DE1145908B - Photoelectric light meter, especially for reproducing devices - Google Patents

Photoelectric light meter, especially for reproducing devices

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DE1145908B
DE1145908B DEE22374A DEE0022374A DE1145908B DE 1145908 B DE1145908 B DE 1145908B DE E22374 A DEE22374 A DE E22374A DE E0022374 A DEE0022374 A DE E0022374A DE 1145908 B DE1145908 B DE 1145908B
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photoresistor
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exposure meter
photoresistors
light
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Joseph Lee Byrd
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Eastman Kodak Co
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Eastman Kodak Co
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Description

Photoelektrischer Belichtungsmesser, insbesondere für Reproduziergeräte Die Erfindung betrifft einen phooelektrischen Belichtungsmesser, insbesondere einen Belichtungsmesser, der zur Einstellung der für eine einwandfreie Aufnahme benötigten Beleuchtungsstärke an einem Reproduziergerät dient.Photoelectric exposure meters, in particular for reproducing devices The invention relates to a photoelectric light meter, in particular one Exposure meter, which is used to set the required for a perfect picture Illuminance on a reproducing device is used.

Die bekannten Belichtungsmesser, die als Beleuchtungseinstellhilfe an manchen Reproduziergeräten, z. B. an einem Mikrofilmgerät, bisher vorgesehen waren, besitzen als lichtempfindliches Schaltelement eine Photozelle. Da Photozellen aber eine relativ geringe Lichtempfindlichkeit eigen ist, müssen diese Belichtungsmesser dicht über dem zu reproduzierenden, ausgeleuchteten Dokument angebracht werden, um überhaupt eine ablesbare- Helligkeitsanzeige zu erhalten. In dieser Stellung befindet sich der Belichtungsmesser aber im Blickfeld der Kamera, so daß er vor jeder Aufnahme wieder entfernt werden muß, um zu verhindern, daß er Teile des zu reproduzie renden Gegenstandes verdeckt. Dabei ist die Helligkeitsanzeige naturgemäß in starkem Maße abhängig von der Stellung des Belichtungsmessers gegenüber dem zu reproduzierenden Gegenstand es hängt also die fehlerfreie Bestimmung der Objekthelligkeit wesentlich von der Geschicklichkeit der Bedienungsperson ab. The well-known light meter, which is used as a lighting adjustment aid on some reproducing machines, e.g. B. on a microfilm device, previously provided have a photocell as a light-sensitive switching element. Since photocells but a relatively low sensitivity to light is inherent in these light meters be attached close to the illuminated document to be reproduced, to get a readable brightness display at all. In this position If the exposure meter is in the field of view of the camera, so that it is in front of every recording must be removed again to prevent parts of the too reproducing object covered. The brightness display is natural to a large extent dependent on the position of the exposure meter in relation to the to reproducing object it depends on the error-free determination of the object brightness depends significantly on the skill of the operator.

Die Erfindung geht daher davon aus, einen Belichtungsmesser zu schatten, der auch noch in größerer Entfernung von einer ausgeleuchteten Gegenstandsebene eine zuverlässige Anzeige über die Objekthelligkeit liefert, so daß er insbesondere in einem Abstand von der Gegenstandsebene eines Reproduktionsgerätes außerhalb des Kamerablickfeldes geräts fest angeordnet werden kann. The invention therefore assumes that a light meter is to be shadowed, even at a greater distance from an illuminated object plane provides a reliable indication of the object brightness, so that he in particular at a distance from the object plane of a reproduction device outside the Camera field of view can be permanently arranged device.

Hierfür sind aber bei einem mit einer Photozelle ausgelegten Belichtungsmesser geeignete Lichtverstärkungsmethoden erforderlich. Es wurden daher zahlreiche mit Photozellen ausgerüstete Anordnungen untersucht, aber keine für geeignet befunden, da z. B. die hierfür in Frage kommenden Sekundärelektronenvervielfacher stark temperaturabhängig und Gleichstromverstärker überdies kostspielig sind. For this, however, are with a light meter designed with a photocell Appropriate light amplification methods are required. There were therefore numerous with Photocell equipped arrangements examined, but none found suitable, there z. B. the secondary electron multipliers in question are highly temperature-dependent and DC amplifiers are also expensive.

