DE1120602B - Device for carrying out the anodic treatment process of semiconductor bodies for the production of an electrical semiconductor arrangement - Google Patents

Device for carrying out the anodic treatment process of semiconductor bodies for the production of an electrical semiconductor arrangement

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DE1120602B
DE1120602B DES64252A DES0064252A DE1120602B DE 1120602 B DE1120602 B DE 1120602B DE S64252 A DES64252 A DE S64252A DE S0064252 A DES0064252 A DE S0064252A DE 1120602 B DE1120602 B DE 1120602B
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Dr Phil Nat Norbert Schink
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Siemens AG
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Siemens AG
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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
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    • C25D11/00Electrolytic coating by surface reaction, i.e. forming conversion layers
    • C25D11/02Anodisation
    • C25D11/32Anodisation of semiconducting materials

Description

Vorrichtung zur Durchführung des anodischen Behandlungsverfahrens von Halbleiterkörpern zur Herstellung einer elektrischen Halbleiteranordnung Die Hauptpatentanmeldung betrifft ein Verfahren zur Herstellung einer elektrischen Halbleiteranordnung, die einen im wesentlichen einkristallinen Grundkörper mit pn-Übergang, insbesondere eine Silizium-Gleichrichterscheibe, enthält, auf welchemmetallische Kontakte aufgebracht worden sind und welcher einem Ätzvorgang unterworfen wird und bei dem die Halbleiteranordnung im Anschluß an die Ätzung eine Zeitlang in einem wäßrigen, schwachen, aber noch sauer reagierenden Elektrolyten anodisch behandelt wird, so daß sich an ihrer Oberfläche durch Oxydation eine isolierende Schutzschicht bildet. Durch die oxydierende Nachbehandlung wird die Halbleiteranordnung nach der Ätzung gegen atmosphärische Einflüsse, welche die Gleichrichterkennlinie verschlechtern, weitgehend unempfindlich.Device for carrying out the anodic treatment process of semiconductor bodies for the production of an electrical semiconductor arrangement Die Main patent application relates to a method for producing an electrical semiconductor device, which have an essentially monocrystalline base body with a pn junction, in particular contains a silicon rectifier disc, on which metallic contacts are applied have been and which is subjected to an etching process and in which the semiconductor device after the etching for a while in an aqueous, weak, but still acidic electrolyte is treated anodically, so that on its surface forms an insulating protective layer through oxidation. Due to the oxidizing after-treatment after the etching, the semiconductor device is protected against atmospheric influences, which worsen the rectifier characteristic, largely insensitive.

Das Halbleiterbauelement kann in einem Elektrolysebad angeordnet sein, in das weiterhin zwei Platinelektroden als Kathode und Anode eintauchen. Als Elektrolyt findet eine Borsäurelösung (H, BO"1/H2 0) Verwendung.The semiconductor component can be arranged in an electrolysis bath into which two platinum electrodes are also immersed as cathode and anode. A boric acid solution (H, BO "1 / H2 0) is used as the electrolyte.

Wie sich bei der Durchführung des Verfahrens zeigte, tritt im Betrieb eine Verunreinigung des Elektrolyten durch verschlepptem Ätzlösung auf, wenn in den Elektrolyten ständig neu geätzte Halbleiterbauelemente eingebracht werden. Auch wenn die Halbleiterbauelemente nach dem Ätzen z. B. mit destilliertem Wasser, abgespült werden, wird der Elektrolyt doch ständig mit fremden Ionen angereichert, die das ungestörte Aufwachsen einer Oxydschicht verhindern. Da die Stabilisierung der durch das Ätzen erreichten verbesserten Kennwerte des Halbleiterbauelementes mit Hilfe der anodischen Behandlung möglichst unmittelbar nach dem Ätzen vorgenommen werden soll, tritt sehr schnell der Zeitpunkt ein, in dem das Elektrolysebad so stark verunreinigt ist, daß es entweder weggeschüttet oder neu aufbereitet werden muß. Dies macht das Verfahren besonders in der Serienfertigung relativ kostspielig.As it turned out when carrying out the procedure, occurs in operation contamination of the electrolyte by dragged-out etching solution if in Newly etched semiconductor components are continuously introduced into the electrolyte. Even if the semiconductor components after etching z. B. with distilled water, rinsed the electrolyte is constantly enriched with foreign ions that cause the Prevent undisturbed growth of an oxide layer. Since the stabilization of the the etching achieved improved characteristics of the semiconductor component with the help the anodic treatment should be carried out as soon as possible after the etching should, the point in time occurs very quickly when the electrolysis bath is so heavily contaminated is that it must either be thrown away or reprocessed. This does that Processes are relatively expensive, especially in series production.

