DE1448552B2 - Optische messvorrichtung zur messung der veraenderungen des optischen weges zwischen einem bezugskanal und einem mess kanal - Google Patents

Optische messvorrichtung zur messung der veraenderungen des optischen weges zwischen einem bezugskanal und einem mess kanal

Info

Publication number
DE1448552B2
DE1448552B2 DE19641448552 DE1448552A DE1448552B2 DE 1448552 B2 DE1448552 B2 DE 1448552B2 DE 19641448552 DE19641448552 DE 19641448552 DE 1448552 A DE1448552 A DE 1448552A DE 1448552 B2 DE1448552 B2 DE 1448552B2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
optical
measuring
mirror
channel
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19641448552
Other languages
English (en)
Other versions
DE1448552A1 (de
Inventor
Guy Pans Mayer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Thales SA
Original Assignee
CSF Compagnie Generale de Telegraphie sans Fil SA
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CSF Compagnie Generale de Telegraphie sans Fil SA filed Critical CSF Compagnie Generale de Telegraphie sans Fil SA
Publication of DE1448552A1 publication Critical patent/DE1448552A1/de
Publication of DE1448552B2 publication Critical patent/DE1448552B2/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S3/00Lasers, i.e. devices using stimulated emission of electromagnetic radiation in the infrared, visible or ultraviolet wave range
    • H01S3/0007Applications not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2/00Demodulating light; Transferring the modulation of modulated light; Frequency-changing of light
    • G02F2/002Demodulating light; Transferring the modulation of modulated light; Frequency-changing of light using optical mixing

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Lasers (AREA)