Es sind auch elektrische Belichtungsmesser bekannt, die als Lichtempfänger einen Photowiderstand enthalten. Photowiderstände haben eine etwa hundertmal größere Empfindlichkeit als Photozellen mit Elektronenemission. Der Nachteil der Photowiderstände besteht aber darin, daß diese eine nur schwache Akkomodationsfähigkeit besitzen und daß bei Gleichstrombetrieb Polaris ationserscheinungen auftreten. There are also known electric light meters that act as light receivers contain a photoresistor. Photoresistors are about a hundred times larger Sensitivity as photocells with electron emission. The disadvantage of the photoresistors but consists in the fact that they have only a weak ability to accommodate and that polarization phenomena occur with direct current operation.

Unter Polarisationserscheinungen wird hierbei die Tatsache verstanden, daß ein unter Gleichstrom stehender Photowiderstand Elektronenladungen aufbaut, die eine entgegengerichtete Polarisationsspannung erzeugen, und unter schwacher Akkomodationsfähigkeit die Tatsache, daß ein von Gleichstrom durchflossener Photowiderstand, wenn er mit Licht konstanter Helligkeit bestrahlt wird, erst nach längerer Zeit einen stabilen Widerstandswert annimmt. Polarization phenomena are understood here to mean the fact that a photoresistor under direct current builds up electron charges, which generate an opposite polarization voltage, and under weaker Ability to accommodate the fact that a photoresistor through which direct current flows, if it is irradiated with light of constant brightness, only after a long time assumes a stable resistance value.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, einen Belichtungsmesser insbesondere für den eingangs beschriebenen Zweck zu schaffen, bei dem die höhere Lichtempfindlichkeit eines Photowiderstandes ausge nutzt wird, ohne daß hierbei die Nachteile eines Photowiderstandes in Erscheinung treten. The invention is based on the object of a light meter in particular to create for the purpose described above, in which the higher Photosensitivity of a photoresistor is used without this the disadvantages of a photoresistor appear.

Gemäß der Erfindung ist dies dadurch erreicht, daß eine für die Dauer einer Messung abschaltbare Strahlungsquelle zur Bestrahlung des Photowiderstandes vorgesehen ist. According to the invention this is achieved in that one for the duration a measurement switchable radiation source for irradiating the photoresistor is provided.

Hierdurch wird erreicht, daß der Photowiderstand immer in einem polarisierten und dem Betriebszustand angepaßten Zustand gehalten werden kann und daß die schwache Akkomodationsfähigkeit des Photowiderstandes nicht in Erscheinung tritt. This ensures that the photoresistor is always polarized and the state adapted to the operating state can be maintained and that the weak The ability of the photoresistor to accommodate does not appear.

Vorteilhafterweise sind als Strahlungsquellen Gasentladungsröhren, z. B. Neonlampen, vorgesehen, da diese eine relativ geringe Wärmeentwicklung während des Betriebes besitzen, so daß hierdurch größere Temperaturschwankungen vermieden werden können. Advantageously, gas discharge tubes are used as radiation sources, z. B. neon lamps, provided as they generate relatively little heat during of the operation, so that this avoids larger temperature fluctuations can be.

Bei einer bevorzugten Ausführungsform sind zum Ausgleich von Temperaturschwankungen zwei Photowiderstände in den beiden Zweigen einer Brücken- schaltung als sich benachbart gegenüberliegende Widerstände angeordnet, wobei der Vergleichsphotowiderstand von einer zweiten Strahlungsquelle dauernd bestrahlt wird, um auch ihn unter den Betriebsbedingungen des Meßphotowiderstandes halten zu können. Dabei wird zunächst im Eichversuch der Vergieichsphotowiderstand durch Andern der Stärke der zweiten Strahlungsquelle auf einen Widerstandswert fest eingestellt, der gerade der für eine einwandfreie photographische Reproduktion erforderlichen Objekthelligkeit entspricht. Es ist daher durch nachfolgendes Verändern der Helligkeit der für die Objektausleuchtung vorgesehenen Lampen möglich, den Widerstandswert des Meßphotowiderstandes zu verändern, damit die Brücke abzugleichen und so die richtige Objekthelligkeit herauszufinden. In a preferred embodiment, to compensate for temperature fluctuations two photoresistors in the two branches of a bridge circuit arranged as adjacently opposed resistors, the comparative photoresistor is continuously irradiated by a second radiation source to keep him under the To be able to keep operating conditions of the measuring photoresistor. First of all in the calibration test the comparison photo resistance by changing the strength of the second Radiation source set to a resistance value that is just that for flawless photographic reproduction corresponds to the required object brightness. It is therefore, by subsequently changing the brightness, that of the object illumination provided lamps possible to change the resistance value of the measuring photoresistor, to adjust the bridge and to find out the correct object brightness.