Die Erfindung setzt es sich zum Ziel, die verwendete Vorrichtung zum Ätzen so zu verbessern, daß die oben beschriebenen Nachteile nicht mehr auftreten. Sie betrifft also eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens zur Herstellung einer elektrischen Halbleiteranordnung, die einen im wesentlichen einkristallinen Grundkörper mit pn-überzug, insbesondere eine Silizium-Gleichrichterscheibe, enthält, auf welchem metallische Kontakte aufgebracht worden sind und welcher einem Ätzvorgang unterworfen wird, und bei dem die Halbleiteranordnung im Anschluß an die Ätzung eine Zeitlang in einem wäßrigen, schwachen, aber noch sauer reagierenden Elektrolyten anodisch behandelt wird, so daß sich an ihrer Oberfläche durch Oxydation eine isolierende Schutzschicht bildet. Diese Vorrichtung ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiteranordnung als bipolare Elektrode in einem Elektrolysebad angeordnet ist und daß sich zwischen der Halbleiteranordnung und der in das Elektrolysebad eintauchenden Kathode und/oder Anode jeweils ein für die von der geätzten Halbleiteranordnung eingeschleppten störenden Ionen durchlässiges und sich über den gesamten Querschnitt des Elektrolyten erstreckendes Diaphragma befindet. Als Diaphragma kann ein Textilgewebe, z. B. dichtgewebtes Leinen, Verwendung finden. Zweckmäßig kann das zwischen dem Halbleiterbauelement und der Anode angebrachte Diaphragma eine Anionenaustauschermembran und das zwischen dem Halbleiterbauelement und der Kathode angebrachte Diaphragma eine Kationenaustauschennembran sein.The invention has for its object the device used for To improve etching so that the disadvantages described above no longer occur. It therefore relates to a device for carrying out the manufacturing method an electrical semiconductor device having a substantially single crystal Base body with pn coating, in particular a silicon rectifier disk, contains, on which metallic contacts have been applied and which an etching process is subjected, and in which the semiconductor device following the etching For a while in an aqueous, weak, but still acidic electrolyte is treated anodically, so that an insulating surface is formed by oxidation Protective layer forms. According to the invention, this device is characterized in that that the semiconductor arrangement is arranged as a bipolar electrode in an electrolysis bath is and that is between the semiconductor device and the in the electrolysis bath immersing cathode and / or anode each one for the etched semiconductor arrangement introduced interfering ions permeable and spread over the entire cross-section of the electrolyte extending diaphragm is located. A textile fabric, z. B. densely woven linen, find use. This can expediently be between the Semiconductor component and the anode attached diaphragm an anion exchange membrane and the diaphragm attached between the semiconductor device and the cathode be a cation exchange membrane.

Es ist bereits ein Verfahren zum elektrolytischen Ätzen eines einkristallinen Halbleiterkörpers mit pn-übergang bekanntgeworden, bei dem zwei Elektroden aus Platin in einen Elektrolyten, z. B. 411/oige Flußsäure, tauchen, der sich in einem säurefesten Gefäß befindet. In das Gefäß ist eine isolierende Trennwand eingesetzt, die eine öffnung besitzt, welche durch den Halbleiterkörper abgedeckt wird. Nach dem Ätzen kann der Halbleiterkörper eine Zeitlang in einer als Elektrolyt dienenden, schwachen, wüßrigen Säure, insbesondere Borsäure, anodisch behandelt werden.It is already a method of electrolytic etching of a single crystal Semiconductor body with pn junction has become known, in which two electrodes made of platinum into an electrolyte, e.g. B. 411 / o hydrofluoric acid, immersed in an acid-proof Vessel is located. In the vessel, an insulating partition is used, the one Has opening which is covered by the semiconductor body. To to the The semiconductor body can be etched for a while in an electrolyte weak, aqueous acid, especially boric acid, are treated anodically.

Die Verwendung von Diaphragmen zur elektrolytischen Entsalzung von Wasser ist an sich bekannt, ebenso die Verwendung von Ionenaustauschern zu diesem Zweck.The use of diaphragms for the electrolytic desalination of Water is known per se, as is the use of ion exchangers for this Purpose.