Description

der Analysator derart ausgebildet, daß dieser die Polarisationsvektoren um +45° und —45' verdreht.
Die Erfindung ist im folgenden unter Bezugnahme auf die Figuren der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
F i g. 1 eine schematische Darstellung einer bekannten optischen Meßvorrichtung der eingangs genannten Art;
F i g. 2 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen optischen Meßvorrichtung.
Die in F i g. 1 dargestellte optische Meßvorrichtimg weist zwei optische Verstärker mit selektiver Fluoreszenz ax und a>, auf. die die gleiche Anregungsquelle haben. Diese beiden optischen Verstärker sind nebeneinander und parallel zueinander angeordnet.
Der optische Verstärker mit selektiver Fluoreszenz O1 weist zwei halbtransparente Spiegel /H1 und Wi1' auf und der optische Verstärker mit crlektiver Fluoreszenz α., die beiden Spiegel Wi2 und Wi2'. Die beiden fest angeordneten Spiegel Wi1 und Ht1' bilden einen optischen Bezugskanal. Mittels eines Spiegels Af und eines halbversilberten Blättchens L werden die Wellensysteme der beiden optischen Verstärker mit selektiver Fluoreszenz vor dem Auftreffen auf die photoelektrische Zelle C parallel gemacht.
Jede Veränderung ΛI des Abstandes der Spiegel Wi2 und W2' erzeugt eine Veränderung bf der Frequenz des optischen Verstärkers mit selektiver Fluoreszenz, und demzufolge tritt am Ausgang der PhotozelL C eine Frequenzschwebungi/ auf.
Es ist bekannt, daß ein optischer Verstärker mit selektiver Fluoreszenz aus einem Verstärkungsmedium des Lichtes besteht, welches einem Resonanzraum zugeordnet ist, der zwei Spiegel aufweist, zwischen denen das selektiv fluoreszierende Material angeordnet ist. Das Verstärkungsmedium kann ein Gas sein, welches durch eine elektrische Entladung angeregt ist. Es wird das Licht verstärkt, dessen Frequenz einmal von der selektiv fluoreszierenden Substanz abhängt und von der Art der Entladung. Das Frequenzband J / hat die Größenordnung von / = 3 ■ 10" Hz. Solange die Verstärkung beim Durchgang des Lichtes im Verstärkungsmedium die DiffraktionsVerluste oder die Retlexionsverluste an den beiden Spiegeln kompensiert, kann die Vorrichtung als optischer Verstärker mit selektiver Fluoreszenz arbeiten, und zwar im Frequenzband f ± bf. Die genaue Schwingungsfrequenz wird durch die Form und durch die Abmessungen des optischen Raumes bestimmt, der seine Eigenresonanzzustände aufprägt.
Im Falle eines Hohlraumes, wie er in F i g. 1 gezeigt ist, entsprechen diese Eigenresonanzen derartigen Frequenzen, daß der Abstand / zwischen den beiden Spiegeln/η,, in,' einer fast ganzen Anzahl von Halbwellenlängen entspricht:
Daraus folgt, daß für den gleichen Hohlraum die Frequenzen der aufeinanderfolgenden Eigenresonanzen voneinander durch den Wert
2/
getrennt sind, wobei c die Lichtgeschwindigkeit ist, woraus sich für / =-. 50 cm, df = 300 MHz ergibt. Die Größe des Resotianzbandes des Hohlraumes liegt in der Größenordnung von Megahertz, wenn die beiden Spiegel ein großes Reflexionsvermögen haben. Diese große Schärfe oder Feinheit der Linien ermöglicht eine Messung der Veränderungen der Frequenz der emittierten optischen Welle mit einer großen Genauigkeit. Diese Frequenzänderungen sind mit den Änderungen des optischen Weges, der die beiden Spiegel trennt, durch die Beziehung
miteinander verbunden.