In der folgenden Beschreibung ist die Erfindung an Hand eines in der Zeichnung dargestellten bevorzugten Ausführungsbeispieles beschrieben. Es zeigt Fig. 1 eine schematisierte Seitenansicht eines Reproduktionsgerätes mit einer ebenen Aufnahmefläche, an das der Belichtungsmesser gemäß der Erfindung an einer vom zu kopierenden Dokument verhältnismäßig weit entfernten Stelle gerätefest angeordnet ist, Fig. 2 ein Diagramm, in dem der Widerstand als Funktion der Zeit von zwei gleichen Photowiderständen dargestellt ist und aus dem die Empfindlichkeit bei einer bestimmten Lichtstärke hervorgeht, wenn die Zellen nicht in dem gemäß der Erfindung vorgeschriebenen Betriebszustand gehalten werden, Fig. 3 eine Ansicht eines Endes des Belichtungsmessers, Fig. 4 eine teilweise im Schnitt 4-4 in Fig. 3 dargestellte, vergrößerte, perspektivische Ansicht des Belichtungsmessers, Fig. 5 ein Schaltbild des Belichtungsmessers. In the following description, the invention is based on an in Described preferred embodiment shown in the drawing. It shows Fig. 1 is a schematic side view of a reproduction device with a planar Recording surface to which the light meter according to the invention at one of the to copying document relatively distant place fixed to the device Fig. 2 is a graph in which the resistance as a function of time of two equals Photoresistors is shown and from which the sensitivity at a given Light intensity emerges when the cells are not in the prescribed according to the invention 3 is a view of one end of the exposure meter. FIG. 4 shows an enlarged, perspective view shown partially in section 4-4 in FIG. 3 View of the exposure meter, FIG. 5 is a circuit diagram of the exposure meter.

Das in Fig. 1 dargestellte Mikrofilmgerät für Re produktionszwecke weist eine Platte 11 mit einer ebenen Fläche 13, auf die ebene Objekte, wie z. B. The microfilm device shown in Fig. 1 for re production purposes comprises a plate 11 with a flat surface 13 on which flat objects, such as, for. B.

Bücher, Briefe, Schecks oder andere Schriftstücke, zum Photographieren gelegt werden, einen Ständer 15, einen am Ständer 15 auf und ab bewegbaren Träger 17 sowie ein Filmgerätl9 auf. Das ebene Objekt, z. B. ein Schriftstück D, befindet sich auf der Fläche 13 der Platte 11 innerhalb des Aufnahme bereiches des Filmgerätes 19. Der Aufnahmebereich umfaßt gemäß Fig. 1 die durch gestrichelte Linien 20 markierte Fläche, die nachstehend als Aufnahmestation P bezeichnet wird. Das Filmgerät 19 weist eine geeignete Linse auf, durch die ein Bild des Schriftstückes auf einen Film streifen F geworfen wird.Books, letters, checks or other documents to be photographed are placed, a stand 15, a on the stand 15 up and down movable carrier 17 and a film device 9. The flat object, e.g. B. a document D is located on the surface 13 of the plate 11 within the recording area of the film device 19. According to FIG. 1, the receiving area comprises the area marked by dashed lines 20 Area referred to as receiving station P below. The film device 19 has a suitable lens through which an image of the document on a Film strip F is thrown.