In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung schematisch dargestellt. Die Zeichnung zeigt die Anordnung im Schnitt. In ein säurefestes Gefäß G, z. B. aus Polystyrol, in welchem sich der Elektrolyt befindet, tauchen zwei Platinelektroden Pt, die mit der angegebenen Polung an eine Spannungsquelle Q angeschlossen werden. Dazwischen steckt eine isolierende Trennwand W, ebenfalls aus Polystyrol. Diese Trennwand hat eine kreisrunde Öffnung, welche durch das eingesetzte HalbleiterbauelementH abgedeckt wird. Letzteres besteht aus einer kreisrunden p-leitenden Siliziumscheibe Si mit beispielsweise durch ein Legierungsverfahren aufgebrachten Metallkontakten, und zwar mit einem Aluminiumkontakt A 1, der durch ein Molybdänblech Mo mechanisch verstärkt ist, und mit einer Gold-Antimon-Kontaktelektrode A ulSb, dem eine n-leitende Zone des Siliziumkristalls vorgelagert ist. Der pn-übergang ist durch eine gestrichelte Linie angedeutet. Seine Schnittlinie mit der Halbleiteroberfläche, die als »äußere pn-Grenze« bezeichnet wird, zieht sich als annähernd kreisrunde Linie um die ebenfalls kreisrunde Goldkontaktelektrode A ulSb in geringem Ab- stand herum. Die Öffnung der Trennwand W ist größer als die runde Kontaktelektrode A ulSb und kleiner als die Siliziumscheibe Si. Eine an der Wand W befestigte federnde Zunge Z, die aus Polyäthylen bestehen kann, hält das Halbleiterbauelement in einer solchen Stellung fest, daß die Goldseite der Kathode zugekehrt ist. Da das Halbleiterbauelement nur in der Richtung des eingetragenen Pfeiles stromdurchlässig ist, kann die Spannungsquelle Q auch eine Wechselspannungsquelle sein. Zum Auswechseln des Gleichrichters kann die Trennwand W herausgezogen werden. Für die Serienfertigung hat es sich als zweckmäßig erwiesen, in bzw. an der Trennwand eine ganze Reihe von Öffnungen und federnden Zungen vorzusehen.An exemplary embodiment of the invention is shown schematically in the drawing. The drawing shows the arrangement in section. In an acid-proof vessel G, e.g. B. made of polystyrene, in which the electrolyte is located, two platinum electrodes Pt immerse, which are connected to a voltage source Q with the specified polarity. In between there is an insulating partition W, also made of polystyrene. This partition wall has a circular opening which is covered by the semiconductor component H used. The latter consists of a circular p-conductive silicon wafer Si with metal contacts applied, for example, by an alloying process, namely with an aluminum contact A 1, which is mechanically reinforced by a molybdenum sheet Mo, and with a gold-antimony contact electrode A ulSb, to which an n- conductive zone of the silicon crystal is upstream. The pn junction is indicated by a dashed line. Its intersection with the semiconductor surface, known as "external pn-border" is called, runs like a nearly circular line around the also circular gold contact electrode A ulSb a small waste standing around. The opening of the partition wall W is larger than the round contact electrode A ulSb and smaller than the silicon wafer Si. A resilient tongue Z, which is fastened to the wall W and which can consist of polyethylene, holds the semiconductor component firmly in such a position that the gold side faces the cathode. Since the semiconductor component is only permeable to current in the direction of the arrow, the voltage source Q can also be an alternating voltage source. The partition W can be pulled out to replace the rectifier. For series production, it has proven to be useful to provide a number of openings and resilient tongues in or on the partition.

Zwischen der Pt-Kathode und der Trennwand W ist ein DiaphragmaD, angeordnet, das, wie bereits gesagt, eine Kationenaustauschermembran sein kann. Diese kann dadurch hergestellt werden, daß man Phenolsulfonsäure und Formaldehyd zusammen auf einer geeigneten Unterlage, z.B. Papier, kondensieren läßt. Anodenseitig ist ein zweites DiaphragmaD, angeordnet, das eine Anionenaustauschermembran sein kann. Diese kann durch Kondensation von Polyäthylenimin und Epichlorhydrin auf Papier hergestellt werden.A diaphragm D is arranged between the Pt cathode and the partition W, which, as already said, can be a cation exchange membrane. This can thereby be prepared that you phenolsulfonic acid and formaldehyde together on one a suitable surface, e.g. paper, to condense. There is a second on the anode side DiaphragmD, arranged, which can be an anion exchange membrane. This can produced by condensation of polyethyleneimine and epichlorohydrin on paper will.