Eine Veränderung öl von 1 Angström in einem optischen Verstärker mit selektiver Fluoreszenz mit einer Länge von 50 cm erzeugt eine Frequenzänderung von
bf = 60.,Hz.
Eine Veränderung 61 des optischen Weges Wi2 in,' des zweiten optischen Verstärkers mit selektiver Fluoreszenz drückt sich in einer Veränderung!)/ der Frequenz des elektrischen Signals der Photozelle C aus.
Eine derartige Vorrichtung weist dennoch bestimmte Nachteile auf:
a) Die thermischen und mechanischen Schwankungen beeinflussen den optischen Bezugskanal AH1 Wi1' und den optischen Meßkanal Hi2 wi.,' in unterschiedlicher Weise, da diese Kanäle physikalisch verschieden sind;
b) die relative parallele Lage der Wellenflächen der beiden optischen Verstärker mit selektiver Fluoreszenz muß mit einer großen Genauigkeit eingestellt werden, da die Photozelle C mischt (in der Größenordnung von 5 · 10~5 Rad).
Die erfindungsgemäße optische Meßvorrichtung, die in F i g. 2 dargestellt ist, schaltet größtenteils den ersten Nachteil aus und den zweiten Nachteil vollständig.
Die in F i g. 2 dargestellte Vorrichtung weist einen einzigen optischen Verstärker mit selektiver Fluoreszenz α auf, der zwischen einem einzigen festen halbtransparenten Spiegel JV auf der einen Seite und zwischen zwei Spiegeln M1' und M2 auf der anderen Seite angeordnet ist.
Zwischen dem optischen Verstärker mit selektiver Fluoreszenz α und den Spiegeln M1' und M2' ist eine Strahlenteileinrichtung D angeordnet, welche zwei WeI-i«r... voneinander trennt, die unterschiedliche um 90° zueinander versetzt orientierte Polarisationen £," und E1 aufweisen. Die Strahlenteileinrichtung D richtet einen Wellenzug auf den Bezugsspiegel Af1' und den anderen auf den verschiebbaren Spiegel M2. Zwischen der Photozc'le C und dem Spiegel N ist. ein Analysator 4 angeordnet, der zu den beiden Polarisationsrichtungen E1 und E1 unter einem Winkel von 45° orientiert ist.
Die Betriebsweise dieser Vorrichtung ist die folgende: Die Strahlenteileinrichtung D trennt die Wellen
der gekreuzten Potorisationseinrichtungenj E1 und E1 und führt einen Wellenzug zum Bezugsspiegel AZ1', der fest steht, und den anderen Wellenzug zum Meßspiegel Af2', mit welchem man die Verschiebungen eines mit ihm verbundenen Gegenstandes messen kann.
Es werden auf diese Weise in der optischen Meßvorrichtung zwei stationäre Wellensysteme ausgebildet, die im Bereich N-D überlagert sind und die zwischen D und drn Spiegeln M1' und Af2' getrennt sind. Diese
Systeme stehender Wellen sind, was die Frequenz betrifft, voneinander unabhängig, da sich diese Systeme auf polarisierte Wellen beziehen, deren Polarisationsrichtungen senkrecht zueinander stehen. Es besteht keinerlei Kopplung zwischen den beiden Wellen des Systems.
Die Frequenz des ersten Systems hängt vom optischen Weg N-M1' ab und die des zweiten Systems vom optischen Weg N-M2'. Am Ausgang des Systems bei N haben die beiden Wege parallele Wellenflächen, da der Spiegel N im wesentlichen eine Wellenoberfläche für die beiden Systeme bildet.
Diese Wellen sind im wesentlichen senkrecht zueinander polarisiert und körnen in der Zelle C ein Schvvebungssignal erzeugen, wenn deren Polarisationen parallel gemacht sind, und es ist ein Analysator A vorgesehen, der die beiden Polarisationsvektoren unter 45° orientiert.
Der Strahlenteiler D kann irgendeine an sich bekannte optische Einrichtung sein.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
tV