Die Fläche auf dem Film streifen F, die durch die gestrichelten Linien 20 begrenzt wird und auf der das Bild aufgenommen wird, wird nachstehend »Belichtungsstation« genannt und ist in Fig. 1 mit E bezeichnet. Das Schriftstück D wird von vier oder mehr Lampen 21 beleuchtet, die in einer günstigen Entfernung von der AufnahmestationP an Armen 23 befestigt sind. Die Lichtstärke der Beleuchtung, d. h. die Helligkeit der Lampen 21 ist durch einen nicht gezeigten Regelwiderstand von der Bedienungsperson änderbar. Der Bedienungsknopf für den Regelwiderstand kann an der Stirnseite der Platte 11 oder an einem anderen bequem zugänglichen Platz außerhalb des Mikrofilmgerätes angeordnet sein. Der BelichtungsmesserM ist am Ständer 15 vollständig außerhalb der Aufnahmestation P in vorbestimmter Stellung angebracht. Das durch den BelichtungsmesserM erfaßte Feld wird durch gestrichelte Linien 25 innerhalb der Aufnahmestation P eingeschlossen. Die Ausdehnung und/oder die genaue Lage des durch den Belichtungsmesser erfaßten Feldes kann auf bekannte Weise gewählt und begrenzt werden. The area on the film streak F, indicated by the dashed lines 20 and on which the picture is taken is hereinafter referred to as "exposure station" called and is denoted by E in FIG. 1. Document D is made up of four or more lamps 21 illuminated located at a convenient distance from the receiving station P. are attached to arms 23. The light intensity of the lighting, i.e. H. the brightness of the lamps 21 is controlled by the operator through a variable resistor (not shown) changeable. The control button for the rheostat can be found on the front of the Plate 11 or another conveniently accessible place outside of the microfilm device be arranged. The light meter M is completely outside of the stand 15 the receiving station P attached in a predetermined position. That by the light meter M. captured The field is enclosed within the receiving station P by dashed lines 25. The extent and / or the exact position of the measured by the light meter Field can be selected and limited in a known manner.

Da Photowiderstände einen temperaturabhängigen Widerstand haben, wobei sich der Widerstand bei Temperaturänderungen von etwa 0,50 C (10 F) um 1 O/o ändert, ist es zweckmäßig, die Photowiderstände in einer elektrischen Brückenschaltung anzuordnen, wobei ein Photowiderstand als Vergleichswiderstand benutzt und die Meßbrücke so geschaltet wird, daß'7 wenn die durch den anderen Photowiderstand erfaßte Beleuchtung des Schnftstückes D für eine Aufnahme richtig ist, die Brückenschaltung abgeglichen ist Mit dieser Anordnung der Photowiderstände wurde festgestellt, daß sich deren Widerstandswerte bei einer zeitlich konstanten Lichtstärke gemäß Fig. 2 im Laufe der Zeit änderten und erst nach etwa 30 Mir nuten konstant wurden. Dieses Phänomen trat nur dann nach dem Einschalten des Apparates auf, nach dem dieser längere Zeit nicht in Gebrauch war, und obwohl die Brückenschaltung teilweise die Differenz, die durch unterschiedliche Widerstandsänderungen der einzelnen Photowiderstände entstanden war, aus glich, wurde ein Fehler während dieses Zeitraumes von 30Minuten festgestellt. Um diesen Fehler zu beseitigen, war es notwendig, beide Photowiderstände immer in einem polarisierten und dem Betriebszua stand angepaßten Zustand zu erhalten. Der Belichtungsmesser M weist gemäß Fig. 3 und 4 ein Metallgehäuse 31 mit zwei getrennten Kammern 33 und 35 auf, die durch eine Platte 37 abgeschlossen sind. Die Platte 37 ist am Gehäuse31 mit Schrauben 38 ber festigt. Jede der Kammern 33 und 35 ist groß genug, um einen Photowiderstand und eine Neonlampe aufF zunehmen. Die Kammer 33 enthält den Photowiderstand 39 und die Neonlampe 41, die Kammer 35 den Photowiderstand 43 und die Neonlampe 45. Die Neonlampen 41 und 45 beleuchten die Photowid stände 39 bzw. 43, wie nachstehend eingehender erklärt wird. Am Ende des Gehäuses 31 ist eine Öffnung 47 so angeordnet, daß das hierdurch einfallende Licht, herrührend von dem vorbestimnlin Feld innerhalb der Aufnahmestation P, mittels des in der Kammer 33 befindlichen Photowiderstandes 39 gemessen werden kann. Vor der Öffnung 47 ist ein KorrekLm Farbfilter 49 angeordnet, der so gewählt ist, daß - er die spektrale Empfindlichkeit der Zelle 39 der des Films F im Aufnahmegerät 19 in bezug auf die in der Beleuchtung enthaltenen Farben anpaßt. Die AS schlußplatte37 weist eine Anzahl DurchfiihwsW löcher für die elektrischen Leitungen zu den im Ger hause 31 befindlichen Photowiderständen 39 und 43 und Neonlampen 41 und 45 auf. Since photoresistors have a temperature-dependent resistance, with a temperature change of about 0.50 C (10 F), the resistance increases by 1 O / o changes, it is convenient to use the photoresistors in an electrical bridge circuit to be arranged, using a photoresistor as a comparison resistor and the measuring bridge is switched so that when the illumination detected by the other photoresistor of the snap piece D is correct for a recording, the bridge circuit is adjusted With this arrangement of the photoresistors it was found that their Resistance values at a temporally constant light intensity according to FIG. 2 in the course changed over time and only became constant after about 30 minutes. This phenomenon only occurred after switching on the device, after which it had been for a long time was not in use, and although the bridge circuit partially made the difference, due to different changes in resistance of the individual photoresistors made an error during this 30 minute period established. In order to eliminate this error it was necessary to use both photoresistors always in a polarized state that is adapted to the operational state. The exposure meter M has, according to FIGS. 3 and 4, a metal housing 31 with two separate ones Chambers 33 and 35 which are closed by a plate 37. The plate 37 is fastened to the housing 31 with screws 38. Each of the chambers 33 and 35 is large enough to put a photoresistor and a neon lamp onF. Chamber 33 contains the photoresistor 39 and the neon lamp 41, the chamber 35 the photoresistor 43 and the neon lamp 45. The neon lamps 41 and 45 illuminate the photowid stands 39 and 43, respectively, as explained in more detail below. At the end of the housing 31 is an opening 47 arranged so that the light incident therethrough originating from the predetermined field within the receiving station P, by means of the in the chamber 33 located photoresistor 39 can be measured. In front of the opening 47 is a correct color filter 49 is arranged, which is chosen so that - it the spectral Sensitivity of the cell 39 of the film F in the recording device 19 with respect to the adjusts the colors contained in the lighting. The AS circuit plate37 has a number Through holes for the electrical lines to the house 31 located in the Ger Photoresistors 39 and 43 and neon lamps 41 and 45.