Durch die zwei Diaphragmen D, und D., wird das Elektrolysebad in drei Räume unterteilt, von denen der mittlere von den störenden Ionen befreit wird. Dazu ist es zweckmäßig, die zwei Platinelektroden Pt an Spannung zu legen und dabei die Trennwand W zu entfernen. Dies kann z. B. dann geschehen, wenn die Halbleiterbauelemente auf der Trennwand gegen neue ausgetauscht werden. Eine Behinderung des Aufwachsens der Oxydschicht auf der Halbleiteroberfläche tritt nicht mehr ein. Durch die Verwendung von Ionenaustauschermerabranen läßt sich erreichen, daß die Selbstreinigung des Bades, z. B. nach längerer Betriebsruhe, schneller vor sich geht.The electrolysis bath is divided into three rooms by the two diaphragms D and D., from which the interfering ions are freed from the middle one. For this purpose, it is advisable to apply voltage to the two platinum electrodes Pt and to remove the partition W in the process. This can e.g. B. happen when the semiconductor components on the partition are exchanged for new ones. There is no longer any hindrance to the growth of the oxide layer on the semiconductor surface. Through the use of ion exchange merabranen can be achieved that the self-cleaning of the bath, z. B. after a long period of inactivity, is going faster.

Claims (3)

PATENTANSPROCHE: 1. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens zur Herstellung einer elektrischen Halbleiteranordnung, die einen im wesentlichen einkristallinen Grundkörper mit pn-übergang, insbesondere eine Silizium-Gleichrichterscheibe, enthält, auf welchem metallische Kontakte aufgebracht worden sind und welcher einem Ätzvorgang unterworfen wird und bei dem die Halbleiteranordnung im Anschluß an die Ätzung eine Zeitlang in einem wäßrigen, schwachen, aber noch sauer reagierenden Elektrolyten anodisch behandelt wird, so daß sich an ihrer Oberfläche durch Oxydation eine isolierende Schutzschicht bildet, nach Patentanmeldung S 49151 VIII e/ 21 g, (deutsche Auslegeschrift 1093 910), dadurch gekennzeichnet, daß die Halbleiteranordnung als bipolare Elektrode in dem Elektrolysebad angeordnet ist, und daß sich zwischen der Halbleiteranordnung und der in das Elektrolysebad eintauchenden Kathode und/oder Anode jeweils ein für die von der geätzten Halbleiteranordnung eingeschleppten störenden Ionen durchlässiges und sich über den gesamten Querschnitt des Elektrolyten erstreckendes Diaphragma befindet. PATENT CLAIM: 1. Device for carrying out the method for producing an electrical semiconductor arrangement which contains an essentially monocrystalline base body with a pn junction, in particular a silicon rectifier disk, on which metallic contacts have been applied and which is subjected to an etching process and in which the semiconductor device is treated anodically for a while after the etching in an aqueous, weak, but still acidic electrolyte, so that an insulating protective layer is formed on its surface by oxidation, according to patent application S 49151 VIII e / 21 g, (German Auslegeschrift 1093 910), characterized in that the semiconductor arrangement is arranged as a bipolar electrode in the electrolysis bath, and that between the semiconductor arrangement and the cathode and / or anode immersed in the electrolysis bath there is in each case a disruptive electrode for the Ion-permeable and extending over the entire cross-section of the electrolyte diaphragm. 2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Diaphragma ein Textilgewebe ist. 3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Diaphragma zwischen Anode und Halbleiteranordnung eine Anionenaustauscherinembran und das Diaphragma zwischen Kathode und Halbleiteranordnung eine Kationenaustauschennembran ist. 2. Apparatus according to claim 1, characterized in that the diaphragm is a textile fabric. 3. Apparatus according to claim 1, characterized in that the diaphragm between the anode and the semiconductor arrangement is an anion exchange membrane and the diaphragm between the cathode and the semiconductor arrangement is a cation exchange membrane. In Betracht gezogene Druckschriften: Österreichische Patentschrift Nr. 199702; Jean Billiter, Die technische Elektrolyse der Nichtmetalle, 1954, Wien, S. 159 bis 166. Considered publications: Austrian Patent No. 199702; Jean Billiter, The technical electrolysis of non-metals, 1954, Vienna, pp. 159 to 166.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0940483A2 (en) * 1998-02-26 1999-09-08 Canon Kabushiki Kaisha Anodizing method and apparatus and semiconductor substrate manufacturing method

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AT199702B (en) * 1956-06-16 1958-09-25 Siemens Ag Process for electrolytic etching of a single-crystal semiconductor body with a p-n junction

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