliert.As illustrated in FIG. 2, can Semiconductor arrangements as characterized in the claims, assembled to form a stack system will. In contrast, the stacking of air-cooled semiconductor arrangements with the same nominal currents not possible because of the excessively large heat sink. According to FIG. 2 are six in housing Enclosed semiconductor elements 32 to 37 and heat dissipation bodies 8 to 14 according to the scheme of F i g. 2 a assembled into a three-phase rectifier bridge circuit. The inside of the Stack located heat sink 9 to 13 have twice as much cooling capacity as the heat sink 8 and 14 carried out at the ends of the stack. To the harmful electrical bypass to the semiconductor elements, which occurs when there is a large potential difference between the heat dissipators caused by the coolant and its lines, must be avoided if necessary instead a common closed circuit cooling system for each heat sink its own closed cooling system can be provided. The connection lugs for the electrical supply lines can be soldered to the heat sink. The end walls of the housing can both inwards with the connection bodies and outwards with the heat dissipators via solder-free Pressure contacts be connected. There is a common one for all pressure contacts of the entire stack Pressure generating means, for example a clamping frame 15 with the pressure plates 16, 17 and 18 and energy stores, e.g. B. spring plates 19 and 20 are provided. Between the pressure plates 16 and 17 a lenticular pressure body 21 is attached to a uniform over the entire cross-section of the stack To generate pressure. The clamping frame is against the stack by the discs 22 and 23 isolated.

Claims (8)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Halbleiteranordnung mit einem scheibenförmigen Halbleiterkörper, an dessen Flachseiten je ein flüssigkeitsgekühlter Wärmeableitkörper angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer wirksamen Elektrodenfläche größer als 4 cm2 der mit Anschlußkörpern (3) versehene Halbleiterkörper (2) in einem an sich bekannten Gehäuse (4, 5) mit den Halbleiterkörper1. Semiconductor arrangement with a disk-shaped semiconductor body, on each of the flat sides of which a liquid-cooled heat sink is arranged, characterized in that, with an effective electrode area greater than 4 cm 2, the semiconductor body (2) provided with connecting bodies (3) in a housing (4) known per se , 5) with the semiconductor body (2) überdeckenden Stirnwänden (4) angeordnet ist, wobei die Stirnwände (4) des Gehäuses (4, 5) unmittelbar einerseits mit den Anschlußkörpern(2) overlapping end walls (4) is arranged, wherein the end walls (4) of the housing (4, 5) directly on the one hand with the connecting bodies (3) und andererseits mit den Wärmeableitkörpern (6) in Berührung stehen und die Auflagefläche der Wärmeableitkörper (6) etwa gleich der Scheibenfläche des Halbleiterkörpers (2) ist.(3) and on the other hand are in contact with the heat dissipators (6) and the support surface the heat dissipation body (6) is approximately equal to the disk area of the semiconductor body (2). 2. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlußkörper (3) mit den Stirnwänden (4) des Gehäuses (4, 5) über einen lotfreien Druckkontakt verbunden sind.2. Semiconductor arrangement according to claim 1, characterized in that the connection body (3) connected to the end walls (4) of the housing (4, 5) via a solder-free pressure contact are. 3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Stirnwand (4) des Gehäuses (4, 5) und dem flüssigkeitsgekühlten Wärmeableitkörper (6) eine Verbindung durch Druckkontakt besteht.3. Semiconductor arrangement according to claim 1, characterized in that between the end wall (4) of the housing (4, 5) and the liquid-cooled heat sink (6) a connection exists through pressure contact. 4. Halbleiteranordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Stirnwände (4) des Gehäuses (4, 5) sowohl nach innen mit den Anschlußkörpern (3) als auch nach außen mit den flüssigkeitsgekühlten Wärmeableitkörpern (6) durch lotfreie Druckkontakte verbunden sind und sämtliche Druckkontaktverbindungen unter dem Druck eines gemeinsamen Druckerzeugungsmittels (15) stehen.4. Semiconductor arrangement according to claim 2, characterized in that the end walls (4) of the Housing (4, 5) both to the inside with the connecting bodies (3) and to the outside with the liquid-cooled heat dissipators (6) are connected by solder-free pressure contacts and all pressure contact connections under the pressure of a common pressure generating means (15) stand. 5. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere in Gehäuse eingeschlossene Halbleiterelemente (32 bis 37) mit beiderseits des Gehäuses angeordneten, mit Flüssigkeit gekühlten Wärmeableitkörpern (8 bis 14) zu einem Stapel aufgereiht sind.5. Semiconductor arrangement according to claim 1, characterized in that several in the housing enclosed semiconductor elements (32 to 37) with arranged on both sides of the housing, with Liquid-cooled heat dissipators (8 to 14) are lined up in a stack. 6. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere in Gehäuse eingeschlossene Halbleiterelemente (32 bis 37) und Wärmeableitkörper (8 bis 14) in abwechselnder Reihenfolge zu einem Stapel aufgereiht sind und daß die im Inneren des Stapels befindlichen Wärmeableitkörper (9 bis 13) mit doppelt so großer Kühlleistung wie die Wärmeableitkörper (8, 14) an den Enden des Stapels ausgeführt sind.6. Semiconductor arrangement according to claim 1, characterized in that several in the housing enclosed semiconductor elements (32 to 37) and heat sinks (8 to 14) in alternation Order are lined up in a stack and that the inside of the stack Heat sink (9 to 13) with twice the cooling capacity as the heat sink (8, 14) are carried out at the ends of the stack. 7. Halbleiteranordnung nach den Ansprüchen 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß für sämtliche Druckkontakte des gesamten Stapels ein gemeinsames Druckerzeugungsmittel vorgesehen ist.7. Semiconductor arrangement according to claims 5 or 6, characterized in that for a common pressure generating means is provided for all pressure contacts of the entire stack is. 8. Halbleiteranordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper (2) aus Silizium besteht.8. Semiconductor arrangement according to one of claims 1 to 7, characterized in that the Semiconductor body (2) consists of silicon. Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings ■rr-v■ rr-v
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