Gemäß Fig. 5 sind die Photowiderstände 39 und 43 in einer Brückenschaltung als sich benachbart gegenüberliegende Widerstände geschaltet. Die Widerstände 61 und 63 in der Brückenschaltung sind je gleich groß und, im Hinblick auf optimale Empfindlichkeit der Brückenschaltung, etwa gleich dem Widerstand des Photowiderstandes 39. Ein Galvanik meter 65 diens zur Anzeige des Brückenabgleich Der Strom einer nicht gezeigten Wechselstromquelle, der an Kontakte 67 und 69 angeschlossen ist, wird durch einen Gleichrichter 71 gleichgerichtet und durch eine aus Widerständen R 1 und R2 und Kondensator 73 bestehende Siebkette geglättet Die gleichge, richtete Spannung wird durch eine Spannungsregelröhre 75 geregelt. Die Neonlampen 41 und 45 sind über Widerstände 77 und 79 bzw. 81 und 83 parallel zur Spannungsregelröhre 75 geschaltet. Die Widerstände 79 und 83 sind regelbar, so daß der Strom durch die Neonlampen41 und 45 auf die gewünschte Stärke eingestellt werden kann. Ein regelbarer Widerstand 85 mit einem ihn überbrückenden Schalter 87 ist zum Einstellen der gewünschten Empfindlichkeit der Photowiderstände 39 und 43 vorgesehen. Ein Schalter 89, der parallel zur Neonlampe 41 liegt, ist mit einem nicht gezeigten Schalter, durch den die Lampen 21 zum Beleuchten der Schriftstücke D ein- und ausgeschaltet werden, so gekoppelt, daß beim Einschalten der Lampen 21 die Neonlampe 41 verlöscht, und umgekehrt. In Fig. 5 stellen die Pfeile 91 das vom Schriftstück D auf den Photowiderstand 39 geworfene Licht der Lampen 21 dar. According to FIG. 5, the photoresistors 39 and 43 are in a bridge circuit connected as adjacent opposing resistors. The resistors 61 and 63 in the bridge circuit are each the same size and, with regard to optimal Sensitivity of the bridge circuit, roughly equal to the resistance of the photoresistor 39. A galvanic meter 65 serves to display the bridge adjustment The current of a AC power source, not shown, connected to contacts 67 and 69, is rectified by a rectifier 71 and by one of resistors R 1 and R2 and capacitor 73 smoothed existing sieve chain. judged Voltage is regulated by a voltage control tube 75. The neon lamps 41 and 45 are parallel to the voltage regulating tube via resistors 77 and 79 or 81 and 83 75 switched. The resistors 79 and 83 are adjustable so that the current through the Neon lamps 41 and 45 can be adjusted to the desired strength. A controllable one Resistor 85 with a bridging switch 87 is to set the desired Sensitivity of the photoresistors 39 and 43 is provided. A switch 89 that is parallel to the neon lamp 41 is with a switch, not shown, through the the lamps 21 for illuminating the documents D are switched on and off, so coupled that when the lamps 21 are switched on, the neon lamp 41 goes out, and vice versa. In Fig. 5, arrows 91 point that of document D to the photoresistor 39 represents the light cast by the lamps 21.