Claims (6)

1 2 Bei einer bekannten Vorrichtung sind zwei optische Patentansprüche: Verstärker mit selektiver Fluoreszenz (Laser) parallel nebeneinander angeordnet, und diese beiden optischen
1. Optische Meßvorrichtung zur Messung der Verstärker sind der gleichen Anregungslichtquelle aus-Veränderungen des optischen Weges zwischen 5 gesetzt.
einem Bezugskanal und einem Meßkanal unter Der optische Bezugskanal und der Meßkanal sind Verwendung von optischen Verstärkern mit selek- hier physikalisch voneinander getrennt und thermische tiver Fluoreszenz, wobei im optischen Bezugskanal und mechanische Schwankungen beeinflussen diese zwischen zwei fest angeordneten Spiegeln ein erstes Kanäle unterschiedlich, so daß sich schädliche Meßstationäres Wellensystem und im optischen Meß- io abweichungen ergeben können. Weiterhin weist diese kanal zwischen einem festen Spiegel und einem bekannte Meßvorrichiung den Nachteil auf, daß vor anderen Spiegel ein zweites stationäres Wellen- dem Auftreffen auf die Meßvorrichtung, die die Fres"stem ausgebildet wird und wobei mit einer Meß- quenz der Schwebungen mißt, die relative parallele einrichtung die Frequenz der Schwebungen zwi- Lage der Lichtwellenfläche der beiden optischen Versehen den beiden einander überlagerten Wellen- 15 stärker mit großer Genauigkeit eingestellt werden muß. systemen gemessen wird, dadurch gekenn- Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, eine ze i eh η e t, daß ein einziger optischer Verstärker Meßvorrichtung der genannten Art zu schaffen, bei mit selektiver Fluoreszenz (a) zwischen einem der die beiden optischen Kanäle nicht durch thermische festen halbtransparenten Spiegel (N) und einer und mechanische Schwankungen unterschiedlich be-Strahlenteileinrichtung (D) angeordnet ist, welche 20 einflußt werden, sowie besondere Einrichtungen zur zwei Wellen, die unterschiedliche um 90= zuein- genauen Einstellung der Parallelität der Wellenflächen ander versetzt orientierte Polarisationen (E1, E1) der beiden Wellensysteme vor deren Überlagerung aufweisen, voneinander trennt und den einen nicht erforderlich sind.
Wellenzug auf den Bezugsspicgel (M1') und den Erfindungsgemäi/ wird dies dadurch erreicht, daß
anderen Wellenzug auf den Meßspiegel (M2) 25 ein einziger optischer Verstärker mit selektiver Fluores-
richtet, und daß zwischen dem festen Spiegel (N) zenz zwischen einem festen halbtransparenten Spiegel
und der Frequeiizmeßeinrichtung (C) ein Analy- und einer Strahlenteileinrichtung angeordnet ist, welche
sator (A) anf-ordnet ist, der die beiden Polari- zwei Wellen, die unterschiedliche um 90c zueinander
sationsvektoren (e[. £J) parallel macht. versetzt orientierte Polarisationen aufweisen, vonein-
2. Optische Meß.orrichtung nach Anspruch 1, 30 ander trennt und den einen Wellenzug auf den Bezugsdadurch gekennzeichnet, daß der Meßspiegel (M2) spiegel und den anderen Wellenzug auf den Meßein verschiebbarer Spiegel ist, dessen Verschiebung spiegel richtet, und daß zwischen dem festen Spiegel die Änderung des optischen Weges erzeugt. und der Frequenzmeßeinrichtung ein Analysator an-
3. Optische Meßvorrichtung nach Anspruch 1, geordnet ist, der die beiden Polarisationsvektoren dadurch gekennzeichnet, daß zur Veränderung des 35 parallel macht.
optischen Weges zwischen der Strahlenteilerein- Dadurch werden nicht nur die eingangs genannten
richtung (D) und dem Meßspiegel (M2') ein Licht- Mängel der bekannten Vorrichtung vermieden, sondern
brechungsblättchen eingesetzt ist. dessen Br°chungs- es ist auch eine sehr genaue Messung möglich, wobei
index von dem der Umgebung verschieden ist. die kleinste feststellbare Abweichung des optischen
4. Optische Meßvorrichtung nach Anspruch 3, 40 Weges in der Größenordnung von 10~I2cm liegt. Die dadurch gekennzeichnet, daß der Meßspiegel (M2) erfindungsgemäße Vorrichtung ist ferner nicht nur zur ein fester Spiegel ist. Verschiebungsmessung von bewegten Gegenständen
5. Optische Meßvorrichtung nach einem der An- geeignet, sondern ermöglicht auch die Messung des sprüche 1 bis 4. dadurch gekennzeichnet, daß die Brechungsindex einer !substanz, die zwischen der Meßeinrichtung zur Messung der Frequenz der 45 Strahlenteileinrichtung und dem Meßspiegel ange-Schwebungen eine photoelektrische Zelle (C) ist. ordnet ist.
6. Optische Meßvorrichtung nach einem der An- Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist der Meßsprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der sp'egel beweglich, und die Verschiebung dieses Meß-Analysator (A) derart ausgebildet ist, daß dieser spiegeis dient zur Veränderung des optischen Weges, die beiden Polarisationsvektoren (E1, Ej um *■) In einfacher Weise kann der Meßspiegel beispielsweise + 45" und —45° dreht. mit einem sich bewegenden Gegenstand verbunden
werden, und auf diese Weise können sehr genau die von dem Gegenstand zurückgelegten Wege gemessen
werden.
55 Bei einer anderen bevorzugten Ausführungsform der Erfindung ist in dem optischen Bezugskanal zur Ver-
Die Erfindung betrifft eine optische Meßvorrichtung änderung des optischen Weges ein Lichtbrechungszur Messung der Veränderungen des optischen Weges blättchen eingesetzt^ dessen Brechungsindex sich von zwischen einem Bezugskanal und einem Meßkanal dem der Umgebung unterscheidet. Dadurch kann die unter Verwendung von optischen Verstärkern mit 60 Vorrichtung auch zur Messung des Brechungsindex selektiver Fluoreszenz, wobei im optischen Bezugs- einer Substanz, die beispielsweise zwischen der Strahkanal zwischen zwei fest angeordneten Spiegeln ein lenteileinrichtung und dem Meßspiegel angeordnet ist, erstes stationäres Wellensystem und im optischen Meß- verwendet werden. In diesem Fall ist in vorteilhafter kanal zwischen einem festen Spiegel und einem anderen Weise der Meßspiegel ein fester Spiegel, Spiegel ein zweites stationäres Wellensystem ausgebil- 65 Bei einer bevorzugten AusfUhrungsform ist die Bindet wird und wobei mit einer Meßeinrichtung die Fre- richtung zur Messung der Frequenz der Schwebungen quenz der Schwebungen zwischen den beiden einander eine Photozelle, überlagerten Wellensystemen gemessen wird. Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist
DE19641448552 1963-05-10 1964-05-06 Optische messvorrichtung zur messung der veraenderungen des optischen weges zwischen einem bezugskanal und einem mess kanal Pending DE1448552B2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR934362A FR1366053A (fr) 1963-05-10 1963-05-10 Nouveau dispositif de mesure d'un chemin optique