Nachstehend wird die Wirkungsweise des Belichtungsmessers gemäß der Erfindung beschrieben. The operation of the exposure meter according to FIG Invention described.

Es sei angenommen, daß die Schaltungselemente so eingestellt seien, daß bei für eine Aufnahme richtiger Beleuchtung des Schriftstückes D durch die Lampen 21 die Brückenschaltung gerade abgeglichen ist. Zuerst legt die Bedienungsperson das Schriftstück D auf die Aufnahmestation P und schaltet die Lampen 21 ein. Dadurch wird gleichzeitig die Neonlampe 41 ausgeschaltet und das vom Schriftstück D reflektierte Licht vom Photowiderstand 39 aufgenommen. Die Bedienungsperson gleicht nun durch Verändern der Helligkeit der Lampen 21 und unter Beobachtung des Galvanometers 65 die Brückenschaltung ab. Dann wird das Mikrofilmgerät zur Aufnahme des Schriftstückes D ausgelöst. Anschließend werden die Lampen 21 ausgeschaltet, bis das nächste SchriftstückD richtig angeordnet auf der Platte 11 liegt. Bei diesem Ausschalten der Lampen 21 wird die Neonlampe 41 gleichzeitig wieder eingeschaltet, die nun den Photowiderstand 39 so lange beleuchtet, bis die Lampen 21 wieder eingeschaltet werden. Da die Neonlampe 45 immer eingeschaltet bleibt, ergibt sich, daß die Neonlampen 41 und 45 die Photowiderstände 39 bzw. 43 in einem dem Betriebszustand angepaßten Zustand halten, so daß ihre Empfindlichkeit bei einer gegebenen Lichtstärke zeitlich im wesentlichen konstant bleibt. Da die Photowiderstände 39 und 43 in einem Metallgehäuse 31 untergebracht sind, werden sie während des Betriebes immer auf fast gleichbleibender Temperatur gehalten und sind gegen schnelle Temperaturveränderungen, die durch Luftzug entstehen können, geschützt. Hierdurch ist die gleichbleibende Empfindlichkeit der beiden Photowiderstände 39 und 43 um so mehr gewährleistet. It is assumed that the circuit elements are set so that for a recording of correct illumination of the document D by the lamps 21 the bridge circuit has just been adjusted. First, the operator lays the document D to the receiving station P and switches on the lamps 21. Through this the neon lamp 41 is turned off and the document D reflected at the same time Light picked up by photoresistor 39. The operator is now equalizing Changing the brightness of the lamps 21 while observing the galvanometer 65 the bridge circuit off. Then the microfilming device is used to receive the document D triggered. The lamps 21 are then switched off until the next document D. correctly arranged on the plate 11. When switching off the lamps 21 the neon lamp 41 is switched on again at the same time, which is now the photoresistor 39 illuminated until the lamps 21 are switched on again. Because the neon lamp 45 always remains on, the result is that the neon lamps 41 and 45 are the photoresistors 39 or 43 in a state adapted to the operating state, so that their sensitivity remains essentially constant over time for a given light intensity. Since the Photoresistors 39 and 43 are housed in a metal case 31 they are always kept at an almost constant temperature during operation and are against rapid temperature changes that can be caused by drafts, protected. This means that the sensitivity of the two photoresistors remains the same 39 and 43 are all the more guaranteed.