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE1448552A1 DE1448552A1 (de) 1969-10-30
DE1448552B2 true DE1448552B2 (de) 1972-01-27

Family

ID=8803533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19641448552 Pending DE1448552B2 (de) 1963-05-10 1964-05-06 Optische messvorrichtung zur messung der veraenderungen des optischen weges zwischen einem bezugskanal und einem mess kanal

Country Status (5)

Country Link
US (1) US3462127A (de)
DE (1) DE1448552B2 (de)
FR (1) FR1366053A (de)
GB (1) GB1054976A (de)
NL (1) NL6405013A (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE68608T1 (de) * 1985-11-13 1991-11-15 Siemens Ag Optischer ueberlagerungsempfang.

Also Published As

Publication number Publication date
DE1448552A1 (de) 1969-10-30
GB1054976A (de)
NL6405013A (de) 1964-11-11
US3462127A (en) 1969-08-19
FR1366053A (fr) 1964-07-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69218386T2 (de) Optische Einrichtung und mit einer solchen optischen Einrichtung versehenes Gerät zum Abtasten einer Informationsebene
EP0168351B1 (de) Laser-Pattern-Generator und Verfahren zu dessen Betrieb
DE102013211024A1 (de) Laserbearbeitungsvorrichtung
DE2407042A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum messen des durchmessers, der unrundheit oder von schwingungen eines gegenstandes
DE2413423C2 (de) Verfahren zum Einschreiben in bzw. Auslesen aus einem beweglichen optischen Informationsträger und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
DE1572713B2 (de) Laser interferometer
DE1913399C3 (de) Anordnung zur kontinuierlichen Messung von Verschiebungen oder Verformungen mit Hilfe von Laserstrahlen
DE2306282C3 (de) Laser mit Q-Schaltung
DE102013222383A1 (de) Optische Positionsmesseinrichtung
DE102015218539B4 (de) Optische Positionsmesseinrichtung
DE3706347A1 (de) Laserinterferometer zur interferometrischen laengenmessung
WO2009138148A1 (de) Vorrichtung zurortsaufgelösten temperaturmessung
DE102011101415A1 (de) Optische Anordnung zur Laserinterferenzstrukturierung einer Probe mit Strahlführung gleicher Weglänge
DE2505774C3 (de) Justiervorrichtung für eine Laseranordnung aus einem Leistungslaser und einem Justierlaser
DE1448552B2 (de) Optische messvorrichtung zur messung der veraenderungen des optischen weges zwischen einem bezugskanal und einem mess kanal
DE2449502A1 (de) Geraet zum messen der rueckstrahlung eines probestueckes
DE4006618C2 (de) Vorrichtung zur Auskoppelung einer Meßstrahlung aus einem Laserstrahl
DE102020104386A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Messen der Topografie einer Seitenfläche einer Vertiefung
DE4016731C2 (de) Fourierspektrometer
EP1594020A1 (de) Verfahren zum Erzeugen eines offsetfreien optischen Frequenzkamms und Lasereinrichtung hierfür
DE19717203A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optischen Messung von Längen und Entfernungen
DE3522415A1 (de) Einrichtung zur messung der drehgeschwindigkeit
DE102010038571A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Strahlformung
DE3233483C2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Geschwindigkeitskomponenten mit Hilfe der relativen Laser-Doppler-Anemometrie
DE19926812A1 (de) Strahlungs-Meßvorrichtung