Aus dem obigen geht hervor, daß der Belichtungsmesser gemäß der Erfindung an einem von dem beleuchteten flachen Objekt verhältnismäßig weit entfernten Stelle unbewegbar angebracht sein kann und daß er wenigstens einen Photowiderstand aufweist, der immer in einem polarisierten und einem dem Be triebszustand angepaßten Zustand gehalten wird, damit er die für das Photographieren des jeweiligen Schriftstückes erforderliche Lichtstärke reproduzierbar anzeigt. From the above it can be seen that the light meter according to the invention at a relatively distant location from the illuminated flat object can be immovably attached and that it has at least one photoresistor, which is always in a polarized state and a state adapted to the operating state is held so that he is responsible for photographing the respective document shows the required light intensity in a reproducible manner.

PATENTANSPRÜCHIs: 1. Photoelektrischer Belichtungsmesser, insbesondere zur Einstellung der Beleuchtungsstärke an einem Reproduziergerät, mit einem Photowiderstand als lichtempfindliches Schaltelement, dadurch gekennzeichnet, daß eine für die Dauer einer Messung abschaltbare Strahlungsquelle (41) zur Bestrahlung des Photowiderstandes (39) vorgesehen ist. PATENT CLAIMS: 1. Photoelectric light meter, in particular for setting the illuminance on a reproducing device, with a photoresistor as a light-sensitive switching element, characterized in that one for the duration a measurement switchable radiation source (41) for irradiating the photoresistor (39) is provided.

Claims (1)

2. Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zur Widerstandsbestimmung des Photowiderstandes (39) Anzeigemittel (65) und ein mittels Einstellmittel (83, 45) innerhalb vorbestimmter Grenzen regelbarer Vergleichswiderstand (43 und 63) zu seiner Einstellung auf einen Wert, der der benötigten Beleuchtungsstärke entspricht, vorgesehen sind. 2. Exposure meter according to claim 1, characterized in that for determining the resistance of the photoresistor (39) display means (65) and a comparative resistance adjustable within predetermined limits by means of setting means (83, 45) (43 and 63) to set it to a value that corresponds to the required illuminance are provided. 3. Belichtungsmesser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergleichswiderstand ebenfalls einen Photowiderstand (43) aufweist und daß hierfür eine zweite Strahlungsquelle (45) mit zeitlich konstanter Stärke vorgesehen ist. 3. Exposure meter according to claim 2, characterized in that the comparison resistor also has a photoresistor (43) and that for this purpose a second radiation source (45) with a temporally constant strength is provided. 4. Belichtungsmesser nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Photowiderstände (39 bzw. 43) in den beiden Zweigen einer Brückenschaltung als sich benachbart gegenüberliegende Widerstände angeordnet sind. 4. Exposure meter according to claim 3, characterized in that the two photoresistors (39 and 43) in the two branches of a bridge circuit than adjacent opposing resistors are arranged. 5. Belichtungsmesser nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß ein zwei getrennte Kammern (33, 35) aufweisendes Gehäuse aus wärmeleitendem Material vorgesehen ist, in denen je einer der Photowiderstände und je eine der Strahlungsquellen untergebracht sind. 5. Exposure meter according to claim 3 or 4, characterized in that that a two separate chambers (33, 35) having a housing made of thermally conductive Material is provided in each of which one of the photoresistors and one of the Radiation sources are housed. 6. Belichtungsmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß als Strahlungsquelle eine Gasentladungsröhre, insbesondere eine Neonlampe (41, 45), vorgesehen ist, die benachbart dem Photowiderstand angeordnet ist. 6. Exposure meter according to claim 1, characterized in that a gas discharge tube, in particular a neon lamp (41, 45), as the radiation source, is provided, which is arranged adjacent to the photoresistor. 7. Belichtungsmesser nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß Mittel zum Angleich der spektralen Empfindlichkeit des Photowiderstandes an die des verwendeten Photomaterials, insbesondere Farbkorrekturfilter (49), vorgesehen sind. 7. Exposure meter according to one of claims 1 to 6, characterized in that that means for adjusting the spectral sensitivity of the photoresistor that of the photographic material used, in particular the color correction filter (49), is provided are. In Betracht gezogene Druckschriften: Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 110 774, 1113629; Josef Stüper: »Die Photographische Kamera«, Wien, Springer-Verlag, 1962, S. 450. Publications considered: German Auslegeschriften No. 1 110 774, 1113629; Josef Stüper: "The Photographic Camera", Vienna, Springer-Verlag, 1962, p. 450.
DEE22374A 1961-02-13 1962-02-09 Photoelectric light meter, especially for reproducing devices Pending DE1145908B (en)